KR20000065749A

KR20000065749A - 번인테스터용 소팅 핸들러

Info

Publication number: KR20000065749A
Application number: KR1019990012378A
Authority: KR
Inventors: 김성봉; 정기현; 이기현
Original assignee: 정문술; 미래산업 주식회사
Priority date: 1999-04-08
Filing date: 1999-04-08
Publication date: 2000-11-15
Also published as: KR100295774B1

Abstract

본 발명은 생산 완료된 디바이스(device)를 실제 제품에 적용하여 사용시, 발생되는 고열에 의해 디바이스에 결함이 발생되는 현상을 최소화하기 위해 디바이스의 출하 전에 내열성 테스트인 번인 테스트를 실시하는 번인테스터용 소팅 핸들러에 관한 것으로, 번인보드(36)가 위치되는 작업공간(41)이 본체(20)의 중앙부 후방에 위치되고, DC 테스트 또는 번인테스트 결과 불량으로 판정된 디바이스가 분류되는 소팅부(50)는 본체(20)의 전면에 인라인(in-line)으로 배치되어 번인보드(36)에 번인 테스트할 디바이스와, 번인 테스트 완료된 디바이스를 로딩 및 언로딩하는 작업이 포킹 및 언포킹 픽커(46)(47)에 의해 동시에 이루어지게 되므로 장비의 콤팩트화 실현이 가능해지게 됨은 물론 소팅부(50)에서 트레이를 교체시 작업자에게 편리함이 제공되고, 또한 디바이스의 로딩 및 언로딩에 따른 작업시간을 대폭 줄이게 된다.

Description

번인테스터용 소팅 핸들러{sorting handler for burn-in test}

본 발명은 생산 완료된 디바이스(device)의 전기적인 특성을 테스트시, 사용되는 소팅 핸들러(handler)에 관한 것으로서, 좀 더 구체적으로는 디바이스를 실제 제품에 적용하여 사용시 발생되는 고열에 의해 디바이스에 결함이 발생되는 현상을 최소화하기 위해 디바이스의 출하 전에 내열성 테스트인 번인 테스트를 실시하는 번인테스터용 소팅 핸들러에 관한 것이다.

도 1은 종래 번인 테스터용 소팅 핸들러의 구성을 개략적으로 나타낸 평면도이고 도 2는 종래의 번인 테스터용 핸들러에서 이송수단의 동작을 설명하기 위한 개략도로서, 그 구성을 설명하면 다음과 같다.

본체(1)의 상부 일측에 번인보드 로더부(2)와 언로더부(3)가 설치되어 있고 그 일측에는 DC 리젝트부(4)와 트레이 로더부(5) 및 DC 테스트부(6)가 설치되어 있으며, 그 일측 저면에는 90°회전하는 턴리턴 장치부(7)가 설치된 Y테이블(8)이 설치되어 있고 그 일측에는 빈포켓부(9) 및 트레이 언로더부(10) 그리고 소팅부(11)가 차례로 설치되어 있다.

그리고 DC 리젝트부(4)와 트레이 로더부(5) 및 DC 테스트부(6)의 상부에는 서보모터에 의해 좌, 우, 상, 하로 작동하는 1번툴(12)이 설치되어 있고 DC 테스트부(6)와 턴리턴 장치부(7)가 설치된 Y 테이블(8)의 상측에는 그 간격사이에서 작동되는 2번툴(13)이 설치되어 있다.

또한, Y테이블(8)과 빈포켓부(9) 및 트레이 언로더부(10)의 상부에는 그 간격 사이에서 작동되는 3번툴(14)이 설치되어 있고 빈포켓부(9)와 소팅부(11)의 상측에는 그 간격사이에서 작동되는 4번툴(15)이 설치되어 있다.

따라서 번인 테스트할 디바이스가 채워진 트레이를 트레이 로더부(5)에 놓은 다음 번인보드 로더부(2)에는 번인 테스트 완료된 디바이스가 테스트 소켓에 삽입되어 있는 번인보드를 놓는다.

상기와 같이 번인보드 로더부(2)에 번인보드가 위치되면 번인보드는 Y테이블(8)의 상부에 설치되어 있는 회전판(도시는 생략함)에 위치됨과 동시에 핸들러의 컨넥터에 결합된 상태가 되므로 Y테이블(8)로 이송되어 턴리턴 장치부(7)에 의해 90°회전하게 된다.

상기한 바와 같이 회전판이 90°회전하면 서브모터에 의해 볼스크류가 회전하게 되므로 Y테이블(8)은 1, 2, 3번툴(12)(13)(14)이 작동하는 프로세스라인까지 이동하게 된다.

따라서 번인 테스트가 끝난 상태로 번인보드의 테스트 소켓에 꽂혀 있던 4개의 디바이스는 상부에 설치되어 있는 3번툴(14)에 의해 동시에 꺼내져 등급에 따라 빈포켓부(9)나 트레이 언로더부(10)로 이송되며, 불량으로 판정된 디바이스는 4번툴(15)에 의해 빈포켓부(9)에서 소팅부(11)로 이송된다.

한편, 상기한 바와 같은 작동으로 번인보드의 테스트 소켓에 삽입되어 있던 번인 테스트 완료된 디바이스가 빠져 나가면 로더부의 트레이에 있는 4개의 디바이스를 1번툴(12)이 작동하여 DC 테스트부(6)로 이송하여 DC 테스트를 실시하게 되는데, 그 이전에 DC 테스트부에 있던 디바이스는 2번툴(13)에 의해 번인보드상의 테스트 소켓에 삽입된다.

즉, 번인보드의 테스트 소켓에 꽂혀져 있던 디바이스는 번인 테스트가 완료된 것으로, 그 등급별로 3번툴(13)과 4번툴(15)에 의해 이송되어 분류되고, 3번툴(14)과 4번툴(15)에 의해 테스트 소켓으로부터 디바이스가 빠져 나가면 그 빈 공간에 1, 2번툴(12)(13)이 작동하여 다시 번인 테스트할 다른 디바이스를 삽입하게 되는 것이다.

상기한 바와 같은 동작시 1, 3번툴(12)(14)은 도 3a 및 도 3b에 나타낸 바와 같이 트레이(17)내의 수납공간 피치(T)와 번인보드(18)의 테스트 소켓(19)간 피치(t)가 서로 다르기 때문에 이송간에 간격을 조절하게 된다.

그러나 이러한 종래의 소팅 핸들러는 다음과 같은 문제점이 있었다.

첫째, 테스트 완료후 디바이스가 등급별로 분류되어 담기는 소팅부(11)가 본체의 우측에 위치되어 있어 그 공간이 제약되므로 6개의 소팅 트레이(16)를 2열로 배열할 수 밖에 없었고, 이에 따라 작업자가 소팅 트레이를 교체하는 작업이 번거로웠다.

둘째, 3번툴(14)에 의해 번인보드(18)의 테스트 소켓으로부터 테스트 완료된 디바이스를 빼내는 동작과 2번툴(13)에 의해 디바이스를 넣어주는 동작이 각각 별개 동작으로 이루어지게 되므로 디바이스를 번인보드의 테스트 소켓에 넣어주거나, 빼내는데 오랜시간이 걸리게 된다.

셋째, 테스트 완료된 디바이스를 3번툴(14)에 의해 빈포켓부(9)와 트레이 언로더부(10)로 각각 이송시키고 난 다음 빈포켓부(9)에 있던 디바이스를 4번툴(15)이 소팅부(11)로 이송시키게 되므로 언로딩에 따른 시간이 오래 걸리게 된다.

넷째, 소팅부(11)가 본체(1)의 우측에 위치되므로 장비를 콤팩트화하는데 한계가 있다.

다섯째, 번인보드의 테스트 소켓에 디바이스가 삽입되지 않은 상태에서 번인 테스트할 디바이스를 테스트 소켓내에 계속적으로 삽입하거나, 반대로 테스트 완료된 디바이스를 번인보드로부터 꺼내 등급별로 분류하는 작업만을 수행할 경우에는 1, 2번툴(12)(13) 또는 3, 4 번툴(14)(15)은 동작하지 않으므로 디바이스의 로딩 및 언로딩에 따른 시간이 오래 걸리게 된다.

본 발명은 종래의 이와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 번인보드가 위치되는 작업공간을 본체의 중앙부 후방에 위치시키고 DC 테스트 또는 번인테스트 결과 불량으로 판정된 디바이스가 분류되는 소팅부를 본체의 전면에 인라인으로 배치하여 장비의 콤팩트화를 실현함과 동시에 소팅부에서 트레이를 교체할때 작업자에게 편리함을 제공하는데 그 목적이 있다.

본 발명의 다른 목적은 DC 테스트 완료된 디바이스를 DC 테스트부에서 꺼낼 때 번인보드의 테스트 소켓으로부터 번인 테스트 완료된 디바이스를 동시에 꺼내 고, 그 후 DC 테스트부로부터 꺼낸 디바이스를 번인보드의 테스트 소켓에 넣을 때 번인보드의 테스트 소켓으로부터 꺼낸 디바이스를 버퍼에 옮기는 동작을 동시에 수행하여 디바이스의 로딩 및 언로딩에 따른 싸이클 타임을 최소화할 수 있도록 하는데 있다.

본 발명의 또 다른 목적은 번인보드의 테스트 소켓에 디바이스가 삽입되지 않은 상태에서 번인 테스트할 디바이스를 테스트 소켓내에 계속적으로 삽입하거나, 반대로 번인 테스트 완료된 디바이스를 번인보드로부터 꺼내 등급별로 분류하는 작업만을 수행할 경우, 포킹 픽커와 언포킹 픽커가 디바이스의 로딩 및 언로딩 작업을 동시에 실시하여 디바이스의 로딩 및 언로딩에 따른 작업시간을 1/2로 줄일 수 있도록 하는데 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 형태에 따르면, 프레임역할을 하는 본체와, 본체의 일측에 설치되어 테스트할 디바이스가 담겨진 트레이를 로딩스택커로부터 순차적으로 1개씩 분리하여 로딩포지션으로 이동시키는 로딩부와, 상기 로딩부의 반대편에 설치되어 테스트 완료된 디바이스중 양품으로 판정된 디바이스가 언로딩포지션에 위치된 빈 트레이내에 가득 담겨짐에 따라 이를 언로딩스택커에 차례로 적재하는 언로딩부와, 상기 로딩부 및 언로딩부사이에 설치된 X축 주축과, 상기 X축 주축의 직하방에 설치되어 로딩부의 트레이로부터 복수개의 디바이스가 이송됨에 따라 디바이스의 DC 테스트를 실시하는 DC 테스트부와, 상기 DC 테스트부의 일측에 1스탭씩 진퇴가능하게 설치되어 번인보드의 테스트 소켓에 로딩할 수 있도록 양품의 디바이스가 담겨지는 복수개의 열을 갖는 로딩측 버퍼와, 상기 X축 주축상에 로딩부와 DC 테스트부사이를 왕복 이동가능하게 설치되어 로딩부에 위치된 디바이스를 DC 테스트부의 테스트 소켓측으로 운반시 픽업의 피치를 테스트 소켓간의 거리로 가변시켜 테스트 소켓내에 로딩하는 로딩 픽커와, 상기 DC 테스트부의 일측에 설치되어 테스트 소켓에 로딩된 디바이스를 소팅 픽커에 의해 소팅가능하도록 DC 테스트부의 위치를 가변시키는 DC 테스트부 가변수단과, 상기 DC 테스트부의 일측인 본체의 중앙부 후방에 설치되어 개구부를 통해 번인보드가 외부로 노출되도록 하는 작업공간과, 상기 본체의 직하방에 설치되어 디바이스의 로딩 및 언로딩작업시 번인보드를 X - Y 방향으로 1스탭씩 이송시키며 90°회전이 가능한 X - Y - θ 테이블과, 상기 DC 테스트부의 반대방향에 위치되게 설치되어 번인보드의 테스트 소켓으로부터 분리된 디바이스가 얹혀지고 X축 주축과 직각 방향으로 이동가능하게 설치된 버퍼와, 상기 로딩측 버퍼와 버퍼사이를 이동가능하게 X축 주축에 설치되어 DC 테스트부 또는 로딩측 버퍼상의 디바이스를 번인보드의 테스트 소켓에 넣어 주거나, 번인보드의 테스트 소켓으로부터 디바이스를 꺼내 버퍼에 얹어 놓는 포킹 및 언포킹 픽커와, 상기 X축 주축에 설치되어 버퍼와 언로딩부사이를 이동하면서 픽업의 피치를 트레이의 피치와 일치되게 가변시켜 테스트 완료된 양품의 디바이스를 언로딩 포지션에 위치된 빈 트레이내에 언로딩하는 언로딩 픽커와, 상기 로딩 및 언로딩 스택커사이인 본체의 전면에 인라인으로 설치되어 DC 테스트 또는 번인 테스트 결과 불량으로 판정된 디바이스를 분류하여 담는 빈 트레이가 위치하는 소팅부와, 상기 소팅부의 직상부에 설치된 X - Y축을 따라 이동하면서 DC 테스트 또는 번인 테스트 결과 불량으로 판정된 디바이스를 소팅부의 빈 트레이내에 소팅하는 소팅 픽커로 구성된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러가 제공된다.

본 발명의 다른 실시예에 따르면, 프레임역할을 하는 본체의 일측에 설치되어 디바이스의 DC 테스트를 실시하는 DC 테스트부와, 상기 DC 테스트부에서 양품으로 판정된 디바이스가 로딩되는 번인보드를 콘트롤하는 X - Y - θ 테이블과, 각기 다른 X - Y축에 설치되어 로딩부에 위치된 디바이스를 DC 테스트부, 번인보드, 언로딩부 또는 소팅부로 이송시키는 복수개의 픽커로 구성된 번인 테스터용 핸들러에 있어 서, 상기 본체의 중앙부 후방에 형성된 작업공간과, 상기 작업공간의 직하방에 위치되어 캐리어내에 위치된 번인보드를 꺼내 작업공간을 통해 외부로 노출시킴과 동시에 디바이스의 로딩 및 언로딩시 번인보드를 좌우로 1스탭씩 이송시키는 X - Y - θ 테이블과, 상기 작업공간의 상측에 수평방향으로 설치되어 복수개의 픽커 이송을 안내하는 X축 주축과, 상기 본체의 전면에 인라인으로 배치되어 DC 테스트 또는 번인 테스트 완료후 불량으로 판정된 디바이스가 소팅되는 소팅부로 구성된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러가 제공된다.

도 1은 종래 번인 테스터용 소팅 핸들러의 구성을 개략적으로 나타낸 평면도

도 2는 종래의 번인 테스터용 소팅 핸들러에서 이송수단의 동작을 설명하기 위한 개략도

도 3a 및 도 3b는 번인 테스터용 소팅 핸들러에 적용되는 번인보드 및 트레이의 사시도

도 4는 본 발명의 소팅 핸들러를 일부 생략하여 나타낸 사시도

도 5는 도 4의 정면도

도 6은 도 4의 평면도

도 7은 도 4의 측면도

도 8은 본 발명의 디바이스 로딩 및 언로딩포지션과 소팅포지션을 나타낸 개략도

도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

20 : 본체 23 : 로딩포지션

24 : 로딩부 25 : 언로딩포지션

27 : 언로딩부 31 : X축 주축

32 : DC 테스트부 33 : 로딩 픽커

36 : 번인보드 37 : 소팅 픽커

38 : 소팅포지션 40 : 로딩측 버퍼

41 : 작업공간 43 : X - Y - θ 테이블

46 : 포킹픽커 47 : 언포킹픽커

50 : 소팅부 51 : X - Y축

이하, 본 발명을 일 실시예로 도시한 도 4 내지 도 8을 참고하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.

도 4는 본 발명의 핸들러를 일부 생략하여 나타낸 사시도이고 도 5 및 도 6은 도 4의 정면도 및 평면도로서, 본 발명은 프레임역할을 하는 본체(20)의 일측(도면상 우측)에 테스트할 디바이스가 담겨진 트레이(22)를 로딩스택커(21)로부터 트레이(22)를 순차적으로 1개씩 분리하여 로딩포지션(23)으로 이동시키는 로딩부(24)가 설치되어 있다.

상기 로딩스택커(21)에 적재된 트레이는 최하단에 설치된 록킹수단(도시는 생략함)에 의해 자유낙하가 방지되어 있고 록킹수단의 해제로 로딩스택커의 저면으로부터 트레이가 순차적으로 1개씩 분리되어 서보모터의 구동에 의해 풀리에 감겨진 타이밍벨트(도시는 생략함)가 일정 궤도를 따라 이동함에 따라 로딩포지션(23)까지 이송되는데, 상기 트레이의 이송은 구동 프로그램에 의해 로딩 포지션까지 이동하게 된다.

그리고 상기 로딩부(24)의 반대편에는 테스트 완료된 디바이스중 양품으로 판정된 디바이스가 언로딩포지션(25)에 위치된 빈 트레이(22a)내에 가득 담겨짐에 따라 이를 언로딩스택커(26)에 차례로 적재하는 언로딩부(27)가 구비되어 있다.

상기 언로딩부(27)의 언로딩스택커(26)에는 로딩부(24)의 로딩스택커(21)와는 달리 테스트 완료되어 양품으로 판정된 디바이스가 가득 채워진 트레이가 타이밍벨트에 의해 이송되어와 차례로 적층된다.

상기 로딩부(24) 및 언로딩부(27)의 후방에 빈 트레이(22a)가 적재되는 트레이 적재스택커(28)(29)가 각각 구비되어 있다.

이는, 로딩포지션(23)에서 디바이스를 전부 로딩하고 난 트레이를 로딩부(24)의 후방에 위치된 트레이 적재스택커(28)내에 차례로 적재하여 보관하거나, 또는 언로딩포지션(25)에 위치된 빈 트레이(22a)내에 테스트 완료된 디바이스가 가득 채워져 언로딩스택커(26)측으로 이송됨에 따라 언로딩부(27)의 트레이 적재스택커(29)로부터 빈 트레이를 분리하여 언로딩 포지션으로 공급할 수 있도록 하기 위함이다.

그러나 로딩부(24)의 트레이 적재스택커(28)와 언로딩부(27)의 트레이 적재스택커(29)사이에 로딩포지션(23)에서 디바이스를 전부 로딩하고 난 빈 트레이를 홀딩하여 언로딩부(27)측으로 운반하기 위한 트랜스퍼수단(30)을 설치하는 것이 보다 바람직하다.

이에 따라, 언로딩 트레이 적재스택커(28)에 빈 트레이를 적재시켜 놓지 않고도 언로딩부(27)에서 빈 트레이내에 번인 테스트 완료된 디바이스를 계속적으로 언로딩할 수 있게 된다.

상기 로딩포지션(23)과 언로딩포지션(25)의 직상부에 X축 주축(31)이 설치되어 있고 상기 X축 주축의 직하방에는 로딩포지션(23)의 트레이(22)로부터 복수개의 디바이스가 이송됨에 따라 디바이스의 DC 테스트를 실시하는 DC 테스트부(32)가 설치되어 있으며, 상기 X축 주축(31)상에는 로딩포지션(23)과 DC 테스트부(32)사이를 왕복 이동하면서 로딩포지션(23)에 위치된 디바이스를 DC 테스트부(32)의 테스트 소켓측으로 운반하는 로딩 픽커(33)가 설치되어 있다.

이 때, 상기 DC 테스트부(32)의 일측에는 필요에 따라 디바이스가 얹혀지는 버퍼(34)가 진퇴가능하게 설치되어 있다.

상기 로딩 픽커(33)에 설치되어 디바이스를 홀딩하는 픽업(35)의 피치는 로딩포지션(23)의 직상부에 위치되어 있을 때, 트레이(22a)에 형성된 수납공간의 피치와 일치되도록 좁게 조절되고, 이와는 반대로 DC 테스트부(32)의 직상부에 위치되어 있을 때에는 테스트 소켓의 피치와 같아지도록 넓게 조절된다.

상기 동작은 픽업 간격조절수단에 의해 로딩 픽커(33)의 이송간에 이루어지는데, 픽업 간격조절수단의 구성은 여러 가지형태로 적용가능하여 한정할 필요가 없으므로 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.

한편, 디바이스를 번인보드(36)의 테스트 소켓에 로딩하기 전, 디바이스의 DC 테스트를 실시하는 DC 테스트부(32)의 일측에는 DC 테스트 결과 디바이스가 전부 양품으로 판정되지 않고 그 중 어느 하나라도 결함이 발생되면 소팅 픽커(37)가 전체 디바이스를 소팅(sorting)할 수 있도록 DC 테스트부(32)를 소팅 포지션(38)과 일치시키는 DC 테스트부 가변수단(39)이 구비되어 있고 상기 DC 테스트부(32)의 다른 일측에는 DC 테스트 결과 불량품이 발생되어 DC 테스트부가 소팅포지션(38)과 일치되게 이동하였을 때 양품의 디바이스를 번인보드(36)의 테스트 소켓에 로딩할 수 있도록 양품의 디바이스가 담겨지는 복수개의 열을 갖는 로딩측 버퍼(40)가 1스탭씩 진퇴가능하게 설치되어 있다.

이는, DC 테스트를 실시한 디바이스중 어느 하나라도 결함이 발생되어 DC 테스트부(32)의 위치가 소팅포지션(38)과 일치되게 가변되더라도 로딩측 버퍼(40)에 얹혀져 있던 양품의 디바이스를 번인보드(36)의 테스트 소켓내에 로딩할 수 있도록 하므로써 번인보드로의 디바이스 로딩작업이 중단되지 않도록 하기 위함이다.

그리고 본체(20)의 중앙부 후방, 즉 상기 DC 테스트부(32)의 일측에 개구부를 통해 번인보드(36)가 외부로 노출되도록 하는 작업공간(41)이 구비되어 있고 상기 본체(20)의 직하방에는 디바이스의 로딩 및 언로딩작업시 번인보드(36)를 X - Y 방향으로 1스탭씩 이송시켜 테스트 소켓(42)이 작업공간(41)의 일정위치에 노출되도록 하는 X - Y - θ 테이블(43)이 설치되어 있다.

상기 X - Y - θ 테이블(43)은 랙 엘레베이터부(55)의 랙(44)으로부터 번인 테스트 완료된 디바이스가 테스트 소켓에 꽂혀있는 번인보드(36)를 꺼내거나, 번인 테스트할 디바이스가 테스트 소켓에 삽입된 번인보드를 랙의 내에 넣어주는 역할도 겸하게 된다.

또한, 상기 DC 테스트부(32)의 반대방향에 위치하는 작업공간(41)의 일측에 번인보드(36)의 테스트 소켓으로부터 꺼낸 디바이스를 얹어 놓는 버퍼(45)가 X축 주축(31)과 직각 방향으로 이동가능하게 설치되어 있고 상기 X축 주축(31)에는 로딩측 버퍼(40)와 버퍼(45)사이의 구간을 왕복 이동하면서 DC 테스트부(32) 또는 로딩측 버퍼(40)상의 디바이스를 번인보드(36)의 테스트 소켓(42)에 넣어 주거나, 번인보드의 테스트 소켓으로부터 디바이스를 꺼내 버퍼(45)에 얹어 놓는 포킹 및 언포킹 픽커(46)(47)가 슬라이더(48)에 설치되어 있다.

이 때, 상기 포킹 및 언포킹 픽커(46)(47)의 간격은 작업공간(41)으로부터 DC 테스트부(32)사이의 간격과, 작업공간(41)으로부터 버퍼(45)사이의 간격과 일치되게 설정되어 있다.

이는, 번인보드에 디바이스를 동시에 로딩 및 언로딩할 수 있도록 하기 위함이다.

상기 포킹 및 언포킹 픽커(46)(47)는 동시는 물론 개별동작이 가능하도록 시퀀스가 구성되어 있다.

상기한 바와 같은 포킹 픽커(46)는 언포킹 픽커(47)와의 간격을 가변시킬 수 있도록 구성하는 것이 보다 바람직하다.

이는, DC 테스트 결과 어느 하나의 디바이스가 불량으로 판정되어 DC 테스트부(32)를 소팅포지션(38)과 일치되게 이동시켰을 때, 언포킹 픽커(47)가 번인보드(36)의 테스트 소켓(42)으로부터 디바이스를 홀딩하기 직전 포킹 픽커(46)가 로딩측 버퍼(40)의 직상부로 이동하여 로딩측 버퍼에 얹혀져 있던 디바이스를 동시에 홀딩할 수 있도록 하기 위함이다.

상기 X축 주축(31)의 일측(도면상 좌측)에는 버퍼(45)와 언로딩부(27)사이를 이동하면서 테스트 완료되어 버퍼(45)에 얹혀져 있던 양품의 디바이스를 홀딩하여 언로딩 포지션(25)에 위치된 빈 트레이(22a)에 언로딩하는 언로딩 픽커(49)가 설치되어 있다.

상기 언로딩 픽커(49)의 구성은 로딩 픽커(33)와 동일하므로 구체적인 설명은 생략한다.

상기 로딩 및 언로딩 스택커(21)(26)사이인 본체(20)의 전면에 DC 테스트 또는 번인 테스트 결과 불량으로 판정된 디바이스를 등급별로 분류하여 담는 빈 트레이(22a)가 인라인(in-line)으로 위치하는 소팅부(50)가 배치되어 있고 상기 소팅부(50)의 직상부에는 X - Y축(51)이 설치되어 있으며 상기 X - Y축에는 DC 테스트 또는 번인 테스트 결과 불량으로 판정된 디바이스를 소팅부(50)의 빈 트레이(22a)내에 언로딩하는 소팅 픽커(37)가 설치되어 있다.

상기 소팅부(50)에 위치되는 빈 트레이(22a)는 스택커(52)에 다단으로 적재가능하게 구성되어 있고 상기 소팅부(50)의 일측에는 적재된 빈 트레이(22a)를 소팅부측으로 공급하기 위한 빈 트레이 적재스택커(53)가 구비되어 있으며 소팅포지션(38)으로부터 디바이스를 소팅부(50)측으로 소팅하는 소팅 픽커(37)의 일측에는 빈 트레이 적재스택커(53)상의 빈 트레이(22a)를 홀딩하여 소팅부(50)의 스택커(52)에 넣어주는 홀딩수단(54)이 더 구비되어 있다.

이는, 테스트 완료된 디바이스 중 불량 판정된 디바이스를 소팅부(50)에 소팅함에 따라 트레이내에 디바이스가 가득 채워지더라도 작업자가 트레이를 교체하지 않고 빈 트레이를 상측으로 적층하여 계속적인 디바이스의 소팅이 가능해지도록 하여 트레이의 교체에 따른 장비의 구동이 중단되는 현상을 미연에 방지하기 위함이다.

상기 언로딩부(27)의 일측에는 랙(44)내의 번인보드(36)를 순차적으로 1스탭씩 상승시키는 엘리베이터부(55)가 장착되어 있어 X - Y - θ 테이블(43)이 상기 랙측으로 이동된 상태에서 X - Y - θ 테이블에 설치된 별도의 인출수단(도시는 생략함)이 랙으로부터 번인보드(36)를 꺼내거나, 넣어주도록 되어 있다.

본 발명의 일 실시예에서는 로딩부(24)의 일측에 로딩측 버퍼(40) 및 DC 테스트부(32)를 구비하고 언로딩부(27)의 일측에는 버퍼(34)만을 구비하도록 예시 하였으나, 상기 언로딩부측에 로딩부(24)와 마찬가지로 버퍼(45)가 구비된 DC 테스트부 및 DC 테스트부 가변수단 그리고 언로딩측 버퍼를 대향되게 설치할 수도 있다.

이는, 번인보드(36)의 테스트 소켓(42)에 디바이스가 삽입되지 않은 상태에서 번인 테스트할 디바이스를 테스트 소켓내에 계속적으로 삽입하거나, 반대로 테스트 완료된 디바이스를 번인보드로부터 꺼내 등급별로 분류하는 작업만을 수행할 경우, 포킹 픽커(46)와 언포킹 픽커(47)가 디바이스의 로딩 및 언로딩 작업을 동시에 실시할 수 있도록 하기 위함이다.

이와 같이 구성된 본 발명의 작용을 설명하면 다음과 같다.

초기 작업공간(41)에 번인보드가 없는 상태에서 모터가 구동하면 상기 모터의 구동으로 X - Y - θ 테이블(43)이 X - Y축(56)을 따라 본체(20)의 후방으로 이동한 다음 랙(44)측으로 이동하게 된다.

이러한 상태에서 X - Y - θ 테이블(43)상에 설치된 별도의 인출수단에 의해 랙(44)으로부터 1개의 번인보드(36)를 인출하여 X - Y - θ 테이블의 정위치에 도달하면 상기 X - Y - θ 테이블(43)이 작업공간(41)측으로 이동하게 되므로 상기 번인보드(36)가 작업공간을 통해 본체(20)의 상측으로 노출되는데, 상기 번인보드(36)의 각 테스트 소켓(42)에는 번인 테스트 완료된 디바이스가 삽입되어 있다.

이와 같이 랙(44)으로부터 인출된 번인보드(36)가 전술한 바와는 반대의 동작으로 작업공간(41)에 도달하면 상기 번인보드의 일측에 형성된 패턴이 콘트롤부와 연결된 컨넥터(도시는 생략함)에 삽입되어 핸들러의 콘트롤부와 전기적으로 통하여지게 되므로 테스트 결과가 콘트롤부에 입력되어 테스트 결과에 따라 번인 테스트 완료된 디바이스를 언로딩할 수 있게 된다.

상기한 바와 같이 번인보드(36)가 X - Y - θ 테이블(43)이 정위치에 도달하여 작업공간(41)측으로 이동하는 동안과, 테스트할 디바이스가 로딩된 번인보드(36)가 랙(44)으로 이동하는 동안에는 디바이스의 로딩 및 언로딩작업이 일시적으로 중단된 휴식상태가 된다.

그러나 로딩포지션(23)의 직상부에 위치되어 있던 로딩 픽커(33)는 로딩부(24)의 트레이(22)로부터 DC 테스트할 복수개의 디바이스를 홀딩하여 DC 테스트부(32)로 이송하면서 픽업(35)의 간격을 DC 테스트부에 위치된 테스트 소켓의 피치와 일치되게 넓힌 상태에서 테스트 소켓내에 로딩하게 되므로 설정된 시간동안 번인보드에 로딩될 디바이스의 DC 테스트를 실시하게 된다.

이렇게 DC 테스트가 이루어진 디바이스는 작업공간(41)상에 번인보드가 위치되어 있지 않으므로 곧 바로 포킹 픽커(46)에 의해 번인보드(36)에 로딩되지 않고 로딩측 버퍼(40)의 상면에 차례로 얹혀지게 된다.

이는, 디바이스의 정상적인 로딩 및 언로딩 작업시 DC 테스트 완료된 디바이스 중 어느 하나의 디바이스라도 DC 불량이 발생되면 상기 디바이스를 포킹 픽커(46)가 DC 테스트부(32)로부터 번인보드(36)의 테스트 소켓에 로딩시키지 않고 로딩측 버퍼(40)에 얹혀진 DC 테스트 양품의 디바이스를 홀딩하여 번인보드(36)의 테스트 소켓에 로딩할 수 있도록 하기 위한 것이다.

상기한 동작시 DC 테스트 결과 불량품이 발생되면 DC 테스트부(32)는 DC 테스트부 가변수단(39)에 의해 X축 주축(31)과 직교되는 방향으로 이동하여 소팅포지션(38)과 일치되므로 X - Y축(51)을 따라 이동하는 소팅 픽커(37)가 DC 테스트부(32)에 있던 디바이스를 동시에 홀딩하여 DC 테스트 결과 양품으로 판정된 디바이스는 로딩측 버퍼(40)내에 위치시키고 불량인 디바이스만 소팅부(50)의 빈 트레이(22a)내에 소팅하게 된다.

한편, 상기 번인보드(36)가 작업공간(41)에 도달하고 나면 X축 주축(31)을 따라 수평이동하는 언포킹 픽커(47)가 구동하여 번인보드(36)의 테스트 소켓(42)으로부터 번인 테스트 완료된 디바이스를 꺼내 버퍼(45)내에 얹어 놓게 되므로 상기 X축 주축(31)상에 버퍼와 언로딩부(27)의 언로딩포지션(25)구간을 왕복 이동하게 설치된 언로딩 픽커(49)가 버퍼상의 디바이스를 홀딩하여 빈 트레이(22a)내에 언로딩하게 된다.

즉, 번인 테스트 완료된 일부 디바이스가 언포킹 픽커(47)에 의해 홀딩되어 번인보드(36)의 테스트 소켓(42)으로부터 언로딩됨과 동시에 로딩측 버퍼(40)내에 DC 테스트 완료된 양품의 디바이스가 얹혀지고 나면 로딩 픽커(33), 언로딩 픽커(49), 포킹 및 언포킹 픽커(46)(47) 그리고 소팅 픽커(37)가 동시에 동작하는 정상적인 동작을 연속적으로 수행하게 된다.

그럼, 이하에서는 본 발명의 소팅 핸들러가 정상적으로 동작되는 과정을 순차적으로 설명하기로 한다.

먼저, 로딩부(24)의 로딩포지션(23)에 테스트할 디바이스가 채워진 트레이(22)가 위치된 상태에서 픽업(35)의 간격이 트레이의 수납공간, 즉 디바이스의 수납 간격과 일치되게 조절된 상태에서 로딩 픽커(33)가 X축 주축(31)을 따라 이송되어 픽업(35)의 하강으로 트레이로부터 복수개의 디바이스를 홀딩하고 나면 상기 로딩 픽커(33)는 DC 테스트부(32)측으로 이송되는데, 상기한 동작시 상기 로딩 픽커(33)의 픽업(35) 간격은 DC 테스트부(32)에 설치된 테스트 소켓의 간격과 일치되게 벌어지게 된다.

즉, 번인보드(36)에 설치된 테스트 소켓(42)의 간격과 동일하게 조절된다.

그 후, 상기 X축 주축(31)을 따라 이동하는 로딩 픽커(33)가 DC 테스트부(32)의 직상부에 정지된 상태에서 홀딩하고 있던 디바이스를 테스트 소켓내에 로딩하고 상기 DC 테스트부(32)에 새로운 디바이스를 홀딩하기 위해 로딩포지션(23)측으로 되돌아 오는 동안 DC 테스트부(32)에서는 번인보드(36)에 로딩될 디바이스의 DC 테스트를 실시하게 된다.

상기한 바와 같이 로딩 픽커(33)가 로딩포지션(23)으로 환원되는 동안 DC 테스트부(32)에서는 DC 테스트가 이루어지게 되고, 포킹 및 언포킹 픽커(46)(47)는 X축 주축(31)을 따라 로딩 픽커(33)의 이동방향과 동일한 방향으로 이동되어 포킹 픽커(46)는 DC 테스트부(32)의 직상부에 위치되고 언포킹 픽커(47)는 번인보드(36)상의 테스트 소켓(42) 직상부에 위치된다.

그 후, 상기 로딩포지션(23)으로 복귀한 로딩 픽커(33)가 상기 DC 테스트부(32)에 로딩할 새로운 디바이스를 홀딩하기 위해 하강하면 상기 포킹 및 언포킹 픽커(46)(47)도 동시에 하강하게 되므로 로딩 픽커(33)에 DC 테스트할 로딩포지션(23)상의 디바이스가 홀딩되고, 포킹 픽커(46)에는 DC 테스트 완료되어 번인보드(36)의 테스트 소켓(42)에 로딩될 디바이스가 홀딩되며, 언포킹 픽커(47)에는 번인 테스트 완료된 번인보드(36)상의 디바이스가 홀딩된다.

그러나 만약, DC 테스트 완료된 디바이스 중 어느 하나의 디바이스라도 DC 불량이 발생되면 포킹 픽커(46)가 DC 테스트부(32)의 테스트 소켓내의 디바이스를 홀딩하지 않고 동작을 일시 중단하게 되므로 언포킹 픽커(47)만이 구동하여 번인보드(36)의 테스트 소켓(42)으로부터 번인 테스트 완료된 디바이스만을 꺼낸다.

이와 같이 언포킹 픽커(47)가 번인보드(36)로부터 번인 테스트 완료된 디바이스를 꺼내고 나면 상기 포킹 및 언포킹 픽커(46)(47)가 설치된 슬라이더(48)가 도면상 우측으로 약간 이동하여 포킹 픽커(46)를 로딩측 버퍼(40)의 직상부에 위치되도록 한 다음 상기 포킹 픽커(46)만이 하강하여 로딩측 버퍼에 얹혀진 DC 테스트 완료된 양품의 디바이스를 홀딩하게 된다.

이에 따라, 포킹 픽커(46)에 DC 테스트 완료된 양품의 디바이스가 홀딩되어 있고, 언포킹 픽커(47)에는 번인 테스트 완료된 디바이스가 홀딩되어 있다.

상기한 동작시 DC 테스트부(32)에 있던 디바이스를 꺼내기 위해 로딩 및 언로딩 포지션(23)(25)과 일치되어 있던 DC 테스트부(32)의 위치가 DC 테스트부 가변수단(39)의 구동으로 소팅포지션(38)과 일치되게 가변된다.

이와 같이 DC 테스트부(32)가 소팅포지션(38)과 일치되게 가변되면 소팅 픽커(37)가 X - Y축(51)을 따라 소팅포지션(38)측으로 이동한 다음 상기 DC 테스트부(32)의 테스트 소켓으로부터 복수개의 디바이스를 동시에 홀딩하여 DC 테스트 결과 양품으로 판정된 디바이스를 로딩측 버퍼(40)내에 언로딩하고, DC 불량인 디바이스는 등급에 따라 소팅부(50)의 빈 트레이(22a)내에 소팅하게 된다.

상기한 바와 같은 동작으로 포킹 픽커(46)에 번인 테스트할 디바이스가 홀딩되고, 언포킹 픽커(47)에는 번인 테스트 완료된 디바이스가 홀딩되고 나면 상기 포킹 및 언포킹 픽커(46)(47)는 슬라이더(48)의 구동으로 도면상 좌측으로 이동하게 되므로 포킹 픽커(46)는 번인보드(36)의 빈 테스트 소켓의 직상부에 위치되고, 언포킹 픽커(47)는 버퍼(45)의 직상부에 위치된다.

그 후, 포킹 및 언포킹 픽커(46)(47)의 동시 구동으로 상기 포킹 및 언포킹 픽커(46)(47)에 홀딩된 디바이스가 하강한 다음 상기 디바이스의 홀딩상태를 해제하고 상사점까지 상승하면 포킹 픽커(46)에 홀딩되어 있던 디바이스는 번인보드(36)의 테스트 소켓(42)에 로딩되고, 언포킹 픽커(47)에 홀딩되어 있던 디바이스는 버퍼(45)내에 얹혀지게 된다.

이와 같이 번인보드(36)의 테스트 소켓(42)으로부터 번인 테스트 완료된 디바이스를 언로딩한 다음 번인 테스트할 디바이스가 로딩되고 나면 번인보드(36)는 X - Y - θ테이블(43)에 의해 X축 또는 Y축으로 1스탭 이동하게 되므로 번인 테스트 완료된 디바이스가 삽입된 테스트 소켓이 작업공간(41)을 통해 본체(20)의 상부로 노출된다.

이와 동시에 포킹 및 언포킹 픽커(46)(47)가 설치된 슬라이더(48)는 전술한 바와 같은 동작을 수행하기 위해 초기 상태, 즉 포킹 픽커(46)는 DC 테스트부(32)의 직상부에, 그리고 언포킹 픽커(47)는 번인보드(36)의 직상부에 위치되게 X축 주축(31)을 따라 이동하게 된다.

상기한 동작시 버퍼(45)의 상면에 얹혀진 번인 테스트 완료된 디바이스는 언로딩 픽커(47)에 의해 언로딩 포지션(25)에 위치된 빈 트레이(22a)내에 언로딩되는데, 이를 위해 언로딩포지션(25)에 위치되어 있던 언로딩 픽커(49)가 버퍼(45)측으로 X축 주축(31)을 따라 이동하면서 픽업의 피치를 언로딩 버퍼의 피치와 일치되게 가변시키게 된다.

이와 같이 버퍼(45)의 상측으로 이동된 언로딩 픽커(49)가 디바이스를 홀딩하여 언로딩포지션(25)에 위치된 빈 트레이(22a)내에 언로딩하게 된다.

그러나 버퍼(45)에 얹혀진 디바이스 중 번인 테스트 결과 불량으로 판정된 디바이스가 있을 경우에는 상기 언로딩 픽커(49)가 양품으로 판정된 디바이스만을 홀딩하게 된다.

그 후, 상기 언로딩 픽커(49)가 홀딩된 양품의 디바이스를 언로딩 포지션(25)으로 언로딩하기 위해 X축 주축(31)을 따라 이동시 언로딩 포지션(25)과 일치되어 있던 버퍼(45)는 구동수단(도시는 생략함)에 의해 소팅포지션(38)으로 가변되므로 소팅 픽커(37)가 X - Y축(51)을 따라 이동하여 소팅포지션(38)에 위치된 버퍼(45)로부터 불량 디바이스를 홀딩한 다음 소팅부(50)에 위치된 빈 트레이(22a)내에 등급별로 분류하여 소팅하게 된다.

상기한 바와 같은 계속되는 동작으로 로딩부(24)에 위치되어 있던 트레이(22)로부터 번인 테스트할 디바이스를 DC 테스트부(32)로 전부 로딩하고 나면 빈 트레이는 로딩부를 따라 이동하여 로딩부의 후방에 위치된 트레이 적재스택커(28)내에 적재된다.

한편, 언로딩부(27)에 위치된 빈 트레이(22a)내에 번인 테스트 완료된 디바이스가 가득 채워지고 나면 상기 트레이를 언로딩부(27)의 전면에 설치된 언로딩 스택커(26)에 차례로 적재함과 동시에 언로딩부(27)의 후방에 위치된 트레이 적재스택커(29)로부터 빈 트레이를 분리하여 언로딩포지션(25)으로 이송시키게 되므로 빈 트레이내에 번인 테스트 완료된 디바이스를 계속적으로 언로딩할 수 있게 된다.

그러나 로딩부(24)에서 디바이스를 전부 로딩하고 난 빈 트레이를 로딩부의 트레이 적재스택커(28)에 적재시키지 않고 X축 주축(31)의 후방에 설치된 트랜스퍼수단(30)에 의해 빈 트레이를 언로딩부(27)측으로 이송시켜 대기시켰다가 언로딩부의 빈 트레이내에 번인 테스트 완료된 디바이스가 가득 채워짐에 따라 이를 언로딩 포지션(25)으로 이송시키는 것이 보다 바람직하다.

이 경우에는 작업자가 언로딩부(27)의 트레이 적재스택커(29)내에 빈 트레이를 적재시키지 않고도 디바이스의 언로딩작업을 계속적으로 수행할 수 있게 된다.

상기한 바와 같은 동작은 로딩부(24)의 트레이(22)내에서 DC 테스트부(32)로 로딩되는 디바이스와, 번인 테스트 완료된 디바이스 중 일부의 디바이스가 불량으로 판정되어 소팅부(50)로 소팅되므로 인해 로딩부(24)에 위치된 트레이(22)내의 디바이스를 DC 테스트부(32)에 전부 로딩하더라도 언로딩부(27)에 위치된 트레이에는 디바이스가 가득 채워지지 않으므로 언로딩부에 위치된 트레이의 나머지 수납공간내에 디바이스를 언로딩하는 시간동안 로딩부(24)에 있던 빈 트레이를 언로딩부(27)측으로 이송시킬 수 있게 되므로 디바이스의 계속적인 언로딩작업이 가능해지게 된다.

또한, 계속되는 작업으로 소팅부(50)에 위치된 빈 트레이(22a)내에 불량 디바이스가 가득 채워지고 나면 소팅 픽커(37)가 X - Y축(51)을 따라 빈 트레이 적재스택커(53)의 직상부로 이동함과 동시에 하강한 다음 홀딩수단(54)이 빈 트레이 적재스택커(53)에 적재된 최상측의 트레이를 홀딩한 후, 이를 디바이스가 가득 채워진 트레이의 상면에 적재되게 스택커(52)내에 위치시키므로 불량 디바이스를 계속해서 소팅할 수 있게 된다.

이와 같이 홀딩수단(54)에 의해 빈 트레이가 이송되어 디바이스가 가득 채워진 트레이의 상면에 얹혀지고 나면 상기 트레이는 공지의 승강수단에 의해 트레이의 두께만큼 1스탭 하강하게 되므로 소팅 픽커(37)가 동일 위치에 불량 디바이스를 소팅할 수 있게 된다.

반복되는 동작으로 번인보드(36)의 테스트 소켓(42)으로부터 번인 테스트 완료된 디바이스를 전부 언로딩함과 동시에 상기 번인보드에 번인 테스트할 디바이스를 전부 로딩하고 나면 상기 번인보드(36)가 얹혀진 X - Y - θ테이블(43)이 X - Y축(56)을 따라 랙(44)측으로 이동하여 최초 인출한 지점에 번인보드를 삽입하고 랙으로부터 빠져 나오게 된다.

이와 같이 X - Y - θ테이블(43)이 랙(44)으로부터 빠져 나오고 나면 상기 랙이 1스탭 상승함과 동시에 최초의 동작과 동일하게 X - Y - θ테이블(43)에 장착된 인출수단이 랙으로부터 새로운 번인보드를 인출하여 X - Y - θ테이블상에 안착시키게 되므로 계속적인 디바이스의 로딩 및 언로딩 작업이 가능해지게 된다.

지금까지 설명한 것은, 번인 테스트 완료된 디바이스를 번인보드(36)의 테스트 소켓(42)으로부터 꺼내 언로딩 포지션(25)에 위치된 빈 트레이(22a)내에 언로딩함과 동시에 로딩포지션(23)에 위치되어 있던 디바이스를 로딩 픽커(33)가 홀딩하여 DC 테스트를 실시한 다음 이를 포킹 픽커(46)가 번인보드(36)의 테스트 소켓(42)내에 차례로 로딩하여 번인보드내에 번인 테스트할 디바이스가 전부 로딩되고 나면, 이를 엘리베이터부(55)의 랙(44)내에 삽입하는 동작을 설명한 것으로, 랙내에 번인 테스트 완료된 디바이스가 삽입된 번인보드가 위치되고 로딩부(24)의 로딩스택커(21)에 번인 테스트할 디바이스가 담겨진 트레이가 적재되어 있는 한 핸들러는 계속적으로 반복 동작하게 된다.

한편, 작업공간(41)의 양측에 DC 테스트부(32)와 버퍼(34)를 갖는 로딩측 버퍼(40)를 구비하고 로딩 및 언로딩포지션(23)(25)에는 번인 테스트할 디바이스가 담겨진 트레이를 위치시킨 다음 로딩 및 언로딩포지션(23)(25)에 위치되어 있던 디바이스를 동시에 번인보드(36)의 테스트 소켓(42)에 로딩하는 작업시에는 DC 테스트부(32)에서 디바이스의 DC 테스트를 실시한 후 포킹 및 언포킹 픽커(46)(47)를 이용하여 번인보드의 테스트 소켓내에 디바이스를 동시에 로딩하게 된다.

그렇지만, 이와는 반대로 포킹 및 언포킹 픽커(46)(47)를 이용하여 번인 테스트 완료된 디바이스를 번인보드(36)의 테스트 소켓(42)으로부터 언로딩하는 작업을 동시에 실시할 경우에는 DC 테스트를 실시하지 않아도 되므로 로딩 및 언로딩포지션(23)(25)에 DC 테스트부(32)의 버퍼(34)(45)를 일치시킨 다음 포킹 및 언포킹 픽커(46)(47)에 의해 번인 테스트 완료된 디바이스를 버퍼(34)(45)내에 언로딩하게 되므로 디바이스의 로딩 및 언로딩에 따른 작업시간을 1/2로 줄일 수 있게 되는 것이다.

이상에서와 같이 본 발명은 종래의 번인 핸들러에 비하여 다음과 같은 장점을 갖는다.

첫째, 테스트 완료후 디바이스가 등급별로 분류되어 담기는 소팅부(50)가 본체의 전면에 인라인으로 배치되어 있어 본체의 공간활용도를 극대화시킬 수 있게 되므로 작업자가 소팅 트레이를 본체의 전면에서 용이하게 교체할 수 있다.

둘째, 슬라이더(48)에 의해 X축 주축(31)을 따라 함께 이동하는 포킹 픽커(46)가 DC 테스트부(32)에서 디바이스를 꺼낼 때 언포킹 픽커(47)는 번인보드(36)의 테스트 소켓(42)으로부터 번인 테스트 완료된 디바이스를 동시에 꺼내고, 이와는 반대로 포킹 픽커(46)에 홀딩된 디바이스를 번인보드의 테스트 소켓내에 삽입할 때 언포킹 픽커(47)는 홀딩하고 있던 디바이스를 버퍼(45)내에 얹어 놓는 동작을 동시에 수행하게 되므로 디바이스를 번인보드의 테스트 소켓에 넣어주거나, 빼내는데 걸리는 시간을 1/2로 줄일 수 있게 된다.

셋째, 테스트 완료되어 버퍼(45)내에 얹혀진 디바이스를 언로딩 픽커(49) 및 소팅 픽커(37)에 의해 소팅부(50) 및 언로딩부(27)로 각각 이송시키는 동작을 동시에 수행하게 되므로 디바이스의 언로딩에 따른 시간을 최소화하게 된다.

넷째, 소팅부(50)가 본체(20)의 전면에 인라인으로 위치되어 있어 공간활용도를 극대화하게 되므로 장비를 콤팩트(compact)화할 수 있게 된다.

다섯째, 번인보드(36)의 테스트 소켓(42)에 디바이스가 삽입되지 않은 상태에서 번인 테스트할 디바이스를 테스트 소켓내에 계속적으로 삽입하거나, 반대로 테스트 완료된 디바이스를 번인보드로부터 꺼내 등급별로 분류하는 작업만을 수행할 경우 작업공간(41)의 양측에 대향되게 설치된 DC 테스트부(32) 및 버퍼(34)(45)에 의해 번인 테스트 완료된 디바이스를 테스트 소켓으로부터 동시에 꺼내 언로딩하는 작업 및 테스트할 디바이스를 테스트 소켓내에 삽입하는 동작을 동시에 수행할 수 있게 되므로 디바이스의 로딩 및 언로딩에 따른 시간을 최소화하게 되고, 이에 따라 고가 장비의 가동률을 극대화하게 되는 현저한 효과를 얻게 된다.

Claims

프레임역할을 하는 본체와, 본체의 일측에 설치되어 테스트할 디바이스가 담겨진 트레이를 로딩스택커로부터 순차적으로 1개씩 분리하여 로딩포지션으로 이동시키는 로딩부와, 상기 로딩부의 반대편에 설치되어 테스트 완료된 디바이스중 양품으로 판정된 디바이스가 언로딩포지션에 위치된 빈 트레이내에 가득 담겨짐에 따라 이를 언로딩스택커에 차례로 적재하는 언로딩부와, 상기 로딩부 및 언로딩부사이에 설치된 X축 주축과, 상기 X축 주축의 직하방에 설치되어 로딩부의 트레이로부터 복수개의 디바이스가 이송됨에 따라 디바이스의 DC 테스트를 실시하는 DC 테스트부와, 상기 DC 테스트부의 일측에 1스탭씩 진퇴가능하게 설치되어 번인보드의 테스트 소켓에 로딩할 수 있도록 양품의 디바이스가 담겨지는 복수개의 열을 갖는 로딩측 버퍼와, 상기 X축 주축상에 로딩부와 DC 테스트부사이를 왕복 이동가능하게 설치되어 로딩부에 위치된 디바이스를 DC 테스트부의 테스트 소켓측으로 운반시 픽업의 피치를 테스트 소켓간의 거리로 가변시켜 테스트 소켓내에 로딩하는 로딩 픽커와, 상기 DC 테스트부의 일측에 설치되어 테스트 소켓에 로딩된 디바이스를 소팅 픽커에 의해 소팅가능하도록 DC 테스트부의 위치를 가변시키는 DC 테스트부 가변수단과, 상기 DC 테스트부의 일측인 본체의 중앙부 후방에 설치되어 개구부를 통해 번인보드가 외부로 노출되도록 하는 작업공간과, 상기 본체의 직하방에 설치되어 디바이스의 로딩 및 언로딩작업시 번인보드를 X - Y 방향으로 1스탭씩 이송시키는 X - Y - θ 테이블과, 상기 DC 테스트부의 반대방향에 위치되게 설치되어 번인보드의 테스트 소켓으로부터 분리된 디바이스가 얹혀지고 X축 주축과 직각 방향으로 이동가능하게 설치된 버퍼와, 상기 로딩측 버퍼와 버퍼사이에 이동가능하게 X축 주축에 설치되어 DC 테스트부 또는 로딩측 버퍼상의 디바이스를 번인보드의 테스트 소켓에 넣어 주거나, 번인보드의 테스트 소켓으로부터 디바이스를 꺼내 버퍼에 얹어 놓는 포킹 및 언포킹 픽커와, 상기 X축 주축에 설치되어 버퍼와 언로딩부사이를 이동하면서 픽업의 피치를 트레이의 피치와 일치되게 가변시켜 테스트 완료된 양품의 디바이스를 언로딩 포지션에 위치된 빈 트레이내에 언로딩하는 언로딩 픽커와, 상기 로딩 및 언로딩 스택커사이인 본체의 전면에 인라인으로 설치되어 DC 테스트 또는 번인 테스트 결과 불량으로 판정된 디바이스를 분류하여 담는 빈 트레이가 위치하는 소팅부와, 상기 소팅부의 직상부에 설치된 X - Y축을 따라 이동하면서 DC 테스트 또는 번인 테스트 결과 불량으로 판정된 디바이스를 소팅부의 빈 트레이내에 소팅하는 소팅 픽커로 구성된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러.
제 1 항에 있어서,

로딩부 및 언로딩부의 후방에 빈 트레이가 적재되는 트레이 적재스택커가 구비된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러.
제 2 항에 있어서,

X축 주축의 후방에 로딩부측 트레이 적재스택커내의 빈 트레이를 언로딩부측 트레이 적재스택커측으로 운반하는 트랜스퍼수단이 더 구비된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러.
제 1 항에 있어서,

X축 주축에 설치되어 번인보드의 테스트 소켓에서 디바이스를 꺼내주는 언포킹 픽커로부터 포킹 픽커의 위치를 가변시키도록 구성된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러.
제 1 항에 있어서,

소팅부에 위치된 빈 트레이가 스택커에 다단으로 적재가능하게 구성된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러.
제 5 항에 있어서,

소팅부의 일측에 빈 트레이가 적재 보관되는 빈 트레이 적재스택커가 더 구비된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러.
제 6 항에 있어서,

소팅 픽커의 일측에 빈 트레이 적재스택커상의 빈 트레이를 홀딩하여 소팅 부의 스택커에 넣어주는 홀딩수단이 더 구비된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러.
제 1 항에 있어서,

작업공간의 양측에 DC 테스트부 및 DC 테스트부 가변수단 그리고 버퍼를 대향되게 설치하여 로딩부에서만 디바이스를 DC 테스트부로 로딩할 때 언로딩측에 위치된 버퍼가 언로딩 버퍼기능을 수행하도록 구성된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러.
프레임역할을 하는 본체의 일측에 설치되어 디바이스의 DC 테스트를 실시하는 DC 테스트부와, 상기 DC 테스트부에서 양품으로 판정된 디바이스가 로딩되는 번인보드를 콘트롤하는 X - Y - θ 테이블과, 각기 다른 X - Y축에 설치되어 로딩부에 위치된 디바이스를 DC 테스트부, 번인보드, 언로딩부 또는 소팅부로 이송시키는 복수개의 픽커로 구성된 번인 테스터용 핸들러에 있어서, 상기 본체의 중앙부 후방에 형성된 작업공간과, 상기 작업공간의 직하방에 위치되어 캐리어내에 위치된 번인보드를 꺼내 작업공간을 통해 외부로 노출시킴과 동시에 디바이스의 로딩 및 언로딩시 번인보드를 좌우로 1스탭씩 이송시키는 X - Y - θ 테이블과, 상기 작업공간의 상측에 수평방향으로 설치되어 복수개의 픽커 이송을 안내하는 X축 주축과, 상기 본체의 전면에 인라인으로 배치되어 DC 테스트 또는 번인 테스트 완료후 불량으로 판정된 디바이스가 소팅되는 소팅부로 구성된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러.
제 9 항에 있어서,

로딩부 및 언로딩부의 후방에 빈 트레이가 적재되는 트레이 적재스택커가 구비된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러.
제 10 항에 있어서,

X축 주축의 후방에 로딩부측 트레이 적재스택커내의 빈 트레이를 언로딩부측 트레이 적재스택커측으로 운반하는 트랜스퍼수단이 더 구비된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러.
제 9 항에 있어서,

X축 주축에 설치되어 번인보드의 테스트 소켓에서 디바이스를 꺼내주는 언포킹 픽커로부터 포킹 픽커의 위치를 가변시키도록 구성된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러.
제 9 항에 있어서,

소팅부에 위치된 빈 트레이가 스택커에 다단으로 적재가능하게 구성된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러.
제 13 항에 있어서,

소팅부의 일측에 빈 트레이가 적재 보관되는 빈 트레이 적재스택커가 더 구비된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러.
제 14 항에 있어서,

소팅 픽커의 일측에 빈 트레이 적재스택커상의 빈 트레이를 홀딩하여 소팅 부의 스택커에 넣어주는 홀딩수단이 더 구비된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러.
제 9 항에 있어서,

작업공간의 양측에 DC 테스트부 및 DC 테스트부 가변수단 그리고 버퍼를 대향되게 설치하여 로딩부에서만 디바이스를 DC 테스트부로 로딩할 때 언로딩측에 위치된 버퍼가 언로딩 버퍼기능을 수행하도록 구성된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러.