KR100312861B1

KR100312861B1 - 버퍼기능을 갖는 번인 테스터용 소팅 핸들러

Info

Publication number: KR100312861B1
Application number: KR1019990015490A
Authority: KR
Inventors: 김성봉; 정기현
Original assignee: 정문술; 미래산업 주식회사
Priority date: 1999-04-29
Filing date: 1999-04-29
Publication date: 2001-11-03
Also published as: KR20000067569A

Abstract

본 발명은 DC 테스트를 실시하여 DC 불량이 발생되더라도 DC 테스트 완료된 양품의 디바이스를 번인보드의 테스트 소켓내에 신속하게 로딩하기 위한 버퍼기능을 갖는 번인 테스터용 소팅 핸들러에 관한 것으로, 프레임역할을 하는 본체의 일측에 설치되어 디바이스의 DC 테스트를 실시하는 DC 테스트부(21)와, 상기 DC 테스트부에서 양품으로 판정된 디바이스가 로딩되는 번인보드를 콘트롤하는 X - Y - θ 테이블(32)과, 각기 다른 축에 설치되어 로딩부(20)에 위치된 디바이스를 DC 테스트부(21), 번인보드(16), 언로딩부(35) 또는 소팅부(36)로 이송시키는 복수개의 픽커로 구성된 번인 테스터용 핸들러에 있어서, 로딩부(20)와 DC 테스트부(21)사이에 설치되며, 상면에는 번인보드(16)의 테스트 소켓(17)으로 동시에 로딩되는 디바이스의 갯수와 동일한 갯수의 요입홈(18)이 복수줄 구비된 버퍼(19)와, 상기 버퍼의 일측에 고정되어 버퍼(19)를 1스탭씩 진퇴운동시키는 구동수단(25)으로 구성된 것이다.

Description

버퍼기능을 갖는 번인 테스터용 소팅 핸들러{shoting handler for burn-in tester with buffer function}

본 발명은 생산 완료된 디바이스(device)의 전기적인 특성을 테스트시, 사용되는 소팅 핸들러(handler)에 관한 것으로서, 좀 더 구체적으로는 DC 테스트를 실시하여 DC 불량이 발생되더라도 DC 테스트 완료된 양품의 디바이스를 번인보드의 테스트 소켓내에 신속하게 로딩하기 위한 버퍼기능을 갖는 번인 테스터용 소팅 핸들러에 관한 것이다.

도 1은 종래 번인 테스터용 소팅 핸들러의 구성을 개략적으로 나타낸 평면도이고 도 2는 종래의 번인 테스터용 핸들러에서 이송수단의 동작을 설명하기 위한 개략도로서, 그 구성을 설명하면 다음과 같다.

본체(1)의 상부 일측에 번인보드 로더부(2)와 언로더부(3)가 설치되어 있고 그 일측에는 DC 리젝트부(4)와 트레이 로더부(5) 및 DC 테스트부(6)가 설치되어 있으며, 그 일측 저면에는 90°회전하는 턴리턴 장치부(7)가 설치된 Y테이블(8)이 설치되어 있고 그 일측에는 빈포켓부(9) 및 트레이 언로더부(10) 그리고 소팅부(11)가 차례로 설치되어 있다.

그리고 DC 리젝트부(4)와 트레이 로더부(5) 및 DC 테스트부(6)의 상부에는 서보모터에 의해 좌, 우, 상, 하로 작동하는 1번툴(12)이 설치되어 있고 DC 테스트부(6)와 턴리턴 장치부(7)가 설치된 Y 테이블(8)의 상측에는 그 간격사이에서 작동되는 2번툴(13)이 설치되어 있다.

또한, Y테이블(8)과 빈포켓부(9) 및 트레이 언로더부(10)의 상부에는 그 간격 사이에서 작동되는 3번툴(14)이 설치되어 있고 빈포켓부(9)와 소팅부(11)의 상측에는 그 간격사이에서 작동되는 4번툴(15)이 설치되어 있다.

따라서 번인 테스트할 디바이스가 채워진 트레이를 트레이 로더부(5)에 놓은 다음 번인보드 로더부(2)에는 번인 테스트 완료된 디바이스가 테스트 소켓에 삽입되어 있는 번인보드를 놓는다.

상기와 같이 번인보드 로더부(2)에 번인보드가 위치되면 번인보드는 Y테이블(8)의 상부에 설치되어 있는 회전판(도시는 생략함)에 위치됨과 동시에 핸들러의 컨넥터에 결합된 상태가 되므로 Y테이블(8)로 이송되어 턴리턴 장치부(7)에 의해 90°회전하게 된다.

상기한 바와 같이 회전판이 90°회전하면 서브모터에 의해 볼스크류가 회전하게 되므로 Y테이블(8)은 1, 2, 3번툴(12)(13)(14)이 작동하는 프로세스라인까지 이동하게 된다.

따라서 번인 테스트가 끝난 상태로 번인보드의 테스트 소켓에 꽂혀 있던 4개의 디바이스는 상부에 설치되어 있는 3번툴(14)에 의해 동시에 꺼내져 등급에 따라 빈포켓부(9)나 트레이 언로더부(10)로 이송되며, 불량으로 판정된 디바이스는 4번툴(15)에 의해 빈포켓부(9)에서 소팅부(11)로 이송된다.

한편, 상기한 바와 같은 작동으로 번인보드의 테스트 소켓에 삽입되어 있던 번인 테스트 완료된 디바이스가 빠져 나가면 1번툴(12)이 트레이 로더부(5)에 있는 4개의 디바이스를 홀딩하여 DC 테스트부(6)의 테스트 소켓내에 삽입하여 설정된 시간동안 DC 테스트를 실시하게 되는데, 그 이전에 DC 테스트부에 있던 디바이스는 2번툴(13)에 의해 번인보드상의 테스트 소켓에 삽입된다.

즉, 번인보드의 테스트 소켓에 꽂혀져 있던 디바이스는 번인 테스트가 완료된 것으로, 그 등급별로 3번툴(13)과 4번툴(15)에 의해 이송되어 분류되고, 3번툴(14)과 4번툴(15)에 의해 테스트 소켓으로부터 디바이스가 빠져 나가면 그 빈 공간에 1, 2번툴(12)(13)이 작동하여 DC 테스트를 실시하여 양품으로 판정된 디바이스를 삽입하게 되는 것이다.

그러나 DC 테스트부(6)에서 DC 테스트를 실시한 결과 적어도 1개 이상의 디바이스가 DC 불량으로 판정되면 2번툴(13)이 DC 테스트부(6)로부터 디바이스를 홀딩하지 않고 상기 DC 테스트부의 위치를 소팅 포지션으로 가변시킨 상태에서 상기 DC 테스트부로부터 DC 불량인 디바이스를 4번툴(15)이 홀딩하여 소팅부(11)로 소팅하게 된다.

이와 같이 DC 테스트부(6)의 테스트 소켓으로부터 DC 불량인 디바이스를 빼내고 나면 DC 테스트부가 주작업 라인으로 환원됨과 동시에 1번툴(12)이 트레이 로더부(5)에 있던 새로운 디바이스를 홀딩하여 DC 테스트부(6)내에 로딩하고 DC 테스트를 다시 실시하여 DC 테스트부(6)에 있던 모든 디바이스가 양품으로 판정될 경우에만 2번툴(13)이 DC 테스트부로부터 디바이스를 홀딩하여 번인보드의 테스트 소켓내에 로딩하게 된다.

만약, DC 테스트부(6)에 새로 삽입한 디바이스도 DC 불량으로 판정되면 양품으로 판정될 때까지 전술한 바와 같은 동작을 재실행하게 되므로 번인보드의 테스트 소켓내에 디바이스를 로딩하는데 소요되는 시간이 오래 걸리게 되었고, 이에 따라 고가 장비의 가동률이 현저히 떨어지는 문제점이 발생되었다.

본 발명은 종래의 이와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 로딩부와 DC 테스트부사이에 DC 테스트 결과 양품으로 판정된 디바이스만을 담아 놓는 버퍼를 구비하여 DC 테스트 결과 어느 하나의 디바이스라도 불량이 발생되면 포킹 픽커가 버퍼내에 담겨진 양품의 디바이스를 홀딩하여 번인보드의 테스트 소켓내에 신속하게 로딩할 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 형태에 따르면, 프레임역할을 하는 본체의 일측에 설치되어 디바이스의 DC 테스트를 실시하는 DC 테스트부와, 상기 DC 테스트부에서 양품으로 판정된 디바이스가 로딩되는 번인보드를 콘트롤하는 X - Y - θ 테이블과, 각기 다른 축에 설치되어 로딩부에 위치된 디바이스를 DC 테스트부, 번인보드, 언로딩부 또는 소팅부로 이송시키는 복수개의 픽커로 구성된 번인 테스터용 핸들러에 있어서, 로딩부와 DC 테스트부사이에 설치되며, 상면에는 번인보드의 테스트 소켓으로 동시에 로딩되는 디바이스의 갯수와 동일한 갯수의 요입홈이 복수줄 구비된 버퍼와, 상기 버퍼의 일측에 고정되어 버퍼를 1스탭씩 진퇴운동시키는 구동수단으로 구성된 것을 특징으로 하는 버퍼기능을 갖는 번인 테스터용 소팅 핸들러가 제공된다.

도 1은 종래 번인 테스터용 소팅 핸들러의 구성을 개략적으로 나타낸 평면도

도 2는 종래의 번인 테스터용 소팅 핸들러에서 이송수단의 동작을 설명하기 위한 개략도

도 3은 본 발명의 소팅 핸들러를 일부 생략하여 나타낸 사시도

도 4는 도 3의 정면도

도 5는 도 3의 평면도

도 6은 본 발명의 요부를 나타낸 사시도

도 7은 본 발명을 설명하기 위한 개략도

도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

16 : 번인보드 17, 22 : 테스트 소켓

18 : 요입홈 19 : 버퍼

21 : DC 테스트부 23 : 포킹 픽커

25 : 구동수단 27 : 언포킹 픽커

29 : 슬라이더

이하, 본 발명을 일 실시예로 도시한 도 3 내지 도 7을 참고하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.

도 6은 본 발명의 요부를 나타낸 사시도이고 도 7은 본 발명을 설명하기 위한 개략도로서, 본 발명은 상면에 번인보드(16)의 테스트 소켓(17)으로 동시에 로딩되는 디바이스의 갯수와 동일한 갯수의 요입홈(18)이 복수줄 구비된 버퍼(19)가 로딩부(20)와 DC 테스트부(21)사이에 진퇴가능하게 설치되어 있다.

상기 버퍼(19)에 형성된 요입홈(18)간의 간격은 DC 테스트부(21)에 설치된 테스트 소켓(22)의 간격과 동일하다.

그리고 상기 버퍼(19)의 일측에는 포킹 픽커(23)가 요입홈(18)내에 담겨진 디바이스를 홀딩하여 번인보드(16)의 테스트 소켓(17)으로 이송시키거나, DC 테스트 결과 양품으로 판정된 디바이스를 소팅 픽커(24)가 운반할 때 버퍼(19)를 1스탭씩(S) 이송시키는 구동수단(25)이 설치되어 있다.

상기 구동수단(25)을 본 발명의 일 실시예에서는 서보모터로 도시하였다.

본 발명이 적용되는 소팅 핸들러에서 DC 테스트 완료된 디바이스를 번인보드(16)에 로딩하는 포킹 픽커(23) 및 번인 테스트 완료된 디바이스를 언로딩 버퍼(26)내에 언로딩하는 언포킹 픽커(27)가 도 3 내지 도 5에 나타낸 바와 같이 X축 주축(28)을 따라 수평 이동하는 슬라이더(29)에 설치되어 있다.

상기 슬라이더(29)에 포킹 픽커(23) 및 언포킹 픽커(27)를 위치가 가변되지 않도록 설치하여도 되지만, 슬라이더(29)로부터 포킹 픽커(23)의 위치를 가변시킬 수 있도록 구성하는 것이 보다 바람직하다.

이는, DC 테스트 결과 어느 하나 이상의 디바이스라도 불량으로 판정되어 주작업라인(31)과 일치되어 있던 DC 테스트부(21)를 소팅라인(30)과 일치되게 이동시킬 때, 언포킹 픽커(27)로부터 포킹 픽커(23)의 위치를 가변시켜 상기 포킹 픽커(23)가 버퍼(19)의 상부에 위치되도록 함으로써 디바이스의 로딩 및 언로딩에 따른 싸이클 타임(Cycle Time)을 최소화하기 위함이다.

그러나 본 발명을 도 3 내지 도 5에 도시한 소팅 핸들러가 아닌 종래의 소팅 핸들러에도 충분히 적용가능하므로 반드시 이에 한정하지는 않는다.

즉, 포킹 픽커(23) 및 언포킹 픽커(27)가 각각 독립적으로 구동하는 소팅 핸들러에서도 DC 테스트 완료 후 DC 불량이 발생될 경우, 언포킹 픽커와 별도로 구동하는 포킹 픽커가 버퍼(19)의 상측으로 이동하여 버퍼의 요입홈(18)에 담겨진 양품의 디바이스를 홀딩하더라도 보다 빠른 시간내에 양품의 디바이스를 번인보드(16)의 테스트 소켓내에 로딩할 수 있기 때문이다.

이와 같이 구성된 본 발명의 작용을 설명하면 다음과 같다.

도 3은 본 발명의 소팅 핸들러를 일부 생략하여 나타낸 사시도이고 도 4는 도 3의 정면도이며 도 5는 도 3의 평면도이다.

먼저, 구동수단에 의해 X - Y - θ 테이블(32)이 이동하여 번인 테스트 완료된 디바이스가 테스트 소켓내에 꽂혀 있는 번인보드(16)를 작업공간(33)측으로 이송시키고 나면 번인보드(16)의 테스트 소켓(17)에 꽂혀져 있던 디바이스를 번인 테스트 결과에 따라 언포킹 픽커(27) 및 언로딩 픽커(34)가 홀딩하여 언로딩부(35) 또는 소팅부(36)로 운반하게 된다.

상기한 동작시 로딩 픽커(37)가 로딩부(20)에 위치되어 있던 디바이스를 홀딩하여 DC 테스트부(21)에서 DC 테스트를 설정된 시간동안 실시한 다음 양품으로판정된 디바이스만을 버퍼(19)의 요입홈(18)내에 차례로 얹어 놓게 된다.

상기 동작시 DC 불량으로 판정된 디바이스는 소팅 픽커(24)가 소팅부(36)의 빈 트레이내에 등급별로 분류하여 소팅하게 된다.

장비의 최초 가동시와 번인보드(16)를 교체하는 시간동안 로딩 픽커(37)에 의해 DC 테스트를 실시하고,DC 테스트부(21)가 소팅라인(30)과 일치하게 되면 소팅 픽커(24)는 복수개의 디바이스를 홀딩하여 DC 테스트결과 양품으로 판정된 디바이스를 버퍼(19)내에 언로딩하고, DC 불량인 디바이스는 소팅부의 빈 트레이내에 소팅하게 된다.

상기 작업을 반복하는 동안 버퍼(19)에 양품의 디바이스가 가득 채워지고 번인보드가 작업라인에 위치하게 되면 정상적인 작업으로 환원된다.

즉, 번인 테스트 완료된 일부 디바이스가 언포킹 픽커(27)에 의해 홀딩되어 번인보드(16)의 테스트 소켓(17)으로부터 언로딩됨과 동시에 DC 테스트 완료된 양품의 디바이스는 포킹 픽커(23)에 의해 홀딩되어 번인보드의 테스트 소켓에 로딩된다.

한편, X축 주축(28)을 따라 수평 이동하는 로딩 픽커(37), 언로딩 픽커(34)도 정상적인 동작을 연속적으로 수행하게 된다.

그럼, 이하에서는 본 발명이 적용된 소팅 핸들러가 정상적으로 동작되는 과정을 순차적으로 설명하기로 한다.

로딩 픽커(37)가 로딩부(20)에 위치된 트레이(39)로부터 복수개의 디바이스를 홀딩하여 상기 디바이스를 DC 테스트부(21)의 테스트 소켓(22)내에 로딩하면 상기 DC 테스트부에서 설정된 시간동안 디바이스의 DC 테스트가 이루어지게 된다.

이와 같이 DC 테스트부(21)에서 DC 테스트가 이루어지는 동안 포킹 및 언포킹 픽커(23)(27)가 X축 주축(28)을 따라 도면상 우측으로 이동하면 포킹 픽커(23)는 DC 테스트부(21)의 직상부에 위치되고, 언포킹 픽커(27)는 번인보드(16)상의 테스트 소켓(17) 직상부에 위치하게 된다.

이러한 상태에서 상기 포킹 및 언포킹 픽커(23)(27)가 동시에 하강하면 포킹 픽커(23)가 DC 테스트 완료되어 번인보드(16)의 테스트 소켓(17)에 로딩될 양품의 디바이스를 홀딩하고, 언포킹 픽커(27)는 번인 테스트 완료된 번인보드(16)상의 디바이스를 홀딩하게 된다.

그러나 만약, DC 테스트 완료된 디바이스 중 어느 하나의 디바이스라도 DC 불량이 발생되면 포킹 픽커(23)가 DC 테스트부(21)의 테스트 소켓내의 디바이스를 홀딩하지 않고 동작을 일시 중단한 상태에서 언포킹 픽커(27)만이 구동하여 번인보드(16)의 테스트 소켓으로부터 번인 테스트 완료된 디바이스만을 꺼낸다.

이와 같이 언포킹 픽커(27)가 번인보드(16)로부터 번인 테스트 완료된 디바이스를 꺼내고 나면 상기 포킹 및 언포킹 픽커(23)(27)가 설치된 슬라이더(29)는 도면상 우측으로 약간 이동하여 포킹 픽커(23)를 버퍼(19)의 직상부에 위치되도록 한 다음 상기 포킹 픽커(23)만이 하강하여 버퍼에 얹혀진 DC 테스트 완료된 양품의 디바이스를 홀딩하게 된다.

이에 따라, 포킹 픽커(23)에 DC 테스트 완료된 양품의 디바이스가 홀딩되어 있고, 언포킹 픽커(27)에는 번인 테스트 완료된 디바이스가 홀딩되어 있다.

상기한 동작시 DC 테스트부(21)에 있던 디바이스를 꺼내기 위해 주작업 라인(31)과 일치되어 있던 DC 테스트부(21)의 위치는 DC 테스트부 가변수단(40)의 구동으로 소팅라인(30)과 일치되게 가변된다.

이와 같이 DC 테스트부(21)가 소팅라인(30)과 일치되게 가변되면 소팅 픽커(24)가 X - Y축(38)을 따라 소팅라인(30)측으로 이동한 다음 상기 DC 테스트부(21)의 테스트 소켓으로부터 복수개의 디바이스를 동시에 홀딩하여 DC 테스트 결과 양품으로 판정된 디바이스를 버퍼(19)내에 언로딩하고, DC 불량인 디바이스는 등급에 따라 소팅부(36)의 빈 트레이내에 소팅하게 된다.

상기한 바와 같은 동작으로 포킹 픽커(23)에 번인 테스트할 디바이스가 홀딩되고, 언포킹 픽커(27)에는 번인 테스트 완료된 디바이스가 홀딩되고 나면 상기 포킹 및 언포킹 픽커(23)(27)가 슬라이더(29)의 구동으로 도면상 좌측으로 이동하게 되므로 포킹 픽커(23)는 번인보드(16)의 빈 테스트 소켓(17)의 직상부에 위치되고, 언포킹 픽커(27)는 언로딩 버퍼(26)의 직상부에 위치된다.

그 후, 포킹 및 언포킹 픽커(23)(27)의 동시 구동으로 상기 포킹 및 언포킹 픽커(23)(27)에 홀딩된 디바이스가 하강한 다음 상기 디바이스의 홀딩상태를 해제하고 상사점까지 상승하면 포킹 픽커(23)에 홀딩되어 있던 디바이스는 번인보드(16)의 테스트 소켓(17)에 로딩되고, 언포킹 픽커(27)에 홀딩되어 있던 디바이스는 언로딩 버퍼(26)내에 얹혀지게 된다.

상기 언로딩 버퍼(26)에 얹혀진 번인 테스트 완료된 디바이스는 테스트 결과에 따라 전술한 바와 같이 언로딩부(35) 또는 소팅부(36)로 운반된다.

지금까지 설명한 것은, 로딩부(20)에 위치되어 있던 디바이스를 로딩 픽커(37)가 홀딩하여 DC 테스트를 실시한 다음 이를 포킹 픽커(23)가 번인보드(16)의 테스트 소켓내에 차례로 로딩함과 동시에 언포킹 픽커(27)가 번인 테스트 완료된 디바이스를 언로딩 버퍼(26)내에 운반하는 동작을 설명한 것이다.

이상에서와 같이 본 발명은 DC 테스트 완료후 DC 불량이 발생되더라도 종래의 소팅 핸들러와 같이 DC 테스트부로부터 불량 디바이스를 꺼낸 다음 새로운 디바이스를 넣고 재 테스트를 실시하지 않고도 버퍼내에 담겨진 양품의 디바이스를 번인보드의 테스트 소켓내에 로딩할 수 있게 되므로 디바이스의 로딩에 소요되는 시간을 최소화하게 되고, 이에 따라 고가 장비의 가동률을 극대화시키게 된다.

Claims

핸들러의 본체 일측에 설치되어 테스트할 디바이스가 수납된 트레이가 위치되는 로딩부와, 이 로딩부 반대편의 본체 타측에 동축상으로 설치되어 테스트 완료된 트레이가 수납되는 언로딩부와, 상기 로딩부 및 언로딩부 사이에 동축상으로 위치되어 디바이스의 DC 테스트를 실시하는 DC 테스트부와, 상기 DC 테스트부의 일측에 동축상으로 위치되어 DC 테스트부에서 양품으로 판정된 디바이스가 로딩되는 번인보드와, DC 테스트부 및 번인보드에서 테스트결과 불량품으로 판정된 디바이스가 분류 장착되는 소팅부 및, 각기 다른 축에 설치되어 각 축상으로 이동하며 로딩부에 위치된 디바이스를 DC 테스트부, 번인보드, 언로딩부, 또는 소팅부로 이송시키는 복수개의 픽커로 구성된 번인 테스터용 핸들러에 있어서, 상기 로딩부와 DC 테스트부 사이에 설치되며, 상면에는 번인보드의 테스트 소켓으로 동시에 로딩되는 디바이스의 갯수와 동일한 갯수의 요입홈이 복수줄 구비된 버퍼와, 상기 버퍼의 일측에 고정되어 버퍼를 1스탭씩 진퇴운동시키는 구동수단으로 구성된 것을 특징으로 하는 버퍼기능을 갖는 번인 테스터용 소팅 핸들러.
제 1 항에 있어서,

구동수단이 다단 제어가 가능한 모터인 것을 특징으로 하는 버퍼기능을 갖는 번인 테스터용 소팅 핸들러.