KR100312862B1 - 번인 테스터용 소팅 핸들러에서 번인보드 양측으로부터의 디바이스 로딩/언로딩하는 방법 및 그 장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 생산 완료된 디바이스(device)의 전기적인 특성을 테스트하는 번인 테스터용 소팅 핸들러에서 번인보드 양측으로부터의 디바이스 로딩/언로딩하는 방법 및 그 장치에 관한 것으로, 필요에 따라 번인보드의 양측에서 디바이스를 동시에 로딩하거나, 언로딩할 수 있도록 하여 1대의 장비로 2배의 작업능률을 얻을 수 있도록 한 것이다.
이를 위해, 수평 이동하는 복수개의 픽커에 의해 번인보드(23)내에 다바이스를 로딩 및 언로딩하는 소팅 핸들러에 있어서, 본체(16)의 양측 전후방에 각각 설치되어 디바이스가 채워진 트레이가 전방으로부터 주작업라인(21)으로 이송되어 디바이스를 전부 로딩하고 나면 후방으로 이송되어 차례로 적재되거나, 빈 트레이가 후방으로부터 주작업라인으로 이송되어 번인 테스트 완료된 디바이스가 채워짐에 따라 전방으로 이송되어 차례로 적재되는 스택커(17a)(17b)(18a)(18b)와, 번인보드가 위치하는 작업공간(24)의 양측에 주작업라인(21) 또는 소팅라인(27)과 일치되도록 진퇴 가능하게 설치되어 번인보드에 로딩될 디바이스의 DC 테스트를 실시하는 DC 테스트부(25a)(25b)와, 상기 DC 테스트부에 근접되게 작업공간의 양측에 각각 설치되어 번인 테스트 완료된 디바이스가 담겨지는 언로딩 버퍼(28a)(28b)와, 상기 주작업라인과 평행하게 설치된 X축 주축(30)과, 상기 X축 주축에 수평 이동가능하게 설치되어 트레이로부터 디바이스를 동시에 로딩하거나, 트레이내에 언로딩하는 로딩 및 언로딩 픽커(32)(33)와, 상기 로딩 및 언로딩 픽커의 사이에 위치되게 X축주축에 설치되어 DC 테스트 완료된 디바이스를 번인보드에서 버퍼측으로 언로딩하거나, DC 테스트부에서 번인보드측으로 로딩하는 포킹 및 언포킹 픽커(34)(35)로 구성되어 있어 번인보드의 양측에서 번인 테스트할 디바이스를 동시에 로딩하거나, 번인 테스트 완료된 디바이스를 동시에 언로딩할 수 있게 된다.
Description
본 발명은 생산 완료된 디바이스(device)의 전기적인 특성을 테스트시, 사용되는 소팅 핸들러(handler)에 관한 것으로서, 좀 더 구체적으로는 번인 테스터용 소팅 핸들러에서 번인보드 양측으로부터의 디바이스 로딩/언로딩하는 방법 및 그 장치에 관한 것이다.
도 1은 종래 번인 테스터용 소팅 핸들러의 구성을 개략적으로 나타낸 평면도이고 도 2는 종래의 번인 테스터용 핸들러에서 이송수단의 동작을 설명하기 위한 개략도로서, 그 구성을 설명하면 다음과 같다.
본체(1)의 상부 일측에 번인보드 로더부(2)와 언로더부(3)가 설치되어 있고 그 일측에는 DC 리젝트부(4)와 트레이 로더부(5) 및 DC 테스트부(6)가 설치되어 있으며, 그 일측 저면에는 90°회전하는 턴리턴 장치부(7)가 설치된 Y테이블(8)이 설치되어 있고 그 일측에는 빈포켓부(9) 및 트레이 언로더부(10) 그리고 소팅부(11)가 차례로 설치되어 있다.
그리고 DC 리젝트부(4)와 트레이 로더부(5) 및 DC 테스트부(6)의 상부에는 서보모터에 의해 좌, 우, 상, 하로 작동하는 1번툴(12)이 설치되어 있고 DC 테스트부(6)와 턴리턴 장치부(7)가 설치된 Y 테이블(8)의 상측에는 그 간격사이에서 작동되는 2번툴(13)이 설치되어 있다.
또한, Y테이블(8)과 빈포켓부(9) 및 트레이 언로더부(10)의 상부에는 그 간격 사이에서 작동되는 3번툴(14)이 설치되어 있고 빈포켓부(9)와 소팅부(11)의 상측에는 그 간격사이에서 작동되는 4번툴(15)이 설치되어 있다.
따라서 번인 테스트할 디바이스가 채워진 트레이를 트레이 로더부(5)에 놓은 다음 번인보드 로더부(2)에는 번인 테스트 완료된 디바이스가 테스트 소켓에 삽입되어 있는 번인보드를 놓는다.
상기와 같이 번인보드 로더부(2)에 번인보드가 위치되면 번인보드는 Y테이블(8)의 상부에 설치되어 있는 회전판(도시는 생략함)에 위치됨과 동시에 핸들러의 컨넥터에 결합된 상태가 되므로 Y테이블(8)로 이송되어 턴리턴 장치부(7)에 의해 90°회전하게 된다.
상기한 바와 같이 회전판이 90°회전하면 서브모터에 의해 볼스크류가 회전하게 되므로 Y테이블(8)은 1, 2, 3번툴(12)(13)(14)이 작동하는 프로세스라인까지 이동하게 된다.
따라서 번인 테스트가 끝난 상태로 번인보드의 테스트 소켓에 꽂혀 있던 4개의 디바이스는 상부에 설치되어 있는 3번툴(14)에 의해 동시에 꺼내져 등급에 따라빈포켓부(9)나 트레이 언로더부(10)로 이송되며, 불량으로 판정된 디바이스는 4번툴(15)에 의해 빈포켓부(9)에서 소팅부(11)로 이송된다.
한편, 상기한 바와 같은 작동으로 번인보드의 테스트 소켓에 삽입되어 있던 번인 테스트 완료된 디바이스가 빠져 나가면 1번툴(12)이 트레이 로더부(5)에 있는 4개의 디바이스를 홀딩하여 DC 테스트부(6)의 테스트 소켓내에 삽입하여 설정된 시간동안 DC 테스트를 실시하게 되는데, 그 이전에 DC 테스트부에 있던 디바이스는 2번툴(13)에 의해 번인보드상의 테스트 소켓에 삽입된다.
즉, 번인보드의 테스트 소켓에 꽂혀져 있던 디바이스는 번인 테스트가 완료된 것으로, 그 등급별로 3번툴(13)과 4번툴(15)에 의해 이송되어 분류되고, 3번툴(14)과 4번툴(15)에 의해 테스트 소켓으로부터 디바이스가 빠져 나가면 그 빈 공간에 1, 2번툴(12)(13)이 작동하여 DC 테스트를 실시하여 양품으로 판정된 디바이스를 삽입하므로써 디바이스의 로딩 및 언로딩작업이 이루어지게 되는 것이다.
그러나 반도체 공정을 살펴보면, 각 공정(FAB공정, 테스트공정 등)의 작업이 순차적으로 진행되어야만 효율적인 생산성을 계획대로 진행할 수 있다.
즉, FAB공정은 빠르게 진행되어 생산량이 많으나, 테스트공정이 늦게 진행되어 정체가 발생된다면 FAB공정이 아무리 빠르게 진행되더라도 최종 생산되는 디바이스의 양이 적어지게 되는 폐단이 발생된다.
따라서 각 공정간의 작업량을 조절하기 위해 번인 테스트공정에서는 통상 월초에 번인보드에 번인 테스트할 디바이스를 로딩하는 공정만을 진행하고, 월말에는 번인 테스트가 완료된 디바이스를 번인보드로부터 언로딩하여 트레이에 담는 공정만을 진행하게 된다.
그러나 종래의 소팅 핸들러는 작업흐름이 일방향, 즉, 로더부(5)에서 언로더부(10)측으로만 작업이 이루어지므로 인해 DC 테스트 완료된 디바이스를 번인보드내에 신속하게 로딩하지 못하거나, 테스트 완료된 디바이스를 번인보드로부터 언로딩하지 못하게 되므로 반도체(디바이스) 생산에 따른 전체적인 생산 공정을 계획대로 진행하는데 커다란 문제점을 대두되었다.
즉, 번인보드내의 디바이스를 로딩시에는 1, 2번툴(12)(13)만 사용하고 3, 4번툴(14)(15)은 사용하지 않고, 이와는 반대로 번인보드로부터 번인 테스트 완료된 디바이스를 언로딩시에는 3, 4번툴(14)(15)만 사용하고 1, 2번툴(12)(13)은 사용하지 않게 되므로 생산량을 증대시키기 위해서는 많은 대수의 장비가 필요하게 되고, 많은 대수의 장비를 설치하기 위해서는 많은 면적의 공간을 필요로 하게 되므로 설비의 증설로 인한 비용 부담이 가중되었다.
본 발명은 종래의 이와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 필요에 따라 번인보드의 양측에서 디바이스를 동시에 로딩하거나, 언로딩할 수 있도록 하여 1대의 장비로 2배의 작업능률을 얻을 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 형태에 따르면, 본체의 양측에서 디바이스가 담겨진 트레이 또는 빈트레이를 주작업라인과 일치되게 이송시킴과 동시에 디바이스가 없는 빈 번인보드 또는 번인 테스트 완료된 디바이스가 꽂혀진 번인보드를 작업공간으로 위치시키는 단계와, 작업공간의 양측에 설치된 DC 테스트부를주작업라인과 일치시킨 상태에서 로딩 및 언로딩 픽커가 로딩부 및 언로딩부에 위치된 디바이스를 각각 홀딩하여 DC 테스트부에서 DC 테스트를 실시한 다음 DC 테스트 완료된 양품의 디바이스를 포킹 및 언포킹 픽커가 DC 테스트부로부터 홀딩하여 작업공간에 위치된 번인보드내에 로딩하거나, 작업공간의 양측에 설치된 언로딩 버퍼를 주작업라인과 일치시킨 상태에서 포킹 및 언포킹 픽커가 번인 테스트 완료된 디바이스를 번인보드로부터 홀딩하여 작업공간의 양측에 위치된 언로딩 버퍼내에 위치시키면 상기 언로딩 버퍼내의 디바이스를 로딩 및 언로딩 픽커가 로딩 및 언로딩부에 위치된 빈 트레이내에 언로딩하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러에서 번인보드 양측으로부터의 디바이스 로딩/언로딩하는 방법이 제공된다.
본 발명의 다른 형태에 따르면, 수평 이동하는 복수개의 픽커에 의해 번인보드내에 다바이스를 로딩 및 언로딩하는 소팅 핸들러에 있어서, 본체의 양측 전후방에 각각 설치되어 디바이스가 채워진 트레이가 전방으로부터 주작업라인으로 이송되어 디바이스를 전부 로딩하고 나면 후방으로 이송되어 차례로 적재되거나, 빈 트레이가 후방으로부터 주작업라인으로 이송되어 번인 테스트 완료된 디바이스가 채워짐에 따라 전방으로 이송되어 차례로 적재되는 스택커와, 번인보드가 위치하는 작업공간의 양측에 주작업라인 또는 소팅라인과 일치되도록 진퇴 가능하게 설치되어 번인보드에 로딩될 디바이스의 DC 테스트를 실시하는 DC 테스트부와, 상기 DC 테스트부에 근접되게 작업공간의 양측에 각각 설치되어 번인 테스트 완료된 디바이스가 담겨지는 언로딩 버퍼와, 상기 주작업라인과 평행하게 설치된 X축 주축과, 상기 X축 주축에 수평 이동가능하게 설치되어 트레이로부터 디바이스를 동시에 로딩하거나, 트레이내에 언로딩하는 로딩 및 언로딩 픽커와, 상기 로딩 및 언로딩 픽커의 사이에 위치되게 X축 주축에 설치되어 DC 테스트 완료된 디바이스를 번인보드에서 언로딩 버퍼측으로 언로딩하거나, DC 테스트부에서 번인보드측으로 로딩하는 포킹 및 언포킹 픽커로 구성된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러에서 번인보드 양측으로부터의 디바이스 로딩/언로딩하는 장치가 제공된다.
도 1은 종래 번인 테스터용 소팅 핸들러의 구성을 개략적으로 나타낸 평면도
도 2는 종래의 번인 테스터용 소팅 핸들러에서 이송수단의 동작을 설명하기 위한 개략도
도 3은 본 발명이 적용된 소팅 핸들러의 일부를 생략하여 나타낸 사시도
도 4는 본 발명의 DC 테스트부 및 언로딩 버퍼를 나타낸 사시도
도 5는 본 발명의 구성을 개략적으로 나타낸 평면도
도 6은 번인보드내에 번인 테스트할 디바이스를 로딩하는 과정을 나타낸 플로우 챠트
도 7은 작업공간에 위치된 번인보드에 디바이스를 양측에서 동시에 로딩하는 상태를 설명하기 위한 DC 테스트부의 평면도
도 8은 번인보드로부터 번인 테스트 완료된 디바이스를 언로딩하는 과정을 나타낸 플로우 챠트
도 9는 번인 테스트 완료된 디바이스를 번인보드로부터 동시에 언로딩하는 상태를 설명하기 위한 DC 테스트부의 평면도
도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
16 : 본체 17a, 17b, 18a, 18b : 스택커
21 : 주작업라인 24 : 작업공간
25a, 25b : DC 테스트부 27 : 소팅라인
28a, 28b : 언로딩 버퍼 34 : 포킹 픽커
35 : 언포킹 픽커 37a, 37b : 로딩 버퍼
이하, 본 발명을 일 실시예로 도시한 도 3 내지 도 9를 참고하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 3은 본 발명이 적용된 소팅 핸들러의 일부를 생략하여 나타낸 사시도이고 도 4는 본 발명의 DC 테스트부 및 언로딩 버퍼를 나타낸 사시도이며 도 5는 본 발명의 구성을 개략적으로 나타낸 평면도로서, 본 발명은 본체(16)의 양측 전방에 디바이스가 채워진 트레이를 적재하는 스택커(17a)(18a)가 각각 설치되어 있고 양측 후방에는 빈 트레이가 적재되는 스택커(17b)(18b)가 설치되어 있으며, 상기 각 스택커사이에는 이송수단(도시는 생략함)이 트레이를 로딩 및 언로딩부(19)(20)의 주작업라인(21)으로 이송시킬 때 트레이를 안내하는 레일(22)이 설치되어 있다.
그리고 번인보드(23)가 위치하는 작업공간(24)의 양측에 번인 테스트할 디바이스를 번인보드내에 로딩하기 전에 DC 테스트를 실시하는 DC 테스트부(25a)(25b)가 대칭되게 설치되어 있는데, 상기 DC 테스트부(25a)(25b)는 DC 테스트부 가변수단(26)에 의해 디바이스의 로딩 및 언로딩시 주작업라인(21)과 일치되고, DC 테스트 결과 DC 불량이 발생되면 소팅하기 위해 소팅라인(27)과 일치되도록 구성되어 있다.
또한, 상기 DC 테스트부(25a)(25b)의 저면에는 번인보드(23)로부터 언로딩되는 디바이스가 담겨지는 언로딩 버퍼(28a)(28b)가 각각 설치되어 있는데, 상기 언로딩 버퍼(28a)(28b)는 각각 실린더(29)의 구동에 따라 개별 구동되며, 디바이스의 언로딩시에는 주작업라인(21)과 일치되고 불량 디바이스의 소팅작업시에는 실린더(29)의 구동으로 소팅라인(27)과 일치된다.
즉, DC 테스트부(25a)(25b)와 언로딩 버퍼(28a)(28b)는 동일 수직선상에 위치되어 DC 테스트부 가변수단(26) 및 실린더(29)에 의해 개별 동작하여 주작업라인(21) 또는 소팅라인(27)과 일치하게 된다.
상기 주작업라인(21)의 직상부에 평행하게 X축 주축(30)이 설치되어 있고 상기 X축 주축에는 로딩 및 언로딩부(19)(20) 및 DC 테스트부(25a)(25b)사이를 왕복 이동하면서 로딩부 및 언로딩부에 위치된 트레이(31a)(31b)로부터 디바이스를 홀딩하여 DC 테스트부(25a)(25b)에 로딩하거나, 언로딩 버퍼(28a)(28b)내에 담겨진 디바이스를 홀딩하여 로딩부 및 언로딩부에 위치된 빈 트레이(31a)(31b)내에 언로딩하는 로딩 및 언로딩 픽커(32)(33)가 수평 이동가능하게 설치되어 있고 상기 로딩 및 언로딩 픽커의 사이에 위치하는 X축 주축(30)에는 DC 테스트 완료된 디바이스를 번인보드(23)에서 홀딩하여 언로딩 버퍼(28a)(28b)측으로 언로딩하거나, DC 테스트부(25a)(25b)에서 홀딩하여 번인보드(23)측으로 로딩하는 포킹 및 언포킹 픽커(34)(35)가 설치되어 있다.
상기 포킹 및 언포킹 픽커(34)(35)는 X축 주축(30)을 따라 수평 이동하는 슬라이더(36)에 설치되어 슬라이더의 구동에 따라 일방향으로 동시에 이동하게 구성되어 있다.
따라서 포킹 픽커(34)가 DC 테스트부(25a)에서 디바이스를 홀딩할 때, 언포킹 픽커(35)는 번인보드(23)내에 번인 테스트할 디바이스를 로딩하고, 이와는 반대로 포킹 픽커(34)가 번인보드(23)내에 번인 테스트할 디바이스를 로딩할 때, 언포킹 픽커(35)는 DC 테스트부(25b)에서 번인 테스트할 디바이스를 홀딩하게 된다.
그리고 로딩부(19) 및 언로딩부(20)와 DC 테스트부(25a)(25b)사이에 DC 테스트 결과 어느 하나 이상의 디바이스가 DC 불량으로 판정되면 소팅 픽커(도시는 생략함)에 의해 양품의 디바이스가 얹혀지는 로딩 버퍼(37a)(37b)를 더 구비하는 것이 보다 바람직하다.
이는, DC 테스트 결과 어느 하나 이상의 디바이스에 불량이 발생되더라도 포킹 및 언포킹 픽커(34)(35)가 디바이스를 신속하게 번인보드(23)내에 로딩할 수 있도록 하기 위함이다.
이 경우 포킹 및 언포킹 픽커(34)(35)를 각 로딩 버퍼(37a)(37b)사이의 구간에서 왕복 이동하도록 스트로크를 가변시켜야 됨은 이해 가능한 것이다.
이와 같이 구성된 본 발명의 작용을 설명하면 다음과 같다.
도 6은 번인보드내에 번인 테스트할 디바이스를 로딩하는 과정을 나타낸 플로우 챠트이고 도 7은 작업공간에 위치된 번인보드에 디바이스를 양측에서 동시에 로딩하는 상태를 설명하기 위한 DC 테스트부의 평면도로서, 작업공간(24)내에 위치하는 빈 번인보드(23)내에 번인 테스트할 디바이스를 작업공간(24)의 양측에서 동시에 로딩하는 과정을 설명하기로 한다.
본체(16)의 전방에 설치된 스택커(17a)(18a)내에 번인 테스트할 디바이스가 채워진 복수매의 트레이를 적재시킴과 동시에 빈 번인보드(23)를 작업공간(24)에 위치시키며, 상기 번인보드에 로딩되는 디바이스의 DC 테스트를 실시하는 DC 테스트부(25a)(25b)는 DC 테스트부 가변수단(26)에 의해 주작업라인(21)과 일치시킨다.(S1)
이 때, 본체(16)의 후방에 설치된 스택커(17b)(18b)에는 트레이가 적재되어 있지 않은 상태이다.
이러한 상태에서 전방에 설치된 스택커(17a)(18a)의 저면으로부터 각각 1개의 트레이(31a)(31b)를 분리시켜 레일(22)의 상면에 얹혀지도록 한 다음 이를 이송수단에 의해 로딩부(19) 및 언로딩부(20)의 주작업라인(21)에 위치시킨다.(S2)
상기 스택커(17a)(18a)로부터 1개의 트레이를 분리하는 과정에 대한 상세한 설명은 생략한다.
이와 같이 번인보드(23)에 로딩될 디바이스가 주작업라인(21)에 도달하고 나면 X축 주축(30)을 따라 이동하는 로딩 및 언로딩 픽커(32)(33)가 트레이(31a)(31b)로부터 각각 복수개의 디바이스를 동시에 홀딩하여 이를 DC 테스트부(25a)(25b)에 로딩하므로써, 설정된 시간동안 디바이스의 DC 테스트가 이루어지게 된다.(S3)
상기 DC 테스트부(25a)(25b)에서 설정된 시간동안 디바이스의 DC 테스트를 실시하여 양품으로 판정되고 나면 포킹 및 언포킹 픽커(34)(35)가 설치된 슬라이더(36)가 X축 주축(30)을 따라 도면상 우측으로 이동하여 포킹 픽커(34)가 일측의 DC 테스트부(25a)로부터 DC 테스트 완료된 복수개의 디바이스를 동시에 홀딩한 다음 최초 이동방향과 반대방향으로 이동하여 홀딩하고 있던 디바이스를 번인보드(23)의 테스트 소켓내에 로딩하게 되는데, 상기 디바이스를 번인보드(23)내에 로딩시 다른 일측에 위치된 언포킹 픽커(35)는 다른 일측에 위치된 DC 테스트부(25b)로부터 DC 테스트 완료된 양품의 디바이스를 홀딩하게 된다.
상기 동작시 로딩 픽커(32)는 트레이로부터 새로운 디바이스를 홀딩하여 DC 테스트부(25a)내에 로딩하게 되므로 DC 테스트부(25a)에서는 DC 테스트가 진행되는 상태이다.
그 후, 포킹 픽커(34)가 DC 테스트부(25a)로부터 새로운 디바이스를 홀딩하기 위해 도면상 우측으로 이동하여 하강하면 언포킹 픽커(35)는 번인보드(23)가 위치된 작업공간(24)의 직상부에 위치되므로 포킹 픽커(34)가 DC 테스트부(25a)로부터 디바이스를 홀딩시 언포킹 픽커(35)는 홀딩하고 있던 디바이스를 번인보드(23)의 테스트 소켓내에 로딩하게 된다.
상기한 바와 같은 동작은 번인보드(23)내에 번인 테스트할 디바이스가 채워질 때까지 연속적으로 이루어지게 되는데, 로딩 및 언로딩 픽커(32)(33)가 로딩부(19) 및 언로딩부(20)에 위치된 트레이(31a)(31b)로부터 디바이스를 홀딩하고 나면 트레이가 이송수단에 의해 1스탭씩 후방으로 전진하게 되고, 번인보드(23)에 설치된 테스트 소켓내에 디바이스가 로딩됨에 따라 상기 번인보드(23)는 X - Y 좌표를 따라 1스탭씩 이동하게 되므로 디바이스의 로딩작업이 가능해지게 된다.(S4)
그러나 DC 테스트 완료된 디바이스의 로딩작업시 DC 테스트된 디바이스 중 어느 하나 이상의 디바이스라도 DC 불량으로 판정되면, 예를 들어 도면상 우측에 위치된 DC 테스트부(25a)에서 DC 불량이 발생되면 DC 테스트부 가변수단(26)이 구동하여 DC 테스트부(25a)를 도 7에 점선으로 나타낸 바와 같이 주작업라인(21)으로부터 소팅라인(27)으로 가변시킴과 동시에 소팅 픽커(도시는 생략함)가 이송되어와 DC 테스트부(25a)로부터 복수개의 디바이스를 동시에 홀딩하여 양품의 디바이스는 DC 테스트부(25a)의 일측에 설치된 로딩 버퍼(37a)내에 얹어 놓고 DC 불량인 디바이스만을 소팅부(38)의 빈 트레이내에 소팅하게 된다.(S6)
상기한 동작시 포킹 픽커(34)는 로딩 버퍼(37a)측으로 약간 이동하여 주작업라인(21)과 일치되어 있던 양품의 디바이스를 홀딩하여 번인보드(23)내에 로딩하게 되므로 불량 디바이스의 처리에 따른 지연을 미연에 방지할 수 있게 된다.
상기한 바와 같은 계속되는 동작으로 로딩부(19)및 언로딩부(20)에 위치된 트레이(31a)(31b)로부터 디바이스를 전부 홀딩하여 번인보드(23)내에 로딩하고 나면 레일(22)을 따라 빈 트레이를 이동시켜 본체(16)의 후방에 설치된 스택커(17b)(18b)내에 차례로 적재시킴과 동시에 전방에 위치된 스택커(17a)(18a)로부터 디바이스가 채워진 트레이를 분리하여 다시 로딩 또는 언로딩부(19)(20)의 주작업라인(21)에 위치시킴에 따라 번인보드(23)내에 디바이스를 계속해서 로딩시킬 수 있게 된다.(S5)
한편, 번인보드(23)내에 디바이스가 가득 로딩되고 나면 새로운 번인보드로 교체하므로써, 디바이스를 계속적으로 로딩할 수 있게 된다.(S7)
지금까지 설명한 것은 빈 번인보드(23)내에 작업공간(24)의 양측에서 디바이스를 동시에 로딩하는 방법을 설명한 것으로, 이하에서는 도 8 및 도 9에 나타낸 바와 같이 번인 테스트 완료된 디바이스가 번인보드(23)에 채워진 상태에서 이를 로딩부(19) 및 언로딩부(20)의 빈 트레이(31a)(31b)에 동시에 언로딩하는 방법을 설명하기로 한다.
이 경우에는 본체(16)의 후방에 설치된 스택커(17b)(18b)내에 복수매의 빈 트레이를 적재시킴과 동시에 번인 테스트 완료된 디바이스가 꽂혀진 번인보드(23)를 작업공간(24)에 위치시키며, 주작업라인(21)에는 실린더(29)에 의해 개별 구동하는 언로딩 버퍼(28a)(28b)를 위치시킨다.(S11)
이 때, 본체(16)의 전방에 설치된 스택커(17a)(18a)에는 트레이가 적재되어 있지 않은 상태이다.
이러한 상태에서 후방에 설치된 스택커(17b)(18b)의 저면으로부터 각각 1개의 빈 트레이(31a)(31b)를 분리시켜 레일(22)의 상면에 얹혀지도록 한 다음 이를 이송수단에 의해 로딩부(19) 및 언로딩부(20)의 주작업라인(21)에 위치시킨다.(S12)
이와 같이 빈 트레이(31a)(31b)가 주작업라인(21)에 도달하고 나면 X축 주축(30)을 따라 이동하는 포킹 및 언포킹 픽커(34)(35)가 설치된 슬라이더(36)가X축 주축(30)을 따라 도면상 좌측으로 이동하여 포킹 픽커(34)가 작업공간(24)상에 위치된 상태에서 하강하여 번인보드(23)로부터 복수개의 디바이스를 홀딩한 다음 최초 이동방향과 반대방향으로 이동하여 홀딩하고 있던 디바이스를 주작업라인(21)과 일치되어 있던 언로딩 버퍼(28a)의 상면에 얹어 놓게 되는데, 상기 포킹 픽커(34)가 디바이스를 언로딩 버퍼(28a)내에 언로딩시 다른 일측에 위치된 언포킹 픽커(35)는 작업공간(24)의 직상부에 위치되므로 번인보드로부터 번인 테스트 완료된 디바이스를 홀딩하게 된다.
그 후, 포킹 픽커(34)가 번인보드(23)로부터 새로운 디바이스를 홀딩하기 위해 도면상 좌측으로 이동하여 하강하면 언포킹 픽커(35)는 도면상 좌측에 위치된 언로딩 버퍼(28b)의 상측에 위치하므로 포킹 픽커(34)가 번인보드(23)로부터 디바이스를 홀딩시 홀딩하고 있던 디바이스를 언로딩 버퍼(28b)에 얹어 놓게 된다.(S13)
상기 언로딩 버퍼(28a)(28b)의 상면에 번인 테스트 완료된 양품의 디바이스가 얹혀지고 나면 로딩부 및 언로딩부(19)(20)와 언로딩 버퍼(28a)(28b) 구간을 이동하는 로딩 픽커(32)와 언로딩 픽커(33)가 언로딩 버퍼(28a)(28b)내에 얹혀진 양품의 디바이스를 홀딩하여 로딩부(19) 및 언로딩부(20)에 위치된 빈 트레이(31a)(31b)내에 언로딩하게 된다.(S14)
상기한 동작은 번인보드(23)내의 디바이스를 전부 언로딩할 때까지 반복적으로 이루어지게 되는데, 로딩부 및 언로딩부(19)(20)에 위치된 빈 트레이(31a)(31b)내에 번인 테스트 완료된 디바이스가 가득 채워지고 나면 상기 트레이는 이송수단에 의해 본체(16)의 전방으로 이송되어 스택커(17a)(18a)내에 차례로 적재됨과 동시에 후방에 설치된 스택커(17b)(18b)로부터 빈 트레이가 분리되어 이송수단에 의해 로딩부 및 언로딩부(19)(20)의 주작업라인(21)으로 이송되므로 계속적인 디바이스의 언로딩작업이 이루어지게 된다.(S15)
그러나 언로딩 버퍼(28a)(28b)에 얹혀진 디바이스중 불량으로 판정된 디바이스가 있으면 해당 디바이스가 얹혀진 언로딩 버퍼(28a)(28b)가 도 9에 점선으로 나타낸 바와 같이 실린더(29)의 구동으로 소팅라인(27)과 일치하게 이동되므로 소팅 픽커가 언로딩 버퍼에 얹혀진 디바이스를 홀딩하여 등급에 따라 소팅부(38)측으로 소팅함과 동시에 소팅라인(27)과 일치되어 있던 언로딩 버퍼(28a)(28b)는 실린더(29)의 재구동으로 주작업라인(21)과 일치되게 복귀된다.(S16)
한편, 번인보드(23)로부터 디바이스를 전부 언로딩하고 나면 번인 테스트 완료된 디바이스가 가득 꽂혀진 새로운 번인보드로 교체하므로써, 디바이스를 계속적으로 언로딩할 수 있게 되는 것이다.(S17)
이상에서와 같이 본 발명은 작업공간(24)의 양측에서 번인 테스트할 디바이스를 번인보드의 테스트 소켓내에 동시 로딩하거나, 또는 번인 테스트 완료된 디바이스를 동시에 언로딩하여 트레이내에 담게 되므로 소팅 핸들러의 작업시간을 1/2로 줄일 수 있게 되고, 이에 따라 종래의 소팅 핸들러에 비하여 2배의 작업효율을 얻을 수 있게 되는 효과를 얻게 된다.
Claims (5)
- 디바이스의 전기적인 테스트를 수행하는 번인 테스트용 핸들러에서 테스트할 디바이스를 번인보드에 양측에서 로딩하거나 테스트 완료된 디바이스를 양측에서 번인보드로부터 언로딩하는 방법에 있어서,본체의 양측에 디바이스가 담겨진 트레이 또는 빈트레이를 주작업라인과 일치되게 이송시킴과 동시에 디바이스가 없는 빈 번인보드 또는 번인 테스트 완료된 디바이스가 수납된 번인보드를 주작업라인 상의 작업공간으로 위치시키는 단계와; 작업공간의 양측에 설치된 DC 테스트부를 주작업라인과 일치시킨 상태에서 로딩 및 언로딩 픽커가 주작업라인 상에서 이동하며 로딩부 및 언로딩부에 위치된 디바이스를 각각 홀딩하여 DC 테스트부에서 DC 테스트를 실시한 다음 DC 테스트 완료된 양품의 디바이스를 포킹 및 언포킹 픽커가 주작업라인 상에서 이동하며 DC 테스트부로부터 홀딩하여 작업공간에 위치된 번인보드내에 로딩하거나, 작업공간의 양측에 설치된 언로딩 버퍼를 주작업라인과 일치시킨 상태에서 포킹 및 언포킹 픽커가 주작업라인 상에서 이동하며 번인 테스트 완료된 디바이스를 번인보드로부터 홀딩하여 작업공간의 양측에 위치된 언로딩 버퍼내에 위치시키면 상기 언로딩 버퍼내의 디바이스를 로딩 및 언로딩 픽커가 주작업라인 상의 로딩 및 언로딩부에 위치된 빈 트레이내에 언로딩하는 단계로 이루어지며;상기 포킹 및 언포킹 픽커가 디바이스를 번인보드에 로딩하거나 또는 번인보드로부터 언로딩하는 단계에서 포킹 및 언포킹 픽커가 동시에 수평 이동하도록 하여, 포킹 픽커 또는 언포킹 픽커가 번인보드에서 디바이스를 로딩 또는 언로딩함과 동시에 언포킹 픽커 또는 포킹픽커는 DC 테스트부 또는 언로딩 버퍼에서 디바이스를 로딩 또는 언로딩하도록 한 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러에서 번인보드 양측으로부터의 디바이스 로딩/언로딩하는 방법.
- 제 1 항에 있어서,DC 테스트 결과 어느 하나 이상의 디바이스가 DC 불량으로 판정되면 DC 테스트부를 소팅라인과 일치시킨 상태에서 소팅 픽커가 DC 테스트부로부터 디바이스를 동시에 홀딩하여 양품의 디바이스를 로딩 버퍼내에 얹어 놓고 DC 불량인 디바이스만을 소팅부로 소팅함을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러에서 번인보드 양측으로부터의 디바이스 로딩/언로딩하는 방법.
- 수평 이동하는 복수개의 픽커에 의해 번인보드내에 다바이스를 로딩 및 언로딩하는 소팅 핸들러에 있어서, 본체의 양측 전후방에 각각 설치되어 디바이스가 채워진 트레이가 전방으로부터 주작업라인으로 이송되어 디바이스를 전부 로딩하고 나면 후방으로 이송되어 차례로 적재되거나, 빈 트레이가 후방으로부터 주작업라인으로 이송되어 번인 테스트 완료된 디바이스가 채워짐에 따라 전방으로 이송되어 차례로 적재되는 복수의 스택커와; 번인보드가 위치하는 작업공간의 양측에 주작업라인 또는 소팅라인과 일치되도록 진퇴 가능하게 설치되어 번인보드에 로딩될 디바이스의 DC 테스트를 실시하는 복수의 DC 테스트부와; 상기 DC 테스트부에 근접되게 작업공간의 양측에 각각 설치되어 번인 테스트 완료된 디바이스가 담겨지는 언로딩 버퍼와; 상기 주작업라인 상에 평행하게 설치된 X축 주축과; 상기 X축 주축을 따라 수평 이동가능하게 설치되어 주작업라인 양측의 트레이로부터 디바이스를 동시에 로딩하거나, 트레이 내에 언로딩하는 로딩 및 언로딩 픽커와; 상기 로딩 및 언로딩 픽커의 사이에 위치되게 X축 주축에 설치되어 DC 테스트 완료된 디바이스를 번인보드에서 언로딩 버퍼측으로 언로딩하거나, DC 테스트부에서 번인보드측으로 로딩하는 포킹 및 언포킹 픽커로 구성되고; 상기 포킹 및 언포킹 픽커가 X축 주축을 따라 동시에 수평 이동하도록 상기 포킹 및 언포킹 픽커는 X축 주축을 따라 이동가능하게 설치된 슬라이더에 고정된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러에서 번인보드 양측으로부터의 디바이스 로딩/언로딩하는 장치.
- 제 4 항에 있어서,DC 테스트부를 상측에 설치하여 상기 DC 테스트부가 DC 테스트부 가변수단에 의해 주작업라인 또는 소팅라인에 일치되도록 하고, 언로딩 버퍼는 실린더에 의해 개별적으로 진퇴가능하게 DC 테스트부의 저면에 설치된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러에서 번인보드 양측으로부터의 디바이스 로딩/언로딩하는 장치.
- 제 4 항에 있어서,로딩부 및 언로딩부와 DC 테스트부사이에 DC 테스트 완료된 양품의 디바이스를 얹어 놓는 로딩 버퍼가 설치된 것을 특징으로 하는 번인 테스터용 소팅 핸들러에서 번인보드 양측으로부터의 디바이스 로딩/언로딩하는 장치.
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