TWI570420B

TWI570420B - Electronic components sorting machine

Info

Publication number: TWI570420B
Application number: TW104115585A
Authority: TW
Inventors: min-da Xie
Original assignee: Hon Tech Inc
Priority date: 2015-05-15
Filing date: 2015-05-15
Publication date: 2017-02-11
Also published as: TW201640130A

Description

電子元件作業分類機

本發明係提供一種利用於機台之至少二側配置供料裝置、收料裝置、承載機構、移料機構搭配對向設置測試區，不僅可縮減承載機構之上下料作業時間，並有效縮短移料機構之移料行程，進而提升作業產能之電子元件作業分類機。

請參閱第1圖，其係為申請人先前申請之台灣專利第I452312號『對置式電子元件測試分類設備』專利案，其係於機台10上配置有供料裝置11、收料裝置12、測試裝置13及輸送裝置14；該供料裝置11係用以容納至少一待測之電子元件，該收料裝置12係用以容納至少一已測之電子元件，該測試裝置13係於機台10之二側設有複數排呈對向設置之測試區13A、13B、13C、13D、13E、13F、13G、13H、131、13J、13K、13L，各測試區13A、13B、13C、13D、13E、13F、13G、13H、13I、13J、13K、13L分別設有具至少一測試座132之測試電路板131，用以測試電子元件，輸送裝置14係設有第一移載取放器141、第二移載取放器142、第三移載取放器143、第一轉載台144及第二轉載台145，該第一移載取放器141係用以於供料裝置11、第一轉載台144、第二轉載台145及收料裝置12間移載待測/已測之電子元件，該第一轉載台144及第二轉載台145係分別對應設於機台10二側測試區13A、13B、13C、13D、13E、13F、13G、13H、13I、13J、13K、13L的前側方，第一轉載台144係供第一移載取放器141及第二移載取放器142移入/移出之待測/已測電子元件，第二轉載台145係供第一移載取放器141及第三移載取放器143移入/移出之待測/已測電子元件，第二移載取放器142係移動於右側測試區13A、13B、13C、13D、13E、13F及第一轉載台144間，用以移入/移出之待測/已測電子元件，第三移載取放器143則移動於左側測試區13G、13H、13I、13J、13K、13L及第二轉載台145間，用以移入/移出之待測/已測電子元件；於使用時，第一移載取放器141係於供料裝置11處取出待測之電子元件，並移載至一側之第一轉載台144上，該第一轉載台144即供第二移載取放器142移出之待測電子元件，第二移載取放器142係將待測電子元件移載至測試區13A執行預設測試作業，該第一移載取放器141再位移至機台10之另一側，並將下一待測之電子元件移入於第二轉載台145，該第三移載取放器143則於第二轉載台145上取出另一待測之電子元件，並移載至測試區13G執行預設測試作業，於測試區13A完成測試作業後，第二移載取放器142係於測試區13A取出已測之電子元件，並移載至第一轉載台144，該第一移載取放器141再於第一轉載台144上取出已測之電子元件，並移載至收料裝置12處分類收置；惟，該測試分類設備於使用上具有如下缺失：

1．該輸送裝置14係利用第一移載取放器141於第一轉載台144及第二轉載台145移載待測/已測之電子元件，當第一移載取放器141進行將供料裝置11之待測電子元件移入第一轉載台144，以及將第一轉載台144上之已測電子元件移載至收料裝置12的移料過程中，若第二轉載台145已載送另一已測之電子元件至第一移載取放器141之前方，此將導致第二轉載台145必須耗時空等該第一移載取放器141於第一轉載台144執行上下料作業，以致第二轉載台145並無法立即進行上下料作業，不僅耗費作業時間，亦降低作業產能。

2．該輸送裝置14之第一移載取放器141於機台10一側之第一轉載台144進行上下料作業完畢後，即必須要作較長行程位移至機台10另一側之第二轉載台145繼續進行上下料作業，以致第一移載取放器141之移載行程較長，進而耗費時間及降低作業產能。

本發明之目的一，係提供一種電子元件作業分類機，其係於機台之至少二側設有容置待作業電子元件之複數個供料裝置，以及於機台之至少二側設有容置已作業電子元件之複數個收料裝置，又該作業裝置係於機台之至少二側設有複數排呈對向設置之作業區，並於各作業區設有至少一作業器，用以對電子元件執行預設作業，另該輸送裝置係於機台之至少二側設有複數個承載機構，用以載送電子元件，以及於機台之至少二側設有複數個移料機構，該至少一移料機構係於機台至少一側之供料裝置、收料裝置、作業裝置及承載機構間移載電子元件，該至少另一移料機構則於機台至少另一側之供料裝置、收料裝置、作業裝置及承載機構間移載電子元件，該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化測試作業；藉此，利用於機台之至少二側配置供料裝置、收料裝置、承載機構、移料機構搭配對向設置測試區，該輸送裝置各側之移料機構僅需於同側之承載機構、供料裝置、收料裝置及測試區進行取放待測/已測之電子元件，以縮減承載機構之上下料作業時間，達到提升作業產能之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種電子元件作業分類機，其中，該輸送裝置係於機台之至少一側設有供、收料裝置及承載機構，於至少另一側亦設有另一供、收料裝置及承載機構，該輸送裝置位於機台一側之移料機構僅需對同側之承載機構進行待測/已測電子元件的上下料作業，毋須作較長行程位移至機台之另一側進行上下料作業，進而有效縮減移料機構之位移行程，達到提升作業產能之實用效益。

〔習知〕

10‧‧‧機台

11‧‧‧供料裝置

12‧‧‧收料裝置

13‧‧‧測試裝置

14‧‧‧輸送裝置

13A、13B、13C、13D、13E、13F、13G、13H、13I、13J、13K、13L‧‧‧測試區

131‧‧‧測試電路板

132‧‧‧測試座

14‧‧‧輸送裝置

141‧‧‧第一移載取放器

142‧‧‧第二移載取放器

143‧‧‧第三移載取放器

144‧‧‧第一轉載台

145‧‧‧第二轉載台

〔本發明〕

20‧‧‧機台

21、21A‧‧‧第一供料裝置

211、211A‧‧‧第一供料器

22、22A‧‧‧第二供料裝置

221、221A‧‧‧第二供料器

23、23A‧‧‧第一收料裝置

231、231A‧‧‧第一收料器

24、24A‧‧‧第二收料裝置

241、241A‧‧‧第二收料器

25‧‧‧作業裝置

25A、25B、25C、25D、25E、25F、25G、25H、25I、25J、25K、25L‧‧‧測試區

251‧‧‧測試電路板

252‧‧‧測試座

26‧‧‧輸送裝置

261‧‧‧第一載台

2611‧‧‧第一容置槽

2612‧‧‧第二容置槽

262‧‧‧第二載台

2621‧‧‧第三容置槽

2622‧‧‧第四容置槽

263‧‧‧第三載台

2631‧‧‧第五容置槽

2632‧‧‧第六容置槽

264‧‧‧第四載台

2641‧‧‧第七容置槽

2642‧‧‧第八容置槽

265‧‧‧第一拾取器

2651‧‧‧第一取放件

2652‧‧‧第二取放件

266‧‧‧第二拾取器

2661‧‧‧第三取放件

2662‧‧‧第四取放件

267‧‧‧第三拾取器

2671‧‧‧第五取放件

2672‧‧‧第六取放件

268‧‧‧第四拾取器

2681‧‧‧第七取放件

2682‧‧‧第八取放件

30A~30D‧‧‧電子元件

31A~31F‧‧‧電子元件

第1圖：習知台灣專利第I452312號『對置式電子元件測試分類設備』專利案之示意圖。

第2圖：本發明第一實施例電子元件作業分類機之配置示意圖。

第3圖：本發明第一實施例電子元件作業分類機之使用示意圖(一)。

第4圖：本發明第一實施例電子元件作業分類機之使用示意圖(二)。

第5圖：本發明第一實施例電子元件作業分類機之使用示意圖(三)。

第6圖：本發明第一實施例電子元件作業分類機之使用示意圖(四)。

第7圖：本發明第一實施例電子元件作業分類機之使用示意圖(五)。

第8圖：本發明第二實施例電子元件作業分類機之配置示意圖。

為使貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：請參閱第2圖，本發明第一實施例電子元件作業分類機，其係於機台20之至少二側設有複數個供料裝置，各供料裝置係設有至少一供料器，用以容置至少一待測之電子元件，於本實施例中，係於機台20之一側設有具至少一第一供料器211之第一供料裝置21，該第一供料器211係為料盤，用以容置複數個待測之電子元件，於機台20之另一側設有具至少一第二供料器221之第二供料裝置22，該第二供料器221係為料盤，用以容置複數個待測之電子元件；又該機台20之至少二側設有複數個收料裝置，收料裝置係設有至少一收料器，用以容置至少一已測之電子元件，於本實施例中，係於機台20之一側設有具至少一第一收料器231之第一收料裝置23，該第一收料器231係為料盤，用以容置複數個已測之電子元件，於機台20之另一側設有具至少一第二收料器241之第二收料裝置24，該第二收料器241係為料盤，用以容置複數個已測之電子元件；該作業裝置25係於機台20之至少二側設有複數排呈對向設置之作業區，並於各作業區設有至少一作業器，用以對電子元件執行預設作業，該作業器可為測試器或外觀檢查器等，用以對電子元件執行電性測試作業或外觀檢查作業等，於本實施例中，該作業區係為執行電性測試作業之測試區，於機台20之二側分別設有6排測試區25A、25B、25C、25D、25E、25F、25G、25H、25I、25J、25K、25L，其中，一側6個測試區25A、25B、25C、25D、25E、25F係與該第一供、收料裝置21、23呈第一、二方向(如X、Y方向)配置，另一側6個測試區25G、25H、25I、25J、25K、25L則與該第二供、收料裝置22、24呈第一、二方向(如X、Y方向)配置，又各測試區25A、25B、25C、25D、25E、25F、25G、25H、25I、25J、25K、25L之作業器係為測試器，而分別設有具至少一測試座252之測試電路板251，用以對電子元件執行電性測試作業，本發明由於在機台 20二側對向設置複數排測試區，因此可有效減低佔用機台20台面空間，並易於擴充測試區，以增加測試產能；該輸送裝置26係於機台20之至少二側設有複數個承載機構，用以載送電子元件，於本實施例中，係於機台20之一側且位於測試區25A、25B、25C、25D、25E、25F之前方設有第一承載機構，該第一承載機構係設有至少一作第二方向位移之載台，載台係設有至少一容置槽，用以載送電子元件，於本實施例中，該第一承載機構係設有作第二方向位移之第一、二載台261、262，該第一載台261係設有第一、二容置槽2611、2612，以分別承置待測/已測之電子元件，該第二載台262係設有第三、四容置槽2621、2622，以分別承置待測/已測之電子元件，又該輸送裝置26係於機台20之另一側且位於測試區25G、25H、25I、25J、25K、25L之前方設有第二承載機構，該第二承載機構係設有至少一作第二方向位移之載台，載台係設有至少一容置槽，用以載送電子元件，於本實施例中，第二承載機構係設有作第二方向位移之第三、四載台263、264，該第三載台263係設有第五、六容置槽2631、2632，以分別承置待測/已測之電子元件，該第四載台264係設有第七、八容置槽2641、2642，以分別承置待測/已測之電子元件，另該輸送裝置26係於機台20之至少二側設有複數個移料機構，該至少一移料機構係於機台20至少一側之供料裝置、收料裝置、作業裝置及承載機構間移載電子元件，該至少另一移料機構則於機台20至少另一側之供料裝置、收料裝置、作業裝置及承載機構間移載電子元件，於本實施例中，係於機台20之一側配置有第一移料機構，第一移料機構係設有至少一拾取器，用以於第一供料裝置21、第一收料裝置23、作業裝置25及第一承載機構間移載電子元件，於本實施例中，該第一移料機構係設有作第一、二、三方向位移之第一拾取器265及第二拾取器266，第一拾取器265係設有第一、二取放件2651、2652，以於第一供料裝置21、第一收料裝置23及第一、二載台261、262間取放待測/已測之電子元件，第二拾取器266係設有第三、四取放件2661、2662，以於第一、二載台261、262及測試區25A、25B、25C、25D、25E、25F間取放待測/已測之電子元件，輸送裝置26係於機台20之另一側配置有第二移料機構，第二移料機構係設有至少一拾取器，用以於第二供料裝置22、第二收料裝置24、作業裝置25及第二承載機構間移載電子元件，於本實施例中，該第二移料機構係設有作第一、二、三方向位移之第三拾取器267及第四拾取器268，第三拾取器267係設有第五、六取放件2671、2672，以於第二供料裝置22、第二收料裝置24及第三、四載台263、264間取放待測/已測之電子元件，第四拾取器268係設有第七、八取放件2681、2682，以於第三、四載台263、264及測試區25G、25H、25I、25J、25K、25L間取放待測/已測之電子元件；該中央控制裝置(圖未示出)係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化測試作業。

請參閱第3圖，本發明第一實施例之電子元件作業分類機於使用時，該位於機台20一側之第一承載機構的第二載台262係位於測試區25A之前方，第二載台262之第三容置槽2621已承載待測之電子元件31A，第一移料機構之第二拾取器266係先以第四取放件2662於測試區25A之測試座252取出已測之電子元件30A，並置入於第二載台262之第四容置槽2622，該第一拾取器265之第一取放件2651於第一供料裝置21之第一供料器211取出待測之電子元件31C，此時，位於機台20另一側之第二承載機構的第四載台264係位於測試區25G之前方，第四載台264之第七容置槽2641已承載待測之電子元件31B，第二移料機構之第四拾取器268係先以第八取放件2682於測試區25G取出已測之電子元件30B，並置入於第四載台264之第八容置槽2642，該第三拾取器267之第五取放件2671於第二供料裝置22之第二供料器221取出待測之電子元件31D。

請參閱第4圖，第一拾取器265之第一取放件2651係將待測之電子元件31C移載置入於第一承載機構之第一載台261的第一容置槽2611，該第二拾取器266之第三取放件2661則於第二載台262之第三容置槽2621取出待測之電子元件31A，並將待測之電子元件31A移入測試區25A之測試座252執行測試作業，此時，第三拾取器267之第五取放件2671係將待測之電子元件31D移載置入於第二承載機構之第三載台263的第五容置槽2631，該第四拾取器268之第七取放件2681則於第四載台264之第七容置槽2641取出待測之電子元件31B，並將待測之電子元件31B移入測試區25G執行測試作業。

請參閱第5圖，第一承載機構之第一載台261係將下一待測之電子元件31C載送至測試區25B之前方，第一移料機構之第二拾取器266係以第四取放件2662於測試區25B取出已測之電子元件30C，並將已測之電子元件30C移載置入於第一載台261的第二容置槽2612，第一移料機構之第一拾取器265係以第二取放件2652於第二載台262的第四容置槽2622取出已測之電子元件30A，並將已測之電子元件30A依測試結果而移載至第一收料裝置23之第一收料器231分類收置，此時，第二承載機構之第三載台263係將下一待測之電子元件31D載送至測試區25H之前方，第二移料機構之第四拾取器268係以第八取放件2682於測試區25H取出已測之電子元件30D，並將已測之電子元件30D移載置入於第三載台263的第六容置槽2632，第二移料機構之第三拾取器267係以第六取放件2672於第四載台264的第八容置槽2642取出已測之電子元件30B，並將已測之電子元件30B依測試結果而移載至第二收料裝置24之第二收料器241分類收置。

請參閱第6圖，第一移料機構之第一拾取器265係以第一取放件2651於第一供料裝置21之第一供料器211取出下一待測之電子元件31E，並移載至第一承載機構之第二載台262之第三容置槽2621，該第二拾取器266係以第三取放件2661於第一載台261之第一容置槽2611取出待測之電子元件31C，並移載至測試區25B進行測試作業，此時，第二移料機構之第三拾取器267係以第五取放件2671於第二供料裝置22之第二供料器221取出下一待測之電子元件31F，並移載至第二承載機構之第四載台264之第七容置槽2641，該第四拾取器268係以第七取放件2681於第三載台263之第五容置槽2631取出待測之電子元件31D，並移載至測試區25 H進行測試作業。

請參閱第7圖，第一移料機構之第一拾取器265係以第二取放件2652於第一載台261的第二容置槽2612取出已測之電子元件30C，以便依測試結果而移載至第一收料裝置23分類收置，該第二拾取器266係以第三取放件2661於第二載台262之第三容置槽2621取出下一待測之電子元件31E，以待移入測試區25C進行測試作業，此時，第二移料機構之第三拾取器267係以第六取放件2672於第三載台263的第六容置槽2632取出已測之電子元件30D，以便依測試結果而移載至第二收料裝置24分類收置，該第四拾取器268係以第七取放件2681於第四載台264之第七容置槽2641取出下一待測之電子元件31F，以待移入測試區25I進行測試作業。

請參閱第8圖，本發明第二實施例電子元件作業分類機，係於機台20之一側設有具第一供料器211A之第一供料裝置21A，該第一供料器211A係容置複數個待測之電子元件，於機台20之另一側設有具至少一第二供料器221A之第二供料裝置22A，該第二供料器221A係容置複數個待測之電子元件；又該機台20之一側設有具第一收料器231A之第一收料裝置23A，該第一收料器231A係容置複數個已測之電子元件，於機台20之另一側設有具第二收料器241A之第二收料裝置24A，該第二收料器241A係容置複數個已測之電子元件；該作業裝置25係於機台20之二側分別設有6排測試區25A、25B、25C、25D、25E、25F、25G、25H、25I、25J、25K、25L，其中，一側6個測試區25A、25B、25C、25D、25E、25F係與該第一供、收料裝置21A、23A並列呈第二方向配置，另一側6個測試區25G、25H、25I、25J、25K、25L則與該第二供、收料裝置22A、24A並列呈第二方向配置，各測試區25A、25B、25C、25D、25E、25F、25G、25H、25I、25J、25K、25L係分別設有具至少一測試座252之測試電路板251，用以對電子元件執行電性測試作業；該輸送裝置26係於機台20之一側且位於測試區25A、25B、25C、25D、25E、25F之前方設有第一承載機構，該第一承載機構係設有作第二方向位移之第一、二載台261、262，該第一載台261係設有第一、二容置槽2611、2612，以分別承置待測/已測之電子元件，該第二載台262係設有第三、四容置槽2621、2622，以分別承置待測/已測之電子元件，又該輸送裝置26係於機台20之另一側且位於測試區25G、25H、25I、25J、25K、25L之前方設有第二承載機構，第二承載機構係設有作第二方向位移之第三、四載台263、264，該第三載台263係設有第五、六容置槽2631、2632，以分別承置待測/已測之電子元件，該第四載台264係設有第七、八容置槽2641、2642，以分別承置待測/已測之電子元件，另該輸送裝置26係於機台20之一側配置有第一移料機構，該第一移料機構係設有作第一、二、三方向位移之第一拾取器265及第二拾取器266，第一拾取器265係設有第一、二取放件2651、2652，以於第一供料裝置21A、第一收料裝置23A及第一、二載台261、262間取放待測/已測之電子元件，第二拾取器266係設有第三、四取放件2661、2662，以於第一、二載台261、262及測試區25A、25B、25C、25D、25E、25F間取放待測/已測之電子元件，輸送裝置26係於機台20之另一側配置有第二移料機構，該第二移料機構係設有作第一、二、三方向位移之第三拾取器267及第四拾取器268，第三拾取器267係設有第五、六取放件2671、2672，用以於第二供料裝置22A、第二收料裝置24A及第三、四載台263、264間取放待測/已測之電子元件，第四拾取器268係設有第七、八取放件2681、2682，用以於第三、四載台263、264及測試區25G、25H、25I、25J、25K、25L間取放待測/已測之電子元件；該中央控制裝置(圖未示出)係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化測試作業。