TWI535627B - Electronic components operating equipment - Google Patents

Description

電子元件作業設備

本發明係提供一種輸送裝置利用轉承機構之複數個承槽與收料裝置之複數個收料槽的間距相同，並搭配具複數個不變距拾取件之搬移機構，而可精準將微小電子元件移載至收料裝置收料，以提升移載取放準確性及便利收料之電子元件作業設備。

在現今，電子元件作業設備係設有具載台之輸送裝置，用以輸出已作業之電子元件，並利用具料盤或料帶之收料裝置收置已作業之電子元件，由於載台之複數個容置槽的間距與料盤(或料帶)之複數個收料槽的間距不同，因此輸送裝置必須利用具複數個取放件之變距式移料機構，依載台之複數個容置槽的間距或料盤(或料帶)之複數個收料槽的間距，令複數個取放件調整改變間距，以於載台及料盤(或料帶)間移載已作業之電子元件；請參閱第1、2圖，係為電子元件測試作業設備之示意圖，其係於機台11上配置有供料裝置12、收料裝置13、測試裝置14、輸送裝置15，該供料裝置12係設有具複數個供料槽122之供料盤121，以容納待測之電子元件，該收料裝置13係設有具複數個收料槽132之收料盤131，各收料槽132之槽口周側具有導斜面，以導引已測之電子元件滑入收料槽132，該測試裝置14係設有具複數個測試座142之測試電路板141，以對電子元件執行測試作業，該輸送裝置15係於測試裝置14之一側設有作第一方向(如X方向)位移之第一供料載台151及第一出料載台152，第一供、出料載台151、152分別設有複數個第一供、出料容置槽1511、1521，第一供、出料容置槽1511、1521與複數個測試座142之間距相同，又於測試裝置14之另一側設有作X方向位移之第二供料載台153及第二出料載台154，第二供、出料載台153、154分別設有複數個第二供、出料容置槽1531、1541，第二供、出料容置槽1531、154 1與複數個測試座142之間距相同，該輸送裝置15另設有具複數個輸入端移料器1551之輸入端移料機構155，由於供料裝置12之複數個供料槽122與第一、二供料容置槽1511、1531之間距不同，於複數個輸入端移料器1551作X-Y-Z方向位移在供料裝置12之複數個供料槽122取出待測之電子元件後，輸入端移料機構155係利用具有馬達及皮帶輪組等變距用元件之輸入端變距結構1552帶動複數個輸入端移料器1551作X方向變距，使複數個輸入端移料器1551與第一、二供料容置槽1511、1531之間距相同，而將待測之電子元件分別移入第一、二供料容置槽1511、1531，該第一、二供料載台151、153則將待測之電子元件載送至測試裝置14之側方，該輸送裝置15之第一壓取機構156及第二壓取機構157分別將第一供料載台151及第二供料載台153上待測之電子元件移載至測試裝置14，該測試裝置14係以測試座142對待測之電子元件執行測試作業，於測試完畢後，第一壓取機構156及第二壓取機構157再將測試裝置14處之已測電子元件分別移載至第一、二出料載台152、154之第一、二收料容置槽1521、1541，第一、二出料載台152、154則載出已測之電子元件，另該輸送裝置15係設有具複數個輸出端移料器1581之輸出端移料機構158，由於收料裝置13之複數個收料槽132與第一、二出料載台152、154之第一、二出料容置槽1521、1541的間距不同，於輸出端移料機構158之複數個輸出端移料器1581作X-Y-Z方向位移取出第一、二出料載台152、154之第一、二收料容置槽1521、1541上之已測電子元件後，該輸出端移料機構158利用具馬達及皮帶輪組等變距用元件之輸出端變距結構1582帶動複數個輸出端移料器1581作X方向變距，使複數個輸出端移料器1581與複數個收料槽132之間距相同，進而將已測之電子元件輸送至收料裝置13之收料盤131收置；惟，由於輸出端移料機構158必須利用輸出端變距結構1582帶動複數個輸出端移料器1581作X方向調整間距，方可於複數個第一、二出料容置槽1521、1541與複數個收料槽132間移載已測之電子元件，然電子元件之尺寸日趨微小，相對地，複數個輸出端移料器1581亦必須作微小間距調整， 但輸出端移料機構158之輸出端變距結構1582易因皮帶輪組等變距用元件之作動誤差，而無法使複數個輸出端移料器1581之間距與複數個收料槽132的間距相同，當複數個輸出端移料器1581將複數個微小之已測電子元件移入收料盤131之複數個收料槽132時，雖可利用收料槽132槽口周側之導斜面導引微小之已測電子元件滑入而勉強收料，請再參閱第2、3圖，一旦業者更換以具料帶16之收料裝置收置微小的已測電子元件時，由於料帶16之收料槽161並無設計有導斜面，該複數個輸出端移料器1581即會因皮帶輪組等變距用元件之作動誤差，而無法準確將複數個微小之已測電子元件移入於料帶16之複數個收料槽161，造成收料異常之缺失。

本發明之目的係提供一種電子元件作業設備，其係於機台配置有供料裝置、具複數個收料槽之收料裝置、作業裝置及輸送裝置，該輸送裝置係以至少一具複數個取放件之變距式移料機構於供料裝置及作業裝置處移載電子元件，另該輸送裝置係於變距式移料機構與收料裝置間設有具複數個承槽之轉承機構，以供移料機構之複數個取放件移入已作業的電子元件，至少一位於轉承機構與收料裝置間之搬移機構，係具有複數個固定間距之拾取件，複數個拾取件之間距並相同於複數個承槽之間距及複數個收料槽之間距，使得搬移機構利用複數個拾取件於轉承機構之複數個承槽上取出已作業之電子元件，並直接準確移入於收料裝置之複數個收料槽收置，進而可摒除移料機構之變距元件作動誤差，使輸送裝置精準移載微小電子元件，達到提升移載取放準確性及便利收料之實用效益。

〔習知〕

11‧‧‧機台

12‧‧‧供料裝置

121‧‧‧供料盤

122‧‧‧供料槽

13‧‧‧收料裝置

131‧‧‧收料盤

132‧‧‧收料槽

14‧‧‧測試裝置

141‧‧‧測試電路板

142‧‧‧測試座

15‧‧‧輸送裝置

151‧‧‧第一供料載台

1511‧‧‧第一供料容置槽

152‧‧‧第一出料載台

1521‧‧‧第一出料容置槽

153‧‧‧第二供料載台

1531‧‧‧第二供料容置槽

154‧‧‧第二出料載台

1541‧‧‧第二出料容置槽

155‧‧‧輸入端移料機構

1551‧‧‧輸入端移料器

1552‧‧‧輸入端變距結構

156‧‧‧第一壓取機構

157‧‧‧第二壓取機構

158‧‧‧輸出端移料機構

1581‧‧‧輸出端移料器

1582‧‧‧輸出端變距結構

16‧‧‧料帶

161‧‧‧收料槽

〔本發明〕

20‧‧‧機台

30‧‧‧供料裝置

31‧‧‧震動供料器

32‧‧‧輸出軌道

40‧‧‧作業裝置

41‧‧‧電路板

42‧‧‧測試座

50‧‧‧收料裝置

51‧‧‧料帶

511‧‧‧收料槽

52‧‧‧料帶運送機構

60‧‧‧輸送裝置

61‧‧‧暫置載具

611‧‧‧暫置槽

621‧‧‧第一載台

6211‧‧‧第一容置槽

622‧‧‧第二載台

6221‧‧‧第二容置槽

623‧‧‧第三載台

6231‧‧‧第三容置槽

624‧‧‧第四載台

6241‧‧‧第四容置槽

63‧‧‧第一移料機構

631‧‧‧第一供料取放件

632‧‧‧第二供料取放件

633‧‧‧第三供料取放件

634‧‧‧第一變距結構

641‧‧‧第一壓取器

642‧‧‧第二壓取器

65‧‧‧第二移料機構

651‧‧‧出料取放件

652‧‧‧第二變距結構

66‧‧‧轉承機構

661‧‧‧轉承治具

662‧‧‧承槽

67‧‧‧搬移機構

671‧‧‧拾取件

68‧‧‧回收部件

70‧‧‧檢知裝置

71‧‧‧承座

72‧‧‧CCD

81、82‧‧‧電子元件

第1圖：習知電子元件測試作業設備之示意圖。

第2圖：習知輸出端移料機構及收料裝置之示意圖。

第3圖：習知具料帶之收料裝置示意圖。

第4圖：本發明電子元件作業設備之示意圖。

第5圖：本發明輸送裝置及收料裝置之局部示意圖。

第6圖：本發明電子元件作業設備之使用示意圖(一)。

第7圖：本發明電子元件作業設備之使用示意圖(二)。

第8圖：本發明電子元件作業設備之使用示意圖(三)。

第9圖：本發明電子元件作業設備之使用示意圖(四)。

第10圖：本發明電子元件作業設備之使用示意圖(五)。

第11圖：本發明電子元件作業設備之使用示意圖(六)。

第12圖：本發明電子元件作業設備之使用示意圖(七)。

第13圖：本發明電子元件作業設備之使用示意圖(八)。

為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：請參閱第4、5圖，本發明電子元件作業設備包含機台20、供料裝置30、作業裝置40、收料裝置50、輸送裝置60及中央控制裝置(圖未示出)，於本實施例中，作業設備更包含設有檢知電子元件之檢知裝置70；該供料裝置30係配置於機台20上，並設有至少一容納待作業電子元件之供料承置器，該供料承置器可為供料盤或震動供料器等，於本實施例中，該供料承置器係為一具有輸出軌道32之震動供料器31，以輸出待作業之電子元件；該作業裝置40係配置於機台20上，並設有至少一作業器，以對電子元件執行預設作業，該作業器可為測試器或檢知器等，該預設作業可為測試作業或外觀檢知作業等，於本實施例中，該作業器係為測試器，該測試器係設有電性連接之電路板41及測試座42，用以測試電子元件，電路板41並將測試結果傳輸至中央控制裝置；該收料裝置50係配置於機台20上，並設有至少一具複數個收料槽之收料承置器，以容納複數個已作業之電子元件，該收料承置器可為收料盤或料帶等，於本實施例中，該收料承置器係為具複數個收料槽511之料帶51，以承置複數個已作業之電子元件，另設有一料帶運送機構52驅動料帶51作動，由於料帶運送機構52係為習知技術，故不予贅述；該檢知裝置70係配置於機台20上，並設有至少一檢知電子元件之檢知器，更進一步，該檢知裝置70係於供料裝置30之供料承置器一方設有檢知器，於本實施例中，係於供料裝置30之輸出軌道32一方設有具承座71及CCD72之檢知器，該承座71係承置待作業之電子元件，並可旋 轉作動，該CCD72係取像承座71上之待作業電子元件，並將取像資料傳輸至中央控制裝置；該輸送裝置60係配置於機台20上，並設有至少一具有變距結構及複數個取放件之移料機構，以於供料裝置30及作業裝置40處移載電子元件，更進一步，係於供料裝置30之供料承置器一方設有至少一承置待作業電子元件之暫置載具61，暫置載具61係作至少一方向位移，於本實施例中，係於供料裝置30之輸出軌道32一方設有具複數個暫置槽611之暫置載具61，以承載待作業之電子元件，並作X方向位移，又該輸送裝置60係於作業裝置40之側方設有至少一承置電子元件之載台，於本實施例中，係於作業裝置40之一側設有作X方向位移之第一載台621及第二載台622，第一、二載台621、622係設有複數個第一、二容置槽6211、6221，以分別承載待作業電子元件及已作業電子元件，複數個第一容置槽6211及複數個第二容置槽6221之間距係與複數個測試座42之間距相同，於作業裝置40之另一側設有作X方向位移之第三載台623及第四載台624，第三、四載台623、624係設有複數個第三、四容置槽6231、6241，以分別承載待作業電子元件及已作業電子元件，複數個第三容置槽6231及複數個第四容置槽6241之間距係與複數個測試座42之間距相同，另該輸送裝置60可利用至少一具有變距結構及複數個取放件之移料機構或複數個移料機構而移載電子元件，該移料機構之取放件可為供料取放件或出料取放件，更進一步，該輸送裝置60係設有一具至少一供料取放件之第一移料機構63，以於供料裝置30與至少一載台間移載待作業之電子元件，於本實施例中，該第一移料機構63係設有複數個作Y-Z方向位移之第一、二供料取放件631、632，以於供料裝置30之輸出軌道32、檢知裝置70之承座71及暫置載具61間移載待作業之電子元件，第一移料機構63另設有複數個作X-Y-Z方向位移之第三供料取放件633，以及設有第一變距結構634帶動複數個第三供料取放件633作X方向變距，使複數個第三供料取放件633於暫置載具61與第一、三載台621、623間移載待作業之電子元件，由於第一變距結構634係為習知技術，故不予贅述，另該輸送裝置60係於作業裝置40處設有至少一壓取機構，以於作業裝置40與至少一載台間移載電子 元件，於本實施例中，係設有作Y-Z方向位移之第一壓取器641及第二壓取器642，第一壓取器641係於作業裝置40與第一、二載台621、622間移載待作業電子元件或已作業電子元件，第二壓取器642係於作業裝置40與第三、四載台623、624間移載待作業電子元件或已作業電子元件，又該輸送裝置60係設有一具複數個出料取放件之第二移料機構65，用以移出至少一載台上之已作業電子元件，於本實施例中，第二移料機構65係設有複數個作X-Y-Z方向位移之出料取放件651，以及設有第二變距結構652帶動複數個出料取放件651作X方向變距，使複數個出料取放件651移出第二、四載台622、624上之已作業電子元件，由於第二變距結構652係為習知技術，故不予贅述，另該輸送裝置60係於至少一移料機構與該收料裝置50間設有具複數個承槽之轉承機構66，複數個承槽之間距係與複數個收料槽511之間距相同，以供移料機構之複數個取放件移入已作業的電子元件，更進一步，該轉承機構66係設有至少一具複數個承槽之轉承治具，該轉承治具可為固定式或作至少一方向位移，於本實施例中，該轉承治具661係設有複數個槽口周側具導引面之承槽662，並作Y方向位移，以供第二移料機構65之出料取放件651移入已作業之電子元件，又該輸送裝置60係於轉承機構66與收料裝置50間設有搬移機構67，該搬移機構67係具有作至少一方向位移且固定間距之複數個拾取件671，複數個拾取件671之間距並相同於轉承機構66之複數個承槽662間距及收料裝置50之複數個收料槽511間距，於本實施例中，該搬移機構67係以複數個固定間距之拾取件671於轉承機構66之複數個承槽662上取出已作業之電子元件，並直接準確移入於收料裝置50之複數個收料槽511收置，進而可摒除變距用元件之作動誤差，以精準移載取放微小之電子元件，又該輸送裝置60係於機台20上設有至少一回收部件68，以收置非良品之電子元件，於本實施例中，係於第二、四載台622、624與轉承機構66間設有一為回收孔之回收部件68；該中央控制裝置(圖未示出)係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。

請參閱第6圖，係本發明電子元件作業設備應用於電子元件81之測試作業，該供料裝置30係以震動供料器31之輸出軌道32輸 出待測之電子元件81，由於檢知裝置70之承座71已承置有檢知完畢的電子元件81，該輸送裝置60係以第一移料機構63之第一供料取放件631作Z方向位移於檢知裝置70之承座71取出電子元件81，以及利用第二供料取放件632作Z方向位移於供料裝置30之輸出軌道32取出下一待測之電子元件81，接著第一移料機構63之第一供料取放件631及第二供料取放件632係同步作Y-Z方向位移，令第一供料取放件631將一電子元件81由檢知裝置70之承座71移載至暫置載具61之暫置槽611，以及令第二供料取放件632將下一電子元件81由供料裝置30之輸出軌道32移載至檢知裝置70之承座71，由CCD72檢知承座71上之下一電子元件81，進而可迅速於檢知裝置70與供料裝置30處同步移載二電子元件81。

請參閱第7圖，於暫置載具61之複數個暫置槽611盛裝滿待測之電子元件81後，暫置載具61係作X方向位移，將複數個待測之電子元件81載送至第三供料取放件633之側方，該第三供料取放件633係作X-Y-Z方向位移於暫置載具61上取出複數個待測之電子元件81，並載入於第一載台621之複數個第一容置槽6211上。

請參閱第8圖，該第一載台621係作X方向位移，將複數個待測之電子元件81載送至作業裝置40之側方，該輸送裝置60係以第一壓取器641作Y-Z方向位移於第一載台621之複數個第一容置槽6211取出複數個待測之電子元件81，此時，該第三供料取放件633係作X-Y-Z方向位移將下一批次複數個待測之電子元件82移載至第三載台623之複數個第三容置槽6231。

請參閱第9圖，第一壓取器641係作Y-Z方向位移將複數個待測之電子元件81移載至作業裝置40之複數個測試座42內，複數個測試座42係對複數個待測之電子元件81執行測試作業，並以電路板41將測試結果至中央控制裝置，此時，第二壓取器642作Y-Z方向位移於第三載台623之複數個第三容置槽6231取出下一批次複數個待測之電子元件82。

請參閱第10圖，於測試完畢後，第一壓取器641係作Y-Z方向位移將複數個已測之電子元件81由作業裝置40之複數個測試 座42移載至第二載台622之複數個第二容置槽6221，第二載台622係作X方向位移載出複數個已測之電子元件81，此時，該第二壓取器642作Y-Z方向位移將下一批次複數個待測之電子元件82移載至作業裝置40之複數個測試座42而接續執行測試作業。

請參閱第11圖，該第二移料機構65係以複數個出料取放件651作X-Y-Z方向位移於第二載台622上取出複數個已測之電子元件81，若已測之電子元件81為非良品，第二移料機構65之出料取放件651即將非良品之電子元件81移載投擲於回收部件68收置，若已測之電子元件81為良品，輸送裝置60即會將電子元件81移載至收料裝置50收置，然由於第二載台622之複數個第二容置槽6221的間距與轉承機構66之複數個承槽662的間距不同，第二移料機構65係利用第二變距結構652帶動複數個出料取放件651作X方向變距，使複數個出料取放件651之間距與轉承機構66之複數個承槽662的間距相同，以便將複數個已測之電子元件81移入轉承機構66之複數個承槽662。

請參閱第12、13圖，由於收料裝置50之料帶51的複數個收料槽511間距微小，為避免第二移料機構65之複數個出料取放件651因第二變距結構652的皮帶輪組等變距用元件之作動誤差因素，導致複數個出料取放件651無法準確將複數個微小已測之電子元件81置入於料帶51的複數個收料槽511，本發明係利用第二移料機構65之複數個出料取放件651先將複數個微小已測之電子元件81移入於轉承機構66之轉承治具661的複數個承槽662，複數個承槽662可利用槽口周側之導引面導引微小已測之電子元件81移入，由於轉承治具661之複數個承槽662的間距與料帶51之複數個收料槽511的間距相同，轉承機構66係以轉承治具661作Y方向位移載送數個微小已測之電子元件81至搬移機構67之側方；由於搬移機構67之複數個拾取件671的間距係為固定，並與轉承治具661之複數個承槽662間距及料帶51之複數個收料槽511間距相同，使得搬移機構67利用複數個拾取件671於轉承機構66之複數個承槽662上取出已測之電子元件81，並可直接準確地將已測之電子元件81移入於收料裝置5 0之料帶51的複數個收料槽511收置，進而摒除變距用元件之作動誤差，使得輸送裝置60精準移載取放微小之電子元件81，達到提升移載取放準確性及便利收料之實用效益。

20‧‧‧機台

30‧‧‧供料裝置

31‧‧‧震動供料器

32‧‧‧輸出軌道

40‧‧‧作業裝置

41‧‧‧電路板

42‧‧‧測試座

50‧‧‧收料裝置

51‧‧‧料帶

511‧‧‧收料槽

52‧‧‧料帶運送機構

60‧‧‧輸送裝置

61‧‧‧暫置載具

611‧‧‧暫置槽

621‧‧‧第一載台

6211‧‧‧第一容置槽

622‧‧‧第二載台

6221‧‧‧第二容置槽

623‧‧‧第三載台

6231‧‧‧第三容置槽

624‧‧‧第四載台

6241‧‧‧第四容置槽

63‧‧‧第一移料機構

631‧‧‧第一供料取放件

632‧‧‧第二供料取放件

633‧‧‧第三供料取放件

634‧‧‧第一變距結構

641‧‧‧第一壓取器

642‧‧‧第二壓取器

65‧‧‧第二移料機構

651‧‧‧出料取放件

652‧‧‧第二變距結構

66‧‧‧轉承機構

661‧‧‧轉承治具

662‧‧‧承槽

67‧‧‧搬移機構

671‧‧‧拾取件

68‧‧‧回收部件

70‧‧‧檢知裝置

71‧‧‧承座

72‧‧‧CCD

Claims (10)

1. 一種電子元件作業設備，包含：機台；供料裝置：係配置於該機台上，並設有至少一供料承置器，以容納至少一待作業之電子元件；作業裝置：係配置於該機台上，並設有至少一作業器，以對該電子元件執行預設作業；收料裝置：係配置於該機台上，並設有至少一具複數個收料槽之收料承置器，以容納複數個已作業之電子元件；輸送裝置：係配置於該機台上，並設有至少一具有變距結構及複數個取放件之移料機構，以於該供料裝置及該作業裝置處移載該電子元件，該輸送裝置另於該至少一移料機構與該收料裝置間設有具複數個承槽之轉承機構，以供該複數個取放件移入已作業的電子元件，該複數個承槽與該複數個收料槽之間距相同，又該輸送裝置係於該轉承機構與該收料裝置間設有搬移機構，該搬移機構係具有作至少一方向位移且固定間距之複數個拾取件，該複數個拾取件與該複數個承槽及該複數個收料槽之間距相同，以於該複數個承槽及該複數個收料槽間移載已作業的電子元件；中央控制裝置：係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。
2. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業設備，更包含設有檢知裝置，該檢知裝置係設有至少一檢知電子元件之檢知器。
3. 依申請專利範圍第2項所述之電子元件作業設備，其中，該檢知裝置係於該供料裝置之供料承置器一方設有具承座及CCD之檢知器，該承座係承置該待作業之電子元件，該CCD係取像該承座上之待作業電子元件。
4. 依申請專利範圍第2項所述之電子元件作業設備，其中，該輸送裝置係於該供料裝置之供料承置器一方設有至少一承置該待作業電子元件之暫置載具，以及於該作業裝置之側方設有至少一承置電子元件之載 台，該輸送裝置另設有具至少一取放件之第一移料機構，該取放件係為供料取放件，以於該供料裝置、該至少一載台及該暫置載具間移載待作業之電子元件，一具有複數個取放件之第二移料機構，其該取放件係為出料取放件，並設有第二變距結構帶動該複數個出料取放件作至少一方向變距，以移出至少一載台上之已作業電子元件，並移載至該轉承機構之複數個承槽。
5. 依申請專利範圍第4項所述之電子元件作業設備，其中，該輸送裝置之第一移料機構係設有至少一個第一供料取放件及至少一個第二供料取放件，以於該供料裝置之供料承置器、該檢知裝置之檢知器及該暫置載具間移載該待作業之電子元件，該第一移料機構另設有複數個第三供料取放件，以於該暫置載具與該至少一載台間移載該待作業之電子元件。
6. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業設備，其中，該輸送裝置係於該作業裝置之側方設有至少一承置電子元件之載台，一具至少一取放件之第一移料機構，其該取放件係為供料取放件，以於該供料裝置及該至少一載台間移載待作業之電子元件，一具有複數個取放件之第二移料機構，其該取放件係為出料取放件，並設有第二變距結構帶動該複數個出料取放件作至少一方向變距，以移出至少一載台上之已作業電子元件，並移載至該轉承機構之複數個承槽。
7. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業設備，其中，該輸送裝置之轉承機構係設有至少一具複數個承槽之轉承治具，該轉承治具可為固定式或作至少一方向位移。
8. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業設備，其中，該輸送裝置之轉承機構係設有複數個槽口周側具導引面之承槽。
9. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業設備，其中，該輸送裝置係於該機台上設有至少一回收部件，以收置非良品之電子元件。
10. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業設備，其中，該收料裝置之收料承置器係為具複數個收料槽之料帶。