TWI551873B - Electronic components operating equipment - Google Patents

Description

電子元件作業設備

本發明係提供一種利用空匣裝置之輸送器輸送空料盤通過感測器，並以感測器檢查空料盤內是否殘留有電子元件，以事先排除異常之空料盤，進而提升作業順暢性之電子元件作業設備。

在現今，電子元件作業設備(如測試分類設備)係設有空匣裝置，以承接供料裝置處之空料盤，並提供空料盤補充置放於收料裝置處，以便接續盛裝已作業之電子元件；請參閱第1圖，係為一種電子元件測試分類設備，其係於機台11上設有供料裝置12、收料裝置13、測試裝置14、移料裝置15、空匣裝置16及移盤裝置17，該供料裝置12係設有盛裝待測電子元件之料盤121，該移料裝置15係以拾取器151作第一、二、三方向(如X、Y、Z方向)位移於供料裝置12之料盤121取出待測之電子元件，並將待測之電子元件移載至測試裝置14，該測試裝置14係設有具測試座142之測試電路板141，並以測試座142測試拾取器151所置入之電子元件，於測試完畢後，該移料裝置15再以拾取器151於測試裝置14之測試座142處取出已測之電子元件，並將已測之電子元件移載至收料裝置13之料盤131內收置，然於供料裝置12之料盤121為空盤後，該移盤裝置17係以移盤器171作X-Y-Z方向位移於供料裝置12處取出空的料盤121，並移載至空匣裝置16暫置，當收料裝置13需補充空的料盤時，該移盤裝置17之移盤器171係作X-Y-Z方向位移於空匣裝置16處取出空的料盤121，並將空的料盤121移載補充至收料裝置13，使空的料盤121於收料裝置13處接續盛裝已測之電子元件；惟，於使用上具有如下缺失：

1‧由於移盤裝置17之移盤器171係直接將供料裝置12處之料盤1 21移載暫置於空匣裝置16，若料盤121內殘留有待測之電子元件，該空匣裝置16並無法檢知，仍會提供移盤裝置17之移盤器171直接將具殘留電子元件的料盤121移載補充至收料裝置13，導致料盤121內混雜有殘留待測電子元件及已測電子元件，進而影響後續製程作業之順暢性。

2‧若補充於收料裝置13處之料盤121內殘留有待測之電子元件，當移料裝置15之拾取器151將已測之電子元件移入料盤121之過程中，該已測之電子元件即會因疊置於殘留之待測電子元件上而無法下移，但拾取器151卻仍會依預設移載行程下移，以致已測之電子元件承受拾取器151之過大下壓力量而損壞，造成已測電子元件損壞之缺失。

3‧該移料裝置15係直接將測試裝置14處已判別為良品之電子元件移載至收料裝置13，若移料裝置15將良品電子元件置入料盤121的收料過程中，一旦發生因料盤121內殘留有待測之電子元件，而導致良品電子元件受損之情形，由於後續並無檢測作業，工作人員並無法得知已測之良品電子元件被壓損，不僅無法確保出廠品質，亦耗費無謂之後續製程作業。

本發明之目的一，係提供一種電子元件作業設備，其係於機台上配置有供料裝置、收料裝置、作業裝置、空匣裝置、搬移裝置及中央控制裝置，該搬移裝置係以拾取器於供料裝置處取出待作業之電子元件，並移載至作業裝置處執行預設作業，於完成預設作業後，拾取器再將已作業之電子元件移載至收料裝置處收置，該搬移裝置並以移盤器將供料裝置處之空料盤移載至空匣裝置，其中，該空匣裝置係設有輸送機構及檢查機構，該輸送機構係設有至少一輸送器，以輸送空料盤作至少一方向位移，該檢查機構係於輸送機構之輸送器的輸送路徑上設有至少一感測器，以於輸送器輸送空料盤通過感測器時，利用感測器檢查空料盤內是否殘留有待作業之電子元件，以避免具殘留電子元件之空料盤補置於收料裝置，進而可事先排除空匣裝置處之異常空料盤，達到提升作業順暢性之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種電子元件作業設備，其中，該 空匣裝置之輸送機構係以輸送器輸送空料盤通過檢查機構之感測器，使感測器檢查空料盤內是否殘留有待作業之電子元件，而可事先排除空匣裝置處之異常空料盤，於搬移裝置之移盤器將空匣裝置處檢查完畢之空料盤移載補充至收料裝置時，即可避免搬移裝置之拾取器所移載的已作業電子元件受損，達到降低電子元件損壞率之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種電子元件作業設備，其中，該空匣裝置係利用檢查機構之感測器檢查該輸送器上之空料盤內是否殘留有待作業之電子元件，以事先排除空匣裝置處之異常空料盤，於搬移裝置之拾取器將作業裝置處判別為良品之電子元件移載至收料裝置時，即可避免良品電子元件受損，進而確保電子元件之出廠品質，達到提升空匣裝置使用效能之實用效益。

本發明之目的四，係提供一種電子元件作業設備，其中，該空匣裝置係於輸送器之輸送路徑上配置有感測器，於輸送器輸送空料盤通過感測器時，感測器即可檢查空料盤內是否殘留有待作業之電子元件，毋須配置數組檢查用元件，達到節省設備成本之實用效益。

〔習知〕

11‧‧‧機台

12‧‧‧供料裝置

121‧‧‧料盤

13‧‧‧收料裝置

131‧‧‧料盤

14‧‧‧測試裝置

141‧‧‧測試電路板

142‧‧‧測試座

15‧‧‧移料裝置

151‧‧‧拾取器

16‧‧‧空匣裝置

17‧‧‧移盤裝置

171‧‧‧移盤器

〔本發明〕

20‧‧‧機台

30‧‧‧供料裝置

31‧‧‧第一料盤

311、311A‧‧‧第一容置槽

312‧‧‧第一通孔

40‧‧‧收料裝置

41‧‧‧第二料盤

411‧‧‧第二容置槽

412‧‧‧第二通孔

50‧‧‧作業裝置

51‧‧‧測試電路板

52‧‧‧測試座

60‧‧‧空匣裝置

61‧‧‧輸送機構

611‧‧‧機架

612‧‧‧第一驅動源

613‧‧‧輸送件

614‧‧‧第一限位件

615‧‧‧第二限位件

62‧‧‧檢查機構

621‧‧‧發射元件

622‧‧‧接收元件

63‧‧‧收盤機構

631‧‧‧第二驅動源

632‧‧‧承板

633‧‧‧框架

634‧‧‧第三驅動源

635‧‧‧托板

70‧‧‧搬移裝置

71‧‧‧第一入料載台

72‧‧‧第一出料載台

73‧‧‧第二入料載台

74‧‧‧第二出料載台

75‧‧‧第一拾取器

76‧‧‧第二拾取器

77‧‧‧第一壓取器

78‧‧‧第二壓取器

79‧‧‧移盤器

第1圖：習知電子元件測試分類設備之示意圖。

第2圖：本發明電子元件作業設備之配置示意圖。

第3圖：本發明空匣裝置之示意圖。

第4圖：本發明電子元件作業設備之使用示意圖(一)。

第5圖：本發明電子元件作業設備之使用示意圖(二)。

第6圖：本發明電子元件作業設備之使用示意圖(三)。

第7圖：本發明電子元件作業設備之使用示意圖(四)。

第8圖：本發明電子元件作業設備之使用示意圖(五)。

第9圖：本發明電子元件作業設備之使用示意圖(六)。

第10圖：本發明電子元件作業設備之使用示意圖(七)。

第11圖：本發明電子元件作業設備之使用示意圖(八)。

第12圖：本發明電子元件作業設備之使用示意圖(九)。

第13圖：本發明電子元件作業設備之使用示意圖(十)。

第14圖：本發明電子元件作業設備之使用示意圖(十一)。

第15圖：本發明電子元件作業設備之使用示意圖(十二)。

為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：請參閱第2、3圖，本發明電子元件作業設備包含機台20、供料裝置30、收料裝置40、作業裝置50、空匣裝置60、搬移裝置70及中央控制裝置，該供料裝置30係裝配於機台20上，並設有至少一容納待作業電子元件之料盤，於本實施例中，係設有具複數個第一容置槽311之第一料盤31，各第一容置槽311係承置待作業之電子元件，並於底面開設有第一通孔312；該收料裝置40係裝配於機台20上，並設有至少一容納已作業電子元件之料盤，於本實施例中，係設有具複數個第二容置槽411之第二料盤41，各第二容置槽411係承置已作業之電子元件，並於底面開設有第二通孔412；該作業裝置50係裝配於機台20上，並設有至少一作業器，以對電子元件執行預設作業，該作業器可為測試器、檢查器或打印器等，以分別執行電性測試作業、外觀檢查作業或雷射打印作業等，於本實施例中，該作業器係為具測試電路板51及測試座52之測試器，以對電子元件執行電性測試作業；該空匣裝置60係裝配於機台20上，並設有輸送機構61及檢查機構62，該輸送機構61係設有至少一輸送器，以輸送空料盤作至少一方向位移，於本實施例中，係於機架611上裝配有輸送器，該輸送器係設有為馬達之第一驅動源612，以驅動呈第二方向(如Y方向)配置之輸送件613，該輸送件613係為皮帶輪組，以輸送料盤作Y方向位移，另於輸送件613之至少一端設有限位件，以限位料盤，於本實施例中，係於輸送件613之兩端分別設有第一限位件614及第二限位件615，用以限位空的料盤，該檢查機構62係於輸送機構61之輸送器的輸送路徑配置有至少一感測器，以感測輸送器上之空料盤內是否殘留有電子元件，該感測器可為反射型感測器、透過型感測器或金屬感測器等，於本實施例中，該感測器係於輸送件613之上、下方裝配有相對應的發射元件621及接收元件622，該發射元件621係發射光信號，並由接收元件622接收 光信號，該空匣裝置60另於機架611上設有收盤機構63，該收盤機構63係設有至少一承置器，以承置空的料盤，於本實施例中，係於機架611上設有複數個承置器，該承置器係設有為壓缸之第二驅動源631，用以帶動至少一承板632作第一方向(如X方向)位移，又該承置器之周側係設有複數個相對應之框架633，用以限位空料盤，另該收盤機構63係設有至少一托盤器，將輸送機構61上之空料盤移送至承置器上收置，於本實施例中，托盤器係設有具馬達及螺桿螺座組之第三驅動源634，用以驅動至少一托板635作第三方向(如Z方向)位移，使托板635將輸送機構61上之空料盤移送至承置器之承板632上收置；該搬移裝置70係裝配於機台20上，並設有至少一拾取器，用以移載電子元件，更進一步，該搬移裝置70係設有至少一入料載台及至少一出料載台，以分別載送待作業電子元件及已作業電子元件，於本實施例中，係於作業裝置50之一側設有作X方向位移之第一入料載台71及第一出料載台72，以分別載送待作業電子元件及已作業電子元件，於作業裝置50之另一側設有作X方向位移之第二入料載台73及第二出料載台74，以分別載送待作業電子元件及已作業電子元件，該搬移裝置70係設有作X-Y-Z方向位移之第一拾取器75及第二拾取器76，該第一拾取器75係於該供料裝置30及至少一入料載台間移載待作業之電子元件，該第二拾取器76係於該收料裝置40及至少一出料載台間移載已作業之電子元件，於本實施例中，該第一拾取器75係於供料裝置30及第一、二入料載台71、73間移載待作業之電子元件，該第二拾取器76係於收料裝置40及第一、二出料載台72、74間移載已作業之電子元件，又該搬移裝置70係於作業裝置50之兩側設有作Y-Z方向位移之第一壓取器77及第二壓取器78，以於該作業裝置50及至少一入、出料載台間移載待作業/已作業之電子元件，於本實施例中，第一壓取器77係於作業裝置50及第一入、出料載台71、72間移載待作業/已作業之電子元件，第二壓取器78係於作業裝置50及第二入、出料載台73、74間移載待作業/已作業之電子元件，該搬移裝置70另設有至少一作X-Y-Z方向位移之移盤器79，以於供料裝置30、收料裝置40及空匣裝置60間移載空的料盤；該中央控制裝置(圖未示出)係用以控制及 整合各裝置作動，而執行自動化作業。

請參閱第4圖，本發明電子元件作業設備係應用於電性測試作業，於使用時，該搬移裝置70係以第一拾取器75作X-Y-Z方向位移至供料裝置30處，並於第一料盤31之第一容置槽311內取出待測之電子元件，再將待測之電子元件移載至第一入料載台71。

請參閱第5圖，該第一入料載台71係作X方向位移至作業裝置50之一側，以供第一壓取器77作Y-Z方向位移取出待測之電子元件，並移載至作業裝置50之測試座52內而執行測試作業，作業裝置50之測試電路板51係將測試資料傳輸至中央控制裝置，中央控制裝置係依據測試資料判斷電子元件之品質，此時，該搬移裝置70之第一拾取器75已於供料裝置30之第一料盤31內取出下一待測之電子元件，並將下一待測之電子元件移載至第二入料載台73。

請參閱第6、7、8圖，於測試完畢後，該第一出料載台72係作X方向位移至作業裝置50之一側，第一壓取器77作Y-Z方向位移將已測之電子元件移載置入於第一出料載台72，該第二入料載台73則作X方向位移至作業裝置50之另一側，以供第二壓取器78作Y-Z方向位移取出下一待測之電子元件，並移載至作業裝置50之測試座52內而接續執行測試作業；接著第一出料載台72係作X方向位移輸出已測之電子元件，該第二拾取器76作X-Y-Z方向位移至第一出料載台72處，以取出已測之電子元件，並依測試結果，將已測之電子元件移載收料裝置40處，並置入於第二料盤41之第二容置槽411而分類收置。

請參閱第9、10圖，當供料裝置30之第一料盤31為空盤時，該搬移裝置70係以移盤器79作X-Y-Z方向位移至供料裝置30，並取出空的第一料盤31，且移載至空匣裝置60之輸送件613的第一位置上，接著空匣裝置60之輸送機構61係以第一驅動源612驅動輸送件613運轉，輸送件613係輸送第一料盤31作Y方向位移，使第一料盤31之各排第一容置槽311逐排通過檢查機構62之感測器，於第一料盤31第一排之第一容置槽311通過感測器時，若第一容置槽311內並無殘留待測電子元件，該感測器之發射元件621所發射之光信號即會穿過第一容置槽311之第一通孔312，以使接收元件 622接收光信號，接收元件622即傳輸訊號至中央控制裝置，中央控制裝置判別第一料盤31第一排之第一容置槽311內並無殘留待測之電子元件，而為正常狀態。

請參閱第11、12、13圖，該輸送機構61之輸送件613係繼續輸送第一料盤31作Y方向位移，使第二排的第一容置槽311A通過檢查機構62之感測器，若第二排的第一容置槽311A內殘留有待測之電子元件，該感測器之發射元件621所發射之光信號即會被殘留之待測電子元件遮斷，以致接收元件622無法接收到光信號，接收元件622即傳輸訊號至中央控制裝置，中央控制裝置判別第一料盤31之第二排的第一容置槽311A內殘留有待測之電子元件，而為異常狀態，於輸送件613輸送第一料盤31位於第二位置後，該感測器即完成整個第一料盤31之檢查作業，工作人員即可排除第一料盤31之第一容置槽311A內殘留的待測電子元件，由於該輸送機構61尚未承置下一空的料盤，因此，該輸送機構61之第一驅動源612係驅動輸送件613反向運轉，輸送件613係輸送已檢查完畢且無殘留電子元件之第一料盤31作Y方向位移至第一位置以供取盤。

請參閱第14圖，當收料裝置40需要補充空的料盤時，該搬移裝置70係以移盤器79作X-Y-Z方向位移至空匣裝置60，並於輸送件613上取出空的第一料盤31，由於空的第一料盤31已檢查完畢，並無殘留待測電子元件，該移盤器79即可將空的第一料盤31移載補充至收料裝置40，以利盛裝已測電子元件。

請參閱第15圖，由於空匣裝置60係設有收盤機構63，當輸送機構61欲承置下一空的料盤32時，該輸送機構61之第一驅動源612並不會驅動輸送件613將第一料盤31由第二位置輸送至第一位置，該空匣裝置60係利用收盤機構63之第三驅動源634驅動托板635作Z方向向上位移，令托板635托持輸送件613上之第一料盤31作Z方向向上位移，而位於第二驅動源631之上方，該第二驅動源631係驅動承板632作X方向位移，於第三驅動源634驅動托板635作Z方向向下位移時，即可將托板635上之第一料盤31放置於承板632上收置。

20‧‧‧機台

30‧‧‧供料裝置

31‧‧‧第一料盤

311‧‧‧第一容置槽

312‧‧‧第一通孔

40‧‧‧收料裝置

41‧‧‧第二料盤

411‧‧‧第二容置槽

412‧‧‧第二通孔

50‧‧‧作業裝置

51‧‧‧測試電路板

52‧‧‧測試座

60‧‧‧空匣裝置

61‧‧‧輸送機構

62‧‧‧檢查機構

63‧‧‧收盤機構

70‧‧‧搬移裝置

71‧‧‧第一入料載台

72‧‧‧第一出料載台

73‧‧‧第二入料載台

74‧‧‧第二出料載台

75‧‧‧第一拾取器

76‧‧‧第二拾取器

77‧‧‧第一壓取器

78‧‧‧第二壓取器

79‧‧‧移盤器

Claims (10)

1. 一種電子元件作業設備，包含：機台；供料裝置：係裝配於該機台上，並設有至少一容納待作業電子元件之料盤；收料裝置：係裝配於該機台上，並設有至少一容納已作業電子元件之料盤；作業裝置：係裝配於該機台上，並設有至少一作業器，以對電子元件執行預設作業；空匣裝置：係裝配於該機台上，並設有輸送機構及檢查機構，該輸送機構係設有機架，並於該機架上裝配有至少一輸送器，該輸送器係設有第一驅動源，以驅動至少一呈第二方向配置且具有第一、二位置之輸送件，該輸送件之第一位置係承置該供料裝置所輸出之空料盤，並供輸出空料盤，該輸送件將空料盤由第一位置作第二方向位移輸送至第二位置，該檢查機構係於該輸送機構之輸送器的輸送路徑配置有至少一感測器，以感測該輸送器由該第一位置所輸送至該第二位置之空料盤內是否殘留有電子元件，於檢查完畢，該輸送件將空料盤由第二位置輸送至第一位置；搬移裝置：係裝配於該機台上，並設有至少一拾取器，用以移載電子元件，該搬移裝置另設有至少一移盤器，以於該供料裝置、該收料裝置及該空匣裝置間移載空的料盤；中央控制裝置：係用以控制及整合各裝置作動，而執行自動化作業。
2. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業設備，其中，該供料裝置係設有具複數個第一容置槽之第一料盤，該第一容置槽係承置待作業之電子元件，並於底面開設有第一通孔。
3. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業設備，其中，該收料裝置係設有具複數個第二容置槽之第二料盤，該第二容置槽係承置已作業之電子元件，並於底面開設有第二通孔。
4. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業設備，其中，該作業裝置之作業器係為具測試電路板及測試座之測試器。
5. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業設備，其中，該空匣裝置之輸送機構係於該輸送件之至少一端設有限位件，以限位該空料盤。
6. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業設備，其中，該空匣裝置之檢查機構的感測器係於該輸送器之上、下方裝配有相對應之發射元件及接收元件，以於該輸送器輸送該空料盤通過該感測器時，該感測器係檢查該空料盤內是否殘留有電子元件。
7. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業設備，更包含該空匣裝置係設有收盤機構，該收盤機構係設有至少一承置器，以承置空的料盤。
8. 依申請專利範圍第7項所述之電子元件作業設備，其中，該收盤機構之承置器係設有第二驅動源，以帶動至少一承板作第一方向位移，另該收盤機構係設有至少一托盤器，以將該輸送機構上之空料盤移送至該承置器上收置。
9. 依申請專利範圍第8項所述之電子元件作業設備，其中，該收盤機構之托盤器係設有第三驅動源，以驅動至少一托板作第三方向位移，該托板係將該輸送機構上之空料盤移送至該承置器之承板收置。
10. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件作業設備，其中，該搬移裝置係設有至少一入料載台及至少一出料載台，以分別載送待作業電子元件及已作業電子元件，該搬移裝置係設有第一拾取器及第二拾取器，該第一拾取器係於該供料裝置及該至少一入料載台間移載待作業之電子元件，該第二拾取器係於該收料裝置及該至少一出料載台間移載已作業之電子元件，又該搬移裝置係設有第一壓取器及第二壓取器，以於該作業裝置及該至少一入、出料載台間移載待作業/已作業之電子元件。