TWI452312B

TWI452312B - Counter - type electronic component testing equipment

Info

Publication number: TWI452312B
Application number: TW101132755A
Authority: TW
Original assignee: Hon Tech Inc
Priority date: 2012-09-07
Filing date: 2012-09-07
Publication date: 2014-09-11
Also published as: TW201411156A

Description

對置式電子元件測試分類設備

本發明係提供一種可使輸送裝置有效縮短移載行程，以及在有效減低佔用機台台面空間的前提下，達到易於擴充測試區之對置式電子元件測試分類設備。

請參閱第1、2圖，其係為台灣專利申請第91105851號『IC測試處理機』專利案，該測試處理機係於機台10前端分別裝設有供料匣/升降器11、空匣/升降器12及輸出匣13，供料匣/升降器11係裝填有待測IC，空匣/升降器12則接收由供料匣/升降器11使用完之空的供料匣，並可依需要取出至輸出匣之承座，以利放置完測之IC，輸出匣係可細分不同等級之輸出匣13a、13b、13c，以儲放完測之不同等級IC，數個測試埠14a、14b、14c、14d係設於機台10之後端，各測試埠14a、14b、14c、14d內平行排列設置具有測試座15a、15b、15c、15d之測試板16a、16b、16c、16d，以及於測試板16a、16b、16c、16d前端各設有一對待測IC旋轉緩衝台17a、17b、17c、17d及完測IC旋轉緩衝台18a、18b、18c、18d，另一IC輸送機構19係週旋於供料匣/升降器11、各測試埠14a、14b、14c、14d及輸出匣13a、13b、13c間，以負責各機構間之IC輸送工作，以及可增設有預熱匣20，以對待測之IC於測試前進行預熱的作業；進行IC測試作業時，若測試板16a、16b、16c、16d之測試座15a、15b、15c、15d的IC放置方向與供料匣/升降器11內IC放置方向相同時，則係直接先以IC輸送機構19將供料匣/升降器11上之待測IC取出，並分別輸送放置於各測試座15a、15b、15c、15d內，於完成測試後，再由IC輸送機構19分別將測試座15a、15b、15c、15d內完測之IC取出，並依據測試結果將完測之IC輸送至各輸出匣13a、13b、13c 置放；若測試板16a、16b、16c、16d之測試座15a、15b、15c、15d的IC放置方向與供料匣/升降器11內IC放置方向不同時，則係先以IC輸送機構19將供料匣/升降器11上之待測IC取出，並分別輸送放置於待測IC旋轉緩衝台17a、17b、17c、17d上，轉動待測IC旋轉緩衝台17a、17b、17c、17d之方向，使IC角位相同於各測試座15a、15b、15c、15d後，再以IC輸送機構19將IC放入各測試座15a、15b、15c、15d內，於完成測試後，再由IC輸送機構19分別將測試座15a、15b、15c、15d內完測之IC取出，並放置於完測IC旋轉緩衝台18a、18b、18c、18d上，使IC角位相同於輸出匣13a、13b、13c，接著再由IC輸送機構19依據測試結果將完測之IC輸送至各輸出匣13a、13b、13c置放；該測試處理機之設計架構具有如下之缺弊：

1．該測試處理機之各測試埠14a、14b、14c、14d係於機台10的後端平行排列設置測試板16a、16b、16c、16d，因此當因需求而增設測試埠時，將使得機體必須不斷地向兩側延伸擴充，而造成機體過大，即伴隨產生廠房空間不敷使用的情形。

2．當該測試處理機機體不斷地向兩側延伸擴充增設測試埠後，IC輸送機構19必須作較遠的運動行程週旋於各測試座15a、15b、15c、15d及供料匣/升降器11及輸出匣13a、13b、13c間，其將導致IC輸送機構19工作負荷過多，而無法依據時序安排順暢的進行IC的輸送作業，此即可能導致部份測試埠待機的情形，而降低測試作業的生產效率。

有鑑於此，本發明人遂以其多年從事相關行業的研發與製作經驗，針對目前所面臨之問題深入研究，經過長期努力之研究與試作，終究研創出一種可有效節省空間及提升作業速度之測試分類設備，以有效改善習式之缺弊，此即為本發明之設計宗旨。

本發明之目的一，係提供一種對置式電子元件測試分類設備，該測試分類設備主要係於機台上配置有供料裝置、收料裝置、測試裝置及輸送裝置；其中，該測試裝置係於機台之至少二側設有複數排呈對向設置之測試區，並於各測試區設有具至少一測試座之測試電路板，用以測試電子元件，進而可利用機台二側對向設置測試區的方式，使機台在有效減低佔用機台台面空間的前提下，達到易於擴充測試區之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種對置式電子元件測試分類設備，該測試分類設備主要係於機台上配置有供料裝置、收料裝置、測試裝置及輸送裝置；其中，該測試裝置係於機台之至少二側設有複數排呈對向設置之測試區，並於各測試區設有具至少一測試座之測試電路板，用以測試電子元件，進而可利用機台二側對向設置測試區的方式，使輸送裝置可有效縮短移載行程，以有效確保測試作業的生產效率。

為使貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如后：請參閱第3圖，本發明對置式電子元件測試分類設備，其係於機台30配置有供料裝置31、空盤裝置32、收料裝置33、測試裝置34、輸送裝置35及用以控制及整合各裝置作動以執行自動化測試作業之中央控制單元(圖式未示)；該供料裝置31係可升降承載複數個料盤311，每個料盤311並可容納至少一待測之電子元件，該空盤裝置32係可升降承載複數個空的料盤321，並以一移盤器322將供料裝置31之空料盤移載至空盤裝置32，或將空盤裝置32上的空料盤移載至收料裝置33，收料裝置33係供容納至少一完測之電子元件，於本實施例中，收料裝置33係分別設有第一等級收料裝置331、第二等級收料裝置332以及第三~十六等級之複合式收料裝置333(容後再述)，測試裝置34係於機台30之二側設有複數排呈對向設置之測試區，於本實施例中，係於機台30之二側分別設有6排測試區34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g、34h、34i、34j、34k、34l，各測試區34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g、34h、34i、34j、34k、34l分別設有具至少一測試座341之測試電路板342，用以供置入待測電子元件並執行測試作業，本發明由於在機台二側對向設置複數排測試區，因此可有效減低佔用機台台面空間，並易於擴充測試區，以增加測試產能；另各測試區34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g、34h、34i、34j、34k、34l內之測試座341係可為常開型測試座或常閉型測試座，於本實施例中，各測試座341係為常開型測試座，為了確保待測電子元件與各測試座341保持良好的電性接觸，各測試座341之上方係設有可升降壓抵待測電子元件之下壓頭343；然，若各測試座341為常閉型測試座時，則該下壓頭343係升降壓抵開啟常閉型測試座，以供置入待測電子元件；輸送裝置35係於供料裝置31、收料裝置33及測試裝置34間載送待測電子元件或完測電子元件，本發明由於在機台二側對向設置複數排測試區，因此輸送裝置35可以較短移載行程，於供料裝置31、收料裝置33及測試裝置34間載送待測電子元件或完測電子元件；於本實施例中，該輸送裝置35係設有第一移載取放器351、第二移載取放器352、第三移載取放器353、第一轉載台354及第二轉載台355，第一移載取放器351係設於機台30的前端，並可作三軸向的移動，其係具有第一、二吸嘴3511、3512，以將供料裝置31之料盤311內的待測電子元件移載至第一轉載台354或第二轉載台355，以及將第一轉載台354或第二轉載台355內的完測電子元件移載至收料裝置33分類置放；請參閱第3、4圖，本發明之第一轉載台354及第二轉載台355係分別對應設於機台30二側測試區34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g、34h、34i、34j、34k、34l的前側方，第一轉具有第一供料台座3541及第一收料台座3542，第一供料台座3541供放置由第一移載取放器351移載之待測電子元件，第一收料台座3542則供放置由第二移載取放器352移載之完測電子元件；第二轉載台355係相同於第一轉載台354，而具有第二供料台座3551及第二收料台座3552，第二供料台座3551供放置由第一移載取放器351移載之待測電子元件，第二收料台座3552則供放置由第三移載取放器353移載之完測電子元件；於本實施例中，本發明之第一轉載台354或第二轉載台355，其第一供料台座3541及第一收料台座3542(第二供料台座3551及第二收料台座3552)係可由第一驅動源3543(3553)帶動作直線滑移，且可同時由第二驅動源3544(3554)帶動旋轉，以於測試座341的電子元件放置方向與供料裝置31內待測電子元件放置方向不同時，作為角位的轉換使用，惟當測試座341的電子元件放置方向與供料裝置31內待測電子元件放置方向相同時，則無需使第一供料台座3541及第一收料台座3542(第二供料台座3551及第二收料台座3552)旋轉。請參閱第3、5圖，第二移載取放器352及第三移載取放器353係分別對應設於機台30二側測試區34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g、34h、34i、34j、34k、34l的側方，並可作三軸向的移動；第二移載取放器352係移動於右側測試區34a、34b、34c、34d、34e、34f及第一轉載台354間，其並具有第三、四吸嘴3521、3522及一可為CCD之第一檢視器3523，第一檢視器3523係供檢視各測試座341內之完測電子元件是否已移除，或檢視各測試座341內之待測電子元件是否放置正確，第三、四吸嘴3521、3522則分別自第一轉載台354移載待測電子元件至各測試座341內，以及將完測電子元件自各測試座341內移載至第一轉載台354；第三移載取放器353則移動於左側測試區34g、34h、34i、34j、34k、34l及第二轉載台355 間，其並具有第五、六吸嘴3531、3532及一可為CCD之第二檢視器3533，第二檢視器3533係供檢視各測試座341內之完測電子元件是否已移除，或檢視各測試座341內之待測電子元件是否放置正確，第五、六吸嘴3531、3532則分別自第二轉載台355移載待測電子元件至各測試座341內，以及將完測電子元件自各測試座341內移載至第二轉載台355；此外，於機台30適當位置處分別設有第一、二加熱盤36、37，以提供待測電子元件預熱使用。

請參閱第6圖，本發明係利用第一移載取放器351將供料裝置31之料盤311內的待測電子元件40a分別移載至第一轉載台354之第一供料台座3541或第二轉載台355之第二供料台座3551。請參閱第7圖，接著第一轉載台354及第二轉載台355將會直線滑移一小段距離(如測試座341的電子元件放置方向與供料裝置31內待測電子元件放置方向相同時，則無需使第一轉載台354之第一供料台座3541及第一收料台座3542及第二轉載台355之第二供料台座3551及第二收料台座3552旋轉)，第二移載取放器352移動至第一轉載台354之第一供料台座3541位置取出待測電子元件40a，並再移動至右側的測試區34a；而第三移載取放器353則移動至第二轉載台355之第二供料台座3551位置取出待測電子元件40a，並再移動至左側的測試區34g。請參閱第8圖，如右測的測試區34a內已有完測電子元件，接著第二移載取放器352會先以第四吸嘴3522吸取測試座341內之完測電子元件41a，並以第一檢視器3523檢視測試座341內之完測電子元件是否已移除，再由第三吸嘴3521將待測電子元件40a置入測試區34a之測試座341內，經第一檢視器3523檢視測試座341內之待測電子元件40a是否放置正確後，下壓頭343即下降壓抵測試座341內之待測電子元件40a，使其與測試座341保持良好的電性接觸，以執行測試作業，至於第三移載取放器353則於左側的測試區34g進行相同的動作。請參閱第9圖，第二移載取放器352移動到第一轉載台354的位置時，由於第一移載取放器351已將另一待測電子元件40a移載至第一轉載台354之第一供料台座3541上，因此第二移載取放器352之第四吸嘴3522會將完測電子元件41a置入於第一轉載台354之第一收料台座3542上，同時以第三吸嘴3521取出第一供料台座3541上之待測電子元件40a，並再移動至右側的測試區34b，至於第三移載取放器353則於第二轉載台355進行相同的動作。請參閱第10圖，接著，第一移載取放器351將另一待測電子元件40a再次移載至第一轉載台354之第一供料台座3541上，並同時取出第一轉載台354之第一收料台座3542上的完測電子元件41a，並將該完測電子元件41a依據測試結果分類放置於第一等級收料裝置331或第二等級收料裝置332或第三~十六等級之複合式收料裝置333。

請參閱第11圖，由於電子元件之測試等級細分增加至十多種等級，若欲因應收置第一至十多種不同等級之電子元件，而於機台上水平增設十多個收料裝置，勢必使機體不斷向兩側擴充，以致機體相當龐大，造成佔用空間且不利廠房空間配置之缺失，但若不增設十多個收料裝置，則無法因應擴增之測試等級，造成測試等級受限而無法提升測試品質之缺失；因此本發明將部份較少出現之測試等級歸屬於複合式收料裝置333收納，該複合式收料裝置333其包含有為直立多層式匣體之收納匣3331，用以承置複數個可盛裝不同等級完測電子元件之收料盤3334，一用以承置收納匣3331輸出之各收料盤3334的承盤器3332，以及一用以將收納匣3331中之各收料盤3334移載至承盤器3332上之移盤器3333，該收納匣3331由於為直立多層式匣體，為了可移出收納匣3331之各收料盤3334，以供分類放置各完測電子元件，可採用收納匣3331升降的方式或承盤器3332升降的方式，將對應之收料盤3334移出收納匣3331，於本實施例中，係為承盤器33 32升降的方式對應移出收料盤3334；該承盤器3332係以第一動力組3335驅動升降，於承盤器3332上則裝設移盤器3333，移盤器3333並以第二動力組3336驅動橫向位移，而可將收納匣3331之各收料盤3334移出至承盤器3332上，再由承盤器3332上帶動上升至適當位置處，以供第一移載取放器351依據測試結果，將完測電子元件41a分類放置於該複合式收料裝置333。

本發明在機台上利用二側對向設置測試區的方式，不僅可使輸送裝置有效縮短移載行程，且機台在可有效減低佔用機台台面空間的前提下，而可達到易於擴充測試區，以增加測試產能。據此，本發明實為一深具實用性及進步性之設計，然未見有相同之產品及刊物公開，從而允符發明專利申請要件，爰依法提出申請。

習式部份：

10‧‧‧機台

11‧‧‧供料匣/升降器

12‧‧‧空匣/升降器

13、13a、13b、13c‧‧‧輸出匣

14a、14b、14c、14d‧‧‧測試埠

15a、15b、15c、15d‧‧‧測試座

16a、16b、16c、16d‧‧‧測試板

17a、17b、17c、17d‧‧‧待測IC旋轉緩衝台

18a、18b、18c、18d‧‧‧完測IC旋轉緩衝台

19‧‧‧IC輸送機構

20‧‧‧預熱匣

本發明部份：

30‧‧‧機台

31‧‧‧供料裝置

311‧‧‧料盤

32‧‧‧空盤裝置

321‧‧‧料盤

322‧‧‧移盤器

33‧‧‧收料裝置

331‧‧‧第一等級收料裝置

332‧‧‧第二等級收料裝置

333‧‧‧複合式收料裝置

3331‧‧‧收納匣

3332‧‧‧承盤器

3333‧‧‧移盤器

3334‧‧‧收料盤

3335‧‧‧第一動力組

3336‧‧‧第二動力組

34‧‧‧測試裝置

34a、34b、34c、34d、34e、34f‧‧‧測試區

34g、34h、34i、34j、34k、34l‧‧‧測試區

341‧‧‧測試座

342‧‧‧測試電路板

343‧‧‧下壓頭

35‧‧‧輸送裝置

351‧‧‧第一移載取放器

3511‧‧‧第一吸嘴

3512‧‧‧第二吸嘴

352‧‧‧第二移載取放器

3521‧‧‧第三吸嘴

3522‧‧‧第四吸嘴

3523‧‧‧第一檢視器

353‧‧‧第三移載取放器

3531‧‧‧第五吸嘴

3532‧‧‧第六吸嘴

3533‧‧‧第二檢視器

354‧‧‧第一轉載台

3541‧‧‧第一供料台座

3542‧‧‧第一收料台座

3543‧‧‧第一驅動源

3544‧‧‧第二驅動源

355‧‧‧第二轉載台

3551‧‧‧第二供料台座

3552‧‧‧第二收料台座

3553‧‧‧第一驅動源

3554‧‧‧第二驅動源

36‧‧‧第一加熱盤

37‧‧‧第二加熱盤

第1圖：係為台灣專利申請第91105851號『IC測試處理機』專利案之配置示意圖。

第2圖：係為台灣專利申請第91105851號『IC測試處理機』專利案之部分外觀示意圖。

第3圖：本發明對置式測試區之架構示意圖。

第4圖：本發明第一、二轉載台之示意圖。

第5圖：本發明二側測試區及移載取放器之示意圖。

第6圖：本發明之動作示意圖(一)。

第7圖：本發明之動作示意圖(二)。

第8圖：本發明之動作示意圖(三)。

第9圖：本發明之動作示意圖(四)。

第10圖：本發明之動作示意圖(五)。

第11圖：本發明複合式收料裝置之示意圖(一)。

第12圖：本發明複合式收料裝置之示意圖(二)。