TW201421013A

TW201421013A - 電子元件檢查分類設備

Info

Publication number: TW201421013A
Application number: TW101142895A
Authority: TW
Inventors: wei-yan Zheng; huan-wei Chen; zheng-xin Lai; yun-jie Cao
Original assignee: Prov Technology Corp
Priority date: 2012-11-16
Filing date: 2012-11-16
Publication date: 2014-06-01
Also published as: TWI477767B

Abstract

一種電子元件檢查分類設備，其包含複數個置料裝置、取像裝置、分類裝置、搬移裝置及中央控制裝置，複數個置料裝置係分別設有至少一盛裝待檢查電子元件之料盤，取像裝置係於複數個置料裝置間設有共用之3D取像器，並設有至少一可位移作動之2D取像器，搬移裝置係設有複數個移料器，用以交替將各置料裝置處之待檢查電子元件移載至3D取像器進行取像作業，於3D取像完畢後，取像裝置係以2D取像器對各置料裝置上之電子元件進行2D取像作業，並將3D/2D取像資料傳輸至中央控制裝置，分類裝置係設有盛裝良品電子元件之良品區及盛裝不良品電子元件之不良品區，中央控制裝置係控制搬移裝置之換料器將各置料裝置之料盤上的不良品電子元件移載至分類裝置之不良品區，並將良品區之良品電子元件補置於料盤上，使各置料裝置之料盤收置整盤良品電子元件，達到節省設備成本及增加檢查產能之實用效益。

Description

電子元件檢查分類設備

本發明係提供一種於複數個置料裝置間設有共用之3D取像器，並搭配具複數個移料器之搬移裝置，而提升3D取像器之使用效能，以及易於分類收置電子元件，進而節省設備成本及增加檢查產能之電子元件檢查分類設備。

在現今，電子元件於製作完成後，業者係以檢查設備對電子元件進行接點、外觀、真圓度或型號等檢查作業，請參閱第1圖，係為習知電子元件檢查設備之示意圖，其係於機台11上配置有一具供料區121及載台122之供料器12，其供料區121係容置有盛裝待檢查電子元件14之料盤13，並以載台122將具待檢查電子元件14之料盤13作第一方向(如X方向)位移載送至移料器15之下方，移料器15係作第二、三方向(如Y、Z方向)位移於載台122上之料盤13取出待檢查的電子元件14，並移載至3D取像器16處，3D取像器16即對料盤13上之電子元件14進行3D取像作業，並將取像資料傳輸至中央控制裝置(圖未示出)，中央控制裝置即對電子元件14進行接點、外觀、腳位或真圓度等檢查作業，移料器15再將3D取像完畢之電子元件14放回料盤13，進而依序取出下一批待檢查之電子元件14，於各電子元件14完成3D取像作業後，檢查設備係以移盤器17將料盤14移載至一具載台181及收料區182之收料器18處，收料器18係以載台181將料盤13載送至2D取像器19之下方，2D取像器19係作第二方向位移對料盤13上之電子元件14進行2D取像作業，並將取像資料傳輸至中央控制裝置，中央控制裝置即對電子元件14進行型號、商標等檢查作業，於各電子元件14完成2D取像作業後，載台181係將具已檢查電子元件14之料盤13載送至收料區182收置；惟，該檢查設備係於一供料器12之側方配置一3D取像器16，以對電子元件14進行3D取像作業，但3 D取像器16之購置成本相當昂貴，若於增設之各供料器12側方均增配一3D取像器16，對於整體檢查設備而言，勢必大幅增加成本，又移料器15係將電子元件14移載至3D取像器16取像後，再放回料盤13收置，並待料盤13作第一方向位移，方可於料盤13上取出下一電子元件，但卻導致3D取像器16於移料器15執行取放電子元件14作業時，必須待機空等下一取像之電子元件14，不僅無法發揮3D取像器16之使用效能，更降低檢查設備之生產效能。

本發明之目的一，係提供一種電子元件檢查分類設備，其包含複數個置料裝置、取像裝置、分類裝置、搬移裝置及中央控制裝置，複數個置料裝置係分別設有至少一盛裝待檢查電子元件之料盤，取像裝置係於複數個置料裝置間設有共用且取像電子元件之3D取像器，並設有至少一可位移作動且取像電子元件之2D取像器，搬移裝置係設有複數個移料器，用以將複數個置料裝置處之待檢查電子元件移載至共用之3D取像器進行取像作業，使得檢查分類設備可利用各裝置之時序搭配作動，毋須於各置料裝置之側方相對增設3D取像器，達到大幅節省設備成本之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種電子元件檢查分類設備，其中，該搬移裝置係設有複數個移料器，用以將複數個置料裝置處之待檢查電子元件移載至共用之3D取像器進行取像作業，進而縮減3D取像器之空等待機時間，以充份發揮3D取像器之使用效能，達到提升設備生產效能之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種電子元件檢查分類設備，其中，該分類裝置係設有至少一盛裝良品電子元件之良品區、至少一盛裝不良品電子元件之不良品區及至少一盛裝次級品電子元件之次級品區，該搬移裝置係設有至少一換料器，用以於複數個置料裝置及分類裝置間補換電子元件，當各置料裝置之料盤上的各電子元件執行3D/2D取像作業完畢後，中央控制裝置係控制搬移裝置之換料器將置料裝置之料盤上的不良品電子元件移載至分類裝置之不良品區，並將良品區之良品電子元件補置於置料裝置之料盤上，使各置料裝置之料盤收置整盤良品電子元件，達到易於分類收料之實用效益。

為使貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如后：請參閱第2圖，本發明電子元件檢查分類設備包含機台20、複數個置料裝置、取像裝置50、分類裝置60、搬移裝置70及中央控制裝置(圖未示出)，複數個置料裝置係配置於機台20上，並分別設有至少一盛裝待檢查電子元件之料盤，於本實施例中，檢查分類設備係設有第一置料裝置30及第二置料裝置40，其中，該第一置料裝置30係設有第一供料區31及第一收料區32，第一供料區31係設有複數個第一承置器311，用以承置至少一盛裝待檢查電子元件811之料盤81，第一收料區32係設有複數個第二承置器321，用以承置至少一盛裝已檢查電子元件之料盤，另設有至少一於第一供料區31及第一收料區32間載送料盤81之載台，於本實施例中，係設有第一載台331及第二載台332，第一、二載台331、332係分別由第一、二驅動源341、342驅動作第一、三方向位移，以交替於第一供料區31載出盛裝待檢查電子元件811之料盤81，並將料盤81載送至第一收料區32收置；該第二置料裝置40係設有第二供料區41及第二收料區42，第二供料區41係設有複數個第三承置器411，用以承置至少一盛裝待檢查電子元件821之料盤82，第二收料區42係設有複數個第四承置器421，用以承置至少一盛裝已檢查電子元件之料盤，另設有至少一於第二供料區41及第二收料區42間載送料盤82之載台，於本實施例中，係設有第三載台431及第四載台432，第三、四載台431、432係分別由第三、四驅動源441、442驅動作第一、三方向位移，以交替於第二供料區41 載出盛裝待檢查電子元件821之料盤82，並將料盤82載送至第二收料區42收置；該取像裝置50係裝配於機台20，並於複數個置料裝置間設有共用之3D取像器，用以取像電子元件，取像裝置50另設有至少一可位移作動之2D取像器，用以取像電子元件，取像裝置50係將3D/2D之取像資料傳輸至中央控制裝置，於本實施例中，該取像裝置50係於第一、二置料裝置30、40間設有3D取像器51，並於第一置料裝置30之上方設有至少一由第一機械手臂52帶動作第二方向位移之第一2D取像器53，用以取像電子元件，以及於第二置料裝置40之上方設有至少一由第二機械手臂54帶動作第二方向位移之第二2D取像器55，用以取像電子元件；該分類裝置60係裝配於機台20，並設有至少一盛裝良品電子元件之良品區，以供換料，更進一步，係於固定式之承置台或活動式之承置台上配置有至少一盛裝良品電子元件之良品區，於本實施例中，係設有至少一由動力機構62驅動作至少一第一方向位移之承置台61，並於承置台61上配置有良品區63、不良品區64及次級品區65，良品區63係容置至少一盛裝良品電子元件831之料盤83，不良品區64係容置至少一空的料盤84，用以盛裝不良品電子元件，次級品區65係容置至少一空的料盤85，用以盛裝次級品電子元件；該搬移裝置70係裝配於機台20，並設有複數個移料器，以分別將至少一置料裝置處之電子元件移載至3D取像器51進行取像作業，另設有至少一換料器，用以於至少一置料裝置與分類裝置60間進行補換料作業，於本實施例中，係設有第一、二移料器71、72，第一移料器71係由第一動力源73驅動作第二、三方向位移，以於第一置料裝置30及3D取像器51間移載電子元件811，第二移料器72係由第二動力源74驅動作第二、三方向位移，以於第二置料裝置40及3D取像器51間移載電子元件821，另搬移裝置70係設有第一、二換料器75、76，第一換料器75係由第三動力源77驅動作第二、三方向位移，用以將第一置料裝置30之料盤81上的不良品電子元件或次級品電子元件移載至分類裝置60之不良品區64的料盤84或次級品區65的料盤85，並將良品區63之料盤83上的良品電子元件831補置於第一置料裝置30之料盤81上，使第一置料裝置30之料盤81收置整盤良品之電子元件，第二換料器76係由第四動力源78驅動作第二、三方向位移，用以將第二置料裝置40之料盤82上的不良品電子元件或次級品電子元件移載至分類裝置60之不良品區64的料盤84或次級品區65的料盤85，並將良品區63之料盤83上的良品電子元件831補置於第二置料裝置40之料盤82上，使第二置料裝置40之料盤82收置整盤良品之電子元件，該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。

請參閱第3圖，第一置料裝置30係以第一驅動源341驅動第一載台331作第三方向位移，而於第一供料區31之第一承置器311處移載具待檢查電子元件811之料盤81，於第一載台331承載料盤81後，第一驅動源341係驅動第一載台331作第一方向位移將料盤81載送至搬移裝置70之第一移料器71處，第一移料器71係由第一動力源73驅動作第二、三方向位移，而於料盤81上取出待檢查之電子元件811；請參閱第4圖，第一移料器71係由第一動力源73驅動作第二方向位移，將待檢查之電子元件811移載至3D取像器51處，3D取像器51即對待檢查之電子元件811進行3D取像作業，並將取像資料傳輸至中央控制裝置，中央控制裝置係檢查電子元件811之接點、外觀、腳位或真圓度等，另第二置料裝置40係以第三驅動源441驅動第三載台431作第三方向位移，而於第二供料區41之第三承置器411處移載具待檢查電子元件821之料盤82，於第三載台431承載料盤82後，第三驅動源441係驅動第三載台431作第一方向位移將料盤82載送至搬移裝置70之第二移料器72處，第二移料器72係由第二動力源74驅動作第二、三方向位移，而於料盤82上取出待檢查之電子元件821；請參閱第5圖，於3D取像器51取像電子元件811完畢後，第一移料器71係作第二方向位移將電子元件811移載至第一置料裝置30處，並放回料盤81，第二移料器72係由第二動力源74驅動作第二方向位移，將待檢查之電子元件821接續移載至3D取像器51處，3D取像器51即對待檢查之電子元件821進行3D取像作業，並將取像資料傳輸至中央控制裝置，中央控制裝置係檢查電子元件821之接點、外觀、腳位或真圓度等；請參閱第6圖，於料盤81上之各電子元件811執行3D取像作業完畢後，第一置料裝置30係以第一驅動源341驅動第一載台331作第一方向位移，將料盤81載送至取像裝置50之第一2D取像器53處，第一2D取像器53係由第一機械手臂52驅動作第二方向位移，而對料盤81上待檢查之電子元件811進行2D取像作業，並將取像資料傳輸至中央控制裝置，中央控制裝置係檢查電子元件811之型號、商標等；請參閱第7圖，於料盤81上之各電子元件811執行3D/2D取像作業完畢後，第一置料裝置30係以第一驅動源341驅動第一載台331作第一方向位移，將料盤81載送至第一換料器75處，該分類裝置60係以動力機構62驅動承置台61作第一方向位移，使良品區63、不良品區64及次級品區65位於料盤81之側方，中央控制裝置係依檢查結果，而控制第一換料器75作第二、三方向位移將料盤81上之不良品電子元件811A取出，另料盤82上之各電子元件821執行3D取像作業完畢後，第二置料裝置40係以第三驅動源441驅動第三載台431作第一方向位移，將料盤82載送至取像裝置50之第二2D取像器55處，第二2D取像器55係由第二機械手臂54驅動作第二方向位移，而對料盤82上之電子元件821進行2D取像作業，並將取像資料傳輸至中央控制裝置，中央控制裝置係檢查電子元件821之型號、商標等；請參閱第8圖，第一換料器75作第二、三方向位移將不良品電子元件811A移載至分類裝置60之不良品區6 4的空料盤84分類收置；請參閱第9圖，中央控制裝置係控制第一換料器75作第二、三方向位移，於分類裝置60之良品區63的料盤83取出良品電子元件831，並移載補置於第一置料裝置30之料盤81上；請參閱第10圖，於第一置料裝置30之料盤81執行換補料作業完畢後，該料盤81係盛裝整盤均為良品之電子元件811、831，第一置料裝置30係以第一驅動源341驅動第一載台331作第一、三方向位移，將整盤具良品電子元件811、831之料盤81載送至第一收料區32處，並置放於第二承置器321上收置。

〔習知〕

11‧‧‧機台

12‧‧‧供料器

121‧‧‧供料區

122‧‧‧載台

13‧‧‧料盤

14‧‧‧電子元件

15‧‧‧移料器

16‧‧‧3D取像器

17‧‧‧移盤器

18‧‧‧收料器

181‧‧‧載台

182‧‧‧收料區

19‧‧‧2D取像器

〔本發明〕

20‧‧‧機台

30‧‧‧第一置料裝置

31‧‧‧第一供料區

311‧‧‧第一承置器

32‧‧‧第一收料區

321‧‧‧第二承置器

331‧‧‧第一載台

332‧‧‧第二載台

341‧‧‧第一驅動源

342‧‧‧第二驅動源

40‧‧‧第二置料裝置

41‧‧‧第二供料區

411‧‧‧第三承置器

42‧‧‧第二收料區

421‧‧‧第四承置器

431‧‧‧第三載台

432‧‧‧第四載台

441‧‧‧第三驅動源

442‧‧‧第四驅動源

50‧‧‧取像裝置

51‧‧‧3D取像器

52‧‧‧第一機械手臂

53‧‧‧第一2D取像器

54‧‧‧第二機械手臂

55‧‧‧第二2D取像器

60‧‧‧分類裝置

61‧‧‧承置台

62‧‧‧動力機構

63‧‧‧良品區

64‧‧‧不良品區

65‧‧‧次級品區

70‧‧‧搬移裝置

71‧‧‧第一移料器

72‧‧‧第二移料器

73‧‧‧第一動力源

74‧‧‧第二動力源

75‧‧‧第一換料器

76‧‧‧第二換料器

77‧‧‧第三動力源

78‧‧‧第四動力源

81‧‧‧料盤

811、811A‧‧‧電子元件

82‧‧‧料盤

821‧‧‧電子元件

83‧‧‧料盤

831‧‧‧電子元件

84、85‧‧‧料盤

第1圖：習知電子元件檢查設備之示意圖。

第2圖：本發明電子元件檢查分類設備之示意圖。

第3圖：本發明電子元件檢查分類設備之使用示意圖(一)。

第4圖：本發明電子元件檢查分類設備之使用示意圖(二)。

第5圖：本發明電子元件檢查分類設備之使用示意圖(三)。

第6圖：本發明電子元件檢查分類設備之使用示意圖(四)。

第7圖：本發明電子元件檢查分類設備之使用示意圖(五)。

第8圖：本發明電子元件檢查分類設備之使用示意圖(六)。

第9圖：本發明電子元件檢查分類設備之使用示意圖(七)。

第10圖：本發明電子元件檢查分類設備之使用示意圖(八)。