TW201346287A

TW201346287A - 電子元件輸送裝置及其應用測試設備

Info

Publication number: TW201346287A
Application number: TW101116917A
Authority: TW
Inventors: Ming-Hong Huang
Original assignee: Hon Tech Inc
Priority date: 2012-05-11
Filing date: 2012-05-11
Publication date: 2013-11-16
Also published as: TWI445978B

Abstract

一種電子元件輸送裝置，其係設有至少一移載單元，該移載單元包含至少一移料機構及壓掣機構，移料機構係設有至少一由驅動源驅動位移之移料器，移料器係設有具承壓板之承架，並於承壓板之下方設有至少一可拾取移載電子元件之拾取件，壓掣機構係位於移料機構之上方，並設有至少一由動力源驅動位移之壓具，用以提供電子元件於壓測作業所需之壓力；藉此，可利用結構簡易且體積小之移料器將電子元件移入測試座，並以壓掣機構使電子元件平均受力而確實接觸測試座，不僅可均壓電子元件，並迅速移載取放電子元件，達到提升測試效能及節省成本之實用效益。

Description

電子元件輸送裝置及其應用測試設備

本發明係提供一種機構設計簡易，並可迅速移載取放電子元件，以及使電子元件平均受力壓測，進而提升測試效能及節省成本之輸送裝置。

請參閱第1圖，係為申請人先前申請之台灣發明第I233997號「IC檢測裝置(二)」專利案，其係於第一、二機架11、12上分別設有第一取料機構13及第二取料機構14，第一、二取料機構13、14各具有升降結構及橫移結構，其中，各升降結構係於第一、二機架11、12上分別設有第一、二Z軸向馬達131、141，用以驅動第一、二皮帶輪組132、142，第一、二皮帶輪組132、142則分別驅動第一、二Z軸向螺桿傳動組133、143，第一、二Z軸向螺桿傳動組133、143各連結帶動第一、二支架134、144作Z軸向位移，第一、二支架134、144分別以第一、二X軸向滑軌1341、1441供第一、二L型懸臂135、145之第一、二X軸向滑座1351、1451滑置組裝，第一、二L型懸臂135、145之底部各設有第一、二拾取件1352、1452，用以取放及壓抵電子元件，各橫移結構係於第一、二機架11、12上分別裝設第一、二X軸向馬達136、146，用以驅動第一、二X軸向螺桿傳動組137、147，第一、二X軸向螺桿傳動組137、147各連結帶動第一、二滑動架138、148作X軸向位移，第一、二滑動架138、148與第一、二L型懸臂135、145間係分別設有相互配合之第一、二Z軸向滑座1381、1481及第一、二Z軸向滑軌1353、1453；於執行測試電子元件作業時，以第一取料機構13為例，係可控制第一X軸向馬達136經第一X軸向螺桿傳動組137及第一滑動架138而帶動第一L型懸臂135作X軸位移，令第一L型懸臂135之第一拾取件1352將待測電子元件15 移載至測試座16之上方，再控制第一Z軸向馬達131經第一皮帶輪組132及第一Z軸向螺桿傳動組133而驅動第一支架134作Z軸向位移，第一支架134係以第一X軸向滑軌1341及第一X軸向滑座1351而帶動第一L型懸臂135作Z軸位移，第一L型懸臂135係以第一Z軸向滑軌1353沿第一滑動架138之第一Z軸向滑座1381位移，並壓抵待測電子元件15執行測試作業；惟，由於第一、二取料機構13、14係分別於第一、二機架11、12上裝配有獨立之升降結構，各升降結構係設有第一、二Z軸向馬達131、141與第一、二皮帶輪組132、142及第一、二Z軸向螺桿傳動組133、143及第一、二支架134、144等元件，再於第一、二L型懸臂135、145與第一、二滑動架138、148間分別設有相配合之第一、二Z軸向滑座1381、1481及第一、二Z軸向滑軌1353、1453，方可使第一、二L型懸臂135、145帶動第一、二拾取件1352、1452作Z軸向位移移載及壓測電子元件15，不僅第一、二取料機構13、14之各元件配置及相互連動關係設計複雜，而增加組裝作業上之不便，第一、二取料機構13、14均必須獨立配置有具Z軸向馬達及Z軸向螺桿傳動組等元件之升降結構，亦增加設備成本，另第一、二取料機構13、14因配置升降結構而導致體積增大，不利於測試設備之機台空間配置，再者，由於各第一、二拾取件1352、1452壓抵待測電子元件15之下壓力會直接影響測試品質，因而必須令各第一、二拾取件1352、1452保持相同下壓力壓抵電子元件15，方可確保各電子元件15之測試品質，但第一、二L型懸臂135、145易因變形或組裝公差等因素而無法使各裝配第一、二拾取件1352、1452之橫板保持水平，導致分別帶動各第一、二拾取件1352、1452壓抵電子元件15時，並無法確保各第一、二拾取件1352、1452以相同之下壓力壓抵待測電子元件15，以致待測電子元件15受力不平均，進而影響測試品質。

本發明之目的一，係提供一種電子元件輸送裝置，其係設有至少一移載單元，該移載單元包含至少一移料機構及壓掣機構，移料機構係設有至少一由驅動源驅動位移之移料器，移料器係設有具承壓板之承架，並於承壓板之下方設有至少一可拾取移載電子元件之拾取件，壓掣機構係位於移料機構之上方，並設有至少一由動力源驅動位移之壓具，用以提供電子元件於壓測作業所需之壓力；藉此，可利用結構簡易且體積小之移料器將電子元件移入測試座，並以壓掣機構使電子元件平均受力而確實接觸測試座，不僅可均壓電子元件，並迅速移載取放電子元件，達到提升測試效能及節省成本之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種電子元件輸送裝置，其中，該移載單元之壓掣機構可搭配複數個移料機構執行壓測電子元件作業，毋須於各移料機構上均配置具Z軸向馬達、Z軸向螺桿傳動組等元件之升降結構，達到有效節省成本之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種電子元件輸送裝置，其中，該移載單元之移料機構不須連結裝配具Z軸向馬達、Z軸向螺桿傳動組等元件之升降結構，不僅可大幅縮小體積，亦便於組裝，達到利於測試設備機台空間配置及提升組裝作業便利性之實用效益。

本發明之目的四，係提供一種電子元件輸送裝置，其中，該移載單元係於移料機構或壓掣機構設有可使電子元件更加平均受壓之輔壓結構，達到提升測試效能之實用效益。

本發明之目的五，係提供一種應用輸送裝置之測試設備，其係於機台上配置有供料裝置、收料裝置、測試裝置、輸送裝置及中央控制裝置，供料裝置係用以容納至少一待測之電子元件，收料裝置係用以容納至少一完測之電子元件，測試裝置係設有具測試座之測試電路板，用以測試電子元件，中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，該輸送裝置係設有至少一具移料機構及壓掣機構之移載單元，用以移載壓抵電子元件，達到提升測試效能及節省成本之實用效益。

為使貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如后：請參閱第2、3圖，本發明輸送裝置20係設有至少一移載單元，移載單元包含至少一移料機構及壓掣機構，移料機構係設有至少一由驅動源驅動位移之移料器，驅動源包含至少一驅動器，用以驅動移料器作至少一方向位移，移料器係設有底部具拾取件之承架，拾取件則用以拾取移載電子元件，於本實施例中，係設有第一移料機構21及第二移料機構22，第一移料機構21係於機台上設有第一機架211，並於第一機架211側方設有第一驅動源，第一驅動源包含第一驅動器及第二驅動器，第一驅動器係設有第一馬達212，用以驅動裝配於第一機架211上且呈第一方向(如Y方向)擺置之第一傳動組，第一傳動組係為第一皮帶輪組213，第一皮帶輪組213係連結驅動可承置第二驅動器之第一活動架214，第一活動架214與第一機架211間則設有第一輔助滑移結構，用以輔助第一活動架214平穩位移，第一輔助滑移結構係於第一機架211與第一活動架214間設有相互配合之第一滑軌2111及第一滑座2141，第二驅動器係為呈第二方向(如Z方向)擺置之第一壓缸215，並以第一壓缸215連結驅動第一移料器作第二方向位移，進而第一移料器可由第一馬達212及第一壓缸215驅動作第一、二方向位移，第一移料器係設有連結第一驅動源且具第一承壓板之第一承架216，並於第一承壓板之底部配置至少一可拾取移載電子元件之第一拾取件，第一承架216可呈L型或T型，第一拾取件可為吸頭或夾具等，於本實施例中，第一承架216係呈L型，並設有呈水平擺置之第一承壓板2161，第一承壓板2161之底部係設有複數個可為吸頭之第一拾取件217，另於第一承架216與第一活動架214間係設有第二輔助滑移結構，用以輔助第一承架216平穩位移，第二輔助滑移結構係於第一活動架214與第一承架216間設有相互配合之第二滑軌2142及第二滑座2162，第二移料機構22係於機台上設有第二機架221，並於第二機架221側方設有第二驅動源，第二驅動源包含第三驅動器及第四驅動器，第三驅動器係設有第二馬達222，用以驅動裝配於第二機架221上且呈第一方向擺置之第二傳動組，第二傳動組可為第二皮帶輪組223，第二皮帶輪組223係連結驅動可承置第四驅動器之第二活動架224，第二活動架224與第二機架221間係設有第三輔助滑移結構，用以輔助第二活動架224平穩位移，第三輔助滑移結構係於第二機架221與第二活動架224間設有相互配合之第三滑軌2211及第三滑座2241，第四驅動器係為呈第二方向擺置之第二壓缸225，並以第二壓缸225連結驅動第二移料器作第二方向位移，進而第二移料器可由第二馬達222及第二壓缸225驅動作第一、二方向位移，第二移料器係設有連結第二驅動源且具第二承壓板之第二承架226，並於第二承壓板之底部配置至少一可拾取移載電子元件之第二拾取件，第二承架226可呈L型或T型，第二拾取件可為吸頭或夾具等，於本實施例中，第二承架226係呈L型，並設有呈水平擺置之第二承壓板2261，第二承壓板2261之底部係設有複數個可為吸頭之第二拾取件227，另於第二承架226與第二活動架224間係設有第四輔助滑移結構，用以輔助第二承架226平穩位移，第四輔助滑移結構係於第二活動架224與第二承架226間設有相互配合之第四滑軌2242及第四滑座2262，壓掣機構23係位於移料機構之上方，並設有至少一由動力源驅動位移之壓具，用以提供電子元件於壓測作業所需之壓力，於本實施例中，係於第一、二移料機構21、22之上方設有可架設動力源之固定架231，該動力源係設有壓缸232，壓缸232之活塞桿係連結驅動至少一壓具233作第二方向位移，使壓具233壓抵第一、二移料機構21、22之第一、二承架216、226的承壓板2161、2261，更進一步，移載單元係於移料機構或壓掣機構設有可更加使電子元件平均受壓之輔壓結構，於本實施例中，輔壓結構係裝設於壓掣機構23，並於壓缸232之側方設有至少一側壓缸234，用以輔助壓抵第一、二承架216、226之承壓板2161、2261周側。

請參閱第4、5圖，本發明輸送裝置20之移載單元可配置於具測試裝置40之機台30上，更包含於測試裝置40之側方設有可供暫置電子元件50之暫置區24，電子元件50可為已封裝之電子元件(如具錫球之IC)或未封裝之電子元件(如strip或substrate)等，測試裝置40係設有具測試座42之測試電路板41，用以測試電子元件50，該移載單元之第一、二移料機構21、22係配置於測試座42之兩側，壓掣機構23則位於第一、二移料機構21、22之上方，並相對於測試座42，當暫置區24暫置待測之電子元件50時，第一移料機構21可控制第一馬達212經第一皮帶輪組213驅動第一活動架214作第一方向位移，第一活動架214則帶動具複數個第一拾取件217之第一承架216位移至暫置區24處，再控制第一壓缸215帶動第一承架216作第二方向向下位移，使各第一拾取件217於暫置區24吸取待測之電子元件50；請參閱第6、7圖，第一移料機構21可控制第一壓缸215帶動第一承架216及第一拾取件217作第二方向向上位移，使各第一拾取件217取出待測之電子元件50，第一馬達212係經第一皮帶輪組213驅動第一活動架214及第一承架216作第一方向位移，使複數個第一拾取件217將待測之電子元件50移載至測試座42處，再控制第一壓缸215帶動第一承架216作第二方向向下位移將待測之電子元件50置入於測試座42內，為使待測電子元件50之各接點可確實接觸測試座42之探針，移載單元係控制壓掣機構23之壓缸232驅動壓具233作第二方向向下位移而壓抵於第一承架216之第一承壓板2161上，並以側壓缸234之活塞桿壓抵於壓具233之兩側，而輔助壓抵第一承壓板2161之兩側，使位於第一承架216底部中間位置及四周位置之各待測電子元件50平均受力而確實接觸測試座42之探針以執行測試作業，於暫置區24已承置下一待測之電子元件51時，第二移料機構22可控制第二馬達222經第二皮帶輪組223驅動第二活動架224作第一方向位移，令第二活動架224帶動具複數個第二拾取件227之第二承架226位移至暫置區24處，再控制第二壓缸225帶動第二承架226作第二方向向下位移，使各第二拾取件227於暫置區24吸取下一待測之電子元件51；請參閱第8、9圖，於電子元件50測試完畢後，壓掣機構23之壓缸232驅動壓具233作第二方向向上位移復位，各側壓缸234之活塞桿亦同步內縮復位，第一移料機構21係控制第一壓缸215帶動第一承架216作第二方向向上位移，使各第一拾取件217於測試座42內取出完測之電子元件50，再控制第一馬達212以第一皮帶輪組213驅動第一活動架214及連結於上之第一承架216作第一方向位移，又第二移料機構22則可控制第二壓缸225帶動第二承架226及第二拾取件227作第二方向向上位移，令各第二拾取件227於暫置區24取出下一待測之電子元件51，再以第二壓缸225驅動第二承架226作第二方向位移，而與第一承架216產生高低位差，第二移料機構22可控制第二馬達222經第二皮帶輪組223驅動第二活動架224及第二承架226作第一方向位移，令第二承架226與第一承架216交錯位移，第一移料機構21之第一承架216及各第一拾取件217可將完測之電子元件50移載至暫置區24，並以第一壓缸215帶動第一承架216及第一拾取件217作第二方向向下位移，令各第一拾取件217將完測之電子元件50置入暫置區24，第二移料機構22之第二承架226及各第二拾取件227可將下一待測之電子元件51移載至測試座42處，並以第二壓缸225驅動第二承架226作第二方向向下位移，令各第二拾取件227將下一待測之電子元件51置入於測試座42內接續執行測試作業。

請參閱第10、11、12圖，係為應用上述輸送裝置20之測試分類機，該測試分類機包含有輸送裝置20、機台30、測試裝置40、供料裝置60、收料裝置70及中央控制裝置，該供料裝置60係配置於機台30上，用以容納至少一待測之電子元件，於本實施例中，係設有複數層承載機構61，用以分別承置具待測電子元件之料匣62及空的料匣62，並載送料匣62作第三方向(如X方向)位移，各承載機構61係設有至少一活動式側板，於本實施例中，係設有固定式側板611及活動式側板612，並設有可控制活動式側板612位移作動之定位器613，用以調整二側板611、612之間距，而適用不同尺寸之料匣62；該收料裝置70係配置於機台30上，用以容納至少一完測之電子元件，於本實施例中，係設有複數層承載機構71，用以分別承置空的料匣72及具完測電子元件之料匣72，並載送料匣72作第三方向位移，各承載機構71係設有至少一活動式側板，於本實施例中，係設有固定式側板711及活動式側板712，並設有可控制活動式側板712位移作動之定位器713，用以調整二側板711、712之間距，而適用不同尺寸之料匣72；該測試裝置40係配置於機台30，並設有具至少一測試座42之測試電路板41，用以測試電子元件，並以測試器(圖未示出)將測試結果傳輸至中央控制裝置(圖未示出)，由中央控制裝置控制各裝置作動，更進一步，測試裝置40係設有可外抽式之載具43，並於載具43之上方設有可旋轉擺動之承座44，用以承置具測試座42之測試電路板41及其他相關測試元件等，承座44之側方則設有控制器45，用以控制承座44之使用狀態(如擺動或定位)，由於承座44裝配複數個元件而重量較重，測試裝置40係於承座44與載具43間設有可為壓缸46之驅動源，用以驅動承座44作第二方向位移，於測試時，可控制壓缸46驅動承座44作第二方向向上位移，使測試座42承置待測之電子元件而執行測試作業，於修護時，可利用壓缸46驅動承座44作第二方向向下位移，並以控制器4 5控制承座44擺動，使測試座42朝向外部，以利工作人員進行維修作業；該輸送裝置20係配置於機台30上，並設有至少一相同上述移載單元之移載單元(請配合參閱第2、3圖)，於本實施例中，移載單元包含第一、二移料機構21、22及壓掣機構23，並於測試裝置40之一方設有可暫置電子元件之暫置區24，第一、二移料機構21、22係分別設有第一、二移料器，用以於測試座42及暫置區24間交替移載電子元件，壓掣機構23係用以壓抵第一、二移料器，使第一、二移料器移載之各電子元件可平均受力而確實接觸測試座42，該輸送裝置20更包含設有第一移載機構25、第二移載機構26及取放機構27，並於機台30上設有可暫置待測電子元件之第一置料區28及可暫置完測電子元件之第二置料區29，第一移載機構25係設有第一移匣器251、第一推料器252及第一夾料器253，第一移匣器251係可作第二、三方向位移，用以於供料裝置60之各承載機構61處移載料匣62，第一推料器252係可作第一方向位移，用以將第一移匣器251上之料匣62內的待測電子元件推出，第一夾料器253係可作第一方向位移，用以將待測電子元件夾移至第一置料區28，第二移載機構26係設有第二移匣器261及第二推料器262，第二移匣器261係可作第二、三方向位移，用以於收料裝置70之各承載機構71處移載料匣72，第二推料器262係可作第一方向位移，用以將第二置料區29上之完測電子元件推移至第二移匣器261上之空料匣72內收置，取放機構27係設有至少一可作第二、三方向位移之取放器271，用以於各移載單元之暫置區24及第一、二置料區28、29間移載待測/完測電子元件。

請參閱第13圖，該輸送裝置20係控制第一移載機構25之第一移匣器251作第二、三方向位移，以於供料裝置60之承載機構61處取出盛裝待測電子元件之料匣62，接著控制第一推料器252作第一方向位移將料匣62內之待測電子元件50推出適當距離後，可供第一夾料器253作第一方向位移夾取待測電子元件50，並移載至第一置料區28，取放機構27係控制取放器271作第二、三方向位移於第一置料區28取出待測之電子元件50，以便移載至移載單元之暫置區24；請配合參閱第4至9圖，於移載單元之暫置區24承置待測之電子元件50後，第一移料機構21可控制第一馬達212及第一壓缸215驅動第一活動架214及第一承架216分別作第一、二方向位移，使第一承架216位移至暫置區24處，並以各第一拾取件217於暫置區24取出待測之電子元件50，再移載置入於測試座42內，壓掣機構23係控制壓缸232驅動壓具233作第二方向位移壓抵第一承架216之第一承壓板2161，並以側壓缸234之活塞桿壓抵於壓具233之兩側，而輔助壓抵第一承壓板2161之兩側，使第一承架216底部之各待測電子元件50平均受力而確實接觸測試座42執行測試作業，又第二移料機構22則可控制第二馬達222及第二壓缸225分別驅動第二活動架224及第二承架226作第一、二方向位移，使第二承架226上之第二拾取件227接續於暫置區24取出下一待測之電子元件51，於電子元件50測試完畢後，壓掣機構23之壓缸232驅動壓具233作第二方向位移復位，第一移料機構21係控制第一承架216上之各第一拾取件217將完測電子元件50移載出測試座42，並載送至暫置區24，第二移料機構22則控制第二承架226與第一承架216作交替位移，令第二承架226上之各第二拾取件227將下一待測之電子元件51由暫置區24移載置入於測試座42內而接續執行測試作業；請參閱第14圖，輸送裝置20可控制取放機構27之取放器271於暫置區24取出完測之電子元件50，並載送至第二置料區29，第二移載機構26之第二移匣器261係作第二、三方向位移，而於收料裝置70上層之承載機構71處取出空的料匣72，並以第二推料器262作第一方向位移將完測之電子元件50由第二置料區29推移至空的料匣72內收置，當料匣72裝滿電子元件50後，第二移匣器261係將料匣72移載至下層承載機構71處收置。

〔習知〕

11‧‧‧第一機架

12‧‧‧第二機架

13‧‧‧第一取料機構

131‧‧‧第一Z軸向馬達

132‧‧‧第一皮帶輪組

133‧‧‧第一Z軸向螺桿傳動組

134‧‧‧第一支架

1341‧‧‧第一X軸向滑軌

135‧‧‧第一L型懸臂

1351‧‧‧第一X軸向滑座

1352‧‧‧第一拾取件

1353‧‧‧第一Z軸向滑軌

136‧‧‧第一X軸向馬達

137‧‧‧第一X軸向螺桿傳動組

138‧‧‧第一滑動架

1381‧‧‧第一Z軸向滑座

14‧‧‧第二取料機構

141‧‧‧第二Z軸向馬達

142‧‧‧第二皮帶輪組

143‧‧‧第二Z軸向螺桿傳動組

144‧‧‧第二支架

1441‧‧‧第二X軸向滑軌

145‧‧‧第二L型懸臂

1451‧‧‧第二X軸向滑座

1452‧‧‧第二拾取件

1453‧‧‧第二Z軸向滑軌

146‧‧‧第二X軸向馬達

147‧‧‧第二X軸向螺桿傳動組

148‧‧‧第二滑動架

1481‧‧‧第二Z軸向滑座

15‧‧‧電子元件

16‧‧‧測試座

〔本發明〕

20‧‧‧輸送裝置

21‧‧‧第一移料機構

211‧‧‧第一機架

2111‧‧‧第一滑軌

212‧‧‧第一馬達

213‧‧‧第一皮帶輪組

214‧‧‧第一活動架

2141‧‧‧第一滑座

2142‧‧‧第二滑軌

215‧‧‧第一壓缸

216‧‧‧第一承架

2161‧‧‧第一承壓板

2162‧‧‧第二滑座

217‧‧‧第一拾取件

22‧‧‧第二移料機構

221‧‧‧第二機架

2211‧‧‧第三滑軌

222‧‧‧第二馬達

223‧‧‧第二皮帶輪組

224‧‧‧第二活動架

2241‧‧‧第三滑座

2242‧‧‧第四滑軌

225‧‧‧第二壓缸

226‧‧‧第二承架

2261‧‧‧第二承壓板

2262‧‧‧第四滑座

227‧‧‧第二拾取件

23‧‧‧壓掣機構

231‧‧‧固定架

232‧‧‧壓缸

233‧‧‧壓具

234‧‧‧側壓缸

24‧‧‧暫置區

25‧‧‧第一移載機構

251‧‧‧第一移匣器

252‧‧‧第一推料器

253‧‧‧第一夾料器

26‧‧‧第二移載機構

261‧‧‧第二移匣器

262‧‧‧第二推料器

27‧‧‧取放機構

28‧‧‧第一置料區

29‧‧‧第二置料區

30‧‧‧機台

40‧‧‧測試裝置

41‧‧‧測試電路板

42‧‧‧測試座

43‧‧‧載具

44‧‧‧承座

45‧‧‧控制器

46‧‧‧壓缸

50、51‧‧‧電子元件

60‧‧‧供料裝置

61‧‧‧承載機構

611、612‧‧‧側板

613‧‧‧定位器

62‧‧‧料匣

70‧‧‧收料裝置

71‧‧‧承載機構

711、712‧‧‧側板

713‧‧‧定位器

72‧‧‧料匣

第1圖：習知台灣發明第I233997號專利案之示意圖。

第2圖：本發明輸送裝置之外觀圖。

第3圖：本發明輸送裝置之平面圖。

第4圖：第一移料機構之使用俯視圖。

第5圖：第一移料機構之使用側視圖。

第6圖：第一、二移料機構及壓掣機構之使用俯視圖(一)。

第7圖：第一、二移料機構及壓掣機構之使用側視圖(一)。

第8圖：第一、二移料機構及壓掣機構之使用俯視圖(二)。

第9圖：第一、二移料機構及壓掣機構之使用側視圖(二)。

第10圖：本發明輸送裝置應用於測試分類機之外觀圖。

第11圖：本發明輸送裝置應用於測試分類機之俯視圖。

第12圖：本發明測試裝置之外觀圖。

第13圖：本發明測試分類機之使用示意圖(一)。

第14圖：本發明測試分類機之使用示意圖(二)。