TWI477792B

TWI477792B - Working equipment and electronic component working apparatus of Application

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Publication number: TWI477792B
Application number: TW102127461A
Authority: TW
Original assignee: Hon Tech Inc
Priority date: 2013-07-31
Filing date: 2013-07-31
Publication date: 2015-03-21
Also published as: TW201504641A

Description

電子元件作業裝置及其應用之作業設備

本發明係提供一種可縮減於載台與盛裝電子元件之裝置間移載電子元件的位移行程，並使複數個移載結構同步水平旋轉而交替變換位置，使一移載結構之壓取件於輸送機構之載台執行取放電子元件作業，並使另一移載結構之壓取件將待作業之電子元件置入壓抵於處理機構之作業器，可使電子元件均勻受力而執行預設作業，並於作業完畢後取出已作業之電子元件，進而提升作業生產效能之電子元件作業裝置。

在現今，業者依製程所需，係將電子元件搬運至作業裝置而執行預設作業(例如電性測試作業或外觀檢查作業等)，由於電子元件之數量繁多，作業裝置之生產效能即相當重要。

以電子元件測試作業裝置為例，係用以對電子元件執行電性測試作業，而確保產品品質，請參閱第1圖，該測試作業裝置係於機台11上配置一具測試座121之處理機構12，一輸送機構13係於處理機構12距離具待測電子元件之供料裝置(圖未示出)較近的一側設有一作第一方向位移(如X方向)之入料載台131，用以載送待測之電子元件，並於處理機構12距離收料裝置(圖未示出)較遠的另一側設有一作第一方向位移之出料載台132，用以載送完測之電子元件，另設有作第二、三方向(如Y、Z方向)位移之第一L型臂133及第二L型臂134，第一L型臂133之底部係設有複數個可取放及壓抵電子元件之第一壓取件135，第二L型臂134之底部係設有複數個可取放及壓抵電子元件之第二壓取件136；於使用時，輸送機構13之入料載台131係作第一方向位移將待測電子元件載送至處理機構12之側方，第一L型臂133係作第二方向位移至入料載台131之上方，並以第一壓取件135作第三方向位移而於入料載台131取出待測之電子元件，再將待測之電子元件移載至處理機構12之測試座121而執行電性測試作業，於測試完畢後，由於出料載台132已位移至處理機構12之另一側方，第一L型臂133之第一壓取件135係取出測試座121內之完測電子元件，並將完測電子元件移載置入於出料載台132輸出。

惟，由於入、出料載台131、132間具有一段距離，以及出料載台132係位於處理機構12之另一側，導致出料載台132與收料裝置間具有較遠之行程路徑，當移料器(圖未示出)於出料載台132取出完測之電子元件後，即必須移動較遠之行程路徑，方可將完測之電子元件置入於收料裝置，不僅增加移料器移載完測電子元件之作業時間，亦影響測試生產效能；另以第一壓取件135為例，當第一壓取件135壓抵電子元件執行測試作業時，電子元件會對第一壓取件135產生反作用力，此一反作用力會使第一L型臂133產生力矩而變形，以致影響第一壓取件135之水平度，使各第一壓取件135無法確保以相同之下壓力壓抵電子元件執行測試作業，進而降低測試品質；又第一、二壓取件135、136將處理機構12處之完測電子元件移載至出料載台132後，必須再反向位移另一側之入料載台131處以取出下一待測電子元件，以致第一、二壓取件135、136之移動行程相當長，造成耗費移載作業時間之缺失。

請參閱第2圖，係為另一測試作業裝置之示意圖，該測試作業裝置係於機台14上配置一具測試座151之處理機構15，一輸送機構16係於處理機構15距離具待測電子元件之供料裝置(圖未示出)較近的一側設有二作第一方向位移之第一入料載台161及第一出料載台162，用以載送待測/完測之電子元件，並於處理機構15距離收料裝置(圖未示出)較遠的另一側設有二作第一方向位移之第二入料載台163及第二出料載台164，用以載送待測/完測之電子元件，另設有作第二、三方向位移之第一T型臂165及第二T型臂166，第一T型臂165之底部係設有複數個可取放電子元件之第一壓取件167，第二T型臂166之底部係設有複數個可取放電子元件之第二壓取件168，另於第一、二T型臂165、166與位於處理機構15上方之板體169間設有相互配合之滑軌170及第一、二滑座171、172；於使用時，輸送機構16之第一入料載台161係作第一方向位移將待測電子元件載送至處理機構15之側方，第一T型臂165係作第二方向位移至第一入料載台161之上方，並以第一壓取件167作第三方向位移而於第一入料載台161取出待測之電子元件，第一T型臂165再帶動第一壓取件167作第二、三方向位移將待測之電子元件移載至處理機構15處，並置入壓抵於測試座151內而執行測試作業，由於電子元件會對第一壓取件167產生反作用力，此一反作用力會頂推第一T型臂165，第一T型臂165可利用兩側之第一滑座171滑置於滑軌170上，以避免產生力矩而防止變形，使各第一壓取件167可平均下壓電子元件執行測試作業，於測試完畢後，由於第一出料載台162已位移至處理機構15之一側方，第一T型臂165係以第一壓取件167取出測試座151內之完測電子元件，並移載置入於第一出料載台162輸出。

惟，此一測試作業裝置之第一、二T型臂165、166雖可防止變形，而使第一、二壓取件167、168均勻下壓電子元件，但由於第一T型臂165僅能於處理機構15之一側位移，第二T型臂166則僅能於處理機構15之另一側位移，以致輸送機構16必須於處理機構15之兩側分別配置第一入、出料載台161、162及第二入、出料載台163、164，進而增加成本；又由於第一、二出料載台162、164間具有一段距離，以及第二出料載台164係位於處理機構15之另一側，導致第二出料載台164與收料裝置間具有較遠之行程路徑，當移料器(圖未示出)於第二出料載台164取出完測之電子元件後，即必須移動較遠之行程路徑，方可將完測之電子元件置入於收料裝置，不僅增加移料器移載完測電子元件之作業時間，亦影響測試生產效能。

本發明之目的一，係提供一種電子元件作業裝置，其包含處理機構、輸送機構及搬移機構，該處理機構係於搬移機構之一側設有至少一作業器，用以對電子元件執行預設作業；該輸送機構係於搬移機構之另一側設有可作直線往復位移之載台，用以輸送電子元件；該搬移機構係設有旋轉結構及複數個移載結構，旋轉結構係設有至少一可旋轉作動之旋轉架，複數個移載結構係裝配於旋轉架之周側，並設有至少一取放電子元件之壓取件，進而可利用輸送機構於搬移機構一側與盛裝電子元件之裝置(如供料裝置或收料裝置)間配置載台，以縮減於載台與該裝置間移載電子元件的位移行程，另該搬移機構係以旋轉結構之旋轉架帶動複數個移載結構同步水平旋轉，而分別於輸送機構之載台處及處理機構之作業器處間變換位移，使一移載結構之壓取件於輸送機構之載台處進行取放電子元件作業，並使另一移載結構之壓取件將電子元件置入壓抵於處理機構之作業器而執行預設作業，且於作業完畢後取出已作業之電子元件，達到有效提升作業生產效能之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種電子元件作業裝置，其中，該移載結構係設有具移載件及移動架之移動器，移動器與旋轉架間設有相互配合之滑動件與承滑件，該移載件係裝配可取放電子元件之壓取件，並直接裝配於移動架之下方，移動架再直接固設於滑動件，而可縮短移載件與滑動件之間距，以降低滑動件承受之壓力，而提升壓取件壓抵電子元件之水平度，使壓取件以直壓方式壓抵電子元件，使電子元件均勻受力，達到提升測試品質之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種電子元件作業裝置，其中，該輸送機構係設有二位於同一側之第一、二載台，用以分別載送待作業/已作業之電子元件，當搬移機構之一移載結構的壓取件將待作業電子元件置入於處理機構之作業器而執行預設作業的同時，搬移機構之另一移載結構的壓取件則可將已作業之電子元件置入於輸送機構之第二載台輸出，並於同側之第一載台上取出下一待作業之電子元件，進而縮短搬移機構之壓取件位移行程，達到有效縮減整體作業時間之實用效益。

本發明之目的四，係提供一種電子元件作業裝置，其中，該輸送機構之第一、二載台係位於同一側且由同一驅動結構驅動位移，用以分別載送待作業/已作業之電子元件，進而縮減驅動結構之配置，達到節省成本之實用效益。

本發明之目的五，係提供一種電子元件作業裝置，其中，該輸送機構之第一、二載台係位於同側且由同一驅動結構驅動位移，用以分別載送待作業/已作業之電子元件，進而縮減輸送機構佔用機台空間，達到利於機台空間配置之實用效益。

本發明之目的六，係提供一種應用電子元件作業裝置之作業設備，該作業設備係於機台上配置有供料裝置、收料裝置、作業裝置及中央控制裝置，該供料裝置係用以容納至少一待作業之電子元件；該收料裝置係用以容納至少一已作業之電子元件；該作業裝置包含處理機構、輸送機構及搬移機構，該搬移機構係以旋轉結構帶動複數個移載結構同步水平旋轉，而分別於複數個位置間變換位移，複數個位置包含第一位置及第二位置，使位於第一位置之移載結構係以壓取件於輸送機構之載台處進行取放電子元件作業，並使位於第二位置之另一移載結構係以壓取件將電子元件置入於處理機構之作業器而執行預設作業，且於作業完畢後取出已作業之電子元件；該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業生產效能之實用效益。

〔習知〕

11‧‧‧機台

12‧‧‧處理機構

121‧‧‧測試座

13‧‧‧輸送機構

131‧‧‧入料載台

132‧‧‧出料載台

133‧‧‧第一L型臂

134‧‧‧第二L型臂

135‧‧‧第一壓取件

136‧‧‧第二壓取件

15‧‧‧處理機構

151‧‧‧測試座

16‧‧‧輸送機構

161‧‧‧第一入料載台

162‧‧‧第一出料載台

163‧‧‧第二入料載台

164‧‧‧第二出料載台

165‧‧‧第一T型臂

166‧‧‧第二T型臂

167‧‧‧第一壓取件

168‧‧‧第二壓取件

169‧‧‧板體

170‧‧‧滑軌

171‧‧‧第一滑座

172‧‧‧第二滑座

〔本發明〕

20‧‧‧作業裝置

21‧‧‧處理機構

211‧‧‧測試電路板

212‧‧‧測試座

22‧‧‧輸送機構

221‧‧‧第一載台

222‧‧‧第二載台

223‧‧‧驅動結構

23‧‧‧搬移機構

231‧‧‧旋轉結構

2311‧‧‧固定座

2312‧‧‧旋轉架

2313‧‧‧外罩

2314‧‧‧支撐架

2315‧‧‧第一馬達

2316‧‧‧第一傳動組

2317‧‧‧第一承滑件

2318‧‧‧第二承滑件

232‧‧‧第一移載結構

2321‧‧‧第二馬達

2322‧‧‧第二傳動組

2323‧‧‧第一移動架

2324‧‧‧第一移載件

2325‧‧‧第一壓取件

2326‧‧‧第一滑動件

2327‧‧‧第一軸桿

2328‧‧‧第一定位件

233‧‧‧第二移載結構

2331‧‧‧第三馬達

2332‧‧‧第三傳動組

2333‧‧‧第二移動架

2334‧‧‧第二移載件

2335‧‧‧第二壓取件

2336‧‧‧第二滑動件

2337‧‧‧第二軸桿

2338‧‧‧第二定位件

24‧‧‧第一移料機構

241‧‧‧第一移料器

25‧‧‧第二移料機構

251‧‧‧第二移料器

31、32‧‧‧電子元件

40‧‧‧機台

50‧‧‧供料裝置

60‧‧‧收料裝置

第1圖：習知電子元件測試作業裝置之示意圖。

第2圖：另一習知電子元件測試作業裝置之示意圖。

第3圖：本發明電子元件作業裝置之示意圖(一)。

第4圖：本發明電子元件作業裝置之示意圖(二)。

第5圖：本發明電子元件作業裝置之使用示意圖(一)。

第6圖：本發明電子元件作業裝置之使用示意圖(二)。

第7圖：本發明電子元件作業裝置之使用示意圖(三)。

第8圖：本發明電子元件作業裝置之使用示意圖(四)。

第9圖：本發明電子元件作業裝置之使用示意圖(五)。

第10圖：本發明電子元件作業裝置之使用示意圖(六)。

第11圖：本發明作業裝置應用於作業設備之配置示意圖。

為使貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：請參閱第3、4圖，本發明作業裝置20包含處理機構21、輸送機構22及搬移機構23，該處理機構21係於搬移機構23之至少一側設有至少一作業器，用以對電子元件執行預設作業，該預設之作業可包含外觀檢查作業或電性測試作業等，該作業器則包含取像器或具測試座之測試電路板等，於本實施例中，該處理機構21之作業器係為具複數個測試座212之測試電路板211，用以對電子元件執行電性測試作業；該輸送機構22係於搬移機構23之另一側設有至少一可作直線往復位移之載台，用以輸送電子元件，更進一步，輸送機構22係於搬移機構23一側與盛裝電子元件之裝置(如收料裝置，圖未示出)間配置至少一載台，以縮減於載台與該裝置間移載電子元件的位移行程，於本實施例中，係於搬移機構23之單側設有第一載台221及第二載台222，第一載台221係用以載送待作業之電子元件，第二載台222係用以載送已作業之電子元件，第一、二載台221、222係由至少一驅動結構驅動作第一方向位移，於本實施例中，第一、二載台221、222係由同一驅動結構223驅動作第一方向位移；該搬移機構23係位於處理機構21及輸送機構22之間，並設有旋轉結構及複數個移載結構，該旋轉結構係設有至少一可旋轉作動之旋轉架，用以帶動複數個移載結構作水平旋轉作動而分別於輸送機構22之載台處及處理機構21之作業器處間變換位移，於本實施例中，可設定輸送機構22處為第一位置，並設定處理機構21處為第二位置，更進一步，該旋轉結構之旋轉架可裝配於機台之台面上，亦或懸吊於機台之上方，並由一動力源驅動旋轉，於本實施例中，該旋轉結構231係於機台上固設有固定座2311，並於固定座2311上樞設有呈第三方向擺置之旋轉架2312，該旋轉架2312之外部係裝配有外罩2313，並於頂部連接一第一動力源，該第一動力源係於外罩2313之頂部固設有支撐架2314，用以裝配第一馬達2315，第一馬達2315係驅動可為皮帶輪組之第一傳動組2316，並以第一傳動組2316連接帶動旋轉架2312作正反向旋轉作動，以節省配線成本，複數個移載結構係裝配於旋轉結構231之至少一旋轉架的周側，各移載結構係設有至少一取放電子元件之壓取件，並由至少一旋轉架帶動作水平旋轉，使一移載結構之壓取件於輸送機構22之載台處進行取放電子元件作業，並使另一移載結構係以壓取件將電子元件置入於處理機構21之作業器而執行預設作業，且於作業完畢後取出已作業之電子元件，更進一步，搬移機構23係設有至少一動力源帶動複數個移載結構之壓取件作第三方向位移，於本實施例中，該搬移機構23係於旋轉結構231之旋轉架2312的一側面直接設有第一移載結構232，並於旋轉架2312之另一側面平行排列直接裝設有第二移載結構233，該搬移機構23係以旋轉結構231之旋轉架2312帶動第一移載結構232及第二移載結構233同步水平旋轉作動而交替變換位於第一位置或第二位置，又該第一移載結構232及第二移載結構233可共用同一旋轉結構231之第一動力源，而可降低成本，該第一移載結構232係於旋轉架2312之一側面裝設有第二動力源，第二動力源係具有第二馬達2321，用以迅速驅動可為螺桿螺座組且呈第三方向擺置之第二傳動組2322，第二傳動組2322係以螺座連結帶動一第一移動器作第三方向升降位移，第一移動器係裝配有至少一取放電子元件之壓取件，於本實施例中，該第一移動器係包含第一移動架2323及第一移載件2324，第一移動架2323係連結第二傳動組2322，並以第一軸桿2327裝配第一移載件2324，第一移載件2324之底面係設有複數個取放電子元件之第一壓取件2325，並直接裝配於第一移動架2323之下方，又該第一移動架2323與旋轉架2312間係設有相互配合之第一滑動件2326及第一承滑件2317，於本實施例中，係於旋轉架2312之第二傳動組2322兩側分別設有可為滑軌之第一承滑件2317，並於第一承滑件2317滑置至少一為滑座之第一滑動件2326，第一滑動件2326係直接固接第一移動架2323，而可縮短第一移載件2324與第一滑動件2326之間距，該第二馬達2321可迅速驅動第一壓取件2325作第三方向升降位移而取放電子元件，而縮短取放料作業時間，另於移動器之第一移動架2323及第一移載件2324間設有調整水平單元，用以調整第一壓取件2325之水平度，於本實施例中，係於第一移動架2323之至少一側板裝設有可為栓具之第一定位件2328，並以第一定位件2328頂抵第一移載件2324之側面，而可定位第一移載件2324及第一壓取件2325之水平度，於調整第一壓取件2325之水平度時，可先旋鬆第一定位件2328，令第一移載件2324以第一軸桿2327為旋轉軸心而作微幅擺動，以帶動第一壓取件2325微調水平度，再旋緊第一定位件2328頂抵第一移載件2324定位，使第一壓取件2325保持水平度，該第二移載結構233係於旋轉架2312之另一側面裝設有第三動力源，第三動力源係具有第三馬達2331，用以迅速驅動可為螺桿螺座組且呈第三方向擺置之第三傳動組2332，第三傳動組2332係以螺座裝配帶動一第二移動器作第三方向升降位移，第二移動器係裝配有至少一取放電子元件之第二壓取件，於本實施例中，該第二移動器係包含第二移動架2333及第二移載件2334，第二移動架2333係連結第三傳動組2332，並以第二軸桿2337裝配第二移載件2334，第二移載件2334之底面係設有複數個取放電子元件之第二壓取件2335，並直接裝配於第二移動架2333之下方，又該第二移動架2333與旋轉架2312間設有相互配合之第二滑動件2336及第二承滑件2318，於本實施例中，係於旋轉架2312之第三傳動組2332兩側分別設有可為滑軌之第二承滑件2318，並於第二承滑件2318滑置至少一為滑座之第二滑動件2336，第二滑動件2336係直接固接第二移動架2333，而可縮短第二移載件2334與第二滑動件2336之間距，該第三馬達2331可迅速驅動第二壓取件2335作第三方向升降位移而取放電子元件，而縮短取放料作業時間，另於移動器之第二移動架2333及第二移載件2334間設有調整水平單元，用以調整第二壓取件2335之水平度，於本實施例中，係於第二移動架2333之至少一側板裝設有可為栓具之第二定位件2338，並以第二定位件2338頂抵第二移載件2334之側面，而可定位第二移載件2334及第二壓取件2335之水平度，於調整第二壓取件2335之水平度時，可先旋鬆第二定位件2338，令第二移載件2334以第二軸桿2337為旋轉軸心而作微幅擺動，以帶動第二壓取件2335微調水平度，再旋緊第二定位件2338頂抵第二移載件2334定位，使第二壓取件2335保持水平度。

請參閱第5、6圖，係本發明作業裝置20應用於對電子元件執行電性測試作業之實施例，由於輸送機構22係於搬移機構23一側與具待測電子元件之供料裝置(圖未示出)間設有可作直線往復位移之第一載台221，而可縮短第一載台221與供料裝置間之距離，使移料器(圖未示出)迅速將供料裝置處之待測電子元件31移載至第一載台221，進而縮短移料時間及提高生產效能，當輸送機構22之第一載台221承置待測之電子元件31後，即由驅動結構223驅動作第一方向位移，將待測之電子元件31載送至搬移機構23之第一移載結構232的第一壓取件2325下方以供取料，第一移載結構232係以第二馬達2321迅速驅動第二傳動組2322，經第二傳動組2322傳動第一移動架2323作第三方向位移，第一移動架2323即帶動第一移載件2324及複數個第一壓取件2325作第三方向位移，使複數個第一壓取件2325於輸送機構22之第一載台221上取出待測之電子元件31。

請參閱第7、8圖，該搬移機構23之旋轉結構231係以第一馬達2315驅動第一傳動組2316，經第一傳動組2316帶動旋轉架2312旋轉，旋轉架2312係帶動第一移載結構232及第二移載結構233同步作水平旋轉，令第一移載結構232由第一位置(即位於輸送機構22之上方)變換位於第二位置(即位於處理機構21之上方)，而第二移載結構233則由第二位置(即位於處理機構21之上方)變換位於第一位置(即位於輸送機構22之上方)，進而該第一移載結構232係以第二馬達2321迅速驅動第二傳動組2322，經第二傳動組2322傳動第一移動架2323作第三方向位移，第一移動架2323即帶動第一移載件2324及複數個第一壓取件2325作第三方向位移，複數個第一壓取件2325係將待測電子元件31置入壓抵於處理機構21之測試座212中而執行電性測試作業，處理機構21係經由測試電路板211連接測試器(圖未示出)，測試器則將測試資料傳輸至中央控制裝置(圖未示出)，由中央控制裝置判別電子元件31之品質，又當第一壓取件2325下壓電子元件31時，電子元件31會對第一壓取件2325產生一反作用力，此一反作用力會經由第一壓取件2325而傳導至移動器，由於移動器之第一移載件2324係直接裝配於第一移動架2323之下方，第一移動架2323再直接固接第一滑動件2326，而可縮短第一移載件2324與第一滑動件2326之間距，以降低第一滑動件2326承受之壓力，而提升第一壓取件2325壓抵電子元件31之水平度，令第一壓取件2325以直壓方式壓抵電子元件31，使電子元件31均勻受力，以提升測試品質，又輸送機構22之第一載台221已載送下一待測之電子元件32至搬移機構23之側方，在此同時，該第二移載結構233係以第三馬達2331迅速驅動第三傳動組2332，經第三傳動組2332傳動第二移動架2333作第三方向位移，第二移動架2333即帶動第二移載件2334及複數個第二壓取件2335作第三方向位移，使複數個第二壓取件2335於輸送機構22之第一載台221上取出下一待測之電子元件32。

請參閱第9、10圖，於電子元件31測試完畢後，該搬移機構23之第一移載結構232係以第二馬達2321迅速驅動第二傳動組2322，經第二傳動組2322傳動第一移動架2323作第三方向位移，第一移動架2323即帶動第一移載件2324及複數個第一壓取件2325作第三方向向上位移，使複數個第一壓取件2325於處理機構21之測試座212中取出完測之電子元件31，該搬移機構23再以旋轉結構231之第一馬達2315迅速驅動第一傳動組2316，經第一傳動組2316帶動旋轉架2312旋轉，旋轉架2312係帶動第一移載結構232及第二移載結構233同步旋轉，令第一移載結構232由第二位置(即位於處理機構21之上方)變換位於第一位置(即位於輸送機構22之上方)，並同時使第二移載結構233由第一位置(即位於輸送機構22之上方)變換位於第二位置(即位於處理機構21之上方)，進而該第二移載結構233係以第三馬達2331驅動第三傳動組2332，經第三傳動組2332傳動第二移動架2333作第三方向位移，第二移動架2333即帶動第二移載件2334及複數個第二壓取件2335作第三方向位移，使複數個第二壓取件2335將待測電子元件32置入壓抵於處理機構21之測試座212中而執行電性測試作業，處理機構21係經由測試電路板211連接測試器(圖未示出)，測試器則將測試資料傳輸至中央控制裝置(圖未示出)，由中央控制裝置判別電子元件32之品質，又當第二壓取件2335下壓電子元件32時，電子元件32會對第二壓取件2335產生一反作用力，此一反作用力會經由第二壓取件2335而傳導至移動器，由於移動器之第二移載件2334係直接裝配於第二移動架2333之下方，第二移動架2333再直接固接第二滑動件2336，而可縮短第二移載件2334與第二滑動件2336之間距，以降低第二滑動件2336承受之壓力，而提升第二壓取件2335壓抵電子元件32之水平度，令第二壓取件2335以直壓方式壓抵電子元件32，使電子元件32均勻受力，以提升測試品質，然該輸送機構22之第二載台222已由驅動結構223驅動作第一方向位移至搬移機構23之側方，在此同時，該第一移載結構232係以第二馬達2321驅動第二傳動組2322，經第二傳動組2322傳動第一移動架2323作第三方向位移，第一移動架2323即帶動第一移載件2324及複數個第一壓取件2325作第三方向位移，使複數個第一壓取件2325將完測之電子元件31置放於輸送機構22之第二載台222，以便第二載台222輸出完測之電子元件31，由於輸送機構22係於搬移機構23一側與盛裝完測電子元件之收料裝置(圖未示出)間設有可作直線往復位移之第二載台222，而可縮短第二載台222與收料裝置間之距離，使移料器(圖未示出)迅速將第二載台222之完測電子元件31移載至收料裝置，進而縮短移料時間及提高生產效能。

請參閱第3、4、11圖，本發明之作業裝置20可應用於不同作業設備，以應用於電性測試作業設備為例，其係於機台40上配置有供料裝置50、收料裝置60、作業裝置20及中央控制裝置(圖未示出)，該供料裝置50係裝配於機台40，用以容納至少一待作業之電子元件；該收料裝置60係裝配於機台40，用以容納至少一已作業之電子元件；該作業裝置20係裝配於機台40，其輸送機構22係於搬移機構23一側與該供、收料裝置50、60間配置有第一、二載台221、222，又該作業裝置20更包含設有至少一具移料器之移料機構，用以移載電子元件，該移料機構係於該供料裝置50與第一載台221間移載待作業之電子元件，於本實施例中，係設有第一移料機構24及第二移料機構25，第一移料機構24係設有至少一可作第一、二、三方向位移之第一移料器241，用以於供料裝置50及輸送機構22之第一載台221間移載待作業之電子元件，第二移料機構25係設有至少一可作第一、二、三方向位移之第二移料器251，用以於收料裝置60及輸送機構22之第二載台222間移載已作業之電子元件，該作業裝置20之第一移料機構24係以第一移料器241於供料裝置50處取出待作業之電子元件，並移載置入於輸送機構22之第一載台221，輸送機構22之第一載台221係載送待作業之電子元件至搬移機構23側方之第一位置，該搬移機構23之一移載結構可於位移至第一位置之第一載台221取出待作業之電子元件，第二載台222則已載送已作業之電子元件至收料裝置60之側方，另該移料機構係於第二載台222與收料裝置60間移載已作業之電子元件，於移載結構及移料機構分別在第一載台221及第二載台222取出待作業電子元件及已作業電子元件後，第一載台221與第二載台222則位移至供料裝置50之側方與第一位置處，第一載台221係供移料機構置入待作業之電子元件，而搬移機構23則已帶動複數個移載結構作水平旋轉，第二載台222係於第一位置供移載結構置入已作業之電子元件，於本實施例中，第二移料機構25之第二移料器251係於第二載台222上取出已作業之電子元件，並依作業結果，將已作業之電子元件移載至收料裝置60收置，於一移載結構及第二移料機構25分別在第一載台221及第二載台222取出待作業電子元件及已作業電子元件後，第一載台221與第二載台222則位移至供料裝置50之側方與第一位置處，第一載台221係供第一移料機構24置入待作業之電子元件，搬移機構23係以旋轉結構231帶動複數個移載結構旋轉交替變換位置，使一移載結構將待作業之電子元件置入於處理機構21中進行預設作業，並使另一移載結構將已作業之電子元件置入於輸送機構22之第二載台222上，以便第二載台222輸出已作業之電子元件，該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。