TWI631651B - 具承置單元之輸送裝置及其應用之測試分類設備 - Google Patents

Abstract

一種具承置單元之輸送裝置，其承置單元係設置一具承置部之承台，並於承置部之側方設置可作第一方向位移之滑動具，該滑動具係設有至少一相對於承置部之推抵部件，並於推抵部件之同側設有至少一承推部件，另於滑動具之承推部件側方設置一於承台上作第二方向位移之掣動件，該掣動件係設有至少二不同尺寸之讓位部及頂推部，於掣動件以較大尺寸之頂推部對應頂推該滑動具之承推部件時，可使滑動具向外位移而擴增承置部之周側空間，以供電子元件平穩移入承置部，於掣動件以較小尺寸之讓位部對應讓位該滑動具之承推部件時，可使滑動具向內位移而以推抵部件推移校正電子元件之擺置，達到提升電子元件移入準確性及擺置正確性之實用效益。

Description

具承置單元之輸送裝置及其應用之測試分類設備

本發明係提供一種可擴增承置部之周側空間，以供電子元件平穩移入承置部，並可推移校正電子元件之擺置，進而提升電子元件移入準確性及擺置正確性的具承置單元之輸送裝置。

在現今，電子元件之型式多樣化，例如平板型電子元件或柱型電子元件，請參閱第1圖，係為柱型電子元件11，其係呈方型長柱狀，並於底面設有複數個為錫球之接點111；然一批次待測之電子元件11數量繁多且體積小，業者遂以一具複數個承槽121之料盤12盛裝電子元件11，並依測試作業需求，而令電子元件11之接點111朝向下方或上方，由於長柱型電子元件11易因外力碰撞而產生翻轉，導致改變電子元件11之接點111的擺置方向(例如接點111原朝向下方而改變朝向側方)，以致於測試作業時被誤判為不良品；從而，業者係以具有較大尺寸承槽121之料盤12盛裝電子元件11，以避免電子元件11於移入時碰撞到承槽121之周側而翻轉，但於搬運此一具電子元件11之料盤12時，也因承槽121之內部空間過大，而會發生電子元件11於承槽121內作水平偏移擺置之情形。

請參閱第1、2、3圖，係為具電子元件11之料盤12應用於測試設備之示意圖，該測試設備之機台13係供配置具電子元件11之料盤12，並於機台13上配置具測試座141之測試裝置14，以測試電子元件11，一輸送裝置15係 於機台13設置一作第一、二、三方向(如X、Z、Y方向)位移之第一移料器151，第一移料器151係於料盤12之承槽121取出待測之電子元件11，由於電子元件11偏斜擺置於料盤12之承槽121，導致第一移料器151直接取出一呈偏斜擺置之電子元件11，並將偏斜擺置之電子元件11移載至一可作Y方向位移之載台152處，該載台152係設有一可容置電子元件11之容置槽1521，以供第一移料器151將電子元件11移入載台152之容置槽1521，載台152再載送電子元件11至取料位置，以供一第二移料器153於載台152上取出待測之電子元件11，並移入至測試裝置14之測試座141而執行測試作業；惟，該輸送裝置15之載台152於使用上具有如下問題：

1．若載台152之容置槽1521尺寸微大於電子元件11之尺寸，當第一移料器151將偏斜擺置之電子元件11移入載台152之容置槽1521時，易發生長柱型電子元件11因碰撞到容置槽1521之側面，而發生於容置槽1521內翻轉之情況，導致原本應朝向下方之接點111而改變朝向側方，以致第二移料器153直接將載台152之容置槽1521內異常擺置之此一接點111朝向側方的電子元件11移入測試座141而執行測試作業，致使中央控制裝置(圖未示出)誤判電子元件11為不良品，造成影響測試品質及損耗電子元件之缺失。

2．若載台152之容置槽1521尺寸較大於電子元件11之尺寸，雖可避免第一移料器151上之偏斜擺置的電子元件11碰撞到載台152之容置槽1521，但卻使已偏斜擺置的電子元件11於過大之容置槽1521內依舊發生水平偏移擺置之情況，由於電子元件11之接點111與測試座141之探針必須準確對位接觸進行測試作業，當第二移料器153將偏斜擺置之電子元件11移入測試座141，此 一偏斜擺置之電子元件11的複數個接點111並無法準確對位接觸測試座141之複數個探針，亦造成影響測試品質及損耗電子元件之缺失。

本發明之目的一，係提供一種具承置單元之輸送裝置，其承置單元係設置一具承置部之承台，並於承置部之側方設置可作第一方向位移之滑動具，該滑動具係設有至少一相對於承置部之推抵部件，並於推抵部件之同側設有至少一承推部件，另於滑動具之承推部件側方設置一於承台上作第二方向位移之掣動件，該掣動件係設有至少二不同尺寸之讓位部及頂推部，於掣動件以較大尺寸之頂推部對應頂推該滑動具之承推部件時，可使滑動具向外位移而擴增承置部之周側空間，以供電子元件平穩移入承置部，於掣動件以較小尺寸之讓位部對應讓位該滑動具之承推部件時，可使滑動具向內位移而以推抵部件推移校正電子元件之擺置，達到提升測試品質及降低電子元件淘汰率之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種具承置單元之輸送裝置，其中，該承置單元之滑動具係設有承推部件及推抵部件，於承台之承置部承置待測之電子元件後，掣動件利用較小尺寸之讓位部對應讓位該滑動具之承推部件，令滑動具向內位移，並以推抵部件推移校正電子元件之擺置，以利電子元件之接點於測試作業時可準確對位接觸測試座之探針，達到提升電子元件擺置正確性及測試品質之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種應用具承置單元之輸送裝置的測試分類設備，其包含機台、供料裝置、收料裝置、測試裝置、輸送裝置及中央控制裝置，該供料裝置係配置於機台上，並設有至少一容納待測電子元件之供料承置器，該收料裝置係配置於機台上，並設有至少一容納已測電子元件之收料承置器，該測試裝置係配置於機台上，並設有至少一對電子元件執行測試作業之測試器，該輸送裝置係配置於機台上，並設置至少一移載電 子元件之移料器，以及設置至少一本發明之承置單元，以平穩承置及校正電子元件，該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

〔習知〕

11‧‧‧電子元件

111‧‧‧接點

12‧‧‧料盤

121‧‧‧承槽

13‧‧‧機台

14‧‧‧測試裝置

141‧‧‧測試座

15‧‧‧輸送裝置

151‧‧‧第一移料器

152‧‧‧載台

1521‧‧‧容置槽

153‧‧‧第二移料器

〔本發明〕

20‧‧‧輸送裝置

21‧‧‧承台

211‧‧‧承置部

212‧‧‧第一容置空間

213‧‧‧第二容置空間

214‧‧‧承跨部件

215‧‧‧插孔

216‧‧‧容置孔

217‧‧‧滑槽

22‧‧‧第一滑動具

221‧‧‧第一推抵部件

222‧‧‧第一跨移部

223‧‧‧第一承推部件

224‧‧‧第一彈性件

23‧‧‧第二滑動具

231‧‧‧第二推抵部件

232‧‧‧第二跨移部

233‧‧‧第二承推部件

234‧‧‧第二彈性件

24‧‧‧掣動件

241‧‧‧讓位部

242‧‧‧頂推部

243‧‧‧頂持部

244‧‧‧擋塊

245‧‧‧第三彈性件

246‧‧‧限位件

25‧‧‧動力源

26‧‧‧第一移料器

261‧‧‧接合部件

262‧‧‧第一拾取件

27‧‧‧第二移料器

271‧‧‧迴避部件

272‧‧‧第二拾取件

30‧‧‧機台

40‧‧‧供料裝置

41‧‧‧供料盤

411‧‧‧承槽

50‧‧‧測試裝置

51‧‧‧電路板

52‧‧‧測試座

521‧‧‧探針

60‧‧‧電子元件

61‧‧‧接點

70‧‧‧收料裝置

71‧‧‧收料盤

第1圖：習知輸送裝置與供料裝置及測試裝置之配置圖。

第2圖：習知輸送裝置移載電子元件之使用示意圖(一)。

第3圖：習知輸送裝置移載電子元件之使用示意圖(二)。

第4圖：本發明輸送裝置之承置單元的俯視圖。

第5圖：係第4圖之A-A剖視圖。

第6圖：係第4圖之B-B剖視圖。

第7圖：係第4圖之C-C剖視圖。

第8圖：本發明輸送裝置與供料裝置及測試裝置之配置圖。

第9圖：係承置單元及第一、二移料器之示意圖。

第10圖：本發明承置單元之使用示意圖(一)。

第11圖：本發明承置單元之使用示意圖(二)。

第12圖：係第11圖之俯視圖。

第13圖：本發明承置單元之使用示意圖(三)。

第14圖：係第13圖之另一剖視圖。

第15圖：本發明承置單元之使用示意圖(四)。

第16圖：係第15圖之俯視圖。

第17圖：本發明承置單元之使用示意圖(五)。

第18圖：本發明承置單元之使用示意圖(六)。

第19圖：本發明承置單元之使用示意圖(七)。

第20圖：本發明輸送裝置應用於測試分類設備之示意圖。

為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：

請參閱第4、5、6、7圖，本發明輸送裝置20 之承置單元包含承台21、至少一滑動具及至少一掣動件，其中，該承台21係設有至少一承置部，以承置電子元件，於本實施例中，該承台21係設有一概呈長型之承置部211，以供承置電子元件，更進一步，該承台21可於承置部211之第一側設有承置該滑動具之容置空間，並於第二側設置擋件，或者於承置部211之第一、二側分別設有容置空間，以各別承置滑動具，於本實施例中，該承台21係於承置部211之第一側及第二側分別設有第一容置空間212及第二容置空間213，另於承台21設有二承跨部件214；至少一滑動具係裝配於承台21之承置部211一側，並可作第一方向(如X方向)位移，該滑動具係設有至少一相對於承置部211之推抵部件，並設有至少一承推部件，更進一步，該承推部件可為桿體或塊體，而獨立配置或一體成型於滑動具，於本實施例中，係於承台21之第一容置空間212及第二容置空間213分別配置第一滑動具22及第二滑動具23，該第一滑動具22係於一側相對應承置部211之位置設有第一推抵部件221，並設有可跨置於承台21之承跨部件214上之第一跨移部222，第一跨移部222係設有可為桿體之第一承推部件223，另於該滑動具與容置空間之間係設有至少一彈性件，以使滑動具作第一方向彈性位移，於本實施例中，該第一滑動具22與第一容置空間212之間設有第一彈性件224，以使第一滑動具22作X方向彈性位移；該第二滑動具23係於相對應承置部211之位置設有第二推抵部件231，並設有可跨置於承台21之承跨部件214之第二跨移部232，第二跨移部232係設有可為桿體之第二承推部件233，另於第二滑動具23與第二容置空間213之間設有第二彈性件234，以使第二滑動具23作X方向彈性位移；至少一掣動件係配置於承台21，而可作第二方向(如Z方向)位移，並設有至少一頂推部以頂推滑動具之承推部件，而帶動滑動具作第一方向位移，更進一步，該掣動件係設有不同尺寸之頂推部及讓 位部，該讓位部之尺寸小於頂推部之尺寸，於讓位部對應於滑動具之承推部件時，可供滑動具作第一方向向內位移，使滑動具之推抵部件推移校正電子元件之擺置，該頂推部並由讓位部之一端向上逐漸擴大而形成一錐狀，於頂推部對應於滑動具之承推部件時，可頂推承推部件，而帶動該滑動具作第一方向向外位移，而擴增承置部211之周側空間，於本實施例中，係於承台21配置有二掣動件24，各掣動件24係設有一桿徑尺寸較小之讓位部241，並於讓位部241之一端向上延伸設有一由小逐漸擴大且呈錐狀之頂推部242，該頂推部242之一端再向上延伸設有一呈直桿段之頂持部243，頂持部243之桿徑尺寸係相同於頂推部242之最大桿徑尺寸，各掣動件24係以讓位部241插置於承台21之承跨部件214開設的插孔215，而位於第一滑動具22的第一承推部件223與第二滑動具23的第二承推部件233之間，更進一步，該掣動件與承台21之間係設有至少一彈性件，以使掣動件作第二方向彈性位移，於本實施例中，該承台21係於插孔215之下方設有相通之容置孔216，該掣動件24係設有至少一擋塊244，以於掣動件24插置於承台21之插孔215時，令擋塊244位於承台21之容置孔216，擋塊244與容置孔216之間則設置至少一第三彈性件245，使掣動件24作Z方向彈性位移，另於掣動件與承台21間設有至少一限位件，於本實施例中，係於掣動件24之頂持部243設有一呈第三方向(如Y方向)配置之限位件246，該承台21係於承跨部件214處設有一呈第二方向配置之滑槽217，滑槽217供滑置限位件246。

請參閱第8、9圖，係本發明具承置單元之輸送裝置20應用於機台30上配置有供料裝置40及測試裝置50之測試分類設備，該供料裝置40係設有一具複數個承槽411之供料盤41，並以承槽411承置待測且呈柱型之電子元件60，該電子元件60之底面係具有複數個為錫球之接點61，該 測試裝置50係設有電性連接之電路板51及測試座52，該測試座52係設有複數個探針521，以電性接觸電子元件60之接點61而執行測試作業；該輸送裝置20係於供料裝置40與測試裝置50之間設有本發明之承置單元，並於承置單元之承台21下方設有至少一動力源25，以驅動承置單元之承台21作Y方向位移，又該輸送裝置20係設有一作X-Y-Z方向位移之第一移料器26，第一移料器26係於供料裝置40之供料盤41與承置單元之承台21間移載待測之電子元件60，更進一步，該輸送裝置20可獨立或於第一移料器26上配置至少一可驅動承置單元之掣動件作Z方向位移之接合部件，於本實施例中，係於第一移料器26之底部相對應掣動件24之位置設有可為淺槽之接合部件261，並設有可取放電子元件之第一拾取件262，該第一移料器26欲將待測之電子元件60移入承台21時，利用接合部件261下壓掣動件24作Z方向位移，另該輸送裝置20係設有一作X-Y-Z方向位移之第二移料器27，第二移料器27係於承置單元之承台21與測試裝置50之測試座52間移載電子元件60，更進一步，若承置單元之移動具夾緊電子元件60，該第二移料器27可設置至少一驅動該掣動件作Z方向位移之接合部件，若承置單元之移動具僅貼合且未夾緊電子元件60，該第二移料器27則可設置至少一迴避該掣動件之迴避部件，於本實施例中，第二移料器27係於底部相對應掣動件24之位置設有可為深槽之迴避部件271，該迴避部件271之深度尺寸大於掣動件24之頂持部243高度尺寸，以迴避掣動件24，而便於承台21上取放電子元件60，該第二移料器27另設有可取放電子元件之第二拾取件272。

請參閱第8、10圖，由於供料盤41之承槽411的尺寸大於待測電子元件60之尺寸，因而使待測電子元件60於承槽411內作偏斜擺置，該輸送裝置20之第一移料器26作X-Y-Z方向位移，並以第一拾取件262於供料裝置4 0之供料盤41取出一偏斜擺置且接點61朝下之待測電子元件60，並將待測電子元件60移載至承置單元處，該輸送裝置20為避免第一移料器26上偏斜擺置之待測電子元件60於移入承置單元之承台21時發生碰撞翻轉，該第一移料器26係先以接合部件261套合於承置單元之掣動件24的頂持部243，且尚未下壓掣動件24，以令待測之電子元件60對位於承台21之承置部211。

請參閱第11、12圖，接著該第一移料器26係以接合部件261下壓掣動件24作Z方向向下位移，該掣動件24即以擋塊244壓縮第三彈性件245，並令讓位部241離開第一滑動具22之第一承推部件223及第二滑動具23之第二承推部件233，而以頂推部242頂推兩側之第一承推部件223及第二承推部件233，由於頂推部242之桿徑尺寸大於讓位部241之桿徑尺寸，該掣動件24之頂推部242即可頂推兩側之第一滑動具22及第二滑動具23作X方向向外位移，第一滑動具22及第二滑動具23分別壓縮第一彈性件224及第二彈性件234，並令第一推抵部件221及第二推抵部件231作X方向外張，而可擴增承台21之承置部211的周側空間，亦即提供較大之電子元件移入空間；因此，該第一移料器26可於帶動待測電子元件60作Z方向向下位移之行程中，同步執行下壓掣動件24，而預先擴增承置部211之周側空間，以避免第一移料器26上偏斜擺置之待測電子元件60碰撞到承置部211周側的第一滑動具22及第二滑動具23，此時，該第一移料器26仍尚未將待測之電子元件60置放於承台21之承置部211。

請參閱第12、13、14圖，接著該第一移料器26係以接合部件261下壓掣動件24作Z方向向下位移，該掣動件24即以擋塊244壓縮第三彈性件245，並令頂推部242離開第一滑動具22之第一承推部件223及第二滑動具 23之第二承推部件233，而以頂持部243頂抵兩側之第一承推部件223及第二承推部件233，由於頂持部243係為直桿段，且其桿徑尺寸相同於頂推部242之最大桿徑尺寸，該掣動件24之頂持部243並不會頂推第一滑動具22及第二滑動具23作X方向位移，使第一移料器26於帶動待測電子元件60作Z方向向下位移之行程中，而可利用掣動件24之頂持部243頂抵第一滑動具22及第二滑動具23保持不動，亦即令第一滑動具22之第一推抵部件221及第二滑動具23之第二推抵部件231保持外張，以供第一移料器26之第一拾取件262順暢將待測電子元件60置放於承台21之承置部211，並利用掣動件24之限位件246滑移頂抵承台21之滑槽217底部而限位；因此，該承置單元可利用第一移料器26驅動該掣動件24，並以掣動件24帶動第一滑動具22及第二滑動具23外張，使承台21之承置部211提供較大之移入空間，進而有效避免待測電子元件60因外力碰撞而發生翻轉之情事，使待測電子元件60之接點61保持預設朝下而置放於承台21之承置部211，達到便利移入且正確置放電子元件之實用效益。

請參閱第5、15、16圖，於第一移料器26之第一拾取件262將待測之電子元件60移入承台21之承置部211後，即作Z方向向上位移而令接合部件261脫離掣動件24，各掣動件24因無外力壓抵，可利用第三彈性件245之復位彈力頂推而作Z方向向上位移，並以擋塊244頂抵於承台21之容置孔216頂面而限位，使掣動件24之頂持部243離開第一滑動具22之第一承推部件223及第二滑動具23之第二承推部件233，而以讓位部241對應於兩側之第一承推部件223及第二承推部件233，由於讓位部241之桿徑尺寸小於頂持部243之桿徑尺寸，使得第一承推部件223及第二承推部件233在無外力壓抵下，第一滑動具22及第二滑動具23可利用第一彈性件224及第二彈性件234之復位彈力 頂推而作X方向向內位移，並令第一推抵部件221及第二推抵部件231推抵承置部211上偏斜擺置之電子元件60作水平角度位移而校正擺置位置，由於第一滑動具22之第一推抵部件221及第二滑動具23之第二推抵部件231並未夾緊待測之電子元件60，進而利於第二移料器(圖未示出)順利取出承置部211上之待測電子元件60。

請參閱第16、17、18、19圖，於承台21之承置部211承置待測之電子元件60後，該第二移料器27係作X-Y方向位移至承台21之上方，由於第二移料器27之迴避部件271係為一深度尺寸大於掣動件24之頂持部243高度尺寸的深槽，當第二移料器27作Z方向向下位移而以迴避部件271套合於掣動件24之頂持部243時，迴避部件271並不會下壓該掣動件24位移，亦使第一滑動具22及第二滑動具23保持不動，該第二移料器27即以第二拾取件272接觸吸附待測之電子元件60；接著該第二移料器27作Z方向向上位移，令迴避部件271脫離掣動件24，使第二拾取件272於承台21之承置部211處取出待測之電子元件60，並移載至測試裝置50之測試座52，由於待測電子元件60之接點61保持朝下且正確置放於承台21之承置部211上，使得測試座52可對該接點61朝下之待測電子元件60準確執行測試作業，達到提升測試品質之實用效益。

請參閱第4至7圖及第20圖，係本發明具承置單元之輸送裝置20應用於電子元件測試分類設備之示意圖，該測試分類設備係於機台30上配置有供料裝置40、測試裝置50、收料裝置70、本發明輸送裝置20及中央控制裝置(圖未示出)，該供料裝置40係配置於機台30，並設有至少一容納待測電子元件60之供料承置器，於本實施例中，該供料承置器係為供料盤41，該收料裝置70係配置於機台30，並設有至少一容納已測電子元件60之收料承置器，於本實施例中，該收料 承置器係為收料盤71，該測試裝置50係配置於機台30，並設有至少一測試電子元件之測試器，於本實施例中，係於機台30之二側並呈對向設置有複數個測試裝置50，以對電子元件執行測試作業，該測試器係具有電性連接之測試板51及測試座52，該測試座52係承置及測試電子元件60，該輸送裝置20係設有至少一移載電子元件之移料器，以及本發明之可承載電子元件的承置單元，於本實施例中，該輸送裝置20係以第一移料器26於供料裝置40之供料盤41處取出待測之電子元件60，並移載至承台21，且下壓承台21上之掣動件24，以使第一、二滑動具22、23外張，而擴張承置部211之周側空間，以供順利移入待測之電子元件60，並利用第一、二滑動具22、23校正待測電子元件60之正確擺置，該承台21於承載待測之電子元件60後，並由動力源25驅動作Y方向位移，該輸送裝置20係以第二移料器27於承台21上待測之電子元件60，並移載至測試裝置50而執行測試作業，並將測試裝置50之已測電子元件60移載至承台21，第一移料器26係於承台21取出已測之電子元件60，並依據測試結果，將已測之電子元件60輸送至收料裝置70之收料承置器而分類收置，該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

Claims (10)

1. 一種具承置單元之輸送裝置，包含：承台：係設有至少一承置電子元件之承置部；滑動具：係配置於該承台之承置部側方，並於相對該承置部之位置設有至少一推抵電子元件之推抵部件，另設有至少一承推部件；掣動件：係配置於該承台，並可作第二方向位移，該掣動件係設有至少一可頂推該滑動具之承推部件的頂推部，以驅動該滑動具作第一方向位移。
2. 依申請專利範圍第1項所述之具承置單元之輸送裝置，其中，該承台係於該承置部之至少一側設有承置該滑動具之容置空間。
3. 依申請專利範圍第2項所述之具承置單元之輸送裝置，其中，該滑動具與該承台的容置空間之間係設有至少一彈性件。
4. 依申請專利範圍第1項所述之具承置單元之輸送裝置，其中，該承台係設有至少一承跨部件，該滑動具係設有至少一跨置於該承跨部件之跨移部。
5. 依申請專利範圍第1項所述之具承置單元之輸送裝置，其中，該掣動件之頂推部一端係設有較小尺寸之讓位部。
6. 依申請專利範圍第5項所述之具承置單元之輸送裝置，其中，該掣動件之頂推部另一端係設有呈直桿段之頂持部。
7. 依申請專利範圍第1項所述之具承置單元之輸送裝置，其中，該掣動件與該承台之間係設有至少一彈性件。
8. 依申請專利範圍第1項所述之具承置單元之輸送裝置，更包含該輸送裝置係設有至少一第一移料器，該第一移料器係設有至少一壓接該掣動件位移之接合部件，以及設置至少一取放電子元件之第一拾取件。
9. 依申請專利範圍第8項所述之具承置單元之輸送裝置，更包含該輸送裝置係設有至少一第二移料器，該第二移料器係設有至少一迴避該掣動件之迴避部件，以及設置至少一取放電子元件之第二拾取件。
10. 一種應用具承置單元之輸送裝置的測試分類設備，包含：機台；供料裝置：係裝配於該機台，並設有至少一容納待測電子元件之供料承置器；收料裝置：係裝配於該機台，並設有至少一容納已測電子元件之收料承置器；測試裝置：係裝配於該機台，並設有至少一測試電子元件之測試器；至少一依申請專利範圍第1項所述之具承置單元之輸送裝置：係裝配於該機台，以承置電子元件，並設置至少一移載電子元件之移料器；中央控制裝置：係用以控制及整合各裝置作動，而執行自動化作業。