TWI758092B - 接合機構及其應用之測試設備 - Google Patents

Abstract

一種接合機構，包含架置具及頂推具，架置具之內面設有由上向下傾斜之連接面，頂推具裝配於架置具之連接面，並設有可作斜向位移之推移部件，頂推具以推移部件對電性測試器上之射頻電子元件施以一斜向力，利用斜向力之第一分力夾持射頻電子元件，並同時以第二分力驅動射頻電子元件沿壓接軸線向下位移，使射頻電子元件之接點確實壓接電性測試器之探針執行電性測試作業，並防止屏蔽射頻電子元件頂面之天線，以利天線進行無線訊號測試作業，進而提升測試品質。

Description

接合機構及其應用之測試設備

本發明提供一種使射頻電子元件確實壓接電性測試器，並防止屏蔽射頻電子元件之天線的接合機構。

在現今，一內建有天線之射頻電子元件廣泛應用於行動通訊區域無線網路系統及無線通訊區域網路系統等領域；射頻電子元件於本體之底面設置複數個接點，並於本體之頂面設置天線，射頻電子元件於出廠前，除了執行電性測試作業，亦需執行無線訊號測試作業，以確保品質。

測試裝置於機台配置一具探針之電性測試器，並於電性測試器之上方配置天線測試器；當射頻電子元件置入於電性測試器時，射頻電子元件以接點接觸電性測試器之探針而執行電性測試作業，並以天線朝向天線測試器發出無線訊號，天線測試器接收無線訊號而進行無線訊號測試作業。

惟，由於電性測試器之探針內具有彈簧，射頻電子元件之自重壓力不足以使接點與探針作有效性地電性接觸，以致影響射頻電子元件之電性測試準確性。若以一壓接器由上向下下壓電子元件之頂面，雖可使射頻電子元件之接點確實接觸電性測試器之探針，卻會導致壓接器屏蔽電子元件之天線，以致影響射頻電子元件之無線訊號測試準確性；因此，如何在不影響天線測試器與射頻電子元件之無線訊號測試作業的要件下，使射頻電子元件確實壓接電性測試器執行電性測試作業，著實相當重要。

本發明之目的一，提供一種接合機構，包含架置具及頂推具，架置具之內面設有由上向下傾斜之連接面，頂推具裝配於架置具之連接面，並設有可作斜向位移之推移部件，頂推具以推移部件對電性測試器上之電子元件施以一斜向力，利用斜向力之第一分力夾持電子元件，並同時以第二分力驅動電子元件沿壓接軸線向下位移，使電子元件之接點確實壓接電性測試器之探針執行電性測試作業，進而提升測試品質。

本發明之目的二，提供一種接合機構，其頂推具以斜向力夾持且壓接一為射頻電子元件之電子元件，可防止屏蔽射頻電子元件頂面之天線，以利天線與一天線測試器進行無線訊號測試作業，進而提升測試品質。

本發明之目的三，提供一種接合機構，其頂推具以斜向力對電子元件同步執行夾持及壓接的動作，不僅有效縮減驅動用元件而節省機構成本，並可縮減佔用空間而利於測試設備空間配置。

本發明之目的四，提供一種測試設備，包含機台、供料裝置、收料裝置、具本發明接合機構之測試裝置、輸送裝置及中央控制裝置；供料裝置配置於機台上，並設有至少一容納待測電子元件之供料承置器；收料裝置配置於機台上，並設有至少一容納已測電子元件之收料承置器；測試裝置配置於機台上，包含電性測試器及本發明接合機構，以供測試電子元件；輸送裝置配置於機台上，並設有至少一輸送器，以輸送電子元件；中央控制裝置以供控制及整合各裝置作動，而執行自動化作業。

為使　貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：

請參閱圖1、2，本發明接合機構包含架置具11及頂推具12。

架置具11可為獨立元件或機台，例如架置具11為一中空框架，並裝配於機台之通孔；例如直接以機台之面板作為架置具11，例如架置具11為一支撐架，以裝配於電性測試器上方；因此，架置具11不受限於本實施例。

架置具11設有裝配空間；更進一步，架置具11可以複數個面板圍構形成一裝配空間，或者以中空框架之鏤空孔作為裝配空間；於本實施例，架置具11為一獨立之中空框架，並以中空框架之鏤空孔作為裝配空間111，架置具11裝配於機台20之通孔21，並位於電性測試器之測試座311上方。

更進一步，架置具11之內面設有由上向下傾斜之連接面112；於本實施例，架置具11於裝配空間111之內面設有由上向下傾斜之連接面112，連接面112與架置具11之底面具有適當夾角，夾角之角度可供頂推具12對電子元件施以一斜向力，利用此一斜向力夾持且壓接電子元件；因此，架置具11裝配測試座311上，架置具11之連接面112朝向測試座311之承槽3111。

頂推具12裝配於架置具11，頂推具12可為氣囊、壓電元件或壓缸等；頂推具12可主動式呈斜向配置而裝配於架置具11，例如頂推具12呈45度角斜向配置於立式架置具11；或者頂推具12可被動式裝配於架置具11，例如頂推具12裝配於架置具11之呈45度斜面的連接面112，使頂推具12呈斜向配置；前述方式均可使頂推具12呈斜向配置。

於本實施例，頂推具12為環形氣囊，並連接充氣設備(圖未示出) ，頂推具12以氣囊之環形空間形成一容置空間121，以供移入或移出電子元件，頂推具12以外環面固設於架置具11之連接面112，而呈斜向配置於架置具11之裝配空間111。

頂推具12設有至少一作斜向位移之推移部件，推移部件以供對電子元件施以一斜向力，利用斜向力之第一分力夾持電子元件，並同時以第二分力驅動電子元件沿壓接軸線A向下位移，使電子元件之接點確實壓接電性測試器之探針312執行電性測試作業，更可防止屏蔽電子元件頂面之天線，以利天線進行無線訊號測試作業。

更進一步，推移部件可為氣囊外表面之一部位，或者推移部件可為壓電元件之一端，或者推移部件可為壓缸之活塞桿一端，因此推移部件為一自由端部，而可作斜向位移以夾持電子元件之側面，且驅動電子元件沿壓接軸線A位移。於本實施例，頂推具12以環形氣囊之內環面作為推移部件122，由於頂推具12呈朝下之斜向配置，而可使推移部件122作朝下之斜向位移。

請參閱圖3，本發明接合機構應用於測試裝置30，以供測試一為射頻電子元件40之電子元件，射頻電子元件40之底面具有複數個接點41，並於頂面設有天線42，測試裝置30配置有電性測試器及天線測試器，電性測試器設置電性連接之電路板313及具探針312的測試座311，測試座311裝配於機台20，以供對射頻電子元件40執行電性測試作業；天線測試器32設有至少一訊號作業件321，並配置於接合機構之上方，以供對位於測試工位(如測試座311)之射頻電子元件40執行無線訊號測試作業。

射頻電子元件40由頂推具12之容置空間121移入測試座311之承槽3111，頂推具12環置於射頻電子元件40之側面，亦即頂推具12之推移部件122呈向下傾斜且朝向射頻電子元件40之側面，射頻電子元件40之複數個接點41接觸測試座311之複數個探針312，由於頂推具12環置於射頻電子元件40之側面，可有效防止推移部件122屏蔽射頻電子元件40頂面之天線42，以利天線42進行無線訊號測試作業。

請參閱圖4、5，接合機構以充氣設備將氣體注入一為氣囊之頂推具12，由於頂推具12呈斜向配置，使得頂推具12朝斜下方隆起變形，令推移部件122作斜向且朝下位移，而對射頻電子元件40之側面施以一斜向力F，斜向力F分成不同方向之第一分力Fx及第二分力Fy，該第二分力Fy大於該第一分力Fx，頂推具12利用斜向力F之第一分力Fx驅動推移部件122夾持射頻電子元件40之側面，並同時以斜向力F之第二分力Fy驅動推移部件122帶動射頻電子元件40沿壓接軸線A向下位移，使射頻電子元件40之接點41確實壓接電性測試器之探針312執行電性測試作業，由於頂推具12之推移部件122夾持於射頻電子元件40之側面，可利於射頻電子元件40頂面之天線42與天線測試器32進行無線訊號測試作業，進而提升測試品質。

請參閱圖1~6，本發明接合機構應用於測試設備之示意圖，於本實施例，測試設備應用測試射頻電子元件。測試設備包含機台20、供料裝置50 、收料裝置60、具本發明接合機構之測試裝置30、輸送裝置70及中央控制裝置（圖未示出）；供料裝置50配置於機台20上，並設有至少一容納待測電子元件(如射頻電子元件)之供料承置器51；收料裝置60配置於機台20上，並設有至少一容納已測電子元件之收料承置器61；測試裝置30配置於機台20上，包含電性測試器及接合機構，接合機構以供夾持電子元件，並驅動電子元件壓接電性測試器，電性測試器以供對電子元件執行電性測試作業；於本實施例，機台20之第一側及第二側分別配置測試裝置30，測試裝置30更包含天線測試器，以供對射頻電子元件執行無線訊號測試作業；輸送裝置70配置於機台20上，並設有至少一輸送器，以供輸送電子元件，於本實施例，輸送裝置70設有作X-Y-Z方向位移之第一輸送器71，第一輸送器71於供料裝置50取出待測之射頻電子元件，並移入二為載台之第二輸送器72，一第三輸送器73於第二輸送器72與測試裝置30間取放待測射頻電子元件及已測射頻電子元件，第一輸送器71再於第二輸送器72取出已測之射頻電子元件，並依測試結果，將已測之射頻電子元件移載至收料裝置60而分類收置；中央控制裝置用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

11:架置具 111:裝配空間 112:連接面 12:頂推具 121:容置空間 122:推移部件 20:機台 21:通孔 30:測試裝置 311:測試座 3111:承槽 312:探針 313:電路板 32:天線測試器 321:訊號作業件 40:射頻電子元件 41:接點 42:天線 50:供料裝置 51:供料承置器 60:收料裝置 61:收料承置器 70:輸送裝置 71:第一輸送器 72:第二輸送器 73:第三輸送器 A:壓接軸線 F:斜向力 Fx:第一分力 Fy:第二分力

圖1：本發明接合機構之示意圖。 圖2：係圖1之局部放大示意圖。 圖3：本發明接合機構應用於測試裝置之示意圖。 圖4：本發明接合機構之使用示意圖。 圖5：係圖4之局部放大示意圖。 圖6：本發明接合機構應用於測試設備之示意圖。

12:頂推具

32:天線測試器

40:射頻電子元件

42:天線

A:壓接軸線

Claims (10)

1. 一種接合機構，包含：架置具：設有至少一連接面；頂推具：配置於該架置具之該連接面，並設有至少一作斜向位移之推移部件，該推移部件以供對電子元件施以一斜向力，利用該斜向力之第一分力夾持該電子元件，並以該斜向力之第二分力驅動該推移部件推移該電子元件沿壓接軸線向下位移，以供該電子元件壓接作動。
2. 如請求項1所述之接合機構，其該架置具設有裝配空間，以供容置該頂推具。
3. 如請求項1所述之接合機構，其該架置具之內面設有由上向下傾斜之該連接面，以供裝配該頂推具。
4. 如請求項1所述之接合機構，其該頂推具呈斜向裝配於該架置具。
5. 如請求項1所述之接合機構，其該頂推具之該斜向力的該第二分力大於該第一分力。
6. 如請求項1所述之接合機構，其該頂推具為氣囊、壓電元件或壓缸。
7. 如請求項1所述之接合機構，其該頂推具為氣囊，並設有容置空間，以供移入或移出該電子元件。
8. 一種測試設備，包含：機台；供料裝置：配置於該機台上，並設有至少一容納待測電子元件之供料承置器； 收料裝置：配置於該機台上，並設有至少一容納已測電子元件之收料承置器；測試裝置：配置於該機台上，並設有電性測試器及至少一如請求項1所述之接合機構，該電性測試器配置於該接合機構之下方，以供對該電子元件執行電性測試作業；輸送裝置：配置於該機台上，並設有至少一輸送器，用以輸送電子元件；中央控制裝置：以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。
9. 如請求項8所述之接合機構，其該架置具裝配於該機台，並位於該電性測試器上方。
10. 如請求項8所述之接合機構，其該測試裝置設置天線測試器，以供對射頻電子元件執行無線訊號測試作業。

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