TWI703333B - 具天線之電子元件的測試裝置及其應用之測試設備 - Google Patents
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Abstract
一種具天線之電子元件的測試裝置,包含測試室、測試單元、承置器及調整單元,測試單元係於測試室之內部配置第一測試器,以接收電子元件之訊號
,承置器係位於測試室之內部,以供承置待測之具天線的電子元件,調整單元係設有至少一調整器,以調整第一測試器或承置器之擺置角度,令電子元件之待測輻射角度指向相對於第一測試器,使第一測試器接收電子元件之天線所發出指向波束的訊號;藉此可測試電子元件之不同輻射角度指向的功率傳輸效能
,並有效縮減第一測試器之配置數量,達到提升測試效能及節省成本之實用效益。
Description
本發明係提供一種具天線之電子元件的測試裝置。
在現今,行動通訊區域無線網路系統、無線通訊區域網路系統或藍芽無線個人網路系統等,在為了增加資料傳輸速度的需求下,一內建有複數個天線之電子元件即為前述通訊系統之重要應用。目前電子元件係於一面設置複數個電性接點,並於其他各面設置複數個陣列排列之天線,利用調節各天線的相位及波束成形技術,使得天線陣列在特定角度指向上的發射/接收訊號一致地疊加,形成一個指向性波束,而其他方向的訊號則相互抵銷,藉以產生最佳發射/接收指向波束,換言之,電子元件依使用需求,於0度或30度等不同輻射角度指向產生最佳之指向波束而傳輸最強訊號;因此,如何測試電子元件是否朝向預設輻射角度指向產生最佳之指向波束,即為業者研發之標的。
本發明之目的一,係提供一種具天線之電子元件的測試裝置,包含測試室、測試單元、承置器及調整單元,測試單元係於測試室之內部配置第一測試器,以接收電子元件之訊號,承置器係位於測試室之內部,以供承置待測之具天線的電子元件,調整單元係設有至少一調整器,以調整第一測試器或承置器之擺置角度,令電子元件之待測輻射角度指向相對於第一測試器,使第一測試器接收電子元件之天線所發出指向波束的訊號;藉此可測試電子元件之不同輻射角度指向的功率傳輸效能,達到提升測試效能之實用效益。
本發明之目的二,係提供一種具天線之電子元件的測試裝置,其中,調整單元係以至少一調整器,並可視電子元件之不同待測輻射角度指向,而調整第一測試器或承置器之擺置角度,使電子元件之待測輻射角度指向相對於第一測試器,藉以有效縮減第一測試器之配置數量,達到節省成本之實用效益。
本發明之目的三,係提供一種具天線之電子元件的測試裝置,其中,該測試單元係於承置器設有第二測試器,以電性測試電子元件,達到提升測試效能之實用效益。
本發明之目的四,係提供一種具天線之電子元件的測試裝置,其中,調整單元係設有至少一移載器,以承載及搬移測試室,利於裝配測試室,達到便利裝拆測試室之實用效益。
本發明之目的五,係提供一種具天線之電子元件的測試裝置,更包含移料單元,移料單元係設有至少一移料器,以於承置器移入/移出電子元件,達到提升移料便利性之實用效益。
本發明之目的六,係提供一種應用測試裝置之測試設備,包含機台、供料裝置、收料裝置、本發明之測試裝置、輸送裝置及中央控制裝置;供料裝置係配置於機台上,並設有至少一容納待測電子元件之供料承置器;收料裝置係配置於機台上,並設有至少一容納已測電子元件之收料承置器;本發明之測試裝置係配置於機台上,包含測試室、測試單元、承置器及調整單元,以測試具天線之電子元件;輸送裝置係配置於機台上,並設有至少一輸送器,用以輸送電子元件;中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動,以執行自動化作業,達到提升作業效能之實用效益。
為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解,茲舉一較佳實施例並配合圖式,詳述如后。
請參閱第1、2圖,本發明之測試裝置10包含測試室、測試單元、承置器及調整單元,該測試室係設有具至少一測試空間之本體11,本體11可為外罩,而罩置於機台20,以於外罩之內部形成測試空間,本體11亦可為箱體,而裝配於機台20,以於箱體之內部形成測試空間,於本實施例中,本體11係為一中空之箱體,而於內部形成測試空間,本體11於側面具有通口111,並於通口111處設有可啟閉之門板112,以供移入/移出電子元件,本體11及門板112可由隔離材製成,亦或於外部覆加以隔離材製成之隔離件,於本實施例中,本體11及門板112係由隔離材製成,以隔離外部雜訊干擾。
承置器12係位於測試室之內部,以供承置待測之具天線的電子元件,承置器12可為承台或測試座,更進一步,承置器12係以至少一定位部件定位電子元件,該定位部件可為夾具或抽吸部,以夾持或吸附電子元件定位,於本實施例中,承置器12係位於測試室之本體11的測試空間,並為一測試座,而以頂面作為一供承置電子元件之承置部121,承置部121設有複數個為抽吸部之定位部件122,定位部件122連接一抽氣設備(圖未示出),以便吸附或釋放電子元件。
測試單元係於測試室之內部配置第一測試器131,以相對電子元件之待測輻射角度指向,第一測試器131可為接收器或發射器,亦或具有發射及接收功能之收發器,第一測試器131可連接一獨立之處理器,以將接收電子元件的訊號傳輸至處理器,亦或將處理器之測試訊號發射至待測之電子元件,又該處理器亦可為中央控制裝置(圖未示出)之處理器,第一測試器131之測試軸向X的角度係相同或偏近於電子元件之待測輻射角度指向(如0度、30度或45度等),以使第一測試器131接收電子元件之待測輻射角度指向所發出指向波束的訊號,或朝向電子元件之待測輻射角度指向發出測試訊號,於本實施例中,測試單元係於測試室之本體11的測試空間頂面裝配第一測試器131,第一測試器131係為接收器,以接收電子元件之待測輻射角度指向所發出指向波束的訊號,並將接收之訊號傳輸至中央控制裝置之處理器,以供中央控制裝置之處理器作一分析,而判別電子元件之待測輻射角度指向所發出的訊號強度是否符合標準;測試單元另於承置器12配置第二測試器,以對電子元件執行電性測試作業,更進一步,第二測試器包含電性連接之傳輸件及電路板,亦或包含測試座、裝配於測試座之傳輸件及電性連接傳輸件之電路板,例如第二測試器可將傳輸件配置於承置器12,又例如第二測試器可將具傳輸件之測試座配置於承置器12,並以測試座承置電子元件,於本實施例中,第二測試器係於承置器12設有複數支傳輸件(如探針)132,傳輸件132之第一端係電性連接電路板133,第二端則供測試時電性連接電子元件之接點,以對電子元件執行電性測試作業。
調整單元係設有至少一調整器141,以調整第一測試器131或承置器12之擺置角度,使電子元件之待測輻射角度指向相對於第一測試器131,調整器141可為機械手臂或轉軸,或包含複數個調整桿件,以驅動調整第一測試器131或承置器12擺置呈測試作業所需之角度(如0度、30度或45度等),例如複數個調整桿件可作不同高度搭配作動,以驅動第一測試器131或承置器12擺動,更進一步,調整器141可固設於測試室之本體11內部,亦或於本體11之內部作至少一方向位移,例如調整器141可裝配於一承載器上,該承載器可為線性馬達、壓缸,或包含馬達及傳動組,以承載調整器141作至少一方向位移,於本實施例中,調整器141係為機械手臂,其第一端係以第一連結件1411固設於測試室之本體11內部,第二端則以第二連結件1412連結裝配於承置器12之下方,以驅動調整承置器12之擺置角度,承置器12之擺置角度範圍係為第一測試器131的作業範圍,例如承置器12之擺置角度範圍為±90度;調整單元另於測試室之下方配置移載器142,以承載測試室作至少一方向位移,移載器142可為線性馬達、壓缸,或包含馬達及傳動組,於本實施例中,移載器142係承載測試室之本體11,以驅動本體11作第一、二方向(如X-Z方向)位移,而供工作人員便利將本體11裝配於機台20。
本發明之測試裝置10更包含移料單元,移料單元係設有至少一移料器,以於承置器12移入/移出電子元件,於本實施例中,移料單元係配置於測試室之本體11側方,並以驅動器151驅動第一移料器152及第二移料器153作第一、二、三方向(如X-Z-Y方向)位移,第一移料器152及第二移料器153分別於承置器12移入待測之電子元件及移出已測之電子元件。
請參閱第3、4圖,移料單元之第一移料器152係吸附一待測且具天線161之電子元件16,並以驅動器151驅動第一移料器152及第二移料器153作Y方向位移至測試室之本體11的通口111側方,測試室之本體11即開啟門板112,移料單元之驅動器151驅動第一移料器152作X-Z方向位移,令第一移料器152經過本體11之通口111,而將待測之電子元件16移置於承置器12之承置部121上,承置器12即以定位部件122吸附電子元件16定位,並使電子元件16之接點162電性接觸第二測試器之傳輸件132。
請參閱第5、6圖,於移料單元之第一移料器152將待測之電子元件16移置於承置器12後,移料單元之驅動器151驅動第一移料器152作X-Z反向位移退出測試室之本體11,測試室之本體11即以門板112關閉通口111,由於本體11及門板112由隔離材製成,而可隔離外部雜訊干擾,然不同電子元件之設計型態,其供電方式也不同,例如電子元件本身具備電源,而可自行供電,亦或電子元件可經由外部供電,於本實施例中
,第二測試器之傳輸件132電性連接電子元件16之接點162,測試單元不僅可利用電性連接之傳輸件132及電路板133對電子元件16進行電性測試作業,並可供電至電子元件16,以便電子元件16之天線161發射指向波束,若業者為測試電子元件16是否依預設之0度待測輻射角度指向發射最佳的指向波束,調整單元之調整器141即帶動承置器12擺置呈水平狀態
,使承置器12上之待測電子元件16朝向第一測試器131,並以電子元件16之中間軸線的角度作為0度,令電子元件16之0度待測輻射角度指向保持相同於第一測試器131之測試軸向X的角度,當電子元件16朝向0度待測輻射角度指向發射指向波束的訊號時,第一測試器131即接收電子元件16之指向波束的訊號,並將接收之訊號傳輸至中央控制裝置之處理器,以供中央控制裝置之處理器作一分析,而判別電子元件16朝向0度待測輻射角度指向所發射之指向波束是否為最佳之波束,亦即是否具有最強的訊號,若是,則判斷電子元件16為良品,反之,則判斷電子元件16為不良品,藉此測試出電子元件16之品質;於測試完畢後,測試室之本體11即開啟門板112,以供移料單元之第二移料器153於承置器12取出已測之電子元件16,並移出測試室而收料。
請參閱第7圖,不同型式之電子元件,其天線之數量及陣列配置也不相同,當下一批待測且具有天線171之電子元件17所提供之功能係為朝向30度輻射角度指向發射最佳指向波束的訊號時,業者即必需測試電子元件17之天線171是否會朝向30度輻射角度指向發射最佳指向波束的訊號
,調整單元之調整器141即帶動承置器12偏擺傾斜30度,使承置器12上之待測電子元件17同步偏擺傾斜30度,令電子元件17之30度待測輻射角度指向保持相同於第一測試器131之測試軸向X的角度,當電子元件17之天線171朝向30度待測輻射角度指向發射指向波束的訊號時,第一測試器131即接收電子元件17之訊號,並將接收之訊號傳輸至中央控制裝置之處理器,以供中央控制裝置之處理器作一分析,而判別電子元件17朝向30度待測輻射角度指向所發射指向波束的訊號是否為最強之訊號,藉此測試出電子元件17之品質。
請參閱第8圖,不同型式之電子元件,其天線配置也不相同,當另一批待測且具天線181之電子元件18所提供之功能係為朝向90度輻射角度指向發射最佳指向波束的訊號時,業者即必需測試電子元件18之天線181是否會朝向90度輻射角度指向發射最佳指向波束,調整單元之調整器141即帶動承置器12偏擺傾斜90度,使承置器12上之待測電子元件18同步偏擺傾斜90度,令電子元件18之90度待測輻射角度指向保持相同於第一測試器131之測試軸向X的角度,當電子元件18之天線181朝向90度待測輻射角度指向發射指向波束的訊號時,第一測試器131即接收電子元件18之訊號,並將接收之訊號傳輸至中央控制裝置之處理器,以供中央控制裝置之處理器作一分析,而判別電子元件18朝向90度待測輻射角度指向所發射指向波束的訊號是否為最強之訊號,藉此測試出電子元件18之品質。
因此,測試裝置10毋需於測試室內之30度或90度位置分別裝配第一測試器131,在第一測試器131(如測試天線)動輒數十萬的情況下,測試裝置10利用單一之第一測試器131搭配調整單元,即可執行電子元件之不同輻射角度指向的測試作業,以有效節省裝置成本及利於測試室之空間運用。
請參閱第1、2、9圖,係本發明測試裝置10應用於測試設備之示意圖,包含機台20、供料裝置30、收料裝置40、本發明之測試裝置10、輸送裝置50及中央控制裝置(圖未示出);供料裝置30係配置於機台20上,並設有至少一容納待測電子元件之供料承置器31;收料裝置40係配置於機台20上,並設有至少一容納已測電子元件之收料承置器41;本發明之測試裝置10係配置於機台20上,包含測試室、測試單元、承置器12及調整單元,以測試具天線之電子元件,於本實施例中,測試裝置10係於機台20之第一側及第二側分別配置有複數個測試室,各測試室內配置測試單元、承置器12及調整單元,本發明測試裝置10並於機台20上配置二移料單元,一移料單元之第一移料器152及第二移料器153係於第一側之複數個測試室移載待測電子元件及已測電子元件,另一移料單元之第一移料器152及第二移料器153則於第二側之複數個測試室移載待測電子元件及已測電子元件,於測試室內之承置器12承置待測之電子元件後,調整單元即依電子元件之待測輻射角度指向,而帶動承置器12及電子元件調整擺置角度,使電子元件之待測輻射角度指向對位於測試單元之第一測試器131而執行訊號測試作業;輸送裝置50係配置於機台20上,並設有至少一輸送器,用以輸送電子元件,於本實施例中,輸送裝置50係設有作第一、二、三方向位移之第一輸送器51,第一輸送器51係為拾取器,以於供料裝置30取出待測之電子元件,並移載至具載台之第二輸送器52,第一移料器152於第二輸送器52取出待測之電子元件,第二移料器153則將已測之電子元件移入第二輸送器52,第一輸送器51於第二輸送器52取出已測之電子元件,並依測試結果,將已測之電子元件移載至收料裝置40而分類收置;中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動,以執行自動化作業,達到提升作業效能之實用效益。
10:測試裝置
11:本體
111:通口
112:門板
12:承置器
121:承置部
122:定位部件
131:第一測試器
132:傳輸件
133:電路板
X:測試軸向
141:調整器
1411:第一連結件
1412:第二連結件
142:移載器
151:驅動器
152:第一移料器
153:第二移料器
16:電子元件
161:天線
162:接點
17:電子元件
171:天線
18:電子元件
181:天線
20:機台
30:供料裝置
31:供料承置器
40:收料裝置
41:收料承置器
50:輸送裝置
51:第一輸送器
52:第二輸送器
第1圖:本發明測試裝置之示意圖。
第2圖:本發明之局部示意圖。
第3圖:本發明之使用示意圖(一)。
第4圖:本發明之使用示意圖(二)。
第5圖:本發明之使用示意圖(三)。
第6圖:本發明之使用示意圖(四)。
第7圖:本發明之使用示意圖(五)。
第8圖:本發明之使用示意圖(六)。
第9圖:本發明應用於測試設備之示意圖。
10:測試裝置
11:本體
111:通口
112:門板
12:承置器
121:承置部
131:第一測試器
X:測試軸向
141:調整器
1411:第一連結件
1412:第二連結件
142:移載器
151:驅動器
152:第一移料器
153:第二移料器
20:機台
Claims (10)
- 一種具天線之電子元件的測試裝置,包含:測試室;承置器:係位於該測試室之內部,以供承置具天線的電子元件;測試單元:係位於該測試室之內部,並配置至少一第一測試器,以供接收或發射訊號;調整單元:係設有至少一調整器,該調整器裝配於該第一測試器或該承置器,以調整該第一測試器或該承置器傾斜擺置呈不同角度,而供對電子元件配置於不同位置之天線進行不同角度測試。
- 依申請專利範圍第1項所述之具天線之電子元件的測試裝置,其中,該測試室係設有具測試空間之本體,該本體具有通口,以供移入/移出電子元件。
- 依申請專利範圍第2項所述之具天線之電子元件的測試裝置,其中,該測試室之該本體係設有門板,以供啟閉該通口。
- 依申請專利範圍第1項所述之具天線之電子元件的測試裝置,其中,該承置器係設有至少一定位部件,以定位電子元件。
- 依申請專利範圍第1項所述之具天線之電子元件的測試裝置,其中,該第一測試器之測試軸向的角度係相同或偏近於電子元件之待測輻射角度指向。
- 依申請專利範圍第1項所述之具天線之電子元件的測試裝置,其中,該測試單元係於該承置器配置第二測試器,以供對電子元件執行電性測試作業。
- 依申請專利範圍第1項所述之具天線之電子元件的測試裝置,其中,該調整器係為機械手臂、轉軸或包含複數個調整桿件。
- 依申請專利範圍第1項所述之具天線之電子元件的測試裝置,其中,該調整單元係於該測試室之下方配置移載器,以承載該測試室作至少一方向位移。
- 依申請專利範圍第1項所述之具天線之電子元件的測試裝置,更包含移料單元,該移料單元係設有至少一移料器,以於該承置器移入/移出電子元件。
- 一種電子元件測試設備,包含:機台;供料裝置:係配置於該機台上,並設有至少一容納待測電子元件之供料承置器;收料裝置:係配置於該機台上,並設有至少一容納已測電子元件之收料承置器;至少一依申請專利範圍第1項所述之具天線之電子元件的測試裝置:係配置於該機台上,包含測試室、測試單元、承置器及調整單元,以測試具天線之電子元件;輸送裝置:係配置於該機台上,並設有至少一輸送器,用以輸送電子元件; 中央控制裝置:係用以控制及整合各裝置作動,以執行自動化作業。
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TWI703333B true TWI703333B (zh) | 2020-09-01 |
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TW108129295A TWI703333B (zh) | 2019-08-16 | 2019-08-16 | 具天線之電子元件的測試裝置及其應用之測試設備 |
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