TWI741433B - 射頻電子元件測試裝置及其應用之測試作業設備 - Google Patents

Abstract

一種射頻電子元件測試裝置，包含天線測試單元及電性測試單元，該天線測試單元係設有作至少一方向位移之第一載具，第一載具裝配至少一天線測試器，天線測試器之作業軸線位於預設指向，以供接收射頻電子元件之天線所傳輸的無線訊號，該電性測試單元係設有具第一電路板及第一接合部件之電性測試器，其第一接合部件供電性連接位於測試工位之射頻電子元件；藉以於電性測試單元對位於測試工位之射頻電子元件執行電性測試作業時，利用天線測試單元對測試工位之射頻電子元件的天線進行無線訊號測試作業，達到提升測試產能之實用效益。

Description

射頻電子元件測試裝置及其應用之測試作業設備

本發明係提供一種射頻電子元件的測試裝置。

在現今，行動通訊區域無線網路系統、無線通訊區域網路系統或藍芽無線個人網路系統等，於增加資料傳輸速度的需求下，一內建有天線之射頻電子元件即為前述通訊系統之重要應用；天線的發射場型依應用場所而有不同，例如偶極天線具有全指向性發射場型，應用於終端設備，使終端設備可接收不同指向之波束所傳輸的無線訊號；例如無線網路接取器之天線，則需要能夠產生特定指向(如0°、45°或21°指向)的發射場型，而接收特定位置之設備所發射的無線訊號。目前射頻電子元件係於二面分別設置接點及天線，或者於同一面設置接點及天線，利用調節天線的相位及波束成形技術，進而調整發射場型，亦即使天線陣列於特定指向的發射/接收無線訊號一致地疊加，進而產生最佳發射／接收之波束；因此，如何測試射頻電子元件之天線對於預設指向的無線訊號傳輸效能，進而淘汰出不良品，即為業者研發之標的。

本發明之目的一，係提供一種射頻電子元件測試裝置，包含天線測試單元及電性測試單元，該天線測試單元係設有作至少一方向位移之第一載具，第一載具裝配至少一天線測試器，天線測試器之作業軸線位於預設指向，以供接收射頻電子元件之天線所傳輸的無線訊號，該電性測試單元係設有具第一電路板及第一接合部件之電性測試器，其第一接合部件供電性連接位於測試工位之射頻電子元件；藉以於電性測試單元對位於測試工位之射頻電子元件執行電性測試作業時，利用天線測試單元對測試工位之射頻電子元件的天線進行無線訊號測試作業，達到提升測試產能之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種射頻電子元件測試裝置，其天線測試單元係於第一載具裝配外罩，外罩之內部裝配天線測試器，利用外罩罩置於電性測試器周側之面板時所形成封閉之測試室，而供天線測試器於測試室對射頻電子元件的天線進行無線訊號測試作業，達到提升測試品質之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種射頻電子元件測試裝置，其天線測試單元可視作業需求，利用第一載具帶動天線測試器朝向測試工位位移，而調整天線測試器與測試工位之測試距離，以利測試射頻電子元件，達到提升測試品質之實用效益。

本發明之目的四，係提供一種射頻電子元件測試裝置，其天線測試單元可視作業需求，而配置天線調整器，以供裝配天線測試器，利用天線調整器調整天線測試器之擺置位置或角度，以利測試不同指向之射頻電子元件，進而有效縮減天線測試器之配置數量，達到節省天線測試器成本之實用效益。

本發明之目的五，係提供一種射頻電子元件測試裝置，其電性測試單元可視作業需求，而配置電性調整器，以供裝配電性測試器，利用電性調整器調整電性測試器及射頻電子元件的擺置位置或角度，以利測試不同指向之射頻電子元件，亦可有效縮減天線測試器之配置數量，達到節省天線測試器成本之實用效益。

本發明之目的六，係提供一種射頻電子元件測試裝置，其電性測試單元可因應測試作業需求，而將電性測試器裝配於第二載具、測試室或移載臂，以利執行電性測試作業及無線訊號測試作業，達到提升測試產能之實用效益。

本發明之目的七，係提供一種射頻電子元件測試裝置，其電性測試單元之電性測試器裝配於第二載具或移載臂，第二載具或移載臂係移載射頻電子元件，使得天線測試器可直接對第二載具或移載臂所移載之射頻電子元件執行無線訊號測試作業，達到提升測試產能之實用效益。

本發明之目的八，係提供一種應用射頻電子元件測試裝置之測試作業設備，包含機台、供料裝置、收料裝置、本發明測試裝置、輸送裝置及中央控制裝置；供料裝置係配置於機台上，並設有至少一容納待測射頻電子元件之供料承置器；收料裝置係配置於機台上，並設有至少一容納已測射頻電子元件之收料承置器；本發明測試裝置係配置於機台上，包含天線測試單元及電性測試單元，以測試射頻電子元件；輸送裝置係配置於機台上，並設有至少一輸送器，用以輸送射頻電子元件；中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

為使　貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如后。

請參閱第1圖，係本發明測試裝置10之第一實施例，測試裝置10包含天線測試單元及電性測試單元。

該天線測試單元包含第一載具11及天線測試器12，第一載具11係作至少一方向位移，更進一步，第一載具11包含第一動力源(圖未示出)及第一作動件111，第一作動件111可為架桿、面板、箱罩或座體，以供裝配天線測試器12，第一作動件111只要可供裝配天線測試器12即可，不受限於本實施例；第一動力源可裝配於機架或測試室之箱體，以供驅動第一作動件111作線性位移或旋轉位移，例如第一動力源經第一作動件111帶動天線測試器12作線性位移時，可視作業需求而調整天線測試器12之測試距離，以利測試射頻電子元件 ；於本實施例中，第一載具11係以第一動力源驅動一為作動桿之第一作動件111作Z方向位移，第一作動件111供裝配外罩112，外罩112係為一下開口式之中空箱罩。

至少一天線測試器12係裝配於第一載具11，天線測試器12之作業軸線L位於預設指向，以對射頻電子元件之天線執行無線訊號測試作業；例如天線測試器12對射頻電子元件執行接收無線訊號之作業，例如天線測試器12對射頻電子元件執行發射測試用無線訊號之作業，例如天線測試器12對射頻電子元件執行接收及發射無線訊號之作業；又天線測試器12可連接一獨立之處理器（圖未示出），以將接收射頻電子元件的無線訊號傳輸至處理器，或者將處理器之測試用無線訊號發射至射頻電子元件，該處理器亦可為中央控制裝置（圖未示出）之處理器；再者，天線測試器12之作業軸線L角度係相同或偏近於射頻電子元件之待測指向（如0°或45°或21°指向），以接收射頻電子元件之待測指向所發出波束的無線訊號，或朝向射頻電子元件之待測指向發出測試用無線訊號；測試裝置10可依測試作業需求而變換天線測試器12之配置數量。

又天線測試器12可採固定式配置或活動式配置，例如天線測試器12可固設於第一載具11，例如天線測試器12可搭配天線調整器(圖未示出)，而調整擺置位置或角度，天線調整器可為機械手臂、轉軸、滑軌組或包含複數個調整桿件，可視作業需求，以帶動天線測試器12依待測指向所需而位移調整擺置位置或角度，亦或於原軸向旋轉調整擺置角度，使天線測試器12可測試不同0°、45°或30°等待測指向之射頻電子元件，進而有效縮減天線測試器之配置數量及節省成本；於本實施例中，天線測試器12係裝配於外罩112之頂板內面，天線測試器12之作業軸線L角度係位於0°指向，使得第一載具11之第一作動件111可帶動天線測試器12及外罩112同步依測試路徑作Z方向位移，以供外罩112罩置於電性測試單元周側之面板而形成一封閉之測試室113，使天線測試器12於測試室113對射頻電子元件的天線進行無線訊號測試作業，又電性測試單元周側之面板可為固定式配置，亦或朝外罩112作相對移動，使得面板與外罩112間形成一測試室。

再者，天線測試單元可依測試作業需求，而於天線測試器12與測試工位之間設有至少一中介器（圖未示出），中介器可為菱鏡或折射元件等，中介器係於射頻電子元件與天線測試器12之間轉送傳輸無線訊號，例如可於外罩112裝配中介器。

該電性測試單元係設有具第一電路板及第一接合部件之電性測試器21，其第一接合部件供電性連接位於測試工位之射頻電子元件而執行電性測試作業；例如電性測試器係於移載臂(圖未示出)設置電性連接之第一電路板及第一接合部件，第一接合部件係供電性連接該射頻電子元件；例如電性測試器係於移載臂設置電性連接之第一電路板、第一接合部件及第二接合部件，第一接合部件係供電性連接射頻電子元件，第二接合部件則供電性連接配置於機台板或相關物件上之第二第一電路板，例如電性測試器包含第一電路板、第一接合部件及測試座，第一接合部件係裝配於測試座，測試座供承置射頻電子元件，第一接合部件之一端電性連接第一電路板，另一端則供電性連接射頻電子元件。

電性測試器21可位於第二載具、測試室或移載臂，電性測試器可採固定式配置或活動式配置，例如電性測試器21可作固定式配置而位於測試室 ；例如電性測試器21可裝配於第二載具或移載臂而作至少一方向活動位移；更進一步，電性測試器21可搭配電性調整器(圖未示出)，而調整擺置位置或角度 ，電性調整器可為機械手臂、轉軸、滑軌組或包含複數個調整桿件，可視作業需求，以帶動電性測試器12及射頻電子元件依待測指向所需而位移調整擺置位置或角度，亦或於原軸向調整擺置呈不同角度，以利測試不同指向(如0°、45°或30°指向)之射頻電子元件，進而有效縮減天線測試器12之配置數量及節省成本。

以電性測試器21配置於測試室而言，該測試室可由箱體固設於面板（如獨立面板或機台之機台板）所形成，亦或測試室可由外罩112位移罩置於面板所形成，依作業所需，電性測試器21可固設於測試室之面板，亦或於測試室之內部位移，或者電性測試器21可移入/移出測試室；又該測試工位可位於測試室、移載臂或承座等，依不同測試作業需求而定，不受限於本實施例，例如測試工位可位於測試室，而以測試室內之面板或電性測試器作為測試工位，並搭配一具作業治具之移載臂(圖未示出)，移載臂係作至少一方向位移，作業治具可為下壓治具，以下壓射頻電子元件，且未遮蔽射頻電子元件之天線，以供射頻電子元件於測試工位執行測試作業，又例如測試工位可為移載臂移載射頻電子元件執行測試之位置，以供天線測試器12及電性測試器對移載臂之測試工位的射頻電子元件執行測試作業，例如測試工位可位於承座，以供天線測試器12及電性測試器對承座之測試工位的射頻電子元件執行測試作業；又該測試工位與天線測試器12間不具有訊號干擾件(如金屬件或導電件)，以避免無線訊號於傳輸過程損耗，使射頻電子元件之天線於測試工位對預設指向發出波束的無線訊號而進行無線訊號測試作業。

於本實施例中，電性測試器21係配置於一為機台板31之面板，並設有第一電路板212及具第一接合部件211之測試座213，測試座213設有供承置射頻電子元件之承置部2131，第一接合部件211之一端電性連接第一電路板212 ，另一端則供電性連接射頻電子元件，當外罩112罩置於機台板31時，可於外罩112與機台板31之間形成一封閉之測試室113，測試工位即位於測試室113；又測試座213可為常閉型測試座而定位射頻電子元件，亦或於測試座213設置定位部件，以供定位射頻電子元件，該定位部件可為吸孔或擋塊等，以於測試時將射頻電子元件定位於測試座213。

請參閱第2、3圖，測試裝置10更包含至少一移料器41，移料器41係作至少一方向位移，並設有至少一移料治具，該移料治具可為吸嘴或夾具等 ；於本實施例中，移料器41係設有複數個為吸嘴411之移料治具，以供移載射頻電子元件51，該射頻電子元件51的型式係為一面具有複數個接點511，另一面則具有天線512；該移料器41係作X-Y-Z方向位移，以將待測之射頻電子元件51移入電性測試器21之測試座213的承置部2131，於移料器41離開後，第一載具11係以第一動力源驅動第一作動件111作Z方向向下位移，第一作動件111即帶動天線測試器12及外罩112同步作Z方向向下位移，令外罩112罩置於機台板31以形成封閉之測試室113，並使電性測試器21位於測試室113，亦即使測試工位位於測試室113，由於測試座213之第一接合部件211電性連接射頻電子元件51之接點511，電性測試器21之第一電路板212經由第一接合部件211而對射頻電子元件51執行電性測試作業，同時，天線測試器12之作業軸線L角度係相同射頻電子元件51之天線512的待測指向且為0°，射頻電子元件51至天線測試器12間之傳輸路徑不具有訊號干擾件，當位於測試工位之射頻電子元件51的天線512朝0°指向發出波束而傳輸無線訊號時，天線測試器12即接收射頻電子元件51之無線訊號，並將接收之無線訊號傳輸至中央控制裝置之處理器，以供處理器作一分析，而判別射頻電子元件51之待測0°指向所發出的無線訊號強度是否符合標準 ；若是，則判斷射頻電子元件51為良品，反之，則判斷射頻電子元件51為不良品；於測試完畢後，第一載具11之第一作動件111則帶動天線測試器12及外罩112同步作Z方向向上位移，令外罩112離開機台板31，以供移料器41作X-Y-Z方向位移將已測之射頻電子元件51移出電性測試器21，達到提升測試產能之實用效益。

請參閱第4圖，係本發明測試裝置10之第二實施例，以電性測試器21配置於第二載具61而言，第二載具61係驅動電性測試器21位移，測試工位如前所述，可位於測試室、移載臂或承座等，依不同測試作業需求而定，不受限於本實施例；第二載具61係位於機台板31，並包含第二動力源611及第二作動件612，第二動力源611可為線性馬達、壓缸或包含馬達及傳動器，第二作動件612係由第二動力源611驅動作線性位移或旋轉位移，第二作動件612可為台板、座體或轉盤，以供裝配電性測試器21；於本實施例中，第二載具61係以第二動力源611驅動二為台板之第二作動件612、612A作X方向線性位移，二第二作動件612、612A係供裝配二電性測試器21、21A；該天線測試單元之第一載具11係以第一作動件111供裝配天線測試器12及另一外罩114，該外罩114係開設有讓位部1141，以於外罩114罩置機台板31時，讓位部1141可迴避第二載具61，使外罩114與機台板31間形成一測試室113，當第二作動件612載送具射頻電子元件之電性測試器21至測試室113內而執行測試作業時，測試工位即位於測試室113內；另外，二移料器41、41A係設於第二載具61之移載路徑，以供分別於二電性測試器21、21A移入/移出射頻電子元件。

請參閱第5、6圖，第二載具61之移載路徑設有第一暫置區、測試區及第二暫置區，當第二作動件612裝載一電性測試器21位於第一暫置區，而另一第二作動件612A裝載另一電性測試器21A位於測試區時，一移料器41係以吸嘴411吸附移載射頻電子元件51作X-Y-Z方向位移至第一暫置區，並位於電性測試器21之上方，且將射頻電子元件51移入電性測試器21之測試座213的承置部2131，第二載具61係以第二動力源611驅動二第二作動件612、612A載送二電性測試器21、21A同步作X方向位移，令一電性測試器21承載射頻電子元件51由第一暫置區位移至測試區，而另一電性測試器21A則由測試區位移至第二暫置區；第一載具11之第一動力源(圖未示出)經第一作動件111帶動天線測試器12及外罩114同步作Z方向向下位移，令外罩114罩置於機台板31以形成封閉之測試室113，並使具射頻電子元件51之電性測試器21位於測試室113，亦即射頻電子元件51之測試工位位於測試室113，由於測試座213之第一接合部件211電性連接射頻電子元件51之接點511，電性測試器21之第一電路板212經由第一接合部件211而對射頻電子元件51執行電性測試作業，同時，位於測試工位之射頻電子元件51的天線512朝0°指向發射波束而傳輸無線訊號，天線測試器12接收射頻電子元件51之無線訊號，並將接收之無線訊號傳輸至中央控制裝置之處理器，以供處理器作一分析，而判別射頻電子元件51之待測指向所發出的無線訊號強度是否符合標準；另一移料器41A係以吸嘴411A吸附移載下一待測之射頻電子元件52作X-Y-Z方向位移至第二暫置區，並位於另一電性測試器21A之上方，且將射頻電子元件52移入電性測試器21A之測試座213A；當射頻電子元件51測試完畢後，第一載具11之第一作動件111則帶動天線測試器12及外罩114同步作Z方向向上位移，令外罩114離開機台板31，第二載具61係以第二動力源611驅動二第二作動件612、612A載送二電性測試器21、21A同步作X方向反向位移，令一電性測試器21承載已測之射頻電子元件51由測試區位移至第一暫置區，以供移料器41於電性測試器21取出已測之射頻電子元件51，另一電性測試器21A則承載下一待測之射頻電子元件52由第二暫置區位移至測試區以接續測試，達到提升測試產能之實用效益。

請參閱第7圖，係本發明測試裝置10之第三實施例，以電性測試器22配置於移載臂42而言，測試工位如前所述，可位於測試室、移載臂或承座等，依不同測試作業需求而定，不受限於本實施例；天線測試單元之第一載具11係以第一動力源(圖未示出)驅動第一作動件111作Z方向位移，第一作動件111供裝配天線測試器12，移載臂42係作至少一方向位移，並設有至少一作業治具 ，該作業治具係作移載射頻電子元件，或作移載及下壓射頻電子元件，於本實施例中，移載臂42係作X-Y-Z方向位移，並設有複數個為吸嘴421之作業治具，以供吸附射頻電子元件，移載臂42並以吸嘴421吸附射頻電子元件進行測試之位置作為測試工位，又移載臂42於相對測試工位之部位開設有可為通孔的訊號通道422，訊號通道422可供無線訊號通過，電性測試單元之電性測試器22係裝配於移載臂42，電性測試器22之第一接合部件221係供電性連接位於測試工位之射頻電子元件，電性測試器22之第一電路板222則電性連接一處理器(圖未示出)。

請參閱第8、9圖，然射頻電子元件53之型式係於同一面設置接點531及天線532，又為使射頻電子元件53之接點531確實接觸電性測試器22之第一接合部件221，移載臂42可加強吸嘴421之吸力，令吸嘴421吸附射頻電子元件53向上位移，使射頻電子元件53之接點531確實接觸電性測試器22之第一接合部件221，或者移載臂42可搭配一面板(如機台板31)，移載臂42可將射頻電子元件53移載且壓接於面板上，使射頻電子元件53之接點531確實接觸電性測試器22之第一接合部件221；於本實施例中，移載臂42係搭配機台板31，機台板31位於天線測試單元之下方，移載臂42係以吸嘴421吸附待測之射頻電子元件53，使射頻電子元件53位於移載臂42之測試工位，並令射頻電子元件53之天線532相對於移載臂42之訊號通道422，射頻電子元件53之接點531則電性接觸該電性測試器22之第一接合部件221，移載臂42係作X-Y方向位移將射頻電子元件53移載至天線測試單元之天線測試器12下方，並使訊號通道422相對於天線測試器12；移載臂42係作Z方向向下位移將射頻電子元件53移載且壓接於機台板31，使射頻電子元件53之接點531確實接觸電性測試器22之第一接合部件221，電性測試器22經由第一電路板222及第一接合部件221對射頻電子元件53執行電性測試作業，同時，位於測試工位之射頻電子元件53的天線532朝0°指向發射波束而傳輸無線訊號，無線訊號通過移載臂42之訊號通道422，天線測試單元之第一載具11係以第一動力源帶動第一作動件11及天線測試器12作Z方向向下位移，而調整天線測試器12之測試擺置位置，天線測試器12接收射頻電子元件53之無線訊號，並將接收之無線訊號傳輸至中央控制裝置之處理器，以供處理器作一分析判別射頻電子元件53之品質，於測試完畢後，移載臂42係作Z方向向上位移帶動已測之射頻電子元件53離開機台板31而輸出。

請參閱第10圖，係本發明測試裝置10之第四實施例，其與第二實施例之差異在於測試裝置10係於一具輸送通道811之箱體81與面板(如機台板)間形成一測試室，於本實施例中，一具輸送通道811之箱體81與機台板31間形成一測試室812；天線測試單元之第一載具11的第一動力源（圖未示出）係裝配於箱體81，第一載具11的第一作動件111則穿置於測試室812，第一動力源驅動第一作動件111作Z方向位移，第一作動件111供裝配天線測試器12；一第二載具71之第二動力源包含馬達及傳動器，傳動器係為轉軸711，轉軸711驅動一為轉盤712之第二作動件旋轉，轉盤712係設有至少一承裝部7121，供裝配電性測試器21，於本實施例中，轉盤712係設有複數個承裝部7121、7121A，並由轉軸711驅動旋轉，使複數個承裝部7121、7121A可移入/移出測試室812；電性測試單元之電性測試器21、21A係裝配於轉盤712之複數個承裝部7121、7121A，以電性測試器21為例，電性測試器21包含第一電路板212及具第一接合部件211之測試座213，測試座213設有供承置射頻電子元件之承置部2131，第一接合部件211之一端電性連接第一電路板212，另一端則供電性連接射頻電子元件；測試裝置10更包含溫控單元，溫控單元係設有至少一溫控件，以使射頻電子元件位於模擬日後應用場所溫度之測試環境執行測試作業，溫控件可為致冷晶片、加熱件或可輸送預溫流體之輸送管，溫控件可裝配於測試室812或轉盤712，於本實施例中，溫控單元係於箱體81設置一為輸送管之第一溫控件813，以供輸入具預設溫度之乾燥流體至測試室812，使測試室812保持預設溫度及防結露，另於轉盤712裝配至少一為致冷晶片之第二溫控件713，以使射頻電子元件位於模擬日後應用場所溫度之測試環境。

請參閱第11、12圖，移料器41係作X-Y-Z方向位移將待測之射頻電子元件51移入轉盤712上之一電性測試器21的承置部2131，電性測試器21之第一接合部件211係電性連接射頻電子元件51之接點511；轉盤712係由轉軸711驅動旋轉，使承裝部7121及其上之電性測試器21、射頻電子元件51作旋轉位移 ，而由箱體81之輸送通道811移入測試室812，並使另一承裝部7121A及另一電性測試器21A移出測試室812，天線測試單元之第一載具11係以第一動力源帶動第一作動件111及天線測試器12作Z方向向下位移調整至預設測試擺置位置，由於轉盤712係承載電性測試器21及射頻電子元件51相對於天線測試器12，使射頻電子元件51位於測試室812之測試工位執行測試作業，因此，電性測試器21經由第一電路板212及第一接合部件211對射頻電子元件51執行電性測試作業，同時，位於測試室812測試工位之射頻電子元件51的天線512朝0°指向發射波束而傳輸無線訊號，天線測試器12接收射頻電子元件51之無線訊號，並將接收之無線訊號傳輸至中央控制裝置之處理器，以供處理器作一分析判別射頻電子元件51之品質。

請參閱第13圖，係本發明測試裝置10之第五實施例，其與第四實施例之差異在於電性測試單元之電性測試器21係於第二載具71之轉盤712的承裝部7121裝配具第一接合部件之測試座213，於本實施例中，測試室812配置有承置具214，承置具214承置第一電路板，以使第一電路板電性連接第一接合部件211，於本實施例中，第一電路板係為第一電路板212，例如承置具214可為固定式配置，轉盤712係作Z方向向下位移，而使轉盤712上之第一接合部件211電性連接承置具214上之第一電路板212，或者承置具214與轉盤712作相對位移 ，亦可使第一電路板212電性連接第一接合部件211，於本實施例中，承置具214係作至少一Z方向位移，以承載第一電路板212電性連接轉盤712上之第一接合部件211，使電性測試器21對射頻電子元件執行電性測試作業。

請參閱第1至3、14圖，係本發明測試裝置10之第一實施例應用於測試作業設備之示意圖，包含機台30、供料裝置90、收料裝置100、本發明測試裝置10、輸送裝置110及中央控制裝置（圖未示出）；供料裝置90係配置於機台30上，並設有至少一容納待測射頻電子元件之供料承置器91；收料裝置100係配置於機台30上，並設有至少一容納已測射頻電子元件之收料承置器101 ；本發明之測試裝置10係配置於機台30上，包含天線測試單元及電性測試單元 ，以對射頻電子元件執行電性測試作業及無線訊號測試作業，於本實施例中，測試裝置10係於機台30之第一側及第二側分別配置有複數個天線測試單元及電性測試單元，天線測試單元係設有至少一天線測試器12，以供對射頻電子元件執行無線訊號測試作業，電性測試單元係設有至少一電性測試器21，以供對射頻電子元件執行電性測試作業，測試裝置10另於機台30之第一側及第二側分別配置有移料器41，以分別於第一側及第二側之複數個電性測試器21移載待測/已測之射頻電子元件，測試裝置10另於機台30之第一側及第二側分別配置有載台43，以承載待測/已測之射頻電子元件；輸送裝置110係配置於機台30上，並設有至少一輸送器，用以輸送射頻電子元件，於本實施例中，輸送裝置110係設有作X-Y-Z方向位移之輸送器1101，以於供料裝置90取出待測之射頻電子元件 ，並移載至測試裝置10之載台43，載台43供移料器41取出待測之射頻電子元件 ，以及移入已測之射頻電子元件，移料器41將待測之射頻電子元件移載至電性測試器21，使射頻電子元件於測試室執行電性測試作業及無線訊號測試作業，輸送器1101於載台43取出已測之射頻電子元件，並依測試結果，將已測之射頻電子元件移載至收料裝置100而分類收置；中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

10:測試裝置 11:第一載具 111:第一作動件 112:外罩 113:測試室 114:外罩 1141:讓位部 12:天線測試器 L:作業軸線 21、21A:電性測試器 211:第一接合部件 212:第一電路板 213、213A:測試座 2131:承置部 214:承置具 22:電性測試器 221:第一接合部件 222:第一電路板 30:機台 31:機台板 41、41A:移料器 411、411A:吸嘴 42:移載臂 421:吸嘴 422:訊號通道 43:載台 51、52:射頻電子元件 511:接點 512:天線 53:射頻電子元件 531:接點 532:天線 61:第二載具 611:第二動力源 612、612A:第二作動件 71:第二載具 711:轉軸 711:轉盤 7121、7121A:承裝部 713:第二溫控件 81:箱體 811:輸送通道 812:測試室 813:第一溫控件 90:供料裝置 91:供料承置器 100:收料裝置 101:收料承置器 110:輸送裝置 1101:輸送器

第1圖：本發明測試裝置第一實施例之示意圖。 第2圖：本發明測試裝置第一實施例之使用示意圖（一）。 第3圖：本發明測試裝置第一實施例之使用示意圖（二）。 第4圖：本發明測試裝置第二實施例之示意圖。 第5圖：本發明測試裝置第二實施例之使用示意圖（一）。 第6圖：本發明測試裝置第二實施例之使用示意圖（二）。 第7圖：本發明測試裝置第三實施例之示意圖。 第8圖：本發明測試裝置第三實施例之使用示意圖（一）。 第9圖：本發明測試裝置第三實施例之使用示意圖（二）。 第10圖：本發明測試裝置第四實施例之示意圖。 第11圖：本發明測試裝置第四實施例之使用示意圖（一）。 第12圖：本發明測試裝置第四實施例之使用示意圖（二）。 第13圖：本發明測試裝置第五實施例之示意圖。 第14圖：本發明測試裝置應用於測試作業設備之示意圖。

10:測試裝置

11:第一載具

111:第一作動件

112:外罩

113:測試室

12:天線測試器

L:作業軸線

21:電性測試器

211:第一接合部件

212:第一電路板

213:測試座

2131:承置部

31:機台板

Claims (12)

1. 一種射頻電子元件測試裝置，包含：天線測試單元：係設置第一載具及天線測試器，該第一載具作至少一方向位移，該天線測試器係裝配於該第一載具，以供對位於測試工位之該射頻電子元件執行無線訊號測試作業；電性測試單元：係設置至少一電性測試器，該電性測試器包含第一電路板及第一接合部件，該第一接合部件供電性連接位於該測試工位之該射頻電子元件執行電性測試作業；移載臂：於底面供裝配該電性測試器，並帶動該電性測試器作至少一方向位移，該移載臂設有至少一訊號通道，以供通過該天線測試器之無線訊號，使該射頻電子元件執行無線訊號測試作業。
2. 如請求項1所述之射頻電子元件測試裝置，更包含測試室，該移載臂承載該電性測試器位於該測試室。
3. 如請求項2所述之射頻電子元件測試裝置，其中，該第一載具裝配外罩，並帶動該外罩作Z方向位移罩置於機台板而構成該測試室，或可帶該外罩離開該機台板。
4. 如請求項2所述之射頻電子元件測試裝置，更包含承座，以供承置該射頻電子元件。
5. 如請求項1至4中任一項所述之射頻電子元件測試裝置，其中，該 移載臂係設有作業治具。
6. 一種射頻電子元件測試裝置，包含：天線測試單元：係設置第一載具及天線測試器，該第一載具作至少一方向位移，該天線測試器係裝配於該第一載具，以供對位於測試工位之該射頻電子元件執行無線訊號測試作業；電性測試單元：係設置複數個電性測試器，該複數個電性測試器包含第一電路板及第一接合部件，該第一接合部件供電性連接位於該測試工位之該射頻電子元件執行電性測試作業；測試室：裝配於機台板，以供該射頻電子元件於該測試室內執行無線訊號測試作業及電性測試作業；第二載具：設有為轉盤之第二作動件，該第二作動件具有複數個承裝部供裝配該複數個電性測試器，該第二作動件能夠旋轉作動載送一具該射頻電子元件之該電性測試器於該測試室之內部執行無線訊號測試作業及電性測試作業，並使另一該電性測試器於該測試室之外部執行取放該射頻電子元件之作業。
7. 一種射頻電子元件測試裝置，包含：天線測試單元：係設置第一載具及天線測試器，該第一載具作至少 一方向位移，該天線測試器係裝配於該第一載具，以供對位於測試工位之該射頻電子元件執行無線訊號測試作業；電性測試單元：係設置複數個電性測試器，該複數個電性測試器包含第一電路板及第一接合部件，該第一接合部件供電性連接位於該測試工位之該射頻電子元件執行電性測試作業；測試室：裝配於機台板，以供該射頻電子元件於該測試室內執行無線訊號測試作業及電性測試作業；第二載具：設有為轉盤之第二作動件，該第二作動件設有複數個具通孔之承裝部，各該承裝部以供承置該電性測試器之具該第一接合部件之測試座，該電性測試器並於一該測試室配置承置具，該承置具承置該第一電路板作至少一Z方向位移，以供該第一電路板經該通孔而電性連接該第一接合部件，該第二作動件能夠旋轉作動載送一具該射頻電子元件之該電性測試器於該測試室之內部執行無線訊號測試作業及電性測試作業，並使另一該電性測試器於該測試室之外部執行取放該射頻電子元件之作業。
8. 如請求項6或請求項7所述之射頻電子元件測試裝置，其中，該第一載具係裝配外罩，並帶動該外罩作Z方向位移罩置於機台板而構成該測試室，或可帶該外罩離開該機台板。
9. 如請求項1、6或7中任一項所述之射頻電子元件測試裝置，其中， 該天線測試單元係設置天線調整器，以裝配該天線測試器，而供該天線測試器作至少一方向位移或作角度轉動，或作至少一方向位移及角度轉動。
10. 如請求項1、6或7中任一項所述之射頻電子元件測試裝置，其中，該電性測試單元係設置電性調整器，以裝配該電性測試器，而供該電性測試器作至少一方向位移或作角度轉動，或作至少一方向位移及角度轉動。
11. 如請求項1、6或7中任一項所述之射頻電子元件測試裝置，更包含於該天線測試器與該測試工位之間設有至少一中介器。
12. 一種射頻電子元件測試作業設備，包含：機台；供料裝置：係配置於該機台上，並設有至少一容納待測射頻電子元件之供料承置器；收料裝置：係配置於該機台上，並設有至少一容納已測射頻電子元件之收料承置器；至少一如請求項1、6或7中任一項所述之射頻電子元件測試裝置：係配置於該機台上，以供測試射頻電子元件；輸送裝置：係配置於該機台上，並設有至少一輸送器，用以輸送射頻電子元件；中央控制裝置：係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。

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