CN112713947A - 射频电子元件测试装置及其应用的测试设备 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种射频电子元件测试装置，包含测试室单元、承载单元、天线测试单元及电性测试单元，测试室单元设有第一测试室供装配天线测试单元的天线测试器，并设有可供无线信号通过的信号通道，承载单元设有可位移作动的第一承载器，以承载电性测试单元的电性测试器位移至测试工位，以于电性测试器对位于测试工位的射频电子元件进行电性测试作业时，利用天线测试器对位于测试工位的射频电子元件进行无线信号测试作业，达到提升测试效能的实用效益。

Description

射频电子元件测试装置及其应用的测试设备

技术领域

本发明涉及一种测试射频电子元件的测试装置。

背景技术

在现今，移动通讯区域无线网络系统、无线通讯区域网络系统或蓝牙无线个人网络系统等，于增加资料传输速度的需求下，一内建有复数个天线的射频电子元件即为前述通讯系统的重要应用；天线的发射场型依应用场所而有不同，例如偶极天线具有全指向性发射场型，应用于终端设备，使终端设备可接收不同指向的波束所传输的无线信号；例如无线网络接取器的天线，则需要能够产生特定指向(如0°、45°或21°指向)的发射场型，而接收特定位置的设备所发出的无线信号。目前射频电子元件是在一面设置复数个接点，并于至少一面设置复数个阵列排列的天线，利用调节各天线的相位及波束成形技术，进而调整发射场型，也即使天线阵列于特定指向的发射/接收无线信号一致地迭加，进而产生最佳发射/接收的波束；因此，如何测试射频电子元件的天线对于不同指向的无线信号传输效能，而淘汰出不良品，即为业者研发的标的。

发明内容

本发明的目的在于：提供一种射频电子元件测试装置及其应用的测试设备，解决现有技术中存在的上述技术问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种射频电子元件测试装置，其特征在于，包含：

测试室单元：设有第一测试室，并于该第一测试室与测试工位之间设有供无线信号通过的信号通道；

承载单元：设有作至少一方向位移的第一承载器；

天线测试单元：配置于该测试室单元的该第一测试室，并设有至少一天线测试器，以供对该射频电子元件执行无线信号测试作业；

电性测试单元：配置于该第一承载器，并设有至少一电性测试器，以供对该射频电子元件执行电性测试作业。

所述的射频电子元件测试装置，其中，该测试室单元是在面板与第一箱体之间形成该第一测试室。

所述的射频电子元件测试装置，其中，该测试室单元是在该面板与第二箱体之间形成该第二测试室，或以一外罩罩置于该面板而形成该第二测试室。

所述的射频电子元件测试装置，其中，该测试装置以该信号通道周侧的该面板作为该测试工位，或于该面板配置相通该信号通道的承座，该承座的承置部作为该测试工位，以供承置该射频电子元件，也或以该承载单元承载该射频电子元件执行测试的位置作为该测试工位。

所述的射频电子元件测试装置，其中，该承载单元设置第一驱动器驱动该第一承载器朝向该测试工位位移，该第一驱动器包含第一作动件及第一动力源，该第一作动件装配该第一承载器，该第一动力源驱动该第一作动件位移。

所述的射频电子元件测试装置，其中，该第一驱动器还包含第二动力源，该第二动力源装配于该第一作动件，并驱动该第一承载器位移。

所述的射频电子元件测试装置，其中，该承载单元是在该第一承载器设置至少一第一拾取部件。

所述的射频电子元件测试装置，其中，该承载单元设有第二承载器及至少一第二拾取部件，该第二承载器驱动该第二拾取部件作至少一方向位移。

所述的射频电子元件测试装置，其中，该天线测试单元设置至少一调整器，以供装配调整该天线测试器的摆置位置或角度。

所述的射频电子元件测试装置，其中，该天线测试单元是在该天线测试器与该测试工位之间设有至少一中介器。

所述的射频电子元件测试装置，其中，该电性测试单元的该电性测试器包含电性连接的第一电路板及至少一第一接合部件，该第一接合部件供电性连接该射频电子元件。

所述的射频电子元件测试装置，其中，该电性测试单元的该电性测试器包含电性连接的该第一电路板、该至少一第一接合部件及至少一第二接合部件，该第一接合部件供电性连接该射频电子元件，该第二接合部件供电性连接配置于该测试室单元的第二电路板。

所述的射频电子元件测试装置，其中，还包含作至少一方向位移的载台，以供载送该射频电子元件。

一种射频电子元件测试设备，其特征在于，包含：

机台；

供料装置：配置于该机台上，并设有至少一容纳待测射频电子元件的供料承置器；

收料装置：配置于该机台上，并设有至少一容纳已测射频电子元件的收料承置器；

至少一如权利要求1所述的射频电子元件测试装置：配置于该机台上，以供测试射频电子元件；

输送装置：配置于该机台上，并设有至少一输送器，用以输送射频电子元件；

中央控制装置：用以控制及整合各装置动作，以执行自动化作业。

本发明的优点一，是提供一种射频电子元件测试装置，包含测试室单元、承载单元、天线测试单元及电性测试单元，测试室单元设有第一测试室供装配天线测试单元的天线测试器，并设有可供无线信号通过的信号通道，承载单元设有可位移作动的第一承载器，以承载电性测试单元的电性测试器位移至测试工位，以于电性测试器对位于测试工位的射频电子元件进行电性测试作业时，利用天线测试器对位于测试工位的射频电子元件进行无线信号测试作业，达到提升测试效能的实用效益。

本发明的优点二，是提供一种射频电子元件测试装置，其承载单元是在第一承载器设有至少一第一拾取部件，以移载射频电子元件随电性测试器同步位移，并将射频电子元件压接于测试工位而执行测试作业，于完成测试作业后，第一拾取部件将射频电子元件移出测试工位，达到提升测试产能的实用效益。

本发明的优点三，是提供一种射频电子元件测试装置，其承载单元更包含第二承载器及至少一第二拾取部件，第二承载器系带动第二拾取部件作至少一方向位移，使第二拾取部件于测试工位移入/移出射频电子元件，达到提升测试产能的实用效益。

本发明的优点四，是提供一种射频电子元件测试装置，其测试室单元设有具预设温度的第二测试室，以供位于测试工位的射频电子元件于模拟日后应用场所温度的测试环境进行电性测试作业，达到提升电性测试作业品质的实用效益。

本发明的优点五，是提供一种射频电子元件测试装置，其电性测试单元更包含至少一温控件，该温控件可装配于电性测试器、第一承载器或测试室单元，以供位于测试工位的射频电子元件于模拟日后应用场所温度的测试环境进行电性测试作业，达到提升电性测试作业品质的实用效益。

本发明的优点六，是提供一种射频电子元件测试装置，该天线测试单元更包含至少一调整器，调整器系供装配天线测试器，使天线测试器可视射频电子元件的不同待测指向而调整摆置位置或角度，以有效缩减天线测试器的配置数量，达到节省天线测试器成本的实用效益。

本发明的优点七，是提供一种测试设备，包含机台、供料装置、收料装置、本发明测试装置、输送装置及中央控制装置；该供料装置配置于机台上，并设有至少一容纳待测射频电子元件的供料承置器；该收料装置配置于机台上，并设有至少一容纳已测射频电子元件的收料承置器；本发明测试装置配置于机台上，包含测试室单元、承载单元、天线测试单元及电性测试单元，以测试射频电子元件；该输送装置配置于机台上，并设有至少一输送器，用以输送射频电子元件；中央控制装置系用以控制及整合各装置作动，以执行自动化作业，达到提升作业效能的实用效益。

附图说明

图1是本发明测试装置第一实施例的示意图。

图2是本发明测试装置第一实施例的使用示意图(一)。

图3是本发明测试装置第一实施例的使用示意图(二)。

图4是本发明测试装置第二实施例的示意图。

图5是本发明测试装置第三实施例的示意图。

图6是本发明测试装置第三实施例的使用示意图(一)。

图7是本发明测试装置第三实施例的使用示意图(二)。

图8是本发明测试装置第四实施例的示意图。

图9是本发明测试装置第五实施例的示意图。

图10是本发明测试装置第五实施例的使用示意图。

图11是本发明测试装置应用于测试设备的示意图。

附图标记说明：测试装置10；机台板111；顶面部位1111；第一箱体112；第一测试室113；通孔114；承座115；承置部1151；第二箱体116；输送管1161；第一输送通道1162；第二输送通道1163；第二测试室117；第二箱体118；门板1181；机架板119；底面部位1191；第一承载器121；第一作动件122；第一拾取部件123；第二承载器124；第二拾取部件125；转轴126；压缸127；第四载台128；天线测试器131；作业轴线L；第一电路板141；第一接合部件142；第二接合部件143；第二电路板144；温控件145；第一载台151；第二载台152；外罩16；射频电子元件21、21A、21B；接点211；天线212、212A；机台30；供料装置40；供料承置器41；收料装置50；收料承置器51；输送装置60；输送器61。

具体实施方式

为使对本发明作更进一步的了解，兹举一较佳实施例并配合图式，详述如后。

请参阅图1，系本发明测试装置10的第一实施例，测试装置10

包含测试室单元、承载单元、天线测试单元及电性测试单元。

该测试室单元设有第一测试室，并于第一测试室与测试工位之间设有供无线信号通过的信号通道；更进一步，测试室单元是在面板一方与第一箱体之间形成第一测试室，面板可为机台板或机架板；于本实施例中，测试室单元是在机台板111下方与第一箱体112之间形成第一测试室113；又该测试室单元的信号通道可为通孔或空间区域，例如于面板开设一为通孔的信号通道，例如以第一测试室与测试工位间的空间区域作为信号通道，信号通道的型态只要可供无线信号通过即可，不受限于本实施例；于本实施例中，测试室单元是在机台板111开设一为通孔114的信号通道，通孔114系相通第一测试室113与测试工位；该测试工位是射频电子元件执行测试作业的位置，测试室单元可以面板一方且位于信号通道周侧作为测试工位，以供射频电子元件贴抵而执行测试作业，或者于面板一方配置相通信号通道的承座，承座的承置部可作为测试工位，以供承置射频电子元件执行测试作业，也或以承载单元承载射频电子元件执行测试的位置作为测试工位；于本实施例中，一具有承置部1151的承座115配置于机台板111的上方，承置部1151供承置射频电子元件而作为测试工位，并相通第一测试室113。

该测试室单元可依测试作业需求而增设第二测试室，以供射频电子元件位于模拟日后应用场所温度的测试环境，更进一步，测试室单元是在面板另一方与第二箱体之间形成第二测试室，面板可为机台板或机架板，第二箱体可依作业所需而配置门板或输送通道，测试室单元也或于一外罩罩置于面板另一方而形成第二测试室，也或于一第三箱体内以隔板区隔出第一测试室113及第二测试室；于本实施例中，测试室单元是在机台板111上方与第二箱体116之间形成第二测试室117，另于第二箱体116设有至少一输送管1161，以供输入具预设温度的干燥流体至第二测试室117，使第二测试室117保持预设温度及防结露；又第二箱体116设有至少一相通第二测试室117的输送通道，于本实施例中，第二箱体116是在承座115一侧的第一暂置位置设有第一输送通道1162，以及于承座115另一侧的第二暂置位置设有第二输送通道1163。

该承载单元设置作至少一方向位移的第一承载器121，更进一步，第一承载器121可为座体或架体，依作业需求，而供装配电性测试器、拾取部件或温控件等，第一承载器121可作线性位移或旋转位移，也或作线性位移及旋转位移，例如第一承载器121作Z方向位移或X-Y-Z方向位移至测试工位，例如第一承载器121依预设正转或逆转方向作旋转位移及作Z方向位移至测试工位；又该承载单元设置第一驱动器驱动第一承载器121朝向测试工位位移，更进一步，第一驱动器可装配于机架或测试室单元，第一驱动器包含第一作动件122及第一动力源(图未示出)，第一作动件122可为架杆或转轴，以供装配第一承载器121，第一动力源系驱动第一作动件122作线性位移或旋转位移，更进一步，第一作动件122供装配第二动力源，并以第二动力源驱动第一承载器121位移；于本实施例中，第一驱动器系装配于测试室单元的第二箱体116，并以第一动力源驱动一为作动杆的第一作动件122作X-Z方向位移，第一作动件122供装配一为座体的第一承载器121，并带动第一承载器121于第二测试室117作X-Z方向位移，也即使第一承载器121于第一暂置位置、测试工位及第二暂置位置之间位移。

又承载单元可依测试作业需求，而于第一承载器121设置至少一第一拾取部件123，第一拾取部件123可供作移载射频电子元件，或作移载及压接射频电子元件；于本实施例中，第一拾取部件123是在第一暂置位置及测试工位之间移载及压接待测的射频电子元件，以及于测试工位及第二暂置位置之间移载已测的射频电子元件。

该天线测试单元配置于测试室单元的第一测试室113，并设有至少一天线测试器131，以供对射频电子元件执行无线信号测试作业，例如天线测试器131对射频电子元件执行接收无线信号的作业，例如天线测试器131对射频电子元件执行发射无线信号的作业，例如天线测试器131对射频电子元件作接收及发射无线信号的作业；又天线测试器131可连接一独立的处理器(图未示出)，以将接收射频电子元件的无线信号传输至处理器，或者将处理器的测试用无线信号发射至射频电子元件，该处理器也可为中央控制装置(图未示出)的处理器；再者，天线测试器131的作业轴线L角度系相同或偏近于射频电子元件的待测指向(如0°、45°或21°指向)，以接收射频电子元件的待测指向所发出波束的无线信号，或朝向射频电子元件的待测指向发射测试用无线信号；测试装置10可依测试作业需求而变换天线测试器131的配置数量，例如测试单一指向的无线信号时，可配置单一天线测试器131，例如测试不同指向的无线信号时，可于复数个位置配置复数个天线测试器131；又天线测试器131可为固定式配置或活动式配置，例如天线测试器131可固设于第一箱体112，例如天线测试器131可搭配调整器(图未示出)，而于第一测试室113调整摆置位置或角度，调整器可为机械手臂、转轴、滑轨组或包含复数个调整杆件，以带动天线测试器131依待测指向所需而调整摆置位置或角度，使天线测试器131可位于0°指向、45°指向或30°指向等不同位置，也或于原地旋转摆置呈不同角度的指向；再者，天线测试单元可依测试作业需求，而于天线测试器131与测试工位之间设有至少一中介器(图未示出)，中介器可为菱镜或折射元件等，中介器是在射频电子元件与天线测试器131之间转送传输无线信号；于本实施例中，天线测试器131系装配于第一箱体112的第一测试室113，且相对于通孔114，天线测试器131的作业轴线L位于0°指向，以供接收位于测试工位的射频电子元件待测0°指向所发出的无线信号，并将接收的无线信号传输至中央控制装置的处理器，以供处理器作一分析，而判别射频电子元件的品质。

该电性测试单元配置于第一承载器121，并设有至少一电性测试器，以对射频电子元件执行电性测试作业；更进一步，电性测试器包含电性连接的电路板及至少一接合部件，至少一接合部件供电性连接该射频电子元件，例如电性测试器是在第一承载器121设置电性连接的第一电路板及第一接合部件，第一接合部件系供电性连接该射频电子元件，例如电性测试器是在第一承载器121设置电性连接的第一电路板、第一接合部件及第二接合部件，第一接合部件系供电性连接射频电子元件，第二接合部件则供电性连接配置于承座115的第二电路板；于本实施例中，电性测试器是在第一承载器121设置电性连接的第一电路板141、第一接合部件142及第二接合部件143，使第一电路板141、第一接合部件142及第二接合部件143随第一承载器121同步于第二测试室117作X-Z方向位移，并供第一接合部件142电性连接第一拾取部件123所吸附的射频电子元件，电性测试器另于承座115设置第二电路板144，以供电性连接第二接合部件143，第二电路板144并将测试资料传输至中央控制装置的处理器，以供处理器作一分析判别射频电子元件的品质。

电性测试单元更包含至少一温控件145，以供射频电子元件位于模拟日后应用场所温度的测试环境执行测试作业，更进一步，温控件145可为致冷晶片、加热件或具流体的载具，温控件145可装配于电性测试器、第一承载器121或测试室单元；于本实施例中，电性测试单元是在第一承载器121装配温控件145。

再者，测试装置10更包含作至少一方向位移的载台，以供载送射频电子元件，更进一步，可于测试室单元的至少一输送通道设置至少一载台，也或于测试室单元的外部设置至少一载台，载台可载送待测的射频电子元件或已测的射频电子元件，或载送待测的射频电子元件及已测的射频电子元件；于本实施例中，是在测试室单元的第一输送通道1162设置作Y方向位移的第一载台151，以供载送待测的射频电子元件至第一暂置位置，另于测试室单元的第二输送通道1163设置作Y方向位移的第二载台152，以供位移至第二暂置位置而承载已测的射频电子元件。

请参阅图2，第一载台151系承载待测的射频电子元件21，射频电子元件21的一面设有复数个接点211且朝向上方，于另一面则设有天线212且朝向下方，第一载台151于测试室单元的第一输送通道1162作Y方向位移，将待测的射频电子元件21载送至承座115侧方的第一暂置位置；承载单元系以第一动力源(图未示出)驱动第一作动件122作X-Z方向位移，第一作动件122带动第一承载器121、第一拾取部件123及电性测试单元于第二测试室117作X-Z方向位移至第一载台151(即第一暂置位置)，令第一拾取部件123于第一载台151取出待测的射频电子元件21，并使电性测试单元的第一接合部件142电性连接射频电子元件21的接点211，第一作动件122再带动第一承载器121、第一拾取部件123、电性测试单元及待测射频电子元件21位移至承座115的上方(即测试工位的上方)。

请参阅图3，承载单元的第一动力源(图未示出)经第一作动件122带动第一承载器121、第一拾取部件123、电性测试单元及待测射频电子元件21作Z方向位移，将待测射频电子元件21移入且压接于承座115的承置部1151，也即使待测的射频电子元件21位于测试工位，电性测试单元的第二接合部件143则电性连接承座115上的第二电路板144，使得电性测试单元利用电性连接的第一电路板141、第一接合部件142、第二接合部件143及第二电路板144对待测射频电子元件21执行电性测试作业，由于电性测试单元是在第一承载器121配置有温控件145，而可使待测射频电子元件21位于模拟日后应用场所温度的测试环境执行测试作业；同时，待测射频电子元件21的天线212的待测指向是0°，天线测试器131的作业轴线L角度系相同射频电子元件21的待测指向且为0°，当待测射频电子元件21的天线212于0°待测指向发射波束的无线信号时，由于承座115的承置部1151系相通机台板111的通孔114及第一测试室113，使得待测射频电子元件21的天线212的无线信号经由信号通道(即通孔114)而传输至天线测试器131，以进行无线信号测试作业，天线测试器131于第一测试室113接收无线信号后，并将无线信号传输至中央控制装置的处理器(图未示出)，以供判别分析射频电子元件21的品质，于完成射频电子元件21的各项测试作业后，承载单元的第一拾取部件123可将已测的射频电子元件21移载至第二载台152输出；然而，测试装置10也可依测试作业需求，而于第一载台151的同侧设置第三载台(图未示出)，以供承载已测的射频电子元件21；因此，测试装置10除了使射频电子元件21于测试工位进行电性测试作业外，更可使射频电子元件21进行无线信号测试作业，达到提升射频电子元件的测试产能。

请参阅图4，系本发明测试装置10的第二实施例，其与第一实施例的差异在于测试室单元系以位于通孔114(即信号通道)上方且为机台板111的顶面部位1111作为测试工位，电性测试单元的电性测试器是在第一承载器121设置电性连接的第一电路板141及第一接合部件142，第一电路板141系将测试资料传输至中央控制装置(图未示出)的处理器，以供处理器作一分析判别射频电子元件的品质，第一接合部件142则供电性连接射频电子元件；当承载单元的第一承载器121带动第一拾取部件123及电性测试单元于第二测试室117作X-Z方向位移时，系令第一拾取部件123将射频电子元件移载且贴抵于机台板111的顶面部位1111(即测试工位)，并使射频电子元件的天线对位于通孔114处，使射频电子元件的天线于待测指向发射波束的无线信号经由信号通道(即通孔114)而传输至天线测试器131，天线测试器131于第一测试室113接收无线信号后，并将无线信号传输至中央控制装置的处理器(图未示出)，以供判别分析射频电子元件的品质。

请参阅图5，系本发明测试装置10的第三实施例，其与第一实施例的差异在于测试室单元除了于机台板111与第一箱体112之间形成第一测试室113，以供配置天线测试器131外，并于机台板111上方配置具门板1181的第二箱体118，以于第二箱体118与机台板111间形成第二测试室117；承载单元的第一承载器121系供配置电性测试单元的第一电路板141、第一接合部件142及第二接合部件143，未配置有第一拾取部件，承载单元另配置第二承载器124及第二拾取部件125，第二承载器124并由第二驱动器(图未示出)驱动作X-Y-Z方向位移，以于承座115及测试室单元外部的料盘或载台(如第四载台，图未示出)之间移载待测射频电子元件及已测射频电子元件。

请参阅图6、图7，第二承载器124的第二拾取部件125于测试室单元外部的载台(图未示出)取出待测射频电子元件21，当开启第二箱体118的门板1181时，第二承载器124带动第二拾取部件125及待测射频电子元件21作X-Z方向位移，将待测射频电子元件21移入承座115的承置部1151(即测试工位)；第一驱动器(图未示出)的第一作动件122即带动第一承载器121及电性测试单元作Z方向位移，使电性测试单元的第一接合部件142电性连接且压接位于承置部1151(即测试工位)上的射频电子元件21，并以第二接合部件143电性连接第二电路板144，使电性测试单元对射频电子元件21执行电性测试作业，同时，射频电子元件21的天线212于待测指向发射波束的无线信号经由信号通道(即通孔114)而传输至位于第一测试室113的天线测试器131，天线测试器131接收无线信号后，并将无线信号传输至中央控制装置(图未示出)的处理器，以供判别分析射频电子元件的品质。

请参阅图8，系本发明测试装置10的第四实施例，其与第三实施例的差异在于测试室单元除了于机台板111与第一箱体112之间形成第一测试室113，以供配置天线测试器131外，并于承载单元的第一作动件122设有外罩16，以于外罩16罩置于机台板111时而形成一第二测试室117。

请参阅图9，系本发明测试装置10的第五实施例，该测试室单元是在机架板119的上方设置第一箱体112，以于第一箱体112与机架板119之间形成第一测试室113，第一测试室113供装配天线测试单元的天线测试器131，测试室单元另于机架板119开设一为通孔114的信号通道，通孔114系相通第一测试室113，另以机架板119的底面部位1191且位于通孔114的周侧作为测试工位，以供贴接射频电子元件；该承载单元的第一驱动器包含第一动力源(图未示出)、第一作动件及第二动力源，第一动力源系驱动一为转轴126的第一作动件转动，转轴126系带动至少一第二动力源作旋转位移，第二动力源供装配具第一拾取部件123的第一承载器121，于本实施例中，转轴126系供装配二相对位置且为压缸127的第二动力源，二压缸127分别供装配第一承载器121，使得转轴126可带动二第一承载器121作旋转位移变换位置，二压缸127则分别带动二第一承载器121作线性位移；该电性测试单元是在二第一承载器121分别设有电性测试器，电性测试器是在第一承载器121设置电性连接的第一电路板141、第一接合部件142及第二接合部件143，并于机架板119的底面设置第二电路板144，第二电路板144并将测试资料传输至中央控制装置的处理器；再者，测试装置10是在机台板111上方配置作至少一方向位移的载台，以供载送射频电子元件，更进一步，载台的移载路径是在第一承载器121与机台板111之间，以供第一承载器121上的第一拾取部件123取放射频电子元件；于本实施例中，是在机台板111上设置作X方向位移的第一载台151及第二载台152，以供载送射频电子元件。

请参阅图10，当承载单元的一第一承载器121上的第一拾取部件123已吸附待测的射频电子元件21A时，一压缸127系驱动第一承载器121、第一拾取部件123及待测的射频电子元件21A作Z方向向上位移，令第一拾取部件123将待测的射频电子元件21A移载且压接于机架板119的底面部位1191(即测试工位)，并使待测的射频电子元件21A的天线212A对位于通孔114，由于电性测试器的第一接合部件142电性连接射频电子元件21A的接点，以及第二接合部件143电性连接第二电路板144，使得电性测试器对射频电子元件21A执行电性测试作业，同时，射频电子元件21A的天线212A于待测指向(如0°指向)发射波束的无线信号经由信号通道(即通孔114)而传输至位于第一测试室113的天线测试器131，以进行无线信号测试作业，天线测试器131接收无线信号后，并将无线信号传输至中央控制装置(图未示出)的处理器，以供判别分析射频电子元件21A的品质；然于射频电子元件21A执行测试作业时，承载单元另一压缸127系驱动另一第一承载器121及另一第一拾取部件123作Z方向向下位移，使另一第一拾取部件123于第一载台151取出另一射频电子元件21B以便接续进行测试作业。

请参阅图5、图11，系本发明测试装置10的第三实施例应用于测试设备的示意图，包含机台30、供料装置40、收料装置50、本发明测试装置10、输送装置60及中央控制装置(图未示出)；供料装置40配置于机台30上，并设有至少一容纳待测射频电子元件的供料承置器41；收料装置50配置于机台30上，并设有至少一容纳已测射频电子元件的收料承置器51；本发明的测试装置10配置于机台30上，包含测试室单元、承载单元、天线测试单元及电性测试单元，以对射频电子元件执行电性测试作业及无线信号测试作业，于本实施例中，测试装置10是在机台30的第一侧及第二侧分别配置有复数个测试室单元、承载单元、天线测试单元及电性测试单元，另于机台30上配置至少一第二拾取部件125及至少一第四载台128，于本实施例中，是在机台30的第一侧配置二第二拾取部件125及第四载台128，并于机台30的第二侧也配置二第二拾取部件125及第四载台128；输送装置60配置于机台30上，并设有至少一输送器，用以输送射频电子元件，于本实施例中，输送装置60设有作X-Y-Z方向位移的输送器61，输送器61是拾取部件，以于供料装置40取出待测的射频电子元件，并移载至第四载台128，一第二拾取部件125是在第四载台128取出待测的射频电子元件，并移载至第一测试室113的承座115，另一第二拾取部件125则已于承座115取出已测的射频电子元件，第一承载器121上的电性测试器及第一测试室113内的天线测试器131对射频电子元件执行电性测试作业及无线信号测试作业；另一第二拾取部件125将已测的射频电子元件移载至第四载台128，输送装置60的输送器61是在第四载台128取出已测的射频电子元件，并依测试结果，将已测的射频电子元件承载至收料装置50而分类收置；中央控制装置系用以控制及整合各装置作动，以执行自动化作业，达到提升作业效能的实用效益。

Claims (14)

1.一种射频电子元件测试装置，其特征在于，包含：

测试室单元：设有第一测试室，并于该第一测试室与测试工位之间设有供无线信号通过的信号通道；

承载单元：设有作至少一方向位移的第一承载器；

天线测试单元：配置于该测试室单元的该第一测试室，并设有至少一天线测试器，以供对该射频电子元件执行无线信号测试作业；

电性测试单元：配置于该第一承载器，并设有至少一电性测试器，以供对该射频电子元件执行电性测试作业。

2.根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，该测试室单元是在面板与第一箱体之间形成该第一测试室。

3.根据权利要求2所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，该测试室单元是在该面板与第二箱体之间形成该第二测试室，或以一外罩罩置于该面板而形成该第二测试室。

4.根据权利要求2所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，该测试装置以该信号通道周侧的该面板作为该测试工位，或于该面板配置相通该信号通道的承座，该承座的承置部作为该测试工位，以供承置该射频电子元件，也或以该承载单元承载该射频电子元件执行测试的位置作为该测试工位。

5.根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，该承载单元设置第一驱动器驱动该第一承载器朝向该测试工位位移，该第一驱动器包含第一作动件及第一动力源，该第一作动件装配该第一承载器，该第一动力源驱动该第一作动件位移。

6.根据权利要求5所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，该第一驱动器还包含第二动力源，该第二动力源装配于该第一作动件，并驱动该第一承载器位移。

7.根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，该承载单元是在该第一承载器设置至少一第一拾取部件。

8.根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，该承载单元设有第二承载器及至少一第二拾取部件，该第二承载器驱动该第二拾取部件作至少一方向位移。

9.根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，该天线测试单元设置至少一调整器，以供装配调整该天线测试器的摆置位置或角度。

10.根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，该天线测试单元是在该天线测试器与该测试工位之间设有至少一中介器。

11.根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，该电性测试单元的该电性测试器包含电性连接的第一电路板及至少一第一接合部件，该第一接合部件供电性连接该射频电子元件。

12.根据权利要求11所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，该电性测试单元的该电性测试器包含电性连接的该第一电路板、该至少一第一接合部件及至少一第二接合部件，该第一接合部件供电性连接该射频电子元件，该第二接合部件供电性连接配置于该测试室单元的第二电路板。

13.根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，还包含作至少一方向位移的载台，以供载送该射频电子元件。

14.一种射频电子元件测试设备，其特征在于，包含：

机台；

供料装置：配置于该机台上，并设有至少一容纳待测射频电子元件的供料承置器；

收料装置：配置于该机台上，并设有至少一容纳已测射频电子元件的收料承置器；

至少一如权利要求1所述的射频电子元件测试装置：配置于该机台上，以供测试射频电子元件；

输送装置：配置于该机台上，并设有至少一输送器，用以输送射频电子元件；

中央控制装置：用以控制及整合各装置动作，以执行自动化作业。

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