TW202014708A - 電子元件測試設備 - Google Patents

Abstract

一種電子元件測試設備，其包含供料裝置、測試裝置及輸送裝置，該輸送裝置係於供料裝置處取出至少一具第一面第一接點及第二面第二接點之電子元件，並移入該測試裝置之測試承置器，以使電子元件之第一接點電性接觸第一測試器之第一傳輸件，該測試裝置係以驅動機構驅動具第二傳輸件之第二測試器位移，使第二測試器之第二傳輸件電性接觸電子元件之第二接點，利用第一測試器及第二測試器對該測試承置器上之電子元件執行複數個預設測試作業 ，藉以自動化測試電子元件及縮減轉運電子元件作動時序，達到提升測試品質及生產效能之實用效益。

Description

電子元件測試設備

本發明係提供一種自動化測試雙面具第一接點及第二接點之電子元件，以提升測試品質及生產效能之電子元件測試設備。

在現今，電子元件（例如擴充功能卡）日趨講究多功能應用及高儲存容量等需求，而配置有複數個記憶體及電路，並於一端設有插接部（即金手指），以插置於另一應用之電路板上，該電子元件之插接部依預設功能而可利用第一面之第一接點傳輸電源，以及利用第二面之第二接點傳輸訊號；然由於電子元件歷經多道加工製程，例如裁切製程或焊線製程等，業者為確保電子元件之出廠品質，於電子元件製作完成後，即執行測試作業而淘汰不良品；請參閱第１圖，以擴充功能卡１１為例，其係為一長型板體而供裝配複數個記憶體，並於一端設有插接部１１１，該插接部１１１之第一面係設有複數個傳輸電源用之第一接點１１１１，於第二面設有複數個傳輸訊號用之第二接點１１１２；因此，業者係以人工作業先將擴充功能卡１１置入於一電源測試裝置，利用擴充功能卡１１之第一接點１１１１與電源測試裝置之探針接觸，而執行電源測試作業，於完成測試後，再將擴充功能卡１１取出翻面，並搬運至一訊號測試裝置，再利用擴充功能卡１１之第二接點１１１２與訊號測試裝置之探針接觸，而執行訊號測試作業；惟，業者必須以人工作業將數量繁多之擴充功能卡１１逐一於電源測試裝置執行電源測試作業，待完成測試作業後，又必須以人工作業將數量繁多之擴充功能卡１１逐一換置於一訊號測試裝置執行訊號測試作業，不僅上、下料作業緩慢耗時，更必須將擴充功能卡１１轉置於不同測試裝置執行測試作業以致無法提高生產效能。

本發明之目的，係提供一種電子元件測試設備，其包含供料裝置 、測試裝置及輸送裝置，該輸送裝置係於供料裝置處取出至少一具第一面第一接點及第二面第二接點之電子元件，並移入該測試裝置之測試承置器，以使電子元件之第一接點電性接觸第一測試器之第一傳輸件，該測試裝置係以驅動機構驅動具第二傳輸件之第二測試器位移，使第二測試器之第二傳輸件電性接觸電子元件之第二接點，利用第一測試器及第二測試器對該測試承置器上之電子元件執行複數個預設測試作業，藉以自動化測試電子元件及縮減轉運電子元件作動時序，達到提升測試品質及生產效能之實用效益。

為使　貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：

請參閱第２、３、４、５圖，本發明電子元件測試設備包含機台２０、供料裝置３０、收料裝置４０、測試裝置５０、輸送裝置６０及中央控制裝置（圖未示出），更包含至少一校正裝置７０；該供料裝置３０係裝配於該機台２０，並設有至少一供料承置器，以承置至少一具第一面第一接點及第二面第二接點之待測電子元件，更進一步，該供料承置器可直接承置電子元件或承置具電子元件之料盤，該供料承置器可為承板或皮帶輸送輪組，或包含承置件及托移件，該供料承置器可單純承置電子元件，或承置及作至少一方向移載電子元件，於本實施例中，該供料裝置３０係設置第一供料承置器３１、第二供料承置器３２及推移器３３，該第一供料承置器３１係承置至少一具待測電子元件之供料盤８１，該待測電子元件係為擴充功能卡８２，其一端插接部之第一面係設有第一接點，於第二面設有第二接點，該推移器３３係於第一供料承置器３１及第二供料承置器３２間作第一方向（如Ｘ方向）位移，以將第一供料承置器３１處之供料盤８１推移至第二供料承置器３２，第二供料承置器３２承置一具待測擴充功能卡８２之供料盤８１，以供輸送裝置６０取料，然該第一供料承置器３１及第二供料承置器３２之配置及作動方式不以本實施例為限，例如該第一供料承置器３１可將至少一具待測電子元件之供料盤８１由第一位置作第二方向（如Ｚ方向）向上輸送至第二位置，該推移器３３將供料盤８１由第二位置推移至第二供料承置器３２之第三位置，第二供料承置器３２承置具待測電子元件之供料盤８１以供取料，待取料完畢，第二供料承置器３２將空的供料盤８１由第三位置作Ｚ方向向下位移輸送至第四位置收置；該收料裝置４０係裝配於該機台２０，並設有至少一收料承置器４１，以承置已測之電子元件，更進一步，該收料承置器４１可直接承置電子元件或承置具電子元件之料盤，收料承置器４１可為承板或皮帶輸送輪組，或包含承置件及托移件，收料承置器可單純承置電子元件，或承置及作至少一方向移載電子元件，於本實施例中，該收料承置器４１係配置至少一空的收料盤８３，以承置至少一已測之擴充功能卡８２；該測試裝置５０係裝配於機台２０，並包含測試承置器５１、第一測試器５２、測試驅動機構５３及第二測試器５４，該測試承置器５１係承置至少一電子元件，更進一步，該測試承置器５１係為固定式配置或作至少一方向位移，於本實施例中，該測試承置器５１係固設於機台２０，並設有一具複數個測試承槽５１２之測試承座５１１，各測試承槽５１２係供承置待測之擴充功能卡８２，該第一測試器５２係裝配於測試承置器５１，並設有至少一第一傳輸件，以對電子元件執行第一預設測試作業，該第一預設測試作業可為電源測試作業或訊號測試作業等，於本實施例中，第一測試器５２係設有電性連接之第一電路板５２１及複數個具第一傳輸件５２２１之第一測試座５２２，複數個第一測試座５２２係裝配於測試承座５１１之複數個測試承槽５１２內，並使第一傳輸件５２２１朝向上方，以供電性接觸該擴充功能卡８２之第一接點而執行一為電源測試作業之第一預設測試作業，一測試驅動機構５３係設有至少一移載驅動器以及由該移載驅動器驅動作至少一方向位移或擺動之移載具，更進一步，該移載驅動器可為壓缸或線性馬達，亦或包含馬達及傳動組，亦或一驅動該移載具擺動之角度驅動源，該測試驅動機構５３可設置一移載驅動器以驅動該移載具作Ｚ方向位移或擺動，亦或設置複數個移載驅動器以分別驅動該移載具作Ｚ方向位移及第三方向（如Ｙ方向）位移 ，於本實施例中，該測試驅動機構５３係於一基座５３１設置一為第一壓缸５３２且呈Ｙ方向配置之第一移載驅動器，該第一壓缸５３２係驅動該第二移載驅動器作Ｙ方向位移，更進一步，該第一壓缸５３２之第一活塞桿係連結驅動一移動架５３３，該移動架５３３供裝配第二移載驅動器，並與基座５３１間設有至少一呈第三方向配置之滑軌組，該滑軌組之滑軌５３４１係裝配於基座５３１之側面，而滑座５３４２則裝配於移動架５３３，使第一壓缸５３２經由移動架５３３而帶動第二移載驅動器作Ｙ方向位移，並使移動架５３３利用滑座５３４２沿基座５３１上之滑軌５３４１滑移而輔助平穩位移，該第二移載驅動器係驅動至少一移載具作第二方向位移，於本實施例中，該第二移載驅動器係裝配於移動架５３３，並為第二壓缸５３５且呈第二方向配置，該第二壓缸５３５之第二活塞桿連結一呈Ｘ方向配置之移載具５３６，使測試驅動機構５３利用第一壓缸５３２及第二壓缸５３５帶動移載具５３６作Ｚ－Ｙ方向位移，該第二測試器５４係裝配於測試驅動機構５３之移載具５３６，並設有至少一第二傳輸件，以對電子元件執行第二預設測試作業，該第二預設測試作業可為電源測試作業或訊號測試作業等，於本實施例中，該第二測試器５４係裝配於該測試驅動機構５３之移載具５３６底面，並設有電性連接之第二電路板５４１及複數個具第二傳輸件５４２１之第二測試座５４２，並使第二傳輸件５４２１朝向下方，以供電性接觸該擴充功能卡８２之第二接點而執行一為訊號測試作業之第二預設測試作業；該輸送裝置６０係裝配於該機台２０，並設置至少一移載電子元件之移料器，更進一步，輸送裝置６０可設置一於供料裝置３０、測試裝置５０及收料裝置４０間移載電子元件之移料器，亦或設置複數個移料器，其一移料器於供料裝置３０及測試裝置５０間移載待測之電子元件，另一移料器於測試裝置５０及收料裝置４０間移載已測之電子元件，於本實施例中，該輸送裝置６０係設置一移料驅動機構６１以驅動一移料器６２作Ｘ－Ｙ－Ｚ方向位移，以於供料裝置３０、測試裝置５０及收料裝置４０間移載待測之擴充功能卡８２及已測之擴充功能卡８２；該校正裝置７０係裝配於該機台２０，並設置校正承置器７１、校正驅動機構７２及校正具７３，該校正承置器７１係承置至少一電子元件，該校正驅動機構７２係驅動校正具７３作至少一方向位移，該校正具７３係推移校正電子元件，更進一步，該校正承置器７１係設有至少一承置電子元件之校正承槽，並可固設於機台２０或於機台２０上作至少一方向位移，該校正驅動機構７２係設有至少一校正驅動器以及由該校正驅動器驅動作至少一方向位移之傳動具，並以該傳動具供裝配該校正具７３，該校正驅動器可為壓缸或線性馬達，亦或包含馬達及傳動組，另於該傳動具與校正具７３間可設置至少一轉接件（圖未示出），以調整校正具７３之裝配位置，於本實施例中，該校正承置器７１係設置一具有複數個校正承槽７１２之校正承座７１１，並以校正承槽７１２承置待測之擴充功能卡８２，該校正驅動機構７２之校正驅動器係斜向配置且為第三壓缸７２１，第三壓缸７２１之活塞桿係連結帶動該傳動具７２２作斜向位移，複數個校正具７３係裝配於該傳動具７２２，並分別位於複數個校正承槽７１２的一角部，複數個校正具７３由傳動具７２２帶動同步作斜向位移，以推移校正複數個校正承槽７１２內之複數個擴充功能卡８２；該中央控制裝置（圖未示出）係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。

請參閱第６圖，該供料裝置３０之第一供料承置器３１係承置一具待測擴充功能卡８２之供料盤８１，並以推移器３３頂推第一供料承置器３１處之供料盤８１作Ｘ方向位移至第二供料承置器３２暫置，該輸送裝置６０係以移料驅動機構６１驅動該移料器６２作Ｘ－Ｚ－Ｙ方向位移，令移料器６２於第二供料承置器３２處之供料盤８１取出複數個待測之擴充功能卡８２。

請參閱第６、７圖，為使移料器６２準確將待測之擴充功能卡８２移入測試裝置５０，係執行待測擴充功能卡８２之擺置校正作業，即該輸送裝置６０係以移料驅動機構６１驅動該移料器６２作Ｘ－Ｚ－Ｙ方向位移將複數個待測之擴充功能卡８２移入該校正裝置７０之校正承座７１１的複數個校正承槽７１２，並以各校正承槽７１２相對於校正具７３之一角作為基準角部，該校正裝置７０係以第三壓缸７２１經傳動具７２２帶動複數個校正具７３同步作斜向位移，令複數個校正具７３斜向推移複數個待測之擴充功能卡８２靠抵於校正承槽７１２之基準角部，進而同步校正複數個待測之擴充功能卡８２之擺置位置，以供輸送裝置６０之移料器６２的中心位置對位於待測擴充功能卡８２之中心位置，進而使移料器６２準確拾取移載待測之擴充功能卡８２。

請參閱第６、７、８圖，於校正裝置７０完成待測擴充功能卡８２之校正作業後，該校正裝置７０之第三壓缸７２１經傳動具７２２帶動複數個校正具７３同步作斜向反向位移，使複數個校正具７３脫離複數個待測之擴充功能卡８２；該輸送裝置６０係以移料驅動機構６１驅動該移料器６２作Ｘ－Ｚ－Ｙ方向位移於校正裝置７０之複數個校正承槽７１２取出複數個待測之擴充功能卡８２，並移入該測試裝置５０之測試承座５１１的複數個測試承槽５１２，由於該待測擴充功能卡８２之第一接點８２１係朝向下方，使得該第一接點８２１電性接觸該第一測試器５２之第一測試座５２２的第一傳輸件５２２１，以便執行電源測試作業。

請參閱第８、９圖，該測試裝置５０之第一壓缸５３２係驅動移動架５３３作Ｙ方向向前位移，該移動架５３３即帶動第二壓缸５３５、移載具５３６及第二測試器５４同步作Ｙ方向位移，使第二測試器５４位於測試承座５１１之上方，且相對於複數個待測之擴充功能卡８２，該第二壓缸５３５再驅動該移載具５３６作Ｚ方向向下位移，該移載具５３６即帶動第二測試器５４同步作Ｚ方向位移，由於該待測擴充功能卡８２之第二接點８２２係朝向上方，使得該第二測試器５４之第二測試座５４２的第二傳輸件５４２１壓抵且確實電性接觸該待測擴充功能卡８２之第二接點８２２，使第二測試器５４對該待測擴充功能卡８２執行訊號測試作業，然該測試裝置５０以移載具５３６帶動第二測試器５４之第二傳輸件５４２１壓抵且電性接觸該待測擴充功能卡８２之第二接點８２２時，再利用待測擴充功能卡８２壓抵第一測試器５２之第一傳輸件５２２１，使該第一測試器５２之第一傳輸件５２２１確實電性接觸該待測擴充功能卡８２之第一接點８２１，使第一測試器５２對該待測擴充功能卡８２執行電源測試作業；因此，該測試裝置５０可透過移載具５３６ 、第二測試器５４及待測擴充功能卡８２而對第一測試器５２執行壓抵作用，並使該擴充功能卡８２於一測試裝置５０上確實執行訊號測試作業及電源測試作業，毋須增設下壓治具及費時更換搬運於不同測試裝置，達到提高生產效能及節省成本之實用效益。

請參閱第１０、１１圖，於完成該擴充功能卡８２之訊號測試作業及電源測試作業，該測試裝置５０之第二壓缸５３５帶動該移載具５３６及第二測試器５４作Ｚ方向向上位移復位，以脫離已測之擴充功能卡８２，並以第一壓缸５３２帶動該移動架５３３、第二壓缸５３５、移載具５３６及第二測試器５４作Ｙ方向向後位移復位，以離開測試承座５１１上方，該輸送裝置６０係以移料驅動機構６１驅動該移料器６２作Ｘ－Ｚ－Ｙ方向位移而於測試裝置５０之複數個測試承槽５１２取出複數個已測之擴充功能卡８２，並依測試結果，而移載至該收料裝置４０之收料承置器４１的收料盤８３收置。

［習知］ １１:擴充功能卡 １１１:插接部 １１１１:第一接點 １１１２:第二接點 ［本發明］ ２０:機台 ３０:供料裝置 ３１:第一供料承置器 ３２:第二供料承置器 ３３:推移器 ４０:收料裝置 ４１:收料承置器 ５０:測試裝置 ５１:測試承置器 ５１１:測試承座 ５１２:測試承槽 ５２:第一測試器 ５２１:第一電路板 ５２２:第一測試座 ５２２１:第一傳輸件 ５３:測試驅動機構 ５３１:基座 ５３２:第一壓缸 ５３３:移動架 ５３４１:滑軌 ５３４２:滑座 ５３５:第二壓缸 ５３６:移載具 ５４:第二測試器 ５４１:第二電路板 ５４２:第二測試座 ５４２１:第二傳輸件 ６０:輸送裝置 ６１:移料驅動機構 ６２:移料器 ７０:校正裝置 ７１:校正承置器 ７１２:校正承槽 ７１１:校正承座 ７２:校正驅動機構 ７２１:第三壓缸 ７２２:傳動具 ７３:校正具 ８１:供料盤 ８２:擴充功能卡 ８２１:第一接點 ８２２:第二接點 ８３:收料盤

第１圖：習知擴充功能卡之示意圖。 第２圖：本發明電子元件測試設備之示意圖。 第３圖：本發明測試裝置之示意圖（一）。 第４圖：本發明測試裝置之示意圖（二）。 第５圖：本發明校正裝置之示意圖。 第６圖：本發明電子元件測試設備之使用示意圖（一）。 第７圖：本發明電子元件測試設備之使用示意圖（二）。 第８圖：本發明電子元件測試設備之使用示意圖（三）。 第９圖：本發明電子元件測試設備之使用示意圖（四）。 第１０圖：本發明電子元件測試設備之使用示意圖（五）。 第１１圖：本發明電子元件測試設備之使用示意圖（六）。

20:機台

30:供料裝置

31:第一供料承置器

32:第二供料承置器

33:推移器

40:收料裝置

41:收料承置器

50:測試裝置

60:輸送裝置

61:移料驅動機構

62:移料器

70:校正裝置

81:供料盤

82:擴充功能卡

83:收料盤

Claims (10)

1. 一種電子元件測試設備，包含： 　　　　　機台； 　　　　　供料裝置：係裝配於該機台，並設有至少一承置電子元件之供料承 　　　　　　　　　　置器，該電子元件係於第一面設有第一接點，於第二面 　　　　　　　　　　設有第二接點； 　　　　　測試裝置：係裝配於該機台，並設有測試承置器、第一測試器、測 　　　　　　　　　　試驅動機構及第二測試器，該測試承置器係承置至少一 　　　　　　　　　　該電子元件，該第一測試器係裝配於該測試承置器，並 　　　　　　　　　　設有至少一第一傳輸件，以供電性接觸該電子元件之第 　　　　　　　　　　一接點，該測試驅動機構係設有至少一移載驅動器以及 　　　　　　　　　　由該移載驅動器驅動作至少一方向位移或擺動之移載具 　　　　　　　　　　，該第二測試器係裝配於該測試驅動機構之移載具，並 　　　　　　　　　　設有至少一第二傳輸件，以供電性接觸該電子元件之第 　　　　　　　　　　二接點； 　　　　　輸送裝置：係裝配於該機台，並設有至少一移載該電子元件之移料 　　　　　　　　　　器； 　　　　　中央控制裝置：係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作 　　　　　　　　　　業。
2. 依申請專利範圍第１項所述之電子元件測試設備，其中，該供料裝 置係設置第一供料承置器、第二供料承置器及推移器，該第一供料承置器係承置至少一具待測電子元件之供料盤，該推移器係於該第一供料承置器及該第二供料承置器間移載該供料盤。
3. 依申請專利範圍第１項所述之電子元件測試設備，其中，該測試裝 置之測試承置器係設置一具測試承槽之測試承座，該測試承槽係供承置該電子元件。
4. 依申請專利範圍第３項所述之電子元件測試設備，其中，該測試裝 置之第一測試器係裝配於該測試承座之測試承槽。
5. 依申請專利範圍第１項所述之電子元件測試設備，其中，該測試驅 動機構係於一基座設置第一移載驅動器，該第一移載驅動器係驅動至少一第二移載驅動器作第三方向位移，該第二移載驅動器係驅動該移載具作第二方向位移，該移載具供裝配該第二測試器。
6. 依申請專利範圍第５項所述之電子元件測試設備，其中，該測試驅 動機構之第一移載驅動器係連結一移動架，該移動架供裝配該第二移載驅動器。
7. 依申請專利範圍第６項所述之電子元件測試設備，其中，該基座與 該移動架間設有至少一呈第三方向配置之滑軌組。
8. 依申請專利範圍第１項所述之電子元件測試設備，更包含至少一校 正裝置，該校正裝置係裝配於該機台，並設有至少一承置電子元件之校正承置器，至少一校正驅動機構係驅動至少一校正具位移，以推移校正該校正承置器上之電子元件。
9. 依申請專利範圍第８項所述之電子元件測試設備，其中，該校正承 置器係設有具至少一校正承槽之校正承座，並以該校正承槽承置該電子元件，該校正驅動機構係設有至少一校正驅動器以及由該校正驅動器驅動作至少一方向位移之傳動具，該傳動具供裝配該校正具。
10. 依申請專利範圍第１項所述之電子元件測試設備，更包含至少一 收料裝置，該收料裝置係裝配於該機台，並設有至少一收料承置器 ，以承置已測之電子元件。

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