CN113945777A - 射频电子元件测试装置及应用其的测试设备 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种射频电子元件测试装置，包含电性测试器、天线测试器及测试室，其测试室设有具第一防扰部件的罩体，第一防扰部件以防屏蔽材质制作，并具有低介电系数而供无线信号通过，于罩体闭合第一承具而形成测试空间，测试空间供容置具射频电子元件的电性测试器；借以测试室位于电性测试器与天线测试器之间，不仅使射频电子元件于测试室内的电性测试器执行电性测试作业，还可经由测试室的第一防扰部件而与外部的天线测试器执行无线信号测试作业，进而提升测试品质。本发明还提供一种应用射频电子元件测试装置的测试设备，其包含：机台；供料装置；收料装置；射频电子元件测试装置；输送装置；中央控制装置。

Description

射频电子元件测试装置及应用其的测试设备

技术领域

本发明提供一种射频电子元件测试装置及应用其的测试设备，其涉及一种测试室位于电性测试器与天线测试器之间，不仅使射频电子元件于预设测试环境的测试室内部的电性测试器执行电性测试作业，还可经由测试室的第一防扰部件而与外部的天线测试器进行无线信号测试作业，进而提升测试品质的测试装置。

背景技术

请参阅图1，一内建有多个天线的射频电子元件10广泛应用于行动通讯区域无线网路系统及无线通讯区域网路系统等领域；目前射频电子元件10于一面设置多个接点11，并于另一面设有天线12，射频电子元件10于出厂前，除了执行无线信号测试作业，亦需执行电性测试作业，以确保品质。

射频电子元件测试装置于机台配置一具电性连接的电路板21及测试座22的电性测试器，测试座22具有多个探针221，以供测试射频电子元件10，测试装置另于测试座22的上方配置天线测试器23，以对射频电子元件10发射或接收无线信号；当射频电子元件10置放于测试座22时，射频电子元件10以接点11接触测试座22的探针221而执行电性测试作业，并以天线12朝向位于预设待测指向的天线测试器23发出无线信号，天线测试器23接收无线信号而进行无线信号测试作业。

惟，射频电子元件10可能应用于低温环境或高温环境，以致射频电子元件10必须进行低温或高温或常温的电性测试作业及无线信号测试作业，若是低温测试作业，亦需考量结露问题，方可确保射频电子元件10的测试品质，尤其当测试设备空间有限的情况下，测试环境的配置更需费心研发；因此，如何在不影响天线测试器23与射频电子元件10传输无线信号的要件下，而使射频电子元件10可位于预设温度的测试环境(如低温、高温或防结露等测试环境)执行测试作业，即为业者研发的标的。

再者，上述射频电子元件10仅以自重的压力，令接点11接触测试座22的探针221，由于探针221内具有弹簧，此一自重压力并无法使接点11与探针221确实相互接触，以致影响射频电子元件10的电性测试品质；由于射频电子元件10的天线12相对于天线测试器23，如何在不影响天线测试器23与射频电子元件10传输无线信号的要件下，而可压接射频电子元件10执行电性测试作业，亦为业者研发的标的。

发明内容

故，发明人有鉴于上述缺失，乃搜集相关资料，经由多方评估及考量，并以从事于此行业累积的多年经验，经由不断试作及修改，始设计出此种射频电子元件测试装置及应用其的测试设备。

本发明的主要目的乃在于：在不影响天线测试器与射频电子元件传输无线讯号信号的要件下，而可压接射频电子元件执行测试作业。

本发明的目的一，提供一种射频电子元件测试装置，包含电性测试器、天线测试器及测试室，其测试室设有具第一防扰部件的罩体，第一防扰部件以防屏蔽材质制作，并具有低介电系数而供无线信号通过，于罩体闭合第一承具而形成测试空间，测试空间供容置具射频电子元件的电性测试器；借以测试室位于电性测试器与天线测试器之间，不仅使射频电子元件于预设测试环境的测试室内部的电性测试器执行电性测试作业，还可经由测试室的第一防扰部件而与外部的天线测试器执行无线信号测试作业，进而提升测试品质。

本发明的目的二，提供一种射频电子元件测试装置，其测试室设有环境控制器，以调控测试空间的温度及防结露，使射频电子元件于预设温度的测试空间内进行电性测试作业及无线信号测试作业，进而提升测试品质。

本发明的目的三，提供一种射频电子元件测试装置，其天线测试器装配于第二承具的信号通道，第二承具带动天线测试器同步位移，并以压接部件下压测试室的罩体的第一防扰部件，令第一防扰部件压抵射频电子元件确实接触电性测试器，进而提高测试品质。

本发明的目的四，提供一种射频电子元件测试装置，其天线测试器装配于第二承具，测试室于测试空间配置具第二防扰部件的接合单元，接合单元以第二防扰部件压抵射频电子元件确实接触电性测试器，进而提高测试品质。

本发明的目的五，提供一种射频电子元件测试装置，其测试室的罩体可连结一第一驱动器，第一驱动器驱动罩体开启或闭合于第一承具，以供输送器于电性测试器取放射频电子元件，进而提高使用效能。

本发明的目的六，提供一种射频电子元件测试装置，其测试室的罩体可装配于第二承具，第二承具带动罩体位移而开启或闭合于第一承具，不仅可供输送器于电性测试器取放射频电子元件，还以罩体的第一防扰部件压抵射频电子元件确实接触电性测试器，进而提高使用效能。

本发明的目的七，提供一种射频电子元件测试装置，其测试室的罩体可装配于第二承具，罩体设有至少一拾取部件，拾取部件以供取放射频电子元件，进而提高使用效能。

本发明的目的八，提供一种射频电子元件测试装置，其于第一承具或第二承具配置有调整器，以供调整电性测试器及测试室或天线测试器的摆置位置或角度，使射频电子元件执行不同待测指向的无线信号测试作业，以缩减天线测试器的配置数量，达到节省天线测试器成本及提高使用效能的实用效益。

本发明的目的九，提供一种测试设备，包含机台、供料装置、收料装置、本发明测试装置、输送装置及中央控制装置；供料装置配置于机台上，并设有至少一容纳待测射频电子元件的供料承置器；收料装置配置于机台上，并设有至少一容纳已测射频电子元件的收料承置器；本发明测试装置配置于机台上，包含电性测试器、天线测试器及测试室，以使测试室位于电性测试器与天线测试器的间，不仅使射频电子元件于预设测试环境的测试室内部的电性测试器而执行电性测试作业，还可经由测试室的第一防扰部件而与外部的天线测试器进行无线信号测试作业；输送装置配置于机台上，并设有至少一输送器，以输送射频电子元件；中央控制装置以供控制及整合各装置驱动，而执行自动化作业，达到提升作业效能的实用效益。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

本发明提供一种射频电子元件测试装置，包含：第一承具；第二承具；电性测试器：配置于该第一承具，以供对位于测试工位的该射频电子元件执行电性测试作业；天线测试器：配置于该第二承具，以供对该射频电子元件执行无线信号测试作业；测试室：设有具至少一第一防扰部件的罩体，于该罩体闭合该第一承具而形成测试空间，该测试空间容置该电性测试器，该罩体位于该电性测试器及该天线测试器之间，并以该第一防扰部件供该天线测试器及该射频电子元件间传输的无线信号通过。

其中，该第二承具设有信号通道，该信号通道的一端供装配该天线测试器，另一端设有压接部件，以供压接该第一防扰部件。

其中，该测试室的该罩体装配于该第二承具。

其中，该测试室的该罩体设有至少一拾取部件，以供取放该射频电子元件。

其中，该测试室的该罩体包含该第一防扰部件及框架，该框架装配该第一防扰部件。

其中，该测试室设有第一驱动器，以供驱动该罩体启闭。

其中，该测试室于该第一承具设有接合单元，该接合单元包含第二驱动器及第二防扰部件，该第二驱动器以供驱动该第二防扰部件位移，该第二防扰部件以供压接该射频电子元件。

其中，更包含调整器，该调整器装配于该第一承具或该第二承具，以供调整摆置角度或位置。

其中，该测试室设有至少一环境控制器。

其中，该测试室的该第一防扰部件以防屏蔽材质制作，并具有低介电系数。

本发明还提供一种应用射频电子元件测试装置的测试设备，包含：机台；供料装置：配置于该机台上，并设有至少一容纳待测射频电子元件的供料承置器；收料装置：配置于该机台上，并设有至少一容纳已测射频电子元件的收料承置器；至少一个射频电子元件测试装置：配置于该机台上；输送装置：配置于该机台上，并设有至少一输送器，以供输送射频电子元件；中央控制装置：以控制及整合各装置驱动，以执行自动化作业。

附图说明

图1：现有技术的测试装置的使用示意图。

图2：本发明测试装置第一实施例的示意图。

图3：本发明测试装置第一实施例的使用示意图(一)。

图4：本发明测试装置第一实施例的使用示意图(二)。

图5：本发明测试装置第二实施例的示意图。

图6：本发明测试装置第二实施例的使用示意图(一)。

图7：本发明测试装置第二实施例的使用示意图(二)。

图8：本发明测试装置第三实施例的示意图。

图9：本发明测试装置第三实施例的使用示意图。

图10：本发明测试装置第四实施例的示意图。

图11：本发明测试装置第四实施例的使用示意图。

图12：本发明测试装置应用于测试设备的示意图。

附图标记列表：[现有技术]10-射频电子元件；11-接点；12-天线；21-电路板；22-测试座；221-探针；23-天线测试器。[本发明]30-测试装置；31-电性测试器；311-电路板；312-测试座；313-探针；32-天线测试器；321-信号作业件；L-作业轴线；33、33A-测试室；331、331A-罩体；3311、3311A-第一防扰部件；3312-框架；3313、3313A-第一面；3314、3314A-第二面；3315A-连接部件；3316A-拾取部件；332-测试空间；333-第一驱动器；334-流体管路；335-接合单元；3351-第二防扰部件；3352-第二驱动器；34、34A-第一承具；35、35A-第二承具；351-信号通道；352-压接部件；353-驱动器；36-输送器；37-调整器；40-射频电子元件；41-接点；42-天线；50-机台；60-供料装置；61-供料承置器；70-收料装置；71-收料承置器；80-输送装置；81-第一输送器；82-第二输送器；83-第三输送器。

具体实施方式

兹举一较佳实施例并配合图式，详述如后：

请参阅图2，本发明测试装置30的第一实施例，包含电性测试器31、天线测试器32及测试室33。

电性测试器31设有电性连接的电路板311及至少一测试座312，测试座312供电性连接位于测试工位的射频电子元件，以对射频电子元件执行电性测试作业；更进一步，测试座312具有多个支探针313，探针313的一端电性连接电路板311，另一端供电性连接射频电子元件。再者，测试工位为预设射频电子元件执行测试作业的位置，例如测试工位可位于电性测试器31或载具等，依不同测试作业需求而定，不受限于本实施例；于本实施例，测试工位位于电性测试器31的测试座312。

电性测试器31装配于第一承具34，更进一步，第一承具34可为台板、端部、架体或座体，亦或以连接电性测试器31的相关元件的一部位作为第一承具34，第一承具34的型态只要可供装配电性测试器31均可，换言之，第一承具34可为机台的台板、调整器的台板、测试室的面板或载具的承装部件等，载具可为转动具或线性移动具(如驱动器、承座等)。第一承具34可为固定式或活动式，例如第一承具34为机台的台板，可使电性测试器31固定于预设位置；例如第一承具34为调整器的台板，可带动电性测试器31作角度转动而调整摆置角度或作至少一方向位移而变换摆置位置；于本实施例，第一承具34为固定式配置且为机台的台板，以供装配电性测试器31。

天线测试器32设有至少一信号作业件321，以供射频电子元件执行无线信号测试作业；例如天线测试器32对射频电子元件执行接收或发射无线信号的作业，例如天线测试器32对射频电子元件作接收及发射无线信号的作业。天线测试器32可连接一独立的处理器(图未示出)，以将接收射频电子元件的无线信号传输至处理器，或者将处理器的测试用的无线信号发射至射频电子元件，处理器亦可为中央控制装置(图未示出)的处理器。再者，天线测试器32的信号作业件321的作业轴线L角度可相同或偏近于射频电子元件的待测指向(如0°或45°或30°指向)。

测试装置30可依测试作业需求而变换天线测试器32的配置数量及配置位置，例如测试单一指向的无线信号时，可配置单一天线测试器32，例如测试不同指向的无线信号时，可于多个位置配置多个天线测试器32；于本实施例，天线测试器32装配于第二承具35，天线测试器32的信号作业件321的作业轴线L位于0°指向，以供接收射频电子元件所发出的无线信号，并将无线信号传输至中央控制装置的处理器作一分析，以判别射频电子元件的待测指向所发出波束的无线信号强度是否符合标准。

第二承具35可以刚性材质或防屏蔽材质制成，或包含复合材质(如金属材质及防屏蔽材质)，第二承具35可为台板、架体或座体，或者以连接天线测试器32的相关元件的一部位作为第二承具35，第二承具35的型式只要可供装配天线测试器32均可，换言之，第二承具35可为机架、调整器的承装部件、压接器的承装部件或载具的承装部件等，例如第二承具35为压接器，而可与测试室33作相对位移。第二承具35可为固定式或活动式，例如第二承具35为机架，可使天线测试器32固定于预设位置；例如第二承具35为活动式压接器，可带动天线测试器32同步位移，并压抵测试室33。

于本实施例，第二承具35为活动式压接器，并以刚性材质制成，于内部开设有信号通道351，信号通道351的一端供装配天线测试器32，另一端则连通第二承具35的底部，第二承具35以底部作为压接部件352，并由驱动器353带动作Z方向位移，使天线测试器32作同步位移。然，第二承具35的底部亦可另外装配以防屏蔽材质制作的压接具作为压接部件352。天线测试器32的信号作业件321的作业轴线L角度相同于射频电子元件的0°待测指向，以接收射频电子元件的待测指向所发出波束的无线信号。

测试室33设有具至少一第一防扰部件3311的罩体331，第一防扰部件3311以防屏蔽材质制作，并具有低介电系数而供通过无线信号，于罩体331闭合第一承具34而形成测试空间332，测试空间332供容置具射频电子元件的电性测试器31，借以测试室33位于电性测试器31与天线测试器32之间，不仅使射频电子元件位于预设测试环境的测试室33，还可经由测试室33的第一防扰部件3311而与外部的天线测试器32进行无线信号测试作业。

又罩体331与第二承具35其中一者朝向另一者作压接位移，而使罩体331的第一防扰部件3311压抵射频电子元件，使射频电子元件确实接触电性测试器31，并使天线测试器32与射频电子元件间传输的无线信号通过第一防扰部件3311而执行无线信号测试作业。再者，罩体331与第二承具35作相对位移，亦无不可，仍可利用第二承具35压接罩体331的第一防扰部件3311。

于本实施例，测试室33的罩体331包含第一防扰部件3311及框架3312，框架3312以金属材制作，并回避测试轴向的范围，即位于非测试轴向的范围，以避免干扰传输无线信号，框架3312供架置第一防扰部件3311。然，若第一防扰部件3311的强度符合作业需求，亦可不需配置框架3312。

第一防扰部件3311以防屏蔽材质制作，且具有低介电系数；更进一步，防屏蔽材质可为闭孔聚乙烯泡绵或气凝胶，当防屏蔽材质的内部为真空，其介电系数为1，当防屏蔽材质的内部为空气，其介电系数接近于1；第一防扰部件3311具有适当强度及弹性，于受压后，可回复原状；于本实施例，第一防扰部件3311为闭孔聚乙烯泡绵，并具有适当的强度及弹性，第一防扰部件3311装配于框架3312，以第一面3313朝向天线测试器32，并以第二面3314朝向射频电子元件；第一防扰部件3311的介电系数可为1.06～1.03，更佳者，介电系数为1.03～1，第一防扰部件3311的介电系数低，尤其对毫米波无线信号干扰小，而可降低无线信号于传输上的损耗。

测试室33设有至少一第一驱动器333，以供驱动罩体331启闭；当第一驱动器333驱动罩体331闭合于第一承具34，而形成一测试空间332，当第一驱动器333驱动罩体331离开第一承具34，则开启测试空间332；第一驱动器333可驱动罩体331作旋转位移或线性位移；于本实施例，第一驱动器333配置于第一承具34，并连结罩体331的框架3312，第一驱动器333驱动罩体331作旋转位移而启闭，第一驱动器333驱动罩体331闭合于第一承具34而形成一测试空间332，测试空间332供容置电性测试器31，而天线测试器32位于测试室33的外部。

测试室33设有至少一环境控制器，以调控测试空间的温度或防结露；环境控制器可为致冷晶片、加热件或输送预温流体的流体管路，例如流体管路输送低温气体至测试空间332，可使测试空间332保持预设低温测试环境，例如流体管路输送常温干燥气体至测试空间332，可防止测试空间332结露；于本实施例，测试室33于第一承具34配置流体管路334，以输送低温干燥气体至罩体331的测试空间332，使测试空间332形成一低温干燥的测试环境。

请参阅图3，一输送器36吸附一待测的射频电子元件40，射频电子元件40的一面具有多个接点41，另一面具有天线42，于测试时，测试室33的第一驱动器333驱动罩体331作旋转摆动位移，以开启测试空间332，而供输送器36将待测的射频电子元件40移入于电性测试器31的测试座312(即测试工位)，射频电子元件40的接点41即初步电性接触测试座312的探针313。

请参阅图4，于测试座312承置射频电子元件40后，测试室33的第一驱动器333驱动罩体331作旋转摆动位移而闭合于第一承具34，以关闭测试空间332，测试室33的流体管路334输送低温干燥空气至测试空间332，以防止射频电子元件40结露。然，为使射频电子元件40的接点41确实接触测试座312的探针313，由于罩体331的第一防扰部件3311的第一面3313相对于天线测试器32，以及第二面3314相对于射频电子元件40的天线42，第二承具35由驱动器353带动作Z方向位移，第二承具35并带动天线测试器32作同步位移，第二承具35以压接部件352下压罩体331的第一防扰部件3311的第一面3313，令罩体331的第一防扰部件3311向下弧突变形，使第一防扰部件3311的第二面3314以预设压接力压接射频电子元件40，射频电子元件40的接点41确实接触测试座312的探针313，探针313经由电路板311而对射频电子元件40执行电性测试作业。

再者，射频电子元件40的天线42的待测指向为0°，天线测试器32的信号作业件321的作业轴线L角度相同射频电子元件40的待测指向且为0°，测试室33的罩体331虽位于射频电子元件40的天线42及天线测试器32间，由于第一防扰部件3311以防屏蔽材质制作，其介电系数为1.03～1，第一防扰部件3311可供通过无线信号；因此，位于测试工位的射频电子元件40的天线42朝0°待测指向发出波束而传输无线信号时，在第一防扰部件3311具有低介电系数及低损耗的要件下，无线信号通过第一防扰部件3311及信号通道351而传输至天线测试器32，天线测试器32的信号作业件321接收射频电子元件40的无线信号，进而执行无线信号测试作业，天线测试器32并将接收的无线信号传输至中央控制装置(图未示出)的处理器，以供处理器作一分析，而判别射频电子元件40的待测指向所发出的无线信号强度是否符合标准；若是，则判断射频电子元件40为良品，反之，则判断为不良品；因此，测试装置30不仅可确保射频电子元件40的电性测试作业品质，还供顺畅执行无线信号测试作业，进而提高生产效能。

请参阅图5，本发明测试装置30的第二实施例，其与第一实施例的差异在于天线测试器32装配于固定式的第二承具35A，第二承具35A为机架，测试室33于测试空间332配置具第二防扰部件3351的接合单元335，接合单元335以第二防扰部件3351压抵射频电子元件，使射频电子元件确实接触电性测试器31；于本实施例，接合单元335以第二驱动器3352驱动第二防扰部件3351作Z方向位移，第二防扰部件3351以防屏蔽材质制作，并具有低介电系数而供通过无线信号。

请参阅图6、图7，于测试时，测试室33的第一驱动器333驱动罩体331作旋转摆动位移，以开启测试空间332，而供输送器36将待测的射频电子元件40移入电性测试器31的测试座312(即测试工位)，射频电子元件40的接点41即电性接触测试座312的探针313。于测试座312承置射频电子元件40后，测试室33的第一驱动器333驱动罩体331作旋转摆动位移而闭合于第一承具34，以关闭测试空间332，测试室33的流体管路334输送低温干燥空气至测试空间332，以防止射频电子元件40结露。测试室33以接合单元335的第二驱动器3352驱动第二防扰部件3351作Z方向向下位移而以预设压接力压接射频电子元件40，使射频电子元件40的接点41确实接触测试座312的探针313，探针313经由电路板311而对射频电子元件40执行电性测试作业。由于罩体331的第一防扰部件3311及接合单元335的第二防扰部件3351均为防屏蔽材质制作，其介电系数为1.03～1，可供通过无线信号；因此，位于测试工位的射频电子元件40的天线42朝0°待测指向发出波束而传输无线信号时，在第一防扰部件3311及第二防扰部件3351具有低介电系数及低损耗的要件下，使无线信号通过第一防扰部件3311及第二防扰部件3351而传输至天线测试器32，天线测试器32的信号作业件321接收射频电子元件40的无线信号，进而执行无线信号测试作业。

请参阅图8、图9，本发明测试装置30于第一承具或第二承具配置调整器，以供调整摆置角度或位置；第三实施例与第二实施例的差异在于第一承具34A为一台板，并装配调整器37，以调整摆置角度或位置；于本实施例，第一承具34A的底部装配调整器37，调整器37装配于机台50，第一承具34A承载电性测试器31及测试室33，以供调整电性测试器31的摆置位置或角度，使射频电子元件40的天线42执行不同预设指向的无线信号测试作业，以缩减天线测试器32的配置数量而节省成本；再者，调整器37可为机械手臂或转轴，或包含多个调整杆件，以调整电性测试器31及其上的射频电子元件40摆置呈测试作业所需的角度(如0°、30°或45°指向)，例如多个调整杆件可作不同高度搭配驱动，以驱动调整第一承具34A。

于电性测试器31承置射频电子元件40时，测试室33以接合单元335的第二防扰部件3351压接射频电子元件40，使射频电子元件40的接点41确实接触电性测试器31的探针313而执行电性测试作业；调整器37带动第一承具34A、电性测试器31、测试室33及射频电子元件40同步调整摆置角度，于第一防扰部件3311及第二防扰部件3351的防干扰范围大于射频电子元件40的待测指向范围的要件下，射频电子元件40的天线42朝向30°待测指向发射无线信号，无线信号通过第一防扰部件3311及第二防扰部件3351而传输至天线测试器32，使天线测试器32接收射频电子元件40的无线信号，进而执行无线信号测试作业。

请参阅图10、图11，本发明测试装置30的第四实施例，其与第一实施例的差异在于测试室33A装配于第二承具35，以于测试室33A的罩体331A闭合第一承具34而形成测试空间；更进一步，罩体331A设有至少一拾取部件，拾取部件以供取放射频电子元件；于本实施例，测试室33A于罩体331A的第一防扰部件3311A的第一面3313A作Z方向向上延伸设有连接部件3315A，以装配于第二承具35的压接部件352，连接部件3315A设有拾取部件3316A，拾取部件3316A的一端连接抽气设备(图未示出)，另一端连通第一防扰部件3311A的第二面3314A；然，由于测试室33A装配于第二承具35，而可以第二承具35的驱动器353作为第一驱动器。因此，驱动器353驱动第二承具35位移，使第二承具35带动测试室33A及天线测试器32同步作Z方向向下位移，测试室33A以拾取部件3316A吸附一射频电子元件40同步位移，并以罩体331A闭合第一承具34而形成测试空间332A，且令拾取部件3316A将射频电子元件40移置于电性测试器31的测试座312，第二承具35以压接部件352下压测试室33A的连接部件3315A，令罩体331A的第一防扰部件3311A受压变形而压抵射频电子元件40，使射频电子元件40的接点41确实接触测试座312的探针313而执行电性测试作业。再者，位于测试工位的射频电子元件40的天线42朝0°待测指向发出波束而传输无线信号，在第一防扰部件3311A及连接部件3315A具有低介电系数及低损耗的要件下，而供无线信号通过传输至天线测试器32，天线测试器32接收射频电子元件40的无线信号，进而执行无线信号测试作业。

请参阅图2～4、图12，本发明测试装置30应用于测试设备的示意图，包含机台50、供料装置60、收料装置70、本发明测试装置30、输送装置80及中央控制装置(图未示出)；供料装置60配置于机台50上，并设有至少一容纳待测射频电子元件的供料承置器61；收料装置70配置于机台50上，并设有至少一容纳已测射频电子元件的收料承置器71；本发明的测试装置30配置于机台50上，包含电性测试器31、天线测试器32及测试室33，以供对射频电子元件执行电性测试作业及无线信号测试作业，于本实施例，于机台50的第一侧及第二侧分别配置测试装置30；输送装置80配置于机台50上，并设有至少一输送器，用以输送射频电子元件，于本实施例，输送装置80设有作X-Y-Z方向位移的第一输送器81，第一输送器81于供料装置60取出待测的射频电子元件，并移载至二为载台的第二输送器82，输送装置80的第三输送器83于第二输送器82与测试装置30的电性测试器31取放交换待测射频电子元件及已测的射频电子元件，测试装置30的电性测试器31及天线测试器32对待测的射频电子元件执行电性测试作业及无线信号测试作业；第一输送器81再于第二输送器82取出已测的射频电子元件，并依测试结果，将已测的射频电子元件移载至收料装置70而分类收置；中央控制装置用以控制及整合各装置驱动，以执行自动化作业，达到提升作业效能的实用效益。

Claims (11)

1.一种射频电子元件测试装置，其特征在于，包含：

第一承具；

第二承具；

电性测试器：配置于该第一承具，以供对位于测试工位的该射频电子元件执行电性测试作业；

天线测试器：配置于该第二承具，以供对该射频电子元件执行无线信号测试作业；

测试室：设有具至少一第一防扰部件的罩体，于该罩体闭合该第一承具而形成测试空间，该测试空间容置该电性测试器，该罩体位于该电性测试器及该天线测试器之间，并以该第一防扰部件供该天线测试器及该射频电子元件间传输的无线信号通过。

2.根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，该第二承具设有信号通道，该信号通道的一端供装配该天线测试器，另一端设有压接部件，以供压接该第一防扰部件。

3.根据权利要求2所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，该测试室的该罩体装配于该第二承具。

4.根据权利要求3所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，该测试室的该罩体设有至少一拾取部件，以供取放该射频电子元件。

5.根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，该测试室的该罩体包含该第一防扰部件及框架，该框架装配该第一防扰部件。

6.根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，该测试室设有第一驱动器，以供驱动该罩体启闭。

7.根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，该测试室于该第一承具设有接合单元，该接合单元包含第二驱动器及第二防扰部件，该第二驱动器以供驱动该第二防扰部件位移，该第二防扰部件以供压接该射频电子元件。

8.根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，更包含调整器，该调整器装配于该第一承具或该第二承具，以供调整摆置角度或位置。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，该测试室设有至少一环境控制器。

10.根据权利要求1至8中任一项所述的射频电子元件测试装置，其特征在于，该测试室的该第一防扰部件以防屏蔽材质制作，并具有低介电系数。

11.一种应用根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置的测试设备，其特征在于，包含：

机台；

供料装置：配置于该机台上，并设有至少一容纳待测射频电子元件的供料承置器；

收料装置：配置于该机台上，并设有至少一容纳已测射频电子元件的收料承置器；

至少一个根据权利要求1所述的射频电子元件测试装置：配置于该机台上；

输送装置：配置于该机台上，并设有至少一输送器，以供输送射频电子元件；

中央控制装置：以控制及整合各装置驱动，以执行自动化作业。

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