TWI621203B - 電子元件定位載具及其推撐設備 - Google Patents

電子元件定位載具及其推撐設備 Download PDF

Info

Publication number
TWI621203B
TWI621203B TW106109604A TW106109604A TWI621203B TW I621203 B TWI621203 B TW I621203B TW 106109604 A TW106109604 A TW 106109604A TW 106109604 A TW106109604 A TW 106109604A TW I621203 B TWI621203 B TW I621203B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
positioning
axis
electronic component
axis elastic
clamping
Prior art date
Application number
TW106109604A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201836044A (zh
Inventor
蔡宗益
張育傑
Original Assignee
京元電子股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 京元電子股份有限公司 filed Critical 京元電子股份有限公司
Priority to TW106109604A priority Critical patent/TWI621203B/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI621203B publication Critical patent/TWI621203B/zh
Publication of TW201836044A publication Critical patent/TW201836044A/zh

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本發明係關於一種電子元件定位載具及其推撐設備,電子元件定位載 具包括有:一定位夾持板及一承載底板,定位夾持板具有複數第一定位區,包括有一X軸彈性構件、一Y軸彈性模組、一X軸定位側邊及一Y軸定位側邊,由X軸彈性構件、Y軸彈性模組、X軸定位側邊及Y軸定位側邊包圍形成一夾持區,承載底板位於定位夾持板下方,具有複數第二定位區,包括有一第一穿孔、一第二穿孔及至少一第三穿孔,第一穿孔對應X軸彈性構件設置,第二穿孔對應Y軸彈性模組設置,至少一第三穿孔對應設置於夾持區內。藉此結構改善電子元件之定位準確度。

Description

電子元件定位載具及其推撐設備
本發明係關於一種電子元件定位載具及其推撐設備,尤指一種利用X軸彈性構件及Y軸彈性模組,改善電子元件定位準確度之電子元件定位載具及其推撐設備。
日常生活中充斥著各種電子產品,每一種電子產品皆利用半導體元件來達到特定之功能,例如以發光二極體來照明,以溫度感應器及壓力感應器來測量外界環境變化等,而在半導體元件搭載於產品前,需要經過信賴性測試及功能性測試等來確保半導體元件之功能可以正常發揮。
在電子元件的功能測試方面,一般來說,半導體元件在經過射出成形、切割及取放至料盤等半導體封裝製程後,才開始對單顆電子元件進行功能性測試,而測試單顆電子元件時,需要先精確地置放並定位於載具上,才能順利地大量進行電子元件的功能測試。
在台灣專利TW201423900A中揭露了一種電子元件定位載具,參閱圖1A至圖1C,其分別為習知電子元件定位載具之結構示意圖、部分結構示意圖及圖1B之分解示意圖。
作為電子元件定位載具之有夾托架10包括有橫向夾緊元件101、橫向夾緊彈簧102、橫向夾緊桿103、縱向夾緊元件104、縱向夾緊彈簧105、縱向夾緊桿106、複數穿透開口107及複數致動銷108。
在夾持待測元件20之前,橫向夾緊元件101、橫向夾緊彈簧102及橫向夾緊桿103由致動銷108穿設穿透開口107抵靠橫向夾緊桿103,使橫向夾緊元件101遠離夾持區,同樣地,縱向夾緊元件104、縱向夾緊彈簧105及縱向夾緊桿106由致動銷108穿設穿透開口107抵靠縱向夾緊桿106,使縱向夾緊元件104遠離夾持區。
當待測元件20藉由測試分類機(Handler)真空吸附移載至有夾托架10之夾持區內時,致動銷108不再施力抵靠橫向夾緊桿103及縱向夾緊桿106,藉由橫向夾緊彈簧102及縱向夾緊彈簧105的彈力,橫向夾緊元件101及縱向夾緊元件104得以夾持待測元件20,以進行後續測試製程。
然而,上述習知技術僅與待測元件20在X軸及Y軸上單一接觸,且無法以不同作動時序來夾持並定位待測元件20,因此,為了解決上述問題,本發明人基於積極發明創作之精神,構思出一種電子元件定位載具及其推撐設備,利用電子元件定位載具上之X軸彈性構件、Y軸彈性模組之二抵靠部及推撐裝置之結構設計,可使待測元件(Device Under Test)之定位更加確實,改善後續測試過程之效率,幾經研究實驗終至完成本發明。
本發明之主要目的在於解決上述問題,提供一種電子元件定位載具及其推撐設備,利用X軸彈性構件及Y軸彈性模組來改善電子元件定位準確度。
為達成上述目的,本發明之電子元件定位載具包括有:一定位夾持板及一承載底板。定位夾持板具有複數第一定位區,每一第一定位區包括有一X軸彈性構件、一Y軸彈性模組、一X軸定位側邊及一Y軸定位側邊,X軸定位側邊形成於X軸彈性構件之相對側,Y軸定位側邊形成於Y軸彈性模組之相對側,且由X軸彈性構件、Y軸彈性模組、X軸定位側邊及Y軸定位側邊包圍形成一夾持區,Y軸彈性模組朝向夾持區形成二抵靠部,承載底板位於定位夾持板下方,具有複數分別對應複數第一定位區之第二定位區,每一第二定位區包括有一第一穿孔、一第二穿孔及至少一第三穿孔,第一穿孔對應X軸彈性構件設置,第二穿孔對應Y軸彈性模組設置,至少一第三穿孔對應設置於夾持區內。
上述X軸彈性構件更可包括有一彈性部及一夾持部,夾持部具有一對應第一穿孔之推撐孔,Y軸彈性模組更可包括二Y軸彈性構件,每一Y軸彈性構件更可包括有一彈力部、一擋止部及一抵靠部,擋止部可對應第二穿孔。
上述二Y軸彈性構件之尺寸可為相異,藉此以不同時序夾持並定位一待測元件。
上述X軸彈性構件更可包括有一彈性部、一抵接部及一抵壓部,抵接部可對應第一穿孔,Y軸彈性模組更可包括一體成形之一彈力部、一擋止部及二抵靠部,擋止部可對應第二穿孔。
上述Y軸彈性模組之二抵靠部之長度可為相異,藉此以不同時序夾持並定位一待測元件。
上述X軸彈性構件及Y軸彈性模組與夾持區內之一待測元件接觸之側邊可呈圓弧形,使X軸彈性構件及Y軸彈性模組與待測元件單點接觸。
上述X軸定位側邊及Y軸定位側邊之交會處可形成一調整孔,藉此可降低待測元件上之毛邊(Burr)對定位產生之影響。
本發明之電子元件定位載具推撐設備包括有:一推撐裝置、一電子元件定位載具及一壓板。推撐裝置包括有二驅動部、一第一移動板及一第二移動板,二驅動部分別驅動第一移動板及第二移動板,第一移動板具有複數第一推撐銷,第二移動板具有複數第二推撐銷,第一移動板及第二移動板為交錯設置,電子元件定位載具設置於推撐裝置上方,包括有一定位夾持板及一承載底板,定位夾持板具有複數第一定位區,每一第一定位區包括有一X軸彈性構件、一Y軸彈性模組、一X軸定位側邊及一Y軸定位側邊,X軸定位側邊形成於X軸彈性構件之相對側,Y軸定位側邊形成於Y軸彈性模組之相對側,且由X軸彈性構件、Y軸彈性模組、X軸定位側邊及Y軸定位側邊包圍形成一夾持區,Y軸彈性模組朝向夾持區形成二抵靠部,承載底板位於定位夾持板下方,具有複數分別對應複數第一定位區之第二定位區,每一第二定位區包括有一第一穿孔、一第二穿孔及至少一第三穿孔,第一穿孔對應X軸彈性構件及第一推撐銷設置,第二穿孔對應Y軸彈性模組及第二推撐銷設置,至少一第三穿孔對應設置於夾持區內,壓板設置於電子元件定位載具上方,具有複數分別對應複數第一定位區之夾持區並呈中空之定位槽。
上述定位槽之頂側開口面積可大於底側開口面積,藉此對一待測元件進行初步定位。
上述第一移動板更可包括複數第一延伸部及複數第一凹口,第二移動板更可包括複數第二延伸部及複數第二凹口,複數第一延伸部可分別對應位於複數第二凹口內,複數第二延伸部可分別對應位於複數第一凹口內。
上述每一第一延伸部之長度及寬度可小於每一第二凹口之長度及寬度,且每一第二延伸部之長度及寬度可小於每一第一凹口之長度及寬度。
上述推撐裝置可設置於一第一致動裝置上,第一致動裝置使推撐裝置於垂直方向上移動。
上述壓板可設置於一第二致動裝置上,第二致動裝置使壓板於垂直方向上移動。
上述電子元件定位載具可置放於一輸送軌道上,輸送軌道使電子元件定位載具於水平方向上移動。
上述電子元件定位載具推撐設備中,X軸彈性構件更可包括有一彈性部及一夾持部,夾持部具有一對應第一穿孔之推撐孔,Y軸彈性模組更可包括二Y軸彈性構件,每一Y軸彈性構件更可包括有一彈力部、一擋止部及一抵靠部,擋止部可對應第二穿孔。
上述電子元件定位載具推撐設備中,二Y軸彈性構件之尺寸可為相異,藉此以不同時序夾持並定位一待測元件。
上述電子元件定位載具推撐設備中,X軸彈性構件更可包括有一彈性部、一抵接部及一抵壓部,抵接部可對應第一穿孔,Y軸彈性模組更可包括一體成形之一彈力部、一擋止部及二抵靠部,擋止部可對應第二穿孔。
上述電子元件定位載具推撐設備中,Y軸彈性模組之二抵靠部之長度可為相異,藉此以不同時序夾持並定位一待測元件。
上述電子元件定位載具推撐設備中,X軸彈性構件及Y軸彈性模組與夾持區內之一待測元件接觸之側邊可呈圓弧形,使X軸彈性構件及Y軸彈性模組與待測元件單點接觸。
上述電子元件定位載具推撐設備中,X軸定位側邊及Y軸定位側邊之交會處可形成一調整孔,藉此可降低待測元件上之毛邊對定位產生之影響。
以上概述與接下來的詳細說明,皆為示範性質,是為了進一步說明本發明的申請專利範圍,為使本發明之上述目的、特性與優點能更淺顯易懂,將在後續的說明與圖示加以闡述。
1‧‧‧推撐裝置
11‧‧‧驅動部
12‧‧‧第一移動板
121‧‧‧第一推撐銷
122‧‧‧第一延伸部
123‧‧‧第一凹口
13‧‧‧第二移動板
131‧‧‧第二推撐銷
132‧‧‧第二延伸部
133‧‧‧第二凹口
2a,2b‧‧‧電子元件定位載具
21,23‧‧‧定位夾持板
211,231‧‧‧X軸彈性構件
2111,2311‧‧‧彈性部
2112‧‧‧夾持部
2112a‧‧‧推撐孔
2312‧‧‧抵接部
2313‧‧‧抵壓部
212,232‧‧‧Y軸彈性模組
212a,212b,212c,212d‧‧‧Y軸彈性構件
2121,2321‧‧‧彈力部
2122,2322‧‧‧擋止部
2123,2123a,2123b,2323,2323a,2323b‧‧‧抵靠部
213,233‧‧‧X軸定位側邊
214,234‧‧‧Y軸定位側邊
215,235‧‧‧調整孔
22,24‧‧‧承載底板
221,241‧‧‧第一穿孔
222,242‧‧‧第二穿孔
223a,223b,223c,223d,243a,243b,243c,243d‧‧‧第三穿孔
3‧‧‧壓板
31‧‧‧定位槽
4‧‧‧第一致動裝置
5‧‧‧第二致動裝置
6‧‧‧輸送軌道
10‧‧‧有夾托架
101‧‧‧橫向夾緊元件
102‧‧‧橫向夾緊彈簧
103‧‧‧橫向夾緊桿
104‧‧‧縱向夾緊彈簧
105‧‧‧縱向夾緊彈簧
106‧‧‧縱向夾緊桿
107‧‧‧穿透開口
108‧‧‧致動銷
20,30‧‧‧待測元件
A1,A4‧‧‧第一定位區
A2,A5‧‧‧第二定位區
A3,A6‧‧‧夾持區
G1,G2‧‧‧間距
圖1A係習知電子元件定位載具之結構示意圖。
圖1B係習知電子元件定位載具之部分結構示意圖。
圖1C係圖1B之分解示意圖。
圖2A係本發明之電子元件定位載具之第一實施例之結構示意圖。
圖2B係圖2A之第一定位區之結構示意圖。
圖2C係圖2A之第二定位區之結構示意圖。
圖3A至圖3E係本發明之電子元件定位載具之第一實施例之定位流程作動示意圖。
圖4係圖3A之Y軸彈性構件之另一結構示意圖。
圖5A係圖3A之Y軸彈性構件之再一結構示意圖。
圖5B係圖5A之定位完成示意圖。
圖6A係本發明之電子元件定位載具之第二實施例之結構示意圖。
圖6B係圖6A之第一定位區之結構示意圖。
圖6C係圖6A之第二定位區之結構示意圖。
圖7A係本發明之電子元件定位載具之第二實施例之Y軸彈性模組結構示意圖。
圖7B係圖7A之定位完成示意圖。
圖8係本發明之電子元件定位載具推撐設備之結構示意圖。
圖9係圖8之分解示意圖。
圖10係圖8之另一分解示意圖。
圖11係圖10之第一移動板及第二移動板之俯視示意圖。
參閱圖2A至圖2C,其分別為本發明之電子元件定位載具之第一實施例之結構示意圖、圖2A之第一定位區之結構示意圖及圖2A之第二定位區之結構示意圖。本發明之第一實施例之電子元件定位載具2a包括有:一定位夾持板21及一承載底板22。在本發明中,定位夾持板21焊接固設於承載底板22上,但不僅限於此,也可應用其他固設方式。
定位夾持板21具有複數第一定位區A1,每一第一定位區A1包括有一X軸彈性構件211、一Y軸彈性模組212、一X軸定位側邊213、一Y軸定 位側邊214及一調整孔215,X軸彈性構件211包括有一彈性部2111及一夾持部2112,Y軸彈性模組212包括二Y軸彈性構件212a,每一Y軸彈性構件212a包括有一彈力部2121、一擋止部2122及一抵靠部2123,X軸定位側邊213形成於X軸彈性構件211之相對側,Y軸定位側邊214形成於Y軸彈性模組212之相對側,且由X軸彈性構件211、Y軸彈性模組212、X軸定位側邊213及Y軸定位側邊214包圍形成一夾持區A3,Y軸彈性模組212朝向夾持區A3形成二抵靠部2123,承載底板22位於定位夾持板21下方,具有複數分別對應複數第一定位區A1之第二定位區A2,每一第二定位區A2包括有一第一穿孔221、一第二穿孔222及四第三穿孔223a,223b,223c,223d,第一穿孔221對應X軸彈性構件211設置,夾持部2112具有一對應第一穿孔221之推撐孔2112a,第二穿孔222對應Y軸彈性模組212設置,擋止部2122對應第二穿孔222,四第三穿孔223a,223b,223c,223d對應設置於夾持區A3內。藉此,定位夾持板21之夾持區A3得以夾持並定位待測元件30。
參閱圖3A至圖3E,其為本發明之電子元件定位載具之第一實施例之定位流程作動示意圖,並配合圖2A至圖2C說明對待測元件30之定位流程,在圖3A中,電子元件定位載具2a處於尚未受力之待機狀態,第一推撐銷121及第二推撐銷131(於後述電子元件定位載具推撐設備處進行說明)處於待機位置上,此時透過特定的機器設備,例如,測試分類機(Handler)等,可搭接本發明之電子元件定位載具2a,將待測元件30取放移載至待機位置上,並朝向夾持區A3進行置放時,如圖3B所示,夾持部2112之推撐孔2112a受到第一推撐銷121施力,夾持部2112在X軸方向上朝向遠離夾持區A3方向移動,Y 軸彈性模組212之二擋止部2122受到第二推撐銷131施力,抵靠部2123在Y軸方向上朝向遠離夾持區A3方向移動,因此得以置放待測元件30於夾持區A3內。
接下來,如圖3C所示,測試分類機置放待測元件30於夾持區A3內之後,如圖3D所示,第一推撐銷121朝向夾持區A3方向移動至待機時之位置,夾持部2112藉由彈性部2111之回位力量將待測元件30於X軸方向頂推,X軸彈性構件211使待測元件30能抵靠在X軸定位側邊213上,最後,如圖3E所示,第二推撐銷131朝向夾持區A3方向移動至待機時之位置,二抵靠部2123分別藉由二彈力部2121之回位力量將待測元件30於Y軸方向頂推,Y軸彈性模組212使待測元件30能抵靠在Y軸定位側邊214上,完成待測元件30之夾持及定位。
在本發明中,可以藉由改變Y軸彈性模組212之結構設計,達到以不同時序夾持待測元件30之效果,參閱圖4,其為圖3A之Y軸彈性構件之另一結構示意圖,如圖4所示,Y軸彈性構件212b,212c之尺寸為相異,由於Y軸彈性構件212b之整體尺寸大於Y軸彈性構件212c之整體尺寸,Y軸彈性構件212b之回位力量較大,使Y軸彈性構件212b,212c在夾持待測元件30時產生時間差,在夾持待測元件30時,進行首次夾持之Y軸彈性構件212b可能因磨擦、外來物(Particle)或其他因素而使待測元件30沒有完全靠邊於Y軸定位側邊214上,藉由二次夾持之Y軸彈性構件212c使待測元件30確實靠邊定位,因而改善了待測元件30之定位準確度。
參閱圖5A至5B,其分別為本發明之圖3A之Y軸彈性構件之再一結構示意圖及圖5A之定位完成示意圖,如圖5A所示,Y軸彈性構件212d之 二抵靠部2123a,2123b之長度為相異,藉由抵靠部2123a之長度大於抵靠部2123b之長度,在夾持待測元件30時,抵靠部2123a會先接觸待測元件30,使Y軸彈性構件212c在夾持待測元件30時產生時間差,改善了待測元件30之定位準確度,而定位完成時則呈現如圖5B之狀態。
在本發明中,X軸彈性構件211及Y軸彈性模組212與夾持區A3內之待測元件30接觸之側邊呈現圓形,使X軸彈性構件211及Y軸彈性模組212與待測元件30能夠以單點接觸,改善待測元件30之定位準確度,而由於待測元件30是經過切割而形成,其側邊可能會因為切割不良而產生毛邊,因此藉由X軸定位側邊213及Y軸定位側邊214之交會處形成一調整孔215,並可視待測元件30之尺寸改變調整孔215大小及形狀,使X軸定位側邊213及Y軸定位側邊214得以避開毛邊,改善待測元件30之定位準確度。
另外,在承載底板22上雖形成四第三穿孔223a,223b,223c,223d來承載待測元件30,但本發明並不拘限於此,可視待測元件30之態樣改變第三穿孔223a,223b,223c,223d之形狀及數量,例如,小外形封裝(SOP:Small Out-Line Package)適用之第三穿孔數量為兩個,扁平式封裝(QFP:Quad Flat Package)適用之第三穿孔數量則為四個。
參閱圖6A至圖6C及圖7A至圖7B,其分別為本發明之電子元件定位載具之第二實施例之結構示意圖、圖6A之第一定位區之結構示意圖、圖6A之第二定位區之結構示意圖、Y軸彈性模組結構示意圖及圖7A之定位完成示意圖。本發明之第二實施例之電子元件定位載具2b包括有:一定位夾持板23及一承載底板24。
定位夾持板23具有複數第一定位區A4,每一第一定位區A4包括有一X軸彈性構件231、一Y軸彈性模組232、一X軸定位側邊233、一Y軸定位側邊234及一調整孔235,X軸彈性構件231包括有一彈性部2311、一抵接部2312及一抵壓部2313,Y軸彈性模組232包括有一彈力部2321、一擋止部2322及二抵靠部2323,X軸定位側邊233形成於X軸彈性構件231之相對側,Y軸定位側邊234形成於Y軸彈性模組232之相對側,且由X軸彈性構件231、Y軸彈性模組232、X軸定位側邊233及Y軸定位側邊234包圍形成一夾持區A6,Y軸彈性模組232朝向夾持區A6形成二抵靠部2323,承載底板24位於定位夾持板23下方,具有複數分別對應複數第一定位區A4之第二定位區A5,每一第二定位區A5包括有一第一穿孔241、一第二穿孔242及四第三穿孔243a,243b,243c,243d,第一穿孔241對應X軸彈性構件231設置,抵接部2312對應第一穿孔241,第二穿孔242對應Y軸彈性模組232設置,擋止部2322對應第二穿孔242,四第三穿孔243a,243b,243c,243d對應設置於夾持區A6內。藉此,定位夾持板23之夾持區A6得以夾持並定位待測元件30。
本發明之電子元件定位載具之第一實施例與第二實施例之差異在於,第一實施例之Y軸彈性模組212由分別獨立之二Y軸彈性構件212a所構成,而第二實施例之Y軸彈性模組232則是由一體成形之彈力部2321、擋止部2322及二抵靠部2323所形成,藉由第二實施例之結構,可增加Y軸彈性模組232的強度,且在推撐銷131高頻率長時間推移Y軸彈性模組232的情況下,仍可維持其彈性強度,藉此增加夾持待測元件30的能力及使用壽命。
參閱圖7A及圖7B,第二實施例之Y軸彈性模組232之二抵靠部2323a,2323b之長度為相異,藉由抵靠部2323b之長度大於抵靠部2323a之長度, 在抵靠部2323b先接觸抵靠待測元件30後,抵靠部2323a才會接觸抵靠待測元件30,使Y軸彈性模組232在夾持待測元件30時產生時間差,也就是說,透過單一推撐銷131亦能控制一體成型之Y軸彈性模組232的二抵靠部2323a,2323b以不同時序夾持並定位待測元件30,且X軸彈性構件231之抵壓部2313設計為具彈性之半弧形,可增加抵壓待測元件30的能力,調整孔235之作用已於第一實施例中說明,在此不再贅述。
由上述內容可知,本發明之電子元件定位載具2a,2b藉由Y軸彈性模組212,232之結構設計改善定位效果之外,也能以不同時序夾持待測元件30,加強待測元件30之定位準確度。
參閱圖8至圖11,其分別為本發明之電子元件定位載具推撐設備之結構示意圖、圖8之分解示意圖、圖8之另一分解示意圖及圖10之第一移動板及第二移動板之俯視示意圖,並配合參閱圖2A至圖2C。本發明之電子元件定位載具推撐設備包括有:一推撐裝置1、一電子元件定位載具2a、一壓板3、一第一致動裝置4、一第二致動裝置5及一輸送軌道6。
推撐裝置1包括有二驅動部11、一第一移動板12及一第二移動板13,二驅動部11分別驅動第一移動板12及第二移動板13,第一移動板12包括複數第一推撐銷121、複數第一延伸部122及複數第一凹口123,第二移動板13包括複數第二推撐銷131、複數第二延伸部132及複數第二凹口133,第一移動板12及第二移動板13為交錯設置,詳細而言,複數第一延伸部122分別對應位於複數第二凹口133內,複數第二延伸部132分別對應位於複數第一凹口123內。
電子元件定位載具2a設置於推撐裝置1上方,包括有一定位夾持板21及一承載底板22,定位夾持板21具有複數第一定位區A1,每一第一定位區A1包括有一X軸彈性構件211、一Y軸彈性模組212、一X軸定位側邊213、一Y軸定位側邊214及一調整孔215,X軸彈性構件211包括有一彈性部2111及一夾持部2112,Y軸彈性模組212包括有二Y軸彈性構件212a,每一Y軸彈性構件212a包括有一彈力部2121、一擋止部2122及一抵靠部2123,X軸定位側邊213形成於X軸彈性構件211之相對側,Y軸定位側邊214形成於Y軸彈性模組212之相對側,且由X軸彈性構件211、Y軸彈性模組212、X軸定位側邊213及Y軸定位側邊214包圍形成一夾持區A3,Y軸彈性模組212朝向夾持區A3形成二抵靠部2123,承載底板22位於定位夾持板21下方,具有複數分別對應複數第一定位區A1之第二定位區A2,每一第二定位區A2包括有一第一穿孔221、一第二穿孔222及四第三穿孔223a,223b,223c,223d,第一穿孔221對應X軸彈性構件211及第一推撐銷121設置,夾持部2112具有一對應第一穿孔221之推撐孔2112a,第二穿孔222對應Y軸彈性模組212及第二推撐銷131設置,擋止部2122對應第二穿孔222,四第三穿孔223a,223b,223c,223d對應設置於夾持區A3內,壓板3設置於電子元件定位載具2a上方,具有複數分別對應複數第一定位區A1之夾持區A3並呈中空之定位槽31。
推撐裝置1設置於一第一致動裝置4上,且第一致動裝置4使推撐裝置1於垂直方向上移動,電子元件定位載具2a置放於一輸送軌道6上,且輸送軌道6使電子元件定位載具2a於水平方向上移動,壓板3設置於一第二致動裝置5上,且第二致動裝置5使壓板3於垂直方向上移動,藉此,將推撐裝置1及壓板3朝向電子元件定位載具2a移動,壓合電子元件定位載具2a,以推撐 裝置1推動X軸彈性構件211及Y軸彈性模組212,讓待測元件30得以置放於夾持區A3內進行定位。
詳細而言,當輸送軌道6沿X軸之水平方向上,將電子元件定位載具2a移載至推撐裝置1及壓板3之間時,推撐裝置1及壓板3對電子元件定位載具2a進行定位,分別藉由第一致動裝置4及第二致動裝置5沿Z軸之垂直方向上,朝向電子元件定位載具2a移動並壓合電子元件定位載具2a,壓合完成後,第一移動板12之第一推撐銷121對應插入於第一穿孔221及推撐孔2112a,第二移動板13之第二推撐銷131對應插入於第二穿孔222處。
接下來,當測試分類機將待測元件30移載至夾持區A3上方時,由於壓板3之定位槽31之頂側開口面積大於底側開口面積,置放待測元件30時可獲得定位效果,利用開口漸縮之定位槽31結構,待測元件30容易地滑入並置放於夾持區A3內之承載底板22上,再藉由定位夾持板21配合二驅動部11進行如圖3A至圖3E之定位流程,使所有待測元件30能準確地進行再次定位並夾持。
另外,在本發明中,除了藉由Y軸彈性模組212之結構設計來改變夾持時間點之外,也可利用第一移動板12及第二移動板13之結構設計來改變夾持時間點。
如圖11所示,每一第一延伸部122之長度及寬度小於每一第二凹口133之長度及寬度,且每一第二延伸部132之長度及寬度小於每一第一凹口123之長度及寬度,因此,當第一移動板12及第二移動板13交錯設置時,第一延伸部122於第二凹口133內,在平行第一延伸部122之長度方向上與第二移動板13相隔一間距G1,且在平行第一延伸部122之寬度方向上與第二移動板13 相隔一間距G2,藉由調整及控制間距G1,G2之長度,即可改變X軸彈性構件211及Y軸彈性模組212受推撐時之行程,因而控制夾持待測元件30之時間點,同樣地,也可適用於電子元件定位載具2b。
由上述內容可知,本發明之電子元件定位載具推撐設備利用壓板3之定位槽31對待測元件30進行初次定位,再以電子元件定位載具2a之X軸彈性構件211及Y軸彈性模組212對待測元件30精確地進行再次定位,並藉由第一移動板12及第二移動板13在X軸方向及Y軸方向上,以不同時序夾持待測元件30,提升了待測元件30之定位準確度。
上述實施例僅係為了方便說明而舉例而已,本發明所主張之權利範圍自應以申請專利範圍所述為準,而非僅限於上述實施例。

Claims (20)

  1. 一種電子元件定位載具,包括有:一定位夾持板,具有複數第一定位區,該每一第一定位區包括有一X軸彈性構件、一Y軸彈性模組、一X軸定位側邊及一Y軸定位側邊,該X軸定位側邊形成於該X軸彈性構件之相對側,該Y軸定位側邊形成於該Y軸彈性模組之相對側,且由該X軸彈性構件、該Y軸彈性模組、該X軸定位側邊及該Y軸定位側邊包圍形成一夾持區,該Y軸彈性模組係朝向該夾持區形成二抵靠部;以及一承載底板,位於該定位夾持板下方,具有複數分別對應該複數第一定位區之第二定位區,該每一第二定位區包括有一第一穿孔、一第二穿孔及至少一第三穿孔,該第一穿孔係對應該X軸彈性構件設置,該第二穿孔係對應該Y軸彈性模組設置,該至少一第三穿孔係對應設置於該夾持區內。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之電子元件定位載具,其中,該X軸彈性構件更包括有一彈性部及一夾持部,該夾持部具有一對應該第一穿孔之推撐孔,該Y軸彈性模組更包括二Y軸彈性構件,該每一Y軸彈性構件更包括有一彈力部、一擋止部及該抵靠部,該擋止部係對應該第二穿孔。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之電子元件定位載具,其中,該二Y軸彈性構件之尺寸係為相異。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之電子元件定位載具,其中,該X軸彈性構件更包括有一彈性部、一抵接部及一抵壓部,該抵接部係對應該第一穿孔,該Y軸彈性模組更包括一體成形之一彈力部、一擋止部及該二抵靠部,該擋止部係對應該第二穿孔。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之電子元件定位載具,其中,該Y軸彈性模組之該二抵靠部之長度係為相異。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之電子元件定位載具,其中,該X軸彈性構件及該Y軸彈性模組與該夾持區內之一待測元件接觸之側邊係呈圓弧形。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之電子元件定位載具,其中,該X軸定位側邊及該Y軸定位側邊之交會處係形成一調整孔。
  8. 一種電子元件定位載具推撐設備,包括有:一推撐裝置,包括有二驅動部、一第一移動板及一第二移動板,該二驅動部係分別驅動該第一移動板及該第二移動板,該第一移動板具有複數第一推撐銷,該第二移動板具有複數第二推撐銷,該第一移動板及該第二移動板係為交錯設置;一電子元件定位載具,設置於該推撐裝置上方,包括有一定位夾持板及一承載底板,該定位夾持板具有複數第一定位區,該每一第一定位區包括有一X軸彈性構件、Y軸彈性模組、一X軸定位側邊及一Y軸定位側邊,該X軸定位側邊形成於該X軸彈性構件之相對側,該Y軸定位側邊形成於該Y軸彈性模組之相對側,且由該X軸彈性構件、該Y軸彈性模組、該X軸定位側邊及該Y軸定位側邊包圍形成一夾持區,該Y軸彈性模組係朝向該夾持區形成二抵靠部,該承載底板位於該定位夾持板下方,具有複數分別對應該複數第一定位區之第二定位區,該每一第二定位區包括有一第一穿孔、一第二穿孔及至少一第三穿孔,該第一穿孔係對應該X軸彈性構件及該第一推撐銷設置,該第二穿孔係對應該Y軸彈性模組及該第二推撐銷設置,該至少一第三穿孔係對應設置於該夾持區內;以及一壓板,設置於該電子元件定位載具上方,具有複數分別對應該複數第一定位區之該夾持區並呈中空之定位槽。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之電子元件定位載具推撐設備,其中,該定位槽之頂側開口面積係大於底側開口面積。
  10. 如申請專利範圍第8項所述之電子元件定位載具推撐設備,其中,該第一移動板更包括複數第一延伸部及複數第一凹口,該第二移動板更包括複數第二延伸部及複數第二凹口,該複數第一延伸部係分別對應位於該複數第二凹口內,該複數第二延伸部係分別對應位於該複數第一凹口內。
  11. 如申請專利範圍第10項所述之電子元件定位載具推撐設備,其中,該每一第一延伸部之長度及寬度係小於該每一第二凹口之長度及寬度,且該每一第二延伸部之長度及寬度係小於該每一第一凹口之長度及寬度。
  12. 如申請專利範圍第8項所述之電子元件定位載具推撐設備,其中,該推撐裝置係設置於一第一致動裝置上,該第一致動裝置使該推撐裝置於垂直方向上移動。
  13. 如申請專利範圍第8項所述之電子元件定位載具推撐設備,其中,該壓板係設置於一第二致動裝置上,該第二致動裝置使該壓板於垂直方向上移動。
  14. 如申請專利範圍第8項所述之電子元件定位載具推撐設備,其中,該電子元件定位載具係置放於一輸送軌道上,該輸送軌道使該電子元件定位載具於水平方向上移動。
  15. 如申請專利範圍第8項所述之電子元件定位載具推撐設備,其中,該X軸彈性構件更包括有一彈性部及一夾持部,該夾持部具有一對應該第一穿孔之推撐孔,該Y軸彈性模組更包括二Y軸彈性構件,該每一Y軸彈性構件更包括有一彈力部、一擋止部及該抵靠部,該擋止部係對應該第二穿孔。
  16. 如申請專利範圍第15項所述之電子元件定位載具推撐設備,其中,該二Y軸彈性構件之尺寸係為相異。
  17. 如申請專利範圍第8項所述之電子元件定位載具推撐設備,其中,該X軸彈性構件更包括有一彈性部、一抵接部及一抵壓部,該抵接部係對應該第一穿孔,該Y軸彈性模組更包括一體成形之一彈力部、一擋止部及該二抵靠部,該擋止部係對應該第二穿孔。
  18. 如申請專利範圍第8項所述之電子元件定位載具推撐設備,其中,該Y軸彈性模組之該二抵靠部之長度係為相異。
  19. 如申請專利範圍第8項所述之電子元件定位載具推撐設備,其中,該X軸彈性構件及該Y軸彈性模組與該夾持區內之一待測元件接觸之側邊係呈圓弧形。
  20. 如申請專利範圍第8項所述之電子元件定位載具推撐設備,其中,該X軸定位側邊及該Y軸定位側邊之交會處係形成一調整孔。
TW106109604A 2017-03-22 2017-03-22 電子元件定位載具及其推撐設備 TWI621203B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW106109604A TWI621203B (zh) 2017-03-22 2017-03-22 電子元件定位載具及其推撐設備

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW106109604A TWI621203B (zh) 2017-03-22 2017-03-22 電子元件定位載具及其推撐設備

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TWI621203B true TWI621203B (zh) 2018-04-11
TW201836044A TW201836044A (zh) 2018-10-01

Family

ID=62639931

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW106109604A TWI621203B (zh) 2017-03-22 2017-03-22 電子元件定位載具及其推撐設備

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWI621203B (zh)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20130338818A1 (en) * 2012-06-13 2013-12-19 Multitest Elektronische Systeme Gmbh Device and method for removing tested semiconductor components
TW201705356A (zh) * 2015-03-20 2017-02-01 東京威力科創股份有限公司 夾持裝置及使用此夾持裝置之基板運入運出裝置與基板處理裝置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20130338818A1 (en) * 2012-06-13 2013-12-19 Multitest Elektronische Systeme Gmbh Device and method for removing tested semiconductor components
TW201705356A (zh) * 2015-03-20 2017-02-01 東京威力科創股份有限公司 夾持裝置及使用此夾持裝置之基板運入運出裝置與基板處理裝置

Also Published As

Publication number Publication date
TW201836044A (zh) 2018-10-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8230587B2 (en) Carrier for aligning electronic components with slidably arranged plates
EP1907868B1 (en) Integrated circuit test socket
US7609052B2 (en) Contact pusher, contact arm, and electronic device handling apparatus
JP2500830Y2 (ja) 集積回路検査装置
US20100206768A1 (en) Device and method for aligning and holding a plurality of singulated semiconductor components in receiving pockets of a terminal carrier
US9255965B2 (en) System for post-processsing of electronic components
US9535095B2 (en) Anti-rotation for wire probes in a probe head of a die tester
JP2011129512A (ja) ソケットおよびアンカーを有するコンタクト
TWI621203B (zh) 電子元件定位載具及其推撐設備
KR200472760Y1 (ko) 트레이 지지장치
TW201917809A (zh) 具承置單元之輸送裝置及其應用之測試分類設備
TWI424173B (zh) Micro compressive stress test stand
KR102126753B1 (ko) 단일 코일 스프링에 의하여 3개의 플런저가 독립적으로 슬라이드 동작하는 테스트 소켓에 있어서, 레일을 통하여 상기 슬라이드 동작이 제어되는 데스트 핀
CN108662963B (zh) 电子组件定位载具及其推撑设备
JP2015045603A (ja) 回路基板検査装置
JPH0373551A (ja) チップトレイ
JP2004311799A (ja) 半導体試験装置
CN220881104U (zh) 半导体器件焊接夹具
CN219642803U (zh) 半导体封装用整平装置
WO2018157718A1 (zh) 应用静电载具测试半导体制品的机构
CN204668288U (zh) 一种基板料盒的夹持装置
CN216387112U (zh) 一种高速传输线定位治具
KR101652901B1 (ko) 사이드도킹식 테스트핸들러 및 테스트핸들러용 푸싱장치
TWI398638B (zh) A method of removing the electronic component, and a control program for carrying out the method
US9625522B2 (en) Adaptor structure and apparatus for testing a semiconductor package including the same