CN215997609U - 高效率芯片测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种高效率芯片测试设备，包括：上料机台，所述上料机台上设置有至少一组上料移动组件、补料移动组件、补料芯片组件；机器人上下料模组，所述机器人上下料模组包括上下料机器人、机器人移动组件、机器人上下料组件；至少一组测试机台，每组所述测试机台包括至少一组测试模组，每组测试模组用于对料盘上的芯片进行功能测试；下料机台，所述下料机台上设置有至少一组下料移动组件、抓取料盘组件、抓取芯片组件。本实用新型通过自动化测试代替了人工劳动，不仅定位精准，而且能够大大提高测试效率，同时支持对整个料盘上的芯片同时上料、下料、测试的优点，尤其适用于功能测试耗时长的芯片测试。

Description

高效率芯片测试设备

技术领域

本实用新型涉及芯片检测技术领域，尤其涉及了一种高效率芯片测试设备。

背景技术

功能测试项目是指模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生性能的情况进行相应条件加强实验的过程。

一般来说，电子器件，无论是原件、部件、零件、整机等都需要进行测试。测试由生产厂家或一流的电子电器检测技术公司来完成，其通过测试发现产品存在的问题并且及时修改，让到达消费者手中产品的问题尽量少或提高产品可靠性。

传统的芯片测试主要由人工将单一芯片放到测试设备进行测试，并由人眼观察测试芯片并对应记录测试结果，测试完成后再人工将测试芯片分类、摆盘等，生产效率低下，无法满足大规模高效生产的需求。为了提高生产效率，现采用机械手在芯片测试时进行上料和下料，然后再在单独的测试板上进行测试，目前采用的上下料方法是利用吸嘴逐一的吸取芯片进行上料或下料，虽然相较于人工，效率提高了不少，但是上料和下料速度还是较慢、效率较低，而且芯片在测试的时候，有些芯片的功能测试耗时长，而且把芯片从塑料料盘内取出进行单独加热测试，这样工作效率及其低下。

发明内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的就在于提供了一种高效率芯片测试设备，通过自动化测试代替了人工劳动，不仅定位精准，而且能够大大提高测试效率，同时支持对整个料盘上的芯片同时上料、下料、测试的优点，尤其适用于功能测试耗时长的芯片测试。

为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是这样的：一种高效率芯片测试设备，包括：

上料机台，所述上料机台上设置有至少一组上料移动组件、补料移动组件、补料芯片组件，每组上料移动组件、补料移动组件均包括上料移载组件、上料夹紧组件，所述上料夹紧组件设置于上料移载组件上；所述补料芯片组件设置于上料移动组件、补料移动组件上方位置，将补料移动组件的料盘内芯片移动至上料移动组件的料盘内；

机器人上下料模组，所述机器人上下料模组包括上下料机器人、机器人移动组件、机器人上下料组件，所述机器人移动组件驱动上下料机器人在上料机台、测试机台、下料机台之间做往复运动，所述机器人上下料组件设置于上下料机器人上，上下料机器人驱动机器人上下料组件从上料机台取料至测试机台上或者从测试机台下料至下料机台上；

至少一组测试机台，每组所述测试机台包括至少一组测试模组，每组测试模组用于对料盘上的芯片进行功能测试；

下料机台，所述下料机台上设置有至少一组下料移动组件、抓取料盘组件、抓取芯片组件，所述抓取料盘组件、抓取芯片组件位于下料移动组件上方位置，并且抓取料盘组件、抓取芯片组件平行设置。

作为一种优选方案，所述上料移动组件的上料移载组件包括位于两端的第一上料位、位于中间的第一补料位，所述第一上料位、第一补料位上设置有上料升降组件、上料防落组件；所述补料移动组件包括位于一端的第二上料位、位于另一端的第一空盘位、位于中间的第二补料位，所述第二上料位、第一空盘位上设置有补料升降组件、补料防落组件。

作为一种优选方案，所述补料芯片组件用于将第二补料位料盘上的芯片补充至第一补料位料盘上，所述上料移动组件的第一补料位处设置有视觉检测模块，所述上下料机器人将料盘从上料移动组件的第一补料位上取出，且上下料机器人将待检测的料盘放置视觉检测模块处进行检测。

作为一种优选方案，所述机器人移动组件包括第一机器人滑轨、第二机器人滑轨、机器人驱动电机、机器人传动带，所述上下料机器人通过机器人安装板设置于第一机器人滑轨、第二机器人滑轨上，所述机器人传动带通过两个机器人从动轮布设于第一机器人滑轨、第二机器人滑轨之间，且机器人传动带通过机器人滑块与机器人安装板相连接，所述机器人驱动电机通过机器人主动轮与其中一个机器人从动轮相连接。

作为一种优选方案，所述机器人上下料组件包括U型托盘、夹料盘组件，所述U型托盘包括弧形部与直线部，所述上下料机器人的控制端设置于弧形部上；所述夹料盘组件设置于直线部上，夹料盘组件包括夹料盘气缸、夹料盘移动块、夹料盘限位块，所述夹料盘气缸设置于直线部的一端、夹料盘限位块设置于直线部的另一端；所述夹料盘气缸的推杆驱动夹料盘移动块运动，用于将料盘固定于夹料盘移动块与夹料盘限位块之间。

作为一种优选方案，每组所述测试模组包括测试框架、测试底座、测试气缸、测试治具、测试板座，所述测试气缸设置于测试框架下方位置并用于顶升测试底座；所述测试底座设置于测试框架中部位置，所述测试底座内设置有加热棒；所述测试治具设置于测试底座上，且测试治具上设置有测试位置传感器；所述测试板座设置于测试框架的上方位置，所述测试板座内嵌有测试板。

作为一种优选方案，所述测试气缸固定安装于测试框架的下部位置，测试气缸的推杆连接有测试传动板并驱动测试传动板向下做升降运动；所述测试传动板与测试框架之间设置有测试传动杆，该测试传动杆的底部固定设置于测试传动板上、测试传动杆的顶部穿过测试框架上的中空导向管并与测试底座固定连接。

作为一种优选方案，每组所述下料移动组件包括下料移载组件，所述下料移载组件上设置有下料替换位、出料位、转换位，所述抓取料盘组件设置于转换位的上方位置，所述抓取芯片组件设置于下料替换位的上方位置；所述下料替换位、出料位的下方位置均设置有料盘顶升组件，所述下料移载组件的下料替换位处设置有视觉定位模块，所述上下料机器人将检测完的料盘放置视觉定位模块处进行定位，且上下料机器人将料盘放置于下料移载组件的下料替换位上。

作为一种优选方案，所述抓取料盘组件包括第一下料直线模组、下料纵向气缸、料盘夹爪，所述下料纵向气缸设置于第一下料直线模组上，所述料盘夹爪设置于下料纵向气缸上。

作为一种优选方案，所述抓取芯片组件包括第二下料直线模组、下料升降组件、芯片吸嘴组件，所述下料升降组件设置于第二下料直线模组上，所述芯片吸嘴组件设置于下料升降组件上。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果：

(1)通过自动化测试代替了人工劳动，不仅定位精准，而且能够大大提高测试效率，同时支持多组芯片同时上料、下料、测试的优点，尤其适用于功能测试耗时长的芯片测试；

(2)上料机台采用左右交替的方式进行上料，提高了上料料盘的效率，同时上料机台在竖直、水平方向上均设置有上料夹紧组件，具有稳定传输的特点；

(3)设置有多组测试机台，机器人上下料模组将多个料盘从上料机台上料至测试机台上，多个料盘上的芯片交替进行测试；

(4)机器人上下料模组将料盘放置于下料机台的一个下料移载组件的下料替换位处，下料移载组件将都是良品芯片的料盘直接出料至出料位处堆叠，当料盘内有部分不良品芯片时，下料移载组件将有部分不良品芯片的料盘传输至转换位处，抓取料盘组件将转换位处的料盘移动至另一个下料移载组件的转换位上，另一个下料移载组件将转换位上的料盘移动至下料替换位处，抓取芯片组件将相邻下料移载组件上料盘的良品、不良品芯片进行替换，替换后整个料盘均是良品芯片或不良品芯片然后分别出料。

附图说明

图1是本实用新型的整机俯视图；

图2是本实用新型的整机正视图；

图3是本实用新型中上料机台的结构示意图；

图4是本实用新型中上料移动组件的结构示意图一；

图5是本实用新型中上料移动组件的结构示意图二；

图6是本实用新型中补料移动组件的结构示意图一；

图7是本实用新型中补料移动组件的结构示意图二；

图8是本实用新型中补料芯片组件的结构示意图；

图9是本实用新型中补料芯片升降组件的结构示意图；

图10是本实用新型中机器人上下料模组的结构示意图一；

图11是本实用新型中机器人上下料模组的结构示意图二；

图12是本实用新型中夹料盘组件的结构示意图；

图13是本实用新型中测试机台的结构示意图；

图14是本实用新型中下料机台的结构示意图；

图15是本实用新型中下料移动组件的结构示意图一；

图16是本实用新型中下料移动组件的结构示意图二；

图17是本实用新型中限位模组的结构示意图；

图18是本实用新型中抓取料盘组件的结构示意图；

图19是本实用新型中抓取芯片组件的结构示意图；

图20是本实用新型中下料升降组件的结构示意图。

具体实施方式

下面结合具体实施例对本实用新型作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本实用新型的技术方案，而不能以此来限制本实用新型的保护范围。

实施例：

如图1～2所示，一种高效率芯片测试设备，包括：

上料机台1，所述上料机台1上设置有至少一组上料移动组件2、补料移动组件3、补料芯片组件4，每组上料移动组件2、补料移动组件3均包括上料移载组件5、上料夹紧组件6，所述上料夹紧组件6设置于上料移载组件5上；所述补料芯片组件4设置于上料移动组件2、补料移动组件3上方位置，将补料移动组件3的料盘内芯片移动至上料移动组件2的料盘内；

机器人上下料模组109，所述机器人上下料模组109包括上下料机器人110、机器人移动组件111、机器人上下料组件112，所述机器人移动组件111驱动上下料机器人110在上料机台1、测试机台113、下料机台53之间做往复运动，所述机器人上下料组件112设置于上下料机器人110上，上下料机器人110驱动机器人上下料组件112从上料机台1取料至测试机台113上或者从测试机台113下料至下料机台53上；

至少一组测试机台113，每组所述测试机台113包括至少一组测试模组114，每组测试模组114用于对料盘上的芯片进行功能测试；

下料机台53，所述下料机台53上设置有至少一组下料移动组件54、抓取料盘组件55、抓取芯片组件56，所述抓取料盘组件55、抓取芯片组件56位于下料移动组件54上方位置，并且抓取料盘组件55、抓取芯片组件56平行设置。

具体的，如图3～7所示，所述上料移载组件5包括第一上料移动导轨16、第二上料移动导轨17、上料移动电机18、上料移动滑轨19、上料移动传动带20，所述上料移动滑轨19设置于第一上料移动导轨16、第二上料移动导轨17之间；所述上料移动传动带20通过上料移动主轮21、上料移动从轮22布设于上料移动滑轨19的侧部，且上料移动传动带20通过上料移动滑块23连接有上料盘托件24，所述上料移动电机18与上料移动主轮21相连接。

更为具体的，所述上料夹紧组件6包括上料夹紧件25、上料夹紧气缸26、上料限位件 27，所述上料夹紧气缸26设置于上料盘托件24的侧部，所述上料夹紧件25的块状固定部28设置于上料盘托件24的一端，且块状固定部28上铰接有锤状旋转部29；所述上料限位件27设置于上料盘托件24的另一端，所述上料夹紧气缸26驱动锤状旋转部29旋转运动，料盘夹紧于上料限位件27与锤状旋转部29之间。

优选的，所述上料移动组件2的上料移载组件5包括位于两端的第一上料位7、位于中间的第一补料位8，所述第一上料位7、第一补料位8上设置有上料升降组件9、上料防落组件10；所述补料移动组件3包括位于一端的第二上料位11、位于另一端的第一空盘位12、位于中间的第二补料位13，所述第二上料位11、第一空盘位12上设置有补料升降组件14、补料防落组件15。

具体的，所述上料升降组件9设置于第一上料移动导轨16、第二上料移动导轨17的下方位置，所述上料防落组件10设置于第一上料移动导轨16、第二上料移动导轨17上。更为具体的，所述上料升降组件9包括上料升降气缸30、上料顶升件31，所述上料升降气缸30 驱动上料顶升件31在竖直方向上做升降运动。更为具体的，所述上料防落组件10包括上料防落气缸32、上料防落托件33，所述上料防落气缸32驱动上料防落托件33在水平方向做推拉运动。更为具体的，所述第一上料位7的第一上料移动导轨16、第二上料移动导轨17上设置有上料导向角钢34，所述上料导向角钢34与料盘的角相贴合并用于堆叠料盘。

具体的，所述补料升降组件14设置于第一上料移动导轨16、第二上料移动导轨17的下方位置，所述补料防落组件15设置于第一上料移动导轨16、第二上料移动导轨17上。更为具体的，所述补料升降组件14的结构与上料升降组件9相同，所述第二上料位11处的补料防落组件15结构与上料防落组件10相同，所述第一空盘位12的补料防落组件15包括补料防落卡座35、补料防落块36，所述补料防落块36铰接于补料防落卡座35上，且补料防落块 36呈上升楔形状。

更为优选的，如图8～9所示，所述补料芯片组件4用于将第二补料位13料盘上的芯片补充至第一补料位8料盘上，所述上料移动组件2的第一补料位8处设置有视觉检测模块52，所述上下料机器人110将料盘从上料移动组件2的第一补料位8上取出，且上下料机器人110 将待检测的料盘放置视觉检测模块52处进行检测。

具体的，所述补料芯片组件4包括补料直线模组37、补料芯片升降组件38、补料吸嘴组件39，所述补料芯片升降组件38设置于补料直线模组37上，所述补料吸嘴组件39设置于补料芯片升降组件38上。

更为具体的，所述补料芯片升降组件38包括补料升降板40、补料升降电机41、第一补料升降滑轨42、第二补料升降滑轨43、补料升降传动带44，所述补料升降板40固定设置于补料直线模组37上；所述第一补料升降滑轨42、第二补料升降滑轨43在竖直方向上设置于补料升降板40上，所述补料升降传动带44通过补料升降主轮45、补料升降从轮46布设于第一补料升降滑轨42、第二补料升降滑轨43之间，且补料升降传动带44通过补料升降滑块 47与补料吸嘴组件39相连接，所述补料升降电机41与补料升降主轮45相连接。

更为具体的，所述补料吸嘴组件39至少有两个，至少两个补料吸嘴组件39通过补料联动件48设置于补料升降滑块47上；所述补料吸嘴组件39包括补料吸嘴传动件49、补料吸嘴升降气缸50、补料吸嘴头51，所述补料吸嘴传动件49的顶端设置于补料联动件48上、补料吸嘴传动件49的底端与补料吸嘴升降气缸50相连接；所述补料吸嘴头51固定设置于补料吸嘴升降气缸50的推杆上，补料吸嘴升降气缸50驱动补料吸嘴头51向下做升降运动。

优选的，如图10～11所示，所述机器人移动组件111包括第一机器人滑轨115、第二机器人滑轨116、机器人驱动电机117、机器人传动带118，所述上下料机器人110通过机器人安装板119设置于第一机器人滑轨115、第二机器人滑轨116上，所述机器人传动带118通过两个机器人从动轮120布设于第一机器人滑轨115、第二机器人滑轨116之间，且机器人传动带118通过机器人滑块121与机器人安装板119相连接，所述机器人驱动电机117通过机器人主动轮122与其中一个机器人从动轮120相连接。

更为优选的，如图12所示，所述机器人上下料组件112包括U型托盘123、夹料盘组件 124，所述U型托盘123包括弧形部125与直线部126，所述上下料机器人110的控制端设置于弧形部125上；所述夹料盘组件124设置于直线部126上，夹料盘组件124包括夹料盘气缸127、夹料盘移动块128、夹料盘限位块129，所述夹料盘气缸127设置于直线部126的一端、夹料盘限位块129设置于直线部126的另一端；所述夹料盘气缸127的推杆驱动夹料盘移动块128运动，用于将料盘固定于夹料盘移动块128与夹料盘限位块129之间。

优选的，如图13所示，每组所述测试模组114包括测试框架130、测试底座131、测试气缸132、测试治具133、测试板座134，所述测试气缸132设置于测试框架130下方位置并用于顶升测试底座131；所述测试底座131设置于测试框架130中部位置，所述测试底座131 内设置有加热棒(由于设置于构件内部，故图中并未示出)；所述测试治具133设置于测试底座131上，且测试治具133上设置有测试位置传感器135；所述测试板座134设置于测试框架130的上方位置，所述测试板座134内嵌有测试板136。

更为优选的，所述测试气缸132固定安装于测试框架130的下部位置，测试气缸132的推杆连接有测试传动板137并驱动测试传动板137向下做升降运动；所述测试传动板137与测试框架130之间设置有测试传动杆138，该测试传动杆138的底部固定设置于测试传动板 137上、测试传动杆138的顶部穿过测试框架130上的中空导向管139并与测试底座131固定连接。

具体的，所述测试治具133呈卡槽状，分为测试导向部140与测试定位部141，所述测试位置传感器135设置于测试定位部141的侧部，所述测试导向部140呈阶梯状。

更为具体的，所述上下料机器人110将料盘先放置于测试导向部140上，然后上下料机器人110将料盘向测试定位部141内推进，直到测试位置传感器135感应到料盘到达指定位置。

优选的，如图14所示，每组所述下料移动组件54包括下料移载组件57，所述下料移载组件57上设置有下料替换位58、出料位59、转换位60，所述抓取料盘组件55设置于转换位60的上方位置，所述抓取芯片组件56设置于下料替换位58的上方位置；所述下料替换位58、出料位59的下方位置均设置有料盘顶升组件81，所述下料移载组件57的下料替换位58处设置有视觉定位模块88，所述上下料机器人110将检测完的料盘放置视觉定位模块88处进行定位，且上下料机器人110将料盘放置于下料移载组件57的下料替换位58上。

具体的，如图15～16所示，所述下料移载组件57包括第一下料移动导轨61、第二下料移动导轨62、下料移动电机63、下料移动滑轨64、下料移动传动带65，所述下料移动滑轨64设置于第一下料移动导轨61、第二下料移动导轨62之间；所述下料移动传动带65通过下料移动主轮66、下料移动从轮67布设于下料移动滑轨64的侧部，且下料移动传动带65通过下料移动滑块68连接有下料盘托件69，所述下料移动电机63与下料移动主轮66相连接。

更为具体的，如图17所示，所述下料盘托件69上设置有导向限位组件70，所述导向限位组件70包括两个限位模组71、一个导向模组72，两个限位模组71设置于料盘的两端，每个限位模组71包括限位驱动气缸73、限位滑块74、限位滑轨75、限位传动件76，所述限位驱动气缸73驱动限位滑块74在限位滑轨75上位移，所述限位滑块74与限位传动件76相抵，该限位传动件76连接有限位固定件77；所述导向模组72包括导向旋转件78、导向驱动气缸79，所述导向旋转件78设置于导向驱动气缸79上。

进一步的，两个限位模组71的限位固定件77的运动方向与水平方向成一倒梯形结构，从而将料盘限定在范围内并通过下料移动组件54将料盘从下料替换位58移动至出料位59或转换位60处。

更进一步的，所述导向模组72的导向旋转件78为一锤头状结构，且导向旋转件78的轴向设置有缓冲扭簧80。

具体的，所述料盘顶升组件81包括料盘顶升气缸82、料盘顶升杆83，所述料盘顶升气缸82驱动料盘顶升杆83在竖直方向上做升降运动。

更为具体的，所述出料位59的第一下料移动导轨61、第二下料移动导轨62上设置有料盘导向角钢84、防掉落模组85，所述料盘导向角钢84与料盘的角相贴合并用于堆叠料盘，所述防掉落模组85包括防掉落卡座86、防掉落块87，所述防掉落块87铰接于防掉落卡座86上，且防掉落块87呈上升楔形状。

更为优选的，如图18所示，所述抓取料盘组件55包括第一下料直线模组89、下料纵向气缸90、料盘夹爪91，所述下料纵向气缸90设置于第一下料直线模组89上，所述料盘夹爪91设置于下料纵向气缸90上。

具体的，所述料盘夹爪91包括阔型气动手指92、料盘爪件93，所述料盘爪件93设置于阔型气动手指92上并用于夹取料盘。

更为优选的，如图19～20所示，所述抓取芯片组件56包括第二下料直线模组94、下料升降组件95、芯片吸嘴组件96，所述下料升降组件95设置于第二下料直线模组94上，所述芯片吸嘴组件96设置于下料升降组件95上。

具体的，所述下料升降组件95包括下料升降板97、下料升降电机98、第一下料升降滑轨99、第二下料升降滑轨100、下料升降传动带101，所述下料升降板97固定设置于第二下料直线模组94上；所述第一下料升降滑轨99、第二下料升降滑轨100在竖直方向上设置于下料升降板97上，所述下料升降传动带101通过下料升降主轮102、下料升降从轮103布设于第一下料升降滑轨99、第二下料升降滑轨100之间，且下料升降传动带101通过下料升降滑块104与芯片吸嘴组件96相连接，所述下料升降电机98与下料升降主轮102相连接。

更为具体的，所述芯片吸嘴组件96至少有两个，至少两个芯片吸嘴组件96通过吸嘴联动件105设置于下料升降滑块104上；所述芯片吸嘴组件96包括芯片吸嘴传动件106、芯片吸嘴升降气缸107、芯片吸嘴头108，所述芯片吸嘴传动件106的顶端设置于吸嘴联动件105 上、芯片吸嘴传动件106的底端与芯片吸嘴升降气缸107相连接；所述芯片吸嘴头108固定设置于芯片吸嘴升降气缸107的推杆上，芯片吸嘴升降气缸107驱动芯片吸嘴头108向下做升降运动。

具体实施时，本实用新型采用料盘均为铝制，方便测试时加热，所述上料机台1上设置有一组上料移动组件2、一组补料移动组件3、一组补料芯片组件4，上料夹紧组件6在竖直方向上、水平方向上夹紧料盘，上料移动组件2的上料移载组件5驱动料盘交替上料，补料移动组件3的上料移载组件5的一端驱动料盘上料，所述补料芯片组件4将补料移动组件3的料盘内芯片移动至上料移动组件2的料盘内，然后补料移动组件3的上料移载组件5驱动补完料的空料盘至另一端堆叠；所述机器人移动组件111驱动上下料机器人110从上料移动组件2的上料移载组件5上取料后通过视觉检测模块52进行料盘检测，当料盘为不满料时，放回上料移动组件2的上料移载组件5进行补料，当料盘为满料时，机器人移动组件111驱动上下料机器人110将料盘放置于测试治具133的测试位置传感器135感应位置处，测试气缸132顶升测试底座131上的测试治具133，使得测试板136与料盘上的芯片相接触，具体为测试板136底部的探针穿过测试板座134与测试治具133上料盘的芯片相接触，此时加热测试底座131内的加热棒，然后进行功能测试，本实施例中测试机台113有八组，机器人移动组件111的两边分为有四组，每组测试机台113有上下两层设置两个测试模组114，由于测试的芯片耗时久，经试验最后一组上料完成的同时第一组正好测试完成，测试完成的料盘由机器人移动组件111驱动上下料机器人110取下至视觉定位模块88处进行定位，然后下料至下料机台53上，在本实施例中，所述下料机台53上设置有三组下料移动组件54、一组抓取料盘组件55、一组抓取芯片组件56，上下料机器人110将料盘放置于第一个下料移载组件 57的下料替换位58处，第一个下料移载组件57将都是良品芯片的料盘直接出料至出料位59 处堆叠，当料盘内有部分不良品芯片时，第一个下料移载组件57将有部分不良品芯片的料盘传输至转换位60处，抓取料盘组件55将转换位60处的料盘移动至第二个下料移载组件57 的转换位60上，第二个下料移载组件57将转换位60上的料盘移动至下料替换位58处，抓取芯片组件56将第一个下料移载组件57上料盘的不良品芯片替换至第二个下料移载组件57 上料盘内，替换后第一个下料移载组件57整个料盘均是良品芯片，然后直接出料至出料位 59处堆叠，当第二个下料移载组件57整个料盘均是不良品芯片时，然后直接出料至第二个下料移载组件57的出料位59处堆叠。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变形，这些改进和变形也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种高效率芯片测试设备，其特征在于，包括：

上料机台，所述上料机台上设置有至少一组上料移动组件、补料移动组件、补料芯片组件，每组上料移动组件、补料移动组件均包括上料移载组件、上料夹紧组件，所述上料夹紧组件设置于上料移载组件上；所述补料芯片组件设置于上料移动组件、补料移动组件上方位置，将补料移动组件的料盘内芯片移动至上料移动组件的料盘内；

机器人上下料模组，所述机器人上下料模组包括上下料机器人、机器人移动组件、机器人上下料组件，所述机器人移动组件驱动上下料机器人在上料机台、测试机台、下料机台之间做往复运动，所述机器人上下料组件设置于上下料机器人上，上下料机器人驱动机器人上下料组件从上料机台取料至测试机台上或者从测试机台下料至下料机台上；

至少一组测试机台，每组所述测试机台包括至少一组测试模组，每组测试模组用于对料盘上的芯片进行功能测试；

下料机台，所述下料机台上设置有至少一组下料移动组件、抓取料盘组件、抓取芯片组件，所述抓取料盘组件、抓取芯片组件位于下料移动组件上方位置，并且抓取料盘组件、抓取芯片组件平行设置。

2.根据权利要求1所述的一种高效率芯片测试设备，其特征在于：所述上料移动组件的上料移载组件包括位于两端的第一上料位、位于中间的第一补料位，所述第一上料位、第一补料位上设置有上料升降组件、上料防落组件；所述补料移动组件包括位于一端的第二上料位、位于另一端的第一空盘位、位于中间的第二补料位，所述第二上料位、第一空盘位上设置有补料升降组件、补料防落组件。

3.根据权利要求2所述的一种高效率芯片测试设备，其特征在于：所述补料芯片组件用于将第二补料位料盘上的芯片补充至第一补料位料盘上，所述上料移动组件的第一补料位处设置有视觉检测模块，所述上下料机器人将料盘从上料移动组件的第一补料位上取出，且上下料机器人将待检测的料盘放置视觉检测模块处进行检测。

4.根据权利要求1所述的一种高效率芯片测试设备，其特征在于：所述机器人移动组件包括第一机器人滑轨、第二机器人滑轨、机器人驱动电机、机器人传动带，所述上下料机器人通过机器人安装板设置于第一机器人滑轨、第二机器人滑轨上，所述机器人传动带通过两个机器人从动轮布设于第一机器人滑轨、第二机器人滑轨之间，且机器人传动带通过机器人滑块与机器人安装板相连接，所述机器人驱动电机通过机器人主动轮与其中一个机器人从动轮相连接。

5.根据权利要求4所述的一种高效率芯片测试设备，其特征在于：所述机器人上下料组件包括U型托盘、夹料盘组件，所述U型托盘包括弧形部与直线部，所述上下料机器人的控制端设置于弧形部上；所述夹料盘组件设置于直线部上，夹料盘组件包括夹料盘气缸、夹料盘移动块、夹料盘限位块，所述夹料盘气缸设置于直线部的一端、夹料盘限位块设置于直线部的另一端；所述夹料盘气缸的推杆驱动夹料盘移动块运动，用于将料盘固定于夹料盘移动块与夹料盘限位块之间。

6.根据权利要求1所述的一种高效率芯片测试设备，其特征在于：每组所述测试模组包括测试框架、测试底座、测试气缸、测试治具、测试板座，所述测试气缸设置于测试框架下方位置并用于顶升测试底座；所述测试底座设置于测试框架中部位置，所述测试底座内设置有加热棒；所述测试治具设置于测试底座上，且测试治具上设置有测试位置传感器；所述测试板座设置于测试框架的上方位置，所述测试板座内嵌有测试板。

7.根据权利要求6所述的一种高效率芯片测试设备，其特征在于：所述测试气缸固定安装于测试框架的下部位置，测试气缸的推杆连接有测试传动板并驱动测试传动板向下做升降运动；所述测试传动板与测试框架之间设置有测试传动杆，该测试传动杆的底部固定设置于测试传动板上、测试传动杆的顶部穿过测试框架上的中空导向管并与测试底座固定连接。

8.根据权利要求1所述的一种高效率芯片测试设备，其特征在于：每组所述下料移动组件包括下料移载组件，所述下料移载组件上设置有下料替换位、出料位、转换位，所述抓取料盘组件设置于转换位的上方位置，所述抓取芯片组件设置于下料替换位的上方位置；所述下料替换位、出料位的下方位置均设置有料盘顶升组件，所述下料移载组件的下料替换位处设置有视觉定位模块，所述上下料机器人将检测完的料盘放置视觉定位模块处进行定位，且上下料机器人将料盘放置于下料移载组件的下料替换位上。

9.根据权利要求8所述的一种高效率芯片测试设备，其特征在于：所述抓取料盘组件包括第一下料直线模组、下料纵向气缸、料盘夹爪，所述下料纵向气缸设置于第一下料直线模组上，所述料盘夹爪设置于下料纵向气缸上。

10.根据权利要求9所述的一种高效率芯片测试设备，其特征在于：所述抓取芯片组件包括第二下料直线模组、下料升降组件、芯片吸嘴组件，所述下料升降组件设置于第二下料直线模组上，所述芯片吸嘴组件设置于下料升降组件上。

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