TWI385396B - Test machine used to test the flash drive - Google Patents

Description

應用於測試隨身碟之測試分類機

本發明係提供一種可節省元件成本，並降低元件損壞率，以及利於機台空間配置之應用於測試隨身碟之測試分類機。

按，請參閱第1、2、3圖，係為申請人日前申請台灣發明專利第97149838號「隨身碟自動測試分類機」申請案，該測試分類機包含有供料匣10、良品收料匣21、不良品收料匣22、移料裝置30及複數個測試裝置40，該供料匣10係承置複數個待測之隨身碟50，移料裝置30係具有可作X-Y-Z軸向位移之取放器31，並以取放器31於供料匣10處取出待測之隨身碟50，且移載至測試裝置40處，該測試裝置40係於一盛裝容器41內設有複數層容置空間供裝設載具42，各層載具42之底面係裝設有壓缸43及滑軌組44，而頂面則設有整組之承座45、定位機構46及測試機構47，各承座45供承置待測之隨身碟50，定位機構46係用以定位待測之隨身碟50，測試機構47則用以測試隨身碟50，該載具42可由壓缸43驅動作X軸向位移至盛裝容器41外部之換料區，並以滑軌組44輔助向外滑出，以供移載裝置30之取放器31將待測之隨身碟50置入於承座45中，接著該壓缸43可帶動載具42作X軸向位移由換料區復位至盛裝容器41內部之測試區，該定位機構46即以壓件461定位待測之隨身碟50，測試機構47則以測試板471上之測試插座472插合電性連結待測隨身碟50之插頭51而執行測試作業，於測試完畢後，定位機構46及測試機構47則反向位移復位，載具42再由壓缸43帶動位移至換料區，以供移料裝置30之取放器31於承座45上取出完測之隨身碟50，並依測試結果移載至良品收料匣21或不良品收料匣22分類收置。

惟，該測試裝置40之載具42係承置整組之承座45、定位機構46及測試機構47，並以滑軌組44支撐懸吊於盛裝容器41之外部，以供移料裝置30之取放器31於承座45上取放待/完測之隨身碟50，但由於載具42係呈懸吊狀態，將導致滑軌組44不僅需承受整組之承座45、定位機構46及測試機構47的重量，亦必須承受取放器31取放隨身碟50時之下壓力，以致滑軌組44易發生彎曲變形，造成元件受損之缺失，又該盛裝容器41係於各層容置空間內配置有獨立之載具42、壓缸43及滑軌組44，以供承置整組之承座45、定位機構46及測試機構47，若欲於盛裝容器41中設置較多組之承座45、定位機構46及測試機構47時，則必須配置相對數量之載具42、壓缸43及滑軌組44，不僅元件組裝繁瑣，更加耗費成本，再者，二盛裝容器41間必須相隔出一可供載具42向外位移之擺置空間，此一擺置空間即相當佔用機台空間，且增加機台體積，造成不利機台空間配置之缺失。

故，如何提供一種可節省成本，並降低元件損壞率，以及利於機台空間配置之測試分類機，即為業者研發之標的。

本發明之目的一，係提供一種應用於測試隨身碟之測試分類機，包含有供料匣、收料匣、測試裝置及移料裝置，該供料匣係用以承置待測之隨身碟，該測試裝置係設有數層固定式承置板，以供設置複數組之承座、測試機構及定位機構，移料裝置之取放器係於供料匣取出待測之隨身碟，並移載至測試裝置之內部，且將待測之隨身碟置入於測試裝置各層之承座上，測試裝置各層之定位機構即壓抵待測之隨身碟，而測試機構之測試插座則插合電性連結於待測隨身碟之插頭而執行測試作業，於測試完畢後，移料裝置之取放器則將各層承座上完測之隨身碟取出，並依測試結果移載至收料匣而分類收置；藉此，測試裝置之各層承座毋須向外位移懸吊擺置，而可於各層之承置板上供移料裝置之取放器取放待/完測隨身碟，以平穩承受取放器之下壓力，達到防止元件受損之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種應用於測試隨身碟之測試分類機，該測試裝置之各層承座係固設於承置板上，毋須配置載具、壓缸及滑軌組，而可有效縮減元件，達到節省成本之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種應用於測試隨身碟之測試分類機，該測試裝置之各層承座係固設於承置板上，毋須增設載具外移擺置空間，而可有效縮減測試裝置佔用之空間，達到縮小機器體積及利於機台空間配置之實用效益。

為使　貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如后：

請參閱第4圖，該測試分類機可應用測試具LED之隨身碟成品/半成品，以及不具LED之隨身碟成品/半成品，本實施例之測試分類機係應用於測試具LED且為半成品之隨身碟，而包含於機台之前端設有供料匣60、收料匣70及不良品收料匣80，該供料匣60係用以承置待測之隨身碟，收料匣70係用以承置完測之良品隨身碟，另於機台之後端則設有測試裝置90，以及可於供料匣60、收料匣70、不良品收料匣80及測試裝置90間移載待/完測隨身碟之移料裝置100，其中，不良品收料匣80係位於供料匣60之側方，並設有空的料盤用以收置擺置錯誤或不良品之隨身碟，又該空料盤係與供料匣60之料盤相同，使得不良品收料匣80可收置供料匣60之空料盤。

請參閱第5、6圖，該供料匣60係於前、後方設有疊置區601及暫置區602，其疊置區601之兩側係分別設有固定式軌道61及可作X軸向伸縮位移之承置件62，並以承置件62承置具待測隨身碟之料盤，另於疊置區601之二固定式軌道61間設有一頂盤機構及Y軸向載送機構，該頂盤機構係設有一由驅動源631驅動作Z軸向升降位移之承板632，而可以承板632頂置承置件62上之料盤，並移載至二固定式軌道61上，而Y軸向載送機構係設有一由驅動源641驅動作Y軸向位移之推桿642，而可利用推桿642將二固定式軌道61上之料盤由疊置區601推移至暫置區602，該暫置區602之兩側係設有二由驅動源651驅動作X軸向位移之活動式軌道652，並於二活動式軌道652上設有可作X軸向位移之定位件66，以及於二活動式軌道652間設有另一可旋轉作動之定位件67，當推桿642將料盤推移至二活動式軌道652上後，可利用二定位件66、67分別頂置於料盤之側面及前面，而將料盤定位，另於暫置區602設有一頂盤機構，其係設有一由驅動源681驅動作Z軸向升降位移之承板682，而可使承板682頂置於料盤之底面，以使料盤平穩供料。

請參閱第7圖，該移料裝置100係設有一載送機構101用以帶動複數個取放器102同步作X-Y-Z軸向位移，而各取放器102則可再由獨立之驅動源103分別驅動作Z軸向位移，由於移料裝置100係設有至少前後二排取放器102，其中一排取放器係用以取放待測之隨身碟，而另一排取放器則用以取放完測之隨身碟，進而可利用載送機構101先帶動複數個取放器102作X-Y軸向位移至供料匣60之暫置區602上方，並使各取放器102同步作Z軸向下降位移，而於暫置區602之料盤上取出待測之隨身碟110。

請參閱第8、9圖，測試裝置90係於直立機架91上設有數層固定式承置板92，並於各層承置板92上裝配有整組之承座93、定位機構及測試機構，其中，該承座93係設有複數個容置槽931供承置待測之隨身碟，並於承座93之後方設有定位機構及測試機構，該定位機構係設有一由驅動源941驅動作Y軸向位移之機架942，並於機架942上相對應各容置槽931位置設有一可作Z軸向位移之壓件943，用以壓抵於各待測隨身碟之插頭上，而定位待測之隨身碟，另於機架942上設有檢查模組，該檢查模組係於電路板944上相對應各容置槽931位置設有第一感測器945及第二感測器946，其第一感測器945係用以感測各待測隨身碟之插頭的金屬連結部，以檢查待測之隨身碟是否放置反面，而第二感測器946則用以感測各待測隨身碟之LED是否損壞，而測試機構則設有一由驅動源951驅動作Y軸向位移之機架952，並於機架952上設有測試板953，測試板953係於相對應各容置槽931位置設有複數個測試插座954，用以分別插合於待測隨身碟之插頭而作電性連結，另於測試板953之底面設有相對應測試插座954數量之傳輸線955以連結測試機(圖未示出)，測試機可將測試結果傳輸至中央控制單元(圖未示出)，該中央控制單元再依測試結果控制及整合各裝置作動。

請參閱第10圖，該移料裝置100可利用載送機構101帶動取放器102作X-Y-Z軸向位移，將待測之隨身碟110移載至測試裝置90之第一層，並置入於第一層承座93之容置槽931內；請參閱第11圖，接著該定位機構之驅動源941即驅動機架942作Y方向位移，而帶動各壓件943及檢查模組同步作Y方向位移至承座93之上方，並使各壓件943、第一感測器945及第二感測器946分別相對應於待測隨身碟110之插頭111、金屬連結部112及LED113，進而使壓件943作Z軸向位移而下降壓抵於待測隨身碟110之插頭111定位，並以第一感測器945感測待測隨身碟110之金屬連結部112，以判別待測隨身碟110是否放置反面，再以第二感測器946檢查待測隨身碟110之LED113是否損壞；請參閱第12圖，於待測隨身碟110定位後，該測試裝置90之測試機構係以驅動源951帶動機架952作Y方向位移，而使各測試插座954插合於相對應待測隨身碟110之插頭111，以電性連結至測試機而執行測試作業；請參閱第13圖，當第一層承座93內之待測隨身碟110進行測試時，移料裝置100之載送機構101可帶動取放器102將下一待測之隨身碟120置入於第二層承座93A之容置槽931A內而完成下一置料動作；請參閱第14圖，於測試完畢後，測試機係將測試結果傳輸至中央控制單元，由中央控制單元控制各裝置作動，該測試裝置90之測試機構係以驅動源951帶動機架952及各測試插座954反向位移復位，而定位機構之各壓件943係上升復位以解除完測隨身碟110之定位，並以驅動源941帶動機架942及壓件943、檢查模組反向復位；請參閱第15圖，該移料裝置100之載送機構101係帶動取放器102作X-Y-Z軸向位移至測試裝置90之承座93上方，並於承座93上取出完測之隨身碟110；請參閱第16、17圖，該移料裝置100之載送機構101係帶動取放器102將完測之隨身碟110移載至收料匣70處，該收料匣70係於前、後方設有疊置區701及暫置區702，其暫置區702之兩側係設有二由驅動源711驅動作X軸向位移之活動式軌道712以承置空的料盤，並於二活動式軌道712上設有可作X軸向位移之定位件72，以及於二活動式軌道712間設有另一可旋轉作動之定位件73，而可利用二定位件72、73分別頂置於料盤之側面及前面，而將料盤定位，另於暫置區702之二活動式軌道712間設有一頂盤機構及Y軸向載送機構，該頂盤機構係設有一由驅動源741驅動作Z軸向升降位移之承板742，而可使承板742頂置於料盤之底面，以使料盤平穩收料，該移料裝置100之取放器102即可將完測之隨身碟110置入於料盤中收置，當暫置區702之料盤盛滿完測之隨身碟110後，該暫置區702之Y軸向載送機構係設有一由驅動源751驅動作Y軸向位移之推桿752，而可利用推桿752將二活動式軌道712上盛滿完測隨身碟110之料盤由暫置區702推移至疊置區701，該疊置區701之兩側係分別設有固定式軌道76及可作旋轉擺動之承置件77，該承置件77可用以承置料盤，另於疊置區701之二固定式軌道76間設有一頂盤機構，該頂盤機構係設有一由驅動源781驅動作Z軸向升降位移之承板782，而可以承板782將固定式軌道76上之料盤頂置於承置件77上收置。

請參閱第18、19、20圖，為使供料匣60暫置區602處被取料完的空料盤可作有效之利用，而於供、收料匣60、70之二暫置區602、702間設有一空盤載送機構，該空盤載送機構係以驅動源691驅動一載送件692於二暫置區602、702間作X軸向位移，當供料匣60暫置區602之料盤被取料完畢後，由於承板682已頂置於料盤之底面，而可控制驅動源651驅動二活動式滑軌652向外側位移，使承板682可頂置空的料盤下降位移，並移載至空盤載送機構之載送件692上方；該空盤載送機構即以驅動源691驅動載送件692作X軸向位移，使載送件692將空的料盤由供料匣60之暫置區602載送至收料匣70之暫置區702處；接著該收料匣70暫置區702係以驅動源711驅動二活動式軌道712作X軸向外移，使承板742可頂置載送件692上之空料盤上升至二活動式軌道712之上方，於二活動式軌道712反向復位後，再控制承板742下降位移，而將空料盤置放於二活動式軌道712上以供收料；另該收料匣70之暫置區702係於機台之下方設有暫存架79，以供暫時收置空的料盤，因此，當二活動式軌道712上已具有空的料盤時，該頂盤機構則可控制承板742將下一空料盤頂置於暫存架79上收置備料。

據此，本發明可節省元件成本，並降低元件損壞率，以及利於機台空間配置，實為一深具實用性及進步性之設計，然未見有相同之產品及刊物公開，從而允符發明專利申請要件，爰依法提出申請。

[習式]

10．．．供料匣

21．．．良品收料匣

22．．．不良品收料匣

30．．．移料裝置

31．．．取放器

40．．．測試裝置

41．．．盛裝容器

42．．．載具

43．．．壓缸

44．．．滑軌組

45．．．承座

46．．．定位機構

461．．．壓件

47．．．測試機構

471．．．測試板

472．．．測試插座

50．．．隨身碟

51．．．插頭

[本發明]

60．．．供料匣

601．．．疊置區

602．．．暫置區

61．．．固定式軌道

62．．．承置件

631．．．驅動源

632．．．承板

641．．．驅動源

642．．．推桿

651．．．驅動源

652．．．活動式軌道

66．．．定位件

67．．．定位件

681．．．驅動源

682．．．承板

691．．．驅動源

692．．．載送件

70．．．收料匣

701．．．疊置區

702．．．暫置區

711．．．驅動源

712．．．活動式軌道

72．．．定位件

73．．．定位件

741．．．驅動源

742．．．承板

751．．．驅動源

752．．．推桿

76．．．固定式軌道

77．．．承置件

781．．．驅動源

782．．．承板

79．．．暫存架

80．．．不良品收料匣

90．．．測試裝置

91．．．直立機架

92．．．承置板

93、93A．．．承座

931、931A．．．容置槽

941．．．驅動源

942．．．機架

943．．．壓件

944．．．電路板

945．．．第一感測器

946．．．第二感測器

951．．．驅動源

952．．．機架

953．．．測試板

954．．．測試插座

955．．．傳輸線

100．．．移料裝置

101．．．載送機構

102．．．取放器

103．．．驅動源

110、120．．．隨身碟

111．．．插頭

112．．．金屬連結部

113．．．LED

第1圖：習式台灣專利第97149838號申請案之示意圖。

第2圖：習式台灣專利第97149838號申請案之測試裝置示意圖。

第3圖：習式台灣專利第97149838號申請案之使用示意圖。

第4圖：本發明之各裝置配置圖。

第5圖：本發明供料匣及收料匣之示意圖(一)。

第6圖：本發明供料匣及收料匣之示意圖(二)。

第7圖：本發明移料裝置移料至供料匣之使用示意圖。

第8圖：本發明測試裝置之示意圖。

第9圖：本發明測試裝置之局部示意圖。

第10圖：本發明移料裝置移料至測試裝置之使用示意圖。

第11圖：本發明測試裝置之使用示意圖(一)。

第12圖：本發明測試裝置之使用示意圖(二)。

第13圖：本發明移料裝置再次移料至測試裝置之使用示意圖。

第14圖：本發明測試裝置之使用示意圖(三)。

第15圖：本發明測試裝置之使用示意圖(四)。

第16圖：本發明收料匣之使用示意圖(一)。

第17圖：本發明收料匣之使用示意圖(二)。

第18圖：本發明空盤載送機構之使用示意圖(一)。

第19圖：本發明空盤載送機構之使用示意圖(二)。

第20圖：本發明空盤載送機構之使用示意圖(三)。

90‧‧‧測試裝置

93‧‧‧承座

931‧‧‧容置槽

100‧‧‧移料裝置

101‧‧‧載送機構

102‧‧‧取放器

110‧‧‧隨身碟

Claims (36)

1. 一種應用於測試隨身碟之測試分類機，包含：供料匣：係用以容納至少一盛裝待測隨身碟之料盤；收料匣：係用以容納至少一盛裝完測隨身碟之料盤；測試裝置：係設有複數層固定式承置板，各層承置板上係裝設具容置槽之承座，用以承置隨身碟，並設有具測試插座之測試機構，其測試插座可與隨身碟插合測試，另設有定位機構用以定位隨身碟；移料裝置：係設有取放器，用以於該供、收料匣及該測試裝置間移載待/完測隨身碟；中央控制單元：係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。
2. 依申請專利範圍第1項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該供料匣係於前、後方設有疊置區及暫置區。
3. 依申請專利範圍第2項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該供料匣係於疊置區之兩側設有固定式軌道，並設有可作X軸向位移之承置件用以承置料盤。
4. 依申請專利範圍第3項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該供料匣係於疊置區設有頂盤機構，用以頂置料盤。
5. 依申請專利範圍第4項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該頂盤機構係設有一驅動源驅動作Z軸向位移之承板，用以頂置料盤。
6. 依申請專利範圍第3項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該供料匣係於疊置區設有Y軸向載送機構，用以於疊置區與暫置區間載送料盤。
7. 依申請專利範圍第6項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該Y軸向載送機構係於二固定式軌道間設有一由驅動源驅動作Y軸向位移之推桿，用以推移料盤。
8. 依申請專利範圍第2項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該供料匣係於暫置區之兩側設有可由驅動源驅動作X軸向位移之活動式軌道。
9. 依申請專利範圍第8項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該供料匣係於暫置區設有定位件用以定位料盤。
10. 依申請專利範圍第8項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該供料匣係於暫置區設有一頂盤機構，用以頂置料盤。
11. 依申請專利範圍第10項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該頂盤機構係具有一驅動源驅動作Z軸向位移之承板，用以頂置料盤。
12. 依申請專利範圍第1項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該收料匣係於前、後方設有疊置區及暫置區。
13. 依申請專利範圍第12項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該收料匣係於疊置區之兩側設有固定式軌道，並設有可擺動之承置件用以承置料盤。
14. 依申請專利範圍第13項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該收料匣係於疊置區設有頂盤機構，用以頂置料盤。
15. 依申請專利範圍第14項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該頂盤機構係設有一驅動源驅動作Z軸向位移之承板，用以頂置料盤。
16. 依申請專利範圍第12項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該收料匣係於暫置區之兩側設有可由驅動源驅動作X軸向位移之活動式軌道。
17. 依申請專利範圍第16項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該收料匣係於暫置區設有Y軸向載送機構，用以於疊置區與暫置區間載送料盤。
18. 依申請專利範圍第17項所述之應用於測試隨身碟之測試 分類機，其中，該Y軸向載送機構係於二活動式軌道間設有一由驅動源驅動作Y軸向位移之推桿，用以推移料盤。
19. 依申請專利範圍第16項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該收料匣係於暫置區設有定位件用以定位料盤。
20. 依申請專利範圍第16項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該收料匣之暫置區係設有一頂盤機構，用以頂置料盤。
21. 依申請專利範圍第20項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該頂盤機構係具有一驅動源驅動作Z軸向位移之承板，用以頂置料盤。
22. 依申請專利範圍第16項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該收料匣之暫置區係於機台之下方設有暫存架，用以供暫置空的料盤。
23. 依申請專利範圍第1項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，更包含於該供、收料匣間設有一空盤載送機構，用以於該供、收料匣間載送空的料盤。
24. 依申請專利範圍第23項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該空盤載送機構係設有一由驅動源驅動於該供、收料匣間作X軸向往復位移之載送件。
25. 依申請專利範圍第1項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該測試裝置係於直立機架上固設複數層承置板。
26. 依申請專利範圍第1項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該測試裝置之測試機構係設有一由驅動源驅動作Y軸向位移之機架，並於機架上設有測試板，該測試板於相對應承座容置槽位置設有測試插座，用以插合於隨身碟之插頭而作電性連結，並於測試板之底面設有相對應測試插座數量之傳輸線以連結測試機。
27. 依申請專利範圍第1項所述之應用於測試隨身碟之測試分 類機，其中，該測試裝置之定位機構係設有一由驅動源驅動作Y軸向位移之機架，並於機架上相對應承座容置槽位置設有可作Z軸向位移之壓件，用以定位隨身碟。
28. 依申請專利範圍第1項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該測試裝置係設有具至少一感測器之檢查模組。
29. 依申請專利範圍第28項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該檢查模組係於電路板上設有第一感測器，用以檢查隨身碟是否放置反面。
30. 依申請專利範圍第28或29項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該檢查模組係於電路板上設有第二感測器，用以檢查隨身碟之LED是否損壞。
31. 依申請專利範圍第1項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該移料裝置係設有載送機構，用以帶動該取放器作X-Y-Z軸向位移。
32. 依申請專利範圍第31項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該移料裝置之取放器係具有獨立之驅動源，用以帶動該取放器單獨作Z軸向位移以取放待/完測隨身碟。
33. 依申請專利範圍第31項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該移料裝置係設有至少前後二排取放器，其中一排取放器係用以取放待測隨身碟，而另一排取放器則用以取放完測隨身碟。
34. 依申請專利範圍第1項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，更包含一不良品收料匣，用以收置不良品隨身碟或正反面擺置錯誤之隨身碟。
35. 依申請專利範圍第34項所述之應用於測試隨身碟之測試分類機，其中，該不良品收料匣係位於該供料匣之側方，並設有空的料盤用以收置隨身碟。
36. 依申請專利範圍第34項所述之應用於測試隨身碟之測試 分類機，其中，該不良品收料匣之空料盤係與該供料匣之料盤相同，該不良品收料匣可收置該供料匣之空料盤。