TWI473666B - 電子元件檢測分類機 - Google Patents

Description

電子元件檢測分類機

本發明係提供一種可便利增設複數個收置不同等級完測電子元件之料盤，而易於擴增分類收料等級及有效縮減機體的體積，以提升檢測效能及節省空間之電子元件檢測分類機。

按，請參閱第1圖，係為坊間電子元件檢測分類機之示意圖，其係於機台上設有供料裝置11與複數個收料裝置12A、12B、12C、12D、12E、12F、12G，以及檢測裝置13與輸送裝置14，該供料裝置11係設有至少一盛裝複數個待測電子元件之料盤111，各收料裝置12A、12B、12C、12D、12E、12F、12G係分別設有可盛裝不同等級完測電子元件之料盤121A、121B、121C、121D、121E、121F、121G，例如各料盤121A、121B、121C、121D、121E、121F、121G可分別盛裝第1至7等級之完測電子元件，該檢測裝置13係設有複數個測試座131，用以檢測電子元件，該輸送裝置14係設有一可於機台前、後方往復位移之載具141，用以載送待測/完測之電子元件，並設有一可作X-Y-Z軸向位移之第一移料器142，用以於供料裝置11、各收料裝置12A、12B、12C、12D、12E、12F、12G及載具141間移載待測/完測之電子元件，另設有一可作X-Y-Z軸向位移之第二移料器143，用以於檢測裝置13及載具141間移載待測/完測之電子元件，於執行檢測作業時，輸送裝置14之第一移料器142可於供料裝置11之料盤111上取出待測之電子元件15，並移載至載具141上，載具141將待測之電子元件15載送至機台後方，第二移料器143即於載具141上取出待測之電子元件15，並移載置入於檢測裝置13之測試座131內而進行檢測作業，於檢測完畢後，第二移料器143係於檢測裝置13之測試座131上取出完測之電子元件15，並移載至載具141上，載具141可將完測之電子元件15載送 至機台前方，第一移料器142係於載具141上取出完測之電子元件15，並依檢測結果移載至其一收料裝置12A、12B、12C、12D、12E、12F、12G之料盤121A、121B、121C、121D、121E、121F、121G收置，例如電子元件15之檢測結果被判斷為第1等級之良品電子元件，第一移料器142即將完測之電子元件15移載至收料裝置12A之料盤121A上收置；惟，該檢測分類機雖配置有複數個收料裝置12A、12B、12C、12D、12E、12F、12G，用以收置分類不同等級之電子元件，但由於電子元件之檢測品質日趨嚴謹，使得檢測等級已由複數個等級逐漸細分增加至十多種等級，例如良品、不良品、次級品、外觀瑕疵‥等，若欲因應收置第1至10多種不同等級之電子元件，而於機台上水平增設收料裝置，勢必使機體不斷向兩側擴充，而使得機體相當龐大，造成佔用空間且不利廠房空間配置之缺失，但若不增設複數個收料裝置，則無法因應擴增檢測等級的分類，造成檢測等級受限而無法提升檢測品質之缺失。

故，如何設計一種可便利增設複數個收置不同等級完測電子元件之料盤，而易於擴增分類收料等級及有效縮減機體的體積之電子元件檢測分類機，即為業者研發之標的。

本發明之目的一，係提供一種電子元件檢測分類機，係於機台上配置有供料裝置、收料裝置、檢測裝置及輸送裝置，該供料裝置係設有可盛裝複數個待測電子元件之料盤，該檢測裝置係設有用以檢測電子元件之測試座，該輸送裝置係於供料裝置、收料裝置及檢測裝置間輸送待測/完測之電子元件；其中，該收料裝置係包括有至少一可盛裝相同等級完測電子元件之第一收料器，以及至少一可盛裝不同等級完測電子元件之第二收料器，該第二收料器係設有一由第一驅動機構驅動作Z軸向位移之收納匣，並於收納匣內容置複數個盛裝不同等級完測電子元件之料盤，另設有一由第二驅動機構驅動作Y軸向位移且可依檢測結果抽換不同料盤之換盤器，以供收置不同等級之完測電子元件；藉此，第二 收料器即可便利增設複數個收置不同等級完測電子元件之料盤，達到提升使用效能之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種電子元件檢測分類機，該第二收料器之收料匣可容置複數個盛裝不同等級完測電子元件之料盤，並以換盤器依檢測結果於收料匣處抽換不同料盤，而供收置不同等級之完測電子元件，使得第二收料器不佔空間，進而有效縮減機體的體積，達到節省空間之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種電子元件檢測分類機，該第二收料器之收料匣可容置複數個盛裝不同等級完測電子元件之料盤，並以換盤器依檢測結果於收料匣處抽換不同料盤，而供收置不同等級之完測電子元件，使得檢測分類機可易於擴增分類收料等級而符合不同檢測需求，達到提升檢測品質之實用效益。

為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如后：

請參閱第2圖，本發明檢測分類機係於機台20上配置有供料裝置30、收料裝置40、空匣裝置50、檢測裝置60、輸送裝置70及暫收裝置80，該供料裝置30係設有至少一料盤31，用以盛裝待測之電子元件，該收料裝置40包含有至少一可盛裝相同等級完測電子元件之第一收料器，以及至少一可盛裝不同等級完測電子元件之第二收料器，於本實施例中，係設有複數個第一收料器40A、40B、40C、40D、40E及一第二收料器40F，各第一收料器40A、40B、40C、40D、40E係分別設有至少一空的料盤41A、41B、41C、41D、41E，用以各別盛裝不同等級完測之電子元件，例如第一收料器40A之料盤41A係盛裝第1等級之良品電子元件，第一收料器40B之料盤41B係盛裝第2等級之次級品電子元件，第一收料器40C之料盤41C係盛裝第3等級之不良品電子元件，第一收料器40D、40E之料盤41D、41E則分別盛裝第4、5等級之電子元件，又第二收料器40F則用以收置不同等級完測之電子元件，例如可針對發生機率極低之 瑕疵而增設第6至11等級，用以收置少數被歸類為第6至11等級之電子元件，空匣裝置50係用以收置供料裝置30之空料盤，並將空料盤補充於收料裝置40，用以盛裝完測之電子元件，該檢測裝置60係設有具至少一測試座62之測試電路板61，並以檢測器(圖未示出)將檢測結果傳輸至中央控制單元(圖未示出)，由中央控制單元控制各裝置作動，該輸送裝置70係於檢測裝置60之兩側方設有至少一可作X軸向位移之入、出料載台，用以各別載送待測/完測之電子元件，於本實施例中，係於檢測裝置60之前方設有可作X軸向位移之第一入料載台71及第一出料載台72，用以分別載送待測/完測之電子元件，以及於檢測裝置60之後方設有可作X軸向位移之第二入料載台73及第二出料載台74，用以分別載送待測/完測之電子元件，又輸送裝置70係於機台20上設有第一移料臂75及第二移料臂76，第一移料臂75係具有可作X-Y-Z軸向位移之取放器751，用以於供料裝置30與第一、二入料載台71、73間移載待測之電子元件，第二移料臂76則具有可作X-Y-Z軸向位移之取放器761，用以於收料裝置40及第一、二出料載台72、74與暫收裝置80間移載完測之電子元件，另輸送裝置70於檢測裝置60處設有第一壓接臂77及第二壓接臂78，用以於入、出料載台及測試座62間移載電子元件，於本實施例中，係於測試座62與第一入、出料載台71、72間設有第一壓接臂77，第一壓接臂77係設有可作Y-Z軸向位移之壓取器771，用以移載待測/完測之電子元件，以及於測試座62與第二入、出料載台73、74間設有第二壓接臂78，第二壓接臂78係設有可作Y-Z軸向位移之壓取器781，用以移載待測/完測之電子元件，該暫收裝置80係配置於第二收料器40F與第一、二出料載台72、74間，並設有空料盤81，用以暫收完測之電子元件。

請參閱第3、4圖，本發明之第二收料器40F係設有第一驅動機構41F用以驅動一收料匣42F作Z軸向位移，於本實施例中，該第一驅動機構41F係於機台20之下方設有固定架 411F供裝配馬達412F，馬達412F以皮帶輪組413F驅動一Z軸向螺桿414F轉動，Z軸向螺桿414F係驅動一裝配於收料匣42F上之螺座415F作Z軸向位移，使螺座415F可帶動收料匣42F同步作Z軸向位移，另於固定架411F與收料匣42F間係設有可相互配合之滑軌416F及滑座421F，用以輔助收料匣42F平穩位移，又收料匣42F之內部係設有複數個隔層架422F供分別承置空料盤，使各料盤可盛裝不同等級完測之電子元件，於本實施例中，係於收料匣42F內設有6個空料盤423F、424F、425F、426F、427F、428F，用以分別收置極少數被歸類為第6至11等級之電子元件，收料匣42F係於各隔層之兩側設有感測器429F，用以感測各隔層內是否具有料盤，另於收料匣42F之前方設有第一限位架43F，用以限位收料匣42F內之各料盤423F、424F、425F、426F、427F、428F，並於第一限位架43F上設有感測器431F，用以感測收料匣42F之各料盤423F、424F、425F、426F、427F、428F位置，收料匣42F之後方設有二Y軸向滑軌44F，並於二Y軸向滑軌44F之前、後端分別設有第二限位架45F及第三限位架46F，第二限位架45F上設有感測器451F，用以感測收料匣42F內之各料盤423F、424F、425F、426F、427F、428F進出，第三限位架46F上則設有感測器461F，用以感測各料盤423F、424F、425F、426F、427F、428F是否位移至定位以供置料，又該Y軸向滑軌44F上係設有可導正料盤正確擺置之導正機構47F，該導正機構47F係於一Y軸向滑軌44F上設有一由壓缸471F驅動作線性位移之第一頂推件472F，以及設有一由壓缸473F驅動作水平擺動之第二頂推件474F，進而可利用第一、二頂推件472F、474F分別推移料盤之角部及側面，用以導正料盤正確擺置，另第二收料器40F係於機台20之下方設有第二驅動機構48F，用以驅動一換盤器49F作Y軸向位移，於本實施例中，該 第二驅動機構48F係設有固定架481F供裝配馬達482F，馬達482F以皮帶輪組483F連結驅動一換盤器49F作Y軸向位移，於本實施例中，該換盤器49F係設有二上、下相對設置之第一夾具491F及第二夾具492F，第一夾具491F則由一壓缸493F驅動作Z軸向位移，使第一、二夾具491F、492F可夾持料盤位移，另於換盤器49F上設有感測器494F，用以感測第一、二夾具491F、492F是否夾持料盤。

請參閱第5圖，於使用時，第一移料臂75之取放器751係作X-Y-Z軸向位移至供料裝置30處，並於供料裝置30之料盤31中取出待測之電子元件91，進而可將待測之電子元件91移載置入於第一入料載台71上；請參閱第6圖，第一入料載台71即作X軸向位移將待測之電子元件91載送至檢測裝置60之前方，第一壓接臂77之壓取器771係作Y-Z軸向位移至第一入料載台71處，用以取出待測之電子元件91，並將待測之電子元件91移載置入於檢測裝置60之測試座62內進行測試作業，並使測試電路板61將測試訊號傳輸至測試器，測試器再將測試結果傳輸至中央控制單元，此時，第二入料載台73已載送下一待測之電子元件92至檢測裝置60之後方，以供第二壓接臂78之壓取器781取料；請參閱第7圖，於測試作業完畢後，第一壓接臂77係將測試座62內完測之電子元件91取出，並移載至第一出料載台72上，第一出料載台72即載出完測之電子元件91，第二移料臂76之取放器761係作X-Y-Z軸向位移於第一出料載台72上取出完測之電子元件91，此時，第二壓接臂78之壓取器781係將待測之電子元件92移載置入於檢測裝置60之測試座62內接續進行測試作業，而第一壓接臂77之壓取器771則位移至第一入料載台71處取出下一待測之電子元件93；請參閱第8圖，第二移料臂76之取放器761可依測試結果將完測之電子元件91移載至收料裝置40，若電子元件91之測試結果被判斷為第1等級之良品電子元件，第二移料臂76之取放器761可將電子元件9 1移載至第一收料器40A之料盤41A收置；請參閱第9、10圖，當第二出料載台74載出下一完測之電子元件92後，第二移料臂76之取放器761可位移至第二出料載台74處以取出完測之電子元件92，若電子元件92之測試結果被判斷為第6等級，第二移料臂76之取放器761係將電子元件92移載至第二收料器40F處，於本實施例中，第二移料臂76之取放器761可先將電子元件92移載至暫收裝置80之料盤81上，此時，第二收料器40F可控制第二驅動機構48F之馬達482F經皮帶輪組483F而驅動第一、二夾具491F、492F作Y軸向位移至收料匣42F處，並對位於可盛裝第6等級電子元件之料盤423F，接著可控制壓缸493F驅動第一夾具491F作Z軸向向下位移，使第一、二夾具491F、492F夾持料盤423F；請參閱第11、12圖，接著，可控制馬達482F經皮帶輪組483F驅動第一、二夾具491F、492F作Y軸向向後位移，使第一、二夾具491F、492F夾持料盤423F離開收料匣42F，第二限位架45F之感測器451F即感測到料盤423F進入Y軸向軌道44F，第一、二夾具491F、492F再夾持料盤423F位移至Y軸向軌道44F之後端，並以第三限位架46F限位料盤423F，第三限位架46F之感測器461F則可感測到料盤423F位移至定位，之後，可控制壓缸493F驅動第一夾具491F作Z軸向向上位移，使第一、二夾具491F、492F釋放料盤423F，導正機構47F即以第一、二壓缸471F、473F分別驅動第一、二頂推件472F、474F推移料盤423F之角部及側面，而可導正料盤423F正確擺置；請參閱第13圖，第二移料臂76之取放器761可於暫收裝置80之料盤81上取出完測之電子元件92，並移載置入於料盤423F上收置；再者；請參閱第14、15、16圖，當下一完測之電子元件93的測試結果判斷為第7等級，第二收料器40F可控制馬達482F經皮帶輪組483F而驅動第一、二夾具491F、492F作Y軸向向前位移，使第一、二夾具491F、 492F夾持已盛裝完測電子元件92之料盤423F位移至收料匣42F內，並釋放料盤423F，再退出收料匣42F，接著可控制馬達412F經皮帶輪組413F而驅動Z軸向螺桿414F轉動，Z軸向螺桿414F經由螺座415F而帶動收料匣42F作Z軸向向下位移，並以第一限位架43之感測器431感測料盤424F之位置，使可盛裝第7等級電子元件之料盤424F對位於第一、二夾具491F、492F，第一、二夾具491F、492F即更換夾持料盤424F脫離收料匣42F，並帶動料盤424F位移至Y軸向軌道44F之後端定位，以供第二移料臂76之取放器761將完測之電子元件93移載至料盤424F上收置。

據此，本發明可便利增設複數個收置不同等級完測電子元件之料盤，而易於擴增分類收料等級及有效縮減機體的體積，進而提升檢測效能及節省空間，實為一深具實用性及進步性之設計，然未見有相同之產品及刊物公開，從而允符發明專利申請要件，爰依法提出申請。

〔習式〕

11‧‧‧供料裝置

111‧‧‧料盤

12A、12B、12C、12D、12E、12F、12G‧‧‧收料裝置

121A、121B、121C、121D、121E、121F、121G‧‧‧料盤

13‧‧‧檢測裝置

131‧‧‧測試座

14‧‧‧輸送裝置

141‧‧‧載具

142‧‧‧第一移料器

143‧‧‧第二移料器

15‧‧‧電子元件

〔本發明〕

20‧‧‧機台

30‧‧‧供料裝置

31‧‧‧料盤

40‧‧‧收料裝置

40A、40B、40C、40D、40E‧‧‧第一收料器

41A、41B、41C、41D、41E‧‧‧料盤

40F‧‧‧第二收料器

41F‧‧‧第一驅動機構

411F‧‧‧固定架

412F‧‧‧馬達

413F‧‧‧皮帶輪組

414F‧‧‧Z軸向螺桿

415F‧‧‧螺座

416F‧‧‧滑軌

42F‧‧‧收料匣

421F‧‧‧滑座

422F‧‧‧隔層架

423F、424F、425F、426F、427F、428F‧‧‧料盤

429F‧‧‧感測器

43F‧‧‧第一限位架

431F‧‧‧感測器

44F‧‧‧Y軸向滑軌

45F‧‧‧第二限位架

451F‧‧‧感測器

46F‧‧‧第三限位架

461F‧‧‧感測器

47F‧‧‧導正機構

471F‧‧‧壓缸

472F‧‧‧第一頂推件

473F‧‧‧壓缸

474F‧‧‧第二頂推件

48F‧‧‧第二驅動機構

481F‧‧‧固定架

482F‧‧‧馬達

483F‧‧‧皮帶輪組

49F‧‧‧換盤器

491F‧‧‧第一夾具

492F‧‧‧第二夾具

493F‧‧‧壓缸

494F‧‧‧感測器

50‧‧‧空匣裝置

60‧‧‧檢測裝置

61‧‧‧測試電路板

62‧‧‧測試座

70‧‧‧輸送裝置

71‧‧‧第一入料載台

72‧‧‧第一出料載台

73‧‧‧第二入料載台

74‧‧‧第二出料載台

75‧‧‧第一移料臂

751‧‧‧取放器

76‧‧‧第二移料臂

761‧‧‧取放器

77‧‧‧第一壓接臂

771‧‧‧壓取器

78‧‧‧第二壓接臂

781‧‧‧壓取器

80‧‧‧暫收裝置

81‧‧‧料盤

91、92、93‧‧‧電子元件

第1圖：習式電子元件檢測分類機之示意圖。

第2圖：本發明檢測分類機之各裝置配置示意圖。

第3圖：本發明第二收料器之示意圖。

第4圖：本發明第二收料器之另一示意圖。

第5圖：本發明檢測分類機之使用示意圖(一)。

第6圖：本發明檢測分類機之使用示意圖(二)。

第7圖：本發明檢測分類機之使用示意圖(三)。

第8圖：本發明檢測分類機之使用示意圖(四)。

第9圖：本發明檢測分類機之使用示意圖(五)。

第10圖：本發明檢測分類機之使用示意圖(六)。

第11圖：本發明檢測分類機之使用示意圖(七)。

第12圖：本發明檢測分類機之使用示意圖(八)。

第13圖：本發明檢測分類機之使用示意圖(九)。

第14圖：本發明檢測分類機之使用示意圖(十)。

第15圖：本發明檢測分類機之使用示意圖(十一)。

第16圖：本發明檢測分類機之使用示意圖(十二)。

20‧‧‧機台

30‧‧‧供料裝置

31‧‧‧料盤

40‧‧‧收料裝置

40A、40B、40C、40D、40E‧‧‧第一收料器

41A、41B、41C、41D、41E‧‧‧料盤

40F‧‧‧第二收料器

50‧‧‧空匣裝置

60‧‧‧檢測裝置

61‧‧‧測試電路板

62‧‧‧測試座

70‧‧‧輸送裝置

71‧‧‧第一入料載台

72‧‧‧第一出料載台

73‧‧‧第二入料載台

74‧‧‧第二出料載台

75‧‧‧第一移料臂

751‧‧‧取放器

76‧‧‧第二移料臂

761‧‧‧取放器

77‧‧‧第一壓接臂

771‧‧‧壓取器

78‧‧‧第二壓接臂

781‧‧‧壓取器

80‧‧‧暫收裝置

81‧‧‧料盤

Claims (10)

1. 一種電子元件檢測分類機，包含：機台；供料裝置：係配置於該機台上，並設有至少一可盛裝待測電子元件之料盤；收料裝置：係配置於該機台上，包含有至少一可盛裝相同等級完測電子元件之第一收料器，以及至少一可盛裝不同等級完測電子元件之第二收料器，該第二收料器係設有一由第一驅動機構驅動作Z軸向位移之收納匣，並於該收納匣內容置複數個盛裝不同等級完測電子元件之料盤，另設有一由第二驅動機構驅動作Y軸向位移且可依檢測結果抽換不同料盤之換盤器；檢測裝置：係配置於該機台上，並設有具至少一測試座之測試電路板，用以測試電子元件；輸送裝置：係配置於該機台上，並設有至少一具取放器之移料臂，用以移載電子元件；中央控制單元：係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。
2. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件檢測分類機，其中，該輸送裝置係於該檢測裝置之前、後方各設有至少一載台，用以載送電子元件，另於該檢測裝置處設有至少一具壓取器之壓接臂，用以於該載台及該測試座間移載電子元件。
3. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件檢測分類機，其中，該收料裝置之收料匣係設有複數個隔層架供分別承置料盤，該第一驅動機構係於該機台下方設有馬達，該馬達係以皮帶輪組驅動一Z軸向螺桿轉動，該Z軸向螺桿則傳動一裝配於該收料匣上之螺座作Z軸向位移，使該螺座帶動該收料匣作Z軸向位移。
4. 依申請專利範圍第3項所述之電子元件檢測分類機，其中，該第一驅動機構係於該機台下方設有固定架供裝配馬達，並 於該固定架與該收料匣間設有可相互配合之滑軌及滑座，用以輔助該收料匣平穩位移。
5. 依申請專利範圍第3項所述之電子元件檢測分類機，其中，該收料匣係於各該隔層架處設有感測器，用以感測各該隔層架內是否具有料盤。
6. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件檢測分類機，其中，該收料裝置之第二收料器係於該收料匣之前方設有第一限位架，用以限位料盤，並於該第一限位架上設有感測器，用以感測料盤位置。
7. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件檢測分類機，其中，該收料裝置之第二收料器係於該收料匣之後方設有二可承置料盤之Y軸向滑軌，並於該Y軸向滑軌之前、後端分別設有第二限位架及第三限位架，該第二、三限位架則分別設有感測器，用以感測料盤。
8. 依申請專利範圍第7項所述之電子元件檢測分類機，其中，該第二收料器係於該Y軸向滑軌上設有可導正料盤之導正機構，該導正機構係於該Y軸向滑軌上設有一由壓缸驅動作線性位移之第一頂推件，並設有一由另一壓缸驅動作水平擺動之第二頂推件，使該第一、二頂推件推移料盤正確擺置定位。
9. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件檢測分類機，其中，該收料裝置之第二收料器的第二驅動機構係設有馬達，該馬達以皮帶輪組連結驅動該換盤器作Y軸向位移。
10. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件檢測分類機，其中，該收料裝置之第二收料器的換盤器係設有二相對配置之第一夾具及第二夾具，該第一夾具係由一壓缸驅動作Z軸向位移，另於該換盤器上設有感測器，用以感測料盤。