CN103852710B - 对置式电子组件作业设备 - Google Patents

Abstract

本发明是一种对置式电子组件作业设备，该测试分类设备主要在机台上配置有供料装置、收料装置、作业装置、输送装置以及用来控制整合各装置作动以执行自动化作业的中央控制单元，该供料装置供容纳至少一待执行作业的电子组件，该收料装置供容纳至少一完成作业的电子组件，该输送装置设有至少一移载取放器，用来于供、收料装置及作业装置间载送电子组件；其中，该作业装置在机台的至少二侧设有复数个呈对向设置的作业区，并于各作业区设有至少一承置座，以供承置电子组件并执行作业；如此，利用对向设置作业区的方式，不仅输送装置可有效缩短移载行程，且使机台在有效减低占用机台台面空间的前提下，达到易于扩充作业区的实用效益。

Description

对置式电子组件作业设备

技术领域

本发明涉及一种可使输送装置有效缩短移载行程，以及在有效减低占用机台台面空间的前提下，达到易于扩充作业区的对置式电子组件作业设备。

背景技术

请参阅图1、图2，其是中国台湾专利申请第91105851号IC测试处理机专利案，该测试处理机在机台10前端分别装设有供料匣/升降器11、空匣/升降器12及输出匣13，供料匣/升降器11装填有待测IC，空匣/升降器12则接收由供料匣/升降器11使用完的空的供料匣，并可依需要取出至输出匣的承座，以利放置完测的IC，输出匣可细分不同等级的输出匣13a、13b、13c，以储放完测的不同等级IC，数个测试埠14a、14b、14c、14d设于机台10的后端，各测试埠14a、14b、14c、14d内平行排列设置具有测试座15a、15b、15c、15d的测试板16a、16b、16c、16d，以及于测试板16a、16b、16c、16d前端各设有一对待测IC旋转缓冲台17a、17b、17c、17d及完测IC旋转缓冲台18a、18b、18c、18d，另一IC输送机构19周旋于供料匣/升降器11、各测试埠14a、14b、14c、14d及输出匣13a、13b、13c间，以负责各机构间的IC输送工作，以及可增设有预热匣20，以对待测的IC于测试前进行预热的作业；进行IC测试作业时，若测试板16a、16b、16c、16d的测试座15a、15b、15c、15d的IC放置方向与供料匣/升降器11内IC放置方向相同时，则直接先以IC输送机构19将供料匣/升降器11上的待测IC取出，并分别输送放置于各测试座15a、15b、15c、15d内，于完成测试后，再由IC输送机构19分别将测试座15a、15b、15c、15d内完测的IC取出，并依据测试结果将完测的IC输送至各输出匣13a、13b、13c放置；若测试板16a、16b、16c、16d的测试座15a、15b、15c、15d的IC放置方向与供料匣/升降器11内IC放置方向不同时，则先以IC输送机构19将供料匣/升降器11上的待测IC取出，并分别输送放置于待测IC旋转缓冲台17a、17b、17c、17d上，转动待测IC旋转缓冲台17a、17b、17c、17d的方向，使IC角位相同于各测试座15a、15b、15c、15d后，再以IC输送机构19将IC放入各测试座15a、15b、15c、15d内，于完成测试后，再由IC输送机构19分别将测试座15a、15b、15c、15d内完测的IC取出，并放置于完测IC旋转缓冲台18a、18b、18c、18d上，使IC角位相同于输出匣13a、13b、13c，接着再由IC输送机构19依据测试结果将完测的IC输送至各输出匣13a、13b、13c放置；该测试处理机的设计架构具有如下的缺弊：

1．该测试处理机的各测试埠14a、14b、14c、14d于机台10的后端平行排列设置测试板16a、16b、16c、16d，因此当因需求而增设测试埠时，将使得机体必须不断地向两侧延伸扩充，而造成机体过大，即伴随产生厂房空间不敷使用的情形。

2．当该测试处理机机体不断地向两侧延伸扩充增设测试埠后，IC输送机构19必须作较远的运动行程周旋于各测试座15a、15b、15c、15d及供料匣/升降器11及输出匣13a、13b、13c间，其将导致IC输送机构19工作负荷过多，而无法依据时序安排顺畅的进行IC的输送作业，此即可能导致部份测试埠待机的情形，而降低测试作业的生产效率。

有鉴于此，本发明人遂以其多年从事相关行业的研发与制作经验，针对目前所面临的问题深入研究，经过长期努力的研究与试作，终究研创出一种可有效节省空间及提升作业速度的作业设备，以有效改善习式的缺弊，此即为本发明的设计宗旨。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明的目的在于：提供一种对置式电子组件作业设备，解决现有技术存在的上述不足。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种对置式电子组件作业设备，其特征在于，包含：

供料装置：供承载至少一待执行作业的电子组件；

收料装置：供承载至少一完成作业的电子组件；

作业装置：至少在机台的第一侧及第二侧设有复数个呈对向设置的作业区，各作业区并分别设有至少一承置座，以供承置电子组件并执行作业；

输送装置：设有第一移载取放器、第二移载取放器、第三移载取放器及至少一转载台，第一移载取放器将供料装置待执行作业的电子组件移载至转载台，以及将转载台内完成作业的电子组件移载至收料装置分类放置，第二移载取放器则自转载台移载待执行作业的电子组件至第一侧作业区的各承置座内，以及将完成作业的电子组件自第一侧作业区的各承置座内移载至转载台，第三移载取放器则自转载台移载待执行作业的电子组件至第二侧作业区的各承置座内，以及将完成作业的电子组件自第二侧作业区的各承置座内移载至转载台；

中央控制单元：用来控制及整合各装置作动，以执行自动化作业。

所述的对置式电子组件作业设备，其中：还设有空盘装置，该空盘装置承载复数个空的料盘，并以一移盘器将供料装置的空料盘移载至空盘装置，或将空盘装置上的空料盘移载至收料装置。

所述的对置式电子组件作业设备，其中：该收料装置设有复合式收料装置，该复合式收料装置包含有为直立多层式匣体的收纳匣，该收纳匣用来承置复数个能够盛装不同等级完成作业的电子组件的收料盘，一用来承置收纳匣移出的各收料盘的承盘器，以及一用来将收纳匣中的各收料盘移载至承盘器上的移盘器。

所述的对置式电子组件作业设备，其中：该承盘器以第一动力组驱动升降，于承盘器上则装设移盘器，移盘器并以第二动力组驱动横向位移，以将收纳匣的各收料盘移出至承盘器，并供输送装置依据作业结果将完成作业的电子组件分类放置。

所述的对置式电子组件作业设备，其中：该作业装置第一侧及第二侧作业区的各承置座是测试座，以供承置电子组件并执行测试作业。

所述的对置式电子组件作业设备，其中：该作业装置第一侧及第二侧作业区的各测试座的上方设有下压头，以压抵待执行测试作业的电子组件或压抵开启测试座。

所述的对置式电子组件作业设备，其中：该输送装置设有第一转载台及第二转载台，第一移载取放器将供料装置内的待执行作业的电子组件移载至第一转载台及第二转载台，以及将第一转载台及第二转载台完成作业的电子组件移载至收料装置分类放置，第二移载取放器则自第一转载台移载待执行作业的电子组件至第一侧作业区的各承置座内，以及将完成作业的电子组件自第一侧作业区的各承置座内移载至第一转载台，第三移载取放器则自第二转载台移载待执行作业的电子组件至第二侧作业区的各承置座内，以及将完成作业的电子组件自第二侧作业区的各承置座内移载至第二转载台。

所述的对置式电子组件作业设备，其中：该第一转载台具有第一供料台座及第一收料台座，第一供料台座供放置由第一移载取放器移载的待执行作业的电子组件，第一收料台座则供放置由第二移载取放器移载的完成作业的电子组件，第二转载台具有第二供料台座及第二收料台座，第二供料台座供放置由第一移载取放器移载的待执行作业的电子组件，第二收料台座则供放置由第三移载取放器移载完成作业的测电子组件。

所述的对置式电子组件作业设备，其中：该第一转载台的第一供料台座、第一收料台座及第二转载台的第二供料台座、第二收料台座分别由第一驱动源带动作直线滑移，以及由第二驱动源带动旋转，以于承置座的电子组件放置方向与供料装置内待执行作业的电子组件放置方向不同时，作为角位的转换使用。

所述的对置式电子组件作业设备，其中：还包含在该输送装置的第二移载取放器及第三移载取放器上设有检视器，供检视各承置座内完成作业的电子组件是否已移除，或检视各承置座内待执行作业的电子组件是否放置正确。

与现有技术相比较，本发明具有的有益效果是：

本发明提供一种对置式电子组件作业设备，该作业设备主要于机台上配置有供料装置、收料装置、作业装置及输送装置；其中，该作业装置于机台的至少二侧设有复数个呈对向设置的作业区，并于各作业区设有至少一承置座，以供承置电子组件并执行作业，进而可利用机台二侧对向设置作业区的方式，使机台在有效减低占用机台台面空间的前提下，达到易于扩充作业区的实用效益。

本发明提供一种对置式电子组件作业设备，该作业设备主要于机台上配置有供料装置、收料装置、作业装置及输送装置；其中，该作业装置于机台的至少二侧设有复数个呈对向设置的作业区，并于各作业区设有至少一承置座，以供承置电子组件并执行作业，进而可利用机台二侧对向设置作业区的方式，使输送装置可有效缩短移载行程，以有效确保作业的生产效率。

附图说明

图1是中国台湾专利申请第91105851号IC测试处理机专利案的配置示意图；

图2是中国台湾专利申请第91105851号IC测试处理机专利案的部分外观示意图；

图3是本发明对置式测试区的架构示意图；

图4是本发明第一、二转载台的示意图；

图5是本发明二侧测试区及移载取放器的示意图；

图6是本发明的动作示意图（一）；

图7是本发明的动作示意图（二）；

图8是本发明的动作示意图（三）；

图9是本发明的动作示意图（四）；

图10是本发明的动作示意图（五）；

图11是本发明复合式收料装置的示意图（一）；

图12是本发明复合式收料装置的示意图（二）。

附图标记说明：10-机台；11-供料匣/升降器；12-空匣/升降器；13、13a、13b、13c-输出匣；14a、14b、14c、14d-测试埠；15a、15b、15c、15d-测试座；16a、16b、16c、16d-测试板；17a、17b、17c、17d-待测IC旋转缓冲台；18a、18b、18c、18d-完测IC旋转缓冲台；19-IC输送机构；20-预热匣；30-机台；31-供料装置；311-料盘；32-空盘装置；321-料盘；322-移盘器；33-收料装置；331-第一等级收料装置；332-第二等级收料装置；333-复合式收料装置；3331-收纳匣；3332-承盘器；3333-移盘器；3334-收料盘；3335-第一动力组；3336-第二动力组；34-作业装置；34a、34b、34c、34d、34e、34f-作业区；34g、34h、34i、34j、34k、34l-作业区；341-测试座；342-测试电路板；343-下压头；35-输送装置；351-第一移载取放器；3511-第一吸嘴；3512-第二吸嘴；352-第二移载取放器；3521-第三吸嘴；3522-第四吸嘴；3523-第一检视器；353-第三移载取放器；3531-第五吸嘴；3532-第六吸嘴；3533-第二检视器；354-第一转载台；3541-第一供料台座；3542-第一收料台座；3543-第一驱动源；3544-第二驱动源；355-第二转载台；3551-第二供料台座；3552-第二收料台座；3553-第一驱动源；3554-第二驱动源；36-第一加热盘；37-第二加热盘。

具体实施方式

为使贵审查委员对本发明作更进一步的了解，兹举一较佳实施例并配合图式，详述如后：

请参阅图3，本发明对置式电子组件作业设备，其于机台30配置有供料装置31、空盘装置32、收料装置33、作业装置34、输送装置35及用来控制及整合各装置作动以执行自动化作业的中央控制单元（图式未示）；该供料装置31可升降承载复数个料盘311，每个料盘311并可容纳至少一待执行作业的电子组件，该空盘装置32可升降承载复数个空的料盘321，并以一移盘器322将供料装置31的空料盘移载至空盘装置32，或将空盘装置32上的空料盘移载至收料装置33，收料装置33供容纳至少一完成作业的电子组件，于本实施例中，收料装置33分别设有第一等级收料装置331、第二等级收料装置332以及第三～十六等级的复合式收料装置333（容后再述），作业装置34于机台30的二侧设有复数个呈对向设置的作业区，于本实施例中，于机台30的第一侧及第二侧分别设有6个作业区34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g、34h、34i、34j、34k、34l，各作业区34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g、34h、34i、34j、34k、34l分别设有承置座，以供承置电子组件，于本实施例中，各作业区34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g、34h、34i、34j、34k、34l执行电子组件的测试作业，而于各作业区34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g、34h、34i、34j、34k、34l分别设有具至少一测试座341的测试电路板342，以供置入电子组件并执行测试作业，本发明由于在机台第一侧及第二侧对向设置作业区，因此可有效减低占用机台台面空间，并易于扩充作业区，以增加测试产能；另各作业区34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g、34h、34i、34j、34k、34l内的测试座341可为常开型测试座或常闭型测试座，于本实施例中，各测试座341是常开型测试座，为了确保待测电子组件与各测试座341保持良好的电性接触，各测试座341的上方设有可升降压抵待测电子组件的下压头343；然，若各测试座341为常闭型测试座时，则该下压头343升降压抵开启常闭型测试座，以供置入待执行测试作业的电子组件；输送装置35于供料装置31、收料装置33及作业装置34间载送待执行测试作业的电子组件或完成测试作业的电子组件，本发明由于在机台第一侧及第二侧对向设置作业区，因此输送装置35可以较短移载行程，于供料装置31、收料装置33及作业装置34间载送待执行测试作业的电子组件或完成测试作业的电子组件；在本实施例中，该输送装置35设有第一移载取放器351、第二移载取放器352、第三移载取放器353、第一转载台354及第二转载台355，第一移载取放器351设于机台30的前端，并可作三轴向的移动，其具有第一、二吸嘴3511、3512，以将供料装置31的料盘311内待执行测试作业的电子组件移载至第一转载台354或第二转载台355，以及将第一转载台354或第二转载台355内的完成测试作业的电子组件移载至收料装置33分类放置；请参阅第3、4图，本发明的第一转载台354及第二转载台355分别对应设于机台30二侧作业区34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g、34h、34i、34j、34k、34l的前侧方，第一转载台354具有第一供料台座3541及第一收料台座3542，第一供料台座3541供放置由第一移载取放器351移载的待执行测试作业的电子组件，第一收料台座3542则供放置由第二移载取放器352移载的完成测试作业的电子组件；第二转载台355相同于第一转载台354，而具有第二供料台座3551及第二收料台座3552，第二供料台座3551供放置由第一移载取放器351移载的待执行测试作业的电子组件，第二收料台座3552则供放置由第三移载取放器353移载的完成测试作业的电子组件；于本实施例中，本发明的第一转载台354或第二转载台355，其第一供料台座3541及第一收料台座3542（第二供料台座3551及第二收料台座3552）可由第一驱动源3543（3553）带动作直线滑移，且可同时由第二驱动源3544（3554）带动旋转，以于测试座341的电子组件放置方向与供料装置31内待执行测试作业的电子组件放置方向不同时，作为角位的转换使用，惟当测试座341的电子组件放置方向与供料装置31内待执行测试作业的电子组件放置方向相同时，则无需使第一供料台座3541及第一收料台座3542（第二供料台座3551及第二收料台座3552）旋转。请参阅图3、图5，第二移载取放器352及第三移载取放器353分别对应设于机台30第一侧及第二侧的作业区34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g、34h、34i、34j、34k、34l的侧方，并可作三轴向的移动；第二移载取放器352移动于第一侧作业区34a、34b、34c、34d、34e、34f及第一转载台354间，其并具有第三、四吸嘴3521、3522及一可为CCD的第一检视器3523，第一检视器3523供检视各测试座341内完成测试作业的电子组件是否已移除，或检视各测试座341内待执行测试作业的电子组件是否放置正确，第三、四吸嘴3521、3522则分别自第一转载台354移载待执行测试作业的电子组件至各测试座341内，以及将完成测试作业的电子组件自各测试座341内移载至第一转载台354；第三移载取放器353则移动于第二侧作业区34g、34h、34i、34j、34k、34l及第二转载台355间，其并具有第五、六吸嘴3531、3532及一可为CCD的第二检视器3533，第二检视器3533供检视各测试座341内完成测试作业的电子组件是否已移除，或检视各测试座341内待执行测试作业的电子组件是否放置正确，第五、六吸嘴3531、3532则分别自第二转载台355移载待执行测试作业的电子组件至各测试座341内，以及将完成测试作业的电子组件自各测试座341内移载至第二转载台355；此外，于机台30适当位置处分别设有第一、二加热盘36、37，以提供待执行测试作业的电子组件预热使用。

请参阅图6，本发明利用第一移载取放器351将供料装置31的料盘311内待执行测试作业的电子组件40a分别移载至第一转载台354的第一供料台座3541或第二转载台355的第二供料台座3551。请参阅图7，接着第一转载台354及第二转载台355将会直线滑移一小段距离（如测试座341的电子组件放置方向与供料装置31内待执行测试作业的电子组件放置方向相同时，则无需使第一转载台354的第一供料台座3541及第一收料台座3542及第二转载台355的第二供料台座3551及第二收料台座3552旋转），第二移载取放器352移动至第一转载台354的第一供料台座3541位置取出待执行测试作业的电子组件40a，并再移动至第一侧的作业区34a；而第三移载取放器353则移动至第二转载台355的第二供料台座3551位置取出另一待执行测试作业的电子组件40a，并再移动至第二侧的作业区34g。请参阅图8，如第一侧的作业区34a内已有完成测试作业的电子组件，接着第二移载取放器352会先以第四吸嘴3522吸取测试座341内完成测试作业的电子组件41a，并以第一检视器3523检视测试座341内完成测试作业的电子组件是否已移除，再由第三吸嘴3521将待执行测试作业的电子组件40a置入作业区34a的测试座341内，经第一检视器3523检视测试座341内的待执行测试作业的电子组件40a是否放置正确后，下压头343即下降压抵测试座341内待执行测试作业的电子组件40a，使其与测试座341保持良好的电性接触，以执行测试作业，至于第三移载取放器353则于第二侧的作业区34g进行相同的动作。请参阅图9，第二移载取放器352移动到第一转载台354的位置时，由于第一移载取放器351已将另一待执行测试作业的电子组件40a移载至第一转载台354的第一供料台座3541上，因此第二移载取放器352的第四吸嘴3522会将完成测试作业的电子组件41a置入于第一转载台354的第一收料台座3542上，同时以第三吸嘴3521取出第一供料台座3541上另一待执行测试作业的电子组件40a，并再移动至第一侧的作业区34b，至于第三移载取放器353则于第二转载台355进行相同的动作。请参阅图10，接着，第一移载取放器351再次将另一待执行测试作业的电子组件40a移载至第一转载台354的第一供料台座3541上，并同时取出第一转载台354的第一收料台座3542上完成测试作业的电子组件41a，并将该完成测试作业的电子组件41a依据测试结果分类放置于第一等级收料装置331或第二等级收料装置332或第三～十六等级的复合式收料装置333。

请参阅图11，由于电子组件的测试等级细分增加至十多种等级，若欲因应收置第一至十多种不同等级的电子组件，而于机台上水平增设十多个收料装置，势必使机体不断向两侧扩充，以致机体相当庞大，造成占用空间且不利厂房空间配置的缺失，但若不增设十多个收料装置，则无法因应扩增的测试等级，造成测试等级受限而无法提升测试质量的缺失；因此本发明将部份较少出现的测试等级归属于复合式收料装置333收纳，该复合式收料装置333其包含有为直立多层式匣体的收纳匣3331，用来承置复数个可盛装不同等级完成测试作业电子组件的收料盘3334，一用来承置收纳匣3331输出的各收料盘3334的承盘器3332，以及一用来将收纳匣3331中的各收料盘3334移载至承盘器3332上的移盘器3333，该收纳匣3331由于为直立多层式匣体，为了可移出收纳匣3331的各收料盘3334，以供分类放置各完成测试作业的电子组件，可采用收纳匣3331升降的方式或承盘器3332升降的方式，将对应的收料盘3334移出收纳匣3331，于本实施例中，是承盘器3332升降的方式对应移出收料盘3334；该承盘器3332以第一动力组3335驱动升降，于承盘器3332上则装设移盘器3333，移盘器3333并以第二动力组3336驱动横向位移，而可将收纳匣3331的各收料盘3334移出至承盘器3332上，再由承盘器3332上带动上升至适当位置处，以供第一移载取放器351依据测试结果，将完成测试作业的电子组件41a分类放置于该复合式收料装置333。

本发明在机台上利用二侧对向设置作业区的方式，不仅可使输送装置有效缩短移载行程，且机台在可有效减低占用机台台面空间的前提下，而可达到易于扩充作业区，以增加测试作业产能。

以上说明对本发明而言只是说明性的，而非限制性的，本领域普通技术人员理解，在不脱离权利要求所限定的精神和范围的情况下，可作出许多修改、变化或等效，但都将落入本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种对置式电子组件作业设备，其特征在于，包含：

供料装置：供承载至少一待执行作业的电子组件；

收料装置：该收料装置设有复合式收料装置，该复合式收料装置包含有为直立多层式匣体的收纳匣，该收纳匣用来承置复数个能够盛装不同等级完成作业的电子组件的收料盘，一用来承置收纳匣移出的各收料盘的承盘器，以及一用来将收纳匣中的各收料盘移载至承盘器上的移盘器；

作业装置：至少在机台的第一侧及第二侧设有复数个呈对向设置的作业区，各作业区并分别设有至少一是测试座的承置座，以供承置电子组件并执行测试作业，该各测试座的上方设有下压头，以压抵待执行测试作业的电子组件或压抵开启测试座；

输送装置：设有第一移载取放器、第二移载取放器、第三移载取放器及至少一转载台，第一移载取放器将供料装置待执行作业的电子组件移载至转载台，以及将转载台内完成作业的电子组件移载至收料装置分类放置，第二移载取放器则自转载台移载待执行作业的电子组件至第一侧作业区的各承置座内，以及将完成作业的电子组件自第一侧作业区的各承置座内移载至转载台，第三移载取放器则自转载台移载待执行作业的电子组件至第二侧作业区的各承置座内，以及将完成作业的电子组件自第二侧作业区的各承置座内移载至转载台；

中央控制单元：用来控制及整合各装置作动，以执行自动化作业。

2.根据权利要求1所述的对置式电子组件作业设备，其特征在于：还设有空盘装置，该空盘装置承载复数个空的料盘，并以一移盘器将供料装置的空料盘移载至空盘装置，或将空盘装置上的空料盘移载至收料装置。

3.根据权利要求1所述的对置式电子组件作业设备，其特征在于：该承盘器以第一动力组驱动升降，于承盘器上则装设移盘器，移盘器并以第二动力组驱动横向位移，以将收纳匣的各收料盘移出至承盘器，并供输送装置依据作业结果将完成作业的电子组件分类放置。

4.根据权利要求1所述的对置式电子组件作业设备，其特征在于：该输送装置设有第一转载台及第二转载台，第一移载取放器将供料装置内的待执行作业的电子组件移载至第一转载台及第二转载台，以及将第一转载台及第二转载台完成作业的电子组件移载至收料装置分类放置，第二移载取放器则自第一转载台移载待执行作业的电子组件至第一侧作业区的各承置座内，以及将完成作业的电子组件自第一侧作业区的各承置座内移载至第一转载台，第三移载取放器则自第二转载台移载待执行作业的电子组件至第二侧作业区的各承置座内，以及将完成作业的电子组件自第二侧作业区的各承置座内移载至第二转载台。

5.根据权利要求4所述的对置式电子组件作业设备，其特征在于：该第一转载台具有第一供料台座及第一收料台座，第一供料台座供放置由第一移载取放器移载的待执行作业的电子组件，第一收料台座则供放置由第二移载取放器移载的完成作业的电子组件，第二转载台具有第二供料台座及第二收料台座，第二供料台座供放置由第一移载取放器移载的待执行作业的电子组件，第二收料台座则供放置由第三移载取放器移载完成作业的测电子组件。

6.根据权利要求5所述的对置式电子组件作业设备，其特征在于：该第一转载台的第一供料台座、第一收料台座及第二转载台的第二供料台座、第二收料台座分别由第一驱动源带动作直线滑移，以及由第二驱动源带动旋转，以于承置座的电子组件放置方向与供料装置内待执行作业的电子组件放置方向不同时，作为角位的转换使用。

7.根据权利要求1所述的对置式电子组件作业设备，其特征在于：还包含在该输送装置的第二移载取放器及第三移载取放器上设有检视器，供检视各承置座内完成作业的电子组件是否已移除，或检视各承置座内待执行作业的电子组件是否放置正确。