KR100867386B1 - 반도체 소자 비전 검사 시스템 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (13)
- 본체의 전방 양측에 각각 설치되며 반도체 소자가 수납된 다수의 트레이가 로딩된 매거진(4)이 적재되어 상승 또는 하강 되는 한쌍의 로더(1)와, 로더(1) 후방에 구비되어 소팅 영역 및 비전 검사 영역으로 트레이를 이송하는 인덱서(2)와, 반도체 소자를 촬영하는 비전검사장치(3)와, 비전 검사될 반도체 소자를 픽업하여 이송하는 이송 픽커(미도시함), 및 상기 비전 검사 완료된 반도체 소자를 분류하는 소팅 장치(미도시함)를 포함하는 반도체 소자의 비전 검사 시스템에 있어서,상기 매거진(4)은;좌우 양측에 이동을 위한 회전 바퀴(411;411a,411b)가 구비되고 반도체 패키지가 로딩되는 몸체(41)와,상기 몸체(41)의 일측에 슬라이딩 방식으로 좌우 방향 이동 가능하게 구비되어 상기 트레이 사이즈에 따라 트레이를 정렬시키는 트레이정렬수단(42)을 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 반도체 소자의 비전 검사 시스템.
- 제 1항에 있어서,상기 트레이정렬수단(42)은;상기 트레이의 일측면에 밀착되는 정렬대(421)와,상기 정렬대(421)의 일방향 이동을 안내하며 타방향 이동을 제한하는 래치(422)와,상기 정렬대(421)의 좌우 이동을 안내하는 정렬대 가이드(423)를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 반도체 소자의 비전 검사 시스템.
- 제 2항에 있어서,상기 트레이정렬수단(42)은;상기 정렬대(421)를 이용한 트레이 사이즈 정렬 오차를 보정하기 위하여 내측면에 텐션수단(424)을 더 구비함을 특징으로 하는 반도체 소자의 비전 검사 시스템.
- 제 2항 또는 제 3항에 있어서,상기 정렬대(421)는;상기 래치(422)의 일방향 이동을 제한하기 위한 잠금장치(425)를 더 구비함을 특징으로 하는 반도체 소자의 비전 검사 시스템.
- 제 2항에 있어서,상기 정렬대(421)의 좌우 이동은 모터 구동에 의해 자동으로 제어됨을 특징으로 하는 반도체 소자의 비전 검사 시스템.
- 제 1항에 있어서,상기 매거진(4)은;상기 인덱서(2) 상에서 모터 구동에 의해 이동되도록 구성되어 트레이를 로딩한 상태로 소팅 영역(미도시함) 및 비전 검사 영역(미도시함)에 트레이를 이송함을 특징으로 하는 반도체 소자의 비전 검사 시스템.
- 제 6항에 있어서,상기 인덱서(2)는;상기 매거진(4) 양측 회전바퀴(411; 411a,411b)가 로딩되는 가이드부(211)가 각각 형성되어 상기 회전바퀴(211)의 이동을 안내하도록 일정 높이를 가지는 좌우측 한쌍의 가이드(21;21a,21b)와,상기 한쌍의 가이드(21) 내측에 구비되며 상기 매거진(4)의 후방에 결합되어 상기 매거진을 전후 방향으로 이동시키는 매거진 이동수단(22)을 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 반도체 소자의 비전 검사 시스템.
- 제 7항에 있어서,상기 매거진 이동수단(22)은;상기 매거진(4)의 양측에 각각 결합되어 상기 매거진(4) 이동 거리별로 교호로 구동되도록 제 1 매거진 이동수단(22a)과 제 2 매거진 이동수단(22b)으로 구성되어 듀얼모드로 구동됨을 특징으로 하는 반도체 소자의 비전 검사 시스템.
- 제 8항에 있어서,상기 각각의 매거진 이동수단(22;22a,22b)은;상기 매거진(4)에 로딩된 트레이의 전후 방향 정렬을 위한 보조정렬수단(221)을 더 구비함을 특징으로 하는 반도체 소자의 비전 검사 시스템.
- 제 9항에 있어서,상기 보조 정렬 수단(221)은;실린더 구동에 의해 회전되는 정렬바(221a)와,상기 정렬바(221a)를 모터 구동에 의해 전후 방향으로 이동시키는 정렬바 이동수단(221b)을 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 반도체 소자의 비전 검사 시스템.
- 제 7항에 있어서,상기 한쌍의 가이드(21;21a,21b)는;상기 매거진(4) 전후 이동의 직진성을 확보하기 위하여 일측 가이드(21a)의 가이드부(211)에 일측 회전바퀴(411a)가 끼워지는 홈부(212)가 형성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 비전 검사 시스템.
- 제 11항에 있어서,상기 일측 가이드(21a)의 가이드부(211)의 홈부(212)는 V 형상을 가지며,상기 매거진(4)의 일측 회전바퀴(411)는 상기 V 형상의 홈부(212) 내부에 끼 워지도록 바퀴 바닥면의 중심에서 외측으로 경사진 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 비전 검사 시스템.
- 제 11항 또는 제 12항에 있어서,상기 매거진 타측 회전바퀴(411b)는;상기 가이드부(411)와의 접촉 면적을 넓혀 안전 구동을 위하여 바퀴 바닥면이 평탄하게 형성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 비전 검사 시스템.
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