CN108957034A - 电子元件测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明揭示一种电子元件测试系统，包含机架、托盘置放区、测试区、前区移载装置以及测试区移载装置。托盘置放区邻接设置于机架。测试区邻接设置于机架上，包含电子元件测试装置用以对一托盘内的电子元件进行测试。前区移载装置可于托盘置放区及测试区内位移地设置于机架上，用以取置托盘于托盘置放区。测试区移载装置可于测试区位移地设置于机架上，测试区移载装置用以更换待测试的托盘与经测试后的托盘。

Description

电子元件测试系统

技术领域

本发明实施例系与测试系统有关，特别是有关于一种电子元件测试系统。

背景技术

按，随着电子产业的发展越趋成熟，客户端对于产品良率的要求也越来越高，因此，电子元件如集成电路(IC)经封装完成后必须经过测试，测试后依测试结果进行分类(bin)，最后再依分类别做出货或其他的处置。

而电子元件测试系统极为精密因此造价非常昂贵，因此，业者无不设法降低测试成本、提高测试产能。然而，一般的测试系统系在电子元件测试装置的分布范围内设置轨道，移载装置滑走于轨道上取置承载有电子元件的测试托盘。当电子元件测试装置内的测试托盘完成测试后，移载装置由轨道位移至电子元件测试装置取出已测试完成的测试托盘，并将已测试完成的测试托盘移载至存放已测试托盘的集放区。移载装置将已测试完成的测试托盘移载至存放已测试托盘的集放区之后，再位移至存放有待测试托盘集放区的位置拾取待测试托盘。移载装置拾取待测试托盘后再由轨道将待测试托盘送入电子元件测试装置进行测试。电子元件测试系统即依上述步骤进行连续循环的测试工作。

由前述可知，当移载装置将已测试托盘由电子元件测试装置取走后，直到移载装置再次拾取未测试装置送入电子元件测试装置的过程中，电子元件测试装置因等待换盘的时间而成为闲置状态，而此闲置状态就造成提高测试产能的阻碍，因而亟待改善。

发明内容

本发明为一种电子元件测试系统，主要目的为改善一般电子元件测试系统测试效率仍待改善的缺失。

为达前述目的，本发明一实施例为一种电子元件测试系统，包含机架、托盘置放区、测试区、前区移载装置以及测试区移载装置。托盘置放区邻接设置于机架。测试区邻接设置于机架上，包含电子元件测试装置用以对托盘内的电子元件进行测试。前区移载装置可于托盘置放区及测试区内位移地设置于机架上，用以取置托盘于托盘置放区。测试区移载装置可于测试区位移地设置于机架上，测试区移载装置用以取置待测试的托盘于前区移载装置并与经电子元件测试装置测试后的托盘进行更换。

通过测试区移载装置以及前区移载装置可位移于测试区及托盘置放区的配置，以及测试区移载装置可更换待测试托盘及已测试托盘的技术特征，藉此能快速交换已测试托盘及待测试托盘，减少电子元件测试装置的测试空窗时间，大幅提高测试效率。

附图说明

图1为本发明电子元件测试系统的一实施例的配置图。

图2为本发明电子元件测试系统的前区移载装置的一实施例的示意图。

图3为图2的局部放大图。

图4为图2实施例的动作示意图。

图5为本发明电子元件测试系统的测试区移载装置的一实施例的示意图。

图6为图5的局部放大图。

图7为图5实施例的动作示意图。

其中附图标记为：

10机架 11第一延伸梁

12第二延伸梁 13支柱

14轨道 20托盘置放区

21操作台 211操作面板

212窗口 22集料盘

30测试区 30A第一测试区

30B第二测试区 31电子元件测试装置

311测试侧 312操控侧

40前区移载装置 41载座

411滑套 412载板

42延伸位移组件 421第一导引组件

4211.4231、541、561线性滑轨

4212、4232、542、562线性滑块

422第一延伸座 423第二导引组件

424第二延伸座 43第一定位座

44支撑座 45驱动组件

46带动组件 461马达

462皮带轮 463第一惰轮

464第一皮带 465第一带动件

466第二惰轮 467第三惰轮

468第二皮带 469第二带动件

50测试区移载装置 51动柱

52待测托盘移载模块 523第二定位座

521、531、571枢座

522、532、572转臂

53已测托盘移载模块 533第三定位座

54升降导引组件 55载台

55A第一载台 55B第二载台

56次导引组件 563驱动组件

5631马达 5632螺杆

5633螺帽 57视觉取像模块

573取像组件 60滑座

D1第一方向 D2第二方向

D3第三方向 T托盘

具体实施方式

请配合参阅图1，图1为本发明电子元件测试系统一实施例的主要配置图。于一实施例中，电子元件测试系统包含机架10、托盘置放区20、测试区30、前区移载装置40以及测试区移载装置50。托盘置放区20及测试区30邻接设置于机架10上，前区移载装置40及测试区移载装置50分别可移动地设置于机架10上。托盘置放区20用以置放托盘T。测试区30包含电子元件测试装置31。前区移载装置40可于托盘置放区20及测试区30之间位移，并用以取置托盘T于托盘置放区20。测试区移载装置50可于测试区30的范围内位移，测试区移载装置50用以取置测试区30及前区移载装置40的托盘T。藉此，通过前区移载装置40以及测试区移载装置50的同步位移及取置，而能在一测试流程中更换电子元件测试装置31上的已测试托盘与未测试托盘，藉此提高测试效率。

机架10可以是连接固定为架体的结构，也可以是多个用以支撑、导引机件的横梁、支柱或轨道。请配合参阅图1，于一实施例中，机架10包含第一延伸梁11、第二延伸梁12以及支柱13。第一延伸梁11沿第一方向D1延伸，第二延伸梁12沿垂直第一方向D1的第二方向D2延伸，且第一延伸梁11连接于第二延伸梁12。支柱13沿与第一方向D1及第二方向D2分别垂直的第三方向D3延伸，支柱13可以分别连接于第一延伸梁11或第二延伸梁12，或是同时连接于第一延伸梁11及第二延伸梁12。于此，机架10更包含轨道14，轨道14沿第一方向D1延伸并连接于第二延伸梁12。

配合参阅图1，托盘置放区20邻接设置于机架10，托盘置放区20可以设置于轨道14的一端。于一实施例中，托盘置放区20包含一操作台21以及多个集料盘22。操作台21上更可以设置操作面板211以供操作人员进行整机的操作或是显示测试流程及结果。操作台21上也可以再设置窗口212以供操作人员实时观察测试过程。集料盘22沿第二方向D2并列于操作台21上，且集料盘22可以依测试与否、测试结果(例如良品或不良品)或其他自定义的分类而分别承载被归类的托盘T，每一集料盘22可以层叠多个托盘T。于此，集料盘22位于操作台21的一侧，轨道14则位于操作台21的另一侧，且轨道14位于操作台21于第二方向D2上接近中间的位置但并不以此为限。

配合参阅图1，测试区30邻接设置于机架10，于一实施例中，电子元件测试系统包含第一测试区30A及第二测试区30B，第一测试区30A与第二测试区30B位于轨道14的相对两侧。各测试区30包含多个电子元件测试装置31，于一实施例中，电子元件测试装置31可以沿第一方向D1及第三方向D3呈矩阵排列。进一步地，电子元件测试装置31排列于第一方向D1上的范围以与轨道14于第一方向D1上为重叠者为较佳的一种实施例。于此，请配合参阅图1，各测试区30个别包含15个电子元件测试装置31，且15个电子元件测试装置31沿第一方向D1及第三方向D3排列为3*5的矩阵但并不以此为限。

进一步地，继续参阅图1，各电子元件测试装置31包含相对的测试侧311及操控侧312，测试侧311用以置入托盘T并进行测试，操控侧312可供操作员操控或设定电子元件测试装置31。于此，第一测试区30A及第二测试区30B的各电子元件测试装置31均以测试侧311面向轨道14。

请配合参阅图1，前区移载装置40可位移地设置于邻近托盘置放区20之处，于一实施例中，前区移载装置40可以设置于机架10上或托盘置放区20，于本例中，在前区移载装置40的移动范围可以涵盖至托盘置放区20及机架10之间的位置都可以视为邻近托盘置放区20之处。

于一实施例中，同样参阅图1，电子元件测试系统更包含滑座60，滑座60沿第二方向D2延伸并邻接托盘置放区20设置，而前区移载装置40可沿第二方向D2移动地设置于滑座60上。进一步地，滑座60于第二方向D2上的延伸范围以与集料盘22于第二方向D2上的分布重叠者为较佳的一种实施例。藉此，前区移载装置40得以沿第二方向D2移动以取置托盘置放区20于第二方向D2上不同位置的集料盘22上的托盘T。

更具体而言，请配合参阅图2，前区移载装置40包含载座41、延伸位移组件42以及第一定位座43。载座41可位移地设置于滑座60，延伸位移组件42设置于载座41，第一定位座43设置于延伸位移组件42以与延伸位移组件42同步位移，且第一定位座43可定位托盘T。藉此，前区移载装置40便能搭载托盘T进行位移。

于一实施例中，请配合参阅图3及图4，载座41包含滑套411及载板412，滑套411可滑移地穿套于滑座60而可于滑座60上滑移，载板412固定于滑套411上。通过载座41使前区移载装置40具有改变于第二方向D2位置的能力。

于一实施例中，请配合参阅图3、图4，延伸位移组件42可沿第一方向D1位移地设置于载座41的载板412，用以使前区移载装置40具有改变于第一方向D1位置的能力。于一实施例中，延伸位移组件42包含第一导引组件421、第一延伸座422、第二导引组件423以及第二延伸座424。第一导引组件421设置于载座41的载板412上，第一导引组件421可以是线性滑轨4211与线性滑块4212的组合但不以此为限。第一延伸座422设置于第一导引组件421而能受其导引而沿第一方向D1位移。具体而言，第一延伸座422可以是固定结合于线性滑轨4211上，线性滑块4212固定于载座41的载板412上，线性滑轨4211可移动地穿设于线性滑块4212。

继续参阅图3及图4，第二导引组件423设置于第一延伸座422上，第二导引组件423可以是线性滑轨4231与线性滑块4232的组合。第二延伸座424设置于第二导引组件423而能受其导引而沿第一方向D1位移。具体而言，第二延伸座424固定结合于线性滑块4232上，线性滑轨4231固定于第一延伸座422上，线性滑块4232可移动地穿套于线性滑轨4231。而前述第一导引组件421及第二导引组件423并不以线性滑轨及线性滑块的组合为限。

配合参阅图3及图4，第一定位座43可转动地设置于延伸位移组件42。于一实施例中，第一定位座43可以是可主动夹取托盘T的夹爪座或是可被动承载托盘T的承座。

于一实施例中，同样配合参阅图3及图4，前区移载装置40更包含支撑座44及驱动组件45，支撑座44设置于延伸位移组件42的第二延伸座424，驱动组件45设置于支撑座44上并可驱动第一定位座43转动。驱动组件45可以是马达、皮带与皮带轮的组合但并不以此为限。

此外，继续配合参阅图3及图4，前区移载装置40更包含带动组件46。带动组件46与第一导引组件421及第二导引组件423连接，以带动第一导引组件421及第二导引组件423位移。于一实施例中，带动组件46包含马达461、皮带轮462、第一惰轮463、第一皮带464、第一带动件465、第二惰轮466、第三惰轮467、第二皮带468以及第二带动件469。马达461固定设置于载座41的载板412，皮带轮462与第一惰轮463分别可转动地设置于载座41的载板412上，第一皮带464圈绕皮带轮462及第一惰轮463，马达461与皮带轮462连接，第一带动件465连接第一皮带464及第一导引组件421的第一延伸座422。第二惰轮466及第三惰轮467可转动地设置于第一延伸座422上，第二皮带468圈绕第二惰轮466及第三惰轮467，第二带动件469固定连接第二延伸座424及第二皮带468。

藉此，当马达461运转时，马达461带动皮带轮462转动，皮带轮462带动第一皮带464及第一惰轮463转动而能持续运转。在第一皮带464运转时，第一皮带464带动第一带动件465位移，第一带动件465再带动第一延伸座422位移，并使第一延伸座422能受第一导引组件421导引而沿第一方向D1位移。接着，当第一延伸座422位移时，设置于第一延伸座422上的第二延伸座424随第一延伸座422改变位置。如此一来，第二延伸座424便能带动第二带动件469位移，第二带动件469带动第二皮带468绕着第二惰轮466及第三惰轮467转动。藉此，带动组件46通过单一马达461带动第一延伸座422及第二延伸座424沿第一方向D1位移，而能大范围地改变前区移载装置40于第一方向D1上的位置。

由此可见，前区移载装置40可改变第二方向D2上的位置以取置不同集料盘22上的托盘T，并能再改变第一方向D1的位置以将托盘T移载至测试区移载装置50可取置的位置。而前述带动延伸位移组件42线性位移的带动组件46的型态并不以前揭实施例为限，通过齿轮齿条的配置、导螺杆的配置也可是可行的其他实施例。

进一步地配合参阅图1，测试区移载装置50可沿第一方向D1位移地设置于轨道14上。测试区移载装置50可沿第一方向D1位移至可承接前区移载装置40上托盘T的位置。测试区移载装置50用以更换待测试的托盘T与经测试后的托盘T。

于一实施例中，请配合参阅图1及图5，测试区移载装置50包含动柱51、待测托盘移载模块52以及已测托盘移载模块53，动柱51沿第三方向D3延伸并设置于轨道14上，且待测托盘移载模块52及已测托盘移载模块53可沿第三方向D3移动地设置于动柱51上。藉此，待测托盘移载模块52及已测托盘移载模块53通过轨道14及动柱51而可以改变于第一方向D1及第三方向D3上的位置。

进一步地，请配合参阅图6及图7，测试区移载装置50更包含升降导引组件54及载台55。升降导引组件54设置于动柱51上，载台55设置于升降导引组件54上，藉此使载台55得以受升降导引组件54导引而沿第三方向D3位移。于一实施例中，测试区移载装置50更包含次导引组件56，且载台55包含第一载台55A及第二载台55B，第一载台55A设置于升降导引组件54上，次导引组件56设置于第一载台55A上，第二载台55B设置于次导引组件56上，而待测托盘移载模块52及已测托盘移载模块53再设置于第二载台55B上。藉此，待测托盘移载模块52及已测托盘移载模块53随第二载台55B而受次导引组件56导引以沿第二方向D2位移。

更具体而言，继续参阅图6及图7，升降导引组件54包含线性滑轨541及线性滑块542，升降导引组件54的线性滑轨541沿第三方向D3延伸并固定设置于动柱51上，线性滑块542固定设置于第一载台55A上，且线性滑块542可滑移地穿套于线性滑轨541上。藉此，第一载台55A即可受升降导引组件54的导引沿第三方向D3位移。进一步地，升降导引组件54可以再搭配驱动组件以自动驱动升降导引组件54的运作。

此外，同样参阅图6及图7，次导引组件56包含线性滑轨561及线性滑块562，次导引组件56的线性滑轨561沿第二方向D2延伸并固定设置于第一载台55A上，线性滑块562固定设置于第二载台55B上，且线性滑块562可滑移地穿套于线性滑轨561上。藉此，第二载台55B即可受次导引组件56的导引沿第二方向D2位移。

进一步地，继续参阅图6及图7，次导引组件56可以再搭配驱动组件563以自动驱动升降导引组件54的运作，于一实施例中，驱动组件563包含马达5631、螺杆5632以及螺帽5633。马达5631固定设置于第二载台55B上，螺杆5632沿第二方向D2延伸并与马达5631连接，螺帽5633穿套于螺杆5632并固定于第二载台55B。藉此，马达5631驱动螺杆5632转动，螺杆5632上的螺帽5633受螺杆5632转动而沿螺杆5632线性移动，螺帽5633再带动第二载台55B沿第二方向D2位移。如此一来，马达5631运作即能带动第二载台55B并受次导引组件56导引而沿第二方向D2位移。而升降导引组件54也能通过与前揭驱动组件563的类似配置作为驱动动力，但其自动驱动的配置并不以此为限。

据此，测试区移载装置50整体通过动柱51而能沿轨道14改变第一方向D1上的位置，而待测托盘移载模块52及已测托盘移载模块53则能通过第一载台55A及第二载台55B改变于第三方向D3及第二方向D2上的位置，藉此使测试区移载装置50可以全面性地位移于测试区30的涵盖范围。

更进一步地，配合参阅图6及图7，待测托盘移载模块52包含枢座521、转臂522以及第二定位座523，枢座521固定设置于第二载台55B上，转臂522可枢转地结合于枢座521，第二定位座523设置于转臂522上。藉此，待测托盘移载模块52通过第二定位座523乘载托盘T，并可以通过第二载台55B沿第二方向D2位移、通过动柱51沿第一方向D1位移，以及通过第一载台55A沿第三方向D3位移，且更通过转臂522而能转动。如此一来，待测托盘移载模块52能改变至所需位置。

配合参阅图6及图7，已测托盘移载模块53包含枢座531、转臂532以及第三定位座533，枢座531固定设置于第二载台55B上，转臂532可枢转地结合于枢座531，第三定位座533设置于转臂532上。藉此，已测托盘移载模块53通过第三定位座533乘载托盘T，并可以通过第二载台55B沿第二方向D2位移、通过动柱51沿第一方向D1位移，以及通过第一载台55A沿第三方向D3位移，且更通过转臂532而能旋转。如此一来，已测托盘移载模块53能改变至所需位置。

以下说明电子元件测试系统的运作，首先，未经测试的托盘T可以被层叠置放于托盘置放区20的操作台21的集料盘22上。于此同时，托盘置放区20的操作台21的其他集料盘22也可以同时存放有已测试完成的托盘T，已测试完成的托盘T可以置放于集料盘22并累积一定数量时再由操作员取走。

开始进行测试程序时，前区移载装置40可以沿着滑座60位移至承载有未测试托盘T的集料盘22的第二方向D2位置上。当前区移载装置40位移至相对于承载有未测试托盘T的集料盘22的第二方向D2位置时，前区移载装置40便可以第一定位座43承接承载有未测试托盘T的集料盘22的托盘T。

当前区移载装置40的第一定位座43承载未经测试的托盘T后，前区移载装置40通过滑座60位移至测试区移载装置50的可位移范围内，以便于测试区移载装置50承接前区移载装置40上未经测试的托盘T。于此，测试区移载装置50可以沿轨道14改变第一方向D2的位置，沿升降导引组件54改变第三方向D3的位置，沿次导引组件56改变第二方向D2的位置，使测试区移载装置50位移至待测托盘移载模块52靠近前区移载装置40之处。在此，待测托盘移载模块52可以再进一步地通过其转臂522使第二定位座523的位置改变至相对前区移载装置40的第一定位座43位置。

于此，测试区移载装置50便能以待测托盘移载模块52的第二定位座523取走第一定位座43上未经测试的托盘T。需进一步说明的是，在电子元件测试系统连续运作的情形下，测试区移载装置50可以在尚未位移至衔接前区移载装置40的位置之前，先位移至电子元件测试装置31以已测托盘移载模块53的第三定位座533取走电子元件测试装置31中已测试完成的托盘T。如此一来，在测试区移载装置50取走第一定位座43上未经测试的托盘T后，便能同时将已测试完成的托盘T置放于前区移载装置40，让前区移载装置40反向位移以将以测试完成的托盘T移载回托盘置放区20。

配合参阅图6及图7，进一步地，测试区移载装置50更包含视觉取像模块57，视觉取像模块57包含枢座571、转臂572以及取像组件573，枢座571固定设置于第二载台55B上，转臂572可枢转地结合于枢座571，取像组件573设置于转臂572上。于此，在已测托盘移载模块53的第三定位座533取出电子元件测试装置31内已测试完成的托盘T之前，视觉取像模块57便能通过转臂572位移至电子元件测试装置31，以取像组件573拍摄托盘T，并依设定判断托盘T内的电子元件数量是否符合、是否位于正确位置或判断操作员所事先设定的待判断事项，如此一来，视觉取像模块57便能在取走托盘T前判断所欲取走的托盘T是否符合被取走的条件。

接着，前区移载装置40便能将由已测托盘移载模块53取走的已测试完成的托盘T移动至托盘置放区20的操作台21对应置放已测试完成托盘T的集料盘22。进一步地，操作台21的集料盘22可以再依测试结果进行分类，而通过各电子元件测试装置31与整体系统的联机，前区移载装置40便能将已测试完成的托盘T置放至正确的分类位置。

而在前区移载装置40将已测试托盘T移载至集料盘22的同时，测试区移载装置50也能同时位移，则待测托盘移载模块52上未经测试的托盘T即能被移载至可进行测试工作的电子元件测试装置31的位置，待测托盘移载模块52便能将未经测试的托盘T置放于电子元件测试装置31以进行托盘T的测试。

值得说明的是，当电子元件测试系统连续运作时，同一个测试区移载装置50是可以先以已测托盘移载模块53取下电子元件测试装置31内的已测试完成的托盘T，接着再将待测托盘移载模块52上未经测试的托盘T置入同一电子元件测试装置31。藉此，测试区移载装置50即能在与前区移载装置40间进行一次来回位移的过程完成替换测试完成托盘T与未经测试托盘T的动作，则电子元件测试装置31就能减少等待换盘的时间，而能连续不间断地进行测试，进而提高运作效率。

综合以上，前述电子元件测试系统的实施例中，托盘置放区20、测试区30、前区移载装置40及测试区移载装置50皆是移载或承载整个托盘T，托盘T内承载多个电子元件，据此而能大幅提高运载及测试的效率。

此外，测试区移载装置50衔接测试区30或是前区移载装置40时，测试区移载装置50可以同时进行取换盘的动作，藉此除了能大幅提高运载效率之外，更能减少取换盘过程产生的测试工作空窗时间，提高整体系统的工作效能。

再者，测试区移载装置50配置于由多个电子元件测试装置31呈矩阵排列推叠的两测试区30之间，每一测试区30具有多个电子元件测试装置31，每一电子元件测试装置31于每一次测试又能对一整个托盘T内的多个电子元件进行测试，具有极佳的测试效率。

当电子元件的型态不同时，不须更换承载台40，而只要选用具有相同外型的托盘T搭载电子元件，承载台40便能顺利搭载托盘T以带动托盘T完成测试，藉此提高使用的便利性。

本发明通过托盘置放区20、测试区30、前区移载装置40以及测试区移载装置50的配置，配合前区移载装置40及测试区移载装置50的结构组态特征，而能大幅降低测试区30的各电子元件测试装置31的工作空窗时间，进而大幅提升电子元件测试的效率。

虽然本发明已以实施例公开如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中具有通常知识者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的修改与变化。因此，只要这些修改与变化是在后附的申请专利范围及与其同等的范围内，本发明也将涵盖这些修改与变化。

Claims (13)

1.一种电子元件测试系统，其特征在于，包含：

一机架；

一托盘置放区，邻接设置于该机架；

一测试区，邻接设置于该机架上，包含多个电子元件测试装置用以对一托盘内的电子元件进行测试；

一前区移载装置，可于该托盘置放区及该测试区内位移地设置于该机架上，用以取置该托盘于该托盘置放区；以及

一测试区移载装置，可于该测试区位移地设置于该机架上，该测试区移载装置用以取置待测试之托盘于该前区移载装置并与经该电子元件测试装置测试后之托盘进行更换。

2.如权利要求1所述的电子元件测试系统，其特征在于，该测试区移载装置设置于该机架上并可沿一第一方向位移。

3.如权利要求2所述的电子元件测试系统，其特征在于，该测试区的数量为二，该二测试区于垂直该第一方向的一第二方向上具有间距，而该测试区移载装置位于二该测试区之间。

4.如权利要求3所述的电子元件测试系统，其特征在于，该二测试区个别包含多个电子元件测试装置，该二测试区的该多个电子元件测试装置呈矩阵排列。

5.如权利要求3所述的电子元件测试系统，其特征在于，该二测试区个别包含多个电子元件测试装置，该二测试区的该多个电子元件测试装置沿该第一方向及垂直该第一方向及该第二方向的一第三方向呈矩阵排列。

6.如权利要求5所述的电子元件测试系统，更包含一滑座，沿该第二方向延伸，该滑座设置于该托盘置放区，该前区移载装置可沿该第二方向移动地设置于该滑座。

7.如权利要求6所述的电子元件测试系统，其特征在于，该前区移载装置包含一载座、一延伸位移组件以及一承台，该载座可沿该第二方向位移地设置于该滑座，该延伸位移组件可沿该一第方向位移地设置于该载座，该承台可沿该第三方向位移地设置于该延伸位移组件。

8.如权利要求7所述的电子元件测试系统，其特征在于，该前区移载装置更包含一支撑座，该支撑座可沿该第三方向位移地设置于该延伸位移组件，该承台可转动地设置于该支撑座。

9.如权利要求8所述的电子元件测试系统，其特征在于，该延伸位移组件包含一第一导引组件、一第一延伸座、一第二导引组件以及一第二延伸座，该第一导引组件沿该第一方向延伸并设置于该载座，该第一延伸座可沿该第一方向位移地设置于该第一导引组件，该第二导引组件沿该第一方向延伸并设置于该第一延伸座，该第二延伸座可沿第一方向移动地设置于该第二导引组件，该支撑座设置于该第二延伸座。

10.如权利要求5所述的电子元件测试系统，其特征在于，该机架包含一导轨，该导轨沿该第一方向延伸并位于该二测试区之间，该测试区移载装置设置于该导轨上。

11.如权利要求10所述的电子元件测试系统，其特征在于，该测试区移载装置包含一动柱、一待测托盘移载模块及一已测托盘移载模块，该动柱沿该第三方向延伸并可沿该第一方向移动地设置于该导轨上，该待测托盘移载模块以及该已测托盘移载模块可沿该第三方向移动地设置于该动柱上，该待测托盘移载模块用以取置待测试的托盘于该前区移载装置，该已测托盘移载模块用以取置经该电子元件测试装置测试后的托盘。

12.如权利要求11所述的电子元件测试系统，其特征在于，该测试区移载装置更包含一升降导引组件及一载台，该升降导引组件沿该第三方向延伸并设置于该动柱上，该载台可滑移地设置于该升降导引组件上，该待测托盘移载模块以及该已测托盘移载模块可转动地设置于该载台上。

13.如权利要求12所述的电子元件测试系统，其特征在于，该测试区移载装置更包含一视觉取像模块，该视觉取像模块可转动地设置于该载台上。