KR100909208B1

KR100909208B1 - 번인 소터 및 그 동작 방법

Info

Publication number: KR100909208B1
Application number: KR1020080011493A
Authority: KR
Inventors: 김두철; 김원; 이종성
Original assignee: 에이엠티 주식회사
Priority date: 2008-02-05
Filing date: 2008-02-05
Publication date: 2009-07-27

Abstract

본 발명은 디바이스를 이송하여 번인(BURN-IN) 테스트나 디씨(DC) 테스트를 수행하고, 상기 디바이스를 등급별로 분류 수납 및 배출하는 번인 소터 및 그 동작 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 상기 디씨 테스트 판정 결과에 따른 굿 디바이스를 수납 및 배출하기 위한 위치인 수납 중점(h,h’) 또는 배출 중점(k,k’) 중, 1 내지 2개의 버퍼부를 형성하고, 상기 번인 테스트한 디바이스의 수납 및 등급별로 분류 배출을 하기 위한 수납 중점(h,h’) 또는 배출 중점(k,k’) 중, 1 내지 2개의 버퍼부를 형성하고, 상기 수납 중점(p,p’)과 배출 중점(t,t’)의 하부에 번인 보드를 위치하여 상기 디씨 테스트 판정 결과에 따른 굿 디바이스를 인수 및 인계하는 것을 특징으로 하는 번인 소터 및 그 동작 방법에 관한 것이다. 이에 따를 경우, 상기 로봇들의 대기 시간 및 공정 작업 시간을 최소화시킬 수 있게 된다.

디바이스, 버퍼부, 로봇, 번인 보드

Description

번인 소터 및 그 동작 방법{Burn-In Sorter And Operating method thereof}

본 발명은 디바이스를 이송하여 번인(BURN-IN) 테스트나 디씨(DC) 테스트를 수행하고, 상기 디바이스를 등급별로 분류 수납 및 배출하는 번인 소터 및 그 동작 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 상기 디씨 테스트 판정 결과에 따른 굿 디바이스를 수납 및 배출하기 위한 위치인 수납 중점(h,h’) 또는 배출 중점(k,k’) 중, 1 내지 2개의 버퍼부를 형성하고, 상기 번인 테스트한 디바이스의 수납 및 등급별로 분류 배출을 하기 위한 수납 중점(h,h’) 또는 배출 중점(k,k’) 중, 1 내지 2개의 버퍼부를 형성하고, 상기 수납 중점(p,p’)과 배출 중점(t,t’)의 하부에 번인 보드를 위치하여 상기 디씨 테스트 판정 결과에 따른 굿 디바이스를 인수 및 인계하는 것을 특징으로 하는 번인 소터 및 그 동작 방법에 관한 것이다.

번인 소터(burn-in sorter)나 디씨 테스트 또는 번인 소터는 제조가 완료된 IC(Integrated Circuit)를 D.C(Direct Current) 특성을 검사하여 양호한 IC를 번인 보드(burn-in board)에 수납하고, 번인 테스트 또는 디씨 테스트가 완료된 IC를 번인 보드에서 언로딩하여 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하여 수납하기 위한 장치이다. 이러한 번인 소터에 관련된 선행기술로 한국공개 특허 제1998-0071613호 (공개일:1998년10월26일)가 공지되어 있다.

한국공개특허 1998-0071613호에 기재된 번인 소터의 구성을 첨부된 도면을 이용하여 설명하면 다음과 같다.

도 1은 종래의 번인 소터의 개략적 구성을 나타낸 평면도이고, 도 2는 도 1에 도시된 본체의 상부에 설치된 툴의 동작상태도이다. 종래의 번인 소터는 도1 및 도2에 도시된 바와 같이, 보드 로더(board loader)(2), 언로더(unloader)(3), DC 리젝트(reject)부(4), 트레이 로딩(tray loading)부(5), DC 테스트(DC test)부(6), 턴 리턴 장치(turn return device)부(7), 와이 테이블(Y-table)(8), 빈 포켓(empty pocket)부(9), 트레이 언로딩(tray unloading)부(10) 및 소팅(sorting)부(11)로 구성된다.

보드 로더(2) 및 언로더부(3)는 번인 소터의 본체(1)의 상부 일측에 설치되며, 보드 로더(2) 및 언로더부(3)의 타측에 각각 DC 리젝트부(4)와 트레이 로딩부(5)가 설치된다. 트레이 로딩부(5)의 타측방향으로 DC 테스트부(6), 턴 리턴 장치부(7), 와이 테이블(8)이 각각 설치되고, 턴 리턴 장치부(7)와 와이 테이블(8)의 타측에 빈 포켓부(9), 트레이 언로딩부(10) 및 소팅부(11)가 각각 설치되며, 본체(1)의 상부에 다수개의 툴(tool)(12,13,14,15)이 설치된다.

다수개의 툴(12,13,14,15) 중 1 및 2번 트랜스퍼(transfer) 툴(12,13)은 X축 방향으로 이동하여 각각 트레이 로딩부(5)에서 IC(도시 않음)를 DC 테스트하고, 테스트 결과 정상인 IC는 와이 테이블(8)에 위치한 번인보드(도시 않음)로 이송하고, 오류(fail)가 발생된 IC는 DC 리젝트부(4)로 각각 이송하도록 설치된다. 또한, 3번 툴(14)은 X축방향으로 이동하여 번인 테스트가 완료된 4개의 IC를 등급에 따라 빈포켓부(9)와 트레이 언로더부(10)로 각각 이송하도록 설치되며, 4번 툴(15)은 X축방향으로 이동하여 번인 테스트 결과, 양품이 아닌 IC를 빈 포켓부(9)에서 소팅부(11)로 이송하도록 설치되어 구성된다. 아래에서 번인 소터만를 설명하고 있으나 번인 소터도 동일한 문제점이 있다.

상기와 같이 구성된 종래의 번인 소터는 IC를 이송하는 다수개의 툴이 X축 방향의 자유도만을 가짐으로써 와이 테이블을 제외하고 나머지 DC 리젝트부(소팅부), 트레이 로딩부, DC 테스트부, 빈 포켓부 및 트레이 언로딩부가 X축방향으로 나열된 형태로 설치되어 장비의 풋 프린트(Foot Print)가 커지게 되는 문제점이 있고, 아울러 DC 테스터와 하네스(harness)로 연결된 DC테스트 버퍼가 이동되도록 설치됨으로써 기구적인 구성이 복잡해지는 문제점이 있다.

종래의 번인 소터(Burn in Sorter) 장비는 가동 모드(Mode)의 디씨(DC)를 포함한 로딩 모드(Loading Mode) 단계에서 실시하는 디씨 테스트(DC Test) 결과에 따라 불량 디바이스(Fail Device)가 발생하면, 상기 불량 디바이스를 처리하기 위해 하나의 버퍼 공간을 상기 가동 모드를 중단하고 디씨 로딩 로봇(DC Loading Robot)을 사용하여 불량 디바이스가 담긴 트레이를 놓고 처리하기 위한 로봇를 동작하므로 생산효율이 급격이 떨어졌다.

따라서, 본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위하여, 디씨 테스트 판정 결과에 따른 굿 디바이스를 수납 및 배출을 하거나 번인 테스트한 디바이스의 수납 및 등급별로 분류 배출을 하기 위해 4개의 버퍼부(제1,2,3,4 로딩용 버퍼부)를 형성하여 상기 디바이스를 이송하는 로봇들의 대기 시간 및 공정 작업 시간을 최소화시킬 수 있는 번인 소터 및 그 동작 방법을 제공하는 데 있다.

상기한 기술적 과제를 해결하기 위하여 안출한 본 발명에 따른 번인 소터는,

디바이스를 이송시켜 번인 테스트 또는 디씨(DC) 테스트를 수행하고, 상기 디바이스를 등급별로 분류하는 번인 소터에 있어서,

디씨 테스트할 디바이스를 수납한 트레이를 수납하는 로딩부와;

제1 로딩 로봇으로 상기 로딩부에 위치한 디바이스를 이송하여 디씨 테스트를 실시하는 디씨 테스트 사이트와;

상기 디씨 테스트 결과에 따라 리젝트(REJECT) 디바이스를 제1 로딩 로봇으로 이송하여 수납하는 디씨 리젝트 사이트와;

제1 디바이스 로딩 수납 위치 상부인 수납 중점(h,h’)의 로딩용 버퍼부에 디바이스 수납이 완료되면 일측에 위치한 제1 디바이스 로딩 배출 위치 상부인 배출 중점(k,k’)로 이동하고, 상하로 일정 간격 이격하여 수직 일직선상 각 1개의 버퍼를 형성하고, 굿(GOOD) 디바이스만를 수납하기 위해 상기 수납 중점(h,h’)에 대기하는 제1,2 로딩용 버퍼부와;

제2 로딩 로봇으로 상기 디씨 테스트 사이트에서 상기 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부로 디바이스를 이송하는 작업에서 사전에 상기 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부에 채워진 디바이스가 있으면 그 디바이스만을 놓을 수 있는 버퍼부인 고정 버퍼부와;

번인 보드 랙에 대기 하던 것을 번인 보드 작업 위치으로 이동하여 대기 중하며, 로딩용 버퍼부에 수납된 디바이스를 제3 인스트 헤드 로봇으로 인수 수납하는 번인 보드와;

번인 보드 작업 위치의 상부인 수납 중점(p,p’)의 로딩용 버퍼부에 디바이스 수납이 완료되면 일측에 위치한 번인 보드 작업 위치의 상부인 배출 중점(t,t’)로 이동하고, 상하로 일정 간격 이격하여 수직 일직선상 각 1개의 버퍼를 형성하고, 제4 리무브 헤드 로봇으로 디바이스를 수납하기 위해 상기 수납 중점(p,p’)에 대기하는 제3,4 로딩용 버퍼부; 및

번인 테스트의 등급별 결과에 따라 상기 제5 언로딩 로봇이 등급별로 분류 수납하는 빈(Bin) 포켓부;로 구성된 것을 특징으로 한다.

상기 제1 디바이스 로딩 수납 위치는, 상기 번인 보드를 상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치의 하부에서 수평 일직선으로 인수받아 일정 높이를 상승시키고, 상기 일정 높이를 상승시 상부에서 작업 중인 제2 로딩용 버퍼부의 저면을 초과하지 않는 것을 특징으로 한다.

상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치는, 상기 번인 보드를 상기 제1 디바이스 로딩 수납 위치로 수평 일직선으로 인계하거나 상기 제1 디바이스 로딩 수납 위치로 수평 일직선으로 인수하는 것을 특징으로 한다.

또 다른 목적의 본 발명에 따른 번인 소터 동작 방법은,

디바이스를 이송시켜 번인 테스트 또는 디씨(DC) 테스트를 수행하고, 상기 디바이스를 등급으로 분류하는 번인 소터 동작 방법에 있어서,

디씨 테스트할 디바이스를 수납한 트레이를 로딩부에 수납하는 제1 단계와;

제1 로딩 로봇으로 상기 로딩부에 위치한 디바이스를 상기 디씨 테스트 사이트로 이송하여 디씨 테스트를 실시하는 제2 단계와;

상기 디씨 테스트 판정 결과에 따라 굿된 디바이스이며, 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부 수납 공간에 디바이스의 잔량이 없으면, 상기 제2 로딩 로봇으로 디바이스를 대기 중인 상기 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부에 수납하는 제3 단계와;

상기 버퍼부(제1 또는 제2 로딩용 버퍼부)에서 디바이스를 수납 완료하면 상기 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부를 일측으로 이동하여 디바이스 로딩 배출 버퍼 위치에 대기하는 제4 단계와;

상기 일측으로 이동한 상기 로딩용 버퍼부의 디바이스는 제3 인스트 헤드 로봇으로 상기 번인 보드에 수납하는 제5 단계와;

상기 번인 보드에 수납된 디바이스를 제4 리무브 헤드 로봇으로 다시 대기 중인 제3 또는 제4 언로딩 버퍼부에 이송하는 제6 단계; 및

상기 제3 또는 제4 로딩용 버퍼부에 수납된 디바이스를 제5 언로딩 로봇으로 상기 번인 테스트의 결과에 따라 등급별로 굿과 리젝트를 상기 빈(Bin) 포켓부에 각각 언로딩하는 제7 단계;로 이루어진 것을 특징으로 한다.

상기 제3 단계는, 상기 디씨 테스트 판정 결과에 따라 리젝트된 디바이스를 제1 로딩 로봇으로 디씨 리젝트 사이트로 이송하여 외부 배출함을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.

상기 제3 단계는, 상기 디씨 테스트 판정 결과에 따라 굿된 디바이스이며, 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부 수납 공간에 디바이스의 잔량이 있으면, 상기 제2 로딩 로봇으로 상기 디씨 테스트 사이트에서 디씨 테스트 결과에 따라 굿의 일부 내지 전량의 디바이스를 고정 버퍼부에 놓고 상기 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부에 잔량 디바이스를 수납함을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.

상기 제5 단계의 번인 보드는, 상기 번인 보드 랙의 엘리베이트 랙 위치에서 제1 디바이스 로딩 배출 위치의 하부를 통과하여 제3 또는 제4 언로딩 버퍼부와 상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치 사이에 상기 번인 보드를 번인 보드 작업 위치에 놓는 제1 단계와;

제3 인스트 헤드 로봇으로 상기 번인 보드 작업 위치에 놓인 상기 번인 보드에 디바이스를 수납하는 제2 단계와;

상기 번인 보드에 수납된 디바이스를 제4 리무브 헤드 로봇으로 대기 중인 상기 제3 또는 제4 언로딩 버퍼부로 이송하는 제3 단계와;

상기 번인 보드를 상기 번인 보드 작업 위치에서 상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치 하부를 통과시켜 상기 엘리베이트 랙으로 이동하여 외부 배출하는 제4 단계와;

이송할 디바이스가 있는지를 확인하고, 더 이송할 상기 디바이스가 있으면 다음 작업을 계속 진행하는 제5 단계; 및

번인 보드 대기 위치에 대기 중인 번인 보드를 상기 번인 보드 작업 위치로 이동하는 제6 단계;로 이루어진 것을 특징으로 한다.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명의 번인 소터 및 그 동작 방법은, 4개의 버퍼부(제1,2,3,4 로딩용 버퍼부) 중, 동일 작업 영역에 2개씩을 장착하며, 각 위치에 하나 또는 2개의 버퍼부가 대기 중인지를 확인하고, 상기 대기 중인 버퍼부에 디씨 테스트 결과 정보에 따라 굿 디바이스만을 수납하고, 로봇에 의해 상기 디바이스를 빈(Bin)포켓부로 이송 및 번인 테스트 결과 등급 정보에 따라 상기 빈(Bin)포켓부에 분류 수납할 수 있어 로봇(31 내지 35)들의 대기 시간을 최소화 및 공정 작업시간을 최소화할 수 있는 이점이 있다.

이하, 첨부한 도 3 내지 도 9을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 기술하기로 한다.

도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 번인 소터의 개략적 배치도이고, 도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 도 3의 번인 보드 랙을 나타낸 도면이고, 도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 도 3의 번인 보드 랙과 번인 보드의 이동 위치을 나타낸 도면이고, 도 6a 내지 6d는 본 발명의 일실시예에 따른 도 3의 제1,2 로딩용 버퍼부를 나타낸 도면이고, 도 7a 내지 7d는 본 발명의 일실시예에 따른 도 3의 제3,4 로 딩용 버퍼부를 나타낸 도면이고, 도 8은 본 발명의 본 발명의 일실시예에 따른 번인 소터의 디바이스를 이송하는 흐름도이고, 도 9은 본 발명의 본 발명의 일실시예에 따른 번인 소터의 번인 보드를 이동하는 흐름도이다.

도 3 내지 도 5 에 도시된 바와 같이, 본 발명의 번인 소터는, 디바이스의 이송을 위한 제1 로딩 로봇(31), 제2 로딩 로봇(32), 제3 인스트 헤드 로봇(33), 제4 리무브 헤드 로봇(34) 및 제5 언로딩 로봇(35)으로 구성되고, 트레이에 디바이스를 수납하여 대기하거나 상기 디바이스를 수납하기 위해 대기하는 로딩부(51), 디씨 리젝트 사이트(52) 및 빈(Bin) 포켓부(53)로 구성되고, 상기 디바이스의 디씨 테스트를 실시하여 굿(GOOD)과 리젝트(REJECT)를 판정하는 디씨 테스트 사이트(61)과, 상기 디바이스의 굿 디바이스를 이송하기 위해 수납 및 배출하는 고정 버퍼부(71), 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부(72,72’), 제3 또는 제4 로딩용 버퍼부(73,73’)를 구성되고, 번인 보드를 수납하거나 이동하는 위치인 제1 디바이스 로딩 수납 위치(81), 번인 보드 대기 랙(82), 엘리베이트 랙(83), 번인 보드 대기 위치(84), 제1 디바이스 로딩 배출 위치(85), 번인 보드 수납 위치(86) 및 번인 보드 랙(800)으로 구성된다.

여기서, 상기 로딩부(51)는, 디씨 테스트할 디바이스를 수납한 트레이를 수납한다.

여기서, 상기 디씨 테스트 사이트(61)는, 상기 제1 로딩 로봇(31)으로 상기 로딩부(51)에 위치한 디바이스를 이송하여 디씨 테스트를 실시한다. 이때, 상기 디씨 테스트 결과에 따라 굿(GOOD)은 대기 중인 상기 제1 또는 제2 로딩용 버퍼 부(72,72’)에 수납한다. 또한, 상기 디씨 테스트 결과에 따라 리젝트(REJECT)는 제1 로딩 로봇(31)으로 이송하여 디씨 리젝트 사이트(61)에 수납하여 외부 배출한다.

여기서, 상기 제1,2 로딩용 버퍼부(72,72’)는, 상하로 일정 간격 이격하여 수직 일직선상 각 1개의 버퍼를 형성하고, 상기 제1 디바이스 로딩 수납 위치(81)에 대기한다. 상기 제1 디바이스 로딩 수납 위치(81)는, 번인 보드를 제1 디바이스 로딩 배출 위치(85)의 하부에서 수평 일직선으로 인수받아 일정 높이를 상승시키고, 상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치(85)에 있던 번인 보드가 상기 번인 보드 대기 위치(84)로 이동하면 번인 보드를 빈 공간인 제1 디바이스 로딩 배출 위치(85)의 하부로 수평 일직선으로 인계한다. 상기 일정 높이를 상승시 상부에서 작업 중인 제2 로딩용 버퍼부(72’)의 저면을 초과할 수 없다.

여기서, 상기 고정 버퍼부(71)는, 제2 로딩 로봇(32)으로 상기 디씨 테스트 사이트(61)에서 상기 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부(72,72’)로 디바이스를 이송하는 작업에서 사전에 상기 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부(72,72’)에 채워진 디바이스가 있으면 그 디바이스만을 놓을 수 있는 버퍼부이다.

여기서, 상기 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부(72,72’)는, 상기 제1 디바이스 로딩 수납 위치(81) 상부의 상기 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부(32)에 디바이스 수납이 완료되면 일측에 위치한 제1 디바이스 로딩 배출 위치(85) 상부로 이동한다. 상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치(85)는, 번인 보드를 상기 제1 디바이스 로딩 수납 위치(81)로 수평 일직선으로 인계하거나 상기 제1 디바이스 로딩 수납 위치(81)로 수평 일직선으로 인수받아 대기, 또는 빈 공간이 된 상기 번인 보드 대기 위치(84)로 번인 보드를 인계한다.

여기서, 상기 일측으로 이동한 상기 로딩용 버퍼부(72,72’)의 디바이스는 제3 인스트 헤드 로봇(33)을 사용하여 상기 번인 보드에 수납한다. 상기 번인 보드는 상기 번인 보드 작업 위치(86)에 있는 것이다. 상기 번인 보드는, 번인 보드 랙(800)에 대기 하던 것을 번인 보드 작업 위치(86)으로 이동하여 대기 중하며, 로딩용 버퍼부에 수납된 디바이스를 제3 인스트 헤드 로봇(33)으로 인수 수납한다. 상기 번인 보드는 상기 번인 보드 대기 위치(84)로부터 인수받거나 엘리베이트 랙으로부터 직접 인수받아 디바이스 수납 및 배출 작업을 실시 완료후, 상기 엘리베이트 랙으로 배출된다.

여기서, 상기 제3,4 로딩용 버퍼부(73,73’)는 번인 보드 작업 위치(86)의 상부의 로딩용 버퍼부에 디바이스 수납이 완료되면 일측에 위치한 번인 보드 작업 위치(86)의 상부로 이동하고, 상하로 일정 간격 이격하여 수직 일직선상 각 1개의 버퍼를 형성하고, 제4 리무브 헤드 로봇(34)으로 디바이스를 수납하기 위해 상기 번인 보드 작업 위치(86)에 대기한다.

여기서, 상기 번인 보드에 수납된 디바이스를 제4 리무브 헤드 로봇을 사용하여 대기 중인 상기 제3 또는 제4 언로딩 버퍼부(73,73’)에 수납한다. 상기 제3,4 로딩용 버퍼부(73,73’)는, 상하로 일정 간격 이격하여 수직 일직선상 각 1개의 버퍼를 형성하고, 상기 번인 보드 작업 위치(86)의 상부에서 대기한다. 상기 번인 보드 작업 위치(86)는, 번인 보드를 상기 번인 보드 대기 위치(84)로부터 인수 받거나 엘리베이트 랙으로부터 직접 인수받아 디바이스 수납 및 배출 작업을 실시한다.

여기서, 상기 제3,4 로딩용 버퍼부(73,73’)는, 디씨 테스트의 결과인 굿 디바이스를 수납하고 있다. 본 발명에서 언급하지 않았으나, 본 장치에 함께 설치되어 있는 번인 테스트의 등급별 결과에 따라 상기 제5 언로딩 로봇(35)이 빈(Bin) 포켓부에 수납한다.

여기서, 상기 빈(Bin) 포켓부는, 등급별로 굿과 리젝트의 스택커를 다수개 장착되어 있다. 상기 장착된 개수는 정확하게 1개 내지 10개의 스택커로 한다.

도 4에 도시된 바와 같이, 번인 보드 랙(800)은, 상기 번인 보드를 다수개 투입하여 엘리베이트 랙(83)을 작동시켜 상기 번인 보드를 기기 내부로 투입하거나 외부로 배출한다. 보다 정확하게 상기 번인 보드는, 2행 3열의 6개 부분으로 나뉜 엘리베이터 하나의 랙에 1,2열에 각각 20개씩 총 40개를 투입 대기한다. 이때, 2열의 엘리베이터 랙(83)이 상하 수직과 좌우 수평 방향으로 엘리베이팅하여 번인 보드를 기기 내부로 투입하거나 외부로 배출한다.

본 발명의 일실시예에 따른 도 3의 제1,2 로딩용 버퍼부의 이동하는 것을 도 3, 도 6a 내지 도 6d에 도시된 것을 보면 더욱 상세히 설명한다. 여기서, 상기 제1,2 로딩용 버퍼부 (72,72’)는, 도 6a, 도 6b, 도 6c, 도 6d (ㄱ) 또는 도 6d (ㄴ)의 순으로 제1 디바이스 로딩 수납 위치(81) 상부인 수납 중점(h,h’)과 제1 디바이스 로딩 배출 위치(85) 상부인 배출 중점(k,k’) 간을 이동한다.

먼저, 도 3 및 도 6a에 도시된 바와 같이, 디바이스는, 디씨 테스트 사이 트(61)에서 디바이스의 디씨 테스트를 실시한 후, 등급 판정된 굿 디바이스를 제1 디바이스 로딩 수납 위치(81)의 상부에 장착된 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부(72,72’)로 이송한다. 이때, 센서에 의해 제1 디바이스 로딩 수납 위치(81)에 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부(72,72’)가 대기하고 있는지를 확인한다. 이때, 상기 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부(72,72’)는, 수납 중점(h,h’)의 하부에 제2 로딩용 버퍼부(72’)와 상부에 제1 로딩용 버퍼부(72)가 형성되어 상하부 수직 일직선을 이루게 초기값으로 설정되어 대기한다. 이때, 상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치(85)에는 버퍼부가 하나도 없는 상태이다. 즉, 상기 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부(72,72’)는, 굿 디바이스를 수납하기 위해 배출 중점(k,k’)으로 이동하지 않고 수납 중점(h,h’)에서 대기 중이다.

이어서, 도 3 및 도 6b에 도시된 바와 같이, 상기 제1 디바이스 로딩 수납 위치(81)의 상기 제1 로딩용 버퍼부(72)에 디바이스 수납이 완료되면, 수납을 완료한 상기 제2 로딩 로봇(32)이 디씨 테스트 사이트(61)로 이동함과 동시에 상기 제1 디바이스 로딩 수납 위치(81)에 제2 로딩용 버퍼부(72’)가 대기 중인지를 확인하고, 상기 제1 로딩용 버퍼부(72)가 일측의 제1 디바이스 로딩 배출 위치(85)로 이동한다. 상기 제1 로딩용 버퍼부(72)는, 굿 디바이스를 수납하여 배출 중점(k,k’)으로 이동하고, 상기 제2 로딩용 버퍼부(72’)는, 굿 디바이스를 수납하는 수납 중점(h,h’)에서 대기 중이다. 여기서 상기 제1 로딩용 버퍼부(72)는, 배출 중점(k,k’)에서 디바이스를 배출한다. 또한, 상기 제2 로딩용 버퍼부(72’)는, 수납 중점(h,h’)에서 굿 디바이스를 수납한다.

이어서, 도 3 및 도 6c에 도시된 바와 같이, 제1 디바이스 로딩 수납 위치(81)의 상기 제2 로딩용 버퍼부(72’)에 디바이스 수납이 완료되면, 수납을 완료한 상기 제2 로딩 로봇(32)이 디씨 테스트 사이트(61)로 이동함과 동시에 상기 제1 디바이스 로딩 수납 위치(81)에 제1 로딩용 버퍼부(72)가 대기 중인지를 확인하고, 상기 제2 로딩용 버퍼부(72’)가 일측의 제1 디바이스 로딩 배출 위치(85)로 이동한다. 상기 제2 로딩용 버퍼부(72’)는, 굿 디바이스를 수납하여 배출 중점(k,k’)으로 이동하고, 상기 제1 로딩용 버퍼부(72)는, 굿 디바이스를 수납하는 수납 중점(h,h’)에서 대기 중이다. 여기서, 상기 제2 로딩용 버퍼부(72’)는, 배출 중점(k,k’)에서 디바이스를 배출한다. 또한, 상기 제1 로딩용 버퍼부(72)는, 수납 중점(h,h’)에서 굿 디바이스를 수납한다.

마지막으로, 도 3 및 도 6d에 도시된 바와 같이, 상기 제1 디바이스 로딩 수납 위치(81)의 상기 제1 로딩용 버퍼부(72)에 디바이스 수납하고 있는 중 또는 수납 완료되면, 상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치(85)를 이탈하여 상기 제1 디바이스 로딩 수납 위치(81)로 이동하여 상기 제2 로딩용 버퍼부(72’)가 대기 중인지를 확인한다.

또한, 상부의 상기 제1 로딩용 버퍼부(72)에 수납 중점(h,h’)에서 디바이스를 수납하고 있는 경우에 상기 제2 로딩용 버퍼부(72’)가 빈(Empty) 버퍼부로 인식되면 배출 중점(k,k’)의 상기 제2 로딩용 버퍼부(72’)를 수납 중점(h,h’)으로 상기 제2 로딩용 버퍼부(72’)를 이동한다("도 (ㄱ)"참조).

또한, 상기 수납 중점(h,h’)의 상기 제1 로딩용 버퍼부(72)에 디바이스 수 납이 완료되면 상기 제2 로딩 로봇(32)이 디씨 테스트 사이트(61)로 이동함과 동시에 빈 버퍼부인 상기 제2 로딩용 버퍼부(72’)가 상기 수납 중점(h,h’)으로 이동한다. 이때, 상기 제1 로딩용 버퍼부(72)는, 상기 수납 중점(h,h’)에서 배출 중점(k,k’)으로 이동한다("도 (ㄴ)"참조).

본 발명의 일실시예에 따른 도 3의 제1,2 로딩용 버퍼부의 이동하는 것을 도 3, 도 7a 내지 도 7d에 도시된 것을 보면 더욱 상세히 설명한다. 여기서, 상기 제3,4 로딩용 버퍼부 (73,73’)는, 도 7a, 도 7b, 도 7c, 도 7d (ㄱ) 또는 도 7d (ㄴ)의 순으로 번인 보드 작업 위치(86) 상부인 수납 중점(p,p’)과 상기 번인 보드 작업 위치(86) 상부인 배출 중점(t,t’) 간을 이동한다. 상기 제3,4 로딩용 버퍼부 (73,73’)는, 상기 번인 보드 작업 위치(86) 상부에서 디바이스의 수납과 배출이 이루어진다.

먼저, 도 3 및 도 7a에 도시된 바와 같이, 디바이스는, 번인 보드 작업 위치(86)의 상부에 장착된 제3 또는 제4 로딩용 버퍼부(73,73’)가 수납하기 위해 대기 중이다. 이때, 센서에 의해 수납 중점(p,p’)에 제3 또는 제4 로딩용 버퍼부(73,73’)가 대기하고 있는지를 확인한다. 이때, 상기 제3 또는 제4 로딩용 버퍼부(73,73’)는, 수납 중점(p,p’)의 하부에 제4 로딩용 버퍼부(73’)와 상부에 제3 로딩용 버퍼부(73)가 형성되어 상하부 수직 일직선을 이루게 초기값으로 설정되어 대기한다. 이때, 배출 중점(t,t’)에는 버퍼부가 하나도 없는 상태이다. 즉, 상기 제3 또는 제4 로딩용 버퍼부(73,73’)는, 번인 보드에 수납된 굿 디바이스를 제4 리무브 헤드 로봇(34)으로 수납하기 위해 배출 중점(t,t’)으로 이동하지 않고 수 납 중점(p,p’)에서 대기 중이다.

이어서, 도 3 및 도 7b에 도시된 바와 같이, 수납 중점(p,p’)의 상기 제3 로딩용 버퍼부(73)에 디바이스 수납이 완료되면, 수납을 완료한 상기 제4 리무브 헤드 로봇(34)이 번인 보드로 이동함과 동시에 상기 수납 중점(p,p’)에 제4 로딩용 버퍼부(73’)가 대기 중인지를 확인하고, 상기 제3 로딩용 버퍼부(73)가 일측의 배출 중점(t,t’)으로 이동한다. 상기 제3 로딩용 버퍼부(73)는, 굿 디바이스를 수납하여 배출 중점(t,t’)으로 이동하고, 상기 제4 로딩용 버퍼부(73’)는, 굿 디바이스를 수납하는 수납 중점(t,t’)에서 대기 중이다. 여기서, 상기 제31 로딩용 버퍼부(73)는, 배출 중점(t,t’)에서 디바이스를 배출한다. 또한, 상기 제4 로딩용 버퍼부(73’)는, 수납 중점(p,p’)에서 상기 제4 리무브 헤드 로봇(34)으로 번인 보드의 굿 디바이스를 수납한다.

이어서, 도 3 및 도 7c에 도시된 바와 같이, 수납 중점(p,p’)의 상기 제4 로딩용 버퍼부(73’)에 디바이스 수납이 완료되면, 수납을 완료한 상기 제4 리무브 헤드 로봇(34)이 번인 보드로 이동함과 동시에 상기 수납 중점(p,p’)에 제3 로딩용 버퍼부(73)가 대기 중인지를 확인하고, 상기 제4 로딩용 버퍼부(73’)가 일측의 배출 중점(t,t’)으로 이동한다. 상기 제4 로딩용 버퍼부(73’)는, 굿 디바이스를 수납하여 배출 중점(t,t’)으로 이동하고, 상기 제3 로딩용 버퍼부(73)는, 굿 디바이스를 수납하는 수납 중점(p,p’)에서 대기 중이다. 여기서, 상기 제4 로딩용 버퍼부(73’)는, 배출 중점(t,t’)에서 디바이스를 배출한다. 또한, 상기 제3 로딩용 버퍼부(73)는, 수납 중점(p,p’)에서 굿 디바이스를 수납한다.

마지막으로, 도 3 및 도 7d에 도시된 바와 같이, 수납 중점(p,p’)의 상기 제3 로딩용 버퍼부(73)에 디바이스 수납하고 있는 중 또는 수납 완료되면, 배출 중점(t,t’)를 이탈하여 상기 수납 중점(p,p’)으로 이동하여 상기 제4 로딩용 버퍼부(73’)가 대기 중인지를 확인한다.

또한, 상부의 상기 제3 로딩용 버퍼부(73)에 수납 중점(p,p’)에서 디바이스를 수납하고 있는 경우에 상기 제4 로딩용 버퍼부(73’)가 빈(Empty) 버퍼부로 인식되면 배출 중점(t,t’)의 상기 제4 로딩용 버퍼부(73’)를 수납 중점(p,p’)으로 상기 제4 로딩용 버퍼부(73’)를 이동한다("도 (ㄱ)"참조).

또한, 상기 수납 중점(p,p’)의 상기 제3 로딩용 버퍼부(73)에 디바이스 수납이 완료되면 상기 제4 리무브 헤드 로봇(34)이 번인 보드로 이동함과 동시에 빈 버퍼부인 상기 제4 로딩용 버퍼부(73’)가 상기 수납 중점(p,p’)으로 이동한다. 이때, 상기 제3 로딩용 버퍼부(73)는, 상기 수납 중점(p,p’)에서 배출 중점(t,t’)으로 이동한다("도 (ㄴ)"참조).

이하, 도 8에 도시된 본 발명의 본 발명의 일실시예에 따른 번인 소터의 디바이스를 이송하는 흐름도를 보면 동작 방법을 상세하게 설명한다.

먼저, 디씨 테스트할 디바이스를 수납한 트레이를 로딩부에 수납한다(S201).

이어서, 제1 로딩 로봇으로 상기 로딩부에 위치한 디바이스를 상기 디씨 테스트 사이트로 이송하여 디씨 테스트를 실시한다(S202). 이때, 상기 디씨 테스트 판정 결과에 따라 리젝트된 디바이스를 제1 로딩 로봇으로 디씨 리젝트 사이트로 이송하여 외부 배출한다(S301).

이어서, 상기 디씨 테스트 판정 결과에 따라 굿된 디바이스이며, 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부 수납 공간에 디바이스의 잔량이 없으면, 상기 제2 로딩 로봇으로 디바이스를 대기 중인 상기 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부에 수납한다(S203). 이때, 상기 디씨 테스트 판정 결과에 따라 굿된 디바이스이며, 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부 수납 공간에 디바이스의 잔량이 있으면, 상기 제2 로딩 로봇으로 상기 디씨 테스트 사이트에서 디씨 테스트 결과에 따라 굿의 일부 내지 전량의 디바이스를 고정 버퍼부에 놓고 상기 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부에 잔량 디바이스를 수납한다(S401).

이어서, 상기 버퍼부(제1 또는 제2 로딩용 버퍼부)에서 디바이스를 수납 완료하면 상기 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부를 일측으로 이동하여 디바이스 로딩 배출 버퍼 위치에 대기한다(S204).

이어서, 상기 일측으로 이동한 상기 로딩용 버퍼부의 디바이스는 제3 인스트 헤드 로봇으로 상기 번인 보드에 수납한다(S205).

이어서, 상기 번인 보드에 수납된 디바이스를 제4 리무브 헤드 로봇으로 다시 대기 중인 버퍼부에 이송한다. 상기 대기 중인 버퍼부는 상기 제3 또는 제4 언로딩 버퍼부이다(S206).

마지막으로, 상기 제3 또는 제4 로딩용 버퍼부에 수납된 디바이스를 제5 언로딩 로봇으로 상기 번인 테스트의 결과에 따라 등급별로 굿과 리젝트를 상기 빈(Bin) 포켓부에 각각 언로딩한다(S207).

이하, 도 9은 본 발명의 본 발명의 일실시예에 따른 번인 소터의 번인 보드 를 이동하는 흐름도를 보며, 번인 보드 랙에서 투입 대기 중인 번인 보드를 순차적으로 투입하여 디바이스를 수납 및 배출하고, 상기 번인 보드를 다시 번인 보드 랙을 통해 외부 배출하는 과정을 상세히 설명한다.

먼저, 번인 보드를 상기 번인 보드 랙의 엘리베이트 랙 위치에서 제1 디바이스 로딩 배출 위치의 하부를 통과하여 제3 또는 제4 언로딩 버퍼부와 상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치 사이에 상기 번인 보드를 번인 보드 작업 위치에 놓는다(S501). 또한, 다른 번인 보드를 상기 번인 보드 랙의 엘리베이트 랙 위치에서 제1 디바이스 로딩 배출 위치의 하부에서 제1 디바이스 로딩 수납 위치에 놓는다.

이어서, 제3 인스트 헤드 로봇으로 상기 번인 보드 작업 위치에 놓인 상기 번인 보드에 디바이스를 수납한다(S502).

이어서, 상기 번인 보드에 수납된 디바이스를 제4 리무브 헤드 로봇으로 대기 중인 상기 제3 또는 제4 언로딩 버퍼부로 이송한다(S503).

이어서, 상기 번인 보드를 상기 번인 보드 작업 위치에서 상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치 하부를 통과시켜 상기 엘리베이트 랙으로 이동하여 외부 배출한다(S504).

이어서, 이송할 디바이스가 있는지를 확인하고, 더 이송할 상기 디바이스가 있으면 다음 작업을 계속 진행한다(S505). 상기 이송할 디바이스가 없으면 작업이 종료된다.

이어서, 번인 보드 대기 위치에 대기 중인 번인 보드를 상기 번인 보드 작업 위치로 이동한다(S506).

다음으로, 제1 디바이스 로딩 배출 위치에 있는 번인 보드를 상기 번인 보드 대기 위치로 이동, 제1 디바이스 로딩 수납 위치에 있는 번인 보드를 상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치로 이동한다(S507). 또한, 디바이스 이송 작업이 계속 이루어지면, 상기 제3 인스트 헤드 로봇으로 상기 번인 보드에 디바이스를 수납하는 작업부터 순환 작업을 실시한다. 이때, 상기 번인 보드는, 상기 엘리베이트 랙에서 상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치 하부로, 상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치 하부에서 상기 제1 디바이스 로딩 수납 위치로, 상기 제1 디바이스 로딩 수납 위치에서 상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치 하부로, 상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치 하부에서 상기 번인 보드 대기 위치 순으로 이동한다. 이때, 상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치 하부를 정확하게 말하면, 상기 번인 보드의 투입하거나 배출시 교차하는 위치의 높낮이를 달리하여 상기 번인 보드의 투입 및 배출을 실시한다. 즉, 상기 배출하는 번인 보드의 하부에 투입 번인 보드가 이동하는 것이다. 또한, 상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치 하부에서 필요시 번인 보드를 회전할 수도 있다.

전술한 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술사상과 아래에 기재될 특허청구범위의 균등 범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능함은 물론이다.

도 1은 종래의 번인 소터의 개략적 구성을 나타낸 평면도.

도 2는 도 1에 도시된 본체의 상부에 설치된 툴의 동작상태도.

도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 번인 소터의 개략적 배치도.

도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 도 3의 번인 보드 랙을 나타낸 도면. 도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 도 3의 번인 보드 랙과 번인 보드의 이동 위치을 나타낸 도면.

도 6a 내지 6d는 본 발명의 일실시예에 따른 도 3의 제1,2 로딩용 버퍼부를 나타낸 도면.

도 7a 내지 7d는 본 발명의 일실시예에 따른 도 3의 제3,4 로딩용 버퍼부를 나타낸 도면.

도 8은 본 발명의 본 발명의 일실시예에 따른 번인 소터의 디바이스를 이송하는 흐름도.

도 9은 본 발명의 본 발명의 일실시예에 따른 번인 소터의 번인 보드를 이동하는 흐름도.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>

31 : 제1 로딩 로봇 32 : 제2 로딩 로봇

33 : 제3 인스트 헤드 로봇 34 : 제4 리무브 헤드 로봇

35 : 제5 언로딩 로봇 51 : 로딩부

52 : 디씨 리젝트 사이트 53 : 빈(Bin) 포켓부

61 : 디씨 테스트 사이트 71 : 고정 버퍼부

72,72’ : 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부

73,73’ : 제3 또는 제4 로딩용 버퍼부

81 : 제1 디바이스 로딩 수납 위치

82 : 번인 보드 대기 랙

83 : 엘리베이트 랙

84 : 번인 보드 대기 위치

85 : 제1 디바이스 로딩 배출 위치

86 : 번인 보드 수납 위치

800 : 번인 보드 랙

Claims

디바이스를 이송시켜 번인 테스트 또는 디씨(DC) 테스트를 수행하고, 상기 디바이스를 등급별로 분류하는 번인 소터에 있어서,

디씨 테스트할 디바이스를 수납한 트레이를 수납하는 로딩부와;

제1 로딩 로봇으로 상기 로딩부에 위치한 디바이스를 이송하여 디씨 테스트를 실시하는 디씨 테스트 사이트와;

상기 디씨 테스트 결과에 따라 리젝트(REJECT) 디바이스를 제1 로딩 로봇으로 이송하여 수납하는 디씨 리젝트 사이트와;

제1 디바이스 로딩 수납 위치 상부인 수납 중점(h,h’)의 로딩용 버퍼부에 디바이스 수납이 완료되면 일측에 위치한 제1 디바이스 로딩 배출 위치 상부인 배출 중점(k,k’)로 이동하고, 상하로 일정 간격 이격하여 수직 일직선상 각 1개의 버퍼를 형성하고, 굿(GOOD) 디바이스만를 수납하기 위해 상기 수납 중점(h,h’)에 대기하는 제1,2 로딩용 버퍼부와;

제2 로딩 로봇으로 상기 디씨 테스트 사이트에서 상기 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부로 디바이스를 이송하는 작업에서 사전에 상기 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부에 채워진 디바이스가 있으면 그 디바이스만을 놓을 수 있는 버퍼부인 고정 버퍼부와;

번인 보드 랙에 대기 하던 것을 번인 보드 작업 위치으로 이동하여 대기 중하며, 로딩용 버퍼부에 수납된 디바이스를 제3 인스트 헤드 로봇으로 인수 수납하 는 번인 보드와;

번인 보드 작업 위치의 상부인 수납 중점(p,p’)의 로딩용 버퍼부에 디바이스 수납이 완료되면 일측에 위치한 번인 보드 작업 위치의 상부인 배출 중점(t,t’)로 이동하고, 상하로 일정 간격 이격하여 수직 일직선상 각 1개의 버퍼를 형성하고, 제4 리무브 헤드 로봇으로 디바이스를 수납하기 위해 상기 수납 중점(p,p’)에 대기하는 제3,4 로딩용 버퍼부; 및

번인 테스트의 등급별 결과에 따라 상기 제5 언로딩 로봇이 등급별로 분류 수납하는 빈(Bin) 포켓부;로 구성된 것을 특징으로 하는 번인 소터.
제1 항에 있어서,

상기 제1 디바이스 로딩 수납 위치는,

상기 번인 보드를 상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치의 하부에서 수평 일직선으로 인수받아 일정 높이를 상승시키고, 상기 일정 높이를 상승시 상부에서 작업 중인 제2 로딩용 버퍼부의 저면을 초과하지 않는 것을 특징으로 하는 번인 소터.
제1 항에 있어서,

상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치는,

상기 번인 보드를 상기 제1 디바이스 로딩 수납 위치로 수평 일직선으로 인계하거나 상기 제1 디바이스 로딩 수납 위치로 수평 일직선으로 인수하는 것을 특징으로 하는 번인 소터.
디바이스를 이송시켜 번인 테스트 또는 디씨(DC) 테스트를 수행하고, 상기 디바이스를 등급으로 분류하는 번인 소터 동작 방법에 있어서,

디씨 테스트할 디바이스를 수납한 트레이를 로딩부에 수납하는 제1 단계와;

제1 로딩 로봇으로 상기 로딩부에 위치한 디바이스를 상기 디씨 테스트 사이트로 이송하여 디씨 테스트를 실시하는 제2 단계와;

상기 디씨 테스트 판정 결과에 따라 굿된 디바이스이며, 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부 수납 공간에 디바이스의 잔량이 없으면, 상기 제2 로딩 로봇으로 디바이스를 대기 중인 상기 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부에 수납하는 제3 단계와;

상기 버퍼부(제1 또는 제2 로딩용 버퍼부)에서 디바이스를 수납 완료하면 상기 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부를 일측으로 이동하여 디바이스 로딩 배출 버퍼 위치에 대기하는 제4 단계와;

상기 일측으로 이동한 상기 로딩용 버퍼부의 디바이스는 제3 인스트 헤드 로봇으로 상기 번인 보드에 수납하는 제5 단계와;

상기 번인 보드에 수납된 디바이스를 제4 리무브 헤드 로봇으로 다시 대기 중인 제3 또는 제4 언로딩 버퍼부에 이송하는 제6 단계; 및

상기 제3 또는 제4 로딩용 버퍼부에 수납된 디바이스를 제5 언로딩 로봇으로 상기 번인 테스트의 결과에 따라 등급별로 굿과 리젝트를 상기 빈(Bin) 포켓부에 각각 언로딩하는 제7 단계;로 이루어진 것을 특징으로 하는 번인 소터 동작 방법.
제4 항에 있어서,

상기 제3 단계는,

상기 디씨 테스트 판정 결과에 따라 리젝트된 디바이스를 제1 로딩 로봇으로 디씨 리젝트 사이트로 이송하여 외부 배출함을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 번인 소터 동작 방법.
제4 항에 있어서,

상기 제3 단계는,

상기 디씨 테스트 판정 결과에 따라 굿된 디바이스이며, 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부 수납 공간에 디바이스의 잔량이 있으면, 상기 제2 로딩 로봇으로 상기 디씨 테스트 사이트에서 디씨 테스트 결과에 따라 굿의 일부 내지 전량의 디바이스를 고정 버퍼부에 놓고 상기 제1 또는 제2 로딩용 버퍼부에 잔량 디바이스를 수납함을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 번인 소터 동작 방법.
제4 항에 있어서,

상기 제5 단계의 번인 보드는,

상기 번인 보드 랙의 엘리베이트 랙 위치에서 제1 디바이스 로딩 배출 위치의 하부를 통과하여 제3 또는 제4 언로딩 버퍼부와 상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치 사이에 상기 번인 보드를 번인 보드 작업 위치에 놓는 제1 단계와;

제3 인스트 헤드 로봇으로 상기 번인 보드 작업 위치에 놓인 상기 번인 보드 에 디바이스를 수납하는 제2 단계와;

상기 번인 보드에 수납된 디바이스를 제4 리무브 헤드 로봇으로 대기 중인 상기 제3 또는 제4 언로딩 버퍼부로 이송하는 제3 단계와;

상기 번인 보드를 상기 번인 보드 작업 위치에서 상기 제1 디바이스 로딩 배출 위치 하부를 통과시켜 상기 엘리베이트 랙으로 이동하여 외부 배출하는 제4 단계와;

이송할 디바이스가 있는지를 확인하고, 더 이송할 상기 디바이스가 있으면 다음 작업을 계속 진행하는 제5 단계; 및

번인 보드 대기 위치에 대기 중인 번인 보드를 상기 번인 보드 작업 위치로 이동하는 제6 단계;로 이루어진 것을 특징으로 하는 번인 소터 동작 방법.