KR101606565B1

KR101606565B1 - Ic제품 분류기

Info

Publication number: KR101606565B1
Application number: KR1020140154473A
Authority: KR
Inventors: 박주평
Original assignee: 주식회사 이노비즈
Priority date: 2014-11-07
Filing date: 2014-11-07
Publication date: 2016-03-28

Abstract

본 발명은 본체와, 상기 본체 내부에서 마련되는 보드테이블과, 상기 보드테이블로 번인보드를 로딩 및 언로딩하는 보드 로딩-언로딩부를 갖는 IC제품 분류기에 관한 것으로서, 상기 보드테이블에 인접하게 마련되는 적어도 하나의 DC테스트부; IC제품들을 적재하여 상기 DC테스트부의 인접 및 이격 영역으로 이동하는 로딩트레이; 상기 로딩트레이로부터 IC제품들을 상기 DC테스트부로 이동시키는 제1픽커; 상기 DC테스트부의 인접 및 이격 영역으로 왕복 이동하는 DC버퍼트레이; 상기 DC테스트부에서 DC테스트된 IC제품들을 픽업하며, 픽업된 IC제품들이 모두 양품일 경우 상기 보드테이블에 로딩된 번인보드로 이동시키고, 상기 픽업된 IC제품들 중 불량품이 포함되어 있을 경우 상기 DC버퍼트레이로 픽업된 IC제품들 모두를 이동시키는 한편, 상기 DC버퍼트레이로부터 양품의 IC제품을 상기 번인보드로 이동시키는 제2픽커; 상기 보드테이블의 인접 및 이격 영역으로 왕복 이동하는 번인양품트레이; 상기 번인양품트레이와 평행한 방향으로 왕복 이동하는 번인버퍼트레이; 상기 보드테이블에 로딩된 번인보드로부터 번인 테스트된 IC제품들을 픽업하며, 픽업된 IC제품들이 모두 양품일 경우 상기 번인양품트레이로 이동시키고, 상기 픽업된 IC제품들 중 불량품이 포함되어 있을 경우 상기 번인버퍼트레이로 픽업된 IC제품들 모두를 이동시키는 제3픽커; 상기 본체의 내부 일영역에 상기 트레이들과 평행한 방향으로 왕복 이동하도록 설치되는 DC리젝트트레이; 상기 DC버퍼트레이에 적재된 불량 IC제품을 상기 DC리젝트트레이로 이동시키는 한편, 상기 번인버퍼트레이에 적재된 양품 IC제품을 상기 번인양품트레이로 이동시키는 제4픽커를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이에 의해, 번인보드로부터 IC제품을 이동 분류시키기 위한 구성과 이동 과정을 최소화 및 최적화하여, 소팅시간 손실 없이 소팅 작업의 효율성이 극대화될 수 있는 IC제품 분류기가 제공된다.
또한, DC테스트부로부터 번인보드 등으로 IC제품을 이동 분류시키기 위한 구성과 이동 과정을 최소화 및 최적화하여, 소팅시간 손실 없이 소팅 작업의 효율성이 극대화될 수 있는 IC제품 분류기가 제공된다.
또한, 소팅 작업을 지속하면서 번인보드의 투입 및 배출이 가능함과 동시에, 형식이 다른 IC제품의 DC 테스트가 가능하도록 하여 소팅 작업 효율과 작업 편의성 및 생산성이 향상되는 IC제품 분류기가 제공된다.
더불어 IC제품을 픽업 및 픽업 해제하여 이동시키는 픽커의 이동 거리를 증가시키지 않고도 IC제품의 픽업량을 증가시켜서 소팅 속도 및 소팅량을 현격하게 향상 시킬 수 있는 IC제품 분류기가 제공된다.

Description

IC제품 분류기{IC Package sorter}

본 발명은 IC제품 분류기에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 소팅시간 손실 없이 소팅 작업의 효율성 및 작업 편의성과 생산성이 극대화될 수 있는 IC제품 분류기에 관한 것이다.

IC제품 분류기(IC sorter)는 M.B.T(Monitoring Burn-in tester)공정에서 IC(Integrated Circuit)제품에 대해 DC(Direct Current) 특성을 검사하여 양호한 IC제품을 번인 보드(burn-in board)에 수납하고, 번인 테스트가 완료된 IC제품을 번인보드에서 언로딩하여 검사 결과에 따라 등급별로 분류하여 수납하기 위한 장치이다. 이러한 IC제품 분류기에 관련된 선행기술로 대한민국 공개특허 제1998-0071613호(1998.10.26)가 도 1 내지 도 3과 같이 공지되어 있다.

도 1 내지 도 3에 도시된 바와 같이, 종래의 IC제품 분류기는 보드로더(2), 보드언로더(3), DC 리젝트부(4), 트레이 로딩부(5), DC 테스터(6), 턴 리턴 장치부(7), 와이 테이블(8), 빈 포켓부(9), 트레이 언로딩부(10) 및 소팅부(11)로 구성된다.

보드로더(2) 및 보드언로더(3)는 IC제품 분류기의 본체(1)의 상부 일 측에 설치되며, 보드로더(2) 및 보드언로더(3)의 타 측에 각각 DC 리젝트부(4)와 트레이 로딩부(5)가 설치된다. 트레이 로딩부(5)의 타 측 방향으로 DC 테스터(6), 턴 리턴 장치부(7), 와이 테이블(8)이 각각 설치되고, 턴 리턴 장치부(7)와 와이 테이블(8)의 타측에 빈 포켓부(9), 트레이 언로딩부(10) 및 소팅부(11)가 각각 설치되며, 본체(1)의 상부에 다수개의 툴(tool)이 설치된다.

다수개의 툴 중 1번 트랜스퍼(transfer) 툴(12)은 X축 방향으로 이동하여 트레이 로딩부(5)에서 IC제품(도시 않음)를 DC 테스터로 이동시켜서 DC 테스트되도록 하고, 2번 트랜스퍼(transfer) 툴(12)은 DC 테스트 결과 정상인 IC제품은 와이 테이블(8)에 위치한 번인보드(도시 않음)로 이송하고, 오류(fail)가 발생된 IC제품은 1번 트랜스퍼(transfer) 툴(12)에 의해 DC 리젝트부(4)로 이송하도록 설치된다.

또한, 3번 툴(14)은 X축 방향으로 이동하여 번인 테스트가 완료된 4개의 IC제품을 등급에 따라 빈포켓부(9)와 트레이 언로더부(10)로 각각 이송하도록 설치된다.

그리고 도 3과 같이, 4번 리무브 툴(15)에 의하여 보드부(33)의 번인보드에서 IC가 리무브포켓부(29)로 이송되고, 리무브포켓부(29)에 이송된 IC는 2번 트랜스퍼 툴(13)에 의하여 오프 트래이부로 이동 적재되고, DC불량품은 5번 툴(미도시)에 의해 리젝트부(30)로 이동 분류된다.

그런데, 이러한 종래 IC제품 분류기는 번인보드에 적재된 IC를 분류 이동하는 과정에서 리무브포켓부(29)를 이용함으로써, 번인보드의 IC를 리무브시키기 위해서는 4번 리무브 툴을 이용하여 번인보드로부터 리무브포켓을 향하는 과정과, 리무브포켓에서 2번 트랜스퍼 툴을 이용하여 오프 트래이부를 향하는 과정이 필요하게 됨으로써, 장치의 구성이 복잡해지고 IC 이동을 위한 툴(리무브 툴 및 트랜스퍼툴)의 증가 및 각 툴에 의한 이동시간 증가의 원인을 제공한다. 이에 의해, 소팅시간의 손실에 따른 소팅 작업의 비효율성이 발생하는 문제점이 있었다.

또한, DC테스터에서 불량 판정된 IC를 5번 툴을 이용하여 레젝트부로 이동시키는 과정에서는 DC테스터가 5번 툴 픽업 영역에 위치하였다가 다시 다른 IC를 적재하기 위한 테스트 위치로 이동해야 하기 때문에, 이 과정에서 DC 테스트가 이루어지지 않게 된다. 이에 의해, 소팅시간의 손실에 따른 소팅 작업의 비효율성이 발생하는 문제점이 있었다.

더불어 종래 IC제품 분류기는 보드로더(2) 및 보드언로더(3)가 모두 IC제품 분류기의 본체(1) 일 측에 설치되기 때문에, IC제품 분류기의 본체(1) 내에 번인 보드를 투입 및 배출하는 기능을 각각 독립적으로 분리하는 것이 현실적으로 매우 어렵다.

이에 의해 소팅 작업이 완료된 번인 보드가 배출된 후 다음, 번인 보드가 투입되는 과정에서 IC제품 분류기의 소팅 작업이 정지되어야 하고, 번인 보드를 수납 이송하는 랙(Rack)을 1개 단위로밖에 사용하지 못함으로써, 마지막 번인 보드에 대한 작업이 완료되면 새로운 랙(Rack)을 교체한 후 신규 번인 보드를 투입할 때 까지 IC제품 분류기의 소팅 작업이 정지되어야 한다. 따라서 작업 완료된 번인 보더의 배출과 새로운 번인 보드의 투입 과정과 랙(Rack) 교체 과정의 시간만큼 소팅 작업 시간의 손실이 발생함으로써, 소팅 작업이 매우 비효율적으로 이루어지는 문제점이 있었다.

또한, 종래 IC제품 분류기는 소팅 대상인 IC제품의 형식에 대응하는 단일의 DC 테스터(6)를 이용하기 때문에, 형식이 다른 IC제품의 DC 테스트를 위해서는 IC제품 분류기를 정지시킨 후 변경될 소팅 대상 IC제품의 형식에 대응하는 DC 데스터로 교체해야 한다. 이에 의해 교체 시간 낭비에 따른 작업 효율 및 작업 편의성을 포함하여 생산성이 극히 저하될 수밖에 없는 문제점이 있었다.

이와 더불어 종래 IC제품 분류기는 다수개 툴들에 마련되어 IC 제품을 픽업 및 픽업 해제하여 이동시키는 픽커들의 배열이 각 툴의 이동 방향과 평행한 방향으로 배열되어 있기 때문에, 한 번에 픽업할 수 있는 IC제품의 수가 제한적일 수밖에 없다. 전술한 바에 따르면, 예컨대, 3번 툴(14)의 경우 X축 방향으로 이동하여 번인 테스트가 완료된 4개의 IC제품을 등급에 따라 빈포켓부(9)와 트레이 언로더부(10)로 각각 이송하게 되는데, 4개 이상의 IC제품을 픽업하기 위해서는 3번 툴(14)에 4개 이상의 픽커를 툴의 이동 방향으로 평행하게 마련하고 증가된 픽커의 수에 대응하도록 트레이의 폭 방향으로 IC제품 수납공간도 확장되어야 하는 것이다. 하지만 이렇게 툴의 이동 방향과 평행한 방향으로 픽커의 수를 증가시키고 트레이의 폭 방향 수납공간을 확장하게 되면, 툴의 이동거리가 증가되면서 IC제품의 분류속도가 저하될 뿐만 아니라, IC제품 분류기의 전체적인 부피가 증가되는 문제점이 발생한다.

1. 대한민국 공개특허 제1998-0071613호(1998.10.26)

따라서 본 발명의 목적은, 번인보드로부터 IC제품을 이동 분류시키기 위한 구성과 이동 과정을 최소화 및 최적화하여, 소팅시간 손실 없이 소팅 작업의 효율성이 극대화될 수 있는 IC제품 분류기를 제공하는 것이다.

또한, DC테스트부로부터 번인보드 등으로 IC제품을 이동 분류시키기 위한 구성과 이동 과정을 최소화 및 최적화하여, 소팅시간 손실 없이 소팅 작업의 효율성이 극대화될 수 있는 IC제품 분류기를 제공하는 것이다.

또한, 소팅 작업을 지속하면서 번인보드의 투입 및 배출이 가능함과 동시에, 형식이 다른 IC제품의 DC 테스트가 가능하도록 하여 소팅 작업 효율과 작업 편의성 및 생산성이 향상되는 IC제품 분류기를 제공하는 것이다.

더불어 IC제품을 픽업 및 픽업 해제하여 이동시키는 픽커의 이동 거리를 증가시키지 않고도 IC제품의 픽업량을 증가시켜서 소팅 속도 및 소팅량을 현격하게 향상 시킬 수 있는 IC제품 분류기를 제공하는 것이다.

상기 목적은 본 발명에 따라, 본체와, 상기 본체 내부에서 마련되는 보드테이블과, 상기 보드테이블로 번인보드를 로딩 및 언로딩하는 보드 로딩-언로딩부를 갖는 IC제품 분류기에 있어서, 상기 보드테이블에 인접하게 마련되는 적어도 하나의 DC테스트부; IC제품들을 적재하여 상기 DC테스트부의 인접 및 이격 영역으로 이동하는 로딩트레이; 상기 로딩트레이로부터 IC제품들을 상기 DC테스트부로 이동시키는 제1픽커; 상기 DC테스트부의 인접 및 이격 영역으로 왕복 이동하는 DC버퍼트레이; 상기 DC테스트부에서 DC테스트된 IC제품들을 픽업하며, 픽업된 IC제품들이 모두 양품일 경우 상기 보드테이블에 로딩된 번인보드로 이동시키고, 상기 픽업된 IC제품들 중 불량품이 포함되어 있을 경우 상기 DC버퍼트레이로 픽업된 IC제품들 모두를 이동시키는 한편, 상기 DC버퍼트레이로부터 양품의 IC제품을 상기 번인보드로 이동시키는 제2픽커; 상기 보드테이블의 인접 및 이격 영역으로 왕복 이동하는 번인양품트레이; 상기 번인양품트레이와 평행한 방향으로 왕복 이동하는 번인버퍼트레이; 상기 보드테이블에 로딩된 번인보드로부터 번인 테스트된 IC제품들을 픽업하며, 픽업된 IC제품들이 모두 양품일 경우 상기 번인양품트레이로 이동시키고, 상기 픽업된 IC제품들 중 불량품이 포함되어 있을 경우 상기 번인버퍼트레이로 픽업된 IC제품들 모두를 이동시키는 제3픽커; 상기 본체의 내부 일영역에 상기 트레이들과 평행한 방향으로 왕복 이동하도록 설치되는 DC리젝트트레이; 상기 DC버퍼트레이에 적재된 불량 IC제품을 상기 DC리젝트트레이로 이동시키는 한편, 상기 번인버퍼트레이에 적재된 양품 IC제품을 상기 번인양품트레이로 이동시키는 제4픽커를 포함하는 것을 특징으로 하는 IC제품 분류기에 의해 달성된다.

여기서, 상기 DC테스트부와 상기 DC버퍼트레이는 상하 평행하게 배치되는 것이 바람직하다.

그리고, 상기 DC테스트부는 상기 제1픽커의 픽업해제 위치와 상기 제2픽커의 픽업위치에 대응하는 테스트영역과 상기 테스트영역에서 이격되는 테스트 대기영역으로 왕복 이동 가능한 복수의 DC테스트유닛을 갖는 것이 효과적이다.

이때, 상기 DC테스트유닛들은 각각 다른 형식의 IC제품에 대응하는 DC소켓들을 갖는 것이 보다 바람직하다.

한편, 상기 번인버퍼트레이와 평행한 방향으로 왕복 이동하도록 인접하는 적어도 하나의 빈트레이를 더 포함하며, 상기 제4픽커는 상기 번인버퍼트레이에서 불량의 IC제품을 픽업하여 상기 빈트레이로 이동시키는 것이 보다 효과적이다.

더불어, 적어도 상기 제1 내지 제3픽커들은 복수의 IC제품을 픽업 및 픽업 해제하는 복수의 픽커들을 가지며, 상기 픽커들의 배열 방향은 상기 제1 내지 제3픽커의 이동 방향에 교차하는 방향으로 배열되는 것이 바람직하다.

그리고, 상기 DC소켓과 상기 트레이들은 상기 제1 내지 제3픽커들의 배열 방향에 대응하는 길이방향의 장변과 상기 장변에 비해 짧은 폭 방향의 단변을 갖는 것이 효과적이다.

한편, 상기 보드테이블은 90도 내지 360도 회전 가능하게 설치되는 것이 보다 바람직하다.

또한, 상기 보드 로딩-언로딩부는 상기 본체의 양측에 각각 보드로딩부와 보드언로딩부가 배치되는 형태로 마련되는 것이 보다 효과적이다.

또는 상기 보드 로딩-언로딩부는 상기 본체의 일 측에 상하 위치관계를 두고 보드로딩부와 보드언로딩부가 배치되는 형태를 가지며, 상기 보드테이블은 상기 보드로딩부와 상기 보드언로딩부의 상하 위치에 대응하는 위치로 승강 가능하게 설치될 수도 있다.

본 발명에 따르면, 번인보드로부터 IC제품을 이동 분류시키기 위한 구성과 이동 과정을 최소화 및 최적화하여, 소팅시간 손실 없이 소팅 작업의 효율성이 극대화될 수 있는 IC제품 분류기가 제공된다.

또한, DC테스트부로부터 번인보드 등으로 IC제품을 이동 분류시키기 위한 구성과 이동 과정을 최소화 및 최적화하여, 소팅시간 손실 없이 소팅 작업의 효율성이 극대화될 수 있는 IC제품 분류기가 제공된다.

또한, 소팅 작업을 지속하면서 번인보드의 투입 및 배출이 가능함과 동시에, 형식이 다른 IC제품의 DC 테스트가 가능하도록 하여 소팅 작업 효율과 작업 편의성 및 생산성이 향상되는 IC제품 분류기가 제공된다.

더불어 IC제품을 픽업 및 픽업 해제하여 이동시키는 픽커의 이동 거리를 증가시키지 않고도 IC제품의 픽업량을 증가시켜서 소팅 속도 및 소팅량을 현격하게 향상 시킬 수 있는 IC제품 분류기가 제공된다.

도 1 내지 도 3은 종래 IC제품 분류기의 개략적 구성을 나타낸 도면,
도 4는 종래 IC제품 분류기의 사용 현장 레이아웃,
도 5a는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 IC제품 분류기의 평면도,
도 5b은 본 발명의 IC제품 분류기의 소팅 동작을 설명하기 위한 평면도,
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 IC제품 분류기의 평면도,
도 7은 본 발명에 따른 제1 내지 제3픽커를 간략하게 나타낸 사시도,
도 8a 및 도 8b는 본 발명에 따른 IC제품 분류기의 사용 현장 레이아웃.

이하 첨부된 도면을 참고하여 본 발명에 대해 상세하게 설명한다.

도면에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 IC제품 분류기는 번인보드(B)에 적재된 IC제품을 분류하기 위한 구성을 수용하는 본체(201)와, 번인 공정에서 전달된 번인보드(B)를 본체(201) 내부로 로딩 및 언로딩하는 보드 로딩-언로딩부(300)를 포함하며, 본체(201) 내부에는 본체(201) 로딩되는 번인보드(B)가 위치하는 보드테이블(210)과, 보드테이블(210)에 위치하는 번인보드(B)에 적재된 IC제품에 대해서 번인공정으로부터 전달된 데이터에 따라 양품/불량품 분류하는 한편, 번인보드(B)에 적재되어 있던 IC제품을 DC테스트하여 양품/불량품으로 분류하는 IC제품분류수단(215)이 구비되어 있다.

여기서 보드 로딩-언로딩부(300)는 도 5a에 도시된 바와 같이, 본체(201)의 양측에 각각 보드로딩부(301)와 보드언로딩부(401)가 마련된 형태일 수 있다.

이 경우, 보드로딩부(301)는 본체(201)의 일 측에 마련되며, 번인 공정에서 번인 테스트가 완료된 번인보드(B)들이 적재된 랙이 AGV 등에 의해 보드로딩부(301)로 전달되면, 번인보드(B)들을 순차적으로 본체(201)의 내부의 보드테이블(210)로 로딩시키는 역할을 수행한다.

그리고 보드언로딩부(401)는 본체(201)의 타 측에 마련되며, 본체(201) 내부의 DC테스트부(230)에서 양품으로 판정된 IC제품들이 보드테이블(210)에 위치하는 번인보드(B)에 적재 완료된 후, 보드언로딩부(401)를 통해 번인 공정 등의 외부 공정으로 배출시키는 역할을 수행한다.

여기서 보드로딩부(301)로부터 로딩된 번인보드(B)가 후술할 본체(201) 내부의 보드테이블(210)을 거쳐 보드언로딩부(401)로 이동하는 것은 본체(201)에 구비된 도시하지 않은 보드이동수단에 의해 이루어진다.

이처럼 본체(201)의 양측에 각각 보드로딩부(301)와 보드언로딩부(401)를 배치하게 되면, 번인보드(B)를 IC제품 분류기(101)의 본체(201) 내부로 투입 및 배출하는 기능이 각각 독립적으로 구현될 수 있다.

또는 보드 로딩-언로딩부(300)는 도6 에 도시된 바와 같이, 본체(201)의 일 측에 상하 위치관계를 두고 각각 보드로딩부(301)와 보드언로딩부(401)가 마련된 형태일 수도 있다.

이 경우, 상부에 위치하는 보드로딩부(301)에 의해 번인 공정에서 번인 테스트가 완료된 번인보드(B)들이 본체(201) 내부의 보드테이블(210)로 로딩되고, 보드테이블(210)에 위치하던 앞서 로딩되어 분류작업이 완료된 번인보드(B)는 하부에 위치하는 보드언로딩부(401)에 의해 본체 외부로 배출된다.

이처럼 본체(201)의 일 측에 상하 위치관계를 두고 각각 보드로딩부(301)와 보드언로딩부(401)가 마련되는 경우에도 번인보드(B)를 IC제품 분류기(101)의 본체(201) 내부로 투입 및 배출하는 기능이 각각 독립적으로 구현될 수 있다.

전자의 경우와 같이, 본체(201)의 양측에 각각 보드로딩부(301)와 보드언로딩부(401)를 배치되면, 실제 IC제품 분류기(101)들이 설치되는 현장에서의 레이아웃은 도 8a와 같이, 작업자와 AGV(Auto Guided Vehicle) 간의 이동 동선을 독립적으로 배치할 수 있다. 이에 의해 작업자와 AGV의 충돌 등과 같은 안전사고를 방지하여 작업 환경을 향상시킬 수 있다. 물론 후자의 경우도 도 8b와 같이, 작업자와 AGV(Auto Guided Vehicle) 간의 이동 동선을 독립적으로 배치할 수 있다.

그리고 전자의 본체(201)의 양측에 각각 보드로딩부(301)와 보드언로딩부(401)를 배치하는 경우와, 후자의 본체(201)의 일 측에 상하 위치관계를 두고 각각 보드로딩부(301)와 보드언로딩부(401)를 배치하는 경우 모두, 번인보드(B)를 IC제품 분류기(101)의 본체(201) 내부로 투입 및 배출하는 기능을 각각 독립적으로 구현함으로써, IC제품 분류기(101)의 소팅 작업이 진행되는 동안 보드로딩부(301)에서 번인보드(B)가 적재 수송된 랙(Rack)을 교체할 수 있는 시간적 여유를 확보할 수 있다.

즉 앞서 보드로딩부(301)에 위치한 랙에서 마지막 번인보드(B)가 본체(201) 내부로 로딩되어 소팅 작업이 진행되는 시간 동안 보드로딩부(301)에 새로운 번인보드(B)들이 적재된 랙이 공급되는 시간적 여유를 확보함으로써, IC제품 분류기(101)의 소팅 작업을 정지하지 않고 연속적으로 랙을 교체할 수 있는 것이다.

한편, 보드테이블(210)은 본체(201) 내부 일영역에서 X,Y축으로 이동 가능하면서 90도 내지 360도 회전될 수 있도록 위치함으로써, 번인보드(B)가 보드테이블(210)로 로딩 및 언로딩되는 경우 및 로딩된 번인보드(B)에서 IC제품의 추출 및 삽입이 요구되는 포켓의 위치에 맞추어 신속한 정렬을 이룰 수 있다.

그리고 전술한 바와 같이, 보드로딩부(301)와 보드언로딩부(401)가 본체(201)의 일 측에 상하 위치관계를 두고 마련되는 형태일 경우 보드테이블(210)은 보드로딩부(301)와 보드언로딩부(401)의 상하 위치에 대응하는 위치로 승강할 수 있도록 Z축 방향으로 이동 가능하게 설치될 수 있다. 이때, 보드테이블(210)은 반복적으로 보드로딩부(301)와 보드언로딩부(401)에 각각 대응할 수 있는 한 쌍으로 마련될 수도 있다.

이 보드테이블(210)에는 번인보드(B)에 적재된 IC제품을 가압하기 위한 보드소켓가압부재(미도시)가 마련될 수 있다.

IC제품분류수단(215)은 DC데스트 대상인 IC제품들을 적재하여 보드테이블(210) 인접영역으로 로딩하는 로딩트레이부(220)와, 로딩트레이부(220)로부터 전달된 IC제품들에 대해 DC데스트를 수행하여 양품의 IC제품을 보드테이블(210)의 번인보드(B)로 전달하기 위한 DC분류유닛(224)과, 보드테이블(210)의 번인보드(B)에 적재된 IC제품들에 대해서 번인 공정에서 전달된 데이터에 기초하여 양품을 분류하기 위한 번인분류유닛(237)과, DC분류유닛(224)에서 DC테스트 불량품으로 분류된 IC제품과 번인분류유닛(237)에서 불량품으로 분류된 IC제품을 처리하기 위한 리젝트유닛(245)을 포함한다.

로딩트레이부(220)는 본체(201)의 내부 일 측 영역에서 후술할 제1픽커 내지 제3픽커의 이동방향에 교차하는 방향으로 배치되어 있다. 이 로딩트레이부(220)에는 DC 테스트 대상인 IC제품들이 적재된 로딩트레이(221)가 제1픽커(261)의 픽업 영역과 이로부터 이격되는 영역으로 왕복이동 가능하게 마련되어 있다. 여기서 로딩트레이(221)들은 본체(201) 외부 또는 내부에 대기하다가 도시하지 않은 트레이이송수단(미도시)에 의해 로딩트레이부(220)로 이동될 수 있으며, 제1픽커(261)에 의해 IC제품들이 모두 인출된 로딩트레이(221)들은 제1픽커(261)의 픽업 영역으로부터 이격된 영역으로 이동하여 트레이픽커(275) 등의 트레이이송수단에 의해 외부로 배출되거나 본체 내부에서 재사용을 위한 적절한 위치로 이동될 수 있다.

DC분류유닛(224)은 로딩트레이(221)로부터 전달된 IC제품들에 대해 DC테스트를 수행하는 DC테스트부(230)와, 로딩트레이(221)에 적재된 IC제품을 DC테스트부로 이동시키는 제1픽커(261)와, DC테스트부(230)에서 DC테스트된 IC제품들 중 양품과 불량품이 혼재된 경우 혼재 IC제품군을 양품과 불량품으로 분류하기 위해 임시로 적재하는 DC버퍼트레이부(225)와, DC테스트부(230)에서 DC테스트된 IC제품들이 모두 양품일 경우 이 양품 IC제품군을 보드테이블(210)의 번인보드(B)로 이동시키는 한편 DC버퍼트레이부(225)에 적재된 혼재 IC제품군을 DC버퍼트레이부(225)로 이동시킨 후 DC버퍼트레이부(225)로 이동된 혼재 IC제품군에서 양품의 IC제품만을 보드테이블(210)의 번인보드(B)로 이동시키는 제2픽커(262)로 구성될 수 있다.

DC테스트부(230)는 보드테이블(210)에 인접하면서 제1픽커(261)의 픽업해제 위치와 제2픽커(262)의 픽업위치에 대응하는 위치의 테스트영역과 이 테스트영역에서 이격되는 테스트 대기영역으로 왕복 이동 가능하게 구비된 복수의 DC테스트유닛(231)으로 구비되는 것이 바람직하다.

이는 다른 형식의 IC제품에 대응하기 위한 것으로서 소팅 작업 과정에서 DC테스트 대상인 IC제품이 다른 형식의 IC제품으로 변경되더라도 선행되는 소팅작업을 정지하지 않고 변경된 IC제품의 형식에 대응하는 DC테스트유닛(231)을 보드테이블(210)의 인접영역으로 이동시켜서 지속적으로 소팅작업을 수행할 수 있도록 하기 위함이다.

이때, DC테스트유닛(231)들의 왕복이동은 도시하지 않은 이동레일을 따라 실린더 등의 구동수단의 구동력에 의해 왕복 이동할 수 있으며, 왕복 이동 방향은 제1픽커(261) 및 제2픽커(262)의 이동 방향에 교차하는 방향을 향하는 것이 본체(201) 내부의 레이아웃 구성에 바람직하다. 더욱 바람직하게는 DC테스트부(230)와 DC버퍼트레이부(225)를 상하 평행하게 배치하고 DC테스트유닛(231)들과 후술할 DC버퍼트레이부(225)의 DC버퍼트레이(226)가 이동레일의 상부영역을 따라 상하 평행한 방향으로 이동될 수 있도록 하는 것이 본체 내부의 공간 활용 및 관련 구성들을 간소화하는데 바람직하다.

그리고 각 DC테스트유닛(231)들은 복수의 DC소켓(233)들 구비하여 복수의 IC제품을 동시에 DC테스트할 수 있도록 한다. 이때, DC소켓(233)들은 도시하지 않은 DC 콘트롤러와 전기적으로 연결되며, 로딩트레이(221)에 탑재된 IC제품들의 DC테스트 위치를 정의하여 IC제품들이 DC소켓(233)들에 수납되면 DC테스트 프로그램을 구동하는 DC 콘트롤러와 원활하게 통전되도록 함으로써, 복수의 IC제품에 대해 신속한 DC테스트 진행이 이루어지도록 한다. 이 경우 DC소켓(233)들은 다수의 파라-모드(Para-mode)에 적합하도록 후술할 제1픽커(261) 및 제2픽커(262)의 픽커 수에 대응하는 배열방향을 갖는 것이 바람직하다.

또한 각 DC테스트부(230)에는 DC소켓(233)에 적재된 IC제품의 전기적 컨텍을 위한 DC소켓가압부재(미도시)가 마련될 수 있다.

DC버퍼트레이부(225)는 DC테스트부(230)와 인접한 영역에서 로딩트레이부(220)와 평행하게 배치될 수 있는데, 바람직하게는 전술한 바와 같이, DC테스트부(230)와 DC버퍼트레이부(225)를 상하 평행하게 배치될 수 있다.

이 DC버퍼트레이부(225)에는 DC테스트유닛(231)에서 DC테스트된 IC제품들 중 양품과 불량품이 혼재된 경우의 혼재 IC제품들이 제2픽커(262)에 의해 임시로 적재되는 DC버퍼트레이(226)가 마련되어 있다.

이때 DC버퍼트레이(226)는 제2픽커(262)의 이동 영역과 후술할 제4픽커(264) 이동 영역으로 왕복이동 가능하게 설치되는데, 전술한 바와 같이 DC테스트부(230)와 DC버퍼트레이부(225)를 상하 평행하게 배치된 상태에서는 DC버퍼트레이(226)가 이동레일의 상부영역을 따라 왕복 이동하도록 설치되는 것이 바람직하다.

이 DC버퍼트레이(226)에 적재된 혼재 IC제품들 중 양품의 IC제품들은 제2픽커(262)에 의해 보드테이블(210)에 위치하는 번인보드(B)로 다시 이동되고, 불량품인 IC제품들은 후술할 제4픽커(274)에 의해 후술할 리젝트트레이(251)로 이동된다.

여기서, DC테스트부(230)와 DC버퍼트레이부(225)는 전술한 바와 같이, 상하 평행하게 배치되는 것 외에도 상호 평행하게 이격되도록 배치될 수도 있다. 그리고 DC테스트부(230)와 DC버퍼트레이부(225)는 경우에 따라서 복수로 구비될 수도 있음은 물론이다.

한편, 제1픽커(261) 및 제2픽커(262)는 후술할 제3픽커(263)와 함께, 바람직하게는 하나의 이동 라인 선상에서 왕복 이동하도록 설치된다.

제1픽커(261)는 로딩트레이부(220)와 DC테스트부(230) 간을 왕복 이동하면서 로딩트레이(221)에 적재된 IC제품을 픽업하여 DC테스트유닛(231)의 DC소켓(233)에 픽업 해제하는 동작을 반복한다.

그리고 제2픽커(261)는 DC테스트부(230) 및 보드테이블(210)의 번인보드(B) 간을 왕복 이동하면서 DC테스트유닛(231)에서 테스트된 IC제품들이 모두 양품일 경우 이들 모두를 픽업하여 번인보드(B)로 이동시키는 한편, DC테스트유닛(231)에서 테스트된 IC제품들 중 양품과 불량품이 혼재할 경우 이들 혼재 IC제품들 모두를 DC버퍼트레이부(225)의 DC버퍼트레이(226)로 이동시킨 다음, DC버퍼트레이(226)에서 양품의 IC제품을 보드테이블(210)의 번인보드(B)로 이동시킨다.

이때, 제1픽커(261) 및 제2픽커(262)는 후술할 제3픽커(263)와 함께, 각각 복수의 픽커들로 구성된다. 이때, 픽커들은 그 배열방향이 도 7과 같이, 픽커의 이동 방향에 교차하는 방향으로 배열된 형태를 가지고 있다.

이는 픽커(P)들이 이동 방향에 대응하는 방향으로 배열되는 형태일 경우 제1 내지 제3픽커(261,262,263)의 이동거리가 길어지면서 픽커의 수를 증가시키는데 한계가 따르는 것을 해소하기 위한 것이다.

즉, 픽커들의 배열방향이 이동 방향에 교차하는 방향으로 배열되면 픽커의 수가 증가하여도 픽커의 이동거리는 증가하지 않고 보다 많은 수의 IC제품을 픽업 및 픽업 해제하여 이동시킬 수 있기 때문이다.

이러한 픽커(P)들의 배열방향은 로딩트레이(221)나 DC버퍼트레이(226) 및 DC테스트유닛(231)의 DC소켓(233)들의 형태도 각각의 이동 방향으로 길이(Y측 장변)를 확장하면서 IC제품의 수납공간을 확장하면서도 각 트레이들이나 DC소켓(233)의 폭 방향(X측 단변)이 축소될 수 있도록 한다. 이에 의해 DC테스트부(230)와 로딩트레이부(220)와의 간격을 축소하여 본체(201)의 부피를 최소화할 수 있고, 보다 많은 양의 IC제품을 신속하게 이동시키면서 소팅 작업을 수행할 수 있게 된다.

한편, 번인분류유닛(237)은 픽업번인보드(B)에 적재된 IC제품들에 대해서 번인 공정에서 전달된 데이터에 기초하여 양품과 불량품을 분류하기 위한 것으로서, 보드테이블(230)에 위치하는 번인보드(B)로부터 양품의 IC제품들만을 전달받는 번인양품트레이부(240)와, 번인보드(B)로부터 양품과 불량품이 혼재한 IC제품들을 전달받는 번인버퍼트레이부(242)와, 번인보드(B)에 적재된 IC제품들을 픽업하고 픽업된 IC제품의 양품 또는 불량품 혼재 유무에 따라 번인양품트레이부 또는 번인버퍼트레이부(242)로 이동시키는 제3픽커(263)를 포함한다.

번인양품트레이부(240)는 보드테이블(210) 인접한 본체(201) 내부 일영역에서 제3픽커(263)의 이동 방향에 교차하는 방향으로 타 트레이부와 평행한 방향으로 배치된다.

이 번인양품트레이부(240)에는 번인보드(B)로부터 전달되는 양품의 IC제품이 적재되기 위한 번인양품트레이(241)들이 제3픽커의 픽업 해제 영역과 이로부터 이격된 영역으로 왕복이동 가능하게 마련되어 있다.

여기서 번인양품트레이(241)들은 본체(201) 외부 또는 내부에 대기하다가 도시하지 않은 트레이이송수단(미도시)에 의해 번인양품트레이부(240)로 이동될 수 있으며, 제3픽커(263)에 의해 양품의 IC제품들이 모두 적재되면, 트레이픽커(275) 등의 트레이이송수단에 의해 외부로 배출되거나 본체 내부의 적절한 위치로 이동될 수 있다.

번인버퍼트레이부(242)는 번인양품트레이부(240)에 인접하여 평행하게 배치되며, 번인보드(B)로부터 전달되는 양품과 불량품이 혼재된 IC제품들이 적재되기 위한 번인버퍼트레이(243)들을 구비하고 있다.

번인버퍼트레이(243)는 제3픽커의 픽업 해제 영역과 후술할 제4픽커의 이동 영역 및 이들로부터 이격된 영역으로 왕복이동 가능하게 마련되어 있다. 이 번인버퍼트레이(243)에 적재되는 IC제품 중 양품의 IC제품은 제4픽커(274)에 의해 번인양품트레이(241)로 이동 분류되고, 불량품인 IC제품들은 제4픽커(274)에 의해 후술할 빈트레이부(253)로 이동 분류된다.

제3픽커(263)는 번인보드(B)와 번인양품트레이(241) 및 번인버퍼트레이(243) 간을 왕복 이동하면서 번인보드(B)에 적재되어 있던 IC제품들을 픽업하는데, 픽업된 IC제품들이 모두 양품일 경우 이들 모두를 번인양품트레이(241)로 이동시키는 한편, 번인보드(B)에서 픽업된 IC제품들이 양품과 불량품으로 혼재되어 있을 경우 이들 혼재 IC제품들 모두를 번인버퍼트레이(243)로 이동시킨 다음, 번인버퍼트레이(243)에서 양품의 IC제품을 번인양품트레이(241)로 이동시킨다.

이 제3픽커(263)는 전술한 바와 같이, 제1픽커(261) 및 제2픽커(262)들과 마찬가지로 복수의 픽커들로 구성되어 있으며, 픽커들의 배열방향이 픽커의 이동 방향에 교차하는 방향으로 배열된 형태를 가지고 있다.

한편, 리젝트유닛(245)은 DC분류유닛(224)에서 DC테스트 불량품으로 분류되어 DC버퍼트레이(226)에 적재되는 DC테스트 불량 IC제품과 번인분류유닛(237)에서 번인버퍼트레이(243)에 적재되는 번인테트스 불량 IC제품을 처리한다.

이를 위해서 리젝트유닛(245)은 DC버퍼트레이(226)에 적재된 DC테스트 불량 IC제품을 전달받는 DC리젝트트레이부(250)와, 번인버퍼트레이(243)에 적재된 번인테트스 불량 IC제품을 전달받는 적어도 하나의 빈(BIN)트레이부(253)와, DC버퍼트레이(226) 및 번인버퍼트레이(243)에 각각 적재된 불량 IC제품을 각각 DC리젝트트레이부(250) 및 빈트레이부(253)로 이동시키는 한편, 번인버퍼트레이(243)에 적재된 번인테스트 양품 IC제품은 번인양품트레이(241)로 이동시키는 제4픽커(274)를 포함한다.

DC리젝트트레이부(250)와 빈트레이부(253)는 본체(201)의 내부 타측에서 다른 트레이부들과 평행하게 배치되며, 각각 DC버퍼트레이(226) 및 번인버퍼트레이(243)로부터 제4픽커(274)에 의해 전달된 DC테스트 불량 IC제품과 번인테스트 불량 IC제품이 적재되는 DC리젝트트레이(251)와 빈트레이(255)를 가지고 있다. DC리젝트트레이(251)와 빈트레이(255)는 각각 제4픽커의 이동 영역 및 이로부터 이격된 영역으로 왕복이동 가능하게 마련되어 있다.

그리고 제4픽커(274)는 DC버퍼트레이부(225)와 번인양품트레이부 및 번인버퍼트레이부(242)와 DC리젝트트레이부, 빈트레이부(253) 간을 왕복이동 가능하게 설치되어 DC버퍼트레이(226)에 적재되어 있던 DC테스트 불량 IC제품을 DC리젝트트레이로 이동시키는 한편, 번인버퍼트레이(243)에 적재되어 있던 번인 테스트 불량 IC제품은 빈트레이(255)로 이동시키고, 번인버퍼트레이(243)에 적재되어 있던 번인 테스트 양품 IC제품은 번인양품트레이로 이동시킨다.

이 제4픽커는 다수의 픽커들로 구성되어 있으며, 이들 픽커들은 제4픽커의 이동방향에 대응하는 방향으로 배열되어 있는 것이 바람직하다.

여기서 DC리젝트트레이에 DC테스트 불량 IC제품이 모두 채워지고, 빈트레이(255)에 번인테스트 불량 IC제품이 모두 채워지면 트레이픽커(275) 등의 트레이 이동수단에 의해 IC제품이 채워진 해당 트레이는 외부로 배출될 수 있다.

그리고 본체(201)에는 추가의 빈트레이부(253') 및 번인양품트레이부에 인접하여 엠피티트레이(292)가 마련될 수 있으며, DC버퍼트레이부(225)에 인접하여 추가의 버퍼트레이(293)가 구비될 수 있다.

그리고 전술한 트레이부들 및 제1내지 제4픽커의 배치는 IC제품을 최적으로 소팅할 수 있는 범위에서 본체 내부에 다양한 형태로 배치될 수 있음은 물론이다.

이러한 구성을 갖는 본 발명에 따른 IC제품 분류기(101)의 소팅 과정을 도 5b를 참고하여 간략하게 살펴본다.

먼저, 보드로딩부(301)에 번인 공정에서 번인테스트가 완료된 IC제품들이 수납된 번인보드(B)들이 적재된 랙이 전달되고, 번인보드(B)가 적절한 방향을 가지고 본체(201) 내부의 보드테이블(210)로 로딩된다. 이때 번인보드(B)에 적재된 IC제품들의 번인데스트에 대한 양품과 불량품 판정 데이터는 IC제품 분류기(101)로 미리 전달되어 있다.

그리고 로딩트레이부(220)에는 DC테스트가 필요한 IC제품들이 수납된 로딩트레이(221)들이 공급되고, 이 로딩트레이(221)는 DC테스트부(230)에 인접 영역으로 로딩된다. 이때 DC테스트부(230)에는 DC테스트유닛(231)은 로딩트레이(221)에 적재된 IC제품에 형식에 대응하는 DC소켓(233)을 갖는 DC테스트유닛(231)이 위치하게 된다.

이때 DC버퍼트레이(226)와 번인양품트레이(241) 및 번인버퍼트레이(243)와 리젝트트레이(251)가 제1 내지 제4픽커의 이동 라인에 적절하게 인접하게 위치할 수 있다.

이 상태에서 로딩트레이(221)가 DC테스트부(230)의 인접 영역으로 로딩되면(①,②) 제1픽커(261)의 구동에 의해서 로딩트레이(221)에 적재된 IC제품들이 DC소켓(233)으로 전달되어 DC테스트가 수행된다(③,④).

그러면, DC버퍼트레이(226)는 DC테스트부 인접 영역, 예컨대, DC테스트유닛(231) 상부 인접영역에 위치한다(ⓐ). 이때, 번인보드(B) 적재되어 있던 IC제품들은 제3픽커에 의해 픽업되어 번인양품트레이(241) 또는 번인버퍼트레이(243)로 이동한다(⑦,⑧,ⓔ,ⓕ).

한편, DC테스트부(230)에서 DC소켓(233)에 컨텍된 IC제품들이 모두 양품으로 판정되면, 제2픽커(262)는 DC테스트 양품 IC제품들을 번인보드(B)로 이동시킨다(④⑤⑥). 반면에, DC테스트부(230)에서 DC소켓(233)에 컨텍된 IC제품들 중 적어도 어느 하나의 IC제품이 DC 테스트 불량으로 판정되면, 이들 양품과 불량이 혼재된 IC제품들은 모두 제2픽커(262)에 의해 DC버퍼트레이(226)로 이동한다(④,⑤,ⓑ). 이때, 번인보드(B) 적재되어 있던 IC제품들은 제3픽커에 의해 픽업되어 번인양품트레이(241) 또는 번인버퍼트레이(243)로 계속 이동되는 상태를 유지한다.

양품과 불량이 혼재된 IC제품들이 제2픽커(262)에 의해 DC버퍼트레이(226)로 이동되면, DC버퍼트레이(226)는 제4픽커(274)의 픽업 영역으로 이동하게 되고, 제4픽커는 DC버퍼트레이(226)에 적재된 DC테스트 불량 IC제품을 픽업하여 DC리젝트트레이로 이동시킨다(ⓒ,ⓓ).

이때, DC테스트부(230)의 DC소켓(233)에는 로딩트레이(221)에 적재되어 있는 새로운 IC제품이 제1픽커(261)에 의해 이동되고, DC테스트가 진행되는 과정에서 DC버퍼트레이(226)에 적재된 DC테스트 양품 IC제품은 제2픽커(262)에 의해 번인보드(B)로 전달된다.

이러한 과정의 반복에 의해 DC테스트부(230)에서는 지속적으로 IC제품에 대한 DC테스트가 수행되면서, 전체 양품의 IC제품은 DC테스트부(230)에서 바로 번인보드(B)로 이동하고 양품과 불량이 혼재한 IC제품들은 DC버퍼트레이(226)를 거쳐 양품과 불량품이 각각 번인보드와 DC리젝트트레이로 이동하게 된다.

이에 의해 DC테스트부로부터 번인보드 등으로 IC제품을 이동 분류시키기 위한 구성과 이동 과정을 최소화 및 최적화하여, 소팅시간 손실 없이 소팅 작업의 효율성이 극대화할 수 있다.

한편, 번인보드(B) 적재되어 있던 IC제품들은 제3픽커(263)에 의해 픽업되어 번인양품트레이(241) 또는 번인버퍼트레이(243)로 이동되는데, 이때, 제3픽커(263)에 픽업된 IC제품들이 모두 번인 테스트 양품인 경우에는 바로 번인양품트레이로 이동한다(⑦,ⓔ).

반면에, 제3픽커(263)에 픽업된 IC제품들에 번인테스트 양품과 불량품이 혼재되어 있으면, 이들 혼재된 IC제품들 모두를 번인버퍼트레이(243)로 이동시킨다(⑦,ⓕ).

그리고 번인버퍼트레이(243)로 이동된 IC제품 중 불량품은 제4픽커(274)에 의해서 빈트레이(255)로 이동하고(ⓖ,ⓗ), 양품은 제4픽커(274)에 의해서 번인양품트레이로 이동한다. 이때, 제3픽커(263)는 지속적으로 번인보드(B)에 적재된 IC제품을 번인양품트레이(241) 또는 번인버퍼트레이(243)로 이동시키는 작업을 수행하고 있다.

이에 의해, 번인보드(B)로부터 IC제품을 이동 분류시키기 위한 구성과 이동 과정을 최소화 및 최적화하여, 소팅시간 손실 없이 소팅 작업의 효율성이 극대화할 수 있다.

이와 같이, 본 발명에 따르면, DC테스트부로부터 번인보드 등으로 IC제품을 이동 분류시키기 위한 구성과 이동 과정을 최소화 및 최적화하여, 소팅시간 손실 없이 소팅 작업의 효율성이 극대화될 수 있는 IC제품 분류기가 제공된다.

또한, 번인보드로부터 IC제품을 이동 분류시키기 위한 구성과 이동 과정을 최소화 및 최적화하여, 소팅시간 손실 없이 소팅 작업의 효율성이 극대화될 수 있는 IC제품 분류기가 제공된다.

더불어 번인보드의 로딩 및 언로딩이 소팅 작업이 지속되는 과정에서 이루어지는 동시에, 형식이 다른 IC제품의 DC 테스트가 가능하도록 하여 소팅 작업 효율과 작업 편의성 및 생산성이 향상되는 IC제품 분류기가 제공된다.

또한 IC제품을 픽업 및 픽업 해제하여 이동시키는 픽커의 배열을 픽커 이동방향에 대해 교차하는 방향으로 배열함으로써, 픽커의 이동 거리를 증가시키지 않고도 IC제품의 픽업량을 증가시켜서 소팅 속도 및 소팅량을 현격하게 향상 시킬 수 있는 IC제품 분류기가 제공된다.

201 : 본체 210 : 보드테이블
220 : 로딩트레이부 221 : 로딩트레이
225 : DC버퍼트레이부 230 : DC테스트부
240 : 번인양품트레이부 242 : 번인버퍼트레이부
250 : 리젝트트레이부 253 : 빈트레이부
261 : 제1픽커 262 : 제2픽커
263 : 제3픽커 274 : 제4픽커
301 : 보드로딩부 401 : 보드언로딩부
B : 번인보드

Claims

본체와, 상기 본체 내부에서 마련되는 보드테이블과, 상기 보드테이블로 번인보드를 로딩 및 언로딩하는 보드 로딩-언로딩부를 갖는 IC제품 분류기에 있어서,
상기 보드테이블에 인접하게 마련되는 적어도 하나의 DC테스트부;
IC제품들을 적재하여 상기 DC테스트부의 인접 및 이격 영역으로 이동하는 로딩트레이;
상기 로딩트레이로부터 IC제품들을 상기 DC테스트부로 이동시키는 제1픽커(261);
상기 DC테스트부의 인접 및 이격 영역으로 왕복 이동하는 DC버퍼트레이;
상기 DC테스트부에서 DC테스트된 IC제품들을 픽업하며, 픽업된 IC제품들이 모두 양품일 경우 상기 보드테이블에 로딩된 번인보드로 이동시키고, 상기 픽업된 IC제품들 중 불량품이 포함되어 있을 경우 상기 DC버퍼트레이로 픽업된 IC제품들 모두를 이동시키는 한편, 상기 DC버퍼트레이로부터 양품의 IC제품을 상기 번인보드로 이동시키는 제2픽커(262);
상기 보드테이블의 인접 및 이격 영역으로 왕복 이동하는 번인양품트레이;
상기 번인양품트레이와 평행한 방향으로 왕복 이동하는 번인버퍼트레이;
상기 보드테이블에 로딩된 번인보드로부터 번인 테스트된 IC제품들을 픽업하며, 픽업된 IC제품들이 모두 양품일 경우 상기 번인양품트레이로 이동시키고, 상기 픽업된 IC제품들 중 불량품이 포함되어 있을 경우 상기 번인버퍼트레이로 픽업된 IC제품들 모두를 이동시키는 제3픽커(263);
상기 본체의 내부 일영역에 상기 번인양품트레이와 평행한 방향으로 왕복 이동하도록 설치되는 DC리젝트트레이;
상기 DC버퍼트레이에 적재된 불량 IC제품을 상기 DC리젝트트레이로 이동시키는 한편, 상기 번인버퍼트레이에 적재된 양품 IC제품을 상기 번인양품트레이로 이동시키는 제4픽커를 포함하는 것을 특징으로 하는 IC제품 분류기.
제1항에 있어서,
상기 DC테스트부와 상기 DC버퍼트레이는 상하 평행하게 배치되는 것을 특징으로 하는 IC제품 분류기.
제2항에 있어서,
상기 DC테스트부는 상기 제1픽커의 픽업해제 위치와 상기 제2픽커의 픽업위치에 대응하는 테스트영역과 상기 테스트영역에서 이격되는 테스트 대기영역으로 왕복 이동 가능한 DC테스트유닛들을 갖는 것을 특징으로 하는 IC제품 분류기.
제3항에 있어서,
상기 DC테스트유닛들은 각각 다른 형식의 IC제품에 대응하는 DC소켓들을 갖는 것을 특징으로 하는 IC제품 분류기.
제1항에 있어서,
상기 번인버퍼트레이와 평행한 방향으로 왕복 이동하도록 인접하는 적어도 하나의 빈트레이를 더 포함하며,
상기 제4픽커는 상기 번인버퍼트레이에서 불량의 IC제품을 픽업하여 상기 빈트레이로 이동시키는 것을 특징으로 하는 IC제품 분류기.
제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
적어도 상기 제1 내지 제3픽커들(261, 262, 263)은 복수의 IC제품을 픽업 및 픽업 해제하는 복수의 픽커들(P)을 가지며, 상기 픽커들(P)의 배열 방향은 상기 제1 내지 제3픽커들(261, 262, 263)의 이동 방향에 교차하는 방향으로 배열되는 것을 특징으로 하는 IC제품 분류기.
제4항에 있어서,
적어도 상기 제1 내지 제3픽커들(261, 262, 263)은 복수의 IC제품을 픽업 및 픽업 해제하는 복수의 픽커들(P)을 가지며, 상기 픽커들(P)의 배열 방향은 상기 제1 내지 제3픽커들(261, 262, 263)의 이동 방향에 교차하는 방향으로 배열되고,
상기 DC소켓, 상기 로딩트레이, 상기 DC버퍼트레이, 번인양품트레이, 번인버퍼트레이 및 DC리젝트트레이는 상기 제1 내지 제3픽커들의 배열 방향에 대응하는 길이방향의 장변과 상기 장변에 비해 짧은 폭 방향의 단변을 갖는 것을 특징으로 하는 IC제품 분류기.
제7항에 있어서,
상기 보드테이블은 90도 내지 360도 회전 가능하게 설치되는 것을 특징으로 하는 IC제품 분류기.
제8항에 있어서,
상기 보드 로딩-언로딩부는 상기 본체의 양측에 각각 보드로딩부와 보드언로딩부가 배치되는 형태로 마련되는 것을 특징으로 하는 IC제품 분류기.
제8항에 있어서,
상기 보드 로딩-언로딩부는 상기 본체의 일 측에 상하 위치관계를 두고 보드로딩부와 보드언로딩부가 배치되는 형태를 가지며,
상기 보드테이블은 상기 보드로딩부와 상기 보드언로딩부의 상하 위치에 대응하는 위치로 승강 가능하게 설치되는 것을 특징으로 하는 IC제품 분류기.