KR20120002139A - 기판 가공 장치 - Google Patents

기판 가공 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20120002139A
KR20120002139A KR1020100062876A KR20100062876A KR20120002139A KR 20120002139 A KR20120002139 A KR 20120002139A KR 1020100062876 A KR1020100062876 A KR 1020100062876A KR 20100062876 A KR20100062876 A KR 20100062876A KR 20120002139 A KR20120002139 A KR 20120002139A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
substrate
gas pipe
gas
boat
processing chamber
Prior art date
Application number
KR1020100062876A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101223489B1 (ko
Inventor
박병건
이기용
서진욱
정민재
홍종원
나흥열
양태훈
정윤모
강유진
장석락
이동현
이길원
박종력
최보경
백원봉
마이단축이반
소병수
정재완
Original Assignee
삼성모바일디스플레이주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성모바일디스플레이주식회사 filed Critical 삼성모바일디스플레이주식회사
Priority to KR1020100062876A priority Critical patent/KR101223489B1/ko
Priority to JP2010251589A priority patent/JP5930579B2/ja
Priority to US12/985,649 priority patent/US20120000425A1/en
Priority to TW100101161A priority patent/TWI517279B/zh
Publication of KR20120002139A publication Critical patent/KR20120002139A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101223489B1 publication Critical patent/KR101223489B1/ko

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45563Gas nozzles
    • C23C16/45565Shower nozzles
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/458Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for supporting substrates in the reaction chamber
    • C23C16/4582Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs
    • C23C16/4583Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs the substrate being supported substantially horizontally
    • C23C16/4586Elements in the interior of the support, e.g. electrodes, heating or cooling devices
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/46Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for heating the substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02612Formation types
    • H01L21/02617Deposition types
    • H01L21/0262Reduction or decomposition of gaseous compounds, e.g. CVD
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67109Apparatus for thermal treatment mainly by convection
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/67303Vertical boat type carrier whereby the substrates are horizontally supported, e.g. comprising rod-shaped elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/67303Vertical boat type carrier whereby the substrates are horizontally supported, e.g. comprising rod-shaped elements
    • H01L21/67309Vertical boat type carrier whereby the substrates are horizontally supported, e.g. comprising rod-shaped elements characterized by the substrate support
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6732Vertical carrier comprising wall type elements whereby the substrates are horizontally supported, e.g. comprising sidewalls

Abstract

본 발명은 다수의 기판을 동시에 박막을 형성하거나 열처리하기 위한 기판 가공 장치에 관한 것으로, 가공 공정을 위하여 가공 챔버로 반입되는 보트에 적층된 다수의 기판이 균일하게 가열되도록 함으로써, 상기 다수의 기판을 균일하게 가공할 수 있는 기판 가공 장치에 관한 것이다.
본 발명은 기판을 지지하기 위한 기판 지지대 및 하나 또는 다수의 분사구가 형성된 제 1 가스 배관을 포함하는 기판 홀더; 다수의 기판 홀더가 적층되며, 상기 제 1 가스 배관과 연결되는 제 2 가스 배관을 포함하는 보트; 상기 보트에 적층된 다수의 기판을 가공하기 위한 공간을 제공하는 가공 챔버; 상기 보트를 상기 가공 챔버의 내부로 반입 및 반출시키기 위한 이송부; 상기 가공 챔버의 외측에 위치하는 제 1 가열 수단; 및 상기 제 2 가스 배관과 연결되는 제 3 가스 배관을 포함하며, 상기 제 2 가스 배관으로 가열 또는 냉각된 가스를 공급하기 위한 가스 공급부를 포함하는 기판 가공 장치에 관한 것이다.

Description

기판 가공 장치{Apparatus for Processing Substrate}
본 발명은 다수의 기판을 동시에 박막을 형성하거나 열처리하기 위한 기판 가공 장치에 관한 것으로, 가공 공정을 위하여 가공 챔버로 반입되는 보트에 적층된 다수의 기판이 균일하게 가열되도록 함으로써, 상기 다수의 기판을 균일하게 가공할 수 있는 기판 가공 장치에 관한 것이다.
평판 표시 장치(Flat Panel Display device)는 경량 및 박형 등의 특성으로 인하여, 음극선관 표시 장치(Cathode-ray Tube Display device)를 대체하는 표시 장치로 사용되고 있으며, 대표적인 예로서 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display device; LCD)와 유기전계발광표시장치(Organic Light Emitting diode Display; OLED)가 있다. 이 중, 유기전계발광표시장치는 액정표시장치에 비하여 휘도 특성 및 시야각 특성이 우수하고 백라이트(Backlight)를 필요로 하지 않아 초박형으로 구현할 수 있다는 장점이 있다.
이와 같은 유기전계발광표시장치는 유기박막에 음극(Cathode)으로부터 주입되는 전자(Electron)과 양극(Anode)으로부터 주입되는 정공(Hole)이 재결합하여 여기자를 형성하고, 형성된 여기자로부터의 에너지에 의해 특정한 파장의 빛이 발생되는 현상을 이용한 표시 장치이며, 구동 방법에 따라 수동 구동(Passive matrix) 방식과 능동 구동(Active matrix) 방식으로 나뉘는데, 능동 구동 방식은 박막트랜지스터(Thin Film Transistor; TFT)를 사용하는 회로를 가진다.
상기와 같은 평판 표시 장치는 기판 상에 유기물 또는 무기물 등으로 전기적인 특성을 가지는 박막을 일정한 패턴으로 형성하거나, 형성된 박막에 열처리하는 공정을 거쳐 제조되며, 상기 박막을 형성하는 공정은 크게 타겟에 플라즈마를 인가하여 증착하는 스퍼터링(sputtering) 공정과 같은 물리 기상 증착(Physical Vapor Deposition; PVD) 방법과 소스 물질을 포함하는 반응 가스를 기판 상에 분사하고 화학적인 방법으로 기판 상에 막을 형성하는 화학 기상 증착(Chemical Vapor Deposition; CVD) 방법이 있다. 또한 화학 기상 증착 방법은 증착 방식에 따라 저압 화학 기상 증착(Low Pressure Chemical Vapor Deposition; LPCVD), 플라즈마 화학 기상 증착(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition; PECVD), 소스 물질을 원자층 단위로 형성하는 원자층 증착(Atomic Layer Deposition; ALD) 공정으로 나눠진다. 이 중 원자층 증착법은 상기 물리 기상 증착법과 비교하여 박막의 균일도 및 스텝 커버리지(step coverage)가 좋기 때문에 반도체 공정에서 사용 범위가 점점 넓어지고 있다.
화학적 기상 증착 방법의 경우 플라즈마를 이용하지 않는 경우에는 박막 형성 속도가 작기 때문에 한번에 여러 개의 기판을 증착 챔버에 투입하여, 여러 매수의 기판에 동시에 박막을 형성하는 배치 타입(Batch Type)구조의 설비가 사용되고 있다.
통상적으로, 저압 화학 기상 증착이나 원자층 증착법을 이용하여 다수의 기판에 동시에 박막을 형성하거나, 열처리 공정을 진행하기 위한 기판 가공 장치는 가공 공정을 위한 공정을 제공하는 가공 챔버, 다수의 기판이 적층된 보트(boat), 상기 가공 챔버의 외측에 위치하는 가열 수단 및 상기 보트를 상기 가공 챔버로 반입 및 반출하기 위한 이송부를 포함한다. 여기서, 상기 기판 가공 장치는 상기 보트에 적층된 기판의 처짐을 방지하기 위하여, 상기 기판이 안착되며, 상기 보트에 적층되는 기판 홀더를 더 포함할 수 있다.
상기와 같은 기판 가공 장치는 상기 가공 챔버의 외측에 위치하는 가열 수단에 의해 상기 가공 챔버의 내부를 가열하고 있으며, 다수의 기판이 적층된 보트를 수용하기 위해서는 상기 가공 챔버의 크기는 커지게 되므로, 상기 가공 챔버의 외측에 위치하는 가열 수단만으로는 상기 가공 챔버의 내부를 균일하게 가열하기 용이하지 않으므로, 상기 보트에 적층된 위치, 특히 기판의 중심부와 가장 자리부가 서로 상이한 온도로 가열되어, 상기 다수의 기판을 열처리에 소요되는 시간이 증가하고, 온도 불균일에 따른 성막 불균일 및 열처리 온도 편차에 의한 소자 특성 불균일이 발생하거나 심하면 기판에 뒤틈림(warpage)이 발생하여 이후 공정 진행이 불가능한 문제점이 발생 한다.
본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 보트에 적층된 다수의 기판이 균일하게 가열되도록 함으로써, 상기 보트에 적층된 다수의 기판이 균일하게 가공되도록 하는 기판 가공 장치를 제공함에 목적이 있다.
본 발명의 상기 목적은 기판을 지지하기 위한 기판 지지대 및 하나 또는 다수의 분사구가 형성된 제 1 가스 배관을 포함하는 기판 홀더; 다수의 기판 홀더가 적층되며, 상기 제 1 가스 배관과 연결되는 제 2 가스 배관을 포함하는 보트; 상기 보트에 적층된 다수의 기판을 가공하기 위한 공간을 제공하는 가공 챔버; 상기 보트를 상기 가공 챔버의 내부로 반입 및 반출시키기 위한 이송부; 상기 가공 챔버의 외측에 위치하는 제 1 가열 수단; 및 상기 제 2 가스 배관과 연결되는 제 3 가스 배관을 포함하며, 상기 제 2 가스 배관으로 가열 또는 냉각된 가스를 공급하기 위한 가스 공급부를 포함하는 기판 가공 장치에 의해 달성된다.
따라서, 본 발명에 따른 기판 가공 장치는 기판이 안착되는 기판 홀더 및 보트에 냉각 또는 가열된 가스가 이동할 수 있는 가스 배관이 형성되도록 하고, 상기 기판 홀더에 형성되는 가스 배관은 상기 가스가 분사될 수 있는 하나 또는 다수의 분사구를 형성하여, 상기 보트에 적층된 다수의 기판 표면에 가열 또는 냉각된 가스를 분사하도록 함으로써, 상기 다수의 기판을 균일하게 가열되며, 설정된 온도를 유지할 수 있도록 하여 상기 다수의 기판을 균일하게 가공할 수 있도록 하는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 기판 가공 장치를 나타낸 모식도이다.
도 2a 및 2b는 도 1의 A 영역을 확대한 도면이다.
도 3은 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 기판 가공 장치를 나타낸 모식도이다.
도 4a는 도 3의 B 영역을 확대한 도면이다.
도 4b는 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 기판 가공 장치의 기판 홀더를 나타낸 배면도이다.
본 발명의 상기 목적과 기술적 구성 및 이에 따른 작용 효과에 관한 자세한 사항은 본 발명의 바람직한 실시 예를 도시하고 있는 도면을 참조한 이하 상세한 설명에 의해 더욱 명확하게 이해될 것이다. 여기서, 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조 번호들은 동일한 구성 요소를 나타내는 것이며, 도면에 있어서 층 및 영역의 길이, 두께 등은 편의를 위하여 과장되어 표현될 수 있다.
(제 1 실시 예)
도 1은 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 기판 가공 장치를 나타낸 모식도이며, 도 2a는 도 1의 A 영역을 확대한 도면이다.
도 1 및 2a를 참조하면, 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 기판 가공 장치(100)는 기판(S)을 지지하며, 하나 또는 다수의 제 1 분사구(123)가 형성된 제 1 가스 배관(122)을 포함하는 제 1 기판 홀더(120), 다수의 제 1 기판 홀더(120)가 적층되며, 상기 제 1 가스 배관(122)과 연결되는 제 2 가스 배관(112)을 포함하는 제 1 보트(110), 상기 제 1 보트(110)에 적층된 다수의 기판(S)을 가공하기 위한 공간을 제공하는 제 1 가공 챔버(130), 상기 제 1 보트(110)를 상기 제 1 가공 챔버(130)의 내부로 반입 및 반출시키기 위한 제 1 이송부(140), 상기 제 1 가공 챔버(130)의 외측에 위치하는 제 1 가열 수단(150) 및 상기 제 2 가스 배관(112)과 연결되는 제 3 가스 배관(161)을 포함하며, 상기 제 1 가스 배관(122)으로 가열 또는 냉각된 가스를 공급하기 위한 제 1 가스 공급부(160)를 포함한다.
상기 제 1 보트(110)는 다수의 제 1 기판 홀더(120)가 적층되어, 상기 다수의 제 1 기판 홀더(120)에 안착된 다수의 기판(S)을 용이하게 이송할 수 있도록 함으로써, 상기 제 1 가공 챔버(130)에 의해 상기 다수의 기판(S)이 동시에 가공될 수 있도록 하기 위한 것으로, 상기 다수의 제 1 기판 홀더(120)와 결합되는 제 1 보트 몸체(111) 및 상기 제 1 보트 몸체(111)의 내측에 위치하며, 상기 제 1 기판 홀더(120)의 제 1 가스 배관(122)과 상기 제 1 가스 공급부(160)의 제 3 가스 배관(161)을 연결하는 제 2 가스 배관(112)를 포함한다.
여기서, 상기 제 1 가스 배관(122)과 제 2 가스 배관(112) 사이로 상기 제 1 가스 공급부(160)으로부터 공급되는 가열 또는 냉각된 가스가 누출되는 것을 방지하기 위하여, 상기 제 1 가스 배관(122)과 제 2 가스 배관(112) 사이에 제 1 연결 부재(113)가 위치할 수 있다.
또한, 본 발명의 제 1 실시 예는 상기 제 1 보트(110)에 수직 방향으로 상기 다수의 제 1 기판 홀더(120)가 적층되는 것으로 설명하고 있으나, 상기 제 1 보트(110)는 다수의 제 1 기판 홀더(120)이 수평 방향으로 적층되도록 형성될 수 있다.
상기 제 1 기판 홀더(120)는 가공 공정 동안 상기 기판(S)의 변형 및 상기 제 1 이송부(140)에 의한 상기 제 1 보트(110)의 이동 중 발생하는 상기 기판(S)의 파손을 방지하기 위한 것으로, 상기 기판(S)을 지지하기 위한 제 1 기판 지지대(121) 및 상기 제 1 기판 지지대(121)의 내측에 위치하며, 하나 또는 다수의 제 1 분사구(123)가 형성되는 제 1 가스 배관(122)을 포함한다.
여기서, 상기 하나 또는 다수의 제 1 분사구(123)는 상기 제 1 가스 공급부(160)으로부터 공급되는 가열 또는 냉각된 가스를 상측에 기판(S)이 안착된 상기 제 1 기판 지지대(121)의 하측 방향으로 분사하여, 해당 제 1 기판 홀더(120)의 아래에 적층된 제 1 기판 홀더(120)에 안착된 기판(S)의 표면으로 분사하기 위한 것으로, 도 2b에 도시된 바와 같이, 각 제 1 분사구(123)는 상기 제 1 기판 지지대(121)의 표면을 기준으로 일정 경사각을 가지는 방향으로 가스를 분사하기 위한 노즐(124)이 위치할 수 있다.
상기 제 1 가공 챔버(130)는 상기 제 1 보트(110)에 적층된 다수의 기판(S)을 동시에 가공하기 위한 것으로, 가공 공정 중 상기 다수의 기판(S)이 외부 공기와 접촉하는 것을 차단하기 위한 제 1 튜브(131) 및 상기 제 1 튜브(131)의 하부에 위치하며, 상기 제 1 보트(110)가 반입 및 반출되는 제 1 매니 폴드(manifold, 132)를 포함한다. 여기서, 상기 제 1 가공 챔버(130)는 상기 제 1 매니 폴드(132)의 하부에 위치하며, 상기 제 1 보트(110)가 상기 제 1 가공 챔버(130) 내부로 반입된 이후, 상기 제 1 가공 챔버(130)를 밀폐시키기 위하여 수평 방향으로 이동 가능한 제 1 셔터(133)를 더 포함할 수 있다.
상기 제 1 이송부(140)는 상기 제 1 매니 폴드(132)의 하부를 통해 상기 제 1 보트(110)를 상기 제 1 가공 챔버(130) 내부로 반입 및 반출시키기 위한 것으로, 상기 제 1 가열 수단(150)에 의해 가열된 상기 제 1 가공 챔버(130) 내부의 열 손실을 감소시키기 위하여, 하나 또는 다수의 제 1 단열판(141) 및 상기 제 1 단열판(141)를 지지하기 위한 제 1 단열 홀더(142)로 이루어진 제 1 단열부(143)을 포함할 수 있으며, 상기 제 1 가공 챔버(130)의 내부를 보다 균일하게 가열할 수 있도록, 상기 제 1 보트(110)과 제 1 단열부(143) 사이에 위치하는 제 2 가열 수단(144)를 더 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 기판 가공 장치(100)는 상기 제 1 가공 챔버(130) 내부의 열 손실을 보다 최소화하기 위하여, 상기 제 1 가공 챔버(130)의 제 1 튜브(131)와 제 1 이송부(140) 사이에 위치하는 제 2 튜브(135)를 더 포함할 수 있으며, 상기 제 2 튜브(135)는 상기 제 3 가스 배관(161)이 통과하는 제 1 홀(135a)이 형성되어, 상기 제 3 가스 배관(161)에 의해 외부 공기가 상기 제 1 튜브(131)의 내부로 유입되는 것을 방지하는 것이 바람직하다.
상기 제 1 가열 수단(150)은 상기 제 1 가공 챔버(130)의 외측에 위치하여 상기 다수의 기판(S)을 가공하는 가공 공정 동안 상기 제 1 가공 챔버(130)의 내부를 가열하기 위한 것으로, 상기 제 1 가공 챔버(130)의 측면 및 상면을 감싸는 퍼니스(furnace) 형상을 가질 수 있으며, 이와 달리 상기 제 1 가공 챔버(130)의 측면에 위치하는 제 1 가열 수단(150)과 상기 제 1 가공 챔버(130)의 상면에 위치하는 제 1 가열 수단(150)이 분리되어, 개별 구동 가능하도록 구성할 수도 있다.
상기 제 1 가스 공급부(160)은 상기 제 1 가공 챔버(130) 내부에 위치하는 상기 다수의 기판(S)이 균일하게 가열될 수 있도록, 상기 제 3 가스 배관(161)을 통해 가열된 가스를 공급하며, 상기 제 1 가열 수단(150)에 의해 상기 제 1 가공 챔버(130)의 내부가 과열되는 경우, 상기 다수의 기판(S)이 설정된 온도를 유지할 수 있도록 상기 제 3 가스 배관(161)을 통해 냉각된 가스를 공급할 수도 있다.
여기서, 상기 제 3 가스 배관(161)과 제 2 가스 배관(112) 사이로 상기 제 1 가스 공급부(160)으로부터 공급되는 가열 또는 냉각된 가스가 누출되는 것을 방지하기 위하여, 상기 제 2 가스 배관(112)과 제 3 가스 배관(161) 사이에 위치하는 제 2 연결 부재(미도시)를 더 포함할 수 있다.
결과적으로, 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 기판 가공 장치는 기판을 지지하기 위한 제 1 기판 홀더의 내측에 제 1 가스 배관이 형성되도록 하고, 상기 다수의 제 1 기판 홀더가 적층되는 제 1 보트의 내측에 상기 제 1 가스 배관과 제 1 가스 공급부의 제 3 가스 배관을 연결시키는 제 2 가스 배관이 형성되도록 하며, 상기 제 1 가스 배관에 하나 또는 다수의 제 1 분사구가 형성되도록 하여, 상기 제 1 가스 공급부로부터 공급되는 가열 또는 냉각된 가스가 적층된 기판의 표면으로 분사되도록 함으로써, 제 1 가공 챔버의 내부에 위치하는 상기 제 1 보트에 적층된 다수의 기판이 균일하게 가열될 수 있도록 한다.
(제 2 실시 예)
도 3은 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 기판 가공 장치를 나타낸 모식도이고, 도 4a는 도 3의 B 영역을 확대한 도면이며, 도 4b는 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 기판 가공 장치의 기판 홀더를 나타낸 배면도이다.
도 3, 4a 및 4b를 참조하면, 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 기판 가공 장치(200)는 제 2 가공 챔버(230), 기판(S)을 지지하는 제 2 기판 지지대(221) 및 상기 제 2 기판 지지대(221)의 배면에 밀착되며 하나 또는 다수의 제 2 분사구(223)가 형성된 제 3 배관(222)을 포함하는 제 2 기판 홀더(220), 다수의 제 2 기판 홀더(220)가 적층되는 제 2 보트 몸체(211) 및 상기 제 2 보트 몸체(211)에 밀착된 제 4 배관(212)를 포함하는 제 2 보트(210), 상기 제 2 가공 챔버(230)의 외측에 위치하는 제 3 가열 수단(250), 상기 제 2 보트(210)를 상기 제 2 가공 챔버(230)의 내부로 반입 및 반출시키기 위한 제 2 이송부(240) 및 상기 제 4 가스 배관(212)과 연결되는 제 5 가스 배관(261)을 포함하며 상기 제 3 가스 배관(222)으로 가열 또는 냉각된 가스를 공급하기 위한 제 2 가스 공급부(260)를 포함한다.
상기 제 2 보트(210)는 상기 제 2 가공 챔버(230)에 의해 상기 다수의 제 2 기판 홀더(220)에 안착된 다수의 기판(S)이 동시에 가공될 수 있도록 하기 위한 것으로, 상기 다수의 제 2 기판 홀더(220)와 결합되는 제 2 보트 몸체(211) 및 상기 제 2 보트 몸체(211)의 측면에 밀착되어 상기 제 2 기판 홀더(220)의 제 3 가스 배관(222)과 상기 제 2 가스 공급부(260)의 제 5 가스 배관(261)을 연결하는 제 4 가스 배관(212)를 포함한다.
여기서, 상기 제 3 가스 배관(222)과 제 4 가스 배관(212) 사이로 상기 제 2 가스 공급부(260)으로부터 공급되는 가열 또는 냉각된 가스가 누출되는 것을 방지하기 위하여, 상기 제 3 가스 배관(222)과 제 4 가스 배관(212) 사이에 위치하는 제 3 연결 부재(213)를 포함할 수 있다.
상기 제 2 기판 홀더(220)는 가공 공정 동안 상기 기판(S)의 변형 및 상기 제 2 이송부(240)에 의한 상기 제 2 보트(210)의 이동 중 발생하는 상기 기판(S)의 파손을 방지하기 위한 것으로, 상기 기판(S)을 지지하기 위한 제 2 기판 지지대(221) 및 상기 제 2 기판 지지대(221)의 배면에 위치하며, 하나 또는 다수의 제 2 분사구(223)가 형성되는 제 3 가스 배관(222)을 포함한다.
여기서, 상기 제 3 가스 배관(222)은 상기 제 2 보트(210)에 상기 제 2 기판 홀더(220)을 적층하는 로봇암(미도시)에 의해 파손되는 것을 방지하기 위하여, 상기 제 3 가스 배관(222) 사이의 거리(d)는 상기 로봇암의 폭 이상인 것이 바람직하다.
또한, 상기 하나 또는 다수의 제 2 분사구(223)는 상기 제 2 가스 공급부(260)으로부터 공급되는 가열 또는 냉각된 가스를 해당 제 2 기판 홀더(220)의 아래에 적층된 제 2 기판 홀더(220)에 안착된 기판(S)의 표면으로 분사하기 위한 것으로, 본 발명의 제 1 실시 예와 동일하게, 각 제 2 분사구(223)는 상기 제 2 기판 지지대(221)의 표면을 기준으로 일정 경사각을 가지는 방향으로 가스를 분사하기 위한 노즐(미도시)이 위치할 수 있다.
상기 제 2 가공 챔버(230)는 상기 제 2 보트(210)에 적층된 다수의 기판(S)을 동시에 가공하기 위한 것으로, 가공 공정 중 상기 다수의 기판(S)이 외부 공기와 접촉하는 것을 차단하기 위한 제 3 튜브(231) 및 상기 제 3 튜브(231)의 하부에 위치하는 제 2 매니 폴드(232)를 포함한다. 여기서, 상기 제 2 가공 챔버(230)는 상기 제 2 매니 폴드(232)의 하부에 위치하며, 상기 제 2 보트(210)가 상기 제 2 가공 챔버(230) 내부로 반입된 이후, 상기 제 2 가공 챔버(230)를 밀폐시키기 위하여 수평 방향으로 이동 가능한 제 2 셔터(233)를 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 제 2 가공 챔버(230)는 내부의 열 손실을 보다 최소화하기 위하여, 상기 제 2 가공 챔버(230)의 제 3 튜브(231)와 제 2 이송부(240) 사이에 위치하는 제 4 튜브(235)를 더 포함할 수 있으며, 상기 제 4 튜브(235)는 상기 제 5 가스 배관(261)이 통과하는 제 2 홀(235a)이 형성되어, 상기 제 5 가스 배관(261)에 의해 외부 공기가 상기 제 3 튜브(231)의 내부로 유입되는 것을 방지하는 것이 바람직하다.
본 발명의 제 2 실시 예에 따른 기판 가공 장치(200)는 상기 제 2 매니 폴드(232)에 반응 가스 공급부(300)로부터 반응 가스가 유입되는 유입 배관(301) 및 상기 기판(S)과 반응하지 않은 반응 가스를 배출하기 위하여 배기 펌프(400)와 연결되는 배출 배관(401)이 위치하도록 하고, 상기 유입 배관(301)과 연결되며 상기 제 2 보트(210)에 적층된 다수의 기판(S)에 상기 반응 가스를 분사하기 위한 가스 분사 수단(280)을 더 포함하여, 상기 다수의 기판(S)에 균일한 박막이 형성되도록 할 수 있다.
여기서, 상기 제 4 튜브(235)는 상기 유입 배관(301)와 연결되는 상기 가스 분사 수단(280)이 통과하기 위한 제 3 홀(235b)이 형성되도록 하여, 상기 제 2 이송부(240)와 매니 폴더(232) 사이의 공간에 의해 외부 공기가 상기 제 3 튜브(231) 내측으로 유입되는 것을 방지하는 것이 바람직하며, 상기 가스 분사 수단(280)은 상기 제 2 보트(210)에 기판(S)이 적층된 방향으로 상기 제 2 보트(210)의 종단부까지 연장되도록 하여, 상기 제 2 보트(210)에 적층된 다수의 기판(S)에 반응 가스가 균일하게 분사되도록 하는 것이 더욱 바람직하다.
또한, 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 기판 가공 장치(200)는 상기 제 2 가공 챔버(220)의 열 손실을 최소화하기 위하여, 상기 제 2 이송부(240)와 매니 폴드(232) 사이에 위치하는 제 5 튜브(270)를 더 포함할 수 있으며, 상기 제 2 가공 챔버(220)의 열 손실을 더욱 감소시키기 위하여, 상기 제 4 튜브(235)는 상기 제 2 이송부(240)와 제 5 튜브(270)가 중첩되는 영역만큼의 길이를 갖도록 하는 것이 바람직하다.
상기 제 2 이송부(240)는 상기 제 2 매니 폴드(232)의 하부를 통해 상기 제 2 보트(210)를 상기 제 2 가공 챔버(230) 내부로 반입 및 반출시키기 위한 것으로, 상기 제 3 가열 수단(250)에 의해 가열된 상기 제 2 가공 챔버(230) 내부의 열 손실을 감소시키기 위하여, 하나 또는 다수의 제 2 단열판(241) 및 상기 제 2 단열판(241)를 지지하기 위한 제 2 단열 홀더(242)로 이루어진 제 2 단열부(243)를 포함할 수 있으며, 상기 제 2 가공 챔버(230)의 내부를 보다 균일하게 가열할 수 있도록, 상기 제 2 보트(210)과 제 2 단열부(243) 사이에 위치하는 제 4 가열 수단(244)을 더 포함할 수 있다.
상기 제 3 가열 수단(250)은 상기 제 2 가공 챔버(230)의 외측에 위치하여 상기 다수의 기판(S)을 가공하는 가공 공정 동안 상기 제 2 가공 챔버(230)의 내부를 가열하기 위한 것으로, 상기 제 2 가공 챔버(230)의 측면 및 상면을 감싸는 퍼니스(furnace) 형상을 가질 수 있으며, 이와 달리 상기 제 2 가공 챔버(230)의 측면에 위치하는 제 3 가열 수단(250)과 상기 제 2 가공 챔버(230)의 상면에 위치하는 제 2 가열 수단(250)이 분리되어, 개별 구동 가능하도록 구성할 수도 있다.
상기 제 2 가스 공급부(260)은 상기 제 2 가공 챔버(230) 내부에 위치하는 상기 다수의 기판(S)이 균일하게 가열될 수 있도록, 상기 제 5 가스 배관(261)을 통해 가열된 가스를 공급하며, 상기 제 3 가열 수단(250)에 의해 상기 제 2 가공 챔버(230)의 내부가 과열되는 경우, 상기 다수의 기판(S)이 설정된 온도를 유지할 수 있도록 상기 제 5 가스 배관(261)을 통해 냉각된 가스를 공급할 수도 있다.
여기서, 상기 제 5 가스 배관(261)과 제 4 가스 배관(212) 사이로 상기 제 2 가스 공급부(260)으로부터 공급되는 가열 또는 냉각된 가스가 누출되는 것을 방지하기 위하여, 상기 제 4 가스 배관(212)과 제 5 가스 배관(261) 사이에 위치하는 제 4 연결 부재(미도시)를 더 포함할 수 있다.
결과적으로, 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 기판 가공 장치는 기판을 지지하기 위한 제 2 기판 홀더의 제 2 기판 지지대 배면에 하나 또는 다수의 제 2 분사구가 형성되는 제 3 가스 배관이 형성되도록 하고, 상기 다수의 제 2 기판 홀더가 적층되는 제 2 보트 몸체와 밀착하여 상기 제 3 가스 배관과 제 2 가스 공급부의 제 5 가스 배관을 연결시키는 제 4 가스 배관이 형성되도록 함으로써, 본 발명의 제 1 실시 예와 비교하여, 상기 제 2 보트 몸체 및 제 2 기판 지지대의 강도 약화를 방지하며, 상기 제 2 가스 공급부로부터 공급되는 가열 또는 냉각된 가스를 적층된 기판의 표면으로 분사하여 상기 제 2 보트에 적층된 다수의 기판이 균일하게 가열될 수 있도록 한다.
110, 210 : 보트 112, 212 : 제 2 가스 배관
120, 220 : 기판 홀더 122, 222 : 제 1 가스 배관
130, 230 : 가공 챔버 140, 240 : 이송부
150, 250 : 제 1 가열 수단 160, 260 : 가스 공급부
161, 261 : 제 3 가스 배관

Claims (17)

  1. 기판을 지지하기 위한 기판 지지대 및 하나 또는 다수의 분사구가 형성된 제 1 가스 배관을 포함하는 기판 홀더;
    다수의 기판 홀더가 적층되며, 상기 제 1 가스 배관과 연결되는 제 2 가스 배관을 포함하는 보트;
    상기 보트에 적층된 다수의 기판을 가공하기 위한 공간을 제공하는 가공 챔버;
    상기 보트를 상기 가공 챔버의 내부로 반입 및 반출시키기 위한 이송부;
    상기 가공 챔버의 외측에 위치하는 제 1 가열 수단; 및
    상기 제 2 가스 배관과 연결되는 제 3 가스 배관을 포함하며, 상기 제 2 가스 배관으로 가열 또는 냉각된 가스를 공급하기 위한 가스 공급부를 포함하는 기판 가공 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 가스 배관이 상기 기판 지지대의 내측에 위치하는 기판 가공 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 2 가스 배관이 상기 보트의 내측에 위치하는 기판 가공 장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 가스 배관과 제 2 가스 배관 사이에 위치하는 제 1 연결 부재를 더 포함하는 기판 가공 장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 2 가스 배관과 제 3 가스 배관 사이에 위치하는 제 2 연결 부재를 더 포함하는 기판 가공 장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 기판 홀더는 각 분사구에 위치하며, 상기 기판 지지대의 표면을 기준으로 일정 경사각을 가지는 노즐을 더 포함하는 기판 가공 장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 기판 홀더는 상기 제 1 가스 배관을 통해 공급된 가스를 다수의 방향으로 분사하는 노즐을 포함하는 기판 가공 장치.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 가스 배관은 서로 일정 거리 이격되어 위치하며,
    상기 일정 거리는 상기 기판 홀더를 상기 보트에 안착시키는 로봇암의 폭 이상인 것을 특징으로 하는 기판 가공 장치.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 이송부는 단열부를 더 포함하는 기판 가공 장치.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 단열부는 하나 또는 다수의 단열판 및 상기 단열판을 지지하기 위한 단열 홀더를 포함하는 기판 가공 장치.
  11. 제 9 항에 있어서,
    상기 이송부는 상기 단열부와 보트 사이에 위치하는 제 2 가열 수단을 더 포함하는 기판 가공 장치.
  12. 제 1 항에 있어서,
    상기 가공 챔버는 상기 다수의 기판에 외부 공기가 유입되지 않도록 하기 위한 제 1 튜브 및 상기 제 1 튜브의 하부에 위치하며, 상기 보트가 반입 및 반출되는 매니 폴드를 포함하는 기판 가공 장치.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 매니 폴드와 이송부 사이에 위치하며, 상기 제 3 가스 배관이 통과하는 제 1 홀이 형성되는 제 2 튜브를 더 포함하는 기판 가공 장치.
  14. 제 12 항에 있어서,
    상기 매니 폴드를 통과하며, 반응 가스를 공급하기 위한 제 4 배관과 연결되어 상기 다수의 기판에 반응 가스를 분사하기 위한 가스 분사 수단을 더 포함하는 기판 가공 장치.
  15. 제 12 항에 있어서,
    상기 매니 폴드를 통과하는 배기 배관과 연결되어, 상기 가공 챔버 내부를 진공 상태로 유지하기 위한 배기 펌프를 더 포함하는 기판 가공 장치.
  16. 제 12 항에 있어서,
    상기 제 1 튜브와 보트 사이에 위치하는 제 2 튜브를 더 포함하는 기판 가공 장치.
  17. 제 1 항에 있어서,
    상기 가공 챔버의 하부에 위치하며, 상기 가공 챔버를 밀폐시키기 위한 셔터를 더 포함하는 기판 가공 장치.
KR1020100062876A 2010-06-30 2010-06-30 기판 가공 장치 KR101223489B1 (ko)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100062876A KR101223489B1 (ko) 2010-06-30 2010-06-30 기판 가공 장치
JP2010251589A JP5930579B2 (ja) 2010-06-30 2010-11-10 基板加工装置
US12/985,649 US20120000425A1 (en) 2010-06-30 2011-01-06 Apparatus for Processing Substrate
TW100101161A TWI517279B (zh) 2010-06-30 2011-01-12 基材處理裝置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100062876A KR101223489B1 (ko) 2010-06-30 2010-06-30 기판 가공 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20120002139A true KR20120002139A (ko) 2012-01-05
KR101223489B1 KR101223489B1 (ko) 2013-01-17

Family

ID=45398727

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100062876A KR101223489B1 (ko) 2010-06-30 2010-06-30 기판 가공 장치

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20120000425A1 (ko)
JP (1) JP5930579B2 (ko)
KR (1) KR101223489B1 (ko)
TW (1) TWI517279B (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160082851A (ko) * 2014-12-29 2016-07-11 주식회사 비아트론 기판 열처리용 가스 급배기 시스템
KR20200047864A (ko) * 2018-10-25 2020-05-08 세메스 주식회사 기판 처리 장치

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5355590B2 (ja) * 2008-12-12 2013-11-27 芝浦メカトロニクス株式会社 基板冷却装置および基板処理システム
JP2012195565A (ja) * 2011-02-28 2012-10-11 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置、基板処理方法及び半導体装置の製造方法
KR101830976B1 (ko) * 2011-06-30 2018-02-22 삼성디스플레이 주식회사 원자층 증착장치
KR101364701B1 (ko) * 2011-11-17 2014-02-20 주식회사 유진테크 위상차를 갖는 반응가스를 공급하는 기판 처리 장치
KR101408084B1 (ko) * 2011-11-17 2014-07-04 주식회사 유진테크 보조가스공급포트를 포함하는 기판 처리 장치
JP5541274B2 (ja) * 2011-12-28 2014-07-09 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、基板処理方法及び記憶媒体
KR102063607B1 (ko) * 2013-03-12 2020-02-11 삼성전자주식회사 웨이퍼 처리 장치
JP2014204018A (ja) * 2013-04-08 2014-10-27 シンフォニアテクノロジー株式会社 被処理体の冷却ユニット
WO2014191621A1 (en) * 2013-05-29 2014-12-04 Beneq Oy Substrate carrier and arrangement for supporting substrates
FR3007194B1 (fr) * 2013-06-18 2015-06-12 Soitec Silicon On Insulator Procede de fabrication d'une pluralite de structures
DE102014104011A1 (de) * 2014-03-24 2015-09-24 Aixtron Se Vorrichtung zum Abscheiden von Nanotubes
TWI773910B (zh) * 2014-05-14 2022-08-11 美商應用材料股份有限公司 具有氣體分佈及個別泵送的批次固化腔室
US10113236B2 (en) * 2014-05-14 2018-10-30 Applied Materials, Inc. Batch curing chamber with gas distribution and individual pumping
CN109616434A (zh) 2015-02-25 2019-04-12 株式会社国际电气 衬底处理装置及方法、半导体器件的制造方法以及加热部
JP6630146B2 (ja) * 2015-02-25 2020-01-15 株式会社Kokusai Electric 基板処理装置、半導体装置の製造方法および加熱部
KR101682154B1 (ko) * 2015-04-14 2016-12-02 주식회사 유진테크 기판처리장치
KR101760316B1 (ko) * 2015-09-11 2017-07-21 주식회사 유진테크 기판처리장치
JP6475135B2 (ja) * 2015-09-29 2019-02-27 株式会社Kokusai Electric 半導体装置の製造方法、ガス供給方法及び基板処理装置並びに基板保持具
JP6700165B2 (ja) * 2016-12-22 2020-05-27 東京エレクトロン株式会社 成膜装置および成膜方法
JP6793031B2 (ja) * 2016-12-22 2020-12-02 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置および基板処理方法、ならびに基板処理システム
CN109014488A (zh) * 2018-09-12 2018-12-18 深圳市劲拓自动化设备股份有限公司 一种用于垂直回流炉的强制冷却装置及垂直回流炉
US11444053B2 (en) * 2020-02-25 2022-09-13 Yield Engineering Systems, Inc. Batch processing oven and method
US11688621B2 (en) 2020-12-10 2023-06-27 Yield Engineering Systems, Inc. Batch processing oven and operating methods

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4264393A (en) * 1977-10-31 1981-04-28 Motorola, Inc. Reactor apparatus for plasma etching or deposition
JPS61248517A (ja) * 1985-04-26 1986-11-05 Oki Electric Ind Co Ltd 化合物半導体薄膜の製造装置
JPH01137525U (ko) * 1988-03-11 1989-09-20
JPH07176490A (ja) * 1993-12-21 1995-07-14 Seiko Epson Corp Cvd装置
JPH11260728A (ja) * 1998-03-11 1999-09-24 Seiko Epson Corp 薄膜形成装置
NL1009171C2 (nl) * 1998-05-14 1999-12-10 Asm Int Waferrek voorzien van een gasverdeelinrichting.
US20010011424A1 (en) * 1999-05-14 2001-08-09 Beulens Sjaak Jacobus Johannes Wafer rack provided with a gas distribution device
JP2001319885A (ja) * 2000-03-02 2001-11-16 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置及び半導体製造方法
US6290491B1 (en) * 2000-06-29 2001-09-18 Motorola, Inc. Method for heating a semiconductor wafer in a process chamber by a shower head, and process chamber
US20030213561A1 (en) * 2001-03-12 2003-11-20 Selwyn Gary S. Atmospheric pressure plasma processing reactor
JP4276813B2 (ja) * 2002-03-26 2009-06-10 株式会社日立国際電気 熱処理装置および半導体製造方法
US20030192645A1 (en) * 2002-04-16 2003-10-16 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for creating circumferential process gas flow in a semiconductor wafer plasma reactor chamber
JP2004115896A (ja) * 2002-09-27 2004-04-15 Sekisui Chem Co Ltd 放電プラズマ処理装置及び放電プラズマ処理方法
US7537662B2 (en) * 2003-04-29 2009-05-26 Asm International N.V. Method and apparatus for depositing thin films on a surface
WO2004097913A1 (ja) * 2003-05-02 2004-11-11 Ishikawajima-Harima Heavy Industries Co., Ltd. 真空成膜装置及び真空成膜方法並びに太陽電池材料
US7235138B2 (en) * 2003-08-21 2007-06-26 Micron Technology, Inc. Microfeature workpiece processing apparatus and methods for batch deposition of materials on microfeature workpieces
JP2005256137A (ja) * 2004-03-15 2005-09-22 Fuji Electric Holdings Co Ltd 化学的気相成長装置
KR100852975B1 (ko) * 2004-08-06 2008-08-19 가부시키가이샤 히다치 고쿠사이 덴키 열처리 장치 및 기판의 제조 방법
US8211235B2 (en) * 2005-03-04 2012-07-03 Picosun Oy Apparatuses and methods for deposition of material on surfaces
JP4426518B2 (ja) * 2005-10-11 2010-03-03 東京エレクトロン株式会社 処理装置
JP4986516B2 (ja) * 2006-06-30 2012-07-25 京セラ株式会社 堆積膜形成装置および堆積膜の形成方法
JP2008034463A (ja) * 2006-07-26 2008-02-14 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置
JP4994197B2 (ja) * 2007-11-16 2012-08-08 株式会社日立国際電気 半導体装置の製造方法及び基板処理装置
JP4531833B2 (ja) * 2007-12-05 2010-08-25 株式会社日立国際電気 基板処理装置、半導体装置の製造方法及びクリーニング方法
TWI415206B (zh) * 2008-01-31 2013-11-11 Hitachi Int Electric Inc A substrate processing apparatus, and a method of manufacturing the semiconductor device
JP4985449B2 (ja) * 2008-02-13 2012-07-25 東京エレクトロン株式会社 成膜装置
JP5049302B2 (ja) * 2008-03-17 2012-10-17 東京エレクトロン株式会社 熱処理装置、熱処理装置の温度調整方法、及び、プログラム
JP5608333B2 (ja) * 2008-09-19 2014-10-15 株式会社日立国際電気 熱処理装置及び半導体装置の製造方法
KR101041143B1 (ko) * 2009-04-16 2011-06-13 삼성모바일디스플레이주식회사 기판 가공 장치

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160082851A (ko) * 2014-12-29 2016-07-11 주식회사 비아트론 기판 열처리용 가스 급배기 시스템
KR20200047864A (ko) * 2018-10-25 2020-05-08 세메스 주식회사 기판 처리 장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR101223489B1 (ko) 2013-01-17
US20120000425A1 (en) 2012-01-05
TWI517279B (zh) 2016-01-11
JP2012015476A (ja) 2012-01-19
TW201201305A (en) 2012-01-01
JP5930579B2 (ja) 2016-06-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101223489B1 (ko) 기판 가공 장치
KR101041143B1 (ko) 기판 가공 장치
US9267202B2 (en) Deposition apparatus and method of manufacturing organic light emitting diode display
KR101997808B1 (ko) 유기 재료를 위한 증발 소스
KR101983213B1 (ko) 유기 재료를 위한 증발 소스
WO2012053402A1 (ja) 蒸着装置、蒸着方法、並びに、有機エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法
US11293097B2 (en) Apparatus for distributing gas and apparatus for processing substrate including the same
JP2008019477A (ja) 真空蒸着装置
KR101094279B1 (ko) 가열 수단 및 이를 포함하는 기판 가공 장치
US20120094025A1 (en) Substrate Depositing System and Method
US8709837B2 (en) Deposition apparatus and method for manufacturing organic light emitting diode display using the same
KR20140104112A (ko) 평면 디스플레이용 화학 기상 증착장치
KR101983009B1 (ko) 증발원 및 이를 구비한 진공 증착 장치
KR20130068926A (ko) 증발원 및 이를 구비한 진공 증착 장치
KR20150055822A (ko) 평면디스플레이용 화학 기상 증착장치
KR101088828B1 (ko) 유기 el의 성막 장치 및 증착 장치
KR100685144B1 (ko) 유기전계발광소자 제작용 유기물 증착장치 및 그를 이용한유기물 증착방법
KR101232089B1 (ko) 직립장식 증착장치
KR101219061B1 (ko) 스핀노즐 유닛 사이의 간격을 줄인 가스분사 모듈 및 이를 구비하는 직립방식 증착장치
KR20120044590A (ko) 샤워헤드 방식 증착장치
KR101206833B1 (ko) 기판 증착 장치
KR101237772B1 (ko) 샤워헤드를 구비하는 직립방식 증착장치
KR20060115045A (ko) 올레드용 판넬 그 제조방법
KR20140104114A (ko) 평면 디스플레이용 화학 기상 증착장치
KR20150061854A (ko) 평판 디스플레이 장치용 증착장치 및 증착방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
N231 Notification of change of applicant
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20151230

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170102

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180102

Year of fee payment: 6

LAPS Lapse due to unpaid annual fee