KR20110123756A - 실리콘 웨이퍼의 텍스쳐화 방법, 이를 위한 처리액, 및 용도 - Google Patents

실리콘 웨이퍼의 텍스쳐화 방법, 이를 위한 처리액, 및 용도 Download PDF

Info

Publication number
KR20110123756A
KR20110123756A KR1020117020180A KR20117020180A KR20110123756A KR 20110123756 A KR20110123756 A KR 20110123756A KR 1020117020180 A KR1020117020180 A KR 1020117020180A KR 20117020180 A KR20117020180 A KR 20117020180A KR 20110123756 A KR20110123756 A KR 20110123756A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
treatment liquid
silicon wafer
additive
processing
treatment
Prior art date
Application number
KR1020117020180A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101643307B1 (ko
Inventor
이자리에네 마헤르
Original Assignee
게부르. 쉬미트 게엠베하 운트 코.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 게부르. 쉬미트 게엠베하 운트 코. filed Critical 게부르. 쉬미트 게엠베하 운트 코.
Publication of KR20110123756A publication Critical patent/KR20110123756A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101643307B1 publication Critical patent/KR101643307B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0236Special surface textures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0236Special surface textures
    • H01L31/02363Special surface textures of the semiconductor body itself, e.g. textured active layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/1804Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof comprising only elements of Group IV of the Periodic Table
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Weting (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)

Abstract

본 발명은 태양 전지 생산용 실리콘 웨이퍼의 처리 방법으로서, 처리액이 상기 실리콘 웨이퍼의 텍스쳐화(texturization)를 위하여 상기 실리콘 웨이퍼의 표면에 가해지는 처리 방법에 관한 것이다. 상기 처리액은 첨가제로서 에틸 헥산올 또는 시클로헥산올을 0.5 중량% 내지 3 중량% 범위의 함량으로 포함한다.

Description

실리콘 웨이퍼의 텍스쳐화 방법, 이를 위한 처리액, 및 용도{Method for texturing silicon wafers, treatment liquid therefor, and use}
본 발명은 청구항 1의 상위개념에 따른 태양 전지 생산용 실리콘 웨이퍼의 처리 방법 및 이 목적에 적합한 처리액에 관한 것이다. 또한, 본 발명은 상기 방법을 실시하기 위한 본 발명의 처리액의 용도에 관한 것이다.
예를 들면, DE 102007026081 A1은 태양 전지 생산에서의 실리콘 웨이퍼의 텍스쳐화를 개시한다. 이 목적을 위하여, 처리액이 웨이퍼 표면에 가해지며, 이 수단에 의하여 피라미드형 돌기들(pyramidal protrusions)이 실리콘 표면상에 형성된다. 이들은 빛이 실리콘 웨이퍼내 및 이후 태양 전지 내로의 커플링을 향상시키고 이와 동시에 에너지 수율(energy yield)을 향상시킨다. 이 처리액은 식각 방지제(etch inhibitor)로서 이소프로판올을 포함할 수 있다.
본 발명의 일 목적은 상기한 방법 및 이 목적에 적합한 처리액을 제공하는 것으로서, 이에 의하여 선행 기술에서 마주치는 문제점들이 제거될 수 있으며, 특히 더 빠르고 및 더 좋은 처리, 즉 텍스쳐화가 달성될 수 있다.
이 목적은 청구항 1에 한정된 특징을 갖는 방법, 청구항 5에 한정된 특징을 갖는 처리액, 및 청구항 8에 한정된 특징을 갖는 용도에 의하여 달성된다. 본 발명의 유리하고 바람직한 실시형태는 다른 청구항들의 주제이며 이하에서 더 상세하게 설명된다. 상기 청구항들의 텍스트는 발명의 설명의 내용을 명시적으로 참조한다.
상기 처리액, 유리하게는 알칼리성 처리액은 첨가제를 포함한다. 이 첨가제는 첨가된 식각 방지제일 수 있으며 본 발명에 따르면 에틸 헥산올 또는 시클로헥산올이다. 상기 두 첨가제는 유리하게는 상호 대체제로서 사용될 수 있지만, 몇몇 경우에는 이들은 함께 사용될 수 있다. 상기 처리액 중에서 이들 특정 첨가제들의 이점은 이들의 높은 끓는 점 때문에 본 발명의 일 실시형태에서 그렇지 않으면 가능한 것보다 더 높은 온도에서 상기 방법을 실시할 수 있다는 사실에 있다.
에틸 헥산올의 끓는 점이 182℃이고 시클로헥산올의 끓는 점은 161℃ 이기 때문에, 이들과 혼합된 처리액은 텍스쳐화를 실시하는 경우 더 높은 온도에서 사용되는 것이 명백히 가능하다. 선행기술의 첨가제인 이소프로판올의 82℃라는 낮은 끓는 점때문에, 불만족스러운 텍스쳐화 결과를 얻지 않기 위하여 부단한 보충을 필요로 하거나 또는 온도가 80℃ 또는 심지어는 더 낮게 유지되어야 하는데, 이 경우 처리, 즉 텍스쳐화를 실행하기 위한 절차가 상당히 길게 소요되며, 이는 또한 매우 치명적인 것으로 여겨질 수 있다. 본 발명의 첨가제를 사용함으로써 80℃ 이상, 예를 들면 약 90℃에서 텍스쳐화를 실행할 수 있다. 상기 처리 시간은 10분 내지 15분, 유리하게는 약 11분일 수 있다. 실리콘 웨이퍼는 처리액을 포함하는 배스(bath)로부터 제거되고 이어서 린스, 건조 및 후속 처리될 수 있다.
본 발명의 다른 실시형태에서, 실리콘 웨이퍼는 처리액 중에서 교반될 수 있으며, 이는 또한 텍스쳐화를 향상시키거나 또는 가속화한다. 이 경우 실리콘 웨이퍼와 처리액 사이의 상대적인 운동을 일으키기 위한 준비, 즉 처리액을 운동 상태로 유지하거나 또는 내부 유체 흐름을 나타내도록 하기 위한 준비가 이루어질 수 있다.
본 발명의 목적은 본 발명의 방법의 사용, 더 구체적으로는 태양 전지를 생산하는데 있어서 실리콘 웨이퍼를 처리를 실행하기 위하여 본 발명의 방법을 사용하는 것에 의하여 또한 달성된다.
본 발명의 처리액은 에틸 헥산올 또는 시클로헥산올 형태의 첨가제 이외에 추가적인 성분으로서 물을 포함할 수 있다. 첨가제는 0.3 중량% 내지 4 중량%, 특히 유리하게는 0.5 중량% 내지 3 중량% 범위의 함량으로 가해질 수 있다.
본 발명의 또 다른 실시형태에서, 상기 처리액은 추가적으로 KOH를 포함할 수 있다. 이의 함량은 1.5 부피% 내지 5 부피%, 유리하게는 2 부피% 내지 3 부피% 일 수 있다.
본 발명의 다른 독립적인 측면은 한 방법, 더 구체적으로는 상기한 것과 같은 방법을 실행하기 위한 본 발명의 처리액의 용도이다.
이들 및 다른 특징들은 하기의 특허청구범위에서 분명해지며, 여기서 개개의 특징은 본 발명의 어느 한 실시형태 및 다른 분야에서 서브컴비네이션의 형태로서 단독으로 또는 몇몇 개로 실현될 수 있으며 또한 유리하고 특허가능한 실시형태를 본래적으로 형성할 수 있는데, 이들에 대해서도 본 출원에서 보호가 청구된다.
본 발명의 공정의 실시와 관련해서는 마찬가지로 DE 102007026081 A1을 참조하며, 이의 관련된 주제는 참조에 의하여 본 설명에 포함된다. 상기 참고문헌에서, 도 1 및 2는 그러한 방법의 실시방법이 도시되어 있으며, 또한 따라서 거기에 언급된 공정 파라미터 및 양으로 마찬가지로 잘 실시될 수 있다.

Claims (8)

  1. 태양 전지 생산용 실리콘 웨이퍼의 처리 방법으로서,
    처리액이 상기 실리콘 웨이퍼의 텍스쳐화(texturization)를 위하여 상기 실리콘 웨이퍼의 표면에 가해지며, 상기 처리액은 첨가제를 포함하며, 상기 처리액은 에틸 헥산올 또는 시클로헥산올을 첨가제로서 포함하는 것을 특징으로 하는 처리 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 방법은 태양 전지 생산에서의 실리콘 웨이퍼의 통상적인 텍스쳐화 방법보다 더 높은 온도에서 실시되고, 상기 더 높은 온도는 80℃ 내지 95℃의 범위이고, 및 더 구체적으로는 약 90℃인 것을 특징으로 하는 처리 방법.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 처리액은 8분 내지 20분, 더 구체적으로는 10분 내지 13분 동안 상기 실리콘 웨이퍼에 가해지는 것을 특징으로 하는 처리 방법.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 실리콘 웨이퍼는 상기 처리액중에서 교반, 즉 상기 처리액에 대하여 상대적으로 운동하는 것을 특징으로 하는 처리 방법.
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 따른 처리 방법을 실시하기 위한 처리액으로서, 물 이외에 에틸 헥산올 또는 시클로헥산올을 첨가제로서 포함하는 것을 특징으로 하는 처리액.
  6. 제5항에 있어서, 상기 첨가제는 0.3 중량% 내지 4 중량%, 바람직하게는 0.5 중량% 내지 3 중량% 범위의 함량으로 가해지는 것을 특징으로 하는 처리액.
  7. 제5항 또는 제6항에 있어서, 상기 처리액이 KOH를 바람직하게는 1.5 부피% 내지 5 부피%, 더 구체적으로는 2 부피% 내지 3 부피% 추가적으로 포함하는 것을 특징으로 하는 처리액.
  8. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 따른 처리 방법을 실시하기 위한 제5항 내지 제7항 중 어느 한 항에 따른 처리액의 용도.
KR1020117020180A 2009-03-03 2010-03-03 실리콘 웨이퍼의 텍스쳐화 방법, 이를 위한 처리액, 및 용도 KR101643307B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102009012827.1 2009-03-03
DE102009012827A DE102009012827A1 (de) 2009-03-03 2009-03-03 Verfahren zur Texturierung von Siliziumwafern für Solarzellen und Behandlungsflüssigkeit dafür

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20110123756A true KR20110123756A (ko) 2011-11-15
KR101643307B1 KR101643307B1 (ko) 2016-07-27

Family

ID=42309596

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020117020180A KR101643307B1 (ko) 2009-03-03 2010-03-03 실리콘 웨이퍼의 텍스쳐화 방법, 이를 위한 처리액, 및 용도

Country Status (14)

Country Link
US (1) US8383523B2 (ko)
EP (1) EP2404325B1 (ko)
JP (1) JP5667092B2 (ko)
KR (1) KR101643307B1 (ko)
CN (1) CN102405529A (ko)
AU (1) AU2010220289B2 (ko)
CA (1) CA2754380A1 (ko)
DE (1) DE102009012827A1 (ko)
ES (1) ES2528632T3 (ko)
IL (1) IL214936A0 (ko)
MX (1) MX2011009243A (ko)
MY (1) MY157459A (ko)
SG (1) SG174226A1 (ko)
WO (1) WO2010100185A1 (ko)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102009012827A1 (de) * 2009-03-03 2010-10-07 Gebr. Schmid Gmbh & Co. Verfahren zur Texturierung von Siliziumwafern für Solarzellen und Behandlungsflüssigkeit dafür
CN102544206B (zh) * 2011-12-26 2014-02-26 霞浦吉阳新能源有限公司 一种用于晶体硅制绒的混醇工艺方法
CN102634851B (zh) * 2012-03-26 2016-03-02 北京吉阳技术股份有限公司 一种用于太阳电池制造的制绒方法
CN106119977B (zh) * 2016-08-29 2018-10-16 常州时创能源科技有限公司 单晶硅片制绒添加剂及应用

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0944114A2 (de) * 1998-03-18 1999-09-22 SIEMENS SOLAR GmbH Verfahren zum nasschemischen pyramidalen Texturätzen von Siliziumoberflächen
JP2005019605A (ja) * 2003-06-25 2005-01-20 Naoetsu Electronics Co Ltd テクスチャー形成用エッチング液
EP1826829A2 (en) * 2006-02-23 2007-08-29 Sanyo Electric Co., Ltd. Method for making irregularly surfaced substrate and method for fabricating photovoltaic device

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101143500B (zh) * 2000-06-21 2012-02-29 大日本印刷株式会社 层压体及其用途
DE10241300A1 (de) * 2002-09-04 2004-03-18 Merck Patent Gmbh Ätzpasten für Siliziumoberflächen und -schichten
DE102006051952A1 (de) 2006-11-01 2008-05-08 Merck Patent Gmbh Partikelhaltige Ätzpasten für Siliziumoberflächen und -schichten
DE102007026081A1 (de) 2007-05-25 2008-11-27 Gebr. Schmid Gmbh & Co. Verfahren zur Behandlung von Siliziumwafern, Behandlungsflüssigkeit und Siliziumwafer
CN101794071A (zh) * 2008-09-22 2010-08-04 台湾积体电路制造股份有限公司 半导体装置的制造方法
JP2010074102A (ja) * 2008-09-22 2010-04-02 Mitsubishi Electric Corp シリコン基板のエッチング方法、シリコン基板のエッチング液、シリコン基板のエッチング装置
JP2010093194A (ja) * 2008-10-10 2010-04-22 Sharp Corp 太陽電池の製造方法
DE102009012827A1 (de) * 2009-03-03 2010-10-07 Gebr. Schmid Gmbh & Co. Verfahren zur Texturierung von Siliziumwafern für Solarzellen und Behandlungsflüssigkeit dafür
US7910393B2 (en) * 2009-06-17 2011-03-22 Innovalight, Inc. Methods for forming a dual-doped emitter on a silicon substrate with a sub-critical shear thinning nanoparticle fluid
TWI445806B (zh) * 2009-10-14 2014-07-21 羅門哈斯電子材料有限公司 清潔及微蝕刻半導體晶圓之方法
JP2011205058A (ja) * 2009-12-17 2011-10-13 Rohm & Haas Electronic Materials Llc 半導体基体をテクスチャ化する改良された方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0944114A2 (de) * 1998-03-18 1999-09-22 SIEMENS SOLAR GmbH Verfahren zum nasschemischen pyramidalen Texturätzen von Siliziumoberflächen
JP2005019605A (ja) * 2003-06-25 2005-01-20 Naoetsu Electronics Co Ltd テクスチャー形成用エッチング液
EP1826829A2 (en) * 2006-02-23 2007-08-29 Sanyo Electric Co., Ltd. Method for making irregularly surfaced substrate and method for fabricating photovoltaic device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012519389A (ja) 2012-08-23
DE102009012827A1 (de) 2010-10-07
AU2010220289A1 (en) 2011-09-22
WO2010100185A1 (de) 2010-09-10
MY157459A (en) 2016-06-15
EP2404325B1 (de) 2014-12-03
EP2404325A1 (de) 2012-01-11
ES2528632T3 (es) 2015-02-11
CA2754380A1 (en) 2010-09-10
JP5667092B2 (ja) 2015-02-12
CN102405529A (zh) 2012-04-04
MX2011009243A (es) 2011-10-24
US8383523B2 (en) 2013-02-26
US20120034725A1 (en) 2012-02-09
IL214936A0 (en) 2011-11-30
SG174226A1 (en) 2011-10-28
KR101643307B1 (ko) 2016-07-27
AU2010220289B2 (en) 2015-06-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102315113B (zh) 一种具有低挥发性的太阳电池单晶硅制绒液及应用
CN104651949B (zh) 一种多晶硅片制绒添加剂
JP2012114449A (ja) シリコンウェハーのテクスチャ形成用の組成物及び方法
KR20110123756A (ko) 실리콘 웨이퍼의 텍스쳐화 방법, 이를 위한 처리액, 및 용도
JP2008182188A (ja) 電子材料用洗浄液および洗浄方法
WO2008145231A3 (de) Verfahren zur texturierung von siliziumwafern, entsprechende texturierungs-flüssigkeit und so texturierter siliziumwafer
CN103993360B (zh) 多晶硅片制绒辅助剂及其应用
CN105895714A (zh) 平滑修饰液及平滑修饰方法及异质结太阳能电池硅片及异质结太阳能电池
CN102191565B (zh) 一种单晶硅制绒液及其使用方法
CN102839427B (zh) 单晶硅片制绒无醇添加剂及其使用方法
CN110644049A (zh) 金刚线多晶硅片制绒添加剂及金刚线多晶硅片制绒刻蚀液
TWI635160B (zh) 紋理蝕刻溶液組成物及晶體矽晶圓紋理蝕刻方法
CN104094411A (zh) 用于形成纹理的蚀刻液
CN104178172A (zh) 一种对砷化镓太阳电池帽层进行选择性腐蚀的腐蚀液及其制备方法
JP5550441B2 (ja) テクスチャー形成用組成物
JP6157895B2 (ja) テクスチャー形成用組成物、シリコン基板の製造方法、及びテクスチャー形成用組成物調製キット
CN105802747B (zh) 一种太阳能光伏电池硅片制绒后清洗用的清洗剂
Li et al. High-lifetime wafer cleaning method using ozone dissolved in DIW/HF/HCl solution
KR101892624B1 (ko) 결정성 실리콘 웨이퍼의 텍스쳐 에칭액 조성물 및 텍스쳐 에칭방법
CN102400226B (zh) 一种多晶硅太阳能电池的制绒液
CN115602760B (zh) 一种硅片的制绒方法及太阳电池
CN103450981A (zh) 一种led衬底晶片加工切削液制备方法
Zhou et al. Investigation of Texturing for Mono-crystalline Silicon without IPA
JP6053765B2 (ja) Iii−v半導体材料で作られた製品の表面を化学的にパッシベートする方法およびその方法で得られた製品
CN105200412A (zh) 一种金属表面强力防腐溶胶及其制备方法

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20200114

Year of fee payment: 4