KR20110015387A - 전자부품 특성검사 분류장치 - Google Patents

전자부품 특성검사 분류장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 회전하는 원반에 전자부품을 쌍으로 차례로 공급하여 보유시키고 반송시켜서 검사하며, 검사 결과에 근거하여 전자부품을 분류하는 전자부품 특성검사 분류장치를 제공하는 것이다. 본 발명의 장치는, 포켓군을 가지고 전자부품(1)을 포켓 단위 또는 포켓쌍 단위로 보유반송할 수 있는 원반(7)과, 원반(7)을 포켓쌍 단위로 회전구동하는 원반구동기구(3)와, 포켓쌍 단위로 상기 포켓군에 전자부품(1)을 공급하는 전자부품 공급수단(8)과, 검사항목수에 대응하여 원반(7)의 회전운동영역에 배치되어 있고, 쌍의 전자부품(1)에 대응하는 전극유닛(4)을 구비하는 검사유닛군으로 이루어지며, 각 전자부품의 검사 데이터를 취득하는 검사수단과, 취득한 검사 데이터에 근거하여 전자부품(1)을 분류한 결과에 따라서 전자부품(1)을 분류하는 분류장치와, 원반(7)에 전자부품을 2개 동시에 공급하고 검사 가능하게 구동하며, 검사수단에 의해 검사 데이터를 취득하게 하여, 검사 결과에 근거한 분류에 따라서 분류장치에 분류시키는 제어장치(11)를 포함한다.

Description

전자부품 특성검사 분류장치{APPARATUS FOR CHARACTERISTIC INSPECTION AND SORTING OF ELECTRONIC COMONENT}
본 발명은 복수개의 전자부품을 병렬로 반송하고 검사하며 분류하는 전자부품 특성검사 분류장치에 관한 것이다. 더욱 상세히 말하면, 1개의 회전하는 반송용 원반에 복수개의 전자부품을 일시에 공급하고, 상기 원반에 의해 차례로 반송되어 오는 전자부품의 전기적 특성을 검사하며, 상기 검사 결과에 근거하여 전자부품의 분류를 가능하게 하는 전자부품 특성검사 분류장치에 관한 것이다.
종래 전자부품의 전기적 특성을 검사하여 분류하는 장치에서는, 전자부품을 수납하여 회전하는 원반에 전자부품을 1개씩 공급하여 반송하고, 1개씩 검사 등을 하는 방식이 일반적으로 사용되었다(예를 들어, 일본특허공개공보 2002-043194호).
전자기기의 노이즈를 감쇠 혹은 차단하기 위한 전자부품으로서, 특히 3단자 콘덴서나 LC 필터 등 복합소자의 수요가 급증하고 있다. 종래, 이 전자부품들의 전기적 특성을 검사하여 분류하는 장치는, 전자부품을 수납하여 회전하는 원반에 상기 전자부품을 1개씩 공급하여 검사용 전극까지 반송하는 수단이 일반적으로 사용되고 있다. 상술한 전자부품은 그 전체에 대한 검사가 필요하기 때문에, 처리속도 향상이 크게 요망되고 있다. 처리량을 증가시키기 위해서는, 상기 원반을 복수개 준비하고 회전시켜서 병렬로 처리하는 방법을 생각할 수 있다. 이는, 복수개의 원반이나 그들의 구동기구를 여러 세트 준비한다는 장치 규모의 확대에 불과하며, 상응하는 비용 부담이 요구된다.
본 발명의 주된 목적은, 종래 검사방법의 기본적인 구조를 그대로 두고, 하드웨어의 증대를 억제하며, 처리량을 늘릴 수 있는 전자부품 특성검사 분류장치를 제공하는데 있다.
본 발명의 다른 구체적인 목적은, 하나의 회전하는 원반에 전자부품을 동시 병렬적으로 공급하여, 반송, 검사, 분류를 하는 것을 가능하게 하는 전자부품 특성검사 분류장치를 제공하는데 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 전자부품 특성검사 분류장치는,
회전하는 원반에 전자부품을 차례로 공급하여 보유시키고 반송시켜서 검사유닛에서 검사하며, 상기 검사 결과에 근거하여 전자부품을 분류하는 전자부품 특성검사 분류장치에 있어서,
포켓군을 가지고 전자부품을 포켓 단위 또는 포켓쌍 단위로 보유반송할 수 있는 원반과,
상기 원반을 포켓쌍 단위로 회전구동하는 원반구동기구와,
포켓쌍 단위로 상기 포켓군에 전자부품을 공급하는 전자부품 공급수단과,
검사항목수에 대응하여 상기 원반의 회전운동영역에 배치되어 있고, 쌍의 전자부품에 대응하는 전극유닛을 구비하는 검사유닛군으로 이루어지며, 각 전자부품의 검사 데이터를 취득하는 검사수단과,
취득한 검사 데이터에 근거하여 전자부품을 분류한 분류 결과에 따라서 전자부품을 분류하는 상기 원반의 회전운동영역에 배치되어 있는 분류장치와,
상기 원반에 전자부품을 2개 동시에 공급하고 검사 가능하게 구동하며, 상기 검사수단에 의해 검사 데이터를 취득하게 하여, 검사 결과에 근거한 분류에 따라서 상기 분류장치에 분류시키는 제어장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 것이다.
본 발명에 따른 청구항 2에 기재된 전자부품 특성검사 분류장치는, 청구항 1에 기재된 전자부품 특성검사 분류장치에 있어서,
상기 검사수단은 검사하는 전기적 특성의 내용마다 전자부품을 2개 동시에 검사할 수 있고,
상기 분류장치는 상기 검사 결과에 근거하여 전자부품을 2개 동시에 각각의 분류에 근거하여 분류하는 것을 특징으로 하는 것이다.
본 발명에 따른 청구항 3에 기재된 전자부품 특성검사 분류장치는, 청구항 1에 기재된 전자부품 특성검사 분류장치에 있어서,
상기 전자부품 공급수단은 전자부품을 공급할 수 있는 상태를 검출하는 부품센서를 포함하고,
상기 원반구동기구는 상기 원반을 포켓 단위로 회전구동하는 기구를 더 구비하며,
상기 제어장치는 상기 부품센서의 출력에 근거하여 상기 원반의 회전을 제어함으로써, 포켓쌍 단위 또는 포켓 단위로 전자부품을 공급하게 하는 것을 특징으로 하는 것이다.
본 발명에 따르면, 전자부품을 공급하여, 회전하는 원반에 전자부품을 수납하고, 상기 원반에 의해 차례로 반송되어 오는 전자부품의 전기적 특성을 검사하여, 상기 검사 결과에 근거하여 전자부품을 분류하는 장치에 있어서, 원반 및 그 원반구동기구는 한쌍이면서, 전자부품을 2개 동시에 상기 원반에 공급하여 반송하는 것에 의한 병렬처리 효과를 얻을 수 있고, 고속으로 처리할 수 있는 전자부품 특성검사 분류장치를 제공할 수 있다.
도 1은 종래 전자부품을 1개씩 처리하는 것을 전제로 하는 전형적인 설계에 의한 전자부품 특성검사 분류장치(비교대상장치)를 나타내는 배치도이다.
도 2는 도 1의 장치에서의 반송용 원반의 구체적인 예로서, 50분할 포켓을 가지는 원반을 나타내는 평면도이다.
도 3은 본 발명에 따른 전자부품 특성검사 분류장치에서 사용하는 원반의 구체적인 예를 나타내는 부분확대 평면도로서, 전자부품 2개를 동시에 반송, 검사할 수 있는 원반에서의 포켓의 조합을 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명에 따른 전자부품 특성검사 분류장치의 구성도이다.
도 5는 원반의 포켓에 수납하는 전자부품의 자세를 설명하기 위한 사시도이다.
도 6은 본 발명에 따른 전자부품 특성검사 분류장치에서 전자부품을 1개씩 공급하는 경우의 공급순서 (A), (B), (C)를 나타내는 설명도이다.
도 7은 본 발명에 따른 전자부품 특성검사 분류장치에서 전자부품을 1개씩 공급하는 경우의 다른 공급순서 (D), (E), (F)를 나타내는 설명도이다.
본 발명을 설명하기 전에, 비교대상장치를 도 1 및 도 2를 참조하여 설명한다. 이 비교대상장치는, 전자부품 1개 반송용 원반을 이용하여 1개씩 검사하는 시스템이다. 도 1은 종래 전자부품을 1개씩 처리하는 것을 전제로 하는 전형적인 설계에 의한 전자부품 특성검사 분류장치를 나타내는 배치도이다. 도 2는 도 1의 장치에서의 반송용 원반의 구체적인 예로서, 50분할 포켓을 가지는 원반을 나타내는 평면도이다.
도 2에 나타내는 바와 같이, 원반(2)은 전자부품을 수납하기 위한 50개의 포켓(202)을 가지고, 포켓(202)은 원반(2)을 50분할하는 등분할 중심선(201) 위의 원반(2)의 외주부에 배치되어 있다. 원반(2)을 이용한 장치인 도 1에 있어서, 전자부품(1)을 1개씩 공급하기 위한 전자부품 공급수단인 일렬배출 부품공급장치(parts feeder; 6)로부터 1개의 전자부품(1)이 원반(2)의 포켓(202)으로 공급된다. 이 전달장치는 도시를 생략하였는데, 예를 들어, 픽 앤 플레이스(pick and place) 장치와 같은 통상의 전달장치를 이용한다. 검사유닛의 전극유닛(4)의 선단부에는 예를 들어, 도 5에 나타내는 전자부품(1)의 단자전극(101, 102, 103)에 접촉하기 위한 접촉부재가 조립된 콘택트 기구(도시생략)가 설치되어 있어서 전자부품(1)의 전기적 특성을 검사하기 위한 계측기에 접속(도시생략)되어 있다. 전극유닛(4)은 검사 항목(예를 들어, 용량, 내압, 누수전류 등)마다 전극유닛 상하이동판(5) 위에 설치되어 있다. 전자부품(1)이 전극유닛(4)의 위치로 보내져 오면, 전극유닛 상하이동판(5)의 동작에 의해 전극유닛(4)이 하강하여 검사를 실행한다. 검사가 완료되면, 전극유닛(4)은 상승한다. 또한, 검사 결과에 근거하여 전자부품(1)을 분류하기 위한 기구(도시생략)가, 전극유닛 상하이동판(5)으로부터 전자부품(1)의 공급위치 사이에 설치되어 있다. 원반(2)은 포켓(202)에 전자부품(1)의 공급이 완료, 검사가 완료, 분류가 완료된 시점에서 1분할의 간헐반송이 원반구동기구(3)에 의해 이루어진다. 이 동작이 반복실행된다.
도 5는 원반(2)의 포켓(202, 203)에 수납하는 전자부품(1)의 자세를 나타내는 도면이다. 전자부품(1)의 일례로서 3단자 콘덴서의 제1, 제2, 제3 단자전극(부호 101, 102, 103이 대응)을 나타낸다. 도 5의 (a)는 도시된 전자부품(1)의 자세 상태 그대로 원반(2)의 포켓(202)에 수납되는 것을 나타내고, 도 5의 (b)는 도시된 전자부품(1)의 자세 상태 그대로 원반(2)의 포켓(203)에 수납되는 것을 나타낸다. 한편, 이러한 구성은 본 발명에 따른 전자부품 특성검사 분류장치에서도 채용되고 있다. 본 발명에 따른 전자부품 특성검사 분류장치는 종래의 장치에서 사용되고 있는 기본적인 구성을 많이 답습하고 있다.
이어서, 본 발명에 따른 전자부품 특성검사 분류장치의 실시예를 설명한다.
본 발명에 따른 장치를 도 3 및 도 4를 참조하여 설명한다. 도 3은 본 발명에 따른 전자부품 특성검사 분류장치에서 사용하는 원반의 구체적인 예를 나타내는 부분확대 평면도로서, 전자부품을 2개 동시에 반송, 검사할 수 있는 원반에서의 포켓의 조합을 나타내고 있고, 도 4에 나타내는 2개한쌍 포켓을 가지는 원반(7)의 포켓부분을 확대하여 나타낸 도면이다. 도 3에 나타내는 바와 같이, 본 발명에 따른 전자부품 특성검사 분류장치에서는, 50등분할로 원반(7)을 분할한 등분할 중심선(701)에 평행하면서 등간격으로 원반(7)의 외주부에 전자부품(1)을 수납하기 위한 포켓을 2개 배치하고, 이것을 한쌍으로 한다. 즉, 50등분할의 첫번째 2개한쌍 포켓 중 포켓 1a가 제1 2개한쌍 포켓(702)이고, 1b가 제2 2개한쌍 포켓(703)이다. 마찬가지로, 두번째 2개한쌍 포켓을 2a 및 2b라고 하고, 50번째 2개한쌍 포켓을 50a 및 50b라고 표기하고 있다.
도 4에 나타내는 2열배출 부품공급장치(8)는 배출부의 선단에 스톱퍼판(도시생략)을 가지고 전자부품(1)을 2열로 정렬시키는 기능을 가지고 있다. 더욱이, 2열정렬의 간격은 원반(7)의 2개한쌍 포켓인 1a와 1b의 간격과 같게 되어 있다.
픽 앤 플레이스 유닛 등(도시생략)을 사용하여 2열배출 부품공급장치(8)의 선단부에 있는 2개의 전자부품(1)을 원반(7)의 2개한쌍 포켓인 1a와 1b에 동시에 공급한다. 공급이 완료되면, 원반(7)은 1분할 만큼 원반구동기구(3)에 의해 회전되어, 다음 포켓인 50a와 50b가 2열배출 부품공급장치(8)의 선단부 위치로 보내져 온다. 상술한 것과 마찬가지로 하여, 2개의 전자부품(1)이 각각의 포켓에 공급된다. 이와 같은 일련의 동작에 의해, 원반(7) 및 그 원반구동기구(3)는 한쌍이면서 전자부품(1)을 2개 동시에 반송하는 것이 가능해진다.
2개한쌍 포켓 원반(7)을 이용한 장치인 도 4에 있어서, 전자부품(1)을 2개씩 공급하기 위한 2열배출 부품공급장치(8)로부터 2개의 전자부품(1)이 원반(7)의 2개한쌍 포켓(702, 703)으로 공급된다(이 공급수단은 도시생략). 검사유닛은 전극유닛(4)을 구비하고, 전극유닛(4)의 선단부에는 예를 들어, 도 5에 나타내는 2개의 전자부품(1)(한쪽은 도시생략)의 단자전극(101, 102, 103)에 접촉하기 위한 접촉부재가 조립된 콘택트 기구(도시생략)가 2세트 설치되어 있어서, 전자부품(1)의 전기적 특성을 검사하기 위한 계측기에 각각 접속(도시생략)되어 있다. 전극유닛(4)은 검사 항목(예를 들어, 용량, 내압, 누수전류 등)마다 준비되고, 전극유닛 상하이동판(5) 위에 설치되어 있다. 전자부품(1)의 쌍이 전극유닛(4)의 위치(검사위치)로 보내져 오면, 전극유닛 상하이동판(5)의 동작에 의해 전극유닛(4)이 이탈위치로부터 하강하여 전자부품(1)에 접촉하고, 2개 동시에 검사를 실행한다.
검사가 완료되면, 전극유닛(4)은 상승한다. 또한, 이 검사 결과에 근거하여 2개의 전자부품(1)을 동시에 분류하기 위한 기구(도시생략)가 전극유닛 상하이동판(5)으로부터 전자부품(1)의 공급위치 사이에 설치되어 있다. 원반(7)은 2개한쌍 포켓(702, 703)에 전자부품(1)의 공급이 완료, 검사가 완료, 분류가 완료된 시점에서 1분할의 간헐반송이 원반구동기구(3)에 의해 이루어진다. 이 동작이 반복적으로 실행된다. 이와 같은 수단에 의해, 원반(7) 및 그 원반구동기구(3)는 한쌍이면서, 전자부품의 검사 및 분류를 2개 동시에 처리할 수 있게 된다.
본 발명에 따른 전자부품 특성검사 분류장치의 제어장치(11)는 상술한 일련의 동작 시퀀스를 통합적으로 실행시킨다. 제어 프로그램에 따라서, 단자(11a 내지 11e)로부터 각 부분으로의 제어신호를 발생하고, 원반(7)을 포켓쌍 단위의 이동피치(한편, 특수한 경우에 포켓 단위 전자부품의 장전을 위해서는 포켓 단위의 이동피치(도 3 참조))로 회전구동시키고, 전자부품 공급수단인 2열배출 부품공급장치(8)로부터 포켓쌍 단위로 전자부품을 공급하게 한다. 검사수단은 검사항목수에 대응하여 원반(7)의 회전운동영역에 배치되어 있고, 쌍의 전자부품에 대응하여 접촉위치와 이탈위치 사이를 이동할 수 있는 전극유닛(4)을 구비하는 검사유닛군으로 이루어지며, 각 전자부품의 검사 데이터를 취득하게 한다. 전극유닛(4)의 접촉위치와 이탈위치 사이의 이동은 원반의 이동과 동기되고 있다. 분류위치(10)에 배치되어 있는 분류장치는, 취득한 검사 데이터에 근거하여 각각의 전자부품을 분류한 분류결과에 따라서 전자부품을 각각 분류한다(분류위치(10)에 있는 분류함에 전자부품을 떨어뜨린다). 분류를 위한 연산은 제어장치(11)에서 이루어진다. 분류장치의 제어가 포켓 단위로 이루어지는 것은 이미 알려진 장치와 다르지 않다.
이어서, 상술한 것과 다른 사용형태를 도 6 및 도 7을 참조하여 설명한다. 2열배출 부품공급장치(8)에서의 어떠한 문제 혹은 2열배출 부품공급장치(8) 안의 전자부품(1)의 잔량이 적어진 것에 의해, 2열 중 1열의 선단부에 전자부품(1)이 공급되어 오지 않는 경우를 상정하여, 전자부품 공급수단인 2열배출 부품공급장치(8)의 선단부에 2개의 전자부품이 있는지, 1개의 전자부품만 공급할 수 있는 상태에 있을 때는 그것이 어느 쪽에 있는지를 검출하는 부품센서(공지의 광전센서, 도시생략)를 설치하고 있다.
원반(7)의 2개한쌍 포켓(702, 703)에 전자부품(1)을 공급할 타이밍에 있어서, 상기 센서의 검출에 의해 2개의 전자부품(1)이 있을 때는, 포켓(702, 703)의 2개한쌍분을 보내도록 원반(7)을 회전시켜서, 2개의 전자부품(1)을 동시에 2개한쌍 포켓(702, 703)에 공급한다. 원반(7)의 2개한쌍 포켓(702, 703)에 전자부품(1)을 공급할 타이밍에 있어서, 상기 센서의 검출에 의해 1개의 전자부품(1) 밖에 없을 때는, 2개한쌍 포켓(702, 703)에 전자부품이 1개씩 공급되도록 원반(7)의 회전피치를 제어한다. 그 제어방법은 아래와 같다.
도 6은 본 발명에 따른 전자부품 특성검사 분류장치에서 전자부품을 1개씩 공급하는 경우의 공급수단 (A), (B), (C)를 나타내는 설명도이고, 2열배출 부품공급장치(8)의 2열을 a, b라고 하였을 때, a열의 선단부에 전자부품(1)이 있고, b열에 전자부품(1)이 없는 경우에 대한 제어방법을 설명하기 위한 도면이다.
a열의 위치로 원반(7)의 포켓(1a)을 회전시킨다(도면 (A)). 이 상태에서 a열에 있는 전자부품(1)을 포켓(1a)에 도시하지 않는 공급수단에 의해 공급한다. 공급이 완료되고 원반(7)을 회전시키는 타이밍에, 상기 센서의 검출신호에 의해 b열에 전자부품(1)이 있는 경우에는, 원반(7)을 회전시키지 않고 b열의 전자부품(1)을 포켓(1b)에 도시하지 않은 공급수단에 의해 공급하고(도면 (B)), 상기 센서의 검출신호에 의해 a열에 전자부품(1)이 있는 경우에는, 원반(7)을 포켓(1b)이 a열 선단부에 위치하도록 회전시켜서, a열의 전자부품(1)을 포켓(1b)에 도시하지 않는 공급수단에 의해 공급한다(도면 (C)). 여기서, 도면 (B)에서, a열에도 전자부품(1)이 있는 경우에는, 포켓(1a)에는 이미 전자부품(1)이 공급되어 있기 때문에 무시한다. 또한, 도면 (C)에서, b열에도 전자부품(1)이 있는 경우에는 무시한다.
이어서, 도 7은 본 발명에 따른 전자부품 특성검사 분류장치에서 전자부품을 1개씩 공급하는 경우의 다른 공급수단 (D), (E), (F)를 나타내는 설명도이고, 2열배출 부품공급장치(8)의 2열을 a, b라고 하였을 때, b열의 선단부에 전자부품(1)이 있고, a열에 전자부품(1)이 없는 경우에 대한 제어방법을 설명하기 위한 도면이다.
b열의 위치로 원반(7)의 포켓(1a)을 회전시킨다(도면 (D)). 이 상태에서 b열에 있는 전자부품(1)을 포켓(1a)에 도시하지 않은 공급수단에 의해 공급한다. 공급이 완료되고 원반(7)을 회전시키는 타이밍에, 상기 센서의 검출신호에 의해 b열에 전자부품(1)이 있는 경우에는, 원반(7)을 포켓(1b)이 b열 선단부에 위치하도록 회전시켜서, b열의 전자부품(1)을 포켓(1b)에 도시하지 않은 공급수단에 의해 공급하고(도면 (E)), 상기 센서의 검출신호에 의해 a열에 전자부품(1)이 있는 경우에는, 원반(7)을 포켓(1b)이 a열 선단부에 위치하도록 회전시켜서, a열의 전자부품(1)을 포켓(1b)에 도시하지 않은 공급수단에 의해 공급한다(도면 (F)). 여기서, 도면 (E)에서, a열에도 전자부품(1)이 있는 경우에는, 포켓(1a)에는 이미 전자부품(1)이 공급되어 있기 때문에 무시한다. 또한, 도면 (F)에서 b열에도 전자부품(1)이 있는 경우에는 무시한다.
이상 설명한 바와 같이, 원반(7)의 회전을 제어함으로써 원반(7) 및 그 원반구동기구(3)는 한쌍이면서, 전자부품의 검사 및 분류를 2개 동시에 처리할 수 있게 된다. 이와 같은 제어를 하지 않고, 단순히 1분할마다 원반(7)을 간헐적으로 보내는 방법에서는, a열 또는 b열에 전자부품이 1개밖에 없는 경우, 원반(7) 안의 포켓에는 전자부품이 빠진 상태가 되어, 장치의 처리능력이 떨어지게 된다.
이상, 전자부품 2개 동시 병렬처리에 대하여 상세히 설명하였는데, 이 원리는 3개 이상 병렬하여 처리하는 경우에도 마찬가지로 적용할 수 있으며, 그와 같은 변형도 본 발명의 기술적 범위에 속한다.
1: 전자부품 101: 제1 단자전극
102: 제2 단자전극 103: 제3 단자전극
2: 원반 201, 701: 등분할 중심선
202, 203: 포켓 4: 검사유닛의 전극유닛
5: 전극유닛 상하이동판
6: 전자부품 공급수단(1열배출 부품공급장치)
7: 원반(2개한쌍 포켓원반)
702: 제1 2개한쌍 포켓 703: 제2 2개한쌍 포켓
8: 전자부품 공급수단(2열배출 부품공급장치)
10: 분류위치 11: 제어장치

Claims (3)

  1. 회전하는 원반에 전자부품을 차례로 공급하여 보유시키고 반송시켜서 검사유닛에서 검사하며, 상기 검사 결과에 근거하여 전자부품을 분류하는 전자부품 특성검사 분류장치에 있어서,
    포켓군을 가지고 전자부품을 포켓 단위 또는 포켓쌍 단위로 보유반송할 수 있는 원반과,
    상기 원반을 포켓쌍 단위로 회전구동하는 원반구동기구와,
    포켓쌍 단위로 상기 포켓군에 전자부품을 공급하는 전자부품 공급수단과,
    검사항목수에 대응하여 상기 원반의 회전운동영역에 배치되어 있고, 쌍의 전자부품에 대응하는 전극유닛을 구비하는 검사유닛군으로 이루어지며, 각 전자부품의 검사 데이터를 취득하는 검사수단과,
    취득한 검사 데이터에 근거하여 전자부품을 분류한 분류결과에 따라서 전자부품을 분류하는 상기 원반의 회전운동영역에 배치되어 있는 분류장치와,
    상기 원반에 전자부품을 2개 동시에 공급하고 검사 가능하게 구동하며, 상기 검사수단에 의해 검사 데이터를 취득하게 하여, 검사 결과에 근거한 분류에 따라서 상기 분류장치에 분류시키는 제어장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자부품 특성검사 분류장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 검사수단은 검사하는 전기적 특성의 내용마다 전자부품을 2개 동시에 검사할 수 있고,
    상기 분류장치는 상기 검사 결과에 근거하여 전자부품을 2개 동시에 각각의 분류에 근거하여 분류하는 것을 특징으로 하는 전자부품 특성검사 분류장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 전자부품 공급수단은 전자부품을 공급할 수 있는 상태를 검출하는 부품센서를 포함하고,
    상기 원반구동기구는 상기 원반을 포켓 단위로 회전구동하는 기구를 더 구비하며,
    상기 제어장치는 상기 부품센서의 출력에 근거하여 상기 원반의 회전을 제어함으로써, 포켓쌍 단위 또는 포켓 단위로 전자부품을 공급하게 하는 것을 특징으로 하는 전자부품 특성검사 분류장치.
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