JP5453011B2 - 電子部品特性検査分類装置 - Google Patents
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Description
従来、これらの電子部品の電気的特性を検査して分類する装置は、電子部品を収納して回転する円盤に上記電子部品を1個ずつ供給して検査用電極まで搬送する手段が一般的に使用されている。前述の電子部品は全数検査が必要である関係上、その処理速度の向上が強く要望されている。
処理量を増加させるためには、前記円盤を複数個用意して回転させ並列に処理する方法が考えられる。これは複数の円盤やそれらの駆動機構を複数組用意するという装置規模の拡大に過ぎず、相応のコスト負担が要求される。
本発明の主たる目的は、従来の検査方法の基本的な構造を温存し、ハードウエアの増大を抑えて、処理量を拡大することができる電子部品特性検査分類装置を提供することにある。
本発明のさらに具体的な目的は、ひとつの回転する円盤に電子部品を同時並列的に供給して、搬送、検査、分類を行うことを可能にする電子部品特性検査分類装置を提供することにある。
回転する円盤に電子部品を順次供給し、保持させ、搬送させて検査ユニットで検査し、前記検査の結果に基づき電子部品を分類する電子部品特性検査分類装置において、
ポケット群を有し、電子部品をポケット単位またはポケット対単位で保持搬送可能な円盤と、
前記円盤をポケット対単位で回転駆動する円盤駆動機構と、
ポケット対単位で前記ポケット群に電子部品を供給する電子部品供給手段と、
検査項目数に対応して前記円盤の回動域に配置されており、対の電子部品に対応する電極ユニットを備える検査ユニット群からなり、各電子部品の検査データを取得する検査手段と、
取得した検査データに基づいて電子部品を分類した分類結果に基づいて電子部品を分類する前記円盤の回動域に配置されている分類装置と、
前記円盤に電子部品を2個同時に供給し、検査可能に駆動し、前記検査手段により検査データを取得させ、検査の結果に基づく分類に従って前記分類装置に分類させる制御装置と、を含むことを特徴とするものである。
前記検査手段は、検査する電気的特性の内容毎に電子部品を2個同時に検査可能であり、
前記分類装置は、前記検査の結果に基づき電子部品を2個同時にそれぞれの分類に基づいて分類することを特徴とするものである。
前記電子部品供給手段は、電子部品の供給可能な状態を検出する部品センサを含み、
前記円盤駆動機構は、さらに前記円盤をポケット単位で回転駆動する機構を備え、
前記制御装置は、前記部品センサの出力に基づいて前記円盤の回転を制御することにより、ポケット対単位またはポケット単位で電子部品の供給をさせることを特徴とするものである。
図1は、従来の電子部品1個ずつの処理を前提とする典型的な設計による電子部品特性検査分類装置を示す配置図であり、図2は図1の装置の搬送用の円盤の具体例として50分割のポケットを有する円盤を示す平面図である。
検査ユニットの電極ユニット4の先端部には、例えば図5に示す電子部品1の端子電極101,102および103に接触するための接触子が組み込まれたコンタクト機構(図、省略)が設置されていて電子部品1の電気的特性を検査するための計測器に接続(図、省略)されている。
電極ユニット4は検査の項目(例えば、容量,耐圧,漏れ電流等)毎に電極ユニット上下動板5上に設置されている。
電子部品1が電極ユニット4の位置に送られてくると、電極ユニット上下動板5の動作によって電極ユニット4が下降して検査を実行する。
検査が完了すると、電極ユニット4は上昇する。又、検査の結果に基づいて電子部品1を分類するための機構(図、省略)が電極ユニット上下動板5から電子部品1の供給位置までの間に設置されている。
円盤2は、ポケット202に電子部品1の供給が完了、検査が完了、分類が完了した時点で1分割の間欠搬送が円盤駆動機構3により行われる。この動作が繰り返し実行されていく。
本発明による装置を図3および図4を参照して説明する。
図3は、本発明による電子部品特性検査分類装置で使用する円盤の具体例を示す部分拡大平面図であって、電子部品を2個同時搬送、検査が可能な円盤におけるポケットの組合せを示しており、図4に示す二個一対ポケットを有する円盤7のポケット部分を拡大して示した図である。
図3に示すように、本発明による電子部品特性検査分類装置では、50等分割に円盤7を分割した等分割中心線701に平行に且つ等間隔に円盤7の外周部に電子部品1を収納するためのポケットを2個配置し、これを一対とする。この記述による二個のポケットを一対としたポケットの単位を「ポケット対単位」としている。
すなわち、50等分割の1番目の一対のポケットの、ポケット1aが二個一対ポケットその1の702であり1bが二個一対ポケットその2の703である。同様に、2番目の二個一対のポケットを2aおよび2bとし、50番目の二個一対のポケットを50aおよび50bと表記してある。
図4に示す二列排出パーツフィーダ8は、排出部の先端にストッパ板(図、省略)を有し電子部品1を2列に整列させる機能を有している。さらに、2列整列の間隔は円盤7の二個一対ポケットである1aと1bの間隔と等しくなっている。
円盤7の全てのポケットのポケット一個一個を「ポケット単位」と呼ぶことにする。
検査ユニットは電極ユニット4を備え、電極ユニット4の先端部には、例えば図5に示す2個の電子部品1(一方は図示を省略)の端子電極101,102および103に接触するための接触子が組み込まれたコンタクト機構(図、省略)が2セット設置されていて、電子部品1の電気的特性を検査するための計測器に各々接続(図、省略)されている。
電極ユニット4は、検査の項目(例えば、容量,耐圧,漏れ電流等)毎に準備され、電極ユニット上下動板5上に設置されている。
電子部品1の対が電極ユニット4の位置(検査位置)に送られてくると、電極ユニット上下動板5の動作によって電極ユニット4が離脱位置から下降して電子部品1に接触、2個同時に検査を実行する。
検査手段は、検査項目数に対応して円盤7の回動域に配置されており対の電子部品に対応して接触位置と離脱位置間を移動できる電極ユニット4を備える検査ユニット群からなり、各電子部品の検査データを取得させる。電極ユニット4の接触位置と離脱位置間の移動は、円盤の移動と同期させられている。
分類位置10に配置されている分類装置は、取得した検査データに基づいてそれぞれの電子部品を分類した分類結果に基づいて、電子部品をそれぞれ分類する(分類位置10にある分類箱に電子部品を落下させる)。分類のための演算は制御装置11で行われる。分類装置の制御はポケット単位で行われることは既知の装置と異ならない。
円盤7の二個一対ポケット702および703に電子部品1を供給すべきタイミングにおいて、前記センサの検出により1個の電子部品1しかない時には、2個一対ポケット702および703に電子部品を1個ずつ供給されるように円盤7の回転ピッチを制御する。この制御の方法は以下の通りである。
101 端子電極1
102 端子電極2
103 端子電極3
2 円盤
201、701 等分割中心線
202、203 ポケット
4 検査ユニットの電極ユニット
5 電極ユニット上下動板
6 電子部品供給手段(一列排出パーツフィーダ)
7 円盤(二個一対ポケット円盤)
702 二個一対ポケットその1
703 二個一対ポケットその2
8 電子部品供給手段(二列排出パーツフィーダ)
10 分類位置
11 制御装置
Claims (2)
- 回転する円盤に電子部品を順次供給し、保持させ、搬送させて検査ユニットで検査し、前記検査の結果に基づき電子部品を分類する電子部品特性検査分類装置において、
ポケット群を有し、電子部品をポケット単位またはポケット対単位で保持搬送可能な円盤と、
前記円盤をポケット対単位で回転駆動する円盤駆動機構と、
ポケット対単位で前記ポケット群に電子部品を供給する電子部品供給手段と、
検査項目数に対応して前記円盤の回動域に配置されており、対の電子部品に対応する電極ユニットを備える検査ユニット群からなり、各電子部品の検査データを取得する検査手段と、
取得した検査データに基づいて電子部品を分類した分類結果に基づいて電子部品を分類する前記円盤の回動域に配置されている分類装置と、
前記円盤に電子部品を2個同時に供給し、検査可能に駆動し、前記検査手段により検査データを取得させ、検査の結果に基づく分類に従って前記分類装置に分類させる制御装置と、を含む電子部品特性検査分類装置であって、
前記電子部品供給手段は、電子部品の供給可能な状態を検出する部品センサを含み、
前記円盤駆動機構は、さらに前記円盤をポケット単位で回転駆動する機構を備え、
前記制御装置は、前記部品センサの出力に基づいて前記円盤の回転を制御することにより、ポケット対単位またはポケット単位で電子部品の供給をさせることを特徴とする電子部品特性検査分類装置。 - 請求項1記載の電子部品特性検査分類装置において、
前記検査手段は、検査する電気的特性の内容毎に電子部品を2個同時に検査可能であり、
前記分類装置は、前記検査の結果に基づき電子部品を2個同時にそれぞれの分類に基づいて分類することを特徴とする電子部品特性検査分類装置。
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