CN101995526B - 电子部件特性检查分类装置 - Google Patents

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Abstract

一种电子部件特性检查分类装置，向旋转的圆盘成对地依次供给电子部件，并保持、传送电子部件而进行检查，根据检查的结果对电子部件进行分类。本发明的装置包括：圆盘，具有开口组，能够以开口单位或开口对单位保持并传送电子部件；圆盘驱动机构，以开口对单位旋转驱动圆盘；电子部件供给部，以开口对单位向开口组供给电子部件；检查部，由具有与成对的电子部件对应的电极单元的检查单元组构成，取得各电子部件的检查数据；分类装置，根据按所取得的检查数据分类电子部件的分类结果，对电子部件进行分类；和控制装置，以能够同时向圆盘供给2个电子部件并进行检查的方式驱动，通过检查部取得检查数据，使分类装置根据基于检查结果的分类进行分类。

Description

电子部件特性检查分类装置
技术领域
本发明涉及一种将多个电子部件并列地传送、检查并分类的电子部件特性检查分类装置。详细说明的话，涉及如下的电子部件特性检查分类装置：能够向一个传送用的旋转的圆盘同时供给多个电子部件，检查由上述圆盘依次传送的电子部件的电气特性，根据上述检查的结果进行电子部件的分类。
背景技术
在现有的检查电子部件的电气特性并进行分类的装置中，向收容电子部件并旋转的圆盘逐个地供给并传送电子部件，逐个进行检查等的方式为通常使用的方式(专利文献1)。
专利文献1：日本特开2002-043194号公报
作为用于衰减或屏蔽电子设备的噪声的电子部件，特别是，3端子电容器、LC滤波器等的复合元件的需求激增。以往，检查所述电子部件的电气特性并进行分类的装置，通常使用向收容电子部件并旋转的圆盘逐个地供给上述电子部件并传送至检查用电极的方法。因为上述的电子部件要全部进行检查，强烈要求提高其处理速度。为使处理量增加，可考虑准备多个上述圆盘，并使其旋转且并列地处理的方法。这样不仅导致要准备多个圆盘及多组驱动机构之类的装置规模的扩大，而且还要求相应的成本负担。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种电子部件特性检查分类装置，能够沿用现有检查方法的基本结构，抑制硬件增大，扩大处理量。
本发明的另一具体目的在于提供一种电子部件特性检查分类装置，能够向一个旋转的圆盘同时并列地供给电子部件，并进行传送、检查、分类。
为了达成上述目的，本发明技术方案1的电子部件特性检查分类装置，向旋转的圆盘依次供给电子部件，并保持、传送上述电子部件，用检查单元进行检查，根据上述检查的结果对电子部件进行分类，上述电子部件特性检查分类装置的特征在于，包括：圆盘，具有开口组，能够以开口单位或开口对单位保持并传送电子部件；圆盘驱动机构，以开口对单位旋转驱动上述圆盘；电子部件供给部，以开口对单位向上述开口组供给电子部件；检查部，与检查项目数对应地被配置于上述圆盘的转动区域，由具有与成对的电子部件对应的电极单元的检查单元组构成，取得各电子部件的检查数据；分类装置，被配置于上述圆盘的转动区域，根据按所取得的检查数据分类电子部件的分类结果，对电子部件进行分类；和控制装置，以能够同时向上述圆盘供给2个电子部件并进行检查的方式驱动，通过上述检查部取得检查数据，使上述分类装置根据基于检查结果的分类进行分类。
本发明技术方案2所述的电子部件特性检查分类装置的特征在于，在技术方案1所述的电子部件特性检查分类装置中，上述检查部能够按所检查的电气特性的各内容分别同时检查2个电子部件，上述分类装置根据上述检查的结果同时对2个电子部件按各自的分类进行分类。
本发明技术方案3所述的电子部件特性检查分类装置的特征在于，在技术方案1所述的电子部件特性检查分类装置中，上述电子部件供给部包括检测能够供给电子部件的状态的部件传感器，上述圆盘驱动机构还包括以开口单位对上述圆盘进行旋转驱动的机构，上述控制装置通过根据上述部件传感器的输出控制上述圆盘的旋转，以开口对单位或开口单位供给电子部件。
根据本发明，能够提供一种电子部件特性检查分类装置，供给电子部件，在旋转的圆盘收容电子部件，检查由上述圆盘依次传送的电子部件的电气特性，根据上述检查的结果对电子部件进行分类，虽然圆盘及其圆盘驱动机构为一组，但能够获得同时将2个电子部件向上述圆盘供给并传送的并列处理的効果，能够高速地进行处理。
附图说明
图1是表示将现有的逐个处理电子部件作为前提的典型设计的电子部件特性检查分类装置(比较对象装置)的配置图。
图2是作为图1的装置的传送用圆盘的具体例，表示具有50分割的开口的圆盘的俯视图。
图3是表示在本发明的电子部件特性检查分类装置中使用的圆盘的具体例的局部放大俯视图，是表示可将两个电子部件同时传送、检查的圆盘中的开口的组合的图。
图4是本发明的电子部件特性检查分类装置的结构图。
图5是用于说明在圆盘的开口中收容的电子部件的姿态的透视图。
图6是表示用本发明的电子部件特性检查分类装置逐个供给电子部件时的供给步骤(A)、(B)、(C)的说明图。
图7是表示用本发明的电子部件特性检查分类装置逐个供给电子部件时的另一供给步骤(D)、(E)、(F)的说明图。
具体实施方式
说明本发明之前，参照图1、图2对比较对象装置进行说明。该比较对象装置是使用用于传送一个电子部件的圆盘逐个进行检查的系统。图1是表示将现有的逐个处理电子部件作为前提的典型设计的电子部件特性检查分类装置的配置图。图2是作为图1的装置的传送用圆盘的具体例表示具有50分割的开口(Pocket)的圆盘的俯视图。
如图2所示，圆盘2具有用于收容电子部件的50个开口202，开口202配置于将圆盘2进行50分割的等分割中心线201上的圆盘2的外周部上。在使用圆盘2的装置的图1中，从用于逐个地供给电子部件1的电子部件供给部即单列排出部件供给机(Parts Feeder)6向圆盘2的开口202供给1个电子部件1。虽然省略了该交接装置的图示，但使用例如拾取和放置装置等通常的交接装置。在检查单元的电极单元4的前端部设置有安装有用于与如图5所示的电子部件1的端子电极101、102及103接触的触头的接触机构(省略图示)，并与用于检查电子部件1的电气特性的计测器连接(省略图示)。电极单元4对应每个检查的项目(例如，电容、耐压、漏电流等)设置于电极单元上下移动板5上。当电子部件1移动至电极单元4的位置时，通过电极单元上下移动板5的动作使电极单元4下降并执行检查。当检查结束时，电极单元4上升。并且，在电极单元上下移动板5至电子部件1的供给位置之间设置有用于根据检查的结果将电子部件1分类的机构(省略图示)。圆盘2在开口202处的电子部件1的供给结束、检查结束、分类结束的时刻，通过圆盘驱动机构3进行1分割的间歇传送。反复执行该动作。
图5是表示在圆盘2的开口202及203收容的电子部件1的姿态的图。作为电子部件1的一例，表示3端子电容器的端子电极1、2及3(标号101、102及103与之对应)。图5(a)表示直接以图示的电子部件1的姿态的状态收容在圆盘2的开口202的情况，图5(b)表示直接以图示的电子部件1的姿态的状态收容于圆盘2的开口203的情况。其中，该结构还在本发明的电子部件特性检查分类装置中采用。本发明的电子部件特性检查分类装置大量沿袭了在现有的装置中使用的基本结构。
接着，对本发明的电子部件特性检查分类装置的实施方式进行说明。
参照图3及图4对本发明的装置进行说明。图3是表示在本发明的电子部件特性检查分类装置中使用的圆盘的具体例的局部放大俯视图，其表示可将两个电子部件同时传送、检查的圆盘中的开口的组合，是将图4所示的具有以两个为一对的开口的圆盘7的开口部分放大表示的图。如图3所示，在本发明的电子部件特性检查分类装置中，与以50等分割分割了圆盘7的等分割中心线701平行且等间隔地在圆盘7的外周部上收容电子部件1的开口配置有两个，将它们称作一对。即，50等分割的第一个一对开口中的开口1a为一对开口之一702，1b为一对开口之二703。同样，将第二个一对开口设为2a及2b，第五十个一对开口标记为50a及50b。
图4所示的双列排出部件供给机8在排出部的前端具有止动板(省略图示)，其具有使电子部件1排列成2列的功能。另外，2列排列的间隔与圆盘7的一对开口即1a和1b的间隔相等。
使用拾取和放置单元等(省略图示)，同时将位于双列排出部件供给机8的前端部的2个电子部件1向圆盘7的一对开口即1a和1b供给。当供给结束时，圆盘7通过圆盘驱动机构3仅旋转1分割的量，下一个开口的50a和50b被移动至双列排出部件供给机8前端部的位置。与上述相同地，2个电子部件1被供给至各开口。通过这种一系列的动作，虽然圆盘7及其圆盘驱动机构3为一组，但能够同时传送2个电子部件1。
在使用以两个为一对开口的圆盘7的装置即图4中，从用于分别供给2个电子部件1的双列排出部件供给机8向圆盘7的一对开口702及703供给2个电子部件1(省略该供给部的图示)。检查单元具有电极单元4，在电极单元4的前端部设置有安装有用于与如图5所示的2个电子部件1(省略一侧图示)的端子电极101、102及103接触的触头的2套接触机构(省略图示)，并分别与用于检查电子部件1的电气特性的计测器连接(省略图示)。电极单元4对应每个检查的项目(例如电容、耐压、漏电流等)设置于电极单元上下移动板5上。当电子部件1的对移动至电极单元4的位置(检查位置)时，通过电极单元上下移动板5的动作使电极单元4从脱离位置下降与电子部件1接触，同时对2个电子部件1执行检查。
当检查结束时，电极单元4上升。并且，在电极单元上下移动板5至电子部件1的供给位置之间设置有根据该检查的结果同时将2个电子部件1分类的机构(省略图示)。圆盘7在一对开口702及703处的电子部件1的供给结束、检查结束、分类结束的时刻通过圆盘驱动机构3进行1分割的间歇传送。该动作被反复执行。通过这种方案，虽然圆盘7及其圆盘驱动机构3为一组，但能够同时对2个电子部件进行检查及分类处理。
本发明的电子部件特性检查分类装置的控制装置11统一执行上述一系列的动作序列。根据控制程序，产生从端子11a～11e到各部分的控制信号，使圆盘7以开口对单位的移动间距(其中，在特殊情况下，为了装填开口单位的电子部件以开口单位的移动间距(参照图3))旋转驱动，从作为电子部件供给部的双列排出部件供给机8以开口对单位供给电子部件。检查部由具有电极单元4的检查单元组构成，用于取得各电子部件的检查数据，所述电极单元4与检查项目数对应地配置于圆盘7的转动区域，可根据成对的电子部件在接触位置和離脱位置之间移动。使电极单元4在接触位置和離脱位置之间的移动与圆盘的移动同步。配置于分类位置10的分类装置根据由所取得的检查数据将各电子部件分类了的分类结果，分别对电子部件进行分类(使电子部件下落至位于分类位置10的分类箱)。通过控制装置11进行用于分类的运算。分类装置的控制按开口单位进行，这与已知的装置无异。
接着，参照图6及图7对不同于上述说明的使用方式进行说明。设想由于双列排出部件供给机8的任何问题或双列排出部件供给机8内的电子部件1的余量减少而引起电子部件1没有供给到两个列中的一个列的前端部的情况，在作为电子部件供给部的双列排出部件供给机8的前端部设置部件传感器(公知的光电传感器，未图示)，该部件传感器检测有无2个电子部件，或当处于仅能供给1个电子部件的状态时检测该电子部件在哪一侧。
在应向圆盘7的一对开口702及703供给电子部件1定时下，通过上述传感器的检测确认有2个电子部件1时，使圆盘7旋转，以送给开口702及703的一对的量，将2个电子部件1同时向一对开口702及703供给。在应向圆盘7的一对开口702及703供给电子部件1的定时下，通过上述传感器的检测确认只有1个电子部件1时，将圆盘7的旋转间距控制成向一对开口702及703逐个地供给电子部件。该控制的方法如下所述。
图6表示用本发明的电子部件特性检查分类装置逐个供给电子部件时的供给步骤(A)、(B)、(C)的说明图，其是用于说明针对将双列排出部件供给机8的两个列设为a、b时，在a列的前端部具有电子部件1，在b列没有电子部件1的情况进行控制的方法的图。
使圆盘7的开口1a向a列的位置旋转((A)的图)。在该状态下通过未图示的供给部将存在于a列的电子部件1向开口1a供给。供给结束后使圆盘7旋转的定时下，通过上述传感器的检测信号确认在b列有电子部件1时，不使圆盘7旋转，通过未图示的供给部将b列的电子部件1向开口1b供给((B)的图)，通过上述传感器的检测信号确认在a列有电子部件1时，使圆盘7旋转，以使开口1b位于a列前端部，通过未图示的供给部将a列的电子部件1向开口1b供给((C)的图)。在这里，在(B)的图中，在a列也有电子部件1时，由于已向开口1a供给电子部件1，因而忽略。并且，在(C)的图中，在b列也有电子部件1时，忽略。
接着，图7是表示用本发明的电子部件特性检查分类装置逐个地供给电子部件时的另一供给步骤(D)、(E)、(F)的说明图，其是用于说明将双列排出部件供给机8的两个列设为a、b时，针对在b列的前端部有电子部件1，在a列没有电子部件1的情况进行控制的方法的图。
使圆盘7的开口1a向b列的位置旋转((D)的图)。在该状态下通过未图示的供给部将存在于b列的电子部件1向开口1a供给。供给结束后使圆盘7旋转的定时下，通过上述传感器的检测信号确认在b列有电子部件1时，使圆盘7旋转，以使开口1b位于b列前端部，通过未图示的供给部将b列的电子部件口1向开口1b供给((E)的图)，通过上述传感器的检测信号确认在a列有电子部件1时，使圆盘7旋转，以使开口1b位于a列前端部，通过未图示的供给部将a列的电子部件1向开口1b供给((F)的图)。在这里，在(E)的图中，在a列也有电子部件1时，由于已向开口1a供给电子部件1，因而忽略。并且，在(F)的图中，在b列也有电子部件1时，忽略。
如以上说明，通过控制圆盘7的旋转，虽然圆盘7及其圆盘驱动机构3为一组，但能够同时处理两个电子部件的检查及分类。如是不进行这种控制只是对应每1分割间歇地送给圆盘7的方法，在a列或b列只有一个电子部件时，处于圆盘7内的开口没有电子部件的状态，装置的处理能力降低。
以上，针对同时并列地处理2个电子部件的情况进行了说明，该原理同样适用于并列地处理3个以上的电子部件的情况，这种变形也属于本发明的技术范围内。

Claims (3)

1.一种电子部件特性检查分类装置，向旋转的圆盘依次供给电子部件，并保持、传送上述电子部件，用检查单元进行检查，根据上述检查的结果对电子部件进行分类，上述电子部件特性检查分类装置的特征在于，包括：
圆盘，具有开口组，能够以开口单位或开口对单位保持并传送电子部件；
圆盘驱动机构，以开口对单位旋转驱动上述圆盘；
电子部件供给部，以开口对单位向上述开口组供给电子部件，在所述电子部件供给部的前端部设置部件传感器；
检查部，与检查项目数对应地被配置于上述圆盘的转动区域，由具有与成对的电子部件对应的电极单元的检查单元组构成，取得各电子部件的检查数据；
分类装置，被配置于上述圆盘的转动区域，根据按所取得的检查数据分类电子部件的分类结果，对电子部件进行分类；和
控制装置，以能够同时向上述圆盘供给2个电子部件并进行检查的方式驱动，通过上述检查部取得检查数据，使上述分类装置根据基于检查结果的分类进行分类。
2.如权利要求1所述的电子部件特性检查分类装置，其特征在于，
上述检查部能够按所检查的电气特性的各内容分别同时检查2个电子部件，
上述分类装置根据上述检查的结果同时对2个电子部件按各自的分类进行分类。
3.如权利要求1所述的电子部件特性检查分类装置，其特征在于，
所述部件传感器检测能够供给电子部件的状态，
上述圆盘驱动机构还包括以开口单位对上述圆盘进行旋转驱动的机构，
上述控制装置通过根据上述部件传感器的输出控制上述圆盘的旋转，以开口对单位或开口单位供给电子部件。
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