TWI520792B - Electronic parts characteristic inspection sorting device - Google Patents

Description

電子零件特性檢查分類裝置

本發明係關於將複數電子零件並列搬送、檢査、分類的電子零件特性檢査分類裝置。更詳而言之，係關於在一個搬送用的旋轉圓盤暫時供給複數電子零件，對被前述圓盤依序搬送而來的電子零件的電氣特性進行檢査，可根據前述檢査的結果，來進行電子零件之分類的電子零件特性檢査分類裝置。

在習知之檢查電子零件之電氣特性且作分類的裝置中，一般所使用的方式係將電子零件1個1個逐個供給且搬送至收納電子零件而進行旋轉的圓盤，以1個1個逐個進行檢査等(專利文獻1)。

[先前技術文獻]

[專利文獻]

[專利文獻1]日本特開2002-043194號公報

以用以衰減或遮斷電子機器之雜訊的電子零件而言，尤其3端子電容器或LC濾波器等複合元件的需要急遽增加。以往，檢查該等電子零件的電氣特性並作分類的裝置一般係使用在收納電子零件而作旋轉的圓盤1個1個逐個供給前述電子零件而搬送至檢査用電極的手段。前述電子零件由於必須全數檢査的關係，強烈要求其處理速度的提升。為了使處理量增加，考慮備妥複數個前述圓盤使其旋轉而並列處理的方法。此僅為備妥複數組複數圓盤或該等驅動機構的裝置規模的擴大，而需要相稱的成本負擔。

本發明之主要目的在提供保存習知的檢査方法的基本構造，抑制硬體增大，可擴大處理量之電子零件特性檢査分類裝置。

本發明之另一具體目的在提供可將電子零件同時並列供給至1個進行旋轉的圓盤，以進行搬送、檢査、分類之電子零件特性檢査分類裝置。

為達成前述目的，本發明之電子零件特性檢査分類裝置係將電子零件依序供給至進行旋轉的圓盤，使其保持、搬送，而以檢査單元進行檢査，根據前述檢査結果將電子零件作分類的電子零件特性檢査分類裝置，其特徵為包含：具有料袋群，可將電子零件以料袋單位或料袋對單位進行保持搬送的圓盤；將前述圓盤以料袋對單位進行旋轉驅動的圓盤驅動機構；以料袋對單位對前述料袋群供給電子零件的電子零件供給手段；與檢査項目數相對應配置在前述圓盤的旋動區域，由具備有與成對的電子零件相對應的電極單元的檢査單元群所構成，取得各電子零件的檢査資料的檢査手段；根據依據所取得的檢査資料將電子零件作分類所得之分類結果，將電子零件作分類之配置在前述圓盤之旋動區域的分類裝置；及對前述圓盤同時供給2個電子零件，以可檢査的方式進行驅動，藉由前述檢査手段取得檢査資料，按照根據檢査結果的分類而使前述分類裝置作分類的控制裝置。

本發明之請求項2所記載之電子零件特性檢査分類裝置係在如請求項1所記載之電子零件特性檢査分類裝置中，前述檢査手段係可按所檢査的電氣特性的每個內容，同時檢査2個電子零件，前述分類裝置係根據前述檢査結果，將電子零件2個同時根據各自的分類作分類。

本發明之請求項3所記載之電子零件特性檢査分類裝置係在如請求項1所記載之電子零件特性檢査分類裝置中，前述電子零件供給手段係包含檢測電子零件可供給狀態的零件感測器，前述圓盤驅動機構係另外具備有將前述圓盤以料袋單位進行旋轉驅動的機構，前述控制裝置係根據前述零件感測器的輸出來控制前述圓盤的旋轉，藉此以料袋對單位或料袋單位供給電子零件。

藉由本發明，可提供一種電子零件特性檢査分類裝置，其係供給電子零件，將電子零件收納在進行旋轉的圓盤，對被前述圓盤依序搬送而來的電子零件的電氣特性進行檢査，根據前述檢査的結果將電子零件作分類的裝置，圓盤及其圓盤驅動機構為一組，可得藉由將電子零件2個同時供給至前述圓盤來進行搬送所得之並列處理的效果，可高速處理。

在說明本發明之前，參照第1圖、第2圖來說明比較對象裝置。該比較對象裝置係使用搬送1個電子零件用的圓盤，來1個1個逐個進行檢査的系統。第1圖係顯示習知技術中將電子零件1個1個逐個的處理為前提的典型設計所得之電子零件特性檢査分類裝置的配置圖。第2圖係顯示具有作50分割之料袋(pocket)的圓盤作為第1圖之裝置的搬送用圓盤的具體例的平面圖。

如第2圖所示，圓盤2係具有用以收納電子零件的50個料袋202，料袋202係被配置在將圓盤2作50分割之等分割中心線201上的圓盤2的外周部。在屬於使用圓盤2的裝置的第1圖中，從屬於用以1個1個逐個供給電子零件1的電子零件供給手段的一列排出零件給料器6，將1個電子零件1供給至圓盤2的料袋202。省略該收付裝置的圖示，例如使用如取放裝置般的一般收付裝置。在檢査單元的電極單元4的前端部例如被連接有計測器(圖示省略)，其用以檢查設置有被組裝用以與第5圖所示之電子零件1的端子電極101、102及103接觸的接觸子的接觸機構(圖示省略)的電子零件1的電氣特性。電極單元4係按每個檢査項目(例如電容、耐壓、漏電流等)被設置在電極單元上下動板5上。若電子零件1被送至電極單元4的位置，藉由電極單元上下動板5的動作，使電極單元4下降來執行檢査。若檢査結束，電極單元4即上升。此外，用以根據檢査的結果來分類電子零件1的機構(圖示省略)被設置在由電極單元上下動板5至電子零件1的供給位置之間。圓盤2係在對料袋202之電子零件1的供給結束、檢査結束、分類結束的時點，藉由圓盤驅動機構3來進行1分割的間歇搬送。該動作被反覆執行。

第5圖係顯示收納在圓盤2之料袋202及203的電子零件1的姿勢的圖。以電子零件1之一例而言，顯示3端子電容器的端子電極1、2及3(元件符號101、102及103相對應)。第5圖的(a)係顯示在所圖示電子零件1之姿勢狀態下直接被收納在圓盤2的料袋202的情形，第5圖的(b)係顯示在所圖示電子零件1之姿勢狀態下直接被收納在圓盤2的料袋203的情形。其中，該構成亦在本發明之電子零件特性檢査分類裝置中加以採用。本發明之電子零件特性檢査分類裝置有大部分沿襲習知裝置中所使用的基本構成。

接著，說明本發明之電子零件特性檢査分類裝置之實施形態。

參照第3圖及第4圖，說明本發明之裝置。第3圖係顯示本發明之電子零件特性檢査分類裝置中所使用之圓盤之具體例的部分放大平面圖，顯示可同時搬送、檢査2個電子零件的圓盤中的料袋的組合，放大顯示第4圖所示之具有二個一對料袋的圓盤7的料袋部分的圖。如第3圖所示，本發明之電子零件特性檢査分類裝置中，配置2個料袋，其用以以50等分割將圓盤7分割後的等分割中心線701平行且等間隔地在圓盤7的外周部收納電子零件1，將該料袋設為一對。亦即，作50等分割的第1個一對料袋的料袋1a為二個一對料袋其中之一的702，1b為二個一對料袋其中之二的703。同樣地，將第2個二個一對料袋標記為2a及2b，將第50個二個一對料袋標記為50a及50b。

第4圖所示之二列排出零件給料器8係在排出部的前端具有擋止件板(圖示省略)，具有使電子零件1整列成2列的功能。此外，2列整列的間隔係與圓盤7之二個一對料袋的1a與1b的間隔相等。

使用取放單元(pick and place unit)等(圖示省略)，將位於二列排出零件給料器8之前端部的2個電子零件1，同時供給至屬於圓盤7之二個一對料袋的1a與1b。若供給結束，圓盤7係藉由圓盤驅動機構3被旋轉1分割的份，屬於接下來的料袋的50a與50b被送至二列排出零件給料器8之前端部的位置。與前述同樣地，2個電子零件1被供給至各個料袋。藉由如上所示之一連串動作，圓盤7及其圓盤驅動機構3係為一組，可同時搬送2個電子零件1。

在屬於使用二個一對料袋圓盤7之裝置的第4圖中，由用以每2個供給電子零件1的二列排出零件給料器8對圓盤7的二個一對料袋702及703供給2個電子零件1(該供給手段的圖示省略)。檢査單元係具備有電極單元4，在電極單元4的前端部係設置有2組(set)例如組裝有用以與第5圖所示之2個電子零件1(其中一方係省略圖示)的端子電極101、102及103相接觸的接觸子的接觸機構(省略圖示)，分別連接在用以檢查電子零件1之電氣特性的計測器(圖示省略)。電極單元4係按每個檢査項目(例如電容、耐壓、漏電流等)作準備，被設置在電極單元上下動板5上。若電子零件1的成對被送至電極單元4的位置(檢査位置)，即藉由電極單元上下動板5的動作，電極單元4由脫離位置下降而與電子零件1接觸，2個同時執行檢査。

若檢査一結束，電極單元4會上升。此外，用以根據該檢査的結果，將2個電子零件1同時作分類的機構(圖示省略)係被設置在由電極單元上下動板5至電子零件1的供給位置之間。圓盤7係在對二個一對料袋702及703之電子零件1的供給結束、檢査結束、分類結束的時點，藉由圓盤驅動機構3來進行1分割的間歇搬送。該動作反覆執行。藉由如上所示之手段，圓盤7及其圓盤驅動機構3係為一組，且可將電子零件的檢査及分類同時處理2個。

本發明之電子零件特性檢査分類裝置的控制裝置11係使前述一連串動作序列統合執行。按照控制程式，發生由端子11a～11e對各部的控制訊號，使圓盤7以料袋對單位的移動間距(其中，在特殊案例中供裝填料袋單位的電子零件之用的料袋單位的移動間距(參照第3圖))旋轉驅動，由屬於電子零件供給手段的二列排出零件給料器8，以料袋對單位供給電子零件。檢査手段係由具備有與檢査項目數相對應配置在圓盤7的旋動區域而可與成對的電子零件相對應而在接觸位置與脫離位置間移動的電極單元4的檢査單元群所構成，使其取得各電子零件的檢査資料。電極單元4的接觸位置與脫離位置間的移動係與圓盤的移動同步。被配置在分類位置10的分類裝置係根據基於所取得的檢査資料而將各自的電子零件作分類的分類結果，將電子零件分別作分類(使電子零件掉落在位於分類位置10的分類箱)。供分類之用的運算係在控制裝置11進行。分類裝置的控制以料袋單位進行係與已知的裝置沒有不同。

接著，參照第6圖及第7圖，說明與前述不同的使用形態。假想在二列排出零件給料器8的某些不良情形、或二列排出零件給料器8內的電子零件1的剩餘量變少，而在二列中的一列的前端部未被供給電子零件1的情形，而設置若在屬於電子零件供給手段的二列排出零件給料器8的前端部有2個電子零件、或僅可供給1個電子零件的狀態時，檢測其是位於哪一側的零件感測器(周知的光電感測器，未圖示)。

在應對圓盤7的二個一對料袋702及703供給電子零件1的時序，藉由前述感測器的檢測，而有2個電子零件1時，係以傳送料袋702及703的2個一對份的方式使圓盤7旋轉，將2個電子零件1同時供給至二個一對料袋702及703。在應對圓盤7的二個一對料袋702及703供給電子零件1的時序，藉由前述感測器的檢測而僅有1個電子零件1時，係以對2個一對料袋702及7031個1個逐個供給電子零件的方式控制圓盤7的旋轉間距。該控制的方法係如以下所示。

第6圖係顯示以本發明之電子零件特性檢査分類裝置1個1個逐個供給電子零件時的供給順序(A)、(B)、(C)的說明圖，用以說明當將二列排出零件給料器8的二列設為a、b時，關於在a列的前端部有電子零件1，在b列沒有電子零件1的情形的控制方法的圖。

使圓盤7的料袋1a朝a列的位置旋轉((A)的圖)。在該狀態下，將a列所具有的電子零件1藉由未圖示的供給手段供給至料袋1a。在供給結束而使圓盤7旋轉的時序時，藉由前述感測器的檢測訊號而在b列有電子零件1時，不會使圓盤7旋轉而將b列的電子零件1藉由未圖示的供給手段供給至料袋1b((B)的圖)，藉由前述感測器的檢測訊號而在a列有電子零件1時，使圓盤7以料袋1b位於a列前端部的方式旋轉，將a列的電子零件1藉由未圖示的供給手段供給至料袋1b((C)的圖)。在此，在(B)的圖中，若在a列亦有電子零件1時，由於在料袋1a已經被供給有電子零件1，因此予以忽略。此外，在(C)的圖中，當在b列亦有電子零件1時係予以忽略。

接著，第7圖係顯示以本發明之電子零件特性檢査分類裝置1個1個逐個供給電子零件時的其他供給順序(D)、(E)、(F)的說明圖，用以說明當將二列排出零件給料器8的二列設為a、b時，關於在b列的前端部有電子零件1、在a列沒有電子零件1的情形的控制方法的圖。

使圓盤7的料袋1a旋轉至b列的位置((D)的圖)。在該狀態下，將在b列所具有的電子零件1藉由未圖示的供給手段供給至料袋1a。在供給結束而使圓盤7旋轉的時序時，若藉由前述感測器的檢測訊號而在b列有電子零件1時，係使圓盤7以料袋1b位於b列前端部的方式旋轉，將b列的電子零件1藉由未圖示的供給手段供給至料袋1b((E)的圖)，藉由前述感測器的檢測訊號，若在a列有電子零件1時，使圓盤7以料袋1b位於a列前端部的方式旋轉，將a列的電子零件1藉由未圖示的供給手段供給至料袋1b((F)的圖)。在此，在(E)的圖中，若在a列亦有電子零件1時，由於在料袋1a已經被供給有電子零件1，因此予以忽略。此外，在(F)的圖中，當在b列亦有電子零件1時係予以忽略。

如以上說明所示，藉由控制圓盤7的旋轉，圓盤7及其圓盤驅動機構3係為一組，可同時處理2個電子零件的檢査及分類。若為未進行如上所示之控制，而單純地按每1分割間歇傳送圓盤7的方法，若在a列或b列僅有1個電子零件時，在圓盤7內的料袋，電子零件形成缺漏狀態，裝置的處理能力會降低。

以上針對電子零件2個同時並列處理詳加說明，但是該原理亦同樣可適用在並列3個以上來進行處理時，如上所示之變形亦屬於本發明之技術範圍內。

1．．．電子零件

2．．．圓盤

3．．．圓盤驅動機構

4．．．檢査單元的電極單元

5．．．電極單元上下動板

6．．．電子零件供給手段(一列排出零件給料器)

7．．．圓盤(二個一對料袋圓盤)

8．．．電子零件供給手段(二列排出零件給料器)

10．．．分類位置

11．．．控制裝置

11a～11e．．．端子

101．．．端子電極1

102．．．端子電極2

103．．．端子電極3

201、701．．．等分割中心線

202、203．．．料袋

702．．．二個一對料袋其中之1

703．．．二個一對料袋其中之2

第1圖係顯示習知技術中將電子零件1個1個逐個的處理為前提的典型設計所得之電子零件特性檢査分類裝置(比較對象裝置)的配置圖。

第2圖係顯示具有作50分割之料袋的圓盤作為第1圖之裝置的搬送用圓盤的具體例的平面圖。

第3圖係顯示在本發明之電子零件特性檢査分類裝置中所使用的圓盤的具體例的局部放大平面圖，顯示可同時搬送、檢査2個電子零件的圓盤中的料袋的組合的圖。

第4圖係顯示本發明之電子零件特性檢査分類裝置的構成圖。

第5圖係用以說明收納在圓盤之料袋的電子零件的姿勢的斜視圖。

第6圖係顯示以本發明之電子零件特性檢査分類裝置1個1個逐個供給電子零件時的供給順序(A)、(B)、(C)的說明圖。

第7圖係顯示以本發明之電子零件特性檢査分類裝置1個1個逐個供給電子零件時的其他供給順序(D)、(E)、(F)的說明圖。

1．．．電子零件

3．．．圓盤驅動機構

4．．．檢査單元的電極單元

5．．．電極單元上下動板

7．．．圓盤(二個一對料袋圓盤)

8．．．電子零件供給手段(二列排出零件給料器)

10．．．分類位置

11．．．控制裝置

11a～11e．．．端子

Claims (2)

1. 一種電子零件特性檢査分類裝置，係將電子零件依序供給至進行旋轉的圓盤，使其保持、搬送，而以檢査單元進行檢査，根據前述檢査結果將電子零件作分類的電子零件特性檢査分類裝置，其包含：具有料袋群，可將電子零件以料袋單位或料袋對單位進行保持搬送的圓盤；將前述圓盤以料袋對單位進行旋轉驅動的圓盤驅動機構；以料袋對單位對前述料袋群供給電子零件的電子零件供給手段；與檢査項目數相對應配置在前述圓盤的旋動區域，由具備有與成對的電子零件相對應的電極單元的檢査單元群所構成，取得各電子零件的檢査資料的檢査手段；根據依據所取得的檢査資料將電子零件作分類所得之分類結果，將電子零件作分類之配置在前述圓盤之旋動區域的分類裝置；及對前述圓盤同時供給2個電子零件，以可檢査的方式進行驅動，藉由前述檢査手段取得檢査資料，按照根據檢査結果的分類而使前述分類裝置作分類的控制裝置，該電子零件特性檢査分類裝置之特徵為：前述電子零件供給手段係包含檢測電子零件可供給狀態的零件感測器，前述圓盤驅動機構係另外具備有將前述圓盤以料袋單 位進行旋轉驅動的機構，前述控制裝置係根據前述零件感測器的輸出來控制前述圓盤的旋轉，藉此以料袋對單位或料袋單位供給電子零件。
2. 如申請專利範圍第1項之電子零件特性檢査分類裝置，其中，前述檢査手段係可按所檢査的電氣特性的每個內容，同時檢査2個電子零件，前述分類裝置係根據前述檢査結果，將電子零件2個同時根據各自的分類作分類。