KR20140135869A - 전자부품 검사 및 분류장치 - Google Patents

전자부품 검사 및 분류장치 Download PDF

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KR20140135869A
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Abstract

본 발명은, 샤프트를 중심으로 회전 가능하게 설치되어 회전하면서 공급유닛으로부터의 전자부품을 반송하는 턴테이블을 갖는 반송유닛, 반송유닛에 의하여 이송경로를 따라 반송되는 전자부품의 특성을 검사하는 검사유닛, 검사유닛에 의하여 검사된 전자부품을 특성별로 분류하는 분류유닛으로 구성된 전자부품 검사 및 분류장치를 제공한다.

Description

전자부품 검사 및 분류장치 {APPARATUS FOR TESTING AND SORTING ELECTRONIC COMPONENTS}
본 발명은 전자부품을 검사하고 특성별로 분류하는 전자부품 검사 및 분류장치에 관한 것이다.
일반적으로, 발광다이오드(LED)와 같은 전자부품은 제작을 완료한 후 각각의 특성을 판별하기 위하여 검사를 하고, 검사를 완료한 전자부품은 각 특성별로 분류하는데, 이렇게 전자부품을 검사한 후 특성별로 분류하는 데에는 전자부품 검사 및 분류장치가 사용된다.
예를 들어, 전자부품 분류장치로는 대한민국 등록특허공보 제1011797호에 제시되어 있는 바와 같이 전자부품이 통과하는 이동관, 이동관의 내부에 공기를 분사하여 전자부품을 이송시키는 공기 분사기로 구성된 타입이 이용될 수 있다.
그러나, 이러한 종래의 전자부품 분류장치는 검사를 완료한 전자부품을 하나씩 개별적으로만 분류하기 때문에, 복수의 전자부품을 분류하는 데 오랜 시간이 소요되는 문제가 있다. 이에 따라, 전자부품을 검사 및 분류하는 데 있어서 한층 개선된 장치의 보급이 시급히 요구되는 실정이다.
본 발명의 실시예의 목적은 구조적인 면에서 한층 더 유리하고, 다양한 종류의 전자부품을 검사 및 분류 대상으로 할 수 있는 전자부품 검사 및 분류장치를 제공하는 데 있다.
본 발명의 실시예의 다른 목적은 검사 및 분류효율을 보다 향상시킬 수 있는 전자부품 검사 및 분류장치를 제공하는 데 있다.
위와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치는, 전자부품을 공급하는 공급유닛, 상기 공급유닛으로부터의 전자부품을 반송하는 반송유닛, 상기 반송유닛에 의하여 반송되는 각 전자부품의 특성을 검사하는 검사유닛, 상기 검사유닛에 의하여 검사된 전자부품을 검사결과에 따른 특성별로 분류하는 분류유닛을 포함하고, 상기 반송유닛은 샤프트를 중심으로 회전 가능하게 설치되어 회전하면서 전자부품을 반송하는 턴테이블을 가질 수 있다.
여기에서, 상기 턴테이블은, 상기 샤프트에 장착된 턴테이블 바디, 상기 턴테이블 바디의 외주 부분에 분리 가능하게 결합되고 상기 공급유닛으로부터의 전자부품이 수용되는 복수의 수용부가 원주방향을 따라 간격을 두고 마련된 교체식 수용부재를 포함할 수 있다.
또한, 상기 분류유닛은, 상기 반송유닛에 의한 전자부품 이송경로 측에 배치되며 전자부품이 유입되는 복수의 유입구가 상기 반송유닛에 의하여 반송된 전자부품의 위치와 대응하도록 마련된 유입부재, 상기 복수의 유입구와 각각 연결되어 상기 유입구로 유입된 전자부품이 각각 통과하는 튜브, 전자부품이 유입되는 복수의 분배구가 복수의 행과 복수의 열로 마련된 고정부재, 상기 고정부재에 슬라이드 이동 가능하도록 설치되고 상기 복수의 분배구 중에서 일부와 대응함과 아울러 상기 튜브가 각각 연결된 복수의 관통구를 갖는 가동부재, 상기 가동부재를 이동시켜 상기 복수의 분배구 중에서 일부와 복수의 관통구를 일치시키는 이동장치, 상기 관통구와 일치된 각각의 분배구를 통과한 전자부품이 각각 수납되는 수납통으로 구성된 그룹식 분류유닛을 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치에 따르면, 전자부품 반송구조가 단순하기 때문에, 편리한 조립성을 보장할 수 있고, 유지 및 보수를 용이하게 행할 수 있다.
또한, 턴테이블이 전자부품 수용부를 갖는 교체식 수용부재를 포함하기 때문에, 수용부재를 검사 및 분류하고자 하는 전자부품의 종류에 적합한 타입으로 교체하여 전자부품을 안정적으로 수용할 수 있다. 즉, 검사 및 분류하고자 하는 전자부품의 종류에 따라서는 전자부품을 수용할 수 없거나 전자부품이 불안정하게 수용되는 점에 탄력적으로 대응할 수 있는 것이다.
본 발명의 실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치는 전자부품을 개별적으로 분류하는 제1분류유닛(개별식 분류유닛) 및 복수의 전자부품을 그룹으로 분류하는 제2분류유닛(그룹식 분류유닛)을 구비함으로써, 소정의 특성에서 배출량이 많은 전자부품을 제1분류유닛에 의하여 분류하고 소정의 특성에서 배출량이 적은 전자부품을 제2분류유닛에 의하여 분류할 수 있어 전자부품의 분류 동작을 신속히 수행할 수 있다. 그리고, 배출량이 많은 전자부품을 제2분류유닛에 의하여 분류 시 발생되는 분배부재의 과도한 운동을 방지하여 전자부품의 분류에 소요되는 시간을 단축할 수 있고, 분배부재의 동작에 요구되는 구동에너지를 절약할 수 있는 효과가 있다.
또한, 제2분류유닛이 분배부재의 운동으로 전자부품의 배출 측과 전자부품의 유입을 위한 구멍이 서로 일치하도록 구성됨으로써, 분배부재의 변위를 줄일 수 있어 제2분류유닛의 설치공간을 최소화할 수 있고, 튜브의 움직임을 최소화하여 튜브의 과도하고 잦은 움직임으로 인하여 튜브의 장력이 변화되는 것을 방지할 수 있으며, 튜브와 수납통의 연결을 보상하기 위한 가이드튜브 등의 부가적인 부품이 요구되지 않는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 제1실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치의 전체 구성이 개략적으로 도시된 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 공급유닛의 픽커를 개략적으로 나타낸 측면도이다.
도 3은 도 1에 도시된 반송유닛의 일부를 나타내는 사시도이다.
도 4는 도 3에 도시된 반송유닛을 측면에서 본 단면도이다.
도 5는 도 1에 도시된 분류유닛의 제1분류유닛 및 도 4에 도시된 반송유닛의 유로부재를 함께 나타내는 단면도이다.
도 6과 도 7은 도 1에 도시된 분류유닛의 제2분류유닛을 서로 다른 방향에서 본 사시도이다.
도 8 내지 도 10은 도 6, 7에 도시된 제2분류유닛의 동작을 순차적으로 나타내는 단면도이다.
도 11은 본 발명의 제2실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치의 주요부가 도시된 사시도이다.
도 12는 도 11에 도시된 반송유닛의 턴테이블 및 제2분류유닛을 함께 측면에서 본 단면도이다.
도 13은 본 발명의 제3실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치의 주요부가 도시된 평면도이다.
도 14는 도 13의 A-A선 단면도이다.
도 15는 도 13의 B-B선 단면도이다.
도 16은 본 발명의 제4실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치의 주요부가 도시된 사시도이다.
도 17은 본 발명의 제5실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치의 주요부가 도시된 사시도이다.
본 발명의 실시예에 따르면, 전자부품을 공급하는 공급유닛과; 샤프트를 중심으로 회전 가능하게 설치되어 회전하면서 상기 공급유닛으로부터의 전자부품을 반송하는 턴테이블을 갖는 반송유닛과; 상기 반송유닛에 의하여 이송경로를 따라 반송되는 각 전자부품의 특성을 검사하는 검사유닛과; 상기 검사유닛에 의하여 검사된 전자부품을 검사결과에 따른 특성별로 분류하는 분류유닛을 포함하는 전자부품 검사 및 분류장치가 제공될 수 있다.
상기 턴테이블은, 상기 샤프트에 장착된 턴테이블 바디와; 상기 턴테이블 바디의 외주 부분에 분리 가능하게 결합되고 상기 공급유닛으로부터의 전자부품이 수용되는 복수의 수용부가 원주방향을 따라 간격을 두고 마련된 교체식 수용부재를 포함할 수 있다.
여기에서, 상기 수용부재는 반경방향으로 분할되어 복수의 단위부재로 구성될 수 있다.
또한, 상기 수용부재는 돌출된 형상의 볼록부가 원주방향을 따라 마련되고, 상기 각 수용부는 상기 볼록부에 형성되고 반경방향으로 내측과 외측이 개방된 구조를 갖는 홈으로 구성될 수 있다.
그리고, 상기 홈 형상의 각 수용부는 바닥과 대향하는 입구가 상기 바닥에 비하여 확장된 구조를 가질 수 있다.
또한, 상기 각 수용부에는 전자부품을 흡입력 발생수단으로부터의 흡입력으로 흡착하는 흡입구가 마련될 수 있다.
상기 분류유닛은, 상기 검사유닛에 의하여 검사된 전자부품을 개별적으로 분류하는 개별식 분류유닛 및 복수로 분류하는 그룹식 분류유닛으로 구성될 수 있다.
또는, 상기 분류유닛은, 상기 반송유닛에 의한 전자부품 이송경로 측에 배치되고 전자부품이 유입되는 복수의 유입구가 복수의 행과 복수의 열로 마련된 분배부재와; 상기 복수의 유입구와 각각 연결되어 상기 유입구로 유입된 전자부품이 각각 통과하는 튜브와; 상기 각각의 튜브를 통과한 전자부품이 각각 수납되는 수납통과; 상기 복수의 유입구 중에서 일부가 상기 반송유닛에 의하여 반송된 전자부품의 위치와 대응하는 위치에 위치되도록 상기 분배부재를 회전시키는 회전장치를 포함할 수 있다.
또는, 상기 분류유닛은, 상기 반송유닛에 의한 전자부품 이송경로 측에 배치되고 전자부품이 유입되는 복수의 유입구가 복수의 행과 복수의 열로 마련된 분배부재와; 상기 복수의 유입구와 각각 연결되어 상기 유입구로 유입된 전자부품이 각각 통과하는 튜브와; 상기 각각의 튜브를 통과한 전자부품이 각각 수납되는 수납통과; 상기 복수의 유입구 중에서 일부가 상기 반송유닛에 의하여 반송된 전자부품의 위치와 대응하는 위치에 위치되도록 상기 분배부재를 승강시키는 승강장치를 포함할 수 있다.
또는, 상기 분류유닛은, 상기 반송유닛에 의한 전자부품 이송경로 측에 배치되며 전자부품이 유입되는 복수의 유입구가 상기 반송유닛에 의하여 반송된 전자부품의 위치와 대응하도록 마련된 유입부재와; 상기 복수의 유입구와 각각 연결되어 상기 유입구로 유입된 전자부품이 각각 통과하는 튜브와; 전자부품이 유입되는 복수의 분배구가 복수의 행과 복수의 열로 마련된 고정부재와; 상기 고정부재에 슬라이드 이동 가능하도록 설치되고 상기 복수의 분배구 중에서 일부와 대응함과 아울러 상기 튜브가 각각 연결된 복수의 관통구를 갖는 가동부재와; 상기 가동부재를 이동시켜 상기 복수의 분배구 중에서 일부와 복수의 관통구를 일치시키는 이동장치와; 상기 관통구와 일치된 각각의 분배구를 통과한 전자부품이 각각 수납되는 수납통을 포함할 수 있다.
또는, 상기 분류유닛은, 상기 반송유닛에 의한 전자부품 이송경로 측에 배치되며 전자부품이 유입되는 유입구를 갖는 가이드부재와; 상기 튜브를 통과한 전자부품이 수납되는 수납통을 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면, 전자부품을 공급하는 공급유닛과; 상기 공급유닛으로부터의 전자부품을 공급영역에서 배출영역 측으로 반송하는 반송유닛과; 상기 반송유닛에 의하여 상기 배출영역 측으로 반송되는 각 전자부품의 특성을 검사하는 검사유닛과; 상기 검사유닛에 의하여 검사된 전자부품을 상기 배출영역에서 검사결과에 따른 특성별로 분류하는 분류유닛을 포함하고, 상기 분류유닛은, 상기 배출영역 측에 배치되며 전자부품이 유입되는 복수의 유입구가 상기 반송유닛에 의하여 반송된 전자부품의 위치와 대응하도록 마련된 유입부재와; 상기 복수의 유입구와 각각 연결되어 상기 유입구로 유입된 전자부품이 각각 통과하는 튜브와; 전자부품이 유입되는 복수의 분배구가 복수의 행과 복수의 열로 마련된 고정부재와; 상기 고정부재에 슬라이드 이동 가능하도록 설치되고 상기 복수의 분배구 중에서 일부와 대응함과 아울러 상기 튜브가 각각 연결된 복수의 관통구를 갖는 가동부재와; 상기 가동부재를 이동시켜 상기 복수의 분배구 중에서 일부와 복수의 관통구를 일치시키는 이동장치와; 상기 관통구와 일치된 각각의 분배구를 통과한 전자부품이 각각 수납되는 수납통을 포함하는 전자부품 검사 및 분류장치가 제공될 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 전자부품 검사 및 분류장치의 바람직한 실시예를 설명한다.
도 1은 본 발명의 제1실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치의 전체 구성이 개략적으로 도시된 평면도이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치는, 검사하고 분류할 전자부품(도 2, 4 등의 도면부호 P 참조)(이하, 도면부호 병기는 생략한다.)을 공급하는 공급유닛(10), 공급유닛(10)에 의하여 공급된 전자부품을 반송하는 반송유닛(20), 반송유닛(20)에 의한 전자부품 이송경로 상에 설치되어 전자부품 이송경로를 따라 반송되는 각 전자부품의 특성을 검사하는 검사유닛(30), 검사유닛(30)에 의하여 검사된 전자부품을 검사결과에 따른 특성별로 분류하는 분류유닛(40)을 포함한다.
공급유닛(10)은, 내부에 투입된 전자부품을 정렬하여 공급하는 볼 피더(bowl feeder, 11), 볼 피더(11)로부터의 정렬된 전자부품을 한 줄로 공급하는 리니어 피더(linear feeder, 12), 리니어 피더(12)로부터의 전자부품을 반송유닛(20)에 순차적으로 공급하는 픽커(picker, 13)를 포함한다.
볼 피더(11)는, 다량의 전자부품을 수용할 수 있는 용기형의 구조를 갖는 볼 피더 본체, 볼 피더 본체에 수용된 전자부품을 배출하면서 정렬하기 위한 배출경로를 마련하는 트랙(track)을 포함한다. 리니어 피더(12)는 볼 피더(11)의 배출 측에 배치되고, 픽커(13)는 리니어 피더(12)의 선단 측에 배치된다.
볼 피더(11)에 투입된 전자부품은 볼 피더(11)의 트랙을 따라 이송되면서 정렬되어 리니어 피더(12)에 공급되고 리니어 피더(12)를 따라 픽커(13) 측으로 순차적으로 이송된다.
도 2는 도 1에 도시된 픽커(13)를 개략적으로 나타낸 측면도이다.
도 2에 도시된 바와 같이, 픽커(13)는, 수직방향(상하방향)으로 배치된 지지축(131), 지지축(131)의 둘레에 방사상 구조로 배치되며 전자부품을 흡착하는 복수의 흡착노즐(132), 지지축(131)을 승강시키는 것과 함께 지지축(131)을 단속적으로 회전시키는 지지축 구동장치(133)를 포함한다.
예를 들어, 지지축 구동장치(133)로는 공압이나 유압으로 동작하는 승강기구와 회전모터를 조합합 장치, 회전모터의 회전력을 직선운동으로 변환하는 동력전달기구를 조합한 장치 등이 이용될 수 있다.
이와 같은 픽커(13)는 지지축(131)의 하강 동작, 흡착노즐(132)에 리니어 피더(12) 상의 전자부품을 흡착하는 동작, 지지축(131)의 상승에 의하여 리니어 피더(12)로부터 전자부품을 인계 받는 동작, 지지축(131)의 회전 동작, 지지축(131)의 하강 동작 후 흡착노즐(132)에 흡착된 전자부품을 흡착노즐(132)로부터 이탈시켜 후술할 턴테이블(21) 상의 흡착부재(23)에 인계하는 동작의 순서를 통하여 반송유닛(20)에 전자부품을 공급할 수 있다.
도 3은 도 1에 도시된 반송유닛(20)의 일부를 나타내는 사시도이다.
도 1 및 도 3을 참조하면, 반송유닛(20)은, 원판 형상의 구조를 갖는 턴테이블(21), 턴테이블(21)을 단속적으로 회전시키기 위한 턴테이블 회전장치(22), 턴테이블(21) 상에 원주방향을 따라 일정한 간격으로 배치되며 픽커(13)에 의하여 공급된 전자부품이 탑재되는 흡착부재(23), 흡착부재(23) 상에 흡착된 전자부품에 에어를 분사하여 전자부품을 흡착부재(23)로부터 이탈시키는 에어 분사기구(24)를 포함한다.
도 4는 도 3에 도시된 반송유닛(20)을 측면에서 본 단면도이다.
도 4와 같이, 흡착부재(23)는 턴테이블(21)의 상면으로부터 상측으로 돌출하도록 설치된다.
흡착부재(23)의 상단에는 전자부품의 하면이 부착되도록 평면 형상의 흡착부(231)가 마련되고, 흡착부(231)에는 흡입유로(232)를 통하여 진공원(흡입력 발생수단)(도시되지 않음)과 연결되는 흡입구(233)가 형성됨으로써, 전자부품은 흡착부재(23)의 흡착부(231)에 흡입구(233)에 작용하는 부압에 의하여 흡착된다.
이와 같이, 흡착부재(23)가 턴테이블(21) 상에 설치되고, 흡착부재(23)의 상단에 전자부품이 탑재되는 흡착부(231)가 마련되는 구성은, 턴테이블(21)의 상면에 전자부품의 크기에 대응되는 안착홈을 형성하고, 안착홈의 내부에 전자부품을 수용하는 구성에 비하여, 전자부품의 크기에 큰 제한이 없으므로, 다양한 크기를 가지는 전자부품을 검사 및 분류하는 데에 있어 유리하다.
또한, 턴테이블(21) 상에 흡착부재(23)가 설치되는 구성은, 전자부품이 흡착부재(23)에 흡착된 상태에서 전자부품의 둘레가 외부로 노출될 수 있으므로, 전극이 전자부품의 측면에 배치되는 경우에도, 전자부품의 전극에 전원과 연결되는 프로브 핀을 용이하게 접촉시킬 수 있는 이점이 있다.
한편, 흡착부(231)의 폭(Ws)은 흡착부(231)에 흡착되는 전자부품의 폭(Wp)에 비하여 작게 형성되는 것이 바람직하다. 이러한 경우에는, 전극이 전자부품의 하면에 배치되는 경우에도, 전원과 연결되는 프로브 핀이 전자부품의 하측으로 개방된 영역(A)을 통하여 전자부품의 전극과 용이하게 접촉될 수 있는 이점이 있다. 또한, 전자부품의 하면 중 흡착부(231)에 흡착되지 않은 일부분이 개방된 영역(A)을 통하여 외부로 노출될 수 있고, 이 노출된 일부분을 향하여 에어가 분사될 수 있으므로, 전자부품의 측면뿐만 아니라 전자부품의 하면에 에어를 분사하여, 전자부품을 흡착부재(23)로부터 용이하게 이탈시킬 수 있는 이점이 있다.
또한, 흡착부(231)의 둘레에는 에어 분사기구(24)에 의하여 분사되는 에어를 흡착부(231)에 흡착된 전자부품 쪽으로 안내하는 경사면(234)이 형성되는 것이 바람직하다. 따라서, 분사된 에어가 경사면(234)에 안내되어 개방된 영역(A)을 통하여 전자부품의 하면 중 흡착부(231)에 흡착되지 않은 일부분과 충돌할 수 있으므로, 전자부품이 흡착부재(23)로부터 용이하게 이탈될 수 있다.
도 3, 4에서와 같이, 에어 분사기구(24)는 튜브, 파이프 등으로 구성된 배관(244)을 통하여 에어 공급원(도시되지 않음)과 연결되며 내부에 끝이 흡착부재(23)에 흡착된 전자부품 쪽 방향을 향하도록 연장되는 구조의 유로(241)가 형성된 유로부재(243)를 포함한다. 유로부재(243)에는 흡착부재(23)에 흡착된 전자부품이 배출되는 배출구(242)가 형성된다.
유로부재(243)는 턴테이블(21)의 둘레방향을 따라 연장되는 원호 형상으로 형성되며 복수의 흡착부재(23) 중 일부의 흡착부재(23)를 복개하도록 배치될 수 있다. 유로부재(243)는 턴테이블(21)과 별도로 마련되는 지지부재(245)에 고정되어, 턴테이블(21)은 단속적으로 회전되는 반면, 유로부재(243)는 정위치에 고정된 상태를 유지한다.
도 1에 도시된 바와 같이, 유로부재(243)는 검사가 완료된 전자부품이 흡착부재(23)로부터 이탈되어 배출되는 배출영역(D)에 배치된다.
공급유닛(10)에 의하여 전자부품이 흡착부재(23)로 공급되는 공급영역(S) 및 검사유닛(30)에 의하여 흡착부재(23)에 흡착된 전자부품이 검사되는 검사영역(T)에서는 흡착부재(23)가 외부로 노출되어야 하므로, 공급영역(S) 및 검사영역(T)에는 유로부재(242)가 배치되지 않는다.
한편, 유로부재(243)가 배출영역(D)에 있는 흡착부재(23)를 복개하므로, 유로(241)를 통과하여 흡착부재(23)에 흡착된 전자부품을 향하여 분사되는 에어의 유동공간이 외부로부터 차단될 수 있으므로, 이 유동공간에서의 에어의 유동이 외부의 환경에 의하여 영향을 받지 않게 된다. 따라서, 분사된 에어의 힘이 전자부품에 적절하게 가해질 수 있으며, 이에 따라, 전자부품이 흡착부재(23)로부터 이탈되는 과정이 원활하게 수행될 수 있다.
유로(241) 및 배출구(242)는 복수의 흡착부재(23)에 대응하도록 복수로 마련된다. 따라서, 원호 형상의 유로부재(243)가 복수의 흡착부재(23)를 복개하도록 설치하는 간단한 작업을 통하여 전자부품을 흡착부재(23)로부터 이탈시켜 배출시킬 수 있도록 할 수 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, 유로(241)를 통과한 에어가 전자부품의 하면 쪽으로 유동할 수 있도록, 유로(241)는 에어의 유동방향을 따라 전자부품의 하측을 향하여 하측에서 상측으로 경사지게 형성되는 것이 바람직하다. 유로(241)의 경사각은 약 5도로 설정하는 것이 바람직하다. 따라서, 유로(241)를 통과한 에어는 전자부품의 하면 중 흡착부(231)에 흡착되지 않는 일부분으로 유동할 수 있으므로, 전자부품은 흡착부재(23)로부터 용이하게 이탈될 수 있다.
검사유닛(30)은 턴테이블(21)의 단속적인 회전에 의하여 턴테이블(21)의 원주방향으로 이동하는 전자부품의 특성을 검사하는 역할을 한다.
예를 들어, 전자부품이 발광다이오드인 경우, 검사유닛(30)은 발광다이오드에 전원을 연결한 후 발광다이오드의 통전 여부와 같은 전기적 특성을 측정하는 제1검사부(31), 발광다이오드에 전원을 연결한 후 발광다이오드에서 발광되는 광의 휘도, 색도 등의 광학적 특성을 측정하는 제2검사부(32)로 구성될 수 있다. 다만, 본 발명은 이러한 검사유닛(30)의 구성에 한정되지 않으며, 검사유닛(30)에 제1검사부(31) 또는 제2검사부(32) 중 어느 하나만 구비될 수 있다.
도 1에 도시된 바와 같이, 분류유닛(40)은 전자부품이 배출되는 배출영역(D) 측에 배치되어 흡착부재(23)로부터 이탈된 전자부품을 특성별로 분류하여 수납하는 역할을 한다.
분류유닛(40)은, 복수의 흡착부재(23) 중 일부의 흡착부재(23)와 대응하도록 배치되어 검사된 전자부품을 하나씩 개별적으로 분류하는 제1분류유닛(개별식 분류유닛, 50), 제1분류유닛(50)과의 간섭이 발생되지 않는 위치에서 복수의 흡착부재(23)와 대응하도록 배치되어 검사된 복수의 전자부품을 분류하는 제2분류유닛(그룹식 분류유닛, 60)을 포함한다.
소정의 특성에서 배출량이 상대적으로 많은 전자부품은 제1분류유닛(50)에 의하여 개별적으로 분류할 수 있고, 소정의 특성에서 배출량이 상대적으로 적은 전자부품은 제2분류유닛(60)에 의하여 일괄적으로 그룹으로 분류할 수 있다. 다만, 본 발명의 제1실시예는 이러한 분류방식에 한정되지 않는다.
도 5에 도시된 바와 같이, 제1분류유닛(50)은, 반송유닛(20)에 의하여 반송되는 전자부품 이송경로의 외측에 배치되고 전자부품이 유입되는 유입구(511)를 갖는 가이드부재(51), 유입구(511)로 유입된 전자부품이 통과하는 튜브(52), 튜브(52)의 출구(522)와 연결되며 튜브(52)를 통과한 전자부품이 수납되는 수납통(53)을 포함한다.
가이드부재(51)의 유입구(511)는 유로부재(243)의 배출구(242)와 대향하도록 배치되어, 배출구(242)로부터 배출되는 전자부품은 유입구(511)로 유입될 수 있다.
가이드부재(51)는 하측방향으로 연장된 연장부(512)를 갖고, 튜브(52)는 연장부(512)의 끝 부분에 연결될 수 있다.
가이드부재(51)에는 유입구(511)로 유입된 전자부품의 이동방향을 튜브(52)의 입구(521)를 향하는 방향으로 전환하는 경사부(513)가 마련될 수 있다. 경사부(513)는 유입구(511)를 통하여 대략 수평방향으로 유입되는 전자부품의 이동방향을 수직방향으로 전환하여 유입구(511)로 유입된 전자부품을 튜브(52)의 입구(521) 쪽으로 안내하는 역할을 한다.
이와 같은 경사부(513)에 따르면, 전자부품의 배출이 원활하게 이루어지도록 할 수 있고, 튜브(52)를 수직방향으로 연장되게 설치할 수 있으므로 전자부품의 배출경로를 마련하기 위하여 요구되는 공간을 줄일 수 있다.
한편, 제1분류유닛(50)은 턴테이블(21) 상의 하나의 흡착부재(23)에 대응되는 하나의 가이드부재(51)로 구성될 수 있고 복수의 흡착부재(23)에 각각 대응되도록 턴테이블(21)의 원주방향을 따라 일정한 간격으로 배치되는 복수의 가이드부재(51)로 구성될 수 있다.
도 1, 도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 제2분류유닛(60)은, 반송유닛(20)에 의하여 반송되는 전자부품의 이송경로 측에 배치되고 전자부품이 유입되는 복수의 유입구(611)가 복수의 행과 복수의 열로 배치되는 분배부재(61), 분배부재(61)의 복수의 유입구(611)와 각각 연결되며, 유입구(611)로 유입된 전자부품이 통과하는 복수의 튜브(62), 복수의 튜브(62)의 출구와 각각 연결되어 복수의 튜브(62)를 통과한 전자부품이 수납되는 복수의 수납통(도시되지 않음), 복수의 유입구(611) 중 일부의 유입구(611)가 반송유닛(20)에 의하여 반송된 전자부품의 위치와 대응되는 위치에 위치되도록 분배부재(61)를 회전시키는 회전장치(64)를 포함한다.
복수의 튜브(62)와 복수의 수납통을 일대일로 대응되도록 마련하여, 하나의 튜브(62)를 통과한 전자부품이 하나의 수납통에 수납되도록 할 수 있다. 또한, 복수의 튜브(62)의 개수에 비하여 적은 개수의 수납통을 마련하고, 두 개 이상의 튜브(62)를 통과한 전자부품들이 하나의 수납통에 수납되도록 할 수 있다.
분배부재(61)는, 복수의 유입구(611)가 형성되며 턴테이블(21)상의 흡착부재(23)에 흡착된 전자부품에 대향하는 대향면(612a)을 가지는 제1부(612), 제1부(612)로부터 대략 직교되는 방향으로 연장되며 튜브(62)가 통과하는 관통공(613)이 형성되는 제2부(614)로 구성될 수 있다.
제1부(612)의 대향면(612a)은, 수평방향으로는 턴테이블(21)의 원주와 대응되는 오목한 곡면을 가지며, 수직방향으로는 턴테이블(21)에 대하여 볼록한 곡면을 가진다. 이에 따라, 분배부재(61)가 회전될 때, 제1부(612)의 대향면(612a)이 턴테이블(21)과 충돌되는 것이 방지될 수 있다.
도 8 내지 도 10에 도시된 바와 같이, 분배부재(61)의 회전동작에 의하여, 복수의 유입구(611) 중 하나의 행으로 배치되는 복수의 유입구(611)가 유로부재(243)의 배출구(242)와 대응될 수 있으며, 이에 따라, 복수의 전자부품이 하나의 행으로 배치되는 복수의 유입구(611) 내로 그룹으로 유입될 수 있다.
복수의 관통공(613)에는 복수의 튜브(62)가 관통됨에 따라 복수의 튜브(62)가 정렬된다. 따라서, 분배부재(61)가 회전되는 과정에서, 복수의 튜브(62)가 휘거나, 서로 간섭하는 등의 문제를 방지할 수 있고, 이에 따라, 복수의 전자부품이 복수의 튜브(62)를 원활하게 통과할 수 있다.
회전장치(64)는, 분배부재(61)와 연결된 구동축(641), 구동축(641)과 연결되어 구동축(641)을 회전시키는 회전모터(642)를 포함할 수 있다.
회전장치(64)의 구동축(641)과 회전모터(642)는 벨트(643)와 풀리(644)에 의하여 서로 연결될 수 있다. 벨트(643)로는 타이밍 벨트가 적용될 수 있다. 본 발명은 이러한 벨트 전동기구에 한정되지 않으며, 구동축(641)과 회전모터(642)는 기어나 링크, 체인 등 다양한 전동기구를 통하여 연결될 수 있다.
회전모터(642)에는 인코더와 같은 회전모터(642)의 회전각 변위를 측정하는 회전각 측정기구(645)가 연결되는 것이 바람직하다. 이러한 회전각 측정기구(645)를 이용하여 측정한 결과로부터 분배부재(61)의 현재의 위치 및 회전된 각도를 측정함으로써, 복수의 유입구(611)의 위치를 유로부재(243)의 배출구(242)의 위치와 일치시킬 수 있다.
또한, 회전장치(64)에는 구동축(641)의 회전변위를 감지하는 회전감지기구(646)가 구비되는 것이 바람직하다. 예를 들면, 회전감지기구(646)는, 구동축(641)과 연결되어 구동축(641)과 함께 회전하며 적어도 하나의 슬롯(646a)을 가지는 회전부재(646b), 회전부재(646b)의 일측 및 타측에 각각 배치되는 발광부(646c) 및 수광부(646d)를 포함하여 구성될 수 있다.
이와 같은 회전감지기구(646)는 발광부(646c)에서 발광된 광이 회전부재의 슬롯을 통과하는지 여부 및 통과하는 횟수를 감지하여 구동축(641)의 회전여부 및 회전량을 계측하는 역할을 수행한다.
한편, 본 발명은 상기한 회전감지기구(646)의 구성에 한정되지 않으며, 회전감지기구(646)로서, 발광부(646c) 및 수광부(646d)를 가지는 광센서를 대체하여 초음파센서, 자외선센서 또는 적외선센서가 사용될 수 있는 등, 구동축의 회전여부 및 회전량을 감지할 수 있는 다양한 구성이 채용될 수 있다.
이와 같이, 회전장치(64)에 회전감지기구(646)가 마련되는 경우에는 분배부재(61)의 현재의 위치 및 회전된 각도를 용이하게 판단할 수 있으며, 분배부재(61)를 초기의 위치로 용이하게 위치시킬 수 있다.
회전장치(64)에는 구동축(641)의 회전을 제한하는 스토퍼기구(647)가 구비되는 것이 바람직하다. 예를 들면, 스토퍼기구(647)는, 구동축(641)과 연결되어 구동축(641)과 함께 회전하며 구동축(641)의 회전중심축을 기준으로 편심된 위치에 한 쌍의 홈(647a)이 형성되는 회전블록(647b), 회전블록(647b)의 한 쌍의 홈(647a)에 각각 대응되는 위치에 배치되며 위치가 고정되는 한 쌍의 고정바(647c)를 포함할 수 있다.
이와 같은 스토퍼기구(647)는 구동축(641)이 비정상적으로 회전 시 회전블록(647b)의 홈(647a)에 고정바(647c)의 일단이 밀착되면서 회전블록(647b)의 회전이 제한되고, 이에 따라, 구동축(641)의 회전이 제한될 수 있다.
한편, 구동축(641)의 회전을 제한할 수 있는 구성이라면, 본 발명은 상기한 스토퍼기구(647)의 구성에 한정되지 않는다.
이와 같이, 회전장치(64)에 스토퍼기구(647)가 마련되는 경우에는, 분배부재(61)의 비정상적인 회전을 방지하여, 분배부재(61) 및/또는 전자부품의 손상을 방지할 수 있다.
도 8 내지 도 10에 도시된 바와 같이, 하나의 행으로 배치되는 복수의 유입구(611)를 유로부재(243)의 배출구(242)와 일치시킬 수 있도록, 분배부재(61)가 상측방향으로 회전되거나 하측방향으로 회전될 수 있다.
도 9에 도시된 바와 같이, 전자부품의 분류동작이 수행되지 않는 대기상태에서, 분배부재(61)는 그 중앙에 위치되는 유입구(611)의 수직위치가 턴테이블(21)의 수직위치와 일치되도록 위치되는 것이 분배부재(61)의 초기 회전 시 분배부재(61)의 변위를 줄이는 데에 있어 바람직하다.
그리고, 소정의 특성에서 배출량이 많은 전자부품이 유입되는 유입구(611)는 분배부재(61)의 중앙에 배치되고 소정의 특성에서 배출량이 적은 전자부품이 유입되는 유입구(611)의 상측이나 하측에 배치되는 것이 분배부재(61)의 회전변위를 줄이는 데에 있어 바람직하다.
이와 같은 제2분류유닛(60)은 분배부재(61)의 회전에 의하여 복수의 유입구(611)가 복수의 배출구(242)와 일치되도록 위치될 수 있고, 복수의 전자부품이 복수의 배출구(242)로부터 배출된 후 복수의 유입구(611)로 유입된 후 특성에 따라 분류될 수 있다. 따라서, 복수의 전자부품을 그룹으로 배출 및 분류할 수 있으므로 전자부품을 신속하고 정확하게 분류할 수 있다.
또한, 분배부재(61)가 회전되는 방식의 제2분류유닛(60)은 분배부재가 상하방향으로 병진하는 구성에 비하여 분배부재(61)의 변위를 줄일 수 있어 제2분류유닛(60)의 설치공간을 최소화할 수 있다.
또한, 분배부재(61)가 회전되는 방식의 제2분류유닛(60)은 분배부재(61)의 변위를 최소화할 수 있으므로 분배부재(61)가 회전될 때 튜브(62)의 이동을 최소화할 수 있고, 이에 따라 튜브(62)가 이동되는 과정에서 발생할 수 있는 튜브(62)의 장력변화를 방지할 수 있으며, 튜브(62)와 수납통 사이의 연결을 보상해주기 위한 가이드튜브 등의 부가적인 부품이 요구되지 않는 이점이 있다.
또한, 분배부재(61)의 초기의 위치를 설정하는 과정은 분배부재(61)를 상측(또는 하측)으로 최대로 위치시키고 하측(또는 상측)으로 최대로 위치시키면서 회전각 측정기구(645) 및/또는 회전감지기구(646)를 통하여 회전모터(642)의 회전량을 측정하고, 측정된 회전량의 변화를 이용하여 분배부재(61)의 최상위치 및 최하위치를 판별하는 과정을 포함하여 진행된다.
이와 같이, 분배부재(61)가 회전되는 방식의 제2분류유닛(60)은 회전모터(642)와 연결된 회전각 측정기구(645) 및/또는 회전감지기구(646)를 이용하여 분배부재(61)의 초기의 위치를 간단하고 용이하게 설정할 수 있다.
또한, 분배부재가 상하방향으로 병진하는 구성은 분배부재의 초기의 위치를 설정하기 위하여 최상의 위치와 최하의 위치에 복수의 감지센서가 요구되지만, 분배부재(61)가 회전되는 방식의 제2분류유닛(60)은, 이러한 복수의 감지센서가 요구되지 않으므로 구성을 단순화 및 소형화할 수 있다.
또한, 분배부재(61)가 회전되는 방식의 제2분류유닛(60)은 분배부재가 상하방향으로 병진하는 구성에 비하여, 분배부재(61)의 변위를 줄일 수 있으므로, 분배부재(61)의 초기의 위치를 설정하는 데에 소요되는 시간을 줄일 수 있는 이점이 있다.
또한, 분배부재(61)가 회전되는 방식의 제2분류유닛(60)은 분배부재(61)를 구동하는 데에 회전모터(642)의 회전력을 그대로 이용하므로 분배부재가 상하방향으로 병진하는 구성에서 적용될 수 있는 회전운동을 직선운동으로 변환하기 위한 기구가 요구되지 않아 구성을 단순화 및 소형화시킬 수 있으며, 운동을 변환하는 데에 소요되는 시간을 없애 전자부품의 분류동작을 신속하게 수행할 수 있다.
한편, 제1분류유닛(50)은 검사유닛(30)과 인접한 위치에서 전자부품의 이동방향으로 검사유닛(30)의 하류에 배치되며, 제2분류유닛(60)은 전자부품의 이동방향으로 제1분류유닛(60)의 하류에 배치된다.
제1분류유닛(50)는 턴테이블(21)의 원주방향을 따라 복수로 배치될 수 있고, 제2분류유닛(60)도 턴테이블(21)의 원주방향을 따라 복수로 배치될 수 있다.
제1실시예에서는 제1분류유닛(50) 및 제2분류유닛(60)이 함께 구비되는 구성에 대하여 제시하고 있으나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며 제2분류유닛(60)만이 구비되는 구성도 이용될 수 있다.
제1분류유닛(50)은 소정의 특성에서 배출량이 많은 전자부품을 분류하기 위하여 이용되며, 제2분류유닛(60)은 소정의 특성에서 배출량이 적은 전자부품을 분류하기 위하여 이용된다.
소정의 특성에서 배출량이 많은 전자부품을 제1분류유닛(50)을 이용하여 하나씩 개별적으로 분류하는 경우에는 제2분류유닛(60)을 이용하여 그룹으로 분류하는 경우에 비하여 배출량이 많은 전자부품을 제2분류유닛(60)으로 분류할 때 발생하는 분배부재(61)의 과도한 회전을 방지하여 전자부품의 분류에 소요되는 시간을 절감할 수 있으며 분배부재(61)의 구동에너지를 절약할 수 있다.
설명한 바와 같은 본 발명의 제1실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치의 동작을 살펴본다.
먼저, 볼 피더(11)의 내부에 복수의 전자부품이 수용되면, 볼 피더(11)와 리니어 피더(12)의 동작에 의하여, 볼 피더(11)에 수용된 복수의 전자부품이 리니어 피더(12)를 따라 일렬로 픽커(13) 쪽으로 공급된다.
그리고, 리니어 피더(12)의 단부로 공급된 전자부품은, 픽커(13)의 흡착노즐(132)의 승강동작 및 회전동작을 통하여, 리니어 피더(12)로부터 흡착부재(23)로 이송된 후, 흡착부재(23)의 흡착부(231)에 흡착되어 지지된다.
이러한 상태에서, 턴테이블(21)의 단속적인 회전에 의하여 흡착부재(23)에 흡착된 전자부품이 턴테이블(21)의 원주방향으로의 이송경로를 따라 이동하며, 전자부품이 제1검사부(31) 및 제2검사부(32)를 통과하는 과정에서, 전자부품의 특성이 측정된다.
그리고, 특성의 측정이 완료된 전자부품이 제1분류유닛(50)에 의하여 분류되는 대상인지 또는 제2분류유닛(50)에 의하여 분류되는 대상인지 여부가 판정되며, 이러한 판정결과에 따라 전자부품이 제1분류유닛(50) 또는 제2분류유닛(60)으로 이동된 후 특성별로 분류된다.
제1분류유닛(50)에 의하여 분류되어야 하는 특성의 전자부품이 이송과정에서 가이드부재(51)의 유입구(511)와 대향하도록 위치되면, 해당의 유로부재(243)의 유로(241)를 통해서는 에어가 분사된다. 이에 따라, 해당 전자부품은 흡착부재(23)로부터 이탈된 후 유로부재(243)의 배출구(242)를 통하여 배출되면서 가이드부재(51)의 유입구(511)로 유입되고 가이드부재(51) 및 튜브(52)를 통과한 후 수납통(53)에 수납된다.
제2분류유닛(60)에 의하여 분류되어야 하는 특성의 전자부품이 이송과정에서 분배부재(61)의 유입구(611)와 대향하도록 위치되면, 해당하는 유로부재(243)의 유로(241)를 통해서는 에어가 분사된다. 이에 따라, 해당 전자부품은 흡착부재(23)로부터 이탈된 후 유로부재(243)의 배출구(242)를 통하여 배출되면서 분배부재(61)의 유입구(611)로 유입되고 튜브(62)를 통과한 후 수납통에 수납된다.
여기에서, 제2분류유닛(60)에 의하여 분류되어야 하는 특성의 전자부품이 분배부재(61)와 인접하도록 이송되기 전에, 분배부재(61)는 그 전자부품이 특성에 맞는 수납통과 연통된 유입구(611)와 일치하도록 미리 회전될 수 있다.
또한, 제1실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치는, 전자부품이 흡착되는 흡착부재(23)를 턴테이블(21)상에 돌출되게 설치함으로써, 전자부품의 측면 및 하면으로의 전류인가가 가능하고, 전자부품의 측면 및 하면에 에어를 분사하여 전자부품을 흡착부재(23)로부터 용이하게 이탈시킬 수 있으며, 다양한 크기를 가지는 전자부품에 대한 검사 및 분류가 가능하다는 효과가 있다.
제1실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치는 방사상으로 배치된 복수의 흡착노즐(132)을 승강시키고 회전시키는 동작을 통하여 복수의 전자부품을 흡착부재(23)상으로 순차적으로 공급할 수 있으므로 전자부품의 공급을 신속하고 정확하게 수행할 수 있는 효과가 있다.
또한, 제1실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치는 전자부품을 개별적으로 분류하는 제1분류유닛(50) 및 복수의 전자부품을 그룹으로 분류하는 제2분류유닛(60)을 구비함으로써, 소정의 특성에서 배출량이 많은 전자부품은 제1분류유닛(50)을 이용하여 분류하고, 소정의 특성에서 배출량이 적은 전자부품은 제2분류유닛(60)을 이용하여 분류할 수 있으므로, 전자부품을 분류하는 동작을 신속하게 수행할 수 있고, 배출량이 많은 전자부품을 제2분류유닛(60)을 이용하여 분류할 때 발생하는 분배부재(61)의 과도한 회전을 방지하여 전자부품의 분류에 소요되는 시간을 절감할 수 있으며, 분배부재(61)의 구동에너지를 절약할 수 있는 효과가 있다.
또한, 제1실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치는 제1분류유닛(50)에 경사부(513)가 마련된 가이드부재(51)를 구비함으로써, 전자부품의 배출을 원활하게 수행할 수 있고, 전자부품의 배출경로를 마련하기 위해 필요한 공간을 줄일 수 있는 효과가 있다.
또한, 제1실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치는, 제2분류유닛(60)이 분배부재(61)의 회전에 의하여 전자부품이 배출되는 배출구(242)와 전자부품이 유입되는 유입구(611)를 서로 일치시킬 수 있도록 구성됨으로써, 분배부재(61)의 변위를 줄일 수 있으므로, 제2분류유닛(60)의 설치공간을 최소화할 수 있고, 튜브(62)의 이동을 최소화하여 튜브(62)가 이동되는 과정에서 발생할 수 있는 튜브(62)의 장력변화를 방지할 수 있고, 튜브(62)와 수납통 사이의 연결을 보상해주기 위한 가이드튜브 등의 부가적인 부품이 요구되지 않는 효과가 있다.
이하부터는 살펴본 바와 같은 제1실시예와 유사하게 구성되는 다른 실시예들을 설명한다. 다른 실시예들을 설명하는 데 있어서, 제1실시예와 동일한 구성은 제1실시예와 동일한 도면부호를 부여하고, 이에 대한 자세한 설명은 생략한다.
도 11은 본 발명의 제2실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치의 주요부가 도시된 사시도이다. 도 11에서와 같이, 본 발명의 제2실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치에 있어서, 반송유닛(20)은 원판 형상의 구조를 갖고 외주의 둘레에 전자부품이 하나씩 탑재되는 복수의 수용홈(261)이 원주방향을 따라 일정한 간격으로 형성된 턴테이블(26)을 포함한다.
반송유닛(20)은 제1실시예와 마찬가지의 구성을 가져 턴테이블(26)을 단속적으로 회전시키는 턴테이블 회전장치를 더 포함할 수 있다.
도 12는 도 11에 도시된 턴테이블(26) 및 제2분류유닛(60)을 측면에서 본 단면도이다. 도 12에 도시된 바와 같이, 수용홈(261)의 바닥에는 흡입유로(262)를 통하여 진공원(도시되지 않음)과 연결되는 흡입구(263)가 형성되어, 전자부품은 흡입구(263)에 작용하는 부압에 의하여 수용홈(261)에 흡착된다.
여기에서, 수용홈(261)에 전자부품을 흡착시키는 구성은 수용홈(261)에 수용된 전자부품이 턴테이블(26)의 회전 시 발생되는 원심력에 의하여 수용홈(261)으로부터 이탈되는 현상을 방지하는 것이므로, 턴테이블(26)의 회전속도가 느린 경우에는 수용홈(261)에 전자부품을 흡착시키는 구성이 제외될 수도 있다.
한편, 전자부품을 수용홈(261)으로 공급하기 위하여, 제1실시예에서 설명한 픽커(13)를 이용할 수 있으며, 리니어 피더(12)의 단부를 수용홈(261)과 인접되도록 설치하여, 전자부품이 리니어 피더(12)로부터 수용홈(261)으로 곧바로 공급되도록 할 수 있다. 전자부품이 수용홈(261)의 내부로 원활하게 공급되어 수용될 수 있도록, 수용홈(261)의 크기는 전자부품의 크기에 비하여 크게 형성될 수 있다.
턴테이블(26)의 수용홈(261)에는 에어 공급원(미도시)과 유로(264)를 통하여 연통되는 에어 분사구(265)가 형성될 수 있다. 유로(264)는 턴테이블(26)의 내부에 형성될 수 있다. 에어 분사구(265)는 수용홈(261)에 수용되는 전자부품을 향하여 개방될 수 있다. 이에 따라, 에어 공급원으로부터 공급되어 에어 분사구(265)를 통하여 분사되는 에어에 의하여 수용홈(261)의 내부에 수용된 전자부품이 수용홈(261)으로부터 배출될 수 있다.
턴테이블(26)의 일측에 제2분류유닛(60)이 마련되는 경우, 제2분류유닛(60)의 분배부재(61)는, 복수의 유입구(611)가 형성되며 턴테이블(26)의 수용홈(261)에 수용된 전자부품에 대향하는 대향면(612a)을 가지는 제1부(612), 제1부(612)로부터 대략 직교되는 방향으로 연장되며 튜브(62)가 통과하는 관통공(613)이 형성되는 제2부(614)로 구성될 수 있다. 이러한 제2분류유닛(60)의 구성 및 작용효과는 제1실시예에서 제시한 구성 및 작용효과와 동일할 수 있다.
제2실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치에는 제1실시예에서 제시한 공급유닛(10), 검사유닛(30) 및 분류유닛(40)이 구비될 수 있다. 따라서, 제2실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치의 구성 및 작용효과는 제1실시예에서 제시한 것과 동일할 수 있다. 한편, 제2실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치에는 제1실시예와 마찬가지로 제1분류유닛(50) 및 제2분류유닛(60)이 함께 구비될 수 있으며, 제2분류유닛(60)만이 구비될 수 있다.
도 13은 본 발명의 제3실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치의 주요부가 도시된 평면도이고, 도 14는 도 13의 A-A선 단면도이며, 도 15는 도 13의 B-B선 단면도이다.
도 13 내지 도 15에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제3실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치는 제1실시예 또는 제2실시예와 비교하여 볼 때, 기타 구성 및 작용은 모두 동일한 것에 대하여, 원형 구조의 턴테이블(21)이 샤프트(27)를 중심으로 회전되는 구성을 갖는 점, 턴테이블(21)이 전자부품을 수용하기 위한 교체식 수용부재(28)를 포함하는 점만이 상이하다. 이를 설명하면 다음과 같다.
샤프트(27)는 수직으로 설치된 회전축인 것이 바람직하다. 실시조건 등에 따라서는 샤프트(27)가 고정축일 수도 있다. 턴테이블(21)을 구성하는 텐테이블 바디의 센터에는 샤프트(27)가 장착되어, 턴테이블(21)은 샤프트(27)와 함께 회전될 수 있다. 도시된 바는 없으나, 샤프트(27)는 회전모터를 갖춘 샤프트 구동장치에 의하여 단속적으로 회전될 수 있다.
이와 같이, 샤프트(27)를 이용하여 턴테이블(21)을 회전 가능하도록 하는 구성은 턴테이블(21)을 회전 가능하게 받치는 지지수단을 이용하는 구성에 비하여 구조적으로 단순하므로 조립성, 유지 및 보수 면에서 유리하다.
제3실시예는 제1실시예의 흡착부재(23)나 제2실시예의 수용홈(261) 대신, 교체식 수용부재(28)를 포함한다.
교체식 수용부재(28)는 턴테이블(21)을 구성하는 텐테이블 바디의 외주 부분에 분리 가능하게 결합되어 턴테이블 바디로부터 분리될 수 있다. 텐테이블 바디는 원판형의 구조를 가질 수 있고, 교체식 수용부재(28)는 이러한 텐테이블 바디의 외주 부분에 대응하는 링 형상의 구조를 가질 수 있다. 교체식 수용부재(28)는 텐테이블 바디에 볼트 등의 탈착수단에 의하여 분리 가능하게 결합될 수 있다.
이와 같은 교체식 수용부재(28)는 공급유닛(도 1의 도면부호 10 참조)으로부터의 전자부품이 수용되는 복수의 수용부(281)가 원주방향을 따라 서로 이격되도록 일정한 간격을 두고 마련된다. 교체식 수용부재(28)는 반경방향으로 분할되어 각각 원호 형상의 구조를 갖는 복수의 단위부재(28A, 28B, 28C, 28D)로 구성된다.
교체식 수용부재(28)를 구성하는 단위부재(28A, 28B, 28C, 28D)는 도 13에 4개인 것으로 도시되어 있으나, 단위부재(28A, 28B, 28C, 28D)의 분할개수는 적절히 증감 가능하다. 물론, 실시조건 등에 따라서는 교체식 수용부재(28)를 복수로 분할하지 않음으로써 교체식 수용부재(28)를 링 형태의 단일체로 구성할 수도 있다.
교체식 수용부재(28)에 따르면, 검사 및 분류하고자 하는 전자부품의 종류에 따라서는 수용부(281)에 전자부품을 수용할 수 없거나 전자부품이 불안정하게 수용되는 점을 전자부품에 적합한 다른 수용부재로 교체하는 것에 의하여 해소할 수 있다.
한편, 위에서는 교체식 수용부재(28)가 링 형상의 구조를 갖고 턴테이블(21)을 구성하는 텐테이블 바디의 외주 부분을 따라 구비되어 텐테이블 바디의 외주 부분의 전반에 걸쳐 위치되는 것으로 설명하였으나, 교체식 수용부재(28)는 텐테이블 바디의 전체 외주 부분 중 일부 영역에 한하여 구비되는 구성을 갖고, 텐테이블 바디의 전체 외주 부분 중 교체식 수용부재(28)가 구비되는 않는 나머지 영역에는 제1실시예의 흡착부재(23) 또는 제2실시예의 수용홈(261)을 마련할 수 있다.
이와 같이 교체식 수용부재(28)를 제1실시예의 흡착부재(23) 또는 제2실시예의 수용홈(261)과 조합하는 경우, 교체식 수용부재(28)의 수용부(281)와 제1실시예의 흡착부재(23) 또는 제2실시예의 수용홈(261)은 그 높이가 모두 서로 동일하도록 구성하는 것이 바람직하다.
참고로, 텐테이블 바디의 전체 외주 부분 중 일부 영역에만 교체식 수용부재(28)를 구비하는 경우, 구비되는 교체식 수용부재(28)의 개수는 하나 또는 둘 이상일 수 있다. 또, 복수로 구비된 교체식 수용부재(28)는 서로 이격되도록 간격을 두고 배치될 수 있다.
도 13 내지 도 15를 참조하면, 교체식 수용부재(28)는 상대적으로 돌출된 형상의 볼록부(285)가 원주방향을 따라 마련되고, 수용부(281)는 볼록부(285)에 형성된다. 즉, 각각의 단위부재(28A, 28B, 28C, 28D)는 그 단위부재 본체로부터 상측으로 일정 높이 돌출된 볼록부(285)를 갖고, 볼록부(285)의 상부가 수용부(281)가 배치된다.
수용부(281)는 반경방향으로 내측(샤프트(27) 쪽, 도 13의 도면부호 281A 참조)과 그 반대쪽인 외측(도 13의 도면부호 281B 참조)이 개방된 구조를 갖는 일정 깊이의 홈으로 구성된다. 이렇게 내측(281A)과 외측(281B)이 개방된 구조를 갖는 수용부(281)에 따르면, 수용부(281)에 수용된 전자부품의 전극에 전원과 연결되는 프로브 핀을 용이하게 접촉시킬 수 있다.
내측(281A)과 외측(281B)이 개방된 홈 형상의 수용부(281)는 그 바닥과 대향하는 입구 측이 수용부(281)의 바닥에 비하여 확장된 구조를 갖도록 형성되어, 전자부품은 수용부(281)에 용이하게 수용될 수 있다. 수용부(281)의 입구 확장은 수용부(281)의 입구 측에 경사면을 형성하거나 라운드 처리를 하는 것으로 구현할 수 있다.
수용부(281)에는 전자부품을 진공원(흡입력 발생수단)(도시되지 않음)으로부터의 흡입력으로 흡착하는 흡입구(283)가 마련되어, 수용부(281)에 수용된 전자부품은 흡입구(283)에 작용하는 부압에 의하여 수용홈(281)에 흡착된다. 흡입구(283)는 수용부(281)의 바닥에 형성되는 것이 바람직하다. 흡입구(283)는 흡입유로(282)를 통하여 진공원과 연결된다.
도 14를 참조하면, 제3실시예는 제1실시예와 마찬가지로 수용부(281)에 수용된 전자부품 쪽 방향을 향하도록 연장된 구조의 유로(241)를 갖는 유로부재(243)를 포함할 수 있다.
여기에서, 유로부재(243)는 턴테이블(21)의 원주방향을 따라 연장된 원호 형상으로 형성되어 복수의 수용부(281) 중 일부 수용부(281)를 복개하도록 배치된 한편, 유로(241)를 통하여 분사되는 에어에 의하여 전자부품이 수용부(281)로부터 배출될 수 있는 배출구(242)를 갖는다.
또한, 유로부재(243)는 턴테이블(21)과 별도로 마련된 지지부재(245)에 고정되어, 턴테이블(21)은 단속적으로 회전 가능한 반면, 유로부재(243)는 정위치에 고정된 상태로 유지된다.
이와 같은 유로부재(243)는 검사가 완료된 전자부품이 수용부(281)로부터 이탈되어 배출되는 배출영역(도 1의 도면부호 D 참조)에 한하여 배치된다. 즉, 수용부(281)에 전자부품이 공급되는 공급영역(도 1의 도면부호 S 참조) 및 수용부(281)에 수용된 전자부품에 대한 검사가 이루어지는 검사영역(도 1의 도면부호 T 참조)에서는 수용부(281)가 외부로 노출되어야 하므로, 공급영역과 검사영역에는 유로부재(242)가 배치되지 않는다.
한편, 여기에서는 수용부(281)로부터 전자부품을 배출시키는 데에 제1실시예의 유로부재(243) 등이 이용될 수 있음을 예시하였으나, 이와 달리, 수용부(281)로부터 전자부품을 배출시키는 데에는 제2실시예의 에어 분사구(265)와 유사하게 구성되는 에어 분사노즐이 이용될 수 있다.
도 16은 본 발명의 제4실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치의 주요부가 도시된 사시도이다.
도 16에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제4실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치는 제1 내지 제3실시예와 비교하여 볼 때, 기타 구성 및 작용은 모두 동일한 것에 대하여, 제2분류유닛(70)의 분배부재(71)가 승강장치(74)에 의하여 승강하도록 구성된 점만이 상이하다.
이를 설명하면, 제2분류유닛(70)은 분배부재(71), 복수 개의 튜브(72), 복수 개의 수납통(도시되지 않음) 및 승강장치(74)를 포함한다.
분배부재(71)는 전자부품이 유입되는 복수의 유입구(711)가 복수의 행과 복수의 열로 배치되고, 복수의 튜브(72)는 복수의 유입구(711)와 각각 연결되어 전자부품이 통과하며, 수납통에는 복수의 튜브(72)를 통과한 전자부품이 수납된다. 도 16에는 일부 유입구(711)에만 튜브(72)가 연결된 것으로 도시되어 있으나, 이는 도시의 편의상 생략한 것으로, 튜브(72)는 복수 유입구(711) 모두에 각각 연결된다.
여기에서, 분배부재(71)는, 복수의 유입구(711)가 형성되며 턴테이블(도 1의 도면부호 21 참조) 상의 전자부품과 대향하는 대향면(712a)을 갖는 제1부(712), 제1부(712)로부터 대략적으로 직교하는 방향으로 연장되고 튜브(72)가 통과하는 관통공(713)이 형성된 제2부(714)로 구성될 수 있다.
이와 같은 분배부재(71)는 제2분류유닛(70)을 구성하는 프레임(75)에 상하이동(승강) 가능하도록 설치된다. 도면부호 73은 승강 안내수단으로, 이 승강 안내수단(73)은 분배부재(71)가 정확히 승강될 수 있게 안내한다.
승강장치(74)는 제2부(714)의 후방에 배치될 수 있다. 승강장치(74)는, 회전모터의 모터축 상에 설치된 구동풀리(741), 구동풀리(741)로부터 상측으로 일정 거리 이격된 높이에 배치된 종동풀리(742), 종동풀리(742)가 설치된 회전축(743), 구동풀리(741)와 종동풀리(742)에 감긴 벨트(744)를 포함한다.
승강장치(74)의 회전모터 및 회전축(743)은 각각 프레임(75)에 설치될 수 있다. 벨트(744)는 제2부(714)에 체결되어, 분배부재(71)는 벨트(744)의 이동방향에 따라 상승되거나 하강된다.
벨트(744)는 타이밍 벨트를 적용하는 것이 바람직하다. 승강장치(74)로는 회전모터를 이용하는 방식이 아닌, 직선왕복운동을 하는 액추에이터가 적용된 타입을 이용할 수도 있다. 승강장치(74)에 있어서, 풀리(741, 742) 및 벨트(744)로 구성된 전동장치로는 래크 앤 피니언이나 기어나 링크나 체인 등 다양한 방식의 장치로 대체할 수도 있다.
살펴본 바와 같은 제4실시예의 제2분류유닛(70)도 회전모터의 회전각 변위를 측정하는 기구, 회전축(743)의 회전변위를 감지하는 기구, 회전모터의 모터축의 회전을 제한하는 기구 등이 구비될 수 있다.
도 17은 본 발명의 제5실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치의 주요부가 도시된 사시도이다.
도 17에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제5실시예에 따른 전자부품 검사 및 분류장치는 제1 내지 제3실시예와 비교하여 볼 때, 기타 구성 및 작용은 모두 동일한 것에 대하여, 제2분류유닛(80)의 구성만이 다소 상이하다. 이를 설명하면 다음과 같다.
제5실시예의 분류유닛(80)은 유입부재(81), 복수의 튜브(82), 고정부재(83), 가동부재(84), 이동장치(86) 및 수납통(도시되지 않음)을 포함한다. 고정부재(83)와 가동부재(84)는 앞서 설명한 제1실시예의 분배부재(61)나 제4실시예의 분배부재(71)와 유사한 역할을 한다.
유입부재(81)는 턴테이블(도 1의 도면부호 21 참조)에 의한 전자부품 이송경로의 외측에 배치되고 전자부품이 유입되는 복수의 유입구(811)가 일렬로 형성되며 턴테이블 상의 전자부품과 대향하는 호형의 대향면을 갖는다. 유입부재(81)의 유입구(811)는 턴테이블에 의하여 반송된 전자부품의 위치와 대응하도록 마련된다.
도시된 바는 없으나, 유입부재(81)는 그 배치위치가 프레임 등의 지지수단에 의하여 유지될 수 있다.
복수의 튜브(82)는 유입부재(81)의 유입구(811)에 각각 연결되어, 유입부재(81)의 유입구(811)로 유입된 전자부품은 각각 튜브(82)를 통과한다. 도 17에는 일부 유입구(811)에만 튜브(82)가 연결된 것으로 도시되어 있으나, 이는 도시의 편의상 생략한 것으로, 튜브(82)는 복수 유입구(711) 모두에 각각 연결된다.
도면부호 85는 제2분류유닛(80)을 구성하는 지지수단의 설치용 프레임이다. 고정부재(83)는 이러한 프레임(85)에 수평방향으로 설치되고, 가동부재(84)는 고정부재(83)의 상부에 슬라이드 이동 가능하도록 설치된다. 고정부재(83)에 대한 가동부재(84)의 슬라이드 운동은 리니어 가이드 등에 의하여 안내될 수 있다.
고정부재(83)에는 전자부품이 유입되는 복수의 분배구(831)가 마련된다. 복수의 분배구(831)는 복수 개의 행과 복수의 열로 배치된다. 가동부재(84)는 고정부재(83)의 복수의 분배구(831) 중 일부와 대응함과 아울러 복수의 튜브(82)가 각각 연결된 복수의 관통구(841)를 갖는다.
제2분류유닛(80)의 수납통에는 유입부재(81)의 유입구(811)로 유입되어 튜브(82)를 통과한 후 관통구(841)와 일치된 분배구(831)를 통과한 전자부품이 각각 수납된다.
이동장치(86)는, 구동풀리(861), 구동풀리(861)와의 사이에 고정부재(83)가 위치하도록 배치된 종동풀리(862), 구동풀리(861)와 종동풀리(862)에 감긴 상태로 가동부재(84)에 체결된 벨트(863), 구동풀리(861)를 회전시키는 회전모터(864)를 포함한다. 이 때, 벨트(863)로는 타이밍 벨트를 이용하는 것이 바람직하다. 회전모터(864)의 동력을 전달하는 구성(풀리와 벨트)은 기어나 링크, 체인 등을 포함하는 전동장치로 대체될 수 있다.
회전모터(864)를 회전시키면, 구동풀리(861)는 회전되고, 가동부재(84)는 구동풀리(861)의 회전방향인 벨트(863)의 순환방향에 따라 이동된다. 이에 따라, 복수의 관통구(841)는 복수의 분배구(831) 중 일부와 일치된다. 물론, 관통구(841)와 일치된 분배구(831)로는 튜브(82)로부터의 전자부품이 통과되고, 분배구(831)를 통과한 전자부품은 수납통에 수납된다.
설명되지 않은 도면부호 865는 벨트(863)의 운동을 안내하는 안내롤러이다.
이상, 본 발명을 설명하였으나, 본 발명은 이 명세서에 개시된 실시예 및 첨부된 도면에 의하여 한정되지 않으며 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 이내에서 통상의 기술자에 의하여 다양하게 변형될 수 있다.
또한, 이상에서 설명된 기술적 사상들은 각각 개별적으로 실시될 수도 있고 서로 조합되어 실시될 수도 있다.
10: 공급유닛 20: 반송유닛
30: 검사유닛 40: 분류유닛
50: 제1분류유닛 60, 70, 80: 제2분류유닛

Claims (12)

  1. 전자부품을 공급하는 공급유닛과;
    샤프트를 중심으로 회전 가능하게 설치되어 회전하면서 상기 공급유닛으로부터의 전자부품을 반송하는 턴테이블을 갖는 반송유닛과;
    상기 반송유닛에 의하여 이송경로를 따라 반송되는 각 전자부품의 특성을 검사하는 검사유닛과;
    상기 검사유닛에 의하여 검사된 전자부품을 검사결과에 따른 특성별로 분류하는 분류유닛을 포함하는 전자부품 검사 및 분류장치.
  2. 청구항 1에 있어서, 상기 턴테이블은,
    상기 샤프트에 장착된 턴테이블 바디와;
    상기 턴테이블 바디의 외주 부분에 분리 가능하게 결합되고 상기 공급유닛으로부터의 전자부품이 수용되는 복수의 수용부가 원주방향을 따라 간격을 두고 마련된 교체식 수용부재를 포함하는 전자부품 검사 및 분류장치.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 수용부재는 반경방향으로 분할되어 복수의 단위부재로 구성된 전자부품 검사 및 분류장치.
  4. 청구항 2 또는 청구항 3에 있어서,
    상기 수용부재는 돌출된 형상의 볼록부가 원주방향을 따라 마련되고,
    상기 각 수용부는 상기 볼록부에 형성되고 반경방향으로 내측과 외측이 개방된 구조를 갖는 홈으로 구성된 전자부품 검사 및 분류장치.
  5. 청구항 4에 있어서,
    상기 홈 형상의 각 수용부는 바닥과 대향하는 입구가 상기 바닥에 비하여 확장된 구조를 갖는 전자부품 검사 및 분류장치.
  6. 청구항 2 또는 청구항 3에 있어서,
    상기 각 수용부에는 전자부품을 흡입력 발생수단으로부터의 흡입력으로 흡착하는 흡입구가 마련된 전자부품 검사 및 분류장치.
  7. 청구항 1에 있어서,
    상기 분류유닛은, 상기 검사유닛에 의하여 검사된 전자부품을 개별적으로 분류하는 개별식 분류유닛 및 복수로 분류하는 그룹식 분류유닛으로 구성된 전자부품 검사 및 분류장치.
  8. 청구항 1에 있어서, 상기 분류유닛은,
    상기 반송유닛에 의한 전자부품 이송경로 측에 배치되고 전자부품이 유입되는 복수의 유입구가 복수의 행과 복수의 열로 마련된 분배부재와;
    상기 복수의 유입구와 각각 연결되어 상기 유입구로 유입된 전자부품이 각각 통과하는 튜브와;
    상기 각각의 튜브를 통과한 전자부품이 각각 수납되는 수납통과;
    상기 복수의 유입구 중에서 일부가 상기 반송유닛에 의하여 반송된 전자부품의 위치와 대응하는 위치에 위치되도록 상기 분배부재를 회전시키는 회전장치를 포함하는 전자부품 검사 및 분류장치.
  9. 청구항 1에 있어서, 상기 분류유닛은,
    상기 반송유닛에 의한 전자부품 이송경로 측에 배치되고 전자부품이 유입되는 복수의 유입구가 복수의 행과 복수의 열로 마련된 분배부재와;
    상기 복수의 유입구와 각각 연결되어 상기 유입구로 유입된 전자부품이 각각 통과하는 튜브와;
    상기 각각의 튜브를 통과한 전자부품이 각각 수납되는 수납통과;
    상기 복수의 유입구 중에서 일부가 상기 반송유닛에 의하여 반송된 전자부품의 위치와 대응하는 위치에 위치되도록 상기 분배부재를 승강시키는 승강장치를 포함하는 전자부품 검사 및 분류장치.
  10. 청구항 1에 있어서, 상기 분류유닛은,
    상기 반송유닛에 의한 전자부품 이송경로 측에 배치되며 전자부품이 유입되는 복수의 유입구가 상기 반송유닛에 의하여 반송된 전자부품의 위치와 대응하도록 마련된 유입부재와;
    상기 복수의 유입구와 각각 연결되어 상기 유입구로 유입된 전자부품이 각각 통과하는 튜브와;
    전자부품이 유입되는 복수의 분배구가 복수의 행과 복수의 열로 마련된 고정부재와;
    상기 고정부재에 슬라이드 이동 가능하도록 설치되고 상기 복수의 분배구 중에서 일부와 대응함과 아울러 상기 튜브가 각각 연결된 복수의 관통구를 갖는 가동부재와;
    상기 가동부재를 이동시켜 상기 복수의 분배구 중에서 일부와 복수의 관통구를 일치시키는 이동장치와;
    상기 관통구와 일치된 각각의 분배구를 통과한 전자부품이 각각 수납되는 수납통을 포함하는 전자부품 검사 및 분류장치.
  11. 청구항 1에 있어서, 상기 분류유닛은,
    상기 반송유닛에 의한 전자부품 이송경로 측에 배치되며 전자부품이 유입되는 유입구를 갖는 가이드부재와;
    상기 튜브를 통과한 전자부품이 수납되는 수납통을 포함하는 전자부품 검사 및 분류장치.
  12. 전자부품을 공급하는 공급유닛과; 상기 공급유닛으로부터의 전자부품을 공급영역에서 배출영역 측으로 반송하는 반송유닛과; 상기 반송유닛에 의하여 상기 배출영역 측으로 반송되는 각 전자부품의 특성을 검사하는 검사유닛과; 상기 검사유닛에 의하여 검사된 전자부품을 상기 배출영역에서 검사결과에 따른 특성별로 분류하는 분류유닛을 포함하고,
    상기 분류유닛은,
    상기 배출영역 측에 배치되며 전자부품이 유입되는 복수의 유입구가 상기 반송유닛에 의하여 반송된 전자부품의 위치와 대응하도록 마련된 유입부재와;
    상기 복수의 유입구와 각각 연결되어 상기 유입구로 유입된 전자부품이 각각 통과하는 튜브와;
    전자부품이 유입되는 복수의 분배구가 복수의 행과 복수의 열로 마련된 고정부재와;
    상기 고정부재에 슬라이드 이동 가능하도록 설치되고 상기 복수의 분배구 중에서 일부와 대응함과 아울러 상기 튜브가 각각 연결된 복수의 관통구를 갖는 가동부재와;
    상기 가동부재를 이동시켜 상기 복수의 분배구 중에서 일부와 복수의 관통구를 일치시키는 이동장치와;
    상기 관통구와 일치된 각각의 분배구를 통과한 전자부품이 각각 수납되는 수납통을 포함하는 전자부품 검사 및 분류장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116047213A (zh) * 2023-04-03 2023-05-02 滨州汇信和信息技术有限公司 一种电气设备测试装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20110015387A (ko) * 2009-08-07 2011-02-15 가부시키가이샤 휴모 라보라토리 전자부품 특성검사 분류장치
KR20110128052A (ko) * 2010-05-20 2011-11-28 주식회사 탑 엔지니어링 전자부품 분류장치

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20110015387A (ko) * 2009-08-07 2011-02-15 가부시키가이샤 휴모 라보라토리 전자부품 특성검사 분류장치
KR20110128052A (ko) * 2010-05-20 2011-11-28 주식회사 탑 엔지니어링 전자부품 분류장치

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116047213A (zh) * 2023-04-03 2023-05-02 滨州汇信和信息技术有限公司 一种电气设备测试装置
CN116047213B (zh) * 2023-04-03 2023-06-30 滨州汇信和信息技术有限公司 一种电气设备测试装置

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