KR20100110720A - 광 디스크의 검사 방법 및 광 디스크 매체 - Google Patents

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Abstract

본 발명의 광 디스크의 검사 방법은, 광 디스크의 제 1 반경 위치, 상기 제 1 반경 위치보다 내주측에 위치하는 제 2 반경 위치, 및, 상기 제 2 반경 위치보다 내주측에 위치하는 제 3 반경 위치에 있어서, 기록 속도 V1로 각각 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 재생함으로써, 재생 신호의 신호 품질 지표치 A, B, C를 각각 측정하는 단계와, 상기 제 1 반경 위치 및 상기 제 2 반경 위치에 있어서, V1보다 큰 기록 속도 V2로 각각 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 재생함으로써, 재생 신호의 신호 품질 지표치 D, E를 각각 측정하는 단계와, 상기 신호 품질 지표치 B 및 E의 차이에 근거하여, 상기 신호 품질 지표치 C를 보정함으로써, 상기 제 3 반경 위치에 있어서, 상기 속도 V2로 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 재생한 경우의 신호 품질 지표치 F를 산출하는 단계를 포함한다.

Description

광 디스크의 검사 방법 및 광 디스크 매체{OPTICAL DISC TEST METHOD AND OPTICAL DISC MEDIUM}
본 발명은, 고속 기록에 적합한 광 디스크의 검사 방법 및 광 디스크 매체에 관한 것이다.
광학적으로 데이터를 기록하고, 기록된 데이터를 재생할 수 있는 기록 매체(이하, 본원 명세서에서는 간단히 광 디스크라고 부름)에는, 데이터의 추기(追記)(write-once)가 가능한 CD-R, DVD-R, BD-R 등이나, 재기록 가능한(rewritable) DVD-RW, DVD-RAM, BD-RE 등이 있다. 이들 광 디스크에는 모두 표준 기록 속도가 규정되어 있다. 기록 속도는, 구체적으로는 선속도 또는 전송 레이트로 표시된다. 본원 명세서에서는, 주로 선속도를 이용하여 기록 속도를 설명한다.
최근, 시장의 요구 및 기술의 진보에 따라, 광 디스크로의 최고 기록 속도가 향상되고 있고, 이미 DVD-R에서는 16배속의 기록이 실용화되어 있다. 또한, BD-R은 현재 4배속의 기록을 행할 수 있는 디스크 및 기록 장치가 실용화되어 있다. 더욱 고속으로 기록을 행할 수 있는 광 디스크도 개발 중이다. 여기서, 「~배속」 이란, 기록의 표준 속도의 몇 배의 속도인지를 의미한다.
광 디스크의 최고 기록 속도가 높아질수록, 기록 조건은 엄격해진다. 이 때문에, 광 디스크의 제조 메이커나 검증 기관은, 광 디스크가 고속 기록에 적합한 소정의 특성을 구비하고 있는지 여부를 검사한다. 예컨대, 샘플 광 디스크의 내주(內周) 중주(中周) 및 외주(外周) 트랙 등에 실제로 테스트 기록을 행하여, 재생 신호의 신호 품질 지표치가 미리 정한 범위 내인지 여부를 확인한다. 이 검사에 합격한 광 디스크만이 제품으로서 출하된다.
(발명이 해결하고자 하는 과제)
1.2㎜의 두께 및, 12㎝ 직경을 갖는 일반적인 광 디스크를 이용하여 고속 기록을 행하는 경우, 스핀들 모터(spindle motor)의 회전 능력, 소음, 디스크의 파괴에 대한 안전성 등을 고려하면, 현재의 기술 수준에서는 광 디스크의 회전 속도는 약 10000rpm 이하에서 사용하는 것이 바람직하다. 또한, 광 디스크를 동일한 회전 속도로 회전시키는 경우, 반경이 작은 내주에서 얻어지는 기록의 선속도는, 반경이 큰 외주에 비하여 작다. 이러한 이유에서, 광 디스크의 최고 기록 속도를 높여 가는 경우, 반경이 작은 내주 트랙에 있어서 회전 속도가 지나치게 높아져, 데이터의 고속 기록이 곤란해진다. 구체적으로는, 예컨대, BD의 경우, 반경 24㎜ 부근의 위치에서는, 기록 속도가 5배속이면, 회전 속도는 약 9800rpm에 달한다. 또한, 기록 속도를 6배속 이상으로 하는 경우, 반경 24㎜ 부근의 위치에 있어서의 회전 속도는 12000rpm을 넘는다.
이러한 이유에서, 가령 고속 기록에 적합한 소정의 특성을 구비하고 있도록 설계, 제조된 광 디스크라도, 종래의 광 디스크의 검사 방법으로는, 디스크의 회전수가 증대되는 내주 트랙에 있어서의 고속 기록의 신호 품질 지표치를 검사할 수 없다고 하는 과제가 있었다.
또한, 가령, 검사에 이용하는 광 디스크 장치에 강력한 스핀들 모터를 이용하여, 10000rpm을 넘는 회전수를 실현했다고 해도, 이러한 고속 회전에서는 스핀들 모터 및 광 디스크의 진동이 매우 커지므로, 트랙킹 서보(tracking servo)가 불안정해져, 정확한 광 디스크의 검사를 행하는 것이 곤란해진다. 이 때문에, 종래, 광 디스크의 내주 트랙에 있어서의 고속 기록시의 신호 품질을 보증할 수 없었다.
이러한 이유에서, 가령 내주 트랙에 있어서 안정한 고속 기록을 행할 수 있는 드라이브 장치가 개발되더라도, 내주 트랙에 있어서의 고속 기록의 신호 품질이 보증되어 있지 않은 광 디스크 매체를 사용할 수 밖에 없다고 하는 과제가 있었다.
본 발명은, 이러한 과제를 해결하여, 보통은 검사가 곤란한 내주 트랙에 있어서의 고속 기록에 있어서의 품질을 보증하기 위한 광 디스크의 검사 방법 및 품질이 보증된 광 디스크를 제공하는 것을 목적으로 한다.
(과제를 해결하기 위한 수단)
본 발명의 광 디스크의 검사 방법은, 광 디스크의 제 1 반경 위치, 상기 제 1 반경 위치보다 내주측에 위치하는 제 2 반경 위치, 및, 상기 제 2 반경 위치보다 내주측에 위치하는 제 3 반경 위치에 있어서, 기록 속도 V1로 각각 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 재생함으로써, 재생 신호의 신호 품질 지표치 A, B, C를 각각 측정하는 단계와, 상기 제 1 반경 위치 및 상기 제 2 반경 위치에 있어서, V1보다 큰 기록 속도 V2로 각각 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 재생함으로써, 재생 신호의 신호 품질 지표치 D, E를 각각 측정하는 단계와, 상기 신호 품질 지표치 B 및 E의 차이에 근거하여, 상기 신호 품질 지표치 C를 보정함으로써, 상기 제 3 반경 위치에 있어서, 상기 속도 V2로 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 재생한 경우의 신호 품질 지표치 F를 산출하는 단계를 포함한다.
한 바람직한 실시예에 있어서, 광 디스크의 검사 방법은, 상기 신호 품질 지표치 F를 산출한 후, 상기 신호 품질 지표치 A, B, C, D, E, F가 소정치 이하인지 여부를 확인하는 단계를 더 포함한다.
본 발명의 광 디스크의 검사 방법은, 광 디스크의 제 1 반경 위치, 상기 제 1 반경 위치보다 내주측에 위치하는 제 2 반경 위치, 및, 상기 제 2 반경 위치보다 내주측에 위치하는 제 3 반경 위치에 있어서, 기록 속도 V1로 각각 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 재생함으로써, 재생 신호의 신호 품질 지표치 A, B, C를 각각 측정하는 단계와, 상기 제 1 반경 위치 및 상기 제 2 반경 위치에 있어서, V1보다 큰 기록 속도 V2로 각각 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 재생함으로써, 재생 신호의 신호 품질 지표치 D, E를 각각 측정하는 단계와, 상기 신호 품질 지표치 B 및 E의 차이에 근거하여, 상기 신호 품질 지표치 C를 보정함으로써, 상기 제 3 반경 위치에 있어서, 상기 속도 V2로 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 재생한 경우의 신호 품질 지표치 F를 산출하는 단계와, 상기 제 1 반경 위치에 있어서, V2보다 큰 기록 속도 V3으로 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 재생함으로써, 재생 신호의 신호 품질 지표치 G를 측정하는 단계와, 상기 신호 품질 지표치 G 및 D의 차이에 근거하여, 상기 신호 품질 지표치 E를 보정함으로써, 상기 제 2 반경 위치에 있어서, 상기 속도 V3으로 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 재생한 경우의 신호 품질 지표치 H를 산출하는 단계를 포함한다.
한 바람직한 실시예에 있어서, 광 디스크의 검사 방법은, 상기 신호 품질 지표치 H를 산출한 후, 상기 신호 품질 지표치 A, B, C, D, E, F, G, H가 소정치 이하인지 여부를 확인하는 단계를 더 포함한다.
한 바람직한 실시예에 있어서, 상기 신호 품질 지표치 F는, C+E-B, 또는, (C2+E2-B2)0.5이다.
한 바람직한 실시예에 있어서, 상기 신호 품질 지표치 H는, E+G-D, 또는, (E2+G2-D2)0.5이다.
한 바람직한 실시예에 있어서, 상기 신호 품질 지표치는, 2치화의 지터(jitter)치이다.
한 바람직한 실시예에 있어서, 상기 신호 품질 지표치는, PRML의 에러 상관치이다.
본 발명의 광 디스크는, 기록 속도 V1에 있어서의 표준 기록 파워 및 기록 펄스 조건과, 상기 V1보다 큰 기록 속도 V2에 있어서의 표준 기록 파워 및 기록 펄스 조건이, 리드인(lead-in) 영역에 미리 기억되어 있고, 상기 표준 기록 파워 및 기록 펄스 조건을 이용하여, 청구항 1~6 중 어느 한 항에 규정되는 광 디스크의 검사 방법을 실시했을 때, 기록 속도 V1과 기록 속도 V2에 있어서의 신호 품질 지표치가 소정치 이하가 된다.
본 발명의 광 디스크는, V3>V2>V1이 되는 기록 속도 V1에 있어서의 표준 기록 파워 및 기록 펄스 조건과, 기록 속도 V2에 있어서의 표준 기록 파워 및 기록 펄스 조건과, 기록 속도 V3에 있어서의 표준 기록 파워 및 기록 펄스 조건이, 광 디스크 매체의 리드인 영역에 미리 기억되어 있고, 상기 표준 기록 파워 및 기록 펄스 조건을 이용하여, 청구항 3 또는 4에 규정되는 광 디스크의 검사 방법을 실시했을 때, 기록 속도 V1과 기록 속도 V2와 기록 속도 V3에 있어서의 신호 품질 지표치가 소정치 이하가 된다.
(발명의 효과)
본 발명의 광 디스크의 검사 방법에 따르면, 보통은 검사가 곤란한 내주부의 고속 기록의 신호 품질을 보증한 신뢰성이 높은 광 디스크를 제공할 수 있다. 또한, 본 발명의 광 디스크에 따르면, 고속으로 기록 또는 재생이 가능한 디스크 장치에서의 성능 한계(margin)를 확보할 수 있어, 장치 사이의 호환성이 높아진다.
도 1은 본 발명에 따른 광 디스크 검사 방법을 실행하는 디스크 장치의 블록 도,
도 2는 본 발명에 따른 광 디스크의 트랙 레이아웃을 모식적으로 나타내고 있는 도면,
도 3은 본 발명에 따른 광 디스크 검사 방법에 의해 측정 및 산출하는 신호 품질 지표치와 반경 위치의 관계를 모식적으로 나타내고 있는 도면이다.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
2 : 모터 3 : 헤드
6 : 재생 신호 처리부 8 : 기록 신호 처리부
10 : 시스템 컨트롤러 100 : 광 디스크
이하, 도면을 참조하면서, 본 발명에 따른 광 디스크의 검사 방법 및 광 디스크의 실시예를 설명한다. 도 1은 본 발명에 따른 광 디스크의 검사 방법을 실시하기 위한 디스크 장치의 블록도이다.
도 1에 나타내는 장치는, 모터(2)와, 광 헤드(3)와, 트래버스(traverse) 기구(5)와, 재생 신호 처리부(6)와, 기록 신호 처리부(8)를 구비한다. 또한, 제어부인 시스템 컨트롤러(10)를 구비한다. 시스템 컨트롤러(10)는, 제어 버스(11)를 통하여 각 구성 요소로부터 여러 가지의 정보를 받아, 각 구성 요소를 제어한다.
모터(2)는, 광 디스크(100)를 장착하여, 시스템 컨트롤러(10)로부터의 지령 에 근거하여, 소정의 회전 속도로 광 디스크(100)를 회전시킨다.
광 헤드(3)는 광원을 포함하고, 광원으로부터 출사되는 광 빔(4)을 광 디스크(100)에 조사하여, 데이터의 기록을 행한다. 또한, 재생시에 광 빔(4)을 광 디스크(100)에 조사하고, 광 디스크(100)에 형성된 마크 및 스페이스에 근거하여 변조된 반사광을 검출하여, 재생 신호를 생성한다.
트래버스 기구(5)는, 기록 또는 재생을 행할 트랙에 광 빔(4)이 조사되도록, 광 헤드(3)를 광 디스크(100)의 반경 방향으로 이동시킨다.
기록 신호 처리부(8)는 광 디스크(100)의 검사를 하기 위해 행하는 시험 기록을 위한 기록 신호(9)를 생성하여, 광 헤드(3)에 출력한다. 특히, 기록 신호 처리부(8)는 기록 조건 설정부(12)를 포함하고, 변조 규칙으로 정해져 있는 복수의 길이의 마크 및 스페이스가 랜덤의 확률로 발생되는 복수의 펄스를 포함하는 랜덤 신호를 생성하기 위한 광원의 구동 조건을 설정한다.
재생 신호 처리부(6)는, 광 헤드(3)로부터 얻어지는 재생 신호(7)의 특성을 검출한다. 특히, 재생 신호 처리부(6)는 신호 지표 측정부(13)를 포함하고, 재생 신호(7)의 신호 품질 지표치를 측정한다. 신호 품질 지표치로서는, 광 헤드(3)의 종합 특성의 우열을 단적으로 나타내는 지표치를 이용하는 것이 바람직하고, 재생 랜덤 신호의 2치화의 지터치가 바람직하다. 또한, 재생 방식으로서, PRML(Partial Response Maximum Likelihood) 검출법을 사용하는 디스크 장치에서는, 그 에러 상관치를 신호 품질 지표치로서 이용하는 것이 바람직하다. 구체적으로는, MLSE(Maximum Likelihood Sequence Error)치, SAM(Sequenced Amplitude Margin)치 등이 적합하다.
도 2는 본 발명에 따른 광 디스크의 검사 방법을 이용하여 검사되는 본 발명의 광 디스크(100)의 트랙 레이아웃을 나타내고 있다. 도 2에 나타내는 바와 같이 광 디스크(100)는, 내주측에 마련된 리드인 영역(101)과 리드인 영역(101)의 외주측에 마련된 사용자 데이터 트랙(102)을 포함한다. 사용자 데이터 트랙(102)은 사용자가 소망하는 데이터를 기록하는 트랙이다. 사용자 데이터 트랙(102)이 마련된 부분을 데이터 영역이라고도 부른다.
광 디스크(100)는 추기형이더라도 좋고, 재기록형이더라도 좋다. 광 디스크(100)가 추기형인 경우, 사용자 데이터 트랙(102)에 한 번 기록된 데이터를 덮어쓰기할 수는 없지만, 사용자 데이터 트랙(102)의 데이터가 기록되어 있지 않은 영역에는 추기가 가능하다. 광 디스크(100)가 재기록형인 경우, 사용자 데이터 트랙(102)에 기록된 데이터를 덮어쓰기하는 것이 가능하다.
사용자 데이터 트랙(102)의 영역 전체에 있어서, 소정의 신호 품질을 갖는 재생 신호가 얻어지는지 여부를 보증하기 위해, 광 디스크(100)의 검사는, 사용자 데이터 트랙(102)의 제 1 반경 위치, 제 1 반경 위치보다 내주측에 위치하는 제 2 반경 위치 및 제 2 반경 위치보다 내주측에 위치하는 제 3 반경 위치에 있어서 행해진다. 제 1 반경 위치, 제 2 반경 위치 및 제 3 반경 위치를 각각 r1, r2 및 r3으로 한 경우, r1>r2>r3의 관계를 만족시키고 있다. 광 디스크(100)의 직경이 약 12㎝인 경우, r1, r2 및 r3은 각각 57㎜≤r1≤59㎜, 40㎜≤r2≤42㎜, 23㎜≤r3≤25㎜인 것이 바람직하다. 또한, r2=(r1+r3)/2인 것이 바람직하다. 보다 바람직하게 는, r1=58㎜, r2=41㎜, r3=24㎜이다. 이하, 제 1 반경 위치, 제 2 반경 위치 및 제 3 반경 위치를 외주 트랙, 중주 트랙 및 내주 트랙이라 부른다.
또, 도 1에 나타내는 디스크 장치는, 광 디스크(100)의 검사 전용 장치로서 실현하더라도 좋고, 광 디스크(100)의 검사에 더하여, 임의의 사용자 데이터를 기록하고, 기록된 데이터를 재생할 수도 있는 광 디스크 장치로서 실현하더라도 좋다.
이하, 도 1에 나타내는 디스크 장치를 이용한 본 발명에 따른 광 디스크 검사 방법의 실시예를 상세히 설명한다. 이 방법의 각 순서는, 컴퓨터에 판독 가능한 프로그램(펌웨어)으로서, 예컨대, 시스템 컨트롤러(10)에 마련된 EEPROM이나 RAM 등의 정보 기록 매체 등에 저장된다. 시스템 컨트롤러(10)는, 이 순서를 규정한 프로그램을 판독하여, 순서에 따라 각 구성 요소를 제어한다.
(단계 1)
트래버스 기구(5)에 의해, 헤드(3)로부터 출사되는 광 빔(4)이 광 디스크(1)의 외주 트랙을 조사하도록 광 헤드(3)를 이동시킨다. 또한, 모터(2)에 의해, 광 디스크(100)의 외주 트랙에 있어서 기록 속도(선속도) V1이 되도록 광 디스크(100)를 회전시킨다.
(단계 2)
광 디스크(100)의 외주 트랙에 소정의 데이터를 기록한다. 보다 구체적으로는, 기록 신호 처리부(8)의 기록 조건 설정부(12)에 의해, 기록 속도 V1용 기록 파워와 기록 펄스 조건을 설정하고, 설정된 조건으로 광 헤드(3)의 광원을 구동하여, 광 빔(4)을 광 디스크(100)에 조사한다. 이에 따라, 광 디스크(100)의 외주 트랙에 있어서, 랜덤 신호에 대응하는, 마크 길이 및 스페이스 길이가 랜덤한 복수의 마크를 형성한다.
(단계 3)
광 디스크(100)의 외주 트랙에 기록된 데이터를 재생하여, 신호 품질 지표치를 측정한다. 구체적으로는, 모터(2)에 의해, 광 디스크(100)를 외주 트랙에 있어서 재생 속도 V0이 되도록 광 디스크(100)를 회전시킨다. 재생 속도 V0은 기록 속도 V1 이하(V0≤V1이 되는 저속의 기준 속도)이다.
다음으로, 광 헤드(3)로부터 재생시의 강도를 갖는 광 빔(4)을 출사시켜, 광 디스크(100)의 외주 트랙을 조사한다. 광 디스크(100)에 형성된 마크 및 스페이스에 근거하여 변조된 반사광을 광 헤드(3)가 검출하여, 재생 신호(7)를 생성한다. 재생 신호 처리부(6)의 신호 지표 측정부(13)는, 재생 신호(7)의 신호 품질 지표치를 측정한다. 얻어진 지표치 A를, 예컨대, 시스템 컨트롤러(10) 내의 메모리에 기억한다.
(단계 4)
트래버스 기구(5)에 의해, 헤드(3)로부터 출사되는 광 빔(4)이 광 디스크(1)의 중주 트랙을 조사하도록 광 헤드(3)를 이동시킨다. 또한, 모터(2)에 의해, 광 디스크(100)의 중주 트랙에 있어서 기록 속도 V1이 되도록 광 디스크(100)를 회전시킨다.
(단계 5)
단계 2와 같은 순서에 따라, 디스크(100)의 중주 트랙에 있어서, 랜덤 신호에 대응하는, 마크 길이 및 스페이스 길이가 랜덤한 복수의 마크를 형성한다.
(단계 6)
단계 3과 같은 순서에 따라, 광 디스크(100)의 중주 트랙에 기록된 데이터를 재생 속도 V0으로 재생하여, 재생 신호(7)의 신호 품질 지표치를 측정한다. 얻어진 지표치 B를 시스템 컨트롤러(10) 내의 메모리에 기억한다.
(단계 7)
트래버스 기구(5)에 의해, 헤드(3)로부터 출사되는 광 빔(4)이 광 디스크(1)의 내주 트랙을 조사하도록 광 헤드(3)를 이동시킨다. 또한, 모터(2)에 의해, 광 디스크(100)의 내주 트랙에 있어서 기록 속도 V1이 되도록 광 디스크(100)를 회전시킨다.
(단계 8)
단계 2와 같은 순서에 따라, 디스크(100)의 내주 트랙에 있어서, 랜덤 신호에 대응하는, 마크 길이 및 스페이스 길이가 랜덤한 복수의 마크를 형성한다.
(단계 9)
단계 3과 같은 순서에 따라, 광 디스크(100)의 내주 트랙에 기록된 데이터를 재생 속도 V0으로 재생하여, 재생 신호(7)의 신호 품질 지표치를 측정한다. 얻어진 지표치 C를 시스템 컨트롤러(10) 내의 메모리에 기억한다.
(단계 10)
트래버스 기구(5)에 의해, 헤드(3)로부터 출사되는 광 빔(4)이 광 디스크(1)의 외주 트랙을 조사하도록 광 헤드(3)를 이동시킨다. 또한, 모터(2)에 의해, 광 디스크(100)의 외주 트랙에 있어서 기록 속도 V2가 되도록 광 디스크(100)를 회전시킨다. 기록 속도 V2는 기록 속도 V1보다 크게 설정한다(V2>V1).
(단계 11)
단계 2와 같은 순서에 따라, 디스크(100)의 외주 트랙에 있어서, 랜덤 신호에 대응하는, 마크 길이 및 스페이스 길이가 랜덤한 복수의 마크를 형성한다.
(단계 12)
단계 3과 같은 순서에 따라, 광 디스크(100)의 외주 트랙에 기록된 데이터를 재생 속도 V0으로 재생하여, 재생 신호(7)의 신호 품질 지표치를 측정한다. 얻어진 지표치 D를 시스템 컨트롤러(10) 내의 메모리에 기억한다.
(단계 13)
트래버스 기구(5)에 의해, 헤드(3)로부터 출사되는 광 빔(4)이 광 디스크(1)의 중주 트랙을 조사하도록 광 헤드(3)를 이동시킨다. 또한, 모터(2)에 의해, 광 디스크(100)의 중주 트랙에 있어서 기록 속도 V2가 되도록 광 디스크(100)를 회전시킨다.
(단계 14)
단계 2와 같은 순서에 따라, 디스크(100)의 중주 트랙에 있어서, 랜덤 신호에 대응하는, 마크 길이 및 스페이스 길이가 랜덤한 복수의 마크를 형성한다.
(단계 15)
단계 3과 같은 순서에 따라, 광 디스크(100)의 중주 트랙에 기록된 데이터를 재생 속도 V0으로 재생하여, 재생 신호(7)의 신호 품질 지표치를 측정한다. 얻어진 지표치 E를 시스템 컨트롤러(10) 내의 메모리에 기억한다.
(단계 16)
시스템 컨트롤러(10)에 있어서, 신호 품질 지표치 B 및 E의 차이에 근거하여, 신호 품질 지표치 C를 보정함으로써 구한 값을, 기록 속도 V2로 광 디스크(100)의 내주 트랙에 랜덤 신호를 기록하여, 재생한 경우에 얻어지는 신호 품질 지표치로 한다. 구체적으로는, E2-B2를 산출하여, C2에 더한 후, 그 제곱근을 구한다. 다시 말해, (C2+E2-B2)0.5를 산출하여, 그 값을 신호 지표치 F로 한다.
(단계 17)
트래버스 기구(5)에 의해, 헤드(3)로부터 출사되는 광 빔(4)이 광 디스크(1)의 외주 트랙을 조사하도록 광 헤드(3)를 이동시킨다. 또한, 모터(2)에 의해, 광 디스크(100)의 외주 트랙에 있어서 기록 속도 V3이 되도록 광 디스크(100)를 회전시킨다. 기록 속도 V3은 기록 속도 V2보다 크게 설정한다(V3>V2).
(단계 18)
단계 2와 같은 순서에 따라, 디스크(100)의 외주 트랙에 있어서, 랜덤 신호에 대응하는, 마크 길이 및 스페이스 길이가 랜덤한 복수의 마크를 형성한다.
(단계 19)
단계 3과 같은 순서에 따라, 광 디스크(100)의 외주 트랙에 기록된 데이터를 재생 속도 V0으로 재생하여, 재생 신호(7)의 신호 품질 지표치를 측정한다. 얻어진 지표치 G를 시스템 컨트롤러(10) 내의 메모리에 기억한다.
(단계 20)
시스템 컨트롤러(10)에 있어서, 신호 품질 지표치 G 및 D의 차이에 근거하여, 신호 품질 지표치 E를 보정함으로써 구한 값을, 기록 속도 V3으로 광 디스크(100)의 중주 트랙에 랜덤 신호를 기록하여, 재생한 경우에 얻어지는 신호 품질 지표치로 한다. 구체적으로는, G2-D2를 산출하여, E2에 더한 후, 그 제곱근을 구한다. 다시 말해, (E2+G2-D2)0.5를 산출하여, 그 값을 신호 지표치 H로 한다.
(단계 21)
시스템 컨트롤러(10)에 있어서, 신호 품질 지표치 G 및 A의 차이에 근거하여, 신호 품질 지표치 C를 보정함으로써 구한 값을, 기록 속도 V3으로 광 디스크(100)의 내주 트랙에 랜덤 신호를 기록하여, 재생한 경우에 얻어지는 신호 품질 지표치로 한다. 구체적으로는, G2-A2를 산출하여, C2에 더한 후, 그 제곱근을 구한다. 다시 말해, (C2+G2-A2)0.5를 산출하여, 그 값을 신호 지표치 I로 한다.
(단계 22)
시스템 컨트롤러(10)에 있어서, 측정한 신호 품질 지표치 A, B, C, D, E, G 및 계산에 의해 구한 신호 품질 지표치 F, H, I와 소정치를 비교하여, 광 디스크(100)가 소정의 신호 품질 지표의 규정에 적합한지 여부를 판정한다. 구체적으로는, 신호 품질 지표치 A, B, C, D, E, F, G, H, I가 전부 소정치 이하인 경우, 시스템 컨트롤러(10)는, 광 디스크(100)가 기록 속도 V3 이하에 있어서, 소정의 신호 품질을 구비하고 있는 것을 나타내는 신호를 외부에 출력한다. 혹은, 도 1에 나타내는 디스크 장치에 마련된 도시하지 않는 표시 장치에, 광 디스크(100)가 기록 속도 V3 이하에 있어서, 소정의 신호 품질을 구비하고 있는 것을 나타내는 표시를 행한다.
이상의 단계 1~22는 반드시 이 순서로 실시될 필요는 없고, 검사에 필요한 기록 재생 신호 품질 지표치가 구해지는 한, 순서가 교체되더라도 좋다. 예컨대, 단계 16은 단계 18 및 19의 뒤에 실행하더라도 좋다.
여기서, 가장 바람직한 구체예를 설명한다. 광 디스크(100)에는 BD-R을 이용한다.
BD의 주요 광학 상수와 물리 포맷에 대해서는, 「블루레이 디스크 독본」(옴사 출판)이나 블루레이 어소시에이션의 홈페이지(http:///www.blu-raydisc.com/)에 게재되어 있는 백서에 개시되어 있다. BD 표준 전송 레이트(1x)에 있어서 표준 선속도(기준 선속도, 1x)는 4.9m/sec이다. 2배(2x), 4배(4x), 6배(6x), 8배(8x) 및 10배의 선속도는, 각각, 9.8m/sec, 19.7m/sec, 29.5m/sec, 39.3m/sec 및 49m/sec이다. 표준 선속도보다 높은 선속도는 일반적으로는, 표준 선속도의 양의 정수배이지만, 정수에 한정되지 않고, 양의 실수배이더라도 좋다. 또한, 0.5배(0.5x) 등, 표준 선속도보다 느린 선속도도 정의할 수 있다. 따라서, 기록 속도도 마찬가지로, 2배속, 4배속 등으로 정의되지만, 0.5배속 혹은 4.5배속이라는 속도도 정의될 수 있다.
본 실시예에서는 내주 트랙으로서 반경 24㎜ 부근의 위치, 중주 트랙으로서 반경 41㎜ 부근의 위치, 외주 트랙으로서 반경 58㎜ 부근의 위치를 이용한다. 또한, 기록 속도 V1, V2, V3을 각각 BD의 4배속, 6배속, 10배속으로 한다. 각 반경 위치에 있어서, V1, V2 및 V3의 속도로 기록을 행함으로써, A~I의 신호 품질 지표치를 얻을 수 있다. 표 1은, 각 반경 위치에 있어서의, 기록 속도마다의 신호 품질 지표치 및 회전 속도를 나타내고 있다. 또, 표 1에서는 이해를 돕기 위해, 신호 품질 지표치 A~I의 옆에, 괄호 안에 신호 품질 지표치 A~I가 산출된 광 디스크(100)에 있어서의 위치 및 기록 속도를 나타내고 있다. 이러한 표기는 이하의 도면 및 표에 있어서도 마찬가지이다.
Figure 112009057448067-PCT00001
상술한 순서에 따라, 4배속의 기록 속도로 광 디스크의 검사를 행하는 경우, 각 반경 위치에 있어서의 회전 속도가 10000rpm을 넘지 않으므로, 외주 트랙, 중주 트랙, 및 내주 트랙 전부에 있어서, 신호 품질 지표치 A, B, C를 실제로 측정할 수 있다. 한편, 6배속의 기록 속도에 있어서의 내주 트랙 및 10배속의 기록 속도에 있어서의 중주 트랙 및 내주 트랙에서는, 회전 속도가 10000rpm을 넘으므로, 신호 품질 지표치의 측정이 곤란하다.
그러나, 본 발명에 따르면, 측정이 곤란한 조건에 있어서의 신호 지표치는 계산에 의해 구할 수 있다. 도 3은 상술한 신호 품질 지표치의 측정 결과 및 계산에 의해 구한 신호 품질 지표치와 반경 위치의 관계를 나타내고 있다. 도 3에 있어서, 가로축은 반경 위치를 나타내고 있고, 세로축은, 신호 품질 지표치를 나타내고 있다. 또한, 원, 삼각형 및 사각형은 각각, V1(4배속), V2(6배속) 및 10배속의 기록 속도에 있어서의 신호 품질 지표치를 나타내고 있다. 이들의 도형 중 흰색은 계산치를 나타내고, 검은색은 실측치를 나타내고 있다.
도 3에서 알 수 있듯이, 측정이 가능한 기록 속도 및 반경 위치에서는, 신호 품질 지표치를 실제로 측정하고, 회전 속도가 10000pm을 넘어, 측정이 곤란해지는 내주측 위치에서는, 신호 품질 지표치를 계산으로 구한다. 이에 따라, 모든 기록 속도와 반경 위치에 있어서, 신호 품질 지표치가 측정 또는 계산에 의해 구해져, 미리 정한 소정치와 비교하는 것이 가능하다. 보다 구체적으로는, 표 2에 나타내는 검사 항목을 이용하여 각 항목의 합격 판정을 행한다.
Figure 112009057448067-PCT00002
표 2에 나타내는 바와 같이, 예컨대, 신호 품질 지표치로서, 재생 랜덤 신호의 2치화의 지터치를 이용하여, 4배속, 6배속 및 10배속의 기록 속도로 지터치를 검증한다. 표 2에 나타내는 바와 같이, 예컨대, 각 기록 속도 및 반경 위치에 있어서, 같은 정도의 신호 품질을 보증하는 경우에는, 소정치로서 같은 값을 이용한다. 예컨대, 지터치가 7% 이하이면 규정의 신호 품질을 얻을 수 있다고 판정한다.
표 2에 있어서, ○는 신호 품질 지표치가 소정치 이하인 것을 나타내고, ×는 소정치보다 큰 것을 나타낸다. 상술한 바와 같이 회전 속도가 10000rpm을 넘으므로, 실측을 할 수 없는 반경 위치 및 기록 속도라도, 계산에 의해 구한 신호 품질 지표치를 이용함으로써, 광 디스크로서, 보통은 검사가 곤란한 내주 트랙의 고속 기록의 신호 품질을 검증할 수 있다.
표 2에 나타내는 바와 같이, 6배속의 기록 속도로 내주 트랙에 있어서의 신호 품질 지표치 F는 계산에 의해 구한 것이지만, 단계 16에서 설명한 바와 같이, 신호 품질 지표치 F는, 실제로 측정한 신호 품질 지표치 C를 보정함으로써 구한 것이다. 광 디스크(100)의 신호 품질은, 측정을 행한 위치에 있어서의 광 디스크(100)의 물리적 구조에 의존한다. 이 때문에, 6배속의 기록 속도로 내주 트랙에 있어서의 신호 품질 지표치를 측정할 수 없더라도, 4배속의 기록 속도로 실제로 측정한 내주 트랙에 있어서의 신호 품질 지표치 C에 근거하여 산출한 신호 품질 지표치 F는, 실제로 측정을 행했다고 한 경우에 얻어지는 신호 품질 지표치에 잘 일치하고 있다고 생각할 수 있다. 10배속의 기록 속도에 있어서의 신호 품질 지표치 H, I에 대해서도 마찬가지이다. 따라서, 이러한 계산에 의해 산출한 신호 품질 지표치 F, H, I를 이용하여, 광 디스크(100)의 특성을 평가하는 것에는 의미가 있다.
이렇게 하여, 본 발명의 광 디스크의 검사 방법에 합격한 광 디스크를 사용자가 사용하는 경우, 광 디스크의 검사와 동등 레벨의 성능이 확보되어 있는 것이 바람직하다. 본 발명에 따른 광 디스크(100)는, 이를 위해서 검사에서 사용한 기록 조건, 다시 말해, 각 기록 속도용 기록 파워와 기록 펄스 조건을 광 디스크의 표준 기록 조건으로서 도 2에 나타내는 리드인 영역(101)에 미리 기억하고 있다. 리드인 영역(101)은, 디스크 내주부의 트랙 홈의 워블이나 피트 등을 이용한 판독 전용 영역에 마련되어 있다. 리드인 영역(101)에 기억되는 각 기록 속도용 기록 파워와 기록 펄스 조건의 구체예를 표 3에 나타낸다.
Figure 112009057448067-PCT00003
예컨대, V3>V2>V1이 되는 기록 속도 V1에 있어서의 표준 기록 파워 및 기록 펄스 조건과, 기록 속도 V2에 있어서의 표준 기록 파워 및 기록 펄스 조건과, 기록 속도 V3에 있어서의 표준 기록 파워 및 기록 펄스 조건을, 각각 조건 세트 연번마다 머리말(header)로부터 꼬리말(footer)까지의 100바이트 정도의 정보에 할당한다. 표 3은, 조건 세트 연번이 I일 때 4배속용 조건, 조건 세트 연번이 J일 때 6배속용 조건, 조건 세트 연번이 K일 때 10배속용 조건의 일례를 나타내고 있다.
사용자가 사용하는 디스크 장치는, 광 디스크(100)가 장전된 경우, 리드인 영역(101)에 광 헤드를 이동시켜, 리드인 영역(101)에 DI(Disc Information)로서 기억되어 있던 상술한 각 기록 속도용 기록 파워와 기록 펄스 조건을 판독하여, 디스크 장치에 이들 조건을 설정한다. 이들 조건을 이용하여, 각 기록 속도로 광 디스크(100)에 데이터의 기록을 행하는 경우, 광 디스크(100)를 검사했을 때와 같은 조건으로 기록이 행해지므로, 기록한 데이터를 재생할 때의 신호 품질은, 광 디스크(100)를 검사했을 때와 같다. 바꿔 말하면, 광 디스크(100)의 검사를 행한 경우, 신호 품질 지표치가 확실히 소정치 이하가 된다. 이러한 광 디스크(100)를 이용함으로써, 광 디스크(100)는, 보다 확실히 보증된 성능을 발휘한다.
이와 같이, 본 발명에 따르면, 보통은 검사가 곤란한 내주부의 고속 기록의 신호 품질을 보증한 신뢰성이 높은 광 디스크를 시장에 제공할 수 있다. 또한, 사용하는 드라이브 장치에 장전되었을 때, 리드인 영역에 기억되어 있던 필요한 기록 조건이 장치에 설정된다. 따라서, 제조 메이커나 검증 기관에서 검사된 성능이 시장에 있어서도 충분히 재현되어, 디스크 장치 사이의 호환성도 증가한다.
또, 상기 실시예에서는, 기록 속도 V1, V2, V3을 각각 BD의 4배속, 6배속, 10배속으로 했지만, 디스크 회전수의 상한을, 예컨대, 12000rpm까지 허용하는 경우는, 각각 BD의 6배속, 8 또는 10배속, 12 또는 14배속으로 하더라도 좋다. 이 경우의 각 신호 지표치와 기록 속도의 관계를 표 4에 나타낸다.
Figure 112009057448067-PCT00004
6배속의 기록 속도로 광 디스크의 검사를 행하는 경우는, 외주, 중주, 내주 전부에 있어서, 신호 품질 지표치를 측정할 수 있다. 8배속 또는 10배속의 기록 속도에 있어서의 내주, 및, 12배속 또는 14배속에 있어서의 중주 및 내주에서는, 회전 속도가 12000rpm을 넘는다. 그러나, 본 발명에 따르면, 이들 경우에 있어서, 신호 품질 지표치를 계산에 의해 구할 수 있어, 계산치를 이용하여 표 4에 나타내는 항목의 검사를 행함으로써, 광 디스크의 특성 r을 보증할 수 있다.
또한, 상기 실시예에서는, 신호 지표치로서 윈도우 폭에 대한 노이즈 에너지량을 취급하므로 2승 가감산을 이용했다. 그러나, 단순 가감산으로도 간이적으로는 실용적인 결과를 얻을 수 있다. 그 경우, 단계 16에서는, F=C+E-B에 의해 신호 품질 지표치 F를 구하고, 단계 20에서는, H=E+G-D에 의해 신호 품질 지표치 H를 구하고, 단계 21에 있어서, I=C+G-A에 의해 신호 품질 지표치 I를 구하더라도 좋다.
또한, 상기 실시예에서는, 단계 21에 있어서 신호 품질 지표치 I를 계산에 의해 구하고, 단계 22에 있어서, 신호 품질 지표치 I를 포함시켜 소정치 이하인 것을 확인하는 예를 나타냈다. 그러나, 내주부에서 매우 고속 회전이 되어, 보통은 사용할 수 없는 원리적인 조건이므로, 검사 항목으로부터 빼더라도 좋다.
또한, 상기 실시예에서는, 서로 다른 기록 속도 및 측정 반경 위치에 있어서 측정 또는 산출한 신호 품질 지표치에 대하여, 같은 소정치(예컨대 7%)로 품질을 보증했다. 이것은, 광 디스크(100)에 있어서, 사용 가능한 어떤 기록 속도 및 사용자 데이터 트랙의 어떤 위치에 있어서도, 동등한 신호 품질을 보증하기 위해서이다. 그러나, 광 디스크(100)에 요구되는 사양에 따라서는, 기록 속도 또는 측정 반경 위치에 따라, 소정치를 다르게 하더라도 좋다.
또한, 상기 실시예에서는, 신호 품질 지표치가 소정치 이하인지 여부를 디스크 장치의 시스템 컨트롤러가 신호 품질 지표치와 소정치를 비교함으로써 행하고 있지만, 소정치와의 비교, 다시 말해, 측정한 신호 품질 지표치 및 계산에 의해 구한 신호 품질 지표치가 소정치 이하인지 여부의 확인은, 디스크 장치의 조작자 등이 행하더라도 좋다.
본 발명에 따른 광 디스크의 검사 방법 및 광 디스크는, 고속으로 기록 및 재생을 행하는 광 디스크에 적합하게 이용된다. 또한, 고속 기록 재생이 가능한 디스크 장치에 적합하게 대응한다.

Claims (10)

  1. 광 디스크의 제 1 반경 위치, 상기 제 1 반경 위치보다 내주측에 위치하는 제 2 반경 위치, 및, 상기 제 2 반경 위치보다 내주측에 위치하는 제 3 반경 위치에 있어서, 기록 속도 V1로 각각 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 재생함으로써, 재생 신호의 신호 품질 지표치 A, B, C를 각각 측정하는 단계와,
    상기 제 1 반경 위치 및 상기 제 2 반경 위치에 있어서, V1보다 큰 기록 속도 V2로 각각 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 재생함으로써, 재생 신호의 신호 품질 지표치 D, E를 각각 측정하는 단계와,
    상기 신호 품질 지표치 B 및 E의 차이에 근거하여, 상기 신호 품질 지표치 C를 보정함으로써, 상기 제 3 반경 위치에 있어서, 상기 속도 V2로 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 재생한 경우의 신호 품질 지표치 F를 산출하는 단계
    를 포함하는 광 디스크의 검사 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 신호 품질 지표치 F를 산출한 후, 상기 신호 품질 지표치 A, B, C, D, E, F가 소정치 이하인지 여부를 확인하는 단계를 더 포함하는 광 디스크의 검사 방법.
  3. 광 디스크의 제 1 반경 위치, 상기 제 1 반경 위치보다 내주측에 위치하는 제 2 반경 위치, 및, 상기 제 2 반경 위치보다 내주측에 위치하는 제 3 반경 위치에 있어서, 기록 속도 V1로 각각 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 재생함으로써, 재생 신호의 신호 품질 지표치 A, B, C를 각각 측정하는 단계와,
    상기 제 1 반경 위치 및 상기 제 2 반경 위치에 있어서, V1보다 큰 기록 속도 V2로 각각 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 재생함으로써, 재생 신호의 신호 품질 지표치 D, E를 각각 측정하는 단계와,
    상기 신호 품질 지표치 B 및 E의 차이에 근거하여, 상기 신호 품질 지표치 C를 보정함으로써, 상기 제 3 반경 위치에 있어서, 상기 속도 V2로 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 재생한 경우의 신호 품질 지표치 F를 산출하는 단계와,
    상기 제 1 반경 위치에 있어서, V2보다 큰 기록 속도 V3으로 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 재생함으로써, 재생 신호의 신호 품질 지표치 G를 측정하는 단계와,
    상기 신호 품질 지표치 G 및 D의 차이에 근거하여, 상기 신호 품질 지표치 E를 보정함으로써, 상기 제 2 반경 위치에 있어서, 상기 속도 V3으로 데이터를 기록하고, 기록한 데이터를 재생한 경우의 신호 품질 지표치 H를 산출하는 단계
    를 포함하는 광 디스크의 검사 방법.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 신호 품질 지표치 H를 산출한 후, 상기 신호 품질 지표치 A, B, C, D, E, F, G, H가 소정치 이하인지 여부를 확인하는 단계를 더 포함하는 광 디스크의 검사 방법.
  5. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 신호 품질 지표치 F는, C+E-B, 또는, (C2+E2-B2)0.5인 광 디스크의 검사 방법.
  6. 제 3 항 또는 제 4 항에 있어서,
    상기 신호 품질 지표치 H는, E+G-D, 또는, (E2+G2-D2)0.5인 광 디스크의 검사 방법.
  7. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 신호 품질 지표치는, 2치화의 지터(jitter)치인 광 디스크의 검사 방 법.
  8. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 신호 품질 지표치는, PRML의 에러 상관치인 광 디스크의 검사 방법.
  9. 기록 속도 V1에 있어서의 표준 기록 파워 및 기록 펄스 조건과, 상기 V1보다 큰 기록 속도 V2에 있어서의 표준 기록 파워 및 기록 펄스 조건이, 리드인(lead-in) 영역에 미리 기억되어 있고, 상기 표준 기록 파워 및 기록 펄스 조건을 이용하여, 청구항 1 내지 청구항 6 중 어느 한 항에 규정되는 광 디스크의 검사 방법을 실시했을 때, 기록 속도 V1과 기록 속도 V2에 있어서의 신호 품질 지표치가 소정치 이하가 되는 광 디스크.
  10. V3>V2>V1이 되는 기록 속도 V1에 있어서의 표준 기록 파워 및 기록 펄스 조건과, 기록 속도 V2에 있어서의 표준 기록 파워 및 기록 펄스 조건과, 기록 속도 V3에 있어서의 표준 기록 파워 및 기록 펄스 조건이, 광 디스크 매체의 리드인 영역에 미리 기억되어 있고, 상기 표준 기록 파워 및 기록 펄스 조건을 이용하여, 청구항 3 또는 청구항 4에 규정되는 광 디스크의 검사 방법을 실시했을 때, 기록 속 도 V1과 기록 속도 V2와 기록 속도 V3에 있어서의 신호 품질 지표치가 소정치 이하가 되는 광 디스크.
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