JP5651884B2

JP5651884B2 - ディスク検査装置およびディスク検査方法

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Publication number: JP5651884B2
Application number: JP2010171206A
Authority: JP
Inventors: 充正久保; 剛親松
Original assignee: 株式会社アルメディオ
Priority date: 2010-07-29
Filing date: 2010-07-29
Publication date: 2015-01-14
Anticipated expiration: 2030-07-29
Also published as: CN102347048B; JP2012033224A; CN102347048A

Description

本発明は、ディスクを検査するディスク検査装置およびディスク検査方法に関する。

従来から、レーザ光を照射することによりデータの記録再生が可能な光ディスクなどの記録媒体ディスクが広く知られている。かかるディスクにおいては、経年劣化などにより、データの記録品質が劣化し、場合によっては、データの再生が困難になり、情報が損失する場合がある。ディスクで各種情報を記録保管しているディスクアーカイブにおいては、こうしたディスクの劣化による情報損失は、大きな問題となる。そのため、ディスクアーカイブにおいては、定期的に保管されている大量のディスクを検査することが求められる。また、ディスクの貸し出しや販売を行うディスクのレンタルショップや中古販売店においても、当該ディスクの貸し出し・販売に先立って、当該ディスクを検査することが求められている。

こうした問題を受け、ディスクを検査するための装置が従来から多数提案されている。こうした検査装置の多くは、通常のディスク再生装置と同様のディスクドライブを備え、当該ディスクドライブでディスクを再生した際の再生品質、例えば、エラー訂正個数（エラー数）などに基づいてディスクの品質を検査している。

特開２００８−１６５８４６号公報特開２００５−２５１２７７号公報

ここで、ディスク検査の際に、角速度一定でディスクを回転させてデータ再生するＣＡＶ再生を行った場合、検査速度は速くなるものの、ディスクの半径位置によってエラー誤判定数のバラツキが生じてしまい、検査結果の信頼性が低下するという問題がある。これは、ＣＡＶ再生の場合、再生する箇所の半径位置によって線速度が異なるためである。

一方、線速度一定となるＣＬＶ再生でディスク検査した場合には、こうしたエラー誤判定数のバラツキといった問題は生じにくくなる。しかしながら、ＣＬＶ再生では、ＣＡＶ再生に比して再生に時間がかかり、結果として、ディスク検査に時間がかかるという問題がある。

こうした検査時間増加の問題を避けるために、特許文献１では、数トラックおきに欠陥検出行い、欠陥が検出された位置の半径位置を記憶しておき、記憶した半径位置においてエラー数またはエラー率を測定するという、２段階測定方式が開示されている。また、特許文献２には、ディスクのうちエラー検査を行う複数箇所の位置情報と閾値を不揮発性メモリに記憶しておき、不揮発性メモリに記憶された位置情報に基づいてエラー検査を実行する技術が開示されている。

これらの技術によれば、検査時間を短縮することはできる。しかし、こうした従来技術では、ディスクの記録エリアのうち一部しか検査されないことになるため、検査結果の信頼性が低いという問題があった。

そこで、本発明では、検査結果の信頼性を保ちつつ高速でディスクを検査でき得るディスク検査装置およびディスク検査方法を提供することを目的とする。

本発明のディスク検査装置は、ディスクを検査するディスク検査装置であって、前記ディスクに記録されたデータを再生し再生信号を取得する再生手段と、前記再生信号に含まれるエラー数を測定するエラー数測定手段と、前記再生手段およびエラー数測定手段の駆動を制御する制御手段と、を備え、前記制御手段は、前記再生手段を駆動して前記ディスクを角速度一定で再生させるとともに、前記エラー数測定手段を駆動してエラー数を測定させ、記録エリア内を径方向に複数個に分割したエリアである分割エリア内で得られるエラー数の大小関係に基づいて、少なくとも分割エリア内でエラー数が最も大きい箇所を含む再検査が必要な箇所を再検査箇所として、各分割エリアごとに特定する粗検査ステップと、前記再生手段を駆動して少なくとも一つの再検査箇所付近を前記粗検査ステップにおいて角速度一定で再生した際の線速度以下の速度かつ線速度一定で再生させるとともに、前記エラー数測定手段を駆動してエラー数を測定させ、当該測定されたエラー数に基づいて、前記ディスクを各分割エリアごとに検査する精密検査ステップと、を実行し、前記分割エリアは、角速度一定で再生した場合に、線速度の差に起因して生じるエラー誤判定数のバラツキが規定の許容範囲内に収まる範囲である、ことを特徴とする。

好適な態様では、前記分割エリアは、角速度一定で再生した場合に、当該分割エリアの最外周において線速度に起因して生じるエラー誤判定数と、当該分割エリアの最内周において線速度に起因して生じるエラー誤判定数と、の差が規定の許容値以下である。他の好適な態様では、前記精密検査ステップでは、前記粗検査ステップにおいて角速度一定で再生した際の最内周側の再検査箇所の線速度以下の速度かつ線速度一定で再生する。他の好適な態様では、前記分割エリアは、前記粗検査ステップにおいて角速度一定で再生した場合に、各分割エリアの最内周の線速度と最外周の線速度との差が、全ての分割エリアで等しくなるように、前記記録エリアを半径方向に等分割したエリアである。

他の好適な態様では、前記精密検査ステップは、一つの分割エリアにおける再検査箇所付近を再生してエラー数を測定する測定ステップと、不良ディスクか否かの基準値として予め規定された第一閾値を含む１以上の閾値と、前記測定されたエラー数と、を比較する比較ステップと、を、前記第一閾値以上のエラー数が測定されるまで、あるいは、全ての分割エリアについてのエラー数測定が完了するまで、検査対象の分割エリアを順次変えて繰り返し行う。この場合、前記精密検査ステップは、粗検査ステップにおいて再検査箇所で測定されたエラー数が大きい分割エリアから順番に行うことが望ましい。また、前記比較ステップでは、第一閾値より小さい第二閾値と、前記測定されたエラー数と、の比較も行い、前記第一閾値未満かつ第二閾値以上のエラー数が測定された場合には、ユーザに対して注意メッセージを出力する、ことも望ましい。

他の本発明であるディスク検査方法は、ディスクを検査するディスク検査方法であって、前記ディスクを角速度一定で再生してエラー数を測定し、記録エリア内を径方向に複数個に分割したエリアである分割エリア内で得られるエラー数の大小関係に基づいて、少なくとも分割エリア内でエラー数が最も大きい箇所を含む再検査が必要な箇所を再検査箇所として、各分割エリアごとに特定する粗検査ステップと、少なくとも一つの再検査箇所付近を前記粗検査ステップにおいて角速度一定で再生した際の線速度以下の速度かつ線速度一定で再生してエラー数を測定し、当該測定されたエラー数に基づいて、前記ディスクを各分割エリアごとに検査する精密検査ステップと、を備え、前記分割エリアは、角速度一定で再生した場合に、線速度の差に起因して生じるエラー誤判定数のバラツキが規定の許容範囲内に収まる範囲である、ことを特徴とする。

本発明によれば、角速度一定で再生した場合に、線速度の差に起因して生じるエラー誤判定数のバラツキが規定の許容範囲内に収まる分割エリアごとに再検査箇所を特定し、当該再検査箇所だけを精密検査しているため、検査結果の信頼性を保ちつつ高速でディスクを検査できる。

本発明の実施形態であるディスク検査装置の構成を示すブロック図である。ＣＡＶ再生における半径位置と線速度との関係を示すイメージ図である。記録エリアの分割の様子を示すイメージ図である。ディスク検査処理の流れを示すフローチャートである。粗検査処理の詳細な流れを示すフローチャートである。精密検査処理の詳細な流れを示すフローチャートである。第二実施形態における精密検査処理の詳細な流れを示すフローチャートである。第三実施形態における精密検査処理の詳細な流れを示すフローチャートである。

以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。図１は、本発明の実施形態であるディスク検査装置１０の構成ブロック図である。このディスク検査装置１０は、記録媒体であるディスク１００（例えば、ＤＶＤやＣＤ、ブルーレイディスクなど）の再生を困難にする不具合（欠陥）の有無を検査する装置である。以下、このディスク検査装置１０について詳説する。

検査対象であるＣＤやＤＶＤ等のディスク１００はスピンドルモータ（ＳＰ）１２により回転駆動される。スピンドルモータ１２は、ＳＰドライバ１４で駆動され、ＳＰドライバ１４はサーボプロセッサ３０により所望の回転速度となるようにサーボ制御される。このとき、サーボプロセッサ３０は、システムコントローラ３２からの指示に従い、ディスク１００を、角速度一定で回転させることもできるし、線速度一定で回転させることもできる。

光ピックアップ１６は、レーザ光をディスク１００に照射するためのレーザダイオード（ＬＤ）やディスク１００からの反射光を受光して電気信号に変換するフォトディテクタを含み、ディスク１００に対向配置される。光ピックアップ１６はスレッドモータ（ＳＬＤ）１８によりディスク１００の半径方向に駆動され、スレッドモータ１８はＳＬＤドライバ２０で駆動される。ＳＬＤドライバ２０は、ＳＰドライバ１４と同様にサーボプロセッサ３０によりサーボ制御される。また、光ピックアップ１６のレーザダイオードはＬＤドライバ２２により駆動され、ＬＤドライバ２２は、オートパワーコントロール回路（ＡＰＣ）２４により、駆動電流が所望の値となるように制御される。ＡＰＣ２４及びＬＤドライバ２２は、システムコントローラ３２からの指令によりレーザダイオードの発光量を制御する。なお、図ではＬＤドライバ２２は光ピックアップ１６と別個に設けられているが、ＬＤドライバ２２を光ピックアップ１６に搭載してもよい。また、光ピックアップ１６には、対物レンズを駆動するアクチュエータ（ＡＣＴ）が設けられており、当該アクチュエータは、ＡＣＴドライバ２５で駆動される。このＡＣＴドライバ２５は、サーボプロセッサ３０により所望の駆動量となるようにサーボ制御される。

ディスク１００の検査に当たっては、ディスク１００に記録されたデータを再生するが、当該再生を実行する際には、光ピックアップ１６のレーザダイオードから再生パワーのレーザ光が照射され、その反射光がフォトディテクタで電気信号に変換されて再生信号として出力される。したがって、上述した光ピックアップ１６やスピンドルモータ１２、フォトディテクタなどが、ディスク１００に記録されたデータを再生する再生手段として機能することになる。

光ピックアップ１６からの再生信号はＲＦ回路２６に供給される。ＲＦ回路２６は、再生信号からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成し、サーボプロセッサ３０に供給する。サーボプロセッサ３０は、これらのエラー信号に基づいて光ピックアップ１６をサーボ制御し、光ピックアップ１６をオンフォーカス状態及びオントラック状態に維持する。また、ＲＦ回路２６は、再生信号に含まれるアドレス信号を２値化回路３４を介してアドレスデコード回路２８に供給する。アドレスデコード回路２８は２値化されたアドレス信号からディスク１００のアドレスデータを復調し、サーボプロセッサ３０やシステムコントローラ３２に供給する。

また、ＲＦ回路２６は、２値化回路３４を介してＲＦ信号をデコード回路３６にも供給する。デコード回路３６は、再生信号に含まれるエラー数を測定する測定手段として機能する。このデコード回路３６では、２値化信号（２値化回路３４で２値化されたＲＦ信号）を復調する。また、デコード回路３６は、エラー測定手段としても機能するもので、入力された２値化信号に基づいて、当該２値化信号に含まれるエラー数を測定する。このエラー数としては、Ｃ１／Ｃ２訂正やＰＩ／ＰＯ訂正した際のエラー訂正数や、そのエラー訂正数に基づいて算出されるエラーレートを用いることができる。

ここで、Ｃ１／Ｃ２訂正処理は、ＣＤ系光ディスク１００においてデータエラーを訂正する機能であるＣＩＲＣ（ＣｒｏｓｓＩｎｔｅｒｌｅａｖｅＲｅｅｄＳｏｌｏｍｏｎＣｏｄｅ）において行われる２系列の訂正処理であり、１系列目は主にランダムエラーと呼ばれる短いエラー（Ｃ１）を、２系列目では主にバーストエラーと呼ばれる長いエラー（Ｃ２）を訂正し、長いエラー（Ｃ２）はデータを分散して短いエラーに変換してエラーを訂正しやすくする。そして、通常のディスク再生機は、得られた再生データに対して、Ｃ１訂正処理を施した後Ｃ２訂正処理を施すようになっている。また、ＰＩ／ＰＯ訂正処理は、ＤＶＤ系のディスクにおいてデータエラーを訂正する上述と同様の機能であり、通常のディスク再生機は、ＰＩ訂正処理とＰＯ訂正処理を行い、その後、さらにＰＩ訂正処理を行うようになっている。デコード回路３６は、この訂正で得られるエラーレートをエラー数としてシステムコントローラに出力する。

システムコントローラ３２は、システム全体の動作を制御するとともに、デコード回路３６から出力されたエラー数に基づいてディスク１００を検査する制御手段として機能するものである。そして、このシステムコントローラ３２による検査結果は、インターフェース（Ｉ／Ｆ）４２を介して出力され、液晶パネルやスピーカなどを通じてユーザに提示される。なお、ここで、ユーザに提示される判定結果は、良・不良の二段階に限らず、複数段階（例えば、「ＮＧ」、「注意」、「ＯＫ」の三段階など）に分けられていてもよく、また、エラー数そのものや、許容エラー数に対する検出エラー数の比率などの数値であってもよい。

ところで、既述したとおり、本実施形態のディスク検査装置１０では、ディスク１００を角速度一定（ＣＡＶ）で再生することもできるし、線速度一定（ＣＬＶ）で再生することもできる。ＣＡＶ再生し、その際のエラー数に基づいてディスク検査を行った場合、高速でディスク検査できる一方で、線速度の違いに起因してエラーの誤判定数がばらつくことがあった。

すなわち、図２に示すように、ＣＡＶ再生の場合、線速度Ｖは、当該再生箇所の半径位置に比例することになる。例えば、角速度が一定の場合、半径ｎ×Ｒｃｍにおける線速度Ｖｂは、半径Ｒｃｍにおける線速度Ｖａのｎ倍ということになる（Ｖｂ＝ｎ×Ｖａ）。したがって、角速度一定の場合、外周側に近づくほど、線速度が大きくなることになる。こうした線速度の違いに起因して、エラーの誤判定数にバラツキが生じていた。例えば、線速度の遅い内周側では、エラーと判定されない程度の品質であっても、線速度の速い外周側ではエラーと誤判定される恐れがある。その結果、同等の品質、あるいは、内周側のほうが低品質であるにもかかわらず、外周側のほうがエラー数が高く、低品質と判定される場合もあった。そして、結果として、ディスク１００の良否を正確に判定できない恐れがあった。

一方、線速度を一定に保つＣＬＶ再生の場合は、こうしたエラー誤判定数のバラツキは生じにくく、検査精度を向上できる。しかしながら、ＣＬＶ再生をして、ディスク検査を行った場合、検査に時間がかかるという問題があった。

本実施形態では、こうした問題を解決するために、ディスク１００の記録エリアを複数の分割エリアに区分したうえで、各分割エリアにおいてＣＡＶ再生時に得られるエラー数に基づいて低品質の可能性が高い箇所を、再検査が必要な再検査箇所として特定し、この再検査箇所のみをＣＬＶ再生して再検査するようにしている。以下、これについて詳説する。

ユーザからディスク１００の検査が指示された場合、システムコントローラ３２は、検査対象のディスク１００の記録エリアを、複数の分割エリアに区分にする。このとき各分割エリアは、ＣＡＶ再生した場合に、線速度の差に起因して生じるエラー誤判定数のバラツキが規定の許容範囲内に収まる範囲にする。

すなわち、既述したように、ＣＡＶ再生では、半径位置によって線速度が異なり、この線速度の違いにより、エラーの誤判定数にバラツキが生じる。本実施形態では、記録エリアを、こうしたエラー誤判定数の違いを実質的に無視できる範囲、すなわち、同等の品質であれば、ほぼ同等のエラー数を検出し得る範囲に区分する。別の言い方をすれば、一つの分割エリアの最外周において線速度の差に起因して生じるエラー誤判定数と、同じ分割エリアの最内周において線速度の差に起因して生じるエラー誤判定数と、の差が規定の許容値以下となる範囲に区分する。

図３は、この区分の様子を示すイメージ図である。記録エリアを複数の分割エリアに区分する場合には、予め、ディスク検査装置１０の特性からエラー誤判定数が規定の許容範囲に収まる線速度差ΔＶ（同じ品質ならエラー数がほぼ同じになり得る線速度差ΔＶ）を求めておく。次いで、この線速度差ΔＶを満たすように、記録エリアを半径方向に区分する。ここで、ＣＡＶ再生の場合、線速度は半径位置に比例しており、線速度差は半径差に比例することになる。

例えば、半径差がΔｒとなる半径位置Ｒ_i（線速度Ｖ_i）と半径位置Ｒ_i+1（線速度Ｖ_i+1）との線速度差ΔＶ_i＝Ｖ_i+1−Ｖ_iは、ΔＶ_i＝θ・Δｒと表すことができる。なお、θは、角速度である。なお、一般的には、θは角度を表す記号であり、当該θの上に時間微分を表す・を付与した記号が角速度を表すが、本明細書では、表記の関係上、・のない、θを角速度を表す記号として取り扱う。

本実施形態では、エラー誤判定数のバラツキが許容範囲内に収まる線速度差ΔＶが求まれば、次いでθ・Δｒ≦ΔＶとなり得るΔｒの値を求める。そして、各分割エリアの最も内周側の半径位置Ｒ_iと最も外周側の半径位置Ｒ_i+1との差が全ての分割エリアでΔｒになるように、記録エリアを半径方向に複数（例えば六つ）に等分割する。

ディスク１００を検査する際には、この各分割エリアごとにＣＡＶ再生し、そのとき得られるエラー数の大小関係に基づいて、一つの分割エリア内で品質が特に低そうで、再検査が必要な箇所を各分割エリアごとに特定する。そして、この特定された箇所周辺だけをＣＬＶ再生し、精密検査を行う。この検査の流れを、図４を参照して詳説する。図４は、本実施形態で行うディスク１００の検査処理の流れを示すフローチャートである。

本実施形態において、ディスク検査は、大きく二つの処理に大別される。すなわち、ディスク１００を、ＣＡＶ再生して高速でエラーレート（エラー数）を測定する粗検査処理（Ｓ１０）と、ＣＬＶ再生して精密にエラーレートを測定する精密検査処理（Ｓ１２）と、に大別される。

粗検査処理では、記録エリアを複数個の分割エリアに分割したうえで、各分割エリアごとに、再検査が必要な箇所を再検査箇所として特定する。図５は、この粗検査処理の詳細な流れを示すフローチャートである。

粗検査処置では、まず、ディスク１００の記録エリアを、角速度一定で再生した場合に、線速度の差に起因して生じるエラー誤判定数のバラツキが規定の許容範囲内に収まるＮ個の分割エリアに区分する（Ｓ１４）。また、初期化処理としてパラメータｎをｎ＝１と設定する（Ｓ１６）。次に、スピンドルモータの速度を、角速度一定かつ高速回転に設定する（Ｓ１８）。ここで設定される高速の角速度は、許容誤差範囲でエラー数測定が可能な速度以下であり、かつ、許容される検査時間内に後述するエラー数測定ができ得る速度以上である。この角速度は、ディスク検査装置の特性に応じて設定される。

そして、角速度一定でディスクを回転させた状態で、ｎ番目の分割エリアに記録されたデータを再生し、エラー数の測定を行う（Ｓ２０）。システムコントローラ３２は、エラー数が測定されるたびに、当該エラー数が、当該ｎ番目分割エリアで、これまで検出されたエラー数より高いか否かを判断する（Ｓ２２）。検出エラー数が最大エラー数と判断できる場合には、当該エラー数を仮エラー数として、また、仮エラー数の検出箇所のアドレスを再検査箇所のアドレスとして、メモリ（図示せず）に記憶する（Ｓ２４）。検出エラー数が最大エラー数でない場合は、最大エラー値と検出アドレスの記憶処理をスキップする。この作業をｎ番目の分割エリアの最後まで行い、ｎ番目の分割エリアにおける最大エラー数（仮エラー数）と、その検出箇所（再検査箇所）と、を取得する。

ここで、この仮検出箇所は、この分割エリア内で、最も品質が低いと思われる箇所といえる。すなわち、一つの分割エリアは、線速度の差に起因して生じるエラー誤判定数のバラツキが規定の許容範囲内に収まる範囲であり、線速度の差に起因するエラー誤判定数の違いを実質的に無視できる範囲である。そのため、当該分割エリア内におけるエラー数の大小関係は、そのまま、当該分割エリア内における品質の高低関係を表しているとみなすことができる。そのため、一つの分割エリア内で、最もエラー数が高い箇所は、この分割エリア内で最も品質が低い箇所とみなすことができる。本実施形態では、この分割エリア内で最も品質が低いであろう箇所を、精密検査で再検査が必要な再検査箇所として特定している。

ｎ番目の分割エリアのエラー数測定が完了すれば（Ｓ２６においてＹｅｓになれば）、システムコントローラ３２は、全ての分割エリアについてエラー数測定が完了したか否か、換言すれば、ｎ＝Ｎになったか否かを判断する（Ｓ３０）。判断の結果、未測定の分割エリアが存在する場合には、パラメータｎをインクリメント（ｎ＝ｎ＋１に設定）したうえで（Ｓ３２）、再度、ｎ番目の分割エリアのエラー数測定を行う（Ｓ２０）。そして、この新たなｎ番目の分割エリアにおいても、仮エラー数と再検査箇所のアドレスとを取得し、メモリに保存する（Ｓ２２，Ｓ２４）。こうした処理を、全ての分割エリアについて行い、各分割エリアごとに仮エラー数と再検査箇所のアドレスが得られれば、粗検査は終了となる。

粗検査が終了すれば、続いて、精密検査処理を実行する。精密検査処理では、粗検査処理で特定された再検査箇所付近のみをＣＬＶ再生してエラー数を取得し、このエラー数に基づいて、ディスクの品質を判定する。図６は、精密検査処理の流れを示すフローチャートである。

精密検査処理では、まず、初期設定として、パラメータｎをｎ＝１として設定する（Ｓ４０）。次に、スピンドルモータの速度を、線速度一定かつ低速回転に設定する（Ｓ４２）。ここで設定される線速度は、粗検査ステップにおいて角速度一定で再生した際の最内周側の再検査箇所の線速度以下の速度であることが望ましく、ディスク検査装置の特性に応じて設定される。

そして、線速度一定でディスクを回転させた状態で、ｎ番目の分割エリアの再検査箇所付近のデータを再生し、エラー数の測定を行う（Ｓ４４）。このステップＳ４４で測定されたエラー数は、低速で測定された値であり、当該箇所の品質をより正確に表す値となる。以下では、このＣＬＶ再生で測定されたエラー数を、「真正エラー数」と呼ぶ。

システムコントローラ３２は、真正エラー数が得られれば、この真正エラー数が、予め規定された第一閾値以上か否かを判定する（Ｓ４６）。ここで、第一閾値としては、データ再生に支障がないエラー数、換言すれば、ディスク１００が不良でないと判定でき得るエラー数が設定される。この第一閾値は、ディスク検査装置１０の特性（エラー感度など）に応じて予め設定される。

この真正エラー数が第一閾値以上である場合には、当該ディスク１００を不良品と判定し、その時点で、ディスク検査を中止するともに、ユーザに、ディスク不良である旨のＮＧメッセージを提示する（Ｓ５２）。

一方、再検査箇所の真正エラー数が第一閾値未満である場合には、このｎ番目の分割エリアは、一定以上の品質を有していると判断し、次の分割エリアの精密検査を行う。すなわち、既述したとおり、再検査箇所は、一つの分割エリアにおいて最も低品質な箇所とみなすことができる。この再検査箇所のＣＬＶ再生により得られたエラー数が、第一閾値未満である場合には、当該分割エリアの他の箇所をＣＬＶ再生した際のエラー数も、第一閾値未満であると推測することができる。したがって、再検査箇所のみをＣＬＶ再生して一定以上の品質があることが確認できれば、再検査箇所以外の箇所についてはＣＬＶ再生をする必要はないことになる。したがって、再検査箇所の真正エラー数が第一閾値未満である場合には、他の箇所をＣＬＶ再生することなく、ステップＳ４８に進む。

ステップＳ４８では、全ての分割エリアについて精密検査が完了したか否か、換言すれば、ｎ＝Ｎであるか否かを判断する。そして、未検査の分割エリアがある場合には、パラメータｎをインクリメントし（Ｓ５０）、再度、新たなｎ番目の分割エリアの再検査箇所を再生し、エラー数（真正エラー数）の測定を行う（Ｓ４４，Ｓ４６）。

この手順を、第一閾値以上の真正エラー数が検出される、または、全ての分割エリアについてのエラー数測定が完了するまで繰り返し行う。そして、第一閾値以上のエラー数が検出されること無く、全ての分割エリアについてエラー数測定が完了すれば（Ｓ４８でＹｅｓとなれば）、検査を終了するとともに、当該ディスク１００が良品である旨のＯＫメッセージをユーザに通知する（Ｓ５４）。その一方で、全ての分割エリアについてエラー数測定が完了する前に、第一閾値以上の真正エラー数が測定された場合には、その場で検査を終了し、当該ディスク１００が不良品である旨のＮＧメッセージをユーザに通知する（Ｓ５２）。

以上が本実施形態におけるディスク検査の流れである。以上の説明から明らかなとおり、本実施形態では、高速に検査でき得るＣＡＶ再生で記録エリア全体を検査して、品質の低そうな箇所を特定したうえで、精密に検査でき得るＣＬＶで当該品質の低そうな箇所（再検査箇所）を精密検査している。ここで、本実施形態では、（再検査箇所）の特定を各分割エリアごとに行っている。そのため、線速度差に起因するエラー誤判定数（エラー感度）のバラツキの影響を抑えることができ、低品質である可能性が高い箇所を確実に特定することができる。また、本実施形態では、検査に時間を要するＣＬＶ再生によるエラー数測定については、記録エリアのうち、一部（再検査箇所）でしか行っていない。その結果、より高速でのディスク検査が可能となる。つまり、本実施形態では、高速でありながら、信頼性の高いディスク検査が可能となる。

なお、本実施形態では、各分割エリアごとに、再検査箇所を一箇所だけ特定しているが、より複数の箇所を再検査箇所として特定してもよい。例えば、各分割エリアごとに、ＣＡＶ再生で測定されたエラー数が最も高い箇所と次にエラー数が高い箇所の二箇所を再検査箇所として特定してもよい。

次に、第二実施形態について説明する。第二実施形態のディスク検査装置１０のハード構成は、第一実施形態と同様であるため、ここでの詳説は省略する。第二実施形態では、精密検査処理の流れが第一実施形態と若干異なっている。これについて、図７を参照して説明する。図７は、第二実施形態における精密検査処理の流れを示すフローチャートである。

第二実施形態においても、ディスク検査を行う場合には、粗検査処理を行った後に、精密検査処理を行う。第二実施形態においても、粗検査処理は、第一実施形態と同じである。すなわち、記録エリアをＮ個の分割エリアに分割したうえで、ＣＡＶ再生し、各分割エリアごとに、仮エラー数と再検査箇所のアドレスを記憶する（図５Ｓ１４〜Ｓ３０）。

続いて、精密検査処理では、まず、Ｎ個の分割エリアを、仮エラー数の高い順でソートする（Ｓ５６）。すなわち、仮エラー数が最も高い分割エリアのソートインデックスが１となり、仮エラー数が最も低い分割エリアのソートインデックスがＮになるように、各分割エリアを順番付けする。

続いて、パラメータｉをｉ＝１として初期設定する（Ｓ４０＊）。また、スピンドルモータの速度を、線速度一定かつ低速回転に設定する（Ｓ４２）。続いて、ソートインデックスがｉ番目の分割エリアの再検査箇所付近をＣＬＶ再生し、エラー数を測定する（Ｓ４４＊）。そして、このＣＬＶ再生で測定されたエラー数を真正エラー数として取得し、第一閾値と比較する（Ｓ４６）。ここで、現時点においてｉ＝１であるため、この時点では、ソートインデックスが１の分割エリア、すなわち、仮エラー数が最も高い分割エリアについて、エラー数測定がなされることになる。

このエラー数測定で得られる真正エラー数が第一閾値以上の場合には、ディスク検査を終了するとともに、ユーザに、ディスクが不良品である旨のＮＧメッセージを提示する（Ｓ５２）。

一方、真正エラー数が第一閾値未満である場合には、全ての分割エリアについてエラー数の測定が完了したか否かを判定する（Ｓ４８）。判定の結果、未測定の分割エリアが存在する場合には、ステップＳ５０＊に進み、パラメータｉをインクリメント（ｉ＝ｉ＋１に設定）する。

ｉの値が再設定されれば、ソートインデックスがｉ番目の分割エリアの再検査箇所付近をＣＬＶ再生し、エラー数測定する（Ｓ４４＊）。そして、得られた真正エラー数と第一閾値とを比較し（Ｓ４６）、その比較結果に応じたステップへと進む。そして、この手順を、第一閾値以上の真正エラー数が検出される、または、全ての分割エリアについてエラー数測定が完了するまで繰り返す。

そして、その過程で、第一閾値以上の真性エラー数が検出されれば、その場でディスク検査を終了するとともに、ディスク不良である旨のＮＧメッセージをユーザに提示する（Ｓ５２）。一方、第一閾値以上の真性エラー数が検出されることなく、ソートインデックスがＮ番目の分割エリアのエラー数測定まで終了すれば、ディスク検査を終了するとともに、ディスクが良品である旨のＯＫメッセージをユーザに提示する（Ｓ５４）。

以上の説明から明らかなとおり、本実施形態では、ソートインデックスの低い分割エリア、換言すれば、仮エラー数の高い分割エリアから順番に、エラー数測定を行っている。これにより、より効率的にディスク検査を行うことができる。

すなわち、線速度差に起因するエラー誤判定数の違いがあるとはいえ、仮エラー数が高い箇所は、より低品質の箇所である可能性が高い。このように、より低品質である可能性が高い箇所から順に精密検査をすることにより、ディスクが不良である場合には、早々に検査終了できる可能性が高くなる。そして、結果として、ディスク検査に要する時間を短縮できる。

なお、本実施形態では、仮エラー数が最小の分割エリアまで真正エラー数の測定を実行しているが、必ずしも全ての分割エリアについて真正エラー数の測定を行わなくてもよい。例えば、仮エラー数が、様々な誤差を考慮しても、十分に低いと思われる分割エリアについては、真正エラー数の測定を省略してもよい。かかる構成とすることで、より高速でのディスク検査が可能となる。

また、本実施形態では、精密検査を行う順番を、ＣＡＶ再生で測定されたエラー数に基づいて決定しているが、ＣＡＶ再生で測定されたエラー数そのものではなく、当該エラー数に、半径位置に応じた補正係数を乗じた値を仮エラー数とし、この補正されたエラー数に基づいて精密検査の順番を決定してもよい。すなわち、ＣＡＶ再生では、半径位置に応じて、線速度が異なっており、この線速度の違いによりエラー誤判定数が異なる。換言すれば、ＣＡＶ再生では、半径位置に応じてエラー誤判定数が違うといえる。そこで、この半径位置に応じたエラー誤判定数の違いを吸収するべく、各半径位置ごとに補正係数を予め定めておき、精密検査の際には、ＣＡＶ再生で測定されたエラー数にこの補正係数を乗算した値に基づいて、精密検査の順番を決定してもよい。

次に、第三実施形態について説明する。第三実施形態のディスク検査装置１０のハード構成は、第一実施形態と同様であるため、ここでの詳説は省略する。第三実施形態では、精密検査処理の流れが第一実施形態と若干異なっている。これについて、図８を参照して説明する。図８は、第三実施形態における精密検査処理の流れを示すフローチャートである。

第三実施形態においても、ディスク検査を行う場合には、粗検査処理を行った後に、精密検査処理を行う。第三実施形態では、粗検査処理は、第一実施形態と同じである。すなわち、記録エリアをＮ個の分割エリアに分割したうえで、ＣＡＶ再生し、各分割エリアごとに、仮エラー数と再検査箇所のアドレスを記憶する（図５Ｓ１４〜Ｓ３０）。

次に、精密検査処理では、ステップＳ４６までは、第一実施形態と同じである。すなわち、パラメータｎをｎ＝１、スピンドルモータの速度を線速度一定かつ低速回転に設定する（Ｓ４０，Ｓ４２）。そして、ｎ番目の分割エリアの再検査箇所をＣＬＶ再生し、エラー数を測定する（Ｓ４４）。そして、このエラー数測定で得られた真性エラー数が第一閾値以上の場合（Ｓ４６でＹｅｓ）、検査を終了するとともに、ディスクが不良品である旨のＮＧメッセージを提示する（Ｓ５２）。

一方、真正エラー数が第一閾値未満の場合は、続いて、当該真正エラー数が第二閾値以上か否かを判断する（Ｓ６０）。この第二閾値は、第一閾値より小さい値であり、不良品とまではいえないまでも、今後、劣化によりデータ再生が困難になる可能性が高いエラー数である。この第二閾値の具体的値は、ディスク検査装置１０の特性（エラー感度など）や、要求されるディスク品質に応じて事前に設定される。

真正エラー数が、この第二閾値以上の場合、システムコントローラ３２は、当該第二閾値以上のエラー数が測定された箇所のアドレスを記憶し（Ｓ６２）、ステップＳ４８に進む。真性エラー数が第二閾値未満の場合は、こうしたアドレス記憶をすることなく、そのまま、ステップＳ４８に進む。

ステップＳ４８では、全ての分割エリアについてエラー数測定が完了したか否かが確認される（Ｓ４８）。未測定の分割エリアが残っている場合には、パラメータｎをインクリメントする。そして、再度、ｎ番目の分割エリアの再検査箇所のエラー数測定を行い、得られた真性エラー数と、第一閾値および第二閾値と、の比較を行う（Ｓ４６、Ｓ６０）。

この手順を、第一閾値以上の真正エラー数が検出される、または、全ての分割エリアに関してエラー測定が完了するまで繰り返す。そして、最終的に、第一閾値以上の真正エラー数が検出されることなく、全ての分割エリアに関してエラー数の測定が完了すれば、ステップＳ６４に進む。ステップＳ６４では、システムコントローラ３２は、この精密検査において、第二閾値以上の真正エラー数が検出されたか否かを確認する（Ｓ６４）。確認の結果、第二閾値以上の真正エラー数が検出されていない場合には、当該ディスクが良品である旨のＯＫメッセージをユーザに提示する（Ｓ５４）。一方、第二閾値以上の真正エラー数が一つでも検出された場合には、当該ディスクが、品質が劣化しかけた注意すべきディスクである旨の注意メッセージをユーザに提示する（Ｓ６６）。

このように、不良品とまではいかないまでも、品質劣化が認められるディスクであることをユーザに提示することで、ユーザは、事前に、コピー作成などのデータ保護のための対応をとることができ、データ損失を防止することができる。

なお、本実施形態では、不良ディスクか否かの基準である第一閾値、注意ディスクか否かの基準である第二閾値という二種類の閾値のみを設定しているが、より多数の閾値を設定してもよい。より多数の閾値を設けることにより、ユーザは、データ損失の危険性がより高いディスクから順次、対応をとることができ、より効率的に対応することができる。また、本実施形態では、予め規定された順番で各分割エリアの精密検査を行っているが、第二実施形態と同様に、仮エラー数の値に応じて精密検査する分割エリアの順番を決定してもよい。

また、これまで説明した実施形態では、記録エリアを半径方向に等分割しているが、各分割エリア内でのエラー誤判定数のバラツキが許容範囲内に収まるのであれば、必ずしも等分割されていなくてもよい。

１０ディスク検査装置、１２スピンドルモータ、１４ドライバ、１６光ピックアップ、１８スレッドモータ、２０ドライバ、２２，２５ドライバ、２６回路、３０サーボプロセッサ、３２システムコントローラ、３６デコード回路、１００ディスク。

Claims

ディスクを検査するディスク検査装置であって、
前記ディスクに記録されたデータを再生し再生信号を取得する再生手段と、
前記再生信号に含まれるエラー数を測定するエラー数測定手段と、
前記再生手段およびエラー数測定手段の駆動を制御する制御手段と、
を備え、前記制御手段は、
前記再生手段を駆動して前記ディスクを角速度一定で再生させるとともに、前記エラー数測定手段を駆動してエラー数を測定させ、記録エリア内を径方向に複数個に分割したエリアである分割エリア内で得られるエラー数の大小関係に基づいて、少なくとも分割エリア内でエラー数が最も大きい箇所を含む再検査が必要な箇所を再検査箇所として、各分割エリアごとに特定する粗検査ステップと、
前記再生手段を駆動して少なくとも一つの再検査箇所付近を前記粗検査ステップにおいて角速度一定で再生した際の線速度以下の速度かつ線速度一定で再生させるとともに、前記エラー数測定手段を駆動してエラー数を測定させ、当該測定されたエラー数に基づいて、前記ディスクを各分割エリアごとに検査する精密検査ステップと、
を実行し、
前記分割エリアは、角速度一定で再生した場合に、線速度の差に起因して生じるエラー誤判定数のバラツキが規定の許容範囲内に収まる範囲である、
ことを特徴とするディスク検査装置。
請求項１に記載のディスク検査装置であって、
前記分割エリアは、角速度一定で再生した場合に、当該分割エリアの最外周において線速度に起因して生じるエラー誤判定数と、当該分割エリアの最内周において線速度に起因して生じるエラー誤判定数と、の差が規定の許容値以下である、
ことを特徴とするディスク検査装置。
請求項１または２に記載のディスク検査装置であって、
前記精密検査ステップでは、前記粗検査ステップにおいて角速度一定で再生した際の最内周側の再検査箇所の線速度以下の速度かつ線速度一定で再生する、ことを特徴とするディスク検査装置。
請求項１から３のいずれか１項に記載のディスク検査装置であって、
前記分割エリアは、前記粗検査ステップにおいて角速度一定で再生した場合に、各分割エリアの最内周の線速度と最外周の線速度との差が、全ての分割エリアで等しくなるように、前記記録エリアを半径方向に等分割したエリアである、ことを特徴とするディスク検査装置。
請求項１から４のいずれか１項に記載のディスク検査装置であって、
前記精密検査ステップは、一つの分割エリアにおける再検査箇所付近を再生してエラー数を測定する測定ステップと、
不良ディスクか否かの基準値として予め規定された第一閾値を含む１以上の閾値と、前記測定されたエラー数と、を比較する比較ステップと、
を、前記第一閾値以上のエラー数が測定されるまで、あるいは、全ての分割エリアについてのエラー数測定が完了するまで、検査対象の分割エリアを順次変えて繰り返し行う、
ことを特徴とするディスク検査装置。
請求項５に記載のディスク検査装置であって、
前記精密検査ステップは、粗検査ステップにおいて再検査箇所で測定されたエラー数が大きい分割エリアから順番に行うことを特徴とするディスク検査装置。
請求項５または６に記載のディスク検査装置であって、
前記比較ステップでは、第一閾値より小さい第二閾値と、前記測定されたエラー数と、の比較も行い、
前記第一閾値未満かつ第二閾値以上のエラー数が測定された場合には、ユーザに対して注意メッセージを出力する、
ことを特徴とするディスク検査装置。
ディスクを検査するディスク検査方法であって、
前記ディスクを角速度一定で再生してエラー数を測定し、記録エリア内を径方向に複数個に分割したエリアである分割エリア内で得られるエラー数の大小関係に基づいて、少なくとも分割エリア内でエラー数が最も大きい箇所を含む再検査が必要な箇所を再検査箇所として、各分割エリアごとに特定する粗検査ステップと、
少なくとも一つの再検査箇所付近を前記粗検査ステップにおいて角速度一定で再生した際の線速度以下の速度かつ線速度一定で再生してエラー数を測定し、当該測定されたエラー数に基づいて、前記ディスクを各分割エリアごとに検査する精密検査ステップと、
を備え、
前記分割エリアは、角速度一定で再生した場合に、線速度の差に起因して生じるエラー誤判定数のバラツキが規定の許容範囲内に収まる範囲である、
ことを特徴とするディスク検査方法。