CN102347048B - 盘检查装置及盘检查方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种能够在保持检查结果的可靠性的同时高速地检查盘的盘检查装置及盘检查方法。盘检查装置的系统控制器(32)执行以下步骤：粗检查步骤，使盘角速度一定地进行重放并测定出错数，根据在分割区域内得到的出错数的大小关系，在各个分割区域中将分割区域内出错数最大的部位确定为再检查部位，所述分割区域是在径向上将记录区域分割成多个的区域；和精密检查步骤，根据线速度一定地重放再检查部位附近时的出错数，检查上述盘。此外，分割区域为以下的范围，即，在角速度一定地进行重放时因线速度的差而产生的出错误判定数的偏差收敛于规定的容许范围内。

Description

盘检查装置及盘检查方法

技术领域

本发明涉及用于检查盘的盘检查装置及盘检查方法。

背景技术

一直以来，能够通过照射激光进行数据的记录重放的光盘等记录介质盘广为人知。在这种盘中，会因经年劣化等导致数据的记录品质劣化，并根据情况而存在难以重放数据、信息损失等情况。在用盘来记录保管各种信息的盘存档(Disc Archive)中，这样的因盘的劣化而引起的信息损失成为很大的问题。因此，在盘存档中，要求定期检查保管的大量的盘。此外，在进行盘的租借或销售的盘的租借店或二手销售店中，也要求在该光盘的租借、销售之前，检查该盘。

由于这样的问题，以往提出了很多用于检查盘的装置。这种检查装置大多具备与通常的盘重放装置同样的盘驱动，用该盘驱动来检查对盘进行重放时的重放品质、例如根据纠错个数(出错数)等来检查盘的品质。

专利文献1：JP特开2008-165846号公报

专利文献2：JP特开2005-251277号公报

在此，进行盘检查时，若进行了使盘在角速度一定的条件下旋转并进行数据重放的CAV重放，则尽管检查速度较快，但存在会因盘的半径位置而产生出错误判定数的偏差、检查结果的可靠性下降的问题。这是由于，在CAV重放时，根据重放的部位的半径位置的不同，线速度不同。

另一方面，在以线速度一定的CLV重放进行盘检查时，这样的出错误判定数偏差的问题很难产生。但是，在CLV重放时，与CAV重放相比重放需要花费时间，结果存在盘检查耗费时间的问题。

为了避免这种检查时间增加的问题，在专利文献1中公开了如下的2步测定方式：每隔数磁道进行缺陷检测，存储检测出缺陷的位置的半径位置，并在存储的半径位置处测定出错数或出错率。此外，在专利文献2中公开了如下技术：将盘中进行出错检查的多个部位的位置信息和阈值存储到非易失性存储器中，并根据非易失性存储器中存储的位置信息执行出错检查。

根据这些技术可以缩短检查时间。但是，在这样的现有技术中，由于仅对盘的记录区域中的一部分进行检查，因此存在检查结果的可靠性低的问题。

发明内容

因此，本发明的目的在于提供一种能够在保持检查结果的可靠性的同时高速地检查盘的盘检查装置及盘检查方法。

本发明的盘检查装置是用于检查盘的盘检查装置，其特征在于，包括：重放机构，对记录于上述盘中的数据进行重放，并取得重放信号；出错数测定机构，测定上述重放信号中包含的出错数；和控制机构，控制上述重放机构和出错数测定机构的驱动，上述控制机构执行以下步骤：粗检查步骤，驱动上述重放机构而使上述盘角速度一定地进行重放，并且驱动上述出错数测定机构测定出错数，并根据在分割区域内得到的出错数的大小关系，在各个分割区域中将至少包括分割区域内出错数最大的部位的、需要再检查的部位确定为再检查部位，所述分割区域是在径向上将记录区域分割成多个的区域；和精密检查步骤，驱动上述重放机构，以在上述粗检查步骤中角速度一定地进行重放时的线速度以下的速度且线速度一定地对至少一个再检查部位附近进行重放，并且驱动上述出错数测定机构测定出错数，根据该测定出的出错数，检查上述盘，上述分割区域为以下的范围，即，在角速度一定地进行重放时因线速度的差而产生的出错误判定数的偏差收敛于规定的容许范围内。

在优选的方式中，上述分割区域，在角速度一定地进行重放时，在该分割区域的最外周因线速度而产生的出错误判定数和在该分割区域的最内周因线速度而产生的出错误判定数之差，在规定的容许值以下。在其他优选方式中，在上述精密检查步骤中，以在上述粗检查步骤中角速度一定地进行重放时的最内周侧的再检查部位的线速度以下的速度且线速度一定地进行重放。在其他优选方式中，上述分割区域是如下形成的区域，即，在半径方向上对上述记录区域进行等分割，以使在上述粗检查步骤中角速度一定地进行重放时，各分割区域的最内周的线速度和最外周的线速度之差在所有的分割区域中相等。

在其他优选方式中，上述精密检查步骤，在直到测定到作为是否为不良盘的基准值而预先规定的第一阈值以上的出错数为止、或者直到完成了所有分割区域的出错数测定为止，依次改变检查对象的分割区域而反复进行以下步骤：测定步骤，对一个分割区域中的再检查部位附近进行重放，并测定出错数；和比较步骤，对包含上述第一阈值的一个以上的阈值和上述测定的出错数进行比较。此时优选，上述精密检查步骤从在粗检查步骤中在再检查部位测定到的出错数大的分割区域开始依次进行。此外还优选，在上述比较步骤中，还进行比第一阈值小的第二阈值和上述测定的出错数间的比较，在测定到小于上述第一阈值且为第二阈值以上的出错数时，向用户输出注意消息。

本发明的另一方面的盘检查方法，是用于检查盘的盘检查方法，其特征在于，包括以下步骤：粗检查步骤，使上述盘角速度一定地进行重放并测定出错数，根据在分割区域内得到的出错数的大小关系，在各个分割区域中将至少包括分割区域内出错数最大的部位的、需要再检查的部位确定为再检查部位，所述分割区域是在径向上将记录区域分割成多个的区域；和精密检查步骤，以在上述粗检查步骤中角速度一定地进行重放时的线速度以下的速度且线速度一定地对至少一个再检查部位附近进行重放，并测定出错数，根据该测定出的出错数，检查上述盘，上述分割区域为以下的范围，即，在角速度一定地进行重放时因线速度的差而产生的出错误判定数的偏差收敛于规定的容许范围内。

根据本发明，在角速度一定的条件下进行重放时，对各个因线速度的差产生的出错误判定数的偏差收敛于规定的容许范围内的分割区域确定再检查部位，仅对该再检查部位进行精密检查，因此能够在确保检查结果的可靠性的同时高速地检查盘。

附图说明

图1是表示本发明实施方式的盘检查装置的结构的框图。

图2是表示CAV重放中的半径位置和线速度间的关系的图。

图3是表示记录区域的分割的形态的图。

图4是表示盘检查处理的流程的流程图。

图5是表示粗检查处理的详细流程的流程图。

图6是表示精密检查处理的详细流程的流程图。

图7是表示第二实施方式的精密检查处理的详细流程的流程图。

图8是表示第三实施方式的精密检查处理的详细流程的流程图。

符号说明

10盘检查装置；12主轴马达；14驱动器；16光拾取器；18螺纹马达；20驱动器；22、25驱动器；26电路；30伺服处理器；32系统控制器；36解码电路；100盘。

具体实施方式

下面参照附图对本发明的实施方式进行说明。图1是本发明实施方式的盘检查装置10的结构框图。该盘检查装置10是用于检查有无难以进行作为记录介质的盘100(例如DVD、CD、蓝光盘等)的重放的问题(缺陷)的装置。以下对该盘检查装置10进行详细说明。

作为检查对象的CD、DVD等盘100由主轴马达(SP)12驱动旋转。主轴马达12由SP驱动器14驱动，SP驱动器14由伺服处理器30进行伺服控制以成为预期的旋转速度。此时，伺服处理器30按照来自系统控制器32的指示，可以使盘100角速度一定地旋转，也可以使其线速度一定地旋转。

光拾取器16与盘100相对配置，包括用于向盘100照射激光的激光二极管(LD)、接受来自盘100的反射光并将其变换为电信号的光电探测器。光拾取器16由螺纹马达(SLD)18向盘100的半径方向驱动，螺纹马达18由SLD驱动器20驱动。SLD驱动器20与SP驱动器14同样地由伺服处理器30进行伺服控制。此外，光拾取器16的激光二极管由LD驱动器22驱动，LD驱动器22由自动功率控制电路(APC)24控制以使驱动电流为预期的值。APC 24及LD驱动器22根据来自系统控制器32的指令来控制激光二极管的发光量。在图中LD驱动器22与光拾取器16分开设置，但也可以将LD驱动器22搭载在光拾取器16上。此外，在光拾取器16上设置有用于驱动物镜的促动器(ACT)，该促动器由ACT驱动器25驱动。该ACT驱动器25由伺服处理器30进行伺服控制以成为预期的驱动量。

在检查盘100时，对记录在盘100上的数据进行重放，而在执行该重放时，从光拾取器16的激光二极管照射重放功率的激光，将其反射光用光电探测器变换成电信号并作为重放信号输出。因此，上述光拾取器16、主轴马达12、光电探测器等作为对记录于盘100上的数据进行重放的重放机构发挥作用。

来自光拾取器16的重放信号被供给到RF电路26。RF电路26根据重放信号生成聚焦出错信号、跟踪出错信号，并提供到伺服处理器30。伺服处理器30根据这些出错信号对光拾取器16进行伺服控制，将光拾取器16维持为在聚焦(on focus)状态及在轨道(on track)状态。此外，RF电路26将重放信号中包含的地址信号经由二值化电路34提供到地址解码电路28。地址解码电路28根据二值化后的地址信号对盘100的地址数据进行解调，并提供到伺服处理器30、系统控制器32。

此外，RF电路26还将RF信号经由二值化电路34提供到解码电路36。解码电路36作为对重放信号中包含的出错数进行测定的测定机构发挥作用。在该解码电路36中，对二值化信号(由二值化电路34二值化后的RF信号)进行解调。此外，解码电路36还作为出错测定机构发挥作用，根据输入的二值化信号测定该二值化信号中包含的出错数。作为该出错数，可以使用C1/C2纠错、PI/PO纠错时的纠错数、根据该纠错数算出的出错率。

在此，C1/C2纠错处理是在CD系光盘100中在作为纠正数据出错的功能的CIRC(Cross Interleave Reed Solomon Code，交叉插入里德所罗门码)中进行的2系列的纠错处理，第1系列主要纠正被称为随机出错的短出错(C1)，第2系列主要纠正被称为突发性出错的长出错(C2)，长出错(C2)将数据分散，变换为短出错，使得纠错变得容易。通常的盘重放机对得到的重放数据，在进行了C1纠错处理后进行C2纠错处理。此外，PI/PO纠错处理在DVD系的盘中纠正数据出错，具有与上述同样的功能，通常的盘重放机在进行PI纠错处理和PO纠错处理后进一步进行PI纠错处理。解码电路36将通过该纠错得到的出错率作为出错数输出到系统控制器。

系统控制器32作为控制机构发挥作用，控制系统整体的动作，并且根据从解码电路36输出的出错数检查盘100。并且，该系统控制器32的检查结果经由接口(I/F)42输出，通过液晶面板、扬声器等提示给用户。另外，在此向用户提示的判定结果不限于良好/不良二个阶段，也可以分为多个阶段(例如“NG”、“注意”、“OK”三个阶段等)，此外也可以是出错数本身或检测出错数相对于容许出错数的比率等数值。

如上所述，在本实施方式的盘检查装置10中，可以使盘100角速度一定(CAV)进行重放，也可以线速度一定(CLV)地进行重放。进行CAV重放并根据此时的出错数进行盘检查时，可以高速地进行盘检查，但存在因线速度的不同导致出错的误判定数出现偏差的情况。

即，如图2所示，在CAV重放时，线速度V与该重放部位的半径位置成比例。例如，角速度一定时，半径n×Rcm处的线速度Vb成为半径Rcm处的线速度Va的n倍(Vb＝n×Va)。因此，角速度一定时，越是靠近外周侧，线速度越大。因这样的线速度的不同，出错的误判定数产生偏差。例如，即使是在线速度慢的内周侧未被判定为出错的程度的品质，也可能在线速度快的外周侧被误判定为出错。其结果会出现以下情况：即使是同等品质或内周侧为更低品质，却被判定为外周侧的出错数更高、从而为更低品质。结果可能导致无法正确判定盘100是否良好。

另一方面，进行使线速度保持一定的CLV重放时，这样的出错误判定数的偏差难以产生，可以提高检查精度。但是，进行CLV重放来进行盘检查时，存在检查耗费时间的问题。

在本实施方式中，为了解决这种问题，将盘100的记录区域划分为多个分割区域，并且根据在各分割区域中进行CAV重放时得到的出错数，将低品质的可能性高的部位确定为需要再检查的再检查部位，仅对该再检查部位进行CLV重放从而进行再检查。以下对此进行详细说明。

从用户指示了盘100的检查时，系统控制器32将检查对象的盘100的记录区域划分为多个分割区域。此时各分割区域处于以下范围：在进行CAV重放的情况下，因线速度的差产生的出错误判定数的偏差收敛于规定的容许范围内。

即，如上所述，在CAV重放时，因半径位置而导致线速度不同，因该线速度的不同，出错的误判定数产生偏差。在本实施方式中，将记录区域划分为能够实质上忽视这种出错误判定数的差异的范围、即若为同等的品质则能检测出基本同等的出错数的范围。换言之，将记录区域划分成如下的范围：在一个分割区域的最外周因线速度的差产生的出错误判定数和在同一分割区域的最内周因线速度的差产生的出错误判定数之差在规定的容许值以下。

图3是表示该划分的形态的图。将记录区域划分为多个分割区域时，预先根据盘检查装置10的特性求出出错误判定数收敛于规定的容许范围内的线速度差ΔV(若为相同品质则使出错数基本相同的线速度差ΔV)。然后，以满足该线速度差ΔV的方式在半径方向上划分记录区域。在此，在进行CAV重放时，线速度与半径位置成比例，线速度差与半径差成比例。

例如，半径差为Δr的半径位置R_i(线速度V_i)和半径位置R_i+1(线速度V_i+1)间的线速度差ΔV_i＝V_i+1-V_i，可以表示为ΔV_i＝θ·Δr。θ为角速度。一般来说，θ是表示角度的记号，在该θ上附加了表示时间微分的“·”后的记号表示角速度，但在本说明书中，由于表述上的关系，将没有“·”的θ作为表示角速度的记号进行处理。

在本实施方式中，求出出错误判定数的偏差收敛于容许范围内的线速度差ΔV后，接着求出可以使θ·Δr≤ΔV的Δr的值。并且以使各分割区域的最内周侧的半径位置R_i和最外周侧的半径位置R_i+1之差在所有的分割区域中为Δr的方式，将记录区域在半径方向上等分割为多个(例如六个)。

在检查盘100时，在各个分割区域进行CAV重放，根据此时得到的出错数的大小关系，按照各分割区域来确定在一个分割区域内品质特别低而需要再检查的部位。并且，仅对该确定的部位周边进行CLV重放，以进行精密检查。参照图4详细说明该检查的流程。图4是表示在本实施方式中进行的盘100的检查处理的流程的流程图。

在本实施方式中，盘检查装置大致分为两个处理。即，大致分为对盘100进行CAV重放而高速地测定出错率(出错数)的粗检查处理(S10)、以及进行CLV重放而精密地测定出错率的精密检查处理(S12)。

在粗检查处理中，将记录区域分割为多个分割区域，并且按照各分割区域，将需要再检查的部位确定为再检查部位。图5是表示该粗检查处理的详细流程的流程图。

在粗检查处理中，首先将盘100的记录区域划分为N个分割区域，以便在角速度一定地进行重放时因线速度的差产生的出错误判定数的偏差收敛于规定的容许范围内(S14)。此外，作为初始化处理将参数n设定为n＝1(S16)。然后，将主轴马达的速度设定为角速度一定且高速旋转(S18)。在此设定的高速的角速度，为能够在容许误差范围内测定出错数的速度以下、且为能够在容许的检查时间内进行后述出错数测定的速度以上。该角速度根据盘检查装置的特性进行设定。

在使盘角速度一定地旋转的状态下，对记录于第n个分割区域上的数据进行重放，进行出错数的测定(S20)。系统控制器32在每次测定出错数时，判断该出错数在该第n个分割区域中是否比目前为止检测出的出错数高(S22)。若能够判断为检测出错数为最大出错数，则将该出错数设为假定出错数，并将假定出错数的检测部位的地址作为再检查部位的地址，存储到存储器(未图示)中(S24)。若检测出错数不是最大出错数，则跳过最大出错数和检测地址的存储处理。直到第n个分割区域的最后为止进行该作业，取得第n个分割区域中的最大出错数(假定出错数)和其检测部位(再检查部位)。

在此，该假定检测部位可以说是该分割区域内被认为品质最低的部位。即，一个分割区域是因线速度的差产生的出错误判定数的偏差收敛于规定的容许范围内的范围，是可以实质上忽视因线速度的差引起的出错误判定数的差异的范围。因此，该分割区域内的出错数的大小关系可以直接视为表示该分割区域内的品质的高低关系。因此，在一个分割区域内出错数最高的部位可以视为在该分割区域内品质最低的部位。在本实施方式中，在该分割区域内将品质最低的部位确定为需要通过精密检查进行再检查的再检查部位。

第n个分割区域的出错数测定完成后(S26中为“是”)，系统控制器32判断是否对所有的分割区域完成了出错数测定，换言之判断是否n＝N(S30)。若判定的结果存在未测定的分割区域，则使参数n增加(设定为n＝n+1)(S32)，并且再度进行第n个分割区域的出错数测定(S20)。在该新的第n个分割区域中也取得假定出错数和再检查部位的地址，并保存到存储器中(S22、S24)。若对所有的分割区域进行了这样的处理，在各个分割区域中都得到了假定出错数和再检查部位的地址，则粗检查结束。

粗检查结束后，接着执行精密检查处理。在精密检查处理中，仅对在粗检查处理中确定的再检查部位附近进行CLV重放而取得出错数，根据该出错数判定盘的品质。图6是表示精密检查处理的流程的流程图。

在精密检查处理中，首先作为初始设定将参数n设定为n＝1(S40)。然后，将主轴马达的速度设定为线速度一定且低速旋转(S42)。在此设定的线速度优选为在粗检查步骤中角速度一定地进行重放时最内周侧的再检查部位的线速度以下的速度，根据盘检查装置特性进行设定。

并且，在使盘线速度一定地旋转的状态下，对第n个分割区域的再检查部位附近的数据进行重放，进行出错数的测定(S44)。在该步骤S44中测定的出错数是在低速下测定的值，成为更加正确地表示该部位的品质的值。以下，将通过该CLV重放测定的出错数称为“真正出错数”。

系统控制器32在得到真正出错数后，判定该真正出错数是否为预先规定的第一阈值以上(S46)。在此，作为第一阈值，设定不会对数据重放带来障碍的出错数，换言之，设定能够判定为盘100并非不良的出错数。该第一阈值根据盘检查装置10的特性(出错灵敏度等)预先设定。

该真正出错数为第一阈值以上时，将该盘100判定为不良品，此时中止盘检查，并且向用户提示表示盘不良的NG消息(S55)。

另一方面，当再检查部位的真正出错数小于第一阈值时，判断为该第n个分割区域具有一定以上的品质，进行接下来的分割区域的精密检查。即，如上所述，再检查部位可以视为一个分割区域中品质最低的部位。通过该再检查部位的CLV重放得到的出错数若小于第一阈值，则可以推测对该分割区域的其他部位进行CLV重放时的出错数也小于第一阈值。因此，若能确认仅对再检查部位进行CLV重放而具有一定以上的品质，则对于再检查部位以外的部位不需要进行CLV重放。因此，再检查部位的真正出错数小于第一阈值时，不对其他部位进行CLV重放，进入步骤S48。

在步骤S48中判断是否对所有的分割区域完成了精密检查，换言之是否n＝N。存在未检查的分割区域时，使参数n增加(S50)，再度对新的第n个分割区域的再检查部位进行重放，进行出错数(真正出错数)的测定(S44、S46)。

直到检测出第一阈值以上的真正出错数或对所有的分割区域完成了出错数测定为止，反复进行该流程。并且，在没有检测到第一阈值以上的出错数就完成了对所有分割区域的出错数测定时(S48中为“是”)，结束检查，并且向用户通知表示该盘100为合格品的OK消息(S54)。另一方面，在对所有分割区域完成出错数测定之前测定到第一阈值以上的真正出错数时，在该处结束检查，向用户通知该盘100为不良品的NG消息(S52)。

以上是本实施方式的盘检查的流程。根据以上的说明可知，在本实施方式中，通过能够高速检查的CAV重放来检查记录区域整体，确定品质较低的部位，并且通过能够精密检查的CLV重放对该品质较低的部位(再检查部位)进行精密检查。在此，在本实施方式中，在各个分割区域中进行(再检查部位)的确定。因此，可以抑制因线速度差引起的出错误判定数(出错灵敏度)的偏差的影响，可以切实地确定低品质的可能性高的部位。此外，在本实施方式中，关于由检查需要时间的CLV重放进行的出错数测定，仅对记录区域中的一部分(再检查部位)进行。结果可以进行较高速的盘检查。即，在本实施方式中，可以进行高速且可靠性高的盘检查。

另外，在本实施方式中，在每个分割区域中仅确定一处再检查部位，但也可以将更多处确定为再检查部位。例如，在各个分割区域中，可以将通过CAV重放测定出的出错数最高的部位和第二高的部位两处确定为再检查部位。

接下来对第二实施方式进行说明。第二实施方式的盘检查装置10的硬件构成与第一实施方式同样，因此在此省略详细说明。在第二实施方式中，精密检查处理的流程与第一实施方式稍有不同。参照图7对此进行说明。图7是表示第二实施方式的精密检查处理的流程的流程图。

在第二实施方式中，在进行盘检查时，也是在进行了粗检查处理后进行精密检查处理。在第二实施方式中，粗检查处理与第一实施方式相同。即，将记录区域分割为N个分割区域，并且进行CAV重放，按照各个分割区域存储假定出错数和再检查部位的地址(图5S14～S30)。

然后，在精密检查处理中，首先按照假定出错数从高到底的顺序对N个分割区域进行排序(S56)。即，对各分割区域进行编号，以使假定出错数最高的分割区域的排序索引为1、假定出错数最低的分割区域的排序索引为N。

然后，将参数i初始设定为i＝1(S40^*)。此外，将主轴马达的速度设定为线速度一定且低速旋转(S42)。然后，对排序索引第i个分割区域的再检查部位附近进行CLV重放，测定出错数(S44^*)。并且，作为真正出错数取得通过该CLV重放测定出的出错数，并与第一阈值进行比较(S46)。在此，当前时刻下i＝1，因此在该时刻下对排序索引为1的分割区域、即假定出错数最高的分割区域进行了出错数测定。

通过该出错数测定得到的真正出错数为第一阈值以上时，结束盘检查，并且向用户提示表示盘为不良品的NG消息(S52)。

另一方面，在真正出错数小于第一阈值时，判定是否对所有分割区域完成了出错数的测定(S48)。判定结果存在未测定的分割区域时，进入步骤S50^*，使参数i增加(设定为i＝i+1)。

对i的值再设定后，对排序索引第i个分割区域的再检查部位附近进行CLV重放，测定出错数(S44^*)。并且，将得到的真正出错数与第一阈值比较(S46)，进入与该比较结果对应的步骤。并且，直到检测出第一阈值以上的真正出错数或对所有的分割区域完成了出错数测定为止，反复进行该流程。

并且，在该过程中，若检测到第一阈值以上的真正出错数，则在该处结束盘检查，并且向用户提示表示盘不良的NG消息(S52)。另一方面，在没有检测到第一阈值以上的真正出错数就结束了排序索引第N个分割区域的出错数测定，则结束盘检查，并且向用户提示表示该盘为合格品的OK消息(S54)。

根据以上的说明可知，在本实施方式中，从排序索引低的分割区域、换言之从假定出错数高的分割区域开始依次进行出错数测定。从而可以更有效地进行盘检查。

即，可以说具有因线速度差引起的出错误判定数的差异、假定出错数高的部位，为较低品质的部位的可能性较高。这样一来，通过从为较低品质的可能性高的部位开始依次进行精密检查，在盘不良时，能够早早结束检查的可能性较高。结果可以缩短盘检查所需的时间。

另外，在本实施方式中，直到假定出错数最小的分割区域为止执行真正出错数的测定，但也可以不必对所有的分割区域进行真正出错数的测定。例如，假定出错数即使考虑到各种误差，对于被认为足够低的分割区域也可以省略真正出错数的测定。通过这样的构成，可以更高速地进行盘检查。

此外，在本实施方式中，根据通过CAV重放测定出的出错数来决定进行精密检查的顺序，但也可以不是根据通过CAV重放测定出的出错数本身，而是将该出错数乘以与半径位置对应的校正系数得到的值作为假定出错数，根据该校正后的出错数来决定精密检查的顺序。即，在CAV重放中，根据半径位置的不同，线速度不同，且根据该线速度的不同，出错误判定数不同。换言之，在CAV重放中，可以说出错误判定数根据半径位置的不同而不同。因此，为了吸收与该半径位置对应的出错误判定数的不同，也可以按照各半径位置预先设定校正系数，在精密检查时，根据通过CAV重放测定出的出错数乘以该校正系数后得到的值，决定精密检查的顺序。

接下来对第三实施方式进行说明。第三实施方式的盘检查装置10的硬件构成与第一实施方式同样，因此在此省略详细说明。在第三实施方式中，精密检查处理的流程与第一实施方式稍有不同。参照图8对此进行说明。图8是表示第三实施方式的精密检查处理的流程的流程图。

在第三实施方式中，在进行盘检查时，也是在进行了粗检查处理后进行精密检查处理。在第三实施方式中，粗检查处理与第一实施方式相同。即，将记录区域分割为N个分割区域，并且进行CAV重放，按照各个分割区域存储假定出错数和再检查部位的地址(图5S 14～S30)。

然后，在精密检查处理中，直到步骤S46为止，与第一实施方式相同。即，将参数n设定为n＝1，将主轴马达的速度设定为线速度一定且低速旋转(S40、S42)。并且，对第n个分割区域的再检查部位进行CLV重放，测定出错数(S44)。并且，在通过该出错数测定得到的真正出错数为第一阈值以上时(S46中为“是”)，结束检查，并且向用户提示表示盘为不良品的NG消息(S52)。

另一方面，在真正出错数小于第一阈值时，接着判断该真正出错数是否为第二阈值以上(S60)。该第二阈值是比第一阈值小的值，是尽管谈不上是不良品、但以后因劣化而难以进行数据重放的可能性高的出错数。该第二阈值的具体的值根据盘检查装置10的特性(出错灵敏度等)、要求的盘品质而在事先进行设定。

真正出错数为该第二阈值以上时，系统控制器32存储测定出该第二阈值以上的出错数的部位的地址(S62)，进入步骤S48。真正出错数小于第二阈值时，不进行这样的地址存储，而直接进入步骤S48。

在步骤S48中，确认是否对所有分割区域完成了出错数测定(S48)。在剩余有未测定的分割区域时，使参数n增加。并且，再度进行第n个分割区域的再检查部位的出错数测定，进行得到的真正出错数与第一阈值及第二阈值的比较(S46、S60)。

直到检测出第一阈值以上的真正出错数或对所有的分割区域完成了出错测定为止，反复进行该流程。并且，若最终没有检测到第一阈值以上的真正出错数就完成了所有分割区域的出错数测定，则进入步骤S64。在步骤S64中，系统控制器32在该精密检查中确认是否检测到第二阈值以上的真正出错数(S64)。确认结果为没有检测到第二阈值以上的真正出错数时，向用户提示表示该盘为合格品的OK消息(S54)。另一方面，在检测到哪怕是一个第二阈值以上的真正出错数时，向用户提示表示该盘是品质开始劣化的应注意的盘的注意消息(S66)。

这样一来，通过向用户提示为尽管不是不良品但已经品质劣化的盘，用户可以事先采取制作复本等用于数据保护的对应，可以防止数据损失。

另外，在本实施方式中，仅设定了作为是否为不良盘的基准的第一阈值、作为是否为注意盘的基准的第二阈值这两种阈值，但也可以设定更多的阈值。通过设置更多的阈值，用户可以从数据损失的危险性更高的盘开始依次采取应对，可以更有效地进行应对。此外，在本实施方式中，按照预先规定的顺序进行各分割区域的精密检查，但也可以与第二实施方式同样，根据假定出错数的值来决定精密检查的分割区域的顺序。

此外，在以上说明的实施方式中，在半径方向上等分割记录区域，但只要是各分割区域内的出错误判定数的偏差收敛于容许范围内，也可以不必等分割。

Claims (13)

1.一种用于检查盘的盘检查装置，其特征在于，

包括：重放机构，对记录于上述盘中的数据进行重放，并取得重放信号；出错数测定机构，测定上述重放信号中包含的出错数；和控制机构，控制上述重放机构和出错数测定机构的驱动，

上述控制机构执行以下步骤：粗检查步骤，驱动上述重放机构而使上述盘角速度一定地进行重放，并且驱动上述出错数测定机构测定出错数，并根据在分割区域内得到的出错数的大小关系，在各个分割区域中将至少包括分割区域内出错数最大的部位的、需要再检查的部位确定为再检查部位，所述分割区域是在径向上将记录区域分割成多个的区域；和精密检查步骤，驱动上述重放机构，以在上述粗检查步骤中使上述盘角速度一定地进行重放时的线速度以下的速度且线速度一定地对至少一个再检查部位附近进行重放，并且驱动上述出错数测定机构测定出错数，根据该测定出的出错数，在各个分割区域中检查上述盘，

上述分割区域为以下的范围，即，在使上述盘角速度一定地进行重放时因各分割区域的内周侧与外周侧的线速度的差而产生的出错误判定数的偏差收敛于规定的容许范围内。

2.根据权利要求1所述的盘检查装置，其特征在于，

上述分割区域是如下地进行分割而成的区域，即，在使上述盘角速度一定地进行重放时，使在各分割区域的最外周因线速度而产生的出错误判定数和在最内周因线速度而产生的出错误判定数之差在规定的容许值以下。

3.根据权利要求1所述的盘检查装置，其特征在于，

上述分割区域是如下形成的区域，即，在半径方向上对上述记录区域进行等分割，以使在上述粗检查步骤中使上述盘角速度一定地进行重放时，各分割区域的最内周的线速度和最外周的线速度之差在所有的分割区域中相等。

4.根据权利要求1～3中任一项所述的盘检查装置，其特征在于，

在上述精密检查步骤中，以在上述粗检查步骤中使上述盘角速度一定地进行重放时的最内周侧的再检查部位的线速度以下的速度且线速度一定地进行重放。

5.根据权利要求1～3中任一项所述的盘检查装置，其特征在于，

上述精密检查步骤，在直到测定到作为是否为不良盘的基准值而预先规定的第一阈值以上的出错数为止、或者直到完成了所有分割区域的出错数测定为止，依次改变检查对象的分割区域而反复进行以下步骤：

测定步骤，对一个分割区域中的再检查部位附近进行重放，并测定出错数；和

比较步骤，对包含上述第一阈值的一个以上的阈值和上述测定的出错数进行比较。

6.根据权利要求4所述的盘检查装置，其特征在于，

上述精密检查步骤，在直到测定到作为是否为不良盘的基准值而预先规定的第一阈值以上的出错数为止、或者直到完成了所有分割区域的出错数测定为止，依次改变检查对象的分割区域而反复进行以下步骤：

测定步骤，对一个分割区域中的再检查部位附近进行重放，并测定出错数；和

比较步骤，对包含上述第一阈值的一个以上的阈值和上述测定的出错数进行比较。

7.根据权利要求5所述的盘检查装置，其特征在于，

上述精密检查步骤从在粗检查步骤中在再检查部位测定到的出错数大的分割区域开始依次进行。

8.根据权利要求6所述的盘检查装置，其特征在于，

上述精密检查步骤从在粗检查步骤中在再检查部位测定到的出错数大的分割区域开始依次进行。

9.根据权利要求5所述的盘检查装置，其特征在于，

在上述比较步骤中，还进行比第一阈值小的第二阈值和上述测定的出错数间的比较，

在测定到小于上述第一阈值且为第二阈值以上的出错数时，向用户输出注意消息。

10.根据权利要求6所述的盘检查装置，其特征在于，

在上述比较步骤中，还进行比第一阈值小的第二阈值和上述测定的出错数间的比较，

在测定到小于上述第一阈值且为第二阈值以上的出错数时，向用户输出注意消息。

11.根据权利要求7所述的盘检查装置，其特征在于，

在上述比较步骤中，还进行比第一阈值小的第二阈值和上述测定的出错数间的比较，

在测定到小于上述第一阈值且为第二阈值以上的出错数时，向用户输出注意消息。

12.根据权利要求8所述的盘检查装置，其特征在于，

在上述比较步骤中，还进行比第一阈值小的第二阈值和上述测定的出错数间的比较，

在测定到小于上述第一阈值且为第二阈值以上的出错数时，向用户输出注意消息。

13.一种用于检查盘的盘检查方法，其特征在于，

包括以下步骤：粗检查步骤，使上述盘角速度一定地进行重放并测定出错数，根据在分割区域内得到的出错数的大小关系，在各个分割区域中将至少包括分割区域内出错数最大的部位的、需要再检查的部位确定为再检查部位，所述分割区域是在径向上将记录区域分割成多个的区域；和

精密检查步骤，以在上述粗检查步骤中使上述盘角速度一定地进行重放时的线速度以下的速度且线速度一定地对至少一个再检查部位附近进行重放，并测定出错数，根据该测定出的出错数，在各个分割区域中检查上述盘，

上述分割区域为以下的范围，即，在使上述盘角速度一定地进行重放时因各分割区域的内周侧与外周侧的线速度的差而产生的出错误判定数的偏差收敛于规定的容许范围内。