JP2006040341A - 光ディスク装置および光ディスクの記録速度設定方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】デビエーションによるフォーカスエラー信号の乱れを短時間で検出し、ディスクの各半径位置における最適記録速度を設定する。
【解決手段】光ディスクをその使用可能とされる最高回転速度よりも低速度で回転させ、光ディスクから反射光を光ピックアップにて検出し、光ディスク上の領域ごとにフォーカスエラー信号を検出する。フォーカスエラー信号からディスク面の凹凸を要因とするデビエーション値を検出し、デビエーション値のレベルに応じて当該領域の最適記録速度を設定する。
【選択図】図1
【解決手段】光ディスクをその使用可能とされる最高回転速度よりも低速度で回転させ、光ディスクから反射光を光ピックアップにて検出し、光ディスク上の領域ごとにフォーカスエラー信号を検出する。フォーカスエラー信号からディスク面の凹凸を要因とするデビエーション値を検出し、デビエーション値のレベルに応じて当該領域の最適記録速度を設定する。
【選択図】図1
Description
本発明は、光ディスクに信号を記録する際の、記録速度を最適に設定する光ディスク装置および記録速度設定方法に関するものである。
光ディスクの記録時間短縮に対する市場要求に応えるため、高速記録化が進められている。DVD−R等のディスクに対する高速記録は、光ディスクを複数のゾーンに分けて外周側ゾーンほど高速度とするZCLV方式を採用しているものがある。
その一方で、高速化とともに粗悪ディスクによる記録品質劣化が散見されるようになり、特に、ディスクが高速回転になるほど外乱量が増加してサーボ外れを招く現象が生じている。これは、光ディスク記録面が完全な平面でなく、局部的に微細な凹凸形状を有するためで、これに対する対応が必要となっている。以下、このような光ディスク記録面の凹凸をデビエーションと呼び、これを要因とする信号変動をデビエーション信号と呼ぶ。
サーボ信号の乱れに関連する技術として、特許文献1には、ディスク装填時のサーボ信号の乱れを検出してZCLVの記録速度制御を行う場合に、ゾーン分割時間と各ゾーンごとのCLV速度の関係を決定することが開示される。
また、特許文献2には、記録中における面振れ等によるフォーカスエラー信号の漸次劣化への対応として、記録中のフォーカスエラー信号値に基づいて光ディスクの減速処理を行うことが開示される。
デビエーションによるフォーカスエラー信号の乱れは、光ディスクを一回転する度に振動として検出され、線速度に比例してその振幅が増加する特徴を持つ。従来、ディスク装填時の面振れチェックは、フォーカスエラー信号に閾値を設けて、異常検出時のトラブル防止の為、1倍速あるいは2倍速で実施していたが、この検出方法では、高倍速で顕著になるデビエーション信号を検出できない。
また、低倍速での面振れチェック・チルト検出後に、高倍速でデビエーション検出を行うと、二度の検出動作を行うことになり、光ディスク装置が記録可能となるまでの時間(以下、スピンアップタイム)が長くなるという課題がある。
本発明は、スピンアップタイムを長くすることなくデビエーション検出を行い、ディスクの各半径位置における最適記録速度を設定することのできる光ディスク装置を提供することを目的とする。
本発明による光ディスク装置は、光ディスクをその使用可能とされる最高回転速度よりも低速度で回転させる回転手段と、光ディスクから反射光を光ピックアップにて検出し、該光ディスク上の領域ごとにフォーカスエラー信号を検出する再生手段と、フォーカスエラー信号からディスク面の凹凸を要因とするデビエーション値を検出するデビエーション検出手段と、デビエーション値に応じて当該領域の最適記録速度を設定する記録速度設定手段とを備える。
ここに記録速度設定手段は、予め記憶手段に記憶しているデビエーション値に対する記録可能速度の関係を元に最適記録速度を設定する。
さらに記憶手段には、デビエーション検出時のディスク回転速度に応じたデビエーション値の閾値と、それに対する記録可能速度の関係が記憶されており、記録速度設定手段は、検出されたデビエーション値と該閾値とを比較することにより最適記録速度を設定する。
デビエーション検出手段は、フォーカスエラー信号を時間分割してサンプリングし、時間的に前後するサンプリング値の差分を求めることによりデビエーション値を検出する。
また光ディスク上の領域をディスク半径方向に区分し、各領域の半径値を光ピックアップを駆動するモータの移動ステップ数により求める。
本発明による光ディスクの記録速度設定方法は、光ディスクをその使用可能とされる最高回転速度よりも低速度で回転させ、光ディスクから反射光を光ピックアップにて検出し、光ディスク上の領域ごとにフォーカスエラー信号を検出し、フォーカスエラー信号からディスク面の凹凸を要因とするデビエーション値を検出し、デビエーション値に応じて当該領域の最適記録速度を設定する。
本発明により、短時間でディスク面のデビエーション検出を行い、ディスクの各半径位置における最適記録速度を設定することができる。
図1は、本発明による光ディスク装置の一実施例を示すブロック図である。本実施例では、2倍速での面振れ検出、あるいは、チルト調整と並行して、ディスクのデビエーション検出を実施し、スピンアップタイムを短縮するものである。その際のデビエーション検出は、従来から行われているフォーカスエラー信号の閾値判定とは異なるデビエーション検出を行い、低倍速でのデビエーション検出を実現する記録速度を制御する構成である。
図1の装置において、ピックアップ104からレーザー光を光ディスク100に照射、集光し記録再生を行う。光ディスク100はスピンドルモータ101で回転させる。ピックアップ104は、スレッドモータ108にて半径方向に移動させる。
ディスク100からの反射光はピックアップ104の受光素子にて電気信号に変換し、アナログ信号処理回路211にて、RF信号、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号等に分離処理する。フォーカスエラー信号は、デビエーション検出部113とサーボ信号処理部106とに送られる。
デビエーション検出部113では、フォーカスエラー信号からデビエーション信号を検出し、マイクロプロセッサ107へ送る。マイクロプロセッサ107は、デビエーション信号のレベルを、予め設定された閾値と比較することにより、記録可能速度を判定してメモリ114に最適記録速度情報として格納する。なおメモリ114には、デビエーション信号のレベルと記録可能速度との関係(閾値)が記憶されている。
その一方で、マイクロプロセッサ107は、前記デビエーション信号を検出したディスク上の位置(半径位置)を、スレッドモータ108の移動ステップ数から算出し、メモリ114に前記最適記録速度情報とともに格納する。
マイクロプロセッサ107は、デビエーション検出部113から入手するデビエーション信号と、スレッドモータ208の移動ステップ数からディスクのZCLV各ゾーンの閾値を切り替えて、記録可能速度を判定して位置情報とともにメモリ114に格納する。
データ記録時は、記録しようとするトラックの半径位置毎に、メモリ114に格納された情報、すなわち、ディスク半径位置に対する最適記録速度情報を読み出す。読み出した記録速度情報に基づいて、スピンドル制御部103はスピンドルモータ101の回転速度を制御し、所定の速度にて記録を行う。ZCLV記録を行う際は、メモリ114に格納されたZCLV各ゾーン毎の情報を基に記録速度を設定する。
図6は、本発明による記録速度設定の概要を示す図である。光ピックアップをディスク内周から外周に移動させ、各半径位置でのデビエーション信号を検出する。検出したレベルが閾値を越える場合には、最高速度での記録は不可能と判断して、減速した最適な記録速度を設定するものである。
図2は、図1の光ディスク装置における、本発明による光ディスクの記録速度設定方法の一実施例を示すフローチャートである。本実施例においては、デビエーション検出から記録速度判断までの工程(ステップS202〜S208)を、ディスク判別工程(S201)とディスク外周側のチルト測定工程(S209)の間で行う。すなわち、デビエーション検出は、光ピックアップを光ディスク内周から外周に移動する際に、ディスクを例えば2倍速で回転しながら行う。
デビエーション検出開始(ステップS202)により、スレッドモータ108を所定ステップ数だけ駆動する(S203)。その位置にて、ディスクからデビエーション量を検出し、記録可能速度を判定しメモリ114に格納する(S204)。この工程の詳細は、図3にて後述する。さらにメモリ114に、ステップ数を記録する(S205)。この工程を、ディスク内周位置から外周位置まで所定間隔で繰り返す(S206)。ステップ数からディスクの半径位置を算出し(S207)、各半径位置での記録可能速度(最適記録速度)をメモリに登録する(S208)。この後、外周でのディスクチルト測定工程に移る(S209)。
本実施例により、スピンアップタイムを長くすることなくデビエーション検出を可能とするとともに、デビエーション検出情報とその発生位置情報に基づいて、ZCLV記録の各半径位置における最適記録速度制御を実現する光ディスク装置を提供する。
また本実施例は、光ディスク装填時のディスクの良否判定において、ディスク速度を実際の記録速度まで上げることなく、デビエーションを検出して記録速度の最適化設定を可能とすることを特徴とし、高速記録における記録品質を確保することができる。
図3は、図2における、デビエーションによる記録可能速度の判定の工程(S204)の内部フローチャートを示す図である。記録可能速度の判定開始(S301)により、ディスクからフォーカスエラー信号を取得し(S302)、さらにこれからデビエーション信号を分離する(S303)。次に、デビエーション信号のレベルを2つの閾値T1,T2(T1<T2)を用いて3段階に区分する(S304、S305)。なお閾値T1、T2は、予めメモリに記憶されている。デビエーション信号のレベルがT1未満であれば、記録速度を最高速度(例えば12倍速)で登録する(S306)。T1以上T2未満であれば、記録速度を中倍速(例えば8倍速)に減速して登録する(S307)。T2以上であれば、記録速度をさらに減速して低倍速(例えば6倍速)にて登録する(S308)。
図5は、図3で述べたデビエーション信号レベルに対する記録可能速度の判定結果の一例を示す図である。閾値T1,T2の種類を増やし、記録可能速度V1,V2等の種類を増やせば、さらにきめ細かな速度設定を行うこともできることは、言うまでもない。
図4は、デビエーション信号波形とその検出回路の一例を示す図である。(a)はフォーカスエラー信号と、これから分離したデビエーション信号を示す。光ディスクを螺旋状に回転しながら得られるフォーカスエラー信号には、ディスク偏心あるいは面振れ等によるゆるやかな変動成分と、ディスク上の特定の位置で発生する瞬時変動成分とが含まれる。デビエーションは光ディスクの特定の場所で発生し、一周期ごとに特有の瞬時変動を生じさせる。その振幅値はディスク回転数に比例する特徴を有する。よって、各閾値の設定では、ディスク回転速度に応じて閾値を変えて設定する。好ましくは、前記閾値はディスク回転速度と比例関係に設定する。
ここに、ディスク回転速度が高倍速になるとデビエーション成分が大きくなる理由について説明する。偏差をE、周期T(=60/回転数)とすると、ある時間tにおける変位は(1)式で定義される。
y=E*sin(2π/T*t) (1)
この速度および加速度は、これを時間tで微分して、(2)、(3)式で求められる。
y’=E*(2π/T)*cos(2π/T*t) (2)
y”=−E*(2π/T)2*sin(2π/T*t) (3)
回転数が上がると、その上昇分の二乗に比例して加速度が増加する。アクチュエータ感度により、ピックアップの追従精度には限界があるため、加速度の上昇と共にデビエーション成分は増加する。
y=E*sin(2π/T*t) (1)
この速度および加速度は、これを時間tで微分して、(2)、(3)式で求められる。
y’=E*(2π/T)*cos(2π/T*t) (2)
y”=−E*(2π/T)2*sin(2π/T*t) (3)
回転数が上がると、その上昇分の二乗に比例して加速度が増加する。アクチュエータ感度により、ピックアップの追従精度には限界があるため、加速度の上昇と共にデビエーション成分は増加する。
図4(b)は、デビエーション検出回路の例を示す。フォーカスエラー信号全体から、デビエーションによるフォーカスエラー信号の瞬時変動成分を分離検出する。フォーカスエラー信号を時間分割してサンプリングし、時間的に前後するサンプリング信号値を比較した値(差分)をデビエーション信号とする。あるいは、フォーカスエラー信号の時間微分を行い、すなわち速度換算あるいは加速度換算した信号をデビエーション信号とすることもできる。なお、フォーカスエラー信号をハイパスフィルタを通すことでフォーカスエラー信号の速度換算、加速度換算をすることができる。
100…光ディスク、101…スピンドルモータ、103…スピンドル制御部、104…光ピックアップ、106…サーボ信号処理部、107…マイクロプロセッサ、108…スレッドモータ、110…スレッドモータ制御部、111…アナログ信号処理回路、113…デビエーション検出部、114…メモリ。
Claims (8)
- 光ディスクをその使用可能とされる最高回転速度よりも低速度で回転させる回転手段と、
前記光ディスクから反射光を光ピックアップにて検出し、該光ディスク上の領域ごとにフォーカスエラー信号を検出する再生手段と、
該フォーカスエラー信号からディスク面の凹凸を要因とするデビエーション値を検出するデビエーション検出手段と、
該デビエーション値に応じて当該領域の最適記録速度を設定する記録速度設定手段と、
を備えることを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項1に記載の光ディスク装置において、
前記記録速度設定手段は、予め記憶手段に記憶しているデビエーション値に対する記録可能速度の関係を元に前記最適記録速度を設定することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項2に記載の光ディスク装置において、
前記記憶手段には、デビエーション検出時のディスク回転速度に応じたデビエーション値の閾値と、それに対する記録可能速度の関係が記憶されており、
前記記録速度設定手段は、検出されたデビエーション値と該閾値とを比較することにより前記最適記録速度を設定することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項1に記載の光ディスク装置において、
前記デビエーション検出手段は、前記フォーカスエラー信号を時間分割してサンプリングし、時間的に前後するサンプリング値の差分を求めることにより前記デビエーション値を検出することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項1に記載の光ディスク装置において、
前記光ディスク上の領域をディスク半径方向に区分し、各領域の半径値を前記光ピックアップを駆動するモータの移動ステップ数により求めることを特徴とする光ディスク装置。 - 光ディスクをその使用可能とされる最高回転速度よりも低速度で回転させ、
前記光ディスクから反射光を光ピックアップにて検出し、該光ディスク上の領域ごとにフォーカスエラー信号を検出し、
該フォーカスエラー信号からディスク面の凹凸を要因とするデビエーション値を検出し、
該デビエーション値に応じて当該領域の最適記録速度を設定することを特徴とする光ディスクの記録速度設定方法。 - 請求項6に記載の光ディスクの記録速度設定方法において、
予めデビエーション値に対する記録可能速度の関係を記憶しておき、これを用いて前記最適記録速度を設定することを特徴とする光ディスクの記録速度設定方法。 - 請求項6に記載の光ディスクの記録速度設定方法において、
前記最適記録速度の設定は、ディスク装填時の媒体判別工程と、ディスク外周におけるチルト測定工程との間に行うことを特徴とする光ディスクの記録速度設定方法。
Priority Applications (1)
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JP2004215458A JP2006040341A (ja) | 2004-07-23 | 2004-07-23 | 光ディスク装置および光ディスクの記録速度設定方法 |
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- 2004-07-23 JP JP2004215458A patent/JP2006040341A/ja active Pending
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