KR20090099796A - 리프래쉬 제어 장치 - Google Patents

리프래쉬 제어 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20090099796A
KR20090099796A KR1020080024987A KR20080024987A KR20090099796A KR 20090099796 A KR20090099796 A KR 20090099796A KR 1020080024987 A KR1020080024987 A KR 1020080024987A KR 20080024987 A KR20080024987 A KR 20080024987A KR 20090099796 A KR20090099796 A KR 20090099796A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
refresh
output
bank
response
Prior art date
Application number
KR1020080024987A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100919810B1 (ko
Inventor
양종열
Original Assignee
주식회사 하이닉스반도체
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 하이닉스반도체 filed Critical 주식회사 하이닉스반도체
Priority to KR1020080024987A priority Critical patent/KR100919810B1/ko
Priority to US12/229,362 priority patent/US7881140B2/en
Priority to JP2008301591A priority patent/JP2009224016A/ja
Publication of KR20090099796A publication Critical patent/KR20090099796A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100919810B1 publication Critical patent/KR100919810B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/406Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/402Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells with charge regeneration individual to each memory cell, i.e. internal refresh
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/403Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells with charge regeneration common to a multiplicity of memory cells, i.e. external refresh
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/406Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
    • G11C11/40618Refresh operations over multiple banks or interleaving
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/12Group selection circuits, e.g. for memory block selection, chip selection, array selection

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

본 발명은 리프래쉬 명령이 입력되면 뱅크 액티브 신호와 로우 어드레스 신호에 응답하여 모든 뱅크를 동시에 활성화하기 위한 로우 디코딩 신호를 출력하는 로우 디코더와, 상기 뱅크 액티브 신호와 리프래쉬 신호에 응답하여 뱅크별 센스앰프 인에이블 신호를 각각 일정 간격을 두고 순차적으로 지연시켜 출력하는 인에이블 신호 제어부를 포함하는 리프래쉬 제어 장치에 관한 것이다.
리프래쉬, 뱅크, 센스앰프

Description

리프래쉬 제어 장치 및 방법{REFRESH CONTROLLING APPARATUS AND METHOD THEREOF}
본 발명은 반도체 메모리에 관한 것으로, 더 상세하게는 리프래쉬 제어 장치 및 방법에 관한 것이다.
일반적으로 휘발성 반도체 메모리(DRAM)는 셀의 데이터 손실을 방지하기 위해 리프래쉬(refresh)를 해 주어야 한다.
이는 데이터를 저장하는 단위 셀의 한 구성요소인 셀 커패시터가 이상적인 특성을 지니지 못하는 관계로 저장된 전하가 일정시간이 지나면 누설전류에 의해 외부로 소멸되기 때문이다.
따라서, 저장된 데이터가 완전히 소멸되기 전에 이를 확인하여 재저장시키는 리프레쉬 동작이 필요하다.
도 1 은 종래 기술에 의한 리프래쉬 특성을 설명하기 위한 도면이다.
도 1을 참고하면, 종래 기술에 의한 리프래쉬 방법은 모든 뱅크 동시 리프래 쉬 시 피크(peak) 전류 감소를 위해 리프래쉬 동작시 뱅크별 인에이블 시점을 다르게 하여 동작시킨다.
즉, 종래 기술에 의한 리프래쉬 방법은 모든 뱅크 동시 리프래쉬 시 뱅크별 인에이블 시점을 순차적으로 지연시켜 사용함으로써 피크 전류를 분산시키는 방식이다.
도 2 는 도 1 의 리프래쉬 방식에 따른 피크 전류 특성을 설명하기 위한 도면이다. 도 2 를 참고하면, 리프래쉬 동작시 뱅크별 인에이블 시점을 달리하여 리프래쉬를 수행하므로 피크 전류를 분산시킬 수 있다.
그런데, 이러한 방식은 가장 먼저 인에이블된 뱅크를 제외한 나머지 뱅크는 데이터 리프래쉬 구간이 상대적으로 짧기 때문에 리프래쉬 구간이 짧아지는 정도에 따라 뱅크별 리프래쉬 특성 차이를 유발할 수 있다. 이러한 현상은 오토 리프래쉬 시간을 증가시키고, 노멀 리프래쉬의 경우에도 뱅크별 특성 차이에 대한 리프래쉬 열화 가능성이 존재한다.
따라서, 본 발명은 모든 뱅크 리프래쉬 동작시 피크 전류를 분산시키고, 뱅크별 리프래쉬 특정 차이를 감소시킬 수 있는 리프래쉬 제어 장치 및 방법을 제시한다.
본 발명은 리프래쉬 명령이 입력되면 뱅크 액티브 신호와 로우 어드레스 신호에 응답하여 모든 뱅크를 동시에 활성화하기 위한 로우 디코딩 신호를 출력하는 로우 디코더와, 상기 뱅크 액티브 신호와 리프래쉬 신호에 응답하여 뱅크별 센스앰프 인에이블 신호를 각각 일정 간격을 두고 순차적으로 지연시켜 출력하는 인에이블 신호 제어부를 포함한다.
그리고, 본 발명은 외부로부터 리프래쉬 명령이 입력되면 워드라인을 선택하기 위한 로우 어드레스 신호를 출력하는 내부 리프래쉬 카운터와, 상기 로우 어드레스 신호와 뱅크 액티브 신호에 응답하여 모든 뱅크를 활성화하기 위한 로우 디코딩 신호를 출력하는 로우 디코더와, 상기 뱅크 액티브 신호와 리프래쉬 신호에 응답하여 뱅크별 센스앰프 인에이블 신호를 각각 일정 간격을 두고 순차적으로 지연시켜 출력하는 인에이블 신호 제어부와, 상기 센스앰프 인에이블 신호에 응답하여 상기 모든 뱅크를 일정 간격을 두고 순차적으로 리프래쉬하기 위한 센스앰프를 포함한다.
그리고, 본 발명은 모든 뱅크 리프래쉬 커맨드가 입력되면, 뱅크 액티브 신호에 응답하여 모든 뱅크를 동시에 활성화하는 단계와; 상기 뱅크 액티브 신호와 리프래쉬 신호에 응답하여 뱅크별 센스앰프 인에이블 신호를 각각 일정 간격을 두고 순차적으로 인에이블 시키는 단계와; 상기 센스앰프 인에이블 신호에 응답하여 상기 활성화된 뱅크를 각각 일정 간격을 두고 순차적으로 리프래쉬하는 단계;를 포함한다.
이러한 본 발명은 리프래쉬 동작시 모든 뱅크를 동시에 활성화하여 워드라인 인에이블 시점은 모두 동일하게 하고, 센스앰프 인에이블 시점은 차이를 두어 전류 분산 효과를 얻을 수 있다.
또한, 본 발명은 워드라인을 동시에 인에이블 시키므로 특정 뱅크 인에이블에 따른 다른 뱅크로의 영향을 방지할 수 있다.
또한, 본 발명은 센스앰프 인에이블 시점 차이에 의해 센스앰프 동작 이전 델타 전압 차도 뱅크별로 차이가 존재하여 상대적으로 늦게 인에이블되는 뱅크의 리프래쉬 특성을 보상한다.
이하, 실시예를 통하여 본 발명을 더욱 상세히 설명하기로 한다. 이들 실시예는 단지 본 발명을 예시하기 위한 것이며, 본 발명의 권리 보호 범위가 이들 실 시예에 의해 제한되는 것은 아니다.
도 3 은 본 발명에 의한 리프래쉬 동작 특성을 설명하기 위한 도면이다.
도 3 에 도시한 바와 같이, 본 발명은 리프래쉬 동작시 모든 뱅크를 동시에 활성화하여 워드라인 인에이블 시점은 모두 동일하게 하고, 센스앰프 인에이블 시점은 차이를 두어 전류 분산 효과를 얻을 수 있다.
이러한 본 발명은 워드라인을 동시에 인에이블 시키므로 특정 뱅크 인에이블에 따른 다른 뱅크로의 영향을 방지할 수 있고, 센스앰프 인에이블 시점 차이에 의해 센스앰프 동작 이전 델타 전압 차이도 뱅크별로 차이가 존재하여 상대적으로 늦게 인에이블되는 뱅크의 리프래쉬 특성을 보상한다.
도 4 는 본 발명에 의한 리프래쉬 제어 장치의 블럭도이다.
도 4 에 도시한 바와 같이, 본 발명은 외부로부터 리프래쉬(Refresh) 명령이 입력되면 워드라인(WL)을 선택하기 위한 로우 어드레스 신호(Row Address)를 출력하는 내부 리프래쉬 카운터(50)와, 뱅크 액티브 신호(BA<0:3>)와 상기 로우 어드레스 신호(Row Address)에 응답하여 모든 뱅크(40)를 동시에 활성화하기 위한 로우 디코딩 신호를 출력하는 로우 디코더(10)를 포함하여 구성한다.
그리고, 상기 뱅크 액티브 신호(BA<0:3>)와 리프래쉬 신호(Refresh)에 응답하여 뱅크별 센스앰프 인에이블 신호(SA_en<0:3>)를 각각 일정 간격을 두고 순차적으로 지연시켜 출력하는 인에이블 신호 제어부(20)와, 상기 센스앰프 인에이블 신호(SA_en<0:3>)에 응답하여 상기 로우 디코딩 신호에 의해 활성화된 모든 뱅크(40)를 일정 간격을 두고 순차적으로 리프래쉬하기 위한 센스앰프(30)를 포함하여 구성 한다.
도 5 는 도 4 의 인에이블 신호 제어부의 회로도이다.
도 5 에 도시한 바와 같이, 상기 인에이블 신호 제어부(20)는 상기 뱅크 액티브 신호(BA<0:3>)와 리프래쉬 신호(Refresh)에 응답하여 상기 뱅크별 센스앰프 인에이블 신호(SA_en<0:3>)를 각각 제1 내지 제4지연구간만큼 지연시켜 출력하는 제1 내지 제4 인에이블 신호 생성부(21 내지 24)를 포함하여 구성한다.
여기서, 상기 제1 내지 제4지연구간은 일정 지연구간만큼 순차적으로 증가시켜 구성한다.
즉, 상기 센스앰프 인에이블 신호(SA_en<0:3>)가 상기 제1 내지 제4지연구간만큼 지연되어 순차적으로 출력되도록 구성한다. 이러한 상기 인에이블 신호 생성부(21 내지 24)의 상세 회로 구성은 다음과 같다.
도 6a와 도6d는 도 5 의 인에이블 신호 생성부의 회로도이다.
도 6a에 도시한 바와 같이, 상기 제1인에이블 신호 생성부(21)는 상기 뱅크 액티브 신호(BA<0>)를 제1지연구간만큼 지연시켜 출력하는 제1지연부(211)와, 상기 리프래쉬 신호(Refresh)의 활성화 여부에 따라 상기 뱅크 액티브 신호(BA<0>) 또는 상기 제1지연부(211)의 출력신호를 상기 제1인에이블 신호(SA_en<0>)로 출력하는 제1출력부(212)를 포함하여 구성한다.
상기 제1출력부(212)는 상기 리프래쉬 신호(Refresh)에 응답하여 상기 뱅크 액티브 신호(BA<0>)를 출력하는 제1전달 게이트(TG1)와, 상기 리프래쉬 신호(Refresh)에 응답하여 상기 제1지연부(211)의 출력신호를 출력하는 제2전달 게이 트(TG2)로 구성한다.
도 6b에 도시한 바와 같이, 상기 제2인에이블 신호 생성부(22)는 상기 뱅크 액티브 신호(BA<1>)를 제2지연구간만큼 지연시켜 출력하는 제2지연부(221)와, 상기 리프래쉬 신호(Refresh)의 활성화 여부에 따라 상기 뱅크 액티브 신호(BA<1>) 또는 상기 제2지연부(221)의 출력신호를 상기 제2인에이블 신호(SA_en<1>)로 출력하는 제2출력부(222)를 포함하여 구성한다.
상기 제2출력부(212)는 상기 리프래쉬 신호(Refresh)에 응답하여 상기 뱅크 액티브 신호(BA<1>)를 출력하는 제3전달 게이트(TG3)와, 상기 리프래쉬 신호(Refresh)에 응답하여 상기 제1지연부(221)의 출력신호를 출력하는 제2전달 게이트(TG4)로 구성한다.
도 6c에 도시한 바와 같이, 상기 제3인에이블 신호 생성부(23)는 상기 뱅크 액티브 신호(BA<2>)를 제3지연구간만큼 지연시켜 출력하는 제3지연부(231)와, 상기 리프래쉬 신호(Refresh)의 활성화 여부에 따라 상기 뱅크 액티브 신호(BA<2>) 또는 상기 제3지연부(231)의 출력신호를 상기 제3인에이블 신호(SA_en<2>)로 출력하는 제3출력부(232)를 포함하여 구성한다.
상기 제3출력부(232)는 상기 리프래쉬 신호(Refresh)에 응답하여 상기 뱅크 액티브 신호(BA<2>)를 출력하는 제5전달 게이트(TG5)와, 상기 리프래쉬 신호(Refresh)에 응답하여 상기 제3지연부(231)의 출력신호를 출력하는 제6전달 게이트(TG6)로 구성한다.
도 6d에 도시한 바와 같이, 상기 제4인에이블 신호 생성부(24)는 상기 뱅크 액티브 신호(BA<3>)를 제3지연구간만큼 지연시켜 출력하는 제4지연부(241)와, 상기 리프래쉬 신호(Refresh)의 활성화 여부에 따라 상기 뱅크 액티브 신호(BA<3>) 또는 상기 제3지연부(241)의 출력신호를 상기 제3인에이블 신호(SA_en<3>)로 출력하는 제3출력부(242)를 포함하여 구성한다.
상기 제3출력부(242)는 상기 리프래쉬 신호(Refresh)에 응답하여 상기 뱅크 액티브 신호(BA<3>)를 출력하는 제7전달 게이트(TG7)와, 상기 리프래쉬 신호(Refresh)에 응답하여 상기 제4지연부(241)의 출력신호를 출력하는 제8전달 게이트(TG8)로 구성한다.
도 7 은 도 4 의 센스앰프 회로도이다.
도 7 에 도시한 바와 같이, 센스앰프(40)는 활성화된 워드라인(WL)에 의해 차지(charge) 쉐어링(sharing)된 비트라인(BIT,/BIT)의 전압차(델타V)를 센스앰프 인에이블 신호(SA_en)에 응답하여 센싱을 시작하면서 디벨롭(develop)시켜 셀의 데이터를 리스토어(restore) 한다.
이와 같이 구성된 본 발명의 동작을 도면을 참고하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 3 과, 도 4 에 도시한 바와 같이, 본 발명은 외부로부터 리프래쉬(Refresh) 명령이 입력되면 내부 리프래쉬 카운터(50)는 워드라인(WL)을 선택하기 위한 로우 어드레스 신호(Row Address)를 출력한다.
이어서, 로우 디코더(10)는 뱅크 액티브 신호(BA<0:3>)와 상기 로우 어드레스 신호(Row Address)에 응답하여 모든 뱅크(40)를 동시에 활성화하기 위한 로우 디코딩 신호를 출력한다.
이때, 모든 뱅크(40)는 상기 로우 디코딩 신호에 해당하는 워드라인을 활성화시켜 비트라인으로 차지 쉐어링 한다.
이어서, 인에이블 신호 제어부(20)는 상기 뱅크 액티브 신호(BA<0:3>)와 리프래쉬 신호(Refresh)에 응답하여 뱅크별 센스앰프 인에이블 신호(SA_en<0:3>)를 각각 일정 간격을 두고 순차적으로 지연시켜 출력한다.
도 5 내지 도 6d에 도시한 바와 같이, 인에이블 신호 제어부(20)는 제1지연구간 경과 후 제1뱅크의 센스앰프 인에이블 신호(SA_en<0>)를 출력하고, 제2지연구간 경과 후 제2뱅크의 센스앰프 인에이블 신호(SA_en<1>)를 출력하고, 제3지연구간 경과 후 제3뱅크의 센스앰프 인에이블 신호(SA_en<2>)를 출력하고, 제4지연구간 경과 후 제4뱅크의 센스앰프 인에이블 신호(SA_en<3>)를 출력한다.
이어서, 각 뱅크별 센스앰프(30)는 활성화된 워드라인(WL)에 의해 차지(charge) 쉐어링(sharing)된 비트라인(BIT,/BIT)의 전압차(델타V)를 상기 센스앰프 인에이블 신호(SA_en)에 응답하여 센싱을 시작하면서 디벨롭(develop)시켜 셀의 데이터를 리스토어(restore) 한다.
즉, 모든 뱅크는 순차적으로 입력되는 상기 센스앰프 인에이블 신호(SA_en<0:3>)에 의해 일정 간격을 두고 순차적으로 리프래쉬 된다.
이와 같이 본 발명은 리프래쉬 동작시 모든 뱅크를 동시에 활성화하여 워드라인 인에이블 시점은 모두 동일하게 하고, 센스앰프 인에이블 시점은 차이를 두어 전류 분산 효과를 얻을 수 있다.
또한, 본 발명은 워드라인을 동시에 인에이블 시키므로 특정 뱅크 인에이블에 따른 다른 뱅크로의 영향을 방지할 수 있고, 센스앰프 인에이블 시점 차이에 의해 센스앰프 동작 이전 델타 전압 차이도 뱅크별로 차이가 존재하여 상대적으로 늦게 인에이블되는 뱅크의 리프래쉬 특성을 보상한다.
도 1 은 종래 기술에 의한 리프래쉬 특성을 설명하기 위한 도면이다.
도 2 는 도 1 의 리프래쉬 방식에 따른 피크 전류 특성을 설명하기 위한 도면이다.
도 3 은 본 발명에 의한 리프래쉬 동작 특성을 설명하기 위한 도면이다.
도 4 는 본 발명에 의한 리프래쉬 제어 장치의 블럭도이다.
도 5 는 도 4 의 인에이블 신호 제어부의 회로도이다.
도 6a와 도6d는 도 5 의 인에이블 신호 생성부의 회로도이다.
도 7 은 도 4 의 센스앰프 회로도이다.

Claims (19)

  1. 뱅크 액티브 신호와 리프래쉬 신호에 응답하여 뱅크별 센스앰프 인에이블 신호를 각각 일정 간격을 두고 순차적으로 지연시켜 출력하는 인에이블 신호 제어부;를 포함하는 리프래쉬 제어 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 센스앰프 인에이블 신호에 응답하여 활성화된 모든 뱅크를 일정 간격을 두고 순차적으로 리프래쉬하기 위한 센스앰프;를 더 포함하는 리프래쉬 제어 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 인에이블 신호 제어부는
    상기 뱅크 액티브 신호와 리프래쉬 신호에 응답하여 상기 뱅크별 센스앰프 인에이블 신호를 각각 제1 내지 제4지연구간만큼 지연시켜 출력하는 제1 내지 제4 인에이블 신호 생성부;
    를 포함하는 리프래쉬 제어 장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 제1 내지 제4 인에이블 신호 생성부는
    상기 뱅크 액티브 신호를 각각 제1 내지 제4지연구간만큼 지연시켜 출력하는 지연부와;
    상기 리프래쉬 신호 활성화 시, 상기 지연부의 출력신호를 각각 제1 내지 제4 센스앰프 인에이블 신호로 출력하는 출력부;
    를 포함하는 리프래쉬 제어 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 제1 내지 제4지연구간은 일정 지연구간만큼 순차적으로 증가시켜 구성한 리프래쉬 제어 장치.
  6. 외부로부터 리프래쉬 명령이 입력되면 워드라인을 선택하기 위한 로우 어드레스 신호를 출력하는 내부 리프래쉬 카운터와;
    상기 로우 어드레스 신호와 뱅크 액티브 신호에 응답하여 모든 뱅크를 활성화하기 위한 로우 디코딩 신호를 출력하는 로우 디코더와;
    상기 뱅크 액티브 신호와 리프래쉬 신호에 응답하여 뱅크별 센스앰프 인에이블 신호를 각각 일정 간격을 두고 순차적으로 지연시켜 출력하는 인에이블 신호 제 어부와;
    상기 센스앰프 인에이블 신호에 응답하여 상기 모든 뱅크를 일정 간격을 두고 순차적으로 리프래쉬하기 위한 센스앰프;
    를 포함하는 리프래쉬 제어 장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 인에이블 신호 제어부는
    상기 뱅크 액티브 신호와 리프래쉬 신호에 응답하여 상기 뱅크별 센스앰프 인에이블 신호를 각각 제1 내지 제4지연구간만큼 지연시켜 출력하는 제1 내지 제4 인에이블 신호 생성부;
    를 포함하는 리프래쉬 제어 장치.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 제1인에이블 신호 생성부는
    상기 뱅크 액티브 신호를 상기 제1지연구간만큼 지연시켜 출력하는 제1지연부와;
    상기 리프래쉬 신호의 활성화 여부에 따라 상기 뱅크 액티브 신호 또는 상기 제1지연부의 출력신호를 상기 제1인에이블 신호로 출력하는 제1출력부;
    를 포함하는 리프래쉬 제어 장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 제1출력부는 상기 리프래쉬 신호에 응답하여 상기 뱅크 액티브 신호를 출력하는 제1전달 게이트와;
    상기 리프래쉬 신호에 응답하여 상기 제1지연부의 출력신호를 출력하는 제2전달 게이트;
    를 포함하는 리프래쉬 제어 장치.
  10. 제 7 항에 있어서,
    상기 제2인에이블 신호 생성부는
    상기 뱅크 액티브 신호를 상기 제2지연구간만큼 지연시켜 출력하는 제2지연부와;
    상기 리프래쉬 신호의 활성화 여부에 따라 상기 뱅크 액티브 신호 또는 상기 제2지연부의 출력신호를 상기 제2인에이블 신호로 출력하는 제2출력부;
    를 포함하는 리프래쉬 제어 장치.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 제2출력부는 상기 리프래쉬 신호에 응답하여 상기 뱅크 액티브 신호를 출력하는 제3전달 게이트와;
    상기 리프래쉬 신호에 응답하여 상기 제2지연부의 출력신호를 출력하는 제4전달 게이트;
    를 포함하는 리프래쉬 제어 장치.
  12. 제 7 항에 있어서,
    상기 제3인에이블 신호 생성부는
    상기 뱅크 액티브 신호를 상기 제3지연구간만큼 지연시켜 출력하는 제3지연부와;
    상기 리프래쉬 신호의 활성화 여부에 따라 상기 뱅크 액티브 신호 또는 상기 제3지연부의 출력신호를 상기 제3인에이블 신호로 출력하는 제3출력부;
    를 포함하는 리프래쉬 제어 장치.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 제3출력부는 상기 리프래쉬 신호에 응답하여 상기 뱅크 액티브 신호를 출력하는 제5전달 게이트와;
    상기 리프래쉬 신호에 응답하여 상기 제3지연부의 출력신호를 출력하는 제6전달 게이트;
    를 포함하는 리프래쉬 제어 장치.
  14. 제 7 항에 있어서,
    상기 제4인에이블 신호 생성부는
    상기 뱅크 액티브 신호를 상기 제4지연구간만큼 지연시켜 출력하는 제4지연부와;
    상기 리프래쉬 신호의 활성화 여부에 따라 상기 뱅크 액티브 신호 또는 상기 제4지연부의 출력신호를 상기 제4인에이블 신호로 출력하는 제4출력부;
    를 포함하는 리프래쉬 제어 장치.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 제4출력부는 상기 리프래쉬 신호에 응답하여 상기 뱅크 액티브 신호를 출력하는 제7전달 게이트와;
    상기 리프래쉬 신호에 응답하여 상기 제4지연부의 출력신호를 출력하는 제8전달 게이트;
    를 포함하는 리프래쉬 제어 장치.
  16. 제 7 항에 있어서,
    상기 제1 내지 제4지연구간은 일정 지연구간만큼 순차적으로 증가시켜 구성한 리프래쉬 제어 장치.
  17. 모든 뱅크 리프래쉬 커맨드가 입력되면,
    뱅크 액티브 신호에 응답하여 모든 뱅크를 동시에 활성화하는 단계와;
    상기 뱅크 액티브 신호와 리프래쉬 신호에 응답하여 뱅크별 센스앰프 인에이블 신호를 각각 일정 간격을 두고 순차적으로 인에이블 시키는 단계와;
    상기 센스앰프 인에이블 신호에 응답하여 상기 활성화된 뱅크를 각각 일정 간격을 두고 순차적으로 리프래쉬하는 단계;
    를 포함하는 리프래쉬 제어 방법.
  18. 제 17 항에 있어서,
    상기 모든 뱅크가 활성화되면, 각각의 뱅크는 입력되는 로우 어드레스에 대응하는 워드라인을 활성화하여 차지 쉐어링을 수행하는 리프래쉬 제어 방법.
  19. 제 18 항에 있어서,
    상기 특정 뱅크의 센스앰프가 인에이블되면 해당 뱅크는 상기 센스앰프를 이용하여 리프래쉬를 수행하고, 센스앰프가 인에이블되지 않은 나머지 뱅크는 차지 쉐어링을 계속해서 수행하는 리프래쉬 제어 방법.
KR1020080024987A 2008-03-18 2008-03-18 리프래쉬 제어 장치 KR100919810B1 (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080024987A KR100919810B1 (ko) 2008-03-18 2008-03-18 리프래쉬 제어 장치
US12/229,362 US7881140B2 (en) 2008-03-18 2008-08-22 Apparatus and method for controlling refresh with current dispersion effect in semiconductor device
JP2008301591A JP2009224016A (ja) 2008-03-18 2008-11-26 リフレッシュ制御装置及び方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080024987A KR100919810B1 (ko) 2008-03-18 2008-03-18 리프래쉬 제어 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20090099796A true KR20090099796A (ko) 2009-09-23
KR100919810B1 KR100919810B1 (ko) 2009-10-01

Family

ID=41088779

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020080024987A KR100919810B1 (ko) 2008-03-18 2008-03-18 리프래쉬 제어 장치

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7881140B2 (ko)
JP (1) JP2009224016A (ko)
KR (1) KR100919810B1 (ko)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101043731B1 (ko) * 2008-12-30 2011-06-24 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치
KR20130117424A (ko) 2012-04-17 2013-10-28 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치의 리프레쉬 회로
KR101932663B1 (ko) 2012-07-12 2018-12-26 삼성전자 주식회사 리프레쉬 주기 정보를 저장하는 반도체 메모리 장치 및 그 동작방법
KR20170025896A (ko) * 2015-08-31 2017-03-08 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 장치 및 이를 포함하는 반도체 시스템
CN110390976B (zh) * 2018-04-19 2021-06-08 华邦电子股份有限公司 存储器装置及其数据更新方法
US11069394B2 (en) * 2019-09-06 2021-07-20 Micron Technology, Inc. Refresh operation in multi-die memory

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3220586B2 (ja) * 1993-12-28 2001-10-22 富士通株式会社 半導体記憶装置
KR100269618B1 (ko) * 1998-05-08 2000-10-16 김영환 셀프-리프레쉬 제어 회로
JP2000030439A (ja) * 1998-07-13 2000-01-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
KR20000067558A (ko) * 1999-04-29 2000-11-25 김영환 오토 리프레쉬회로
JP4798843B2 (ja) * 2000-09-01 2011-10-19 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
JP4767401B2 (ja) * 2000-10-30 2011-09-07 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体記憶装置及びその製造方法
KR20030078352A (ko) * 2002-03-29 2003-10-08 주식회사 하이닉스반도체 테스트시에 최대전류 소모량을 제어하기 위한 메모리 장치
KR100479821B1 (ko) * 2002-05-17 2005-03-30 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 리프레쉬 제어회로 및 리프레쉬 제어방법
JP2004253038A (ja) * 2003-02-19 2004-09-09 Renesas Technology Corp 半導体記憶装置
KR100543914B1 (ko) * 2003-04-30 2006-01-23 주식회사 하이닉스반도체 리프레쉬 동작시 피크 전류를 줄일 수 있는 반도체 메모리장치
KR100550634B1 (ko) * 2003-10-31 2006-02-10 주식회사 하이닉스반도체 셀프리프레쉬 주기 발생 장치
KR100618858B1 (ko) * 2004-08-31 2006-08-31 삼성전자주식회사 리프레쉬 수행 시 리프레쉬 할 뱅크의 개수를 가변할 수있는 반도체 메모리 장치 및 그 리프레쉬 방법
US7313047B2 (en) * 2006-02-23 2007-12-25 Hynix Semiconductor Inc. Dynamic semiconductor memory with improved refresh mechanism

Also Published As

Publication number Publication date
KR100919810B1 (ko) 2009-10-01
US7881140B2 (en) 2011-02-01
US20090238015A1 (en) 2009-09-24
JP2009224016A (ja) 2009-10-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8284615B2 (en) Refresh control circuit and method for semiconductor memory device
KR101596283B1 (ko) 개선된 로컬 입출력라인 프리차아지 스킴을 갖는 반도체 메모리 장치
KR100757926B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 센스 앰프 제어 회로 및 방법
KR100919810B1 (ko) 리프래쉬 제어 장치
US8284614B2 (en) Refresh control circuit and method for semiconductor memory device
JP5710947B2 (ja) 半導体装置およびその制御方法
US7656720B2 (en) Power-off apparatus, systems, and methods
JP2012033228A (ja) 半導体装置および半導体装置の制御方法
US20130003482A1 (en) Self-refresh control circuit and memory including the same
KR20170113206A (ko) 메모리 디바이스
KR20120081352A (ko) 리프레시 제어 회로, 이를 이용한 메모리 장치 및 그 리프레시 제어 방법
US20150228329A1 (en) Semiconductor devices and semiconductor systems including the same
KR100894252B1 (ko) 반도체 메모리 장치 및 그의 동작 제어방법
US6914841B1 (en) System and method for refreshing a dynamic memory device
US20110249523A1 (en) Semiconductor memory device with a sense amplifier controller for maintaining the connection of a previously selected memory cell array
US6847566B1 (en) Method and circuit configuration for multiple charge recycling during refresh operations in a DRAM device
US8675437B2 (en) Semiconductor memory device
KR20080001974A (ko) 반도체 메모리 장치
KR20140116650A (ko) 동적 랜덤 액세스 메모리 시스템 및 그것의 동작 방법
US20020071327A1 (en) Memory device with reduced refresh noise
KR100757936B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 비트 라인 제어 회로
US20080080273A1 (en) Over-drive control signal generator for use in semiconductor memory device
KR100620643B1 (ko) 리프레쉬를 수행하는 반도체 메모리 장치 및 그 방법
KR100761403B1 (ko) 메모리장치의 비트라인 이퀄라이징 회로 및 비트라인이퀄라이징 방법.
KR20160041329A (ko) 반도체 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120824

Year of fee payment: 4

LAPS Lapse due to unpaid annual fee