KR20080112877A - Zn 산화물계 박막 트랜지스터 및 Zn 산화물의 식각용액 - Google Patents
Zn 산화물계 박막 트랜지스터 및 Zn 산화물의 식각용액 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20080112877A KR20080112877A KR1020070061875A KR20070061875A KR20080112877A KR 20080112877 A KR20080112877 A KR 20080112877A KR 1020070061875 A KR1020070061875 A KR 1020070061875A KR 20070061875 A KR20070061875 A KR 20070061875A KR 20080112877 A KR20080112877 A KR 20080112877A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- oxide
- channel
- thin film
- film transistor
- gate
- Prior art date
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 61
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 48
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 26
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims abstract description 4
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 33
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 28
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 26
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims description 26
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 24
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 16
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 14
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 10
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 claims description 10
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 8
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 claims description 7
- 238000007373 indentation Methods 0.000 claims description 4
- 229910005265 GaInZnO Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 2
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- QPJSUIGXIBEQAC-UHFFFAOYSA-N n-(2,4-dichloro-5-propan-2-yloxyphenyl)acetamide Chemical compound CC(C)OC1=CC(NC(C)=O)=C(Cl)C=C1Cl QPJSUIGXIBEQAC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 241000723353 Chrysanthemum Species 0.000 description 1
- 235000005633 Chrysanthemum balsamita Nutrition 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 125000000896 monocarboxylic acid group Chemical group 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/772—Field effect transistors
- H01L29/78—Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/786—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
- H01L29/7869—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film having a semiconductor body comprising an oxide semiconductor material, e.g. zinc oxide, copper aluminium oxide, cadmium stannate
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09K—MATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- C09K13/00—Etching, surface-brightening or pickling compositions
- C09K13/04—Etching, surface-brightening or pickling compositions containing an inorganic acid
- C09K13/06—Etching, surface-brightening or pickling compositions containing an inorganic acid with organic material
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/34—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies not provided for in groups H01L21/0405, H01L21/0445, H01L21/06, H01L21/16 and H01L21/18 with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/46—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/428
- H01L21/461—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/428 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/465—Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching
- H01L21/467—Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching using masks
Abstract
본 발명은 Zn 산화물계 박막 트랜지스터 및 Zn 산화물의 식각 용액에 관한 것이다. 게이트, 상기 게이트에 대응되는 위치에 Zn 산화물로 형성된 채널, 상기 게이트 및 채널 사이에 형성된 게이트 절연체 및 상기 채널의 양측부와 각각 접촉하며 형성된 소스 및 드레인을 포함하는 박막 트랜지스터에 있어서, 상기 소스 및 드레인 사이의 채널에 형성된 함입부를 포함하는 Zn 산화물계 박막 트랜지스터 및 상기 함입부 형성용 Zn 산화물 식각 용액을 제공한다.
Description
도 1은 종래 기술에 의한 박막 트랜지스터를 나타낸 단면도이다.
도 2a는 종래 기술에 의한 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인 형성 시 플라즈마 공정에 의한 경우 액티브 영역에 데미지가 생길 때 게이트 전압에 대한 드레인 전류 값을 나타낸 그래프이다.
도 2b는 종래 기술에 의한 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인 형성 시 습식 에칭 공정에 의한 경우 액티브 영역에 데미지가 생길 때 게이트 전압에 대한 드레인 전류 값을 나타낸 그래프이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 의한 Zn 산화물계 박막 트랜지스터의 구조를 나타낸 도면이다.
도 4a 내지 도 4e는 본 발명의 실시예에 의한 Zn 산화물계 박막 트랜지스터의 제조 방법을 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 의한 Zn 산화물계 박막 트랜지스터의 게이트 전압에 대한 드레인 전류 값을 나타낸 그래프이다.
도 6a 및 도 6b는 본 발명의 실시예에 의한 Zn 산화물의 식각 용액에 의한 습식 식각 전후의 ZnO 표면을 나타낸 이미지이다.
도 7는 본 발명의 실시예에 의한 Zn 산화물의 식각 용액으로 박막 트랜지스터를 식각한 경우의 습도 테스트 결과를 나타낸 도면이다.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >
10, 31... 기판 11... 절연층
12, 32... 게이트 13, 33... 게이트 절연층
14, 34... 채널 15a, 35a... 소스
15b, 35b... 드레인 16... 데미지 영역
본 발명은 Zn 산화물계 박막 트랜지스터 및 Zn 산화물의 식각 용액에 관한 것으로, 보다 상세하게는 Zn 산화물계 박막 트랜지스터 형성 시, 채널 영역에 존재하는 데미지 영역을 제거한 박막 트랜지스터 및 Zn 산화물계 식각 용액에 관한 것이다.
현재 박막 트랜지스터(Thin film transistor)는 다양한 응용 분야에 이용되고 있으며 특히, 디스플레이 분야에서 스위칭 및 구동 소자로 이용되고 있다. 또한 크로스 포인트형 메모리 소자의 선택 스위치로 사용되고 있다. 박막 트랜지스터의 이동도(mobility) 또는 누설전류 등은 채널층의 재질 및 상태에 크게 좌우된다.
현재 산화물 반도체 소자로 최근 각광을 받는 것으로 ZnO계 박막 트랜지스터이다. ZnO 계열 물질로 Zn 산화물, InZn 산화물 또는 GaInZn 산화물 등을 박막 트 랜지스터의 채널 영역에 사용한 것으로, ZnO계 반도체 소자는 저온 공정으로 제작이 가능하고 비정질 상이기 때문에 대면적화가 용이한 장점을 가진다.
도 1은 종래 기술에 의한 박막 트랜지스터를 나타내 도면이다. 도 1을 참조하면, 표면에 절연층(11)이 형성된 기판(10) 상의 일 영역에 게이트(12)가 형성되어 있다. 기판(10) 및 게이트(12) 상에는 절연층(13)이 형성되어 있으며, 게이트(12)에 대응되는 절연층(13) 상에는 Zn 산화물계 물질로 형성된 채널(14)이 형성되어 있다. 게이트의 양측부에는 소스(15a) 및 드레인(15b)이 형성되어 있다.
종래 기술에 의한 박막 트랜지스터 제조 시, 채널(14) 및 절연층(13) 상에 전극 물질을 적층 후, 건식 또는 습식 식각 공정에 의해 소스(15a) 및 드레인(15b)을 형성하였다. 이때, 식각 공정에 의하여 채널(14)에 데미지 영역(16)이 형성될 우려가 있다. 이를 보다 상세히 설명하면, 건식 식각 공정은 통상 플라즈마 식각 공정을 이용하는데 식각 공정 중 Zn 산화물계 물질로 형성된 채널(14)이 플라즈마 데이지를 받게되며, 습식 식각 공정을 이용하는 경우 전극 물질이 채널(14)의 표면 또는 측면에 잔류하게 되어 박막 트랜지스터의 전기적 특성을 열화시키는 문제점이 있다.
도 2a는 종래 기술에 의한 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인 형성 시 플라즈마 공정에 의한 경우 액티브 영역에 데미지가 생길 때 게이트 전압에 대한 드레인 전류 값을 나타낸 그래프이다. 도 2a를 참조하면, 플라즈마에 의한 식각 공정을 거친 경우, 게이트 전압을 인가한 경우 박막 트랜지스터의 특성이 나타나지 않고, 거의 일직선 형태로 10-6 A의 off 전류를 나타내며, 10-4 A의 on 전류 값을 나타내는 것을 알 수 있다.
도 2b는 종래 기술에 의한 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인 형성 시 습식 에칭 공정에 의한 경우 액티브 영역에 데미지가 생길 때 게이트 전압에 대한 드레인 전류 값을 나타낸 그래프이다. 도 2b를 참조하면, 약 10-13 A의 off 전류와 10-3A의 on 전류 값을 나타내고 있으나, 그래프가 이단 곡선 형태로 나타나는 것을 알 수 있다. 이는 소스(15a) 또는 드레인(15b) 형성 물질이 식각 공정을 거친 후, 채널(14) 표면에 잔류하여 박막 트랜지스터의 전기적 특성에 악영향을 미치기 때문이다.
본 발명에서는 상술한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 데미지 영역이 존재하지 않고, 안정된 전기적 특성을 지닌 Zn 산화물계 박막 트랜지스터를 제공하는 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는 Zn 산화물계 물질의 식각 공정을 용이하게 제어할 수 있는 Zn 산화물의 식각 용액을 제공하는 것이다.
본 발명에서는 상기 목적을 달성하기 위하여, 게이트, 상기 게이트에 대응되는 위치에 Zn 산화물로 형성된 채널, 상기 게이트 및 채널 사이에 형성된 게이트 절연체 및 상기 채널의 양측부와 각각 접촉하며 형성된 소스 및 드레인을 포함하는 박막 트랜지스터에 있어서,
상기 소스 및 드레인 사이의 채널에 형성된 함입부;를 포함하는 Zn 산화물계 박막 트랜지스터를 제공한다.
본 발명에 있어서, 상기 함입부는 상기 소스 및 상기 드레인과 접촉하는 채널 영역과 단차되게 형성된 것을 특징으로 한다.
본 발명에 있어서, 상기 Zn 산화물은 ZnO, InZnO 또는 GaInZnO 인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에서는 박막 트랜지스터의 제조 방법에 있어서,
(가) 기판 상에 게이트를 형성하고, 상기 기판 및 상기 게이트 상에 게이트 절연층을 형성하는 단계;
(나) 상기 게이트에 대응되는 상기 게이트 절연층 상에 Zn 산화물계 물질로 채널을 형성하는 단계;
(다) 상기 게이트 절연층 및 상기 채널 상에 전도성 물질을 도포하고, 상기 채널 상의 전도성 물질을 식각하여 소스 및 드레인을 형성하는 단계; 및
(라) 상기 소스 및 드레인 사이에 노출된 상기 채널 표면을 일부 식각하여 함입부를 형성하는 단계;를 포함하는 Zn 산화물계 박막 트랜지스터의 제조 방법을 제공한다.
본 발명에 있어서, 상기 (라) 단계는, 상기 채널은 염산, 불산 또는 인산 중 적어도 어느 하나와 아세트산의 수용액으로 형성된 Zn 산화물 식각 용액으로 습식 식각하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에서는 염산, 불산 또는 인산 중 적어도 어느 하나와 아세트산의 수용액으로 형성된 Zn 산화물의 식각 용액을 제공한다.
본 발명에 있어서, 상기 Zn 산화물 식각 용액은 염산, 불산 또는 인산 중 적어도 어느 하나가 0.1 ~ 1 vol%로 포함된 것을 특징으로 한다.
본 발명에 있어서, 상기 Zn 산화물 식각 용액은 아세트산이 5 ~ 50 vol%로 포함된 것을 특징으로 한다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 의한 Zn 산화물계 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법에 대해 상세히 설명하고자 한다. 도면에 도시된 각 층의 두께 및 폭은 설명을 위하여 다소 과장되게 표현되었음을 명심하여야 한다.
도 3은 본 발명의 실시예에 의한 Zn 산화물계 박막 트랜지스터의 구조를 나타낸 단면도이다. 도 3에서는 바텀 게이트(bottom gate)형 박막 트랜지스터를 나타내었으나, 본 발명의 실시예에 의한 박막 트랜지스터는 탑 게이트(top gate)형 및 바텀 게이트형 박막 트랜지스터에 모두 적용될 수 있다.
도 3을 참조하면, 본 발명의 실시예에 의한 Zn 산화물계 박막 트랜지스터는 기판(31)의 일영역 상에 형성된 게이트(32), 기판(31) 및 게이트(31) 상에 형성된 게이트 절연층(33), 게이트(32)에 대응되는 게이트 절연층(33) 상에 형성된 채널(34) 및 채널(34)의 양단부와 접촉하며 게이트 절연층(33) 상에 형성된 소스(35a) 및 드레인(35b)을 포함한다. 본 발명의 실시예에 의한 Zn 산화물계 박막 트랜지스터에서는 소스(35a) 및 드레인(35b) 사이의 채널(34)에 함입부(recession : R)가 형성된 것을 특징으로 한다. 상세히 살펴보면, 함입부(R)는 소 스(35a) 및 드레인(35b)과 접촉하지 않은 채널(34) 표면이 식각되어 제거된 영역이다. 따라서, 함입부(R)는 소스(35a) 및 드레인(35b)과 접촉하는 채널(34) 영역과 단차되게(stepped) 형성된 것을 알 수 있다. 함입부(R) 함입부(R)는 도 1에 나타낸 종래 기술에 의한 박막 트랜지스터의 채널(14)에 형성된 데미지 영역(16)이 제거됨으로써, 박막 트랜지스터의 전기적 특성의 안정화를 도모하고자 형성된 것이다.
도 4a 내지 도 4e를 참조하여, 본 발명의 실시예에 의한 박막 트랜지스터의 제조 방법에 대해 상세히 설명하고자 한다.
도 4a를 참조하면, 기판(31) 상의 일 영역에 전도성 물질을 도포 및 식각하여 게이트(32)를 형성한다. 기판(31)은 실리콘, Glass, 플라스틱 또는 유기물질을 사용할 수 있으며, 실리콘을 사용하는 경우, 기판(31) 표면에 열산화 처리를 하여 실리콘 산화층을 형성시켜 사용한다. 게이트(32)는 전도성 물질인 금속 또는 금속 산화물 등을 이용하여 형성할 수 있다.
도 4b를 참조하면, 기판(31) 및 게이트(32) 상에 절연 물질을 도포하여 게이트 절연층(14)을 형성시킨다. 게이트 절연층(14)은 일반적인 반도체 공정 시 사용하는 절연 물질을 이용할 수 있다. 예를 들어, SiO2 또는 SiO2보다 유전율이 높은 High-K 물질인 HfO2, Al2O3, Si3N4 또는 이들의 혼합물을 사용할 수 있다.
도 4c를 참조하면, 게이트(32)에 대응되는 게이트 절연층(33) 상에 채널(34)을 형성한다. 채널은 통상적인 박막 트랜지스터의 채널에 사용하는 물질로 형성할 수 있으며, 예를 들어 Zn 산화물 계열인 Zn 산화물, InZn 산화물 또는 GaInZn 산화 물로 형성할 수 있다.
도 4d를 참조하면, 게이트 절연층(33) 및 채널(34) 상에 전도성 물질을 도포하고 채널(34) 상부의 전도성 물질을 식각하여 소스(35a) 및 드레인(35b)을 형성한다. 소스(35a) 및 드레인(35b)은 금속 또는 전도성 금속 산화물로 형성할 수 있으며, 예를 들어 Pt, Ru, Au, Ag, Mo, Al, W 또는 Cu와 같은 금속 또는 IZO(InZnO) 또는 AZO(AlZnO)와 같은 금속 또는 전도성 산화물을 사용할 수 있다.
도 4e를 참조하면, 채널(34)의 표면을 식각하여 함입부(R)을 형성한다. 함입부(R)는 채널(34)의 표면 중 소스(35a) 및 드레인(35b)과 접촉하지 않는 영역을 식각하여 형성한 것이다.
함입부(R) 형성하기 위해서, 채널(34)을 형성하는 Zn 산화물계 물질을 식각해야 한다. 통상적으로 Zn 산화물계 물질을 식각하는 경우, 염산(HCl), 불산(HF) 또는 인산(P2O5)의 수용액 등에 의해 식각 공정을 진행한다. 염산(HCl), 불산(HF) 또는 인산(P2O5)의 수용액으로 Zn 산화물 계열 물질을 식각하는 경우, 산의 농도를 제어하여 Zn 산화물 계열 물질의 식각 속도를 조절할 수 있다. 그러나, 식각 속도가 통상 20nm/min 이상으로 매우 빨라 박막의 두께 조절이 어려우므로 정밀한 식각 공정에 한계가 있다. Zn 산화물계 물질의 식각 속도를 용이하게 조절하기 위하여, 본 발명에서는 아세트산이 첨가된 식각 용액을 제공한다.
본 발명의 실시예에 의한 Zn 산화물의 식각 용액은 염산, 불산 또는 인산 중 적어도 어느 하나와 아세트산(CH3COOH)을 혼합한 수용액이다. 이 때, 염산, 불산 또 는 인산은 0.1 ~ 1 vol%이며, 아세트산은 5 ~ 50 vol% 범위인 것이 바람직하다. 구체적인 식각 용액의 제조 방법을 예를 들어 설명하면, 먼저, 염산, 불산 또는 인산 1ml에 DI water 99ml와 혼합하여 묽은 산을 제조한다. 그리고, 아세트산 10ml를 첨가한 후 교반한다. 본 발명의 실시예에 의한 Zn 산화물의 식각 용액으로 Zn 산화물을 식각하는 경우, 식각 속도는 1 내지 8nm/min이므로 Zn 산화물을 정밀한 두께 범위로 식각하는 것이 가능하다. 따라서, Zn 산화물로 형성된 채널(34)을 본 발명의 실시예에 의한 Zn 산화물 식각 용액으로 식각함으로써 함입부(R)를 용이하게 형성할 수 있다.
도 5는 본 발명의 실시예에 의한 박막 트랜지스터의 게이트 전압에 대한 드레인 전류 값을 나타낸 그래프이다. 여기서 사용된 시편은 Si 기판 표면에 100nm 두께의 SiO2가 형성되며, 게이트는 200nm 두께의 Mo, 게이트 절연층은 200nm 두께의 Si3N4, 채널은 함입부를 포함하여 70nm 두께의 GaInZn 산화로 형성된 것이며, 소스 및 드레인은 Ti/Pt로 형성된 것이다.
도 5를 참조하면, 오프 전류가 10-12A 이하이며, On 전류가 약 10-4 A이다. On/Off 전류 비는 108 이상이므로 높은 On/Off 전류 비 및 낮은 Off 전류 특성을 나타내어 박막 트랜지스터로서의 특성이 우수함을 알 수 있다.
도 6a 및 도 6b는 본 발명의 실시예에 의한 Zn 산화물 식각 용액으로 ZnO 표면 습식 식각하기 전후의 AFM(atomic force microscope)이미지이다. 도 6a는 습식 식각 전의 ZnO의 표면을 나타낸 것으로 표면 거칠기가 약 0.286nm(rms)이었다. 도 6b는 습식 식각 후의 ZnO 표면을 나타낸 것으로, 표면 거칠기가 약 0.829nm(rms)이므로 박막 트랜지스터로 사용하는데 문제가 없는 것을 확인할 수 있다.
도 7는 본 발명의 실시예에 의한 Zn 산화물의 식각 용액으로 박막 트랜지스터를 식각한 경우의 습도 테스트 결과를 나타낸 도면이다. A는 박막 트랜지스터 시편을 형성 직후의 특성을 나타낸 그래프이다. B는 박막 트랜지스터 시편을 약 95% 습도 조건에서 14시간을 방치한 후의 특성을 나타낸 그래프이다. C는 습도 조건에 방치한 박막 트랜지스터 시편의 Zn 산화물 채널을 본 발명의 실시에에 의한 Zn 산화물 식각 용액에 의해 습식 식각한 후의 전기적 특성을 나타낸 그래프이다.
도 7을 참조하면, Zn 산화물은 습도에 민감하므로 95%의 습도 조건에서 14시간 방치한 후에는 Vth가 (-) 전압 방향으로 이동하는 것을 알 수 있다(A->B). 이는 박막 트랜지스터의 채널 표면에 OH-기가 매우 얇게 흡착되어 나타나는 현상이다. 그러나, 본 발명의 실시예에 의한 Zn 산화물 식각 용액으로 박막 트랜지스터의 채널 표면을 에칭한 경우, 초기 특성으로 회복하는 것을 확인할 수 있다.(B->C) 결과적으로, 본 발명의 실시예에 의한 Zn 산화물 식각 용액의 경우 Zn 산화물의 식각 속도를 매우 느리게 조절할 수 있으므로 박막 트랜지스터 채널에 데미지를 입히지 않고 OH- 흡착층을 용이하게 제거할 수 있음을 알 수 있다.
상기와 같은 실시예를 통해서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 기술적 사상에 의해 함입부가 형성된 박막 트랜지스터를 형성할 수 있다. 본 발명의 실시예에 의한 산화물 박막 트랜지스터는 바텀 게이트 형 또는 탑 게이트형으로 사용될 수 있다. 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 의하여 정하여 질 것이 아니고 특허 청구범위에 기재된 기술적 사상에 의해 정하여져야 한다.
본 발명에 따르면, 다음과 같은 효과가 있다.
첫째, 채널 표면을 일부 제거하여 함입부를 형성함으로써, 종래 소스 및 드레인 형성 공정 시, 채널에 형성되는 데미지 영역을 제거하여 우수한 전기적 특성을 지닌 박막 트랜지스터를 제공할 수 있다.
둘째, 박막 트랜지스터의 채널에 사용되는 Zn 산화물계 물질의 식각 속도를 용이하게 제어할 수 있는 새로운 식각 용액을 제공할 수 있다.
Claims (11)
- 게이트, 상기 게이트에 대응되는 위치에 Zn 산화물로 형성된 채널, 상기 게이트 및 채널 사이에 형성된 게이트 절연체 및 상기 채널의 양측부와 각각 접촉하며 형성된 소스 및 드레인을 포함하는 박막 트랜지스터에 있어서,상기 소스 및 드레인 사이의 채널에 형성된 함입부를 포함하는 것을 특징으로 하는 Zn 산화물계 박막 트랜지스터.
- 제 1 항에 있어서,상기 함입부는 상기 소스 및 상기 드레인과 접촉하는 채널 영역과 단차되게 형성된 것을 특징으로 하는 Zn 산화물계 박막 트랜지스터.
- 제 1항 또는 제 2항 중 어느 한 항에 있어서,상기 Zn 산화물은 ZnO, InZnO 또는 GaInZnO 인 것을 특징으로 하는 Zn 산화물계 박막 트랜지스터.
- 박막 트랜지스터의 제조 방법에 있어서,(가) 기판 상에 게이트를 형성하고, 상기 기판 및 상기 게이트 상에 게이트 절연층을 형성하는 단계;(나) 상기 게이트에 대응되는 상기 게이트 절연층 상에 Zn 산화물계 물질로 채널을 형성하는 단계;(다) 상기 게이트 절연층 및 상기 채널 상에 전도성 물질을 도포하고, 상기 채널 상의 전도성 물질을 식각하여 소스 및 드레인을 형성하는 단계; 및(라) 상기 소스 및 드레인 사이에 노출된 상기 채널 표면을 일부 식각하여 함입부를 형성하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 Zn 산화물계 박막 트랜지스터의 제조 방법.
- 제 4항에 있어서,상기 Zn 산화물은 ZnO, InZnO 또는 GaInZnO 인 것을 특징으로 하는 Zn 산화물계 박막 트랜지스터의 제조 방법.
- 제 4항 또는 제 5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 (라) 단계는,상기 채널은 염산, 불산 또는 인산 중 적어도 어느 하나와 아세트산의 수용액으로 형성된 Zn 산화물 식각 용액으로 습식 식각하는 것을 특징으로 하는 Zn 산화물계 박막 트랜지스터의 제조 방법.
- 제 6항에 있어서,상기 Zn 산화물 식각 용액은 염산, 불산 또는 인산 중 적어도 어느 하나가 0.1 ~ 1 vol%로 포함된 것을 특징으로 하는 Zn 산화물계 박막 트랜지스터의 제조 방법.
- 제 6항에 있어서,상기 Zn 산화물 식각 용액은 아세트산이 5 ~ 50 vol%로 포함된 것을 특징으로 하는 Zn 산화물계 박막 트랜지스터의 제조 방법.
- 염산, 불산 또는 인산 중 적어도 어느 하나와 아세트산의 수용액으로 형성된 것을 특징으로 하는 Zn 산화물의 식각 용액.
- 제 9항에 있어서,상기 염산, 불산 또는 인산 중 적어도 어느 하나가 0.1 ~ 1 vol%로 포함된 것을 특징으로 하는 Zn 산화물의 식각 용액.
- 제 9항에 있어서,상기 아세트산이 5 ~ 50 vol%로 포함된 것을 특징으로 하는 Zn 산화물의 식각 용액.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070061875A KR101402189B1 (ko) | 2007-06-22 | 2007-06-22 | Zn 산화물계 박막 트랜지스터 및 Zn 산화물의 식각용액 |
US12/149,409 US20080315193A1 (en) | 2007-06-22 | 2008-05-01 | Oxide-based thin film transistor, method of fabricating the same, zinc oxide etchant, and a method of forming the same |
JP2008162184A JP2009004787A (ja) | 2007-06-22 | 2008-06-20 | Zn酸化物系薄膜トランジスタとその製造方法、及びZn酸化物のエッチング溶液とその製造方法 |
CNA200810131709XA CN101328409A (zh) | 2007-06-22 | 2008-06-20 | 氧化物类tft、锌氧化物类蚀刻剂及形成方法 |
US13/559,959 US20120295399A1 (en) | 2007-06-22 | 2012-07-27 | Oxide-based thin film transistor, method of fabricating the same, zinc oxide etchant, and a method of forming the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070061875A KR101402189B1 (ko) | 2007-06-22 | 2007-06-22 | Zn 산화물계 박막 트랜지스터 및 Zn 산화물의 식각용액 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080112877A true KR20080112877A (ko) | 2008-12-26 |
KR101402189B1 KR101402189B1 (ko) | 2014-06-02 |
Family
ID=40135523
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070061875A KR101402189B1 (ko) | 2007-06-22 | 2007-06-22 | Zn 산화물계 박막 트랜지스터 및 Zn 산화물의 식각용액 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US20080315193A1 (ko) |
JP (1) | JP2009004787A (ko) |
KR (1) | KR101402189B1 (ko) |
CN (1) | CN101328409A (ko) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20100084466A (ko) * | 2009-01-16 | 2010-07-26 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 및 그 제작 방법 |
KR20130091701A (ko) * | 2009-03-27 | 2013-08-19 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 |
KR101442392B1 (ko) * | 2013-02-01 | 2014-09-17 | 삼성디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 제조 방법 |
Families Citing this family (49)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5004885B2 (ja) * | 2008-07-15 | 2012-08-22 | スタンレー電気株式会社 | 半導体構造の加工方法 |
TWI654689B (zh) | 2008-12-26 | 2019-03-21 | 日商半導體能源研究所股份有限公司 | 半導體裝置及其製造方法 |
US8436350B2 (en) * | 2009-01-30 | 2013-05-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device using an oxide semiconductor with a plurality of metal clusters |
JP5504008B2 (ja) * | 2009-03-06 | 2014-05-28 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
KR101640812B1 (ko) * | 2009-05-26 | 2016-08-01 | 엘지디스플레이 주식회사 | 산화물 박막 트랜지스터의 제조방법 |
EP2256795B1 (en) | 2009-05-29 | 2014-11-19 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Manufacturing method for oxide semiconductor device |
KR102503687B1 (ko) | 2009-07-03 | 2023-02-27 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치의 제작 방법 |
EP2452362B1 (en) | 2009-07-10 | 2017-09-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing semiconductor device |
DE102009039777A1 (de) * | 2009-09-02 | 2011-03-03 | Forschungszentrum Jülich GmbH | Verfahren zur Herstellung und Strukturierung einer Zinkoxidschicht und Zinkoxidschicht |
CN102648524B (zh) | 2009-10-08 | 2015-09-23 | 株式会社半导体能源研究所 | 半导体器件、显示装置和电子电器 |
KR101843558B1 (ko) | 2009-10-09 | 2018-03-30 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 시프트 레지스터, 표시 장치, 및 그 구동 방법 |
KR101291488B1 (ko) * | 2009-10-21 | 2013-07-31 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 |
KR101788521B1 (ko) | 2009-10-30 | 2017-10-19 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 |
CN104282691B (zh) | 2009-10-30 | 2018-05-18 | 株式会社半导体能源研究所 | 半导体装置 |
CN102054873B (zh) * | 2009-11-05 | 2014-03-05 | 元太科技工业股份有限公司 | 显示器及其薄膜晶体管阵列基板与薄膜晶体管 |
CN104600074A (zh) * | 2009-11-06 | 2015-05-06 | 株式会社半导体能源研究所 | 半导体装置 |
KR102450568B1 (ko) | 2009-11-13 | 2022-10-07 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 및 그 제작 방법 |
WO2011062058A1 (en) | 2009-11-20 | 2011-05-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
KR101752212B1 (ko) * | 2009-11-20 | 2017-06-29 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 |
WO2011062068A1 (en) * | 2009-11-20 | 2011-05-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
CN104992962B (zh) | 2009-12-04 | 2018-12-25 | 株式会社半导体能源研究所 | 半导体器件及其制造方法 |
KR101396102B1 (ko) | 2009-12-04 | 2014-05-15 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 |
KR101913111B1 (ko) | 2009-12-18 | 2018-10-31 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 |
KR101866734B1 (ko) | 2009-12-25 | 2018-06-15 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 |
KR101434948B1 (ko) | 2009-12-25 | 2014-08-28 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 |
KR101842413B1 (ko) | 2009-12-28 | 2018-03-26 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 |
CN105702631B (zh) | 2009-12-28 | 2019-05-28 | 株式会社半导体能源研究所 | 半导体器件 |
KR101800850B1 (ko) * | 2010-01-29 | 2017-11-23 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 기억 장치 |
JP5740169B2 (ja) * | 2010-02-19 | 2015-06-24 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | トランジスタの作製方法 |
WO2011114868A1 (en) * | 2010-03-19 | 2011-09-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
TWI443829B (zh) | 2010-04-16 | 2014-07-01 | Ind Tech Res Inst | 電晶體及其製造方法 |
US8507916B2 (en) | 2010-06-08 | 2013-08-13 | Sharp Kabushiki Kaisha | Thin film transistor substrate, LCD device including the same, and method for manufacturing thin film transistor substrate |
TWI688047B (zh) * | 2010-08-06 | 2020-03-11 | 半導體能源研究所股份有限公司 | 半導體裝置 |
WO2012029596A1 (en) | 2010-09-03 | 2012-03-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing semiconductor device |
JP2012256821A (ja) | 2010-09-13 | 2012-12-27 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 記憶装置 |
JP2012151453A (ja) | 2010-12-28 | 2012-08-09 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置および半導体装置の駆動方法 |
KR102026718B1 (ko) | 2011-01-14 | 2019-09-30 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 기억장치, 반도체 장치, 검출 방법 |
JP2012178493A (ja) * | 2011-02-28 | 2012-09-13 | Hitachi Ltd | 半導体装置の製造方法および半導体装置 |
JP2013051390A (ja) * | 2011-08-02 | 2013-03-14 | Idemitsu Kosan Co Ltd | 電界効果素子 |
KR101506303B1 (ko) * | 2011-09-29 | 2015-03-26 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치, 및 반도체 장치의 제작 방법 |
KR101976212B1 (ko) * | 2011-10-24 | 2019-05-07 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 및 반도체 장치의 제작 방법 |
JP6081171B2 (ja) | 2011-12-09 | 2017-02-15 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 記憶装置 |
US9208849B2 (en) | 2012-04-12 | 2015-12-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for driving semiconductor device, and electronic device |
US9059219B2 (en) * | 2012-06-27 | 2015-06-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device |
JP6326270B2 (ja) | 2013-06-28 | 2018-05-16 | 株式会社神戸製鋼所 | 薄膜トランジスタおよびその製造方法 |
JP6516978B2 (ja) | 2013-07-17 | 2019-05-22 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
JP6261926B2 (ja) | 2013-09-18 | 2018-01-17 | 関東化學株式会社 | 金属酸化物エッチング液組成物およびエッチング方法 |
US9640556B2 (en) | 2014-01-15 | 2017-05-02 | Kobe Steel, Ltd. | Thin film transistor |
KR102458660B1 (ko) | 2016-08-03 | 2022-10-26 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 표시 장치 및 전자 기기 |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0698282B1 (en) * | 1993-05-13 | 2000-09-06 | Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum Vzw | Method for etching silicon oxide layers using mixtures of HF and carboxylic acid |
JP2655126B2 (ja) * | 1995-03-31 | 1997-09-17 | 日本電気株式会社 | 薄膜トランジスタの製造方法 |
KR100464305B1 (ko) * | 1998-07-07 | 2005-04-13 | 삼성전자주식회사 | 에챈트를이용한pzt박막의청소방법 |
JP2002151693A (ja) * | 2000-11-08 | 2002-05-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ボトムゲート薄膜トランジスタとその製造方法およびエッチング装置と窒化装置 |
KR100532080B1 (ko) * | 2001-05-07 | 2005-11-30 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 비정질 인듐 틴 옥사이드 식각용액 및 이를 이용한 액정표시소자의 제조방법 |
US6624078B1 (en) * | 2001-07-13 | 2003-09-23 | Lam Research Corporation | Methods for analyzing the effectiveness of wafer backside cleaning |
JP4478383B2 (ja) * | 2002-11-26 | 2010-06-09 | 関東化学株式会社 | 銀を主成分とする金属薄膜のエッチング液組成物 |
JP3870292B2 (ja) * | 2002-12-10 | 2007-01-17 | 関東化学株式会社 | エッチング液組成物とそれを用いた反射板の製造方法 |
KR20040097586A (ko) * | 2003-05-12 | 2004-11-18 | 테크노세미켐 주식회사 | 투명도전막의 선택적 에칭액 조성물 |
JP4108633B2 (ja) * | 2003-06-20 | 2008-06-25 | シャープ株式会社 | 薄膜トランジスタおよびその製造方法ならびに電子デバイス |
JP2005020352A (ja) * | 2003-06-26 | 2005-01-20 | Murata Mfg Co Ltd | 薄膜パターンの形成方法、薄膜パターン及び電子部品 |
KR20060064388A (ko) * | 2004-12-08 | 2006-06-13 | 삼성전자주식회사 | 박막 트랜지스터, 이의 제조 방법, 이를 갖는 표시장치 및표시장치의 제조 방법 |
US7507670B2 (en) * | 2004-12-23 | 2009-03-24 | Lam Research Corporation | Silicon electrode assembly surface decontamination by acidic solution |
US20060197089A1 (en) * | 2005-03-03 | 2006-09-07 | Chunghwa Picture Tubes., Ltd. | Semiconductor device and its manufacturing method |
KR20060133834A (ko) * | 2005-06-21 | 2006-12-27 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 산화아연을 박막트랜지스터의 액티브층으로 사용하는액정표시소자의 제조방법 |
KR100786498B1 (ko) * | 2005-09-27 | 2007-12-17 | 삼성에스디아이 주식회사 | 투명박막 트랜지스터 및 그 제조방법 |
EP1770788A3 (en) * | 2005-09-29 | 2011-09-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device having oxide semiconductor layer and manufacturing method thereof |
US7772021B2 (en) * | 2006-11-29 | 2010-08-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Flat panel displays comprising a thin-film transistor having a semiconductive oxide in its channel and methods of fabricating the same for use in flat panel displays |
JP5244331B2 (ja) * | 2007-03-26 | 2013-07-24 | 出光興産株式会社 | 非晶質酸化物半導体薄膜、その製造方法、薄膜トランジスタの製造方法、電界効果型トランジスタ、発光装置、表示装置及びスパッタリングターゲット |
US7682882B2 (en) * | 2007-06-20 | 2010-03-23 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of manufacturing ZnO-based thin film transistor |
US8187919B2 (en) * | 2008-10-08 | 2012-05-29 | Lg Display Co. Ltd. | Oxide thin film transistor and method of fabricating the same |
-
2007
- 2007-06-22 KR KR1020070061875A patent/KR101402189B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2008
- 2008-05-01 US US12/149,409 patent/US20080315193A1/en not_active Abandoned
- 2008-06-20 JP JP2008162184A patent/JP2009004787A/ja active Pending
- 2008-06-20 CN CNA200810131709XA patent/CN101328409A/zh active Pending
-
2012
- 2012-07-27 US US13/559,959 patent/US20120295399A1/en not_active Abandoned
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20100084466A (ko) * | 2009-01-16 | 2010-07-26 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 및 그 제작 방법 |
KR20130091701A (ko) * | 2009-03-27 | 2013-08-19 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 |
US9012918B2 (en) | 2009-03-27 | 2015-04-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device including oxide semiconductor |
US9705003B2 (en) | 2009-03-27 | 2017-07-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device including first and second gate electrodes and stack of insulating layers |
KR101442392B1 (ko) * | 2013-02-01 | 2014-09-17 | 삼성디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 제조 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009004787A (ja) | 2009-01-08 |
US20120295399A1 (en) | 2012-11-22 |
KR101402189B1 (ko) | 2014-06-02 |
US20080315193A1 (en) | 2008-12-25 |
CN101328409A (zh) | 2008-12-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101402189B1 (ko) | Zn 산화물계 박막 트랜지스터 및 Zn 산화물의 식각용액 | |
JP5852307B2 (ja) | 薄膜トランジスタ及びその製造方法 | |
JP5015473B2 (ja) | 薄膜トランジスタアレイ及びその製法 | |
US20120007158A1 (en) | Non-volatile memory transistor having double gate structure | |
KR100814901B1 (ko) | 건식 식각 공정을 이용한 산화물 박막 트랜지스터 소자의제조방법 | |
US8058096B2 (en) | Microelectronic device | |
KR20080099084A (ko) | 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법 | |
JP2006086528A (ja) | 炭素ナノチューブチャンネルを含む半導体装置のトランジスタ及びその製造方法 | |
CN101496183A (zh) | 氧化物蚀刻法 | |
JP2007250987A (ja) | 固体電子装置およびその作製方法 | |
WO2017121243A1 (en) | Active layer, thin film transistor, array substrate, and display apparatus and fabrication methods | |
US20210234035A1 (en) | Transistor manufacturing method and gate-all-around device structure | |
TW201405835A (zh) | 製造薄膜電晶體的方法 | |
CN108122759B (zh) | 薄膜晶体管及其制作方法、阵列基板及显示装置 | |
TWI383505B (zh) | 薄膜電晶體及其製造方法 | |
CN108538850B (zh) | 一种高抗疲劳性的铁电栅场效应晶体管存储器及制备工艺 | |
US20160104804A1 (en) | Self-aligned thin film transistor and fabrication method thereof | |
JP2006245589A (ja) | 物性変換層を利用したトランジスタと、その動作及び製造方法 | |
US20150170923A1 (en) | Feature Size Reduction in Semiconductor Devices by Selective Wet Etching | |
CN107452810B (zh) | 一种金属氧化物薄膜晶体管及其制备方法 | |
KR20100125464A (ko) | 성막 방법 및 반도체 장치의 제조 방법 | |
JP2010062222A (ja) | 強誘電体ゲート有機電界効果トランジスタ、それを用いたメモリ素子及び強誘電体ゲート有機電界効果トランジスタの製造方法 | |
KR101017814B1 (ko) | 상온에서 동작하는 단전자 트랜지스터의 제조방법 | |
US11638378B2 (en) | Method of fabricating semicondoctor device | |
KR101669723B1 (ko) | 게르마늄이 도핑된 InZnO 활성층을 적용한 박막 트랜지스터 및 이의 제조방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
AMND | Amendment | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
J201 | Request for trial against refusal decision | ||
AMND | Amendment | ||
B701 | Decision to grant | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |