KR20010030954A - 기판도금장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (18)
- 도금액을 수용한 도금처리조내에 금속도금을 실시하는 피도금기판과 불용해성 양극 전극을 대향하여 배치한 구성의 기판도금장치에 있어서,상기 도금처리조와는 별도로 설치된 순환조 또는 더미조내에 용해성 양극 전극과 음극 전극을 대향하여 배치함과 동시에, 상기 양극 전극과 음극 전극 사이에 음이온 교환막 또는 양이온 선택성 교환막을 배치하여 격리시키고, 상기 양극 전극과 음극 전극의 사이에 전류를 흘림으로써 금속이온을 발생시켜 상기 금속이온을 상기 도금처리조내에 보충하는 수단을 설치한 것을 특징으로 하는 기판도금장치.
- 제 1항에 있어서,상기 도금처리조는 복수대설치되고, 상기 도금처리조의 피도금기판과 불용해성 양극 전극의 사이에 흐르는 전류치의 총계는 상기 순환조 또는 더미조의 양극 전극과 음극 전극의 사이에 흐르는 전류치와 같게 하는 것을 특징으로 하는 기판도금장치.
- 제 1항에 있어서,상기 도금처리조의 양극 전극과 상기 순환조 또는 더미조의 음극 전극, 상기도금처리조의 음극 전극인 피처리기판과 상기 순환조 또는 더미조의 양극 전극을 각각 접속시켜 상기 도금처리조의 음극 전극과 양극 전극 사이와 상기 순환조 또는 더미조의 양극 전극과 음극전극 사이에 흐르는 전류치를 동일치로 하는 것을 특징으로 하는 기판도금장치.
- 도금액을 수용한 도금조내에 도금을 실시하는 피도금기판과 양극 전극을 대향하여 배치한 구성의 기판도금장치에 있어서,상기 피도금기판과 양극 전극의 사이에 이온 교환막 또는 다공질 중성격막을 배치하고, 상기 도금조를 상기 이온 교환막 또는 다공질 중성격막으로 피도금기판측 영역과 양극 전극측 영역으로 구분한 것을 특징으로 하는 기판도금장치.
- 제 4항에 있어서,상기 양극 전극은 용해성 양극전극이고, 상기 이온 교환막은 상기 용해성 양극 전극에서 용해된 이온만을 투과시키는 양이온 교환막으로 한 것을 특징으로 하는 기판도금장치.
- 제 4항에 있어서,상기 이온 교환막 또는 다공질 중성격막에 의해 구분된 상기 양극 전극측 영역의 도금액의 출입구에 개폐밸브를 설치하고, 상기 양극 전극측 영역의 도금액이 상기 개폐밸브를 거쳐 상기 피도금기판측 영역으로부터 유출된 도금액과 합류하도록 구성한 것을 특징으로 하는 기판도금장치.
- 제 6항에 있어서,상기 이온 교환막 또는 다공질 중성격막에 의해 구분된 상기 양극 전극측 영역의 도금액의 출구에 필터를 설치한 것을 특징으로 하는 기판도금장치.
- 도금액을 수용한 도금조내에 도금을 실시하는 피도금기판과 양극 전극을 대향하여 배치한 구성의 기판도금장치에 있어서,상기 양극 전극을 불용해성 양극 전극으로 하고, 상기 양극 전극과 피도금기판 사이에 다공질 중성격막 또는 양극 이온 교환막으로 이루어지는 격막을 배치하고, 상기 다공질 중성격막 또는 양극 이온 교환막으로 상기 도금조를 피도금기판측 영역과 양극 전극측 영역으로 구분한 것을 특징으로 하는 기판도금장치.
- 제 8항에 있어서,상기 다공질 중성격막 또는 양극 이온 교환막은 상기 양극 전극과 피도금기판 사이의 1차전류 분포를 보정하는 차폐판을 겸한 판에 접하고 있는 것을 특징으로 하는 기판도금장치.
- 제 8항에 있어서,상기 격막으로 구분된 상기 피도금기판측 영역과 양극 전극측 영역의 도금 액을 각각 따로따로의 순환수단으로 순환시키는 것을 특징으로 하는 기판도금장치.
- 제 4항에 있어서,상기 도금조는 상기 피도금기판의 도금면을 아래쪽으로 하여 배치하고, 상기 피도금기판의 도금면의 아래쪽에 편평한 도금액실을 설치함과 함께 상기 도금 액실에 도금액을 유입시키는 도금액 유입구와 상기 도금액실로부터 도금액을 유출시키는 도금액 유출구를 상기 피도금기판의 바깥지름보다 바깥쪽에 상기 피도금기판을 끼워 대향하여 배치하고, 상기 도금액실을 흐르는 도금액이 상기 피도금기판의 도금면에 접촉하면서 평행하게 흐르도록 구성되어 있고, 상기 도금조는 상기 도금액실의 아래쪽에 이온 교환막 또는 다공성 중성격막을 거쳐 편평한 양극실을 설치함과 함께, 상기 양극실의 바닥부에 상기 피도금기판과 대향하는 양극 전극을 배치하고, 상기 양극실에 상기 도금액 또는 별도의 도전성액을 흘리도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 기판도금장치.
- 제 11항에 있어서,상기 도금조는 상기 피도금기판을 상기 도금조내에서 상기 도금면을 아래쪽으로 한 상태에서 회전시키는 피도금기판 회전기구를 구비하는 것을 특징으로 하는 기판도금장치.
- 제 11항에 있어서,상기 도금중 피도금기판을 1∼1O rpm의 회전속도로 회전시키는 것을 특징으로 하는 기판도금장치.
- 제 11항에 있어서,상기 도금조를 복수대 겹쳐 배치한 도금스테이지를 구비하는 것을 특징으로 하는 기판도금장치.
- 제 4항에 있어서,상기 도금조는 도금면을 아래쪽으로 배치한 상기 피도금기판과 그 아래쪽에 소정의 간격을 설치하여 대향하여 배치된 다공판의 사이에 형성된 도금액실과, 상기 다공판의 아래쪽에 형성된 편평한 도금액 도입실을 구비하고, 도금액을 상기 도금액 도입실에 수평방향으로부터 흘려넣어 상기 다공판의 다공을 통하여 상기 피도금기판의 도금면에 수직한 도금액의 흐름을 형성하여 상기 도금액실로 유도하도록 구성되어 있고, 상기 도금조는 상기 도금액 도입실의 아래쪽에 이온교환막 또는 다공성 중성격막을 거쳐 편평한 양극실을 설치하는 동시에, 상기 양극실의 바닥부에 피도금기판과 대향하는 양극 전극을 배치하고, 상기 양극실에 상기 도금액 또는 다른 도전성액을 흘리도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 기판도금장치.
- 제 15항에 있어서,상기 도금조는 상기 피도금기판을 도금조내에 상기 도금면을 아래쪽으로 한 상태에서 회전시키는 피도금기판 회전기구를 구비하는 것을 특징으로 하는 기판도금장치.
- 제 15항에 있어서,상기 피도금기판과 상기 다공판의 거리가 5∼15 mm 인 것을 특징으로 하는 기판도금장치.
- 제 15항에 있어서,상기 도금조를 복수대 겹쳐 배치한 도금스테이지를 구비하는 것을 특징으로 하는 기판도금 장치.
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Publication Number | Publication Date |
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100453861B1 (ko) * | 2001-11-28 | 2004-10-26 | 마이크로스케일 주식회사 | 웨이퍼 회전식 도금장치 |
KR100756160B1 (ko) * | 2005-04-08 | 2007-09-05 | 샤프 가부시키가이샤 | 도금 장치, 도금 방법, 및 반도체 장치의 제조 방법 |
KR100847752B1 (ko) * | 2006-12-29 | 2008-07-22 | 주식회사 두산 | 인쇄 회로 기판의 도금 장치 |
KR100928666B1 (ko) * | 2009-02-17 | 2009-11-27 | 주식회사 한스머신 | 웨이퍼 결함 분석장치 및 이에 이용되는 이온추출장치와 이를 이용한 웨이퍼 결함 분석방법 |
KR100928667B1 (ko) * | 2009-02-17 | 2009-11-27 | 주식회사 한스머신 | 웨이퍼 결함 분석 시스템 및 그 제어방법 |
KR101018336B1 (ko) * | 2009-11-02 | 2011-03-04 | 고등기술연구원연구조합 | 불용성 전극셀 |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001068952A1 (fr) * | 2000-03-17 | 2001-09-20 | Ebara Corporation | Procede et appareil de plaquage electrolytique |
US7195696B2 (en) * | 2000-05-11 | 2007-03-27 | Novellus Systems, Inc. | Electrode assembly for electrochemical processing of workpiece |
US6695962B2 (en) * | 2001-05-01 | 2004-02-24 | Nutool Inc. | Anode designs for planar metal deposits with enhanced electrolyte solution blending and process of supplying electrolyte solution using such designs |
JP2001335992A (ja) * | 2000-05-22 | 2001-12-07 | Toshiba Corp | 電解めっき方法及び電解めっき装置 |
IT1318545B1 (it) * | 2000-05-31 | 2003-08-27 | De Nora Elettrodi Spa | Cella di elettrolisi per il ripristino della concentrazione di ionimetallici in processi di elettrodeposizione. |
JP2002097598A (ja) * | 2000-09-25 | 2002-04-02 | Mitsubishi Electric Corp | 電解メッキ装置 |
KR20020074175A (ko) | 2000-10-26 | 2002-09-28 | 가부시키 가이샤 에바라 세이사꾸쇼 | 무전해도금장치 및 방법 |
US20030007052A1 (en) * | 2001-05-18 | 2003-01-09 | Kodak Polychrome Graphics, L.L.C. | Method of preparing an inkjet ink imaged lithographic printing plate |
US20060011487A1 (en) * | 2001-05-31 | 2006-01-19 | Surfect Technologies, Inc. | Submicron and nano size particle encapsulation by electrochemical process and apparatus |
US7638030B2 (en) | 2001-06-18 | 2009-12-29 | Ebara Corporation | Electrolytic processing apparatus and electrolytic processing method |
JP4043234B2 (ja) * | 2001-06-18 | 2008-02-06 | 株式会社荏原製作所 | 電解加工装置及び基板処理装置 |
US6875331B2 (en) | 2002-07-11 | 2005-04-05 | Applied Materials, Inc. | Anode isolation by diffusion differentials |
AU2003252677A1 (en) * | 2002-07-25 | 2004-02-16 | Shinryo Electronics Co., Ltd. | Tin-silver-copper plating solution, plating film containing the same, and method for forming the plating film |
US7273540B2 (en) | 2002-07-25 | 2007-09-25 | Shinryo Electronics Co., Ltd. | Tin-silver-copper plating solution, plating film containing the same, and method for forming the plating film |
JP4058307B2 (ja) * | 2002-08-29 | 2008-03-05 | 大日本スクリーン製造株式会社 | メッキ装置 |
JP2006513041A (ja) * | 2002-12-05 | 2006-04-20 | サーフェクト テクノロジーズ インク. | コーティングされた磁性粒子及びその応用 |
JP2005082843A (ja) * | 2003-09-05 | 2005-03-31 | Ebara Corp | 電解液管理方法及び管理装置 |
JP2005133160A (ja) * | 2003-10-30 | 2005-05-26 | Ebara Corp | 基板処理装置及び方法 |
TW200533791A (en) * | 2004-02-04 | 2005-10-16 | Surfect Technologies Inc | Plating apparatus and method |
DE102004038104A1 (de) * | 2004-08-05 | 2006-02-23 | Henkel Kgaa | Verwendung von ortho-Phenylphenol und/oder dessen Derivaten zur Hemmung der asexuellen Vermehrung von Pilzen |
JP2008522040A (ja) * | 2004-11-30 | 2008-06-26 | イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニー | 導電性表面の膜制限選択性電気めっき |
JP2006193822A (ja) * | 2004-12-16 | 2006-07-27 | Sharp Corp | めっき装置、めっき方法、半導体装置、及び半導体装置の製造方法 |
US8177944B2 (en) | 2007-12-04 | 2012-05-15 | Ebara Corporation | Plating apparatus and plating method |
FR2939256B1 (fr) * | 2008-12-01 | 2011-06-17 | Commissariat Energie Atomique | Oscillateur radiofrequence a vanne de spin ou a jonction tunnel |
US9005409B2 (en) * | 2011-04-14 | 2015-04-14 | Tel Nexx, Inc. | Electro chemical deposition and replenishment apparatus |
US9017528B2 (en) | 2011-04-14 | 2015-04-28 | Tel Nexx, Inc. | Electro chemical deposition and replenishment apparatus |
CN103898594A (zh) * | 2012-12-25 | 2014-07-02 | 大连崇达电路有限公司 | 不溶性阳极电镀铜锡镀槽 |
US9303329B2 (en) | 2013-11-11 | 2016-04-05 | Tel Nexx, Inc. | Electrochemical deposition apparatus with remote catholyte fluid management |
JP2018125499A (ja) | 2017-02-03 | 2018-08-09 | 東芝メモリ株式会社 | 半導体製造装置および半導体装置の製造方法 |
US20210332494A1 (en) * | 2018-07-05 | 2021-10-28 | Chemitron Inc. | Plating device |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3450625A (en) * | 1964-10-29 | 1969-06-17 | Kenneth C Ramsey | Electrolytic plating tank |
ZA703750B (en) * | 1969-06-06 | 1971-01-27 | Australian Iron And Steel Ltd | Addition of metal ions to plating bath |
US4469564A (en) * | 1982-08-11 | 1984-09-04 | At&T Bell Laboratories | Copper electroplating process |
JPH0270087A (ja) * | 1988-09-01 | 1990-03-08 | Nippon Kinzoku Co Ltd | 錫めっき方法および装置 |
US4906340A (en) * | 1989-05-31 | 1990-03-06 | Eco-Tec Limited | Process for electroplating metals |
JPH0310099A (ja) | 1989-06-07 | 1991-01-17 | Permelec Electrode Ltd | 電気メッキ用不溶性電極とその製造方法 |
US5009755A (en) * | 1990-01-22 | 1991-04-23 | Shor Peter S | Refining method |
JP2754838B2 (ja) * | 1990-03-12 | 1998-05-20 | 株式会社デンソー | 半導体ウエハ表面処理装置 |
JPH086198B2 (ja) * | 1990-08-15 | 1996-01-24 | 株式会社アルメックス | 水平搬送型メッキ装置 |
JPH04320088A (ja) * | 1991-04-18 | 1992-11-10 | Cmk Corp | プリント配線板の製造方法 |
JPH05302199A (ja) * | 1992-04-24 | 1993-11-16 | Bridgestone Bekaert Steel Code Kk | 不溶性陽極を用いた銅めっき法における銅めっき浴の組成制御方法 |
DE4344387C2 (de) * | 1993-12-24 | 1996-09-05 | Atotech Deutschland Gmbh | Verfahren zur elektrolytischen Abscheidung von Kupfer und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens |
JPH10121297A (ja) * | 1996-10-16 | 1998-05-12 | Nippon Riironaale Kk | 不溶性陽極を用いた電気銅めっき装置及びそれを使用する銅めっき方法 |
US6126798A (en) * | 1997-11-13 | 2000-10-03 | Novellus Systems, Inc. | Electroplating anode including membrane partition system and method of preventing passivation of same |
-
1999
- 1999-09-08 WO PCT/JP1999/004861 patent/WO2000014308A1/ja active IP Right Grant
- 1999-09-08 EP EP99943206A patent/EP1029954A4/en not_active Withdrawn
- 1999-09-08 KR KR1020007003701A patent/KR100683268B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1999-09-08 US US09/530,805 patent/US6365017B1/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100453861B1 (ko) * | 2001-11-28 | 2004-10-26 | 마이크로스케일 주식회사 | 웨이퍼 회전식 도금장치 |
KR100756160B1 (ko) * | 2005-04-08 | 2007-09-05 | 샤프 가부시키가이샤 | 도금 장치, 도금 방법, 및 반도체 장치의 제조 방법 |
KR100847752B1 (ko) * | 2006-12-29 | 2008-07-22 | 주식회사 두산 | 인쇄 회로 기판의 도금 장치 |
KR100928666B1 (ko) * | 2009-02-17 | 2009-11-27 | 주식회사 한스머신 | 웨이퍼 결함 분석장치 및 이에 이용되는 이온추출장치와 이를 이용한 웨이퍼 결함 분석방법 |
KR100928667B1 (ko) * | 2009-02-17 | 2009-11-27 | 주식회사 한스머신 | 웨이퍼 결함 분석 시스템 및 그 제어방법 |
WO2010095847A2 (ko) * | 2009-02-17 | 2010-08-26 | 주식회사 한스머신 | 웨이퍼 결함 분석장치 및 이에 이용되는 이온추출장치와 이를 이용한 웨이퍼 결함 분석방법 |
WO2010095848A2 (ko) * | 2009-02-17 | 2010-08-26 | 주식회사 한스머신 | 웨이퍼 결함 분석 시스템 및 그 제어방법 |
WO2010095847A3 (ko) * | 2009-02-17 | 2010-12-09 | 주식회사 한스머신 | 웨이퍼 결함 분석장치 및 이에 이용되는 이온추출장치와 이를 이용한 웨이퍼 결함 분석방법 |
WO2010095848A3 (ko) * | 2009-02-17 | 2010-12-09 | 주식회사 한스머신 | 웨이퍼 결함 분석 시스템 및 그 제어방법 |
KR101018336B1 (ko) * | 2009-11-02 | 2011-03-04 | 고등기술연구원연구조합 | 불용성 전극셀 |
Also Published As
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---|---|
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