KR20010013021A - 통신장치 - Google Patents
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Abstract
각 입력단자 및 출력단자에 개별적으로 할당된 복수의 바운더리셀과 그 바운더리셀의 데이터 입출력을 제어하기 위한 TAP회로와, 상기 바운더리셀에 시리얼 데이터를 입력 또는 출력하기 위한 TDI단자 및 TDO단자와, 클록신호가 입력되는 TCK단자와, 동작모드를 전환하기 위한 모드신호가 입력되는 TMS단자를 구비한 바운더리 스캔소자와, 각 상기 바운더리 스캔소자에 접속되는 복수의 단말기와, 상기 바운더리 스캔소자가 직렬로 접속되고 상기 단말기를 개별적으로 제어하기 위한 통신컨트롤러와, 인접한 상기 바운더리 스캔소자사이 및 상기 바운더리 스캔소자와 상기 통신컨트롤러 사이를 각각 접속하기 위하여 설치된 귀로측 통신선과, 상기 통신컨트롤러와 최후방에 위치하는 상기 바운더리 스캔소자를 접속한 왕로측 통신선과, 클록신호선과, 모드신호선과, 이 통신선 및 신호선을 묶은 케이블선을 구비한 통신장치가 제공된다.
Description
프린트배선이 형성된 배선기판상에 복수의 IC칩을 배치한 상태로 각 IC칩과 각 프린트배선과의 접속이 바르게 행해지는지 어떤지, 각 프린트배선이 단선되어 있지 않은지 어떤지를 검사하는 방법의 하나로 바운더리 스캔 테스트법이 제안되어 있다.
이 바운더리 스캔 테스트법은 바운더리 스캔소자가 짜넣어진 집적회로(IC칩)에 대하여 실행할 수 있다. 바운더리 스캔소자란, 가령 도 5와 같이 집적회로 (210)의 본래의 기능을 실현하기 위한 내부로직회로(211)의 입출력단자와 집적회로 (210)의 입력단자(212) 및 출력단자(213) 사이에 개별로 설치된 복수의 바운더리 스캔셀(214)과, 바운더리셀(214)의 데이터 입출력을 제어하기 위한 TAP컨트롤러 (TAP회로; 219)와, 테스트 데이터를 수신하기 위한 TDI단자(220)와, 테스트 데이터를 송신하기 위한 TDO단자(221)와, 클록신호가 입력되는 TCK단자(122)와, TAP컨트롤러(219)의 동작모드를 전환하기 위한 모드신호를 수신하기 위한 TMS 단자(223)로 이루어지는 것으로, 또한 필요에 따라 바이패스 레지스터(215), IDCODE 레지스터 (216), 인스트럭션 레지스터(217) 또는 리세트신호를 수신하기 위한 TRS단자(224) 등이 설치된 것이다. 바이패스 레지스터(215)는 통신데이터를 바운더리셀을 통하지 않고 전송하기 위한 것으로, IDCODE 레지스터(216)는 개별로 붙여진 IDCODE를 출력함으로써 통신데이터의 출소를 식별하기 위한 것이고, 또한 인스트럭션 레지스터(217)는 통신데이터중 특정 데이터를 디코드하여 TMS신호와는 별도로 동작모드의 이행 등을 행하기 위한 것이다. 또한, 바이패스 레지스터(215)∼인스트럭션 레지스터(217)는 바운더리 스캔 레지스터(118)라 불리운다.
각 단자 또는 각 단자에 있어서 입출력되는 신호를 상세히 설명하면, TDI(Test Data In)는 테스트 로직에 대하여 명령이나 데이터를 시리얼 입력하는 신호로, TCK의 상승에지로 샘플링된다. TDO(Test Data Out)는 테스트 로직으로부터의 데이터를 시리얼 출력하는 신호로, 출력치 변경은 TCK의 하강에지로 행한다. TCK(Test Clock)는 테스트로직에 클록을 공급한다. 시리얼 테스트 데이터 경로를 컴포넌트 고유의 시스템 클록과 독립하여 사용될 수 있게 하는 전용입력이다. TMS(Test Mode Select)는 테스트 동작을 제어하는 신호로, TCK의 상승에지로 샘플링된다. 이 신호는 TAP컨트롤러가 디코드한다. TRST(Test Reset)는 TAP컨트롤러를 비동기로 초기화하는 부(負)논리기호로, 옵션이다.
이와같은 바운더리 스캔소자가 짜넣어진 집적회로(210)는 그 동작상태 및 이 집적회로(210)와 외부기기와의 접속관계를 이하에 설명하는 수순으로 테스트할 수 있다.
우선, 집적회로(210)의 내부 로직(211) 양부를 체크할 경우에는 집적회로 (210)의 TDI단자(220)에 시리얼 데이터(테스트 데이터)를 입력하면서 이것을 시프트시켜서 각 입력단자(212)에 대응하는 각 바운더리셀(214)에 테스트 데이터를 세트한다. 이 상태로 집적회로(210)를 동작시킨후, 각 출력단자(213)에 대응하는 각 바운더리셀(214)에 세트되어 있는 데이터를 시프트시켜서 TDO단자(221)에서 출력시키고 이에따라 얻어진 시리얼 데이터(테스트 결과 데이터)와, 이 집적회로(210)에 입력한 테스트데이터와의 대응관계에 의거하여 집적회로(210)의 내부로직(211)이 양호한지 아닌지를 테스트한다.
또, 바운더리 스캔 테스트법은 바운더리 스캔소자가 짜넣어져 있으면, 복수의 집적회로에 대해서는 실행할 수 있다.
가령, 도 6과 같은 기판(226)에 탑재된 복수의 집적회로(210)에 대해서는 집적회로(210) 자체의 테스트 외에 집적회로(210) 사이의 프린트패턴의 단선 등도 아울러 테스트할 수 있다.
이 경우, 복수의 집적회로(210)에 짜넣어진 각 바운더리 스캔소자는 직렬로 접속된다. 구체적으로는 제 1 집적회로(210; 도면 좌측)의 TDO단자(221)와, 제 2 집적회로(210; 도면 우측)의 TDI단자(220)를 접속함과 동시에, 호스트 컴퓨터장치 (227) 등에 설치된 바운더리 스캔 컨트롤러보드(228)의 출력단자(229)와, 제 1 집적회로(210)의 TDI단자(220)를 접속하고, 또한 바운더리 스캔 컨트롤러보드(228)의 입력단자(230)와, 제 2 집적회로(210)의 TDO단자(221)를 접속한다. 테스트 수순은 이하와 같다.
프린트패턴의 단선, 단락 등을 테스트할 경우는 테스트 데이터 작성 툴(231) 등을 사용하여 테스트데이터(시리얼 데이터)를 작성하고, 이것을 바운더리 스캔 컨트롤러보드(228)의 출력단자(229)에서 출력시키고, 제 1 집적회로(210)의 TDI단자 (220)안에 입력시키면서 이것을 시프트시켜서 이 집적회로(210)의 각 출력단자 (213)에 대응하는 각 바운더리셀(214)에 테스트 데이터를 세트한다. 이 상태로 도 7과 같이 제 1 집적회로(210)에 설치되어 있는 각 출력단자(213)에서 이들 각 바운더리셀(214)에 격납되어 있는 데이터를 출력시킴과 동시에 시스템버스 등을 구성하는 각 프린트패턴(233)을 통하여 제 2 집적회로(210)의 각 입력단자(212)에 입력시키고 또한 이들 각 입력단자(212)에 대응하는 각 바운더리셀(214)에 받아들인다.
이후에 이들 각 집적회로(210)의 각 바운더리셀(214)에 격납되어 있는 데이터를 시프트시켜서 바운더리 스캔 컨트롤러보드(228)의 입력단자(230)로 이것을 받아들이면서 테스트결과, 해석툴(232) 등을 사용하여 이것을 해석함으로써 집적회로 (210) 사이를 접속하는 프린트패턴(233) 등의 테스트범위(235)에 있어서, 단선 단락 등이 없는지를 테스트할 수 있다.
다음에 각 집적회로(210)의 내부로직(211)을 검사할 경우에는 테스트 데이터를 바운더리 스캔 컨트롤러보드(228)의 출력단자(229)에서 출력시키고, 제 1 집적회로 (210)의 TDI단자(220)에 입력시키면서 이것을 시프트시켜서 도 8에 도시된 바와 같이 이 집적회로(210)의 각 입력단자(212)에 대응하는 각 바운더리셀(214)에 세트한다.
이어서, 이 집적회로(210)를 동작시켜서, 이에의해 얻은 데이터를 각 출력단자(213)에 대응하는 각 바운더리셀(214)에 받아들인 후에 이들 각 바운더리셀(214)에 격납되어 있는 데이터를 시프트시켜서 제 1 집적회로(210)의 TDO단자(221)에서 출력시킨다. 이때, 바운더리 스캔 컨트롤러보드(228)에 의해 제 2 집적회로 (210)를 도 7과 같이 바이패스 상태로 함으로써 TDO단자(221)에서 출력된 데이터를 제 2 집적회로(210)를 바이패스시켜서 바운더리 스캔 컨트롤러보드(228)의 입력단자 (230)로 받아들인다. 그리고 테스트 해석툴(232)등을 사용하여 받아들인 데이터를 해석함으로써 제 1 집적회로(210)가 바르게 동작하는지 여부를 테스트할 수 있다.
다음에 제 2 집적회로(210)를 검사할 경우에는 동일하게 바운더리 스캔 컨트롤러보드(228)에 의해, 제 1 집적회로(210)를 도 8과 같이 바이패스상태로 한후, 테스트 데이터를 바운더리 스캔 컨트롤러보드(228)의 출력단자(229)에서 출력시키고, 제 1 집적회로(210)를 바이패스시킨다. 그리고, 테스트 데이터를 제 2 집적회로(210)의 TDI단자(220)에 입력시키면서 시프트시키고, 도 9와 같이 이 집적회로 (210)의 각 입력단자(212)에 대응하는 각 바운더리셀(214)에 세트한다. 이어서, 이 집적회로(210)를 동작시켜서, 이에의해 얻은 데이터를 각 출력단자(213)에 대응하는 각 바운더리셀(214)에 받아들인다. 그 후, 각 바운더리셀(214)에 격납되어 있는 데이터를 시프트시켜서 TDO단자(221)에서 출력하고, 또한, 바운더리 스캔 컨트롤러보드(228)의 입력단자(230)에서 이것을 받아들인다. 그리고 받아들인 데이터를 테스트 결과 해석툴(232)등을 사용하여 해석함으로써 제 2 집적회로(210)가 바르게 동작하는지 여부를 테스트할 수 있다.
이와같이 바운더리 스캔소자가 짜넣어진 집적회로(210)를 사용하고 있는 기판(226)이면 바운더리 스캔 테스트법을 실행함으로써 각 집적회로(210) 자체의 양부, 집적회로(210) 사이의 접속관계 등을 테스트할 수 있다.
그런데, 본 발명자는 이와같은 바운더리 스캔소자가 짜넣어진 집적회로를 사용하여 센서모듈의 기판 등을 구성했을때, 통신용 집적회로 등을 사용하지 않고 기판(226)상에 탑재되어 있는 각 집적회로에 대하여 20Mbps정도의 속도로 시리얼데이터의 입출력을 행할 수 있다는 것을 발견하였다.
그리고, 바운더리 스캔소자를 응용하여 통신디바이스 등을 사용하지 않고 호스트 컴퓨터장치 등과 통신을 행하는 통신장치를 제안하였다.
도 10은 바운더리 스캔소자를 응용한 통신장치의 1예를 나타내는 블록도이다.
이 도면 표시의 통신장치(240)는 통신데이터의 송출, 수집 등을 행하는 통신 컨트롤러장치(241)와, 감시대상물의 감시 등을 행하는 복수의 센서장치(242a∼ 242c)와, 이들 각 센서장치(242a∼242c)별로 배치되고 상기 통신컨트롤러장치 (241)에서 출력되는 제어데이터를 받아들여 이것을 각 센서장치(242a∼ 242c)에 공급하는 처리 및 이들 각 센서장치(242a∼ 242c)에서 출력되는 검지데이터 등을 받아들여 상기 통신컨트롤러장치(241)에 공급하는 처리 등을 행하는 복수의 바운더리 스캔소자(243a∼ 243c)와, 이들 각 바운더리 스캔소자(243a∼ 243c)와 상기 통신컨트롤러장치(241)를 접속하는 통신선(244)을 구비하고 있다.
각 바운더리 스캔소자(243a∼ 243c)는 통신컨트롤러장치(241)에 직렬로 접속되어 있다. 구체적으로는 통신컨트롤러장치(241)의 출력단자(241a)는 바운더리 스캔소자(243a)의 TDI단자에, 바운더리 스캔소자(243a)의 TDO단자는 다음 바운더리 스캔소자(243b)의 TDI단자에, 이와같이 접속되고, 바운더리 스캔소자(243c)의 TDO단자는 통신컨트롤러장치(241)의 입력단자(241b)에 접속된다.
이 통신장치(240)의 작용은 이하와 같다.
각 바운더리 스캔소자(243a∼ 243c)는 통신컨트롤러장치(241)의 TCK단자 (241d)에서 송출되는 클록신호에 동기하여 기능하고, 또, 통신 컨트롤러장치(241)의 TMS단자(241c)에서 송출되는 TMS신호에 의해 각 TAP컨트롤러의 동작모드가 전환된다.
그리고, 호스트 컴퓨터장치(245)로부터의 지시에 의거하여 각 센서장치(242a∼ 242c)를 구동할 경우에는 통신컨트롤러장치(241)의 출력단자(241a)에서 제어데이터(시리얼데이터)를 출력시켜서 이것을 각 바운더리 스캔소자(243a∼ 243c)에 공급하고, 출력단자에 대응하는 바운더리셀에 세트한다. 그리고 세트된 제어데이터를 출력단자에서 출력하고, 각 바운더리 스캔소자(243a∼243c)에 대응하는 각 센서장치(242a∼242c)에 공급함으로써 이들을 구동한다.
또, 호스트 컴퓨터장치(245)로부터의 지시에 의거하여 각 센서장치 (242a∼ 242c)에서 검지데이터 등을 수집할 경우에는 각 센서장치(242a∼242c)의 검지데이터 등을 대응하는 각 바운더리 스캔소자(243a∼ 243c)의 입력단자에 대응한 바운더리셀에 일단 세트한다. 그리고, 이들을 TDO단자에서 시리얼데이터로서 출력시키고, 통신컨트롤러장치(241)의 입력단자(241b)로 이것을 받아들인다.
이와같은 통신장치(240)에서는 각 바운더리 스캔소자(243a∼ 243c)에 제어데이터를 세트할 경우나 각 바운더리 스캔소자(243a∼ 243c)에서 검지데이터 등을 출력시킬 경우에 데이터 전송속도를 최대로 20Mbps로 할 수 있고, 종래의 통신장치보다 통신데이터의 고속전송을 가능하게 하고 있다.
그러나, 통신장치(240)는 통신선(244)이 어디서 단선될 경우, 가령 바운더리 스캔소자(243b)와 바운더리 스캔소자(243c) 사이에서 통신선(244)이 단선될 경우에, 통신컨트롤러장치(241)는 모든 바운더리 스캔소자(243a∼ 243c)로부터의 통신데이터를 얻지 못하는 것이 되고, 또 단선 개소를 특정하는 것도 쉽지 않다.
본 발명은 바운더리 스캔소자를 통하여 단말기를 제어하는 통신장치에 관한 것으로 특히 통신선의 단선에 대응할 수 있는 통신장치에 관한 것이다.
도 1은 본 발명의 통신장치의 제 1 형태를 나타내는 블록도,
도 2는 본 발명의 통신장치의 제 2 형태를 나타내는 블록도,
도 3은 바운더리 스캔소자군(55a∼55d)의 블록도,
도 4는 종래의 바운더리 스캔소자의 블록도,
도 5는 도 4에 도시된 바운더리 스캔소자를 사용한 바운더리 스캔 테스트 예를 나타내는 블록도,
도 6은 도 4에 도시된 바운더리 스캔소자를 사용한 바운더리 스캔 테스트 예를 나타내는 모식도,
도 7은 도 4에 도시된 바운더리 스캔소자를 사용한 바운더리 스캔 테스트 예를 나타내는 모식도,
도 8은 도 4에 도시된 바운더리 스캔소자를 사용한 바운더리 스캔 테스트 예를 나타내는 모식도,
도 9는 바운더리 스캔소자를 응용한 종래의 통신장치의 1예를 나타내는 블록도.
발명의 개시
본 발명의 목적은 통신선의 단선에 대응할 수 있는 바운더리 스캔소자를 사용한 통신장치를 제공함에 있다.
본 발명에 따르면, 각 입력단자 및 출력단자에 개별적으로 할당된 복수의 바운더리셀과 그 바운더리셀의 데이터 입출력을 제어하기 위한 TAP회로와 상기 바운더리셀에 부여하기 위한 시리얼 데이터를 입력하기 위한 TDI단자와, 상기 바운더리셀로부터의 데이터를 시리얼 데이터로서 출력하기 위한 TDO단자와, 클록신호가 입력되는 TCK단자와, 상기 TAP회로의 동작모드를 전환하기 위한 모드신호가 입력되는 TMS단자를 구비한 바운더리 스캔소자와, 각 상기 바운더리 스캔소자에 접속되고 또는 이것이 짜넣어진 IC를 갖는 복수의 단말기와, 상기 바운더리 스캔소자가 직렬로 접속되고 상기 단말기를 개별적으로 제어하기 위한 통신데이터를 상기 바운더리 스캔소자를 통하여 송수신하기 위한 통신컨트롤러와, 인접한 상기 바운더리 스캔소자사이 및 상기 바운더리 스캔소자와 상기 통신컨트롤러 사이를 각각 접속하기 위하여 설치되고, 클록신호선과 모드신호선과 왕로(往路)측 통신선과 귀로(歸路)측 통신선을 묶은 케이블로 이루어지는 통신장치로서, 상기 귀로측 통신선은 상기 통신컨트롤러의 데이터 입력단자와, 상기 케이블을 통하여 상기 통신컨트롤러와 집적접속된 상기 바운더리 스캔소자의 상기 TDO단자 사이, 및 인접한 각 상기 바운더리 스캔소자의 상기 TDO단자와 상기 TDI단자 사이를 각각 접속한 것이고, 상기 왕로측 통신선은 상기 통신컨트롤러의 데이터 출력단자와, 상기 통신컨트롤러에서 보아 최후방에 위치한 상기 바운더리 스캔소자의 상기 TDI단자를 접속한 것을 특징으로 하는 통신장치가 제공된다(청구항 1).
본 발명에서는 상기 통신컨트롤러에서 보아 최후방에 위치한 상기 바운더리 스캔소자에서 상기 통신 컨트롤러에 직접 접속된 상기 바운더리 스캔소자 방향으로 통신데이터가 전송된다. 따라서, 상기 바운더리 스캔소자 사이에서 통신선의 단선이 발생할 경우라도 단선개소로부터 상기 통신컨트롤러측에 위치하는 상기 바운더리 스캔소자가 갖는 통신데이터를 상기 통신컨트롤러에 전송할 수 있고, 상기 통신컨트롤러는 전송된 통신데이터에서 단선 유무 및 대략 그 단선개소를 식별할 수 있다.
또, 본 발명에 따르면 각 입력단자 및 출력단자에 개별적으로 할당된 복수의 바운더리셀과, 그 바운더리셀의 데이터 입출력을 제어하기 위한 TAP회로와, 상기 바운더리셀에 부여하기 위한 시리얼 데이터를 입력하기 위한 TDI단자와, 상기 바운더리셀로부터의 데이터를 시리얼데이터로서 출력하기 위한 TDO단자와, 클록신호가 입력되는 TCK단자와, 상기 TAP회로의 동작모드를 전환하기 위한 모드신호가 입력되는 TMS단자를 구비한 복수의 바운더리 스캔소자와, 상기 바운더리 스캔소자에 접속되고 또는 이것이 수납된 IC를 갖는 복수의 단말기와, 상기 단말기를 개별적으로 제어하기 위한 통신데이터를 상기 바운더리 스캔소자를 통하여 송수신하기 위한 통신 컨트롤러로 되는 통신장치로, 각 상기 단말기는 상기 입력단자 및 상기 출력단자가 각각 병렬로 접속된 2 개의 바운더리 스캔소자로 되는 바운더리 스캔소자군이 접속되고 또는 이것이 짜넣어진 IC를 가지며, 상기 통신컨트롤러는 상기 바운더리 스캔소자에 통신데이터를 송출하기 위한 통신데이터 출력단자와 상기 바운더리 스캔소자에서 통신데이터를 수취하기 위한 통신데이터 입력단자로 되는 단자부를 2개 구비하고, 어느 한쪽의 상기 단자부에 상기 바운더리 스캔소자군의 다른 한쪽의 상기 바운더리 스캔소자가, 또는 다른쪽의 상기 단자부에 상기 바운더리 스캔소자군의 다른쪽의 상기 바운더리 스캔소자가 각각 직렬로 또한 통신데이터의 전송방향이 역이 되도록 접속된 것을 특징으로 하는 통신장치가 제공된다(청구항 2).
본 발명에서는 각 상기 단말기에 2개의 상기 바운더리 스캔소자를 할당하고, 또한 각 상기 바운더리 스캔소자는 그 통신데이터의 전송방향이 역이 되도록 상기 통신 컨트롤러에 접속되어 있다. 따라서 통상은 한쪽의 상기 바운더리 스캔소자만을 사용하여 통신처리를 행하고, 통신선 일부가 단선될 경우는 다른쪽의 상기 바운더리 스캔소자를 사용하여 통신처리를 행함으로써 모든 상기 단말기에의 통신데이터 입출력이 가능해진다.
본 발명의 통신장치에 있어서, 상기 단말기로는 각종 센서장치, 가령 감시카메라장치 등이 있다. 그리고, 그 단말기와 상기 바운더리 스캔소자의 접속에 있어서는 상기 출력단자는 상기 단말기의 입력단자에 상기 입력단자는 상기 단말기의 출력단자에 각각 접속되고, 이에따라 상기 바운더리셀의 데이터가 그 단말기에 출력되고, 또, 반대로 상기 바운더리셀에 데이터가 입력된다.
상기 통신데이터에는, 상기 단말기를 제어하기 위하여 그 단말기에 송출되는 제어데이터외에 상기 단말기에서 송출되는 그 단말기가 검출한 데이터나 그 단말기가 정상으로 구동하고 있는지 여부 등의 상태데이터도 포함된다.
제 1형태의 내용
도 1은 본 발명의 통신장치(1a)를 나타내는 블록도이다.
통신장치(1a)는 복수의 바운더리 스캔소자(3a∼3d)와, 각 바운더리 스캔소자 (3a∼3d)에 접속된 센서장치(단말기; 4a∼4d)와, 바운더리 스캔소자(3a∼3d)를 통하여 센서장치(4a∼4d)를 제어하기 위한 통신컨트롤러장치(2)와, 통신컨트롤러장치 (2)와 바운더리 스캔소자(3a) 사이 및 인접한 바운더리 스캔소자(3a∼3d) 사이를 접속하기 위한 통신선(케이블; 5)을 구비하고, 또 통신컨트롤러장치(2)에는 호스트 컴퓨터장치(6)가 접속된다.
바운더리 스캔소자(3a∼3d)는 도 4 표시의 것과 동일구성의 것으로, 통신선 (5)을 통하여 통신컨트롤러장치(2)에 직렬로 접속되어 있다.
또 바운더리 스캔소자(3a∼3d)의 출력단자 및 입력단자는 각각 대응하는 센서장치(4a∼4d)의 입력단자 및 출력단자(도시안됨)에 접속되어 있고, 이에 따라 바운더리셀에 세트된 통신데이터가 센서장치(4a∼4d)에 송출되고, 또 센서장치 (4a∼4d)로부터의 통신데이터가 바운더리셀에 송출되어 세트된다.
센서장치(4a∼4d)는 감시대상물에 대응하는 위치에 배치되고, 온도, 압력 등을 측정하는 각종 센서, 또는 감시대상이 되는 CPU회로의 동작상태를 감시하는 감시회로 등을 구비한다. 그리고, 바운더리 스캔소자(3a∼3d)를 통하여 부여된 제어데이터 등으로 지정된 측정조건이나 감시조건등에 응하여 측정동작 또는 감시동작을 실행함과 동시에 그에 따라 얻은 측정결과나 감시결과 등을 바운더리 스캔소자(3a∼3d)를 통하여 통신컨트롤러장치(2)에 송출한다.
통신컨트롤러장치(2)는 하드웨어회로나 마이크로프로세서회로 등을 구비하고 있으며, 호스트 컴퓨터장치(6)에서 출력된 지시내용에 의거하여 TMS단자(2) 및 TCK단자(2d)에서 바운더리 스캔소자(3a∼3d)를 구동하는데 필요한 신호를 송출한다. 또, 출력단자(2a)에서 센서장치(4a∼4d)를 제어하기 위한 제어데이터를 송출하고, 또 센서장치(4a∼4d)가 얻은 데이터를 입력단자(2b)에서 수취하고 이것을 호스트 컴퓨터장치(6)에 공급하는 처리 등을 행한다.
통신선(5)은 TCK용 통신선(11)과 TMS용 통신선(10)과 왕로측 통신선(7)과 귀로측 통신선(8,9)을 하나로 묶은 케이블이다.
TCK용 통신선(11)은 통신컨트롤러장치(2)의 TCK단자(2d)와 각 바운더리 스캔소자(3a∼3d)의 TCK단자를 접속하고, 이에 따라 각 바운더리 스캔소자(3a∼3d)가 동기하여 기능한다. TMS용 통신선(10)은 통신컨트롤러장치(2)의 TMS단자(2c)와 각 바운더리 스캔소자(3a∼3d)의 TMS단자와 접속한다.
귀로측 통신선(9)은 통신컨트롤러(2)의 입력단자(2b)와, 통신선(5)을 통하여 통신컨트롤러(2)에 직접 접속된 바운더리 스캔소자(3a)의 TDO단자와의 사이를 접속하고, 귀로측 통신선(8)은 인접한 각 바운더리 스캔소자(3a∼3d)의 TDO단자와 TDI단자 사이를 각각 접속한다.
왕로측 통신선(7)은 통신컨트롤러(2)의 데이터출력단자(2a)와 통신컨트롤러 (2)에 직렬로 접속된 바운더리 스캔소자(3a∼3d)의 TDI단자를 접속한다.
다음에, 이와같은 구성으로 되는 통신장치(1a)의 작용에 대하여 설명한다.
호스트 컴퓨터장치(6)에서 센서장치(4a∼4d)를 구동하는 명령이 송출되면, 통신컨트롤러장치(2)에서는 그 명령에 따른 제어데이터가 작성된다. 그리고 통신컨트롤러장치(2)는 TMS단자(2c)에서 모드신호를 송출하여 각 바운더리 스캔소자(3a∼3d)를 필요한 동작모드로 전환함과 동시에 제어데이터를 왕로측 통신선(7)에 송출하고, 이에 따라 각 바운더리 스캔소자(3a∼3d)의 바운더리셀에 제어데이터가 세트된다.
다음에, 통신컨트롤러장치(2)가 TMS단자(2c)에서 제어데이터의 출력지령을 나타내는 모드신호를 출력하고, 이에 따라 각 바운더리 스캔소자(3a∼3d)의 바운더리셀에 세트된 제어데이터가 대응하는 센서장치(4a∼4d)에 송출된다.
센서장치(4a∼4d)는 수취한 제어데이터의 내용에 따라 측정동작 또는 감시동작 등을 실행한다. 또, 제어데이터의 내용에 따라 측정데이터 감시데이터 또는 센서장치(4a∼4d) 자체에 상태 데이터 등을 대응하는 센서장치(4a∼4d)에 출력한다.
다음에, 호스트 컴퓨터장치(6)에서 센서장치(4a∼4d)의 측정데이터 등을 수집하는 명령이 송출되면 통신컨트롤러장치(2)는 TMS단자(2c)에서 모드신호를 송출하여 각 바운더리 스캔소자(3a∼3d)를 필요한 동작모드로 전환하고, 이에 따라 각 바운더리 스캔소자(3a∼3d)의 바운더리셀에 대응하는 센서장치(4a∼4d)에서 측정데이터 등의 검지데이터 등이 세트된다. 그리고, 통신컨트롤러장치(2)가 TMS단자 (2c)에서 통신데이터의 전송지령을 나타내는 모드신호를 출력하고, 이에 따라 각 바운더리 스캔소자(3a∼3d)의 바운더리셀에 세트된 검지데이터 등이 통신컨트롤러장치(2)에 전송된다. 그 후, 호스트 컴퓨터장치(6) 또는 통신컨트롤러장치(2)는 수취한 검지데이터 등의 해석 등을 행한다.
한편, 통신도중에 통신선(5)이 단선될 경우, 가령 바운더리 스캔소자(3c와 3d) 사이에서 통신선(5)이 단선될 경우는 바운더리 스캔소자(3d)에는 클록신호가 공급되지 않으므로 바운더리 스캔소자(3d)는 정지한다. 그러나, 다른 바운더리 스캔소자(3a∼3c)에는 클록신호 및 TMS신호가 공급되고 또, 바운더리 스캔소자(3a와 3c) 사이의 귀로측 통신선(8)이 접속되어 있으므로, 바운더리 스캔소자(3a∼3c)에 세트되어 있는 통신데이터를 통신컨트롤러장치(2)에 전송할 수도 있다. 통신컨트롤러장치(2)는 수취한 통신데이터중에 바운더리 스캔소자(3d)의 데이터가 없는 것을 식별하고 단선 유무 및 대략 그 단선개소가 판명된다.
동일하게, 바운더리 스캔소자(3b 와 3c) 사이에 단선이 발생할 경우는 바운더리 스캔소자(3a 와 3b)에 세트되어 있는 통신데이터를 바운더리 스캔소자(3a 와 3b) 수취함으로써, 또는 바운더리 스캔소자(3a 와 3b) 사이에 단선이 발생할 경우에는 바운더리 스캔소자(3a)에 세트되어 있는 통신데이터를 수취함으로써 통신컨트롤러장치(2)는 단선 유무, 단선개소를 식별할 수 있다.
이와같이 본 발명의 통신장치(1a)는 종래의 통신장치와 동일한 구성이면서 그 배선에 궁리를 함으로써 단선 유무, 단선개소를 식별할 수 있다.
제 2 형태의 내용
도 2는 본 발명의 다른 통신장치(1b)를 나타내는 블록도이다.
통신장치(1b)는 복수의 바운더리 스캔소자군(55a ∼55d)과, 각 바운더리 스캔소자군(55a∼55d)에 접속된 센서장치(4a∼4d)와, 바운더리 스캔소자군(55a ∼55d)을 통하여 센서장치(4a∼4d)를 제어하기 위한 통신컨트롤러장치(57)를 구비하고, 또한 통신컨트롤러장치(57)에는 호스트 컴퓨터장치(6)가 접속된다.
각 바운더리 스캔소자군(55a∼55d)은 도 3과 같이 2개의 바운더리 스캔소자군(76, 77)과, 센서장치(4a∼4d)의 입력단자 및 출력단자(도시안됨)에 각각 접속되는 출력단자(73) 및 입력단자(75)와, 우회전측 TDI단자(58) 및 TDO단자(59)와, 좌회전측 TDI단자(60) 및 TDO단자(61)와, TMS단자(62)와, TCK단자(63)를 구비한 1개의 패키지의 것이다.
바운더리 스캔소자(76,77)는 각각 도 4 표시의 것과 동일 구성의 것으로, 각 출력단자(83,90), 입력단자(84,91), TMS단자(79, 86) 및 TCK단자(80, 87)가 바운더리 스캔소자군(55a ∼55d)의 대응하는 각단자(출력단자(73), 입력단자(75), TMS단자(62) 및 TCK단자(63))에 병렬로 접속되어 있다.
따라서 바운더리 스캔소자(76, 77)는 모두 대응하는 센서장치(4a∼4d)에 대하여 통신데이터의 입출력이 가능하고, 또, 동기하여 구동한다.
그리고 바운더리 스캔소자(76)의 TDI단자(81)는 바운더리 스캔소자군의 우회전측 TDI단자(58)에, TDO단자(82)는 우회전측 TDO단자(59)에 접속되어 있고, 바운더리 스캔소자(76)는 우회전통신선(64, 65, 66)으로만 통신데이터를 수취하고, 또 여기에 통신데이터를 송출한다. 동일하게 바운더리 스캔소자(77)의 TDI단자(88)는 우회전측 TDI단자(60)에, TDO단자(89)는 좌회전측 TDO단자(61)에 접속되어 있고, 바운더리 스캔소자(77)는 좌회전 통신선(67, 68, 69)으로만 통신데이터를 수취하고, 또, 여기에 통신데이터를 송출한다.
센서장치(4a∼4d)는 상기 통신장치(1a)의 것과 구성 및 기능이 동일한 것이다.
통신컨트롤러장치(57)는 하드웨어회로나 마이크로프로세서회로 등을 구비하고 있으며, 호스트 컴퓨터장치(6)에서 출력된 지시내용에 의거하여 TMS단자(57e 또는 f)와, TCK단자(57g 또는 h)에서 TMS용 통신선(70) 또는 TCK용 통신선(71)을 통하여 각 바운더리 스캔소자군(55a ∼55d)의 TMS단자(62) 및 TCK단자(63)에 필요한 신호를 송출하고, 여기에 내장된 각 바운더리 스캔소자(76,77)를 구동한다.
또, 통신컨트롤러장치(57)는 우회전측 출력단자(57a)와 우회전측 입력단자 (57b)로 되는 단자부와, 좌회전측 출력단자(57c)와 좌회전측 입력단자(57d)로 되는 단자부를 구비하고, 우회전측 출력단자(57a) 및 좌회전측 출력단자(57c)에서 각 센서장치(4a∼4d)를 제어하기 위한 제어데이터를 송출하고 또 각 센서장치(4a∼4d)의 검출데이터 또는 상태데이터를 우회전측 입력단자(57b) 및 좌회전측 입력단자(57d)에서 수취하고, 이것을 호스트 컴퓨터장치(6)에 공급하는 처리 등을 행한다.
여기서, 통신장치(1b)는 각 바운더리 스캔소자군(55a ∼55d)에 내장된 각 바운더리 스캔소자(76)와, 각 바운더리 스캔소자(77)가 각 통신데이터의 전송방향이 역행하도록 통신컨트롤러장치(57)에 접속되어 있다.
구체적으로는 우선, 모든 바운더리 스캔소자(76)는 우회전통신선(64,65,66)을 통하여, 통신컨트롤러장치(57)에 직렬로 접속되어 있고, 모든 바운더리 스캔소자(77)는 좌회전 통신선(67,68,69)을 통하여 통신컨트롤러장치(57)에 직렬로 접속되어 있다.
그리고, 통신컨트롤러장치(57)의 우회전측 출력단자(57a)는 우회전통신선 (64)을 통하여 바운더리 스캔소자군(55a)의 우회전측 TDI단자(58)에 접속되고, 또 바운더리 스캔소자군(55a∼55d) 사이의 각 우회전측 TDO단자(59)와 각 우회전측 TDI단자(58)는 우회전 통신선(65)을 통하여 접속되고, 최후로, 바운더리 스캔소자군 (55d)의 우회전측 TDO단자(55)는 통신컨트롤러장치(57)의 우회전측 입력단자(57b)에 우회전통신선(66)을 통하여 접속되어 있다. 이 때문에 통신컨트롤러장치(57)의 우회전측 출력단자(57a)에서 각 바운더리 스캔소자군(76)에 송출된 제어데이터 또는 각 센서장치(4a∼4d)에서 각 바운더리 스캔소자(76)가 얻은 검지데이터 및 상태데이터는 항상 바운더리 스캔소자군(55a → 55b → 55c → 55d)방향으로 전송된다.
한편, 통신컨트롤러장치(57)의 좌회전측 출력단자(57c)는 좌회전 통신선(67)을 통하여 바운더리 스캔소자군(55d)의 좌회전측 TDI단자(60)에 접속되고 또, 바운더리 스캔소자군(55d∼55a) 사이의 각 좌회전측 TDO단자(61)와 각 좌회전측 TDI단자 (60)와는 좌회전 통신선(68)을 통하여 접속되고, 최후로 바운더리 스캔소자군(55a)의 좌회전측 TDO단자(61)는 통신컨트롤러장치(57)의 좌회전측 입력단자(57d)에 좌회전 통신선(69)을 통하여 접속되어 있다. 이 때문에 통신컨트롤러장치(57)의 좌회전측 출력단자(57c)에서 각 바운더리 스캔소자(77)에 송출된 제어데이터, 또는 각 센서장치(4a∼4d)에서 각 바운더리 스캔소자(77)가 얻은 검지데이터 및 상태데이터는 항상 바운더리 스캔소자군(55d → 55c → 55b → 55a)의 방향으로 전송된다.
다음에 이와같은 구성으로 되는 통신장치(1b)의 작용에 대하여 설명한다.
통신장치(1b)에서는 통신선(56)의 단선이 없는 통상의 통신처리에 있어서는 바운더리 스캔소자군(55a∼55d)의 바운더리 스캔소자(76, 77)중, 바운더리 스캔소자(76)만을 구동하여 통신처리를 행한다.
즉, 호스트 컴퓨터장치(6)에서 센서장치(4a∼4d)를 구동하는 명령이 송출되면 통신컨트롤러장치(57)에서는 그 명령에 따라 제어데이터가 작성된다. 그리고, 통신컨트롤러장치(2)는 TMS단자(57e 또는 f)에서 모드신호를 송출하여 각 바운더리 스캔소자(76, 77)를 필요한 동작모드로 전환함과 동시에 제어데이터를 우회전측 출력단자(57a)에서 우회전 통신선(64,65)을 통하여 바운더리 스캔소자(76)에 송출하고, 이에 따라 각 바운더리 스캔소자(76)에 제어데이터가 세트된다.
다음에 통신컨트롤러장치(57)가 TMS단자(57e 또는 f)에서 제어데이터의 출력지령을 나타내는 모드신호를 출력하고, 이에 따라 각 바운더리 스캔소자(76)에 세트되어 있던 제어데이터가 대응하는 센서장치(4a∼4d)에 송출된다.
센서장치(4a∼4d)는 수취한 제어데이터의 내용에 따라 측정동작 또는 감시동작 등을 실행한다. 또, 제어데이터의 내용에 따라 측정데이터, 감시데이터 또는 센서장치(4a∼4d) 자체의 상태데이터 등을 대응하는 바운더리 스캔소자(76)에 출력한다.
다음에 호스트 컴퓨터장치(6)에서 센서장치(4a∼4d)의 측정데이터 등을 수집하는 명령이 송출되면 통신컨트롤러장치(57)는 TMS단자(57e 또는 f)에서 모드신호를 송출하여 각 바운더리 스캔소자(76)를 필요한 동작모드로 전환하여 각 바운더리 스캔소자(76)에 대응한 센서장치(4a∼4d)에서 측정데이터 등의 검지데이터 등이 세트되고, 그후 각 바운더리 스캔소자(76)에 세트되어 있던 검지데이터 등의 우회전 통신선(65,66)을 통하여 통신컨트롤러장치(57)의 우회전측 입력단자(57b)에 전송된다. 그후, 호스트 컴퓨터장치(6) 또는 통신컨트롤러장치(57)는 수취한 검지데이터 등의 해석 등을 행한다.
한편, 바운더리 스캔소자(76)만을 구동한 상기 통신처리를 행하고 있는 도중에 통신선(56) 일부, 가령 바운더리 스캔소자군(55b, 55c) 사이에서 통신선(56)이 단선될 경우, 통신컨트롤러장치(57)는 센서장치(4c,4d)에 대하여는 제어데이터 송출이 불가능해지고, 또 센서장치(4a, 4b)로부터의 검지데이터 또는 상태데이터 수취는 불가능하다.
이 경우 통신컨트롤러장치(57)는 우회측 입력단자(57b)에서 수취한 통신데이터에 센서장치(4a, 4b)로부터의 검지데이터 또는 상태데이터가 포함되지 않음에 의거하여 단선 유무 및 단선 개소를 특정할 수 있다.
여기서, 바운더리 스캔소자(77)는 통신데이터의 전송방향이 바운더리 스캔소자(76)와는 반대가 되어 있으므로 통신컨트롤러장치(57)는 이 바운더리 스캔소자 (77)를 통하여 센서장치(4a,4b)의 검지데이터 또는 상태데이터 수취와 센서장치 (4a, 4d)에의 통신데이터 전송은 가능하다.
그래서, 통신컨트롤러장치(57)는 TMS단자(57e 또는 f)에서 모드신호를 송출하여 바운더리 스캔소자(76)가 아니라 바운더리 스캔소자(77)를 구동하고, 이에따라 각 바운더리 스캔소자(77)에 센서장치(4a,4b)의 검지데이터 또는 상태데이터를 세트시킨다. 그리고, 각 바운더리 스캔소자(77)에 세트된 센서장치(4a, 4b)의 검지데이터 등이 좌회전 통신선(68, 69)을 통하여 통신컨트롤러장치(57)의 좌회전측 입력단자(57d)에 전송된다.
또, 동일하게 통신컨트롤러장치(57)는 좌회전측 출력단자(57c)에서 좌회전 통신선(67, 68)을 통하여 바운더리 스캔소자(55d, 55c)의 바운더리 스캔소자(77)에 새로운 제어데이터를 송출함으로써 센서장치(4d,4c)에 새로운 제어데이터를 송출할 수도 있다.
따라서, 통신컨트롤러장치(57)는 통신선(56) 일부에 단선이 발생한 경우라도 모든 센서장치(4a∼4d)와 통신데이터의 송수신이 가능해진다.
이와같이 통신장치(1b)에서는 각 센서장치(4a∼4d)에 2개의 바운더리 스캔소자(76,77)를 구비한 바운더리 스캔소자군(55a∼55d)을 접속하고, 또한 각 바운더리 스캔소자(76,77)의 통신데이터 전송방향을 반대로 했기 때문에 통신선(56)이 단선할 경우라도 각 센서장치(4a∼4d)에 통신데이터를 송출하고 또 각 센서장치 (4a∼4d)에서 통신데이터를 수취할 수 있다.
Claims (2)
- 각 입력단자 및 출력단자에 개별적으로 할당된 복수의 바운더리셀과, 그 바운더리셀에의 데이터의 입출력을 제어하기 위한 TAP회로와, 상기 바운더리셀에 부여하기 위한 시리얼 데이터를 입력하기 위한 TDI단자와, 상기 바운더리셀로부터의 데이터를 시리얼 데이터로서 출력하기 위한 TDO단자와, 클록신호가 입력되는 TCK단자와, 상기 TAP회로의 동작모드를 전환하기 위한 모드신호가 입력되는 TMS단자를 구비한 바운더리 스캔소자와,각 상기 바운더리 스캔소자에 접속되고 또는 이것이 짜넣어진 IC를 갖는 복수의 단말기와,상기 바운더리 스캔소자가 직렬로 접속되고, 상기 단말기를 개별적으로 제어하기 위한 통신데이터를 상기 바운더리 스캔소자를 통하여 송수신하기 위한 통신컨트롤러와,인접한 상기 바운더리 스캔소자 사이, 및 상기 바운더리 스캔소자와 상기 통신컨트롤러와의 사이를 각각 접속하기 위하여 설치되고, 클록신호선과 모드신호선과 왕로측 통신선과 귀로측 통신선을 묶은 케이블로 구성되는 통신장치로서,상기 귀로측 통신선은 상기 통신컨트롤러의 데이터 입력단자와, 상기 케이블을 통하여 상기 통신컨트롤러와 직접 접속된 상기 바운더리 스캔소자의 상기 TDO단자와의 사이, 및 인접한 각 상기 바운더리 스캔소자의 상기 TDO단자와, 상기 TDI단자와의 사이를 각각 접속한 것으로서,상기 왕로측 통신선은 상기 통신컨트롤러의 데이터 출력단자와, 상기 통신컨트롤러에서 보아 최후방에 위치하는 상기 바운더리 스캔소자의 상기 TDI단자를 접속한 것임을 특징으로 하는 통신장치.
- 각 입력단자 및 출력단자에 개별적으로 할당된 복수의 바운더리셀과, 그 바운더리셀에의 데이터의 입출력을 제어하기 위한 TAP회로와, 상기 바운더리셀에 부여하기 위한 시리얼 데이터를 입력하기 위한 TDI단자와, 상기 바운더리셀로부터의 데이터를 시리얼 데이터로서 출력하기 위한 TDO단자와, 클록신호가 입력되는 TCK단자와, 상기 TAP회로의 동작모드를 전환하기 위한 모드신호가 입력되는 TMS단자를 구비한 복수의 바운더리 스캔소자와,상기 바운더리 스캔소자에 접속되고 또는 이것이 짜넣어진 IC를 갖는 복수의 단말기와,상기 단말기를 개별적으로 제어하기 위한 통신데이터를 상기 바운더리 스캔소자를 통하여 송수신하기 위한 통신컨트롤러로 구성되는 통신장치로서,각 상기 단말기는 상기 입력단자 및 상기 출력단자가 각각 병렬로 접속된 2개의 바운더리 스캔소자로 이루어지는 바운더리 스캔소자군이 접속되고 또는 이것이 짜넣어진 IC를 가지고,상기 통신컨트롤러는 상기 바운더리 스캔소자에 통신데이터를 송출하기 위한 통신데이터 출력단자와 상기 바운더리 스캔소자에서 통신데이터를 수취하기 위한 통신데이터 입력단자로 구성되는 단자부를 2개 구비하고,어느 한쪽의 상기 단자부에 상기 바운더리 스캔소자군의 어느 한쪽의 상기 바운더리 스캔소자가 또, 다른쪽의 상기 단자부에 상기 바운더리 스캔소자군의 다른쪽의 상기 바운더리 스캔소자가 각각 직렬로 또한 통신데이터의 전송방향이 반대가 되도록 접속된 것을 특징으로 하는 통신장치.
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US20010037479A1 (en) * | 2000-04-28 | 2001-11-01 | Whetsel Lee D. | Selectable dual mode test access port method and apparatus |
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US6934898B1 (en) * | 2001-11-30 | 2005-08-23 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Test circuit topology reconfiguration and utilization techniques |
US7835372B2 (en) * | 2002-05-13 | 2010-11-16 | Weilin Wang | System and method for transparent wireless bridging of communication channel segments |
US20050201346A1 (en) * | 2003-05-13 | 2005-09-15 | Weilin Wang | Systems and methods for broadband data communication in a wireless mesh network |
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US20040229566A1 (en) * | 2003-05-13 | 2004-11-18 | Weilin Wang | Systems and methods for congestion control in a wireless mesh network |
US7957356B2 (en) | 2002-05-13 | 2011-06-07 | Misomino Chi Acquisitions L.L.C. | Scalable media access control for multi-hop high bandwidth communications |
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US7069483B2 (en) | 2002-05-13 | 2006-06-27 | Kiyon, Inc. | System and method for identifying nodes in a wireless mesh network |
US7852796B2 (en) * | 2002-05-13 | 2010-12-14 | Xudong Wang | Distributed multichannel wireless communication |
US20050201340A1 (en) * | 2002-05-13 | 2005-09-15 | Xudong Wang | Distributed TDMA for wireless mesh network |
KR20050089889A (ko) * | 2003-01-28 | 2005-09-08 | 코닌클리즈케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | 물리적 동작 파라미터 감지용 집적 센서를 갖는 집적 회로장치와 이러한 장치를 갖는 전자 시스템의 테스트 방법 및이를 포함하는 전자 장치 |
US8175613B2 (en) * | 2006-08-04 | 2012-05-08 | Misonimo Chi Acquisitions L.L.C. | Systems and methods for determining location of devices within a wireless network |
EP2092664A4 (en) * | 2006-12-07 | 2013-10-16 | Misonimo Chi Acquisition L L C | SYSTEMS AND METHODS FOR TIME WINDOW AND CHANNEL ALLOCATION |
GB0712373D0 (en) * | 2007-06-26 | 2007-08-01 | Astrium Ltd | Embedded test system and method |
US7984348B2 (en) * | 2008-07-29 | 2011-07-19 | Texas Instruments Incorporated | Series equivalent scans across multiple scan topologies |
US8331163B2 (en) * | 2010-09-07 | 2012-12-11 | Infineon Technologies Ag | Latch based memory device |
US9208571B2 (en) | 2011-06-06 | 2015-12-08 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Object digitization |
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---|---|---|---|---|
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JPH01229982A (ja) | 1988-03-10 | 1989-09-13 | Fujitsu Ltd | スキャン試験方式 |
US4989209A (en) | 1989-03-24 | 1991-01-29 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for testing high pin count integrated circuits |
US5130988A (en) * | 1990-09-17 | 1992-07-14 | Northern Telecom Limited | Software verification by fault insertion |
US5132635A (en) * | 1991-03-05 | 1992-07-21 | Ast Research, Inc. | Serial testing of removable circuit boards on a backplane bus |
JPH04281691A (ja) | 1991-03-11 | 1992-10-07 | Sony Corp | デジタル信号処理回路の自己診断装置 |
US5325368A (en) * | 1991-11-27 | 1994-06-28 | Ncr Corporation | JTAG component description via nonvolatile memory |
US5377198A (en) * | 1991-11-27 | 1994-12-27 | Ncr Corporation (Nka At&T Global Information Solutions Company | JTAG instruction error detection |
US5400345A (en) | 1992-03-06 | 1995-03-21 | Pitney Bowes Inc. | Communications system to boundary-scan logic interface |
JPH05273311A (ja) * | 1992-03-24 | 1993-10-22 | Nec Corp | 論理集積回路 |
US5617420A (en) | 1992-06-17 | 1997-04-01 | Texas Instrument Incorporated | Hierarchical connection method, apparatus, and protocol |
JP2960261B2 (ja) | 1992-07-04 | 1999-10-06 | 三洋化成工業株式会社 | 汚泥脱水剤 |
US5450415A (en) * | 1992-11-25 | 1995-09-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Boundary scan cell circuit and boundary scan test circuit |
US5333139A (en) * | 1992-12-30 | 1994-07-26 | Intel Corporation | Method of determining the number of individual integrated circuit computer chips or the like in a boundary scan test chain and the length of the chain |
WO1994019741A2 (en) * | 1993-02-25 | 1994-09-01 | Reticular Systems, Inc. | Real-time rule based processing system |
JPH06300821A (ja) | 1993-04-14 | 1994-10-28 | Nec Corp | コントローラ内蔵のlsi |
US5544309A (en) * | 1993-04-22 | 1996-08-06 | International Business Machines Corporation | Data processing system with modified planar for boundary scan diagnostics |
US5535222A (en) | 1993-12-23 | 1996-07-09 | At&T Corp. | Method and apparatus for controlling a plurality of systems via a boundary-scan port during testing |
JPH08233904A (ja) | 1995-02-27 | 1996-09-13 | Nec Eng Ltd | バウンダリスキャン回路 |
US5487074A (en) * | 1995-03-20 | 1996-01-23 | Cray Research, Inc. | Boundary scan testing using clocked signal |
JPH0915299A (ja) | 1995-06-27 | 1997-01-17 | Nec Eng Ltd | バウンダリスキャン回路およびこれを用いた集積 回路 |
US5862152A (en) * | 1995-11-13 | 1999-01-19 | Motorola, Inc. | Hierarchically managed boundary-scan testable module and method |
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