JPH01229982A - スキャン試験方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 スキャン試験回路の終端装置を指定し得るスキャン試験
方式に関し、 ＩＣ装置のスキャン回路の障害が発生した場合に、容易
にその障害ＩＣ装置を特定することができる方式を提供
することを目的とし、 当該装置のスキャンフリップフロップを直列に接続して
なるスキャン回路と、前段装置から入力するスキャン信
号を前記スキャン回路と該前段装置とに切り換え出力す
る入力信号切換回路と、前記スキャン回路の出力信号を
後段装置と前記入力信号切換回路とに切り換え出力する
出力信号切換回路と、前記入力信号切換回路と出力信号
切換回路とをそれぞれ制御する入力制御回路と出力制御
回路とを備えた複数の装置を直列に接続して試験回路を
構成、し、 スキャン制御回路が該試験回路の先頭装置にスキャン信
号を入力するとともに、それぞれの装置の入力制御回路
と出力制御回路とを順次直列に接続して形成した制御信
号ループに送出するループ信号によって、前記試験回路
の終端装置を指定し得るようスキャン試験回路を構成す
る。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、スキャン試験回路の終端装置を指定し得るス
キャン試験方式に関するものである。

ＬＳＩ素子、あるいはＩＣ素子の内部回路の状態を検出
するために、スキャンフリップフロップを検出点に配置
して、そのスキャンフリップフロップの値を読み出した
り　（スキャンアウト）、ある値を書き込んだり　（ス
キャンイン）してＬＳＩ素子、あるいはＩＣ素子（以下
、Ｉｃ装置と称する）の内部回路を試験することが行わ
れる。

このようなスキャン試験において、スキャンアウト、ス
キャンイン回路に故障が発生すると、障害個所の切り分
け（障害発生点の検出）が難しくなる。

最近のＩＣ装置のように実装密度が極めて大きくなって
も、このような障害に容易に対応できる方式が要望され
る。

〔従来の技術〕

従来、ＩＣ装置の内部回路の状態を調査するには、装置
を停止して内部のフリップフロ・ノブの状態を検出して
調査する。

そのため、これらフリップフロップに順次データを書き
込み、且つ読み出して試験するスキャン試験が行われる
が、従来、２つのスキャン試験の回路方式がある。即ち
、 ■スキャンすべき回路をＲＡＭのようなメモリと同様に
構成し、アドレスによってそれぞれのフリップフロップ
を指定してスキャンデータを書き込み、あるいは読み出
す。

■スキャンすべき回路をシフトレジスタと同様にシフト
クロックでスキャンデータを直列に入力して巡回する方
式とがある。

第２図は従来のスキャン試験の上記■の例を説明する図
であって、内部回路の所定点における、例えば３個のフ
リップフロップにスキャンフリップフロップＦ１〜Ｆ３
を使用して、それらフリップフロップを直列に接続して
シフトレジスタＳを構成する。

そして、試験すべきＩＣ装置Ｂ−Ｚのそれぞれのシフト
レジスタ５ｂ−５ｚを更に直列に接続してスキャン回路
を構成し、１つのＩＣ装置Ａに設けられたスキャン制御
回路１が最初のＩＣ装置Ｂのシフトレジスタｓｂから直
列信号、即ち、スキャン信号を入力する。

スキャン制御回路１は、その信号がＩＣ装置Ｂ〜Ｚを一
巡して返された信号と一致することをチエツクすること
によって、被試験ＩＣ装置の動作の正常性を確認してい
た。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記したこのような従来の前者の方式■では、回路構成
とその制御が極めて複雑となり、多数のＩＣ装置の試験
を行うには試験時間が多くかかってしまう。

また、後者の方式■では、一般に行われる試験方式であ
るが、入力したスキャン信号と一致する信号が戻って来
なかった場合、そして、特にスキャン回路系統の障害に
よる時は、ＩＣ装置の端子におけるデータで調査を行う
方法しかなく、所要のチエツクしたいデータが必ずしも
端子で検出されるとは限らないため、試験器の探触針に
よる調査を含めて障害調査が難しい。

本発明はこのような点に鑑みて創作されたものであって
、ＩＣ装置のスキャン回路の障害が発生した場合に、容
易にその障害ＸＣ装置を特定することができる方式を提
供することを目的としている。

〔課題を解決するための手段〕

上記した目的を達成するために、スキャンフリップフロ
ップを直列制御したスキャン回路と、スキャン信号の入
力信号切換回路と、スキャン回路の出力信号切換回路と
、入力制御回路と出力制御回路とを備えた複数の装置を
直列に接続した試験回路にスキャン制御回路からスキャ
ン信号とともに、入力制御回路と出力制御回路とを順次
直列接続した制御信号ループにループ信号を送出するよ
う構成する。

〔作　用〕

先ず、スキャン制御回路は入力制御回路プフロソプと出
力制御フリップフロップで構成された制御信号ループに
ループ信号によってそれぞれの装置の入力信号切換回路
とスキャンフリップフロップと出力信号切換回路が直列
に接続され、前段装置の出力信号切換回路と次段装置の
入力信号切換回路が接続されてスキャン制御回路に接続
されるループ形式のスキャン回路を構成する。

スキャン制御回路はスキャン信号を出力信号切換回路を
介して送出し、次段装置の入力信号切換回路に入力する
。

それぞれの装置のスキャンフリップフロップはシフトレ
ジスタを形成しているので、スキャン制御回路の直列信
号は順次、これらのシフトレジスタでシフトされる。

そして、スキャン信号は接続された装置を一巡してスキ
ャン制御回路に帰着する。

スキャン制御回路はこの帰着したスキャン信号を最初に
入力したスキャン信号と照合して、合致すれば、接続さ
れた装置を良とするが、合致しない場合には、スキャン
制御回路はループ信号によって一部の装置をスキャン回
路のループから外してスキャン回路のループを縮小し、
スキャン信号による試験を行い、各ループのスキャン試
験の結果から障害ＩＣ装置を特定することができる。

〔実　施　例〕

第１図は本発明のスキャン試験方式の一実施例の構成を
示すブロック図である。

なお、全図を通じて同一符号は同一対象物を示し、ＩＣ
装置を例に説明する。

第１図において、装置Ａはスキャン制御０回路１を備え
た装置で、各ｒｃ装置Ｂ　−Ｚ、が直列に接続される。

各ＩＣ装置は入力信号切換回路Ｉとスキャンフリップフ
ロップが直列に接続して構成されたシフトレジスタＳと
、出力信号切換回路０と、入力信号切換回路Ｉを制御す
る入力制御回路Ｆｌ、出力信号切換回路Ｏを制御する出
力制御回路ＦＯを備えている。

入力制御回路Ｆｌはフリップフロップで構成されていて
、「ｌ」の時、入力信号切換回路Ｉは人力するスキャン
信号をシフトレジスタＳに出力し、当該装置の出力信号
切換回路Ｏからの信号を前段装置の出力信号切換回路０
に出力する。

また、「０」の時、入力信号切換回路■入力するスキャ
ン信号は、再び前段装置の出力信号切換回路Ｏに返送さ
れる。

シフトレジスタを構成するスキャンフリップフロップは
、例えば第３図に示すように、データＤがクロックＣＫ
でセントされるフリップフロップである。

このフリップフロップはまた、スキャンイン信号ＳＣＩ
入力も、スキャンクロツタＳＣＫによってセットされ、
フリップフロップの内容はスキャンアウト信号ＳＣＯと
して取り出される。

このようなスキャンフリップフロップがスキャン信号端
子で直列に接続されてシフトレジスタが構成される。

出力制御回路ＦＯはフリップフロップで構成されていて
、ｒｌＪの時、出力信号切換回路■はシフトレジスタＳ
の出力信号を次段装置の入力信号切換回路■に出力され
、「０」の時、出力信号切換回路０はシフトレジスタＳ
の出力信号を当ｊｆ装置の入力信号切換回路ｌに出力さ
れる。

このようなＩＣ装置を直列に接続してスキャン試験回路
を形成し、先ず入力制御回路Ｆ［、出力制御回路ＦＯが
直列に接続されたループ制御回路にスキャン制御回路１
はループ信号をシフｌ−して送出する。

そして、すべての入力制御回路Ｆ■、出力制御回路ＦＯ
にｒｌＪをセントする。

装置Ａのスキャン制御回路１が出力するスキャン信号は
、出力信号切換回路Ｏａ　　（各回路符号はその回路が
属する装置符号を英小文字で付して示す）を介して次段
のＩＣ装置Ｂの入力信号切換回路！ａに入力し、順次Ｉ
Ｃ装置のシフトレジスタをＳを経てＩＣ装置Ｚで折り返
されてスキャン制御回路ｌに戻る。

即ち、スキャン回路がループ状に形成されて、スキャン
信号がスキャン制御回路ｌから出力され、各シフトレジ
スタを経て循環する。

従って、装置へから各ＩＣ装置のスキャンフリップフロ
ップの内容を読み出し、あるいは書き込むことができる
。

そして、例えばＩＣ”装置Ｂの人力制御回路Ｆｌｂを「
０」にし、他の入力制御回路Ｆｌ、出力制御回路ＦＯに
「１」をセントすると、スキャン信号はＩＣ装置Ｂの入
力信号切換回路Ｆｌｂで折り返すことになる。

即ち、スキャン信号のループの折り返し点が入力制御回
路ＦＩ、出力制御回路ＦＯに「０」をセットすることに
よって、スキャン（言分ル−フ゛を自由に変更すること
ができ、障害探索の場合、その障害点を細かく切り分け
ることができる。

〔発明の効果〕

以上の説明から明らかなように本発明によれば、クロッ
ク抜けに限らず、そのパルス幅、タイミングの異常も検
出でき、特に、大規模のＬＳＩ装置におけるスキャン回
路の障害に対して効率の良い障害調査が可能となり、工
業的に極めて有用である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のスキャン試験方式の一実施例の構成を
示すブロック図、 第２図は従来のスキャン試験を説明する図、第３図はス
キャンフリップフロップを説明する図である。・ 図において、 １はスキャン制御回路、 Ｓはスキャンフリップフロップで構成したシフトレジス
タ、 ■は入力信号切換回路、 ○は出力信号切換回路、 Ｆｌは入力制御回路、 ＦＯは出力制御回路を示す。 」ミ柄外朝、−声り濱シθすめ天噸〆に昏ｉｆフ゛Ｑニ
ア。 ｅ掲ズキャ〉バ、（釦ｈｔｔ呵ｎ口 第２図 ズトンフ１八、７°フロ、）゛９建−１３０第３図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 当該装置のスキャンフリップフロップを直列に接続して
   なるスキャン回路（Ｓ）と、 前段装置から入力するスキャン信号を前記スキャン回路
   （Ｓ）と該前段装置とに切り換え出力する入力信号切換
   回路（Ｉ）と、 前記スキャン回路（Ｓ）の出力信号を後段装置と前記入
   力信号切換回路（Ｉ）とに切り換え出力する出力信号切
   換回路（Ｏ）と、 前記入力信号切換回路（Ｉ）と出力信号切換回路（Ｏ）
   とをそれぞれ制御する入力制御回路（ＦＩ）と出力制御
   回路（ＦＯ）とを備えた複数の装置を直列に接続して試
   験回路を構成し、 スキャン制御回路（１）が該試験回路の先頭装置にスキ
   ャン信号を入力するとともに、それぞれの装置の入力制
   御回路（ＦＩ）と出力制御回路（ＦＯ）とを順次直列に
   接続して形成した制御信号ループに送出するループ信号
   によって、前記試験回路の終端装置を指定し得ることを
   特徴とするスキャン試験方式。