KR102491224B1 - 터치표시장치 및 터치패널 - Google Patents

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Abstract

실시예들은 터치표시장치 및 터치패널에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 터치전극들 간의 크기 또는 위치 또는 형상 등의 차이가 존재하더라도, 터치전극들에서 형성되는 캐패시턴스의 편차가 발생하지 않도록 하는 구조를 갖는 터치표시장치 및 터치패널에 관한 것이다. 이를 통해, 우수한 터치 감도를 얻을 수 있다.

Description

터치표시장치 및 터치패널{TOUCH DISPLAY DEVICE AND TOUCH PANEL}
실시예들은 터치표시장치 및 터치패널에 관한 것이다.
정보화 사회가 발전함에 따라 화상을 표시하기 위한 표시장치에 대한 요구가 다양한 형태로 증가하고 있으며, 근래에는 액정표시장치, 플라즈마표시장치, 유기발광표시장치 등과 같은 여러 가지 표시장치가 활용되고 있다.
이러한 표시장치 중에는, 버튼, 키보드, 마우스 등의 통상적인 입력방식에서 탈피하여, 사용자가 손쉽게 정보 혹은 명령을 직관적이고 편리하게 입력할 수 있도록 해주는 터치 기반의 입력방식을 제공하는 터치표시장치가 있다.
이러한 터치표시장치가 터치 기반의 입력 방식을 제공하기 위해서는, 사용자의 터치 유무를 파악하고 터치 좌표를 정확하게 검출할 수 있어야 한다.
이를 위해, 여러 가지의 터치 센싱 방식 중, 터치패널에 형성된 다수의 터치전극을 통해 터치전극에 형성되는 캐패시턴스의 변화를 토대로 터치 유무 및 터치 좌표 등을 검출하는 캐패시턴스 기반의 터치 센싱 방식이 많이 이용되고 있다.
종래의 터치표시장치는 터치패널의 형상, 터치전극들의 위치 등으로 인해, 터치전극들 간의 크기가 차이가 있을 수 있고, 이로 인해, 터치전극들에서 형성되는 캐패시턴스들 간의 원치 않는 편차가 발생하여 터치 감도가 떨어지는 문제점이 발생하고 있다.
이러한 배경에서, 실시예들의 목적은, 터치전극들의 위치에 관계없이, 모든 위치에 있는 터치전극들에서 형성되는 캐패시턴스들 간의 원치 않는 편차의 발생을 방지하거나 제거하여 우수한 터치 감도를 얻을 수 있는 터치표시장치 및 터치패널을 제공하는 데 있다.
또한, 실시예들의 다른 목적은, 터치패널의 형상에 관계없이 정확한 캐패시턴스를 기반으로 하는 터치 센싱이 가능한 터치표시장치 및 터치패널을 제공하는 데 있다.
또한, 실시예들의 또 다른 목적은, 터치전극들 간의 크기 차이가 존재하더라도, 터치전극들에서 형성되는 캐패시턴스들 간의 원치 않는 편차가 발생하는 것을 방지하여 우수한 터치 감도를 얻을 수 있는 터치표시장치 및 터치패널을 제공하는 데 있다.
또한, 실시예들의 또 다른 목적은, 터치전극들(TE) 간의 형상의 차이가 존재하더라도, 터치전극들(TE)에서 형성되는 캐패시턴스들 간의 원치 않는 편차가 발생하는 것을 방지하여 우수한 터치 감도를 얻을 수 있는 터치표시장치 및 터치패널을 제공하는 데 있다.
또한, 실시예들의 또 다른 목적은, 터치패널의 코너 영역이 라운드 형상인 경우, 코너 영역에 위치한 터치전극에 대하여 형성된 캐패시턴스와, 코너 영역이 아닌 영역에 위치한 터치전극에 대하여 형성된 캐패시턴스 간의 원치 않은 편차를 줄여주어, 모든 영역에서 우수한 터치 감도를 얻을 수 있는 터치표시장치 및 터치패널을 제공하는 데 있다.
실시예들은, 다수의 터치전극들이 배치된 터치패널과, 터치패널로 터치구동신호를 공급하는 터치회로를 포함하는 터치표시장치를 제공할 수 있다.
다수의 터치전극들 각각은 메쉬 타입으로 패터닝 된 전극 메탈일 수 있다.
다수의 터치전극들의 전체 또는 일부의 영역 내에는, 전극 메탈과 끊어진 하나 이상의 더미 메탈이 존재할 수 있다.
전극 메탈과 더미 메탈은 동일한 층에 위치할 수 있으며, 동일한 물질일 수 있다.
다수의 터치전극들은, 터치패널의 코너 영역에 위치한 터치전극인 코너 터치전극과, 터치패널의 비 코너 영역에 위치한 터치전극인 비 코너 터치전극을 포함할 수 있다.
코너 터치전극의 크기는 비 코너 터치전극의 크기보다 작을 수 있다.
비 코너 터치전극의 영역 내에는, 전극 메탈과 전기적으로 끊어진 하나 이상의 더미 메탈이 존재할 수 있다.
이에 비해, 코너 터치전극의 영역 내에는, 전극 메탈과 전기적으로 끊어진 더미 메탈이 미 존재할 수 있다.
또는, 코너 터치전극의 영역 내에는, 비 코너 터치전극의 영역 내에서 더미 메탈이 차지하는 영역의 비율보다 낮은 비율로 더미 메탈이 존재할 수 있다.
여기서, 코너 터치전극의 영역 내에서 하나 이상의 더미 메탈이 차지하는 비율은 코너 터치전극이 차지하는 전 영역의 면적(A)에 대하여 하나 이상의 더미 메탈이 차지하는 영역의 총 면적(B)의 비율(B/A)을 의미할 수 있다.
코너 터치전극의 영역 내에서 더미 메탈이 차지하는 영역의 비율은 코너 터치전극의 영역 내 더미 메탈의 개수 또는 면적 등의 조절을 통해 제어될 수 있다.
터치패널에서 1개 이상의 코너 영역의 외곽은 라운드 형상일 수 있다.
코너 터치전극의 외곽은 라운드 형상일 수 있다.
터치패널에는 다수의 터치전극들의 전체 또는 일부를 터치회로와 전기적으로 연결해주는 다수의 터치라인들이 배치될 수 있다.
코너 터치전극과 전기적으로 연결된 터치라인과, 비 코너 터치전극과 전기적으로 연결된 터치라인은, 다른 모양을 가질 수 있다.
코너 터치전극의 외곽의 윤곽은 라운드 져 있고, 코너 터치전극과 전기적으로 연결된 터치라인은 라운드 진 부분을 포함할 수 있다.
다수의 터치전극들은 뮤추얼-캐패시턴스 터치센서(Mutual-capacitance touch sensor)일 수 있다.
또는, 다수의 터치전극들은 셀프-캐패시턴스 터치센서(Self-capacitance touch sensor)일 수 있다.
하나의 터치전극이 차지하는 영역의 크기는 여러 개의 서브픽셀들이 차지하는 영역의 크기와 대응된다.
각 터치전극은 다수의 오픈 영역들이 있는 메쉬 타입의 전극 메탈이고, 각 오픈 영역은 하나 이상의 서브픽셀의 발광부와 대응될 수 있다.
각 터치전극에 해당하는 메쉬 타입으로 패터닝 된 전극 메탈은 블랙 매트릭스와 중첩이 되도록 위치한다. 즉, 전극 메탈과 중첩되도록 블랙 매트릭스들이 위치한다.
각 터치전극에 해당하는 메쉬 타입으로 패터닝 된 전극 메탈에서 다수의 오픈 영역들은 다수의 컬러필터들과 대응될 수 있다.
실시예들은, 다수의 터치전극들과, 다수의 터치전극들의 전체 또는 일부와 연결된 다수의 터치라인들을 포함하는 터치패널을 제공할 수 있다.
다수의 터치전극들 각각은 메쉬 타입으로 패터닝 된 전극 메탈일 수 있다.
다수의 터치전극들의 전체 또는 일부의 영역 내에는 전극 메탈과 끊어진 하나 이상의 더미 메탈이 존재할 수 있다.
다수의 터치전극들 중 적어도 하나 이상의 터치전극의 영역에서 더미 메탈이 차지하는 비율은, 다른 터치전극의 영역에서 더미 메탈이 차지하는 영역의 비율과 다를 수 있다.
다수의 터치전극들 중 적어도 하나 이상의 터치전극의 영역 내에는 더미 메탈이 미 존재할 수 있다.
다수의 터치전극들 중 적어도 하나의 터치전극이 다른 터치전극보다 크기가 작은 경우, 적어도 하나 이상의 터치전극의 영역에서 더미 메탈이 차지하는 비율은, 다른 터치전극의 영역에서 더미 메탈이 차지하는 영역의 비율보다 낮을 수 있다.
다수의 터치전극들 중 적어도 하나의 터치전극이 코너 영역에 위치한 경우, 적어도 하나 이상의 터치전극의 영역에서 더미 메탈이 차지하는 비율은, 다른 터치전극의 영역에서 더미 메탈이 차지하는 영역의 비율보다 낮을 수 있다.
다수의 터치전극들 중 적어도 하나의 터치전극의 외곽이 라운드 형상인 경우, 적어도 하나 이상의 터치전극의 영역에서 더미 메탈이 차지하는 비율은, 다른 터치전극의 영역에서 더미 메탈이 차지하는 영역의 비율보다 낮을 수 있다.
이상에서 설명한 실시예들에 의하면, 터치전극들의 위치에 관계없이, 모든 위치에 있는 터치전극들에서 형성되는 캐패시턴스들 간의 원치 않는 편차의 발생을 방지하거나 제거하여 우수한 터치 감도를 얻을 수 있는 터치표시장치 및 터치패널을 제공할 수 있다.
또한, 실시예들에 의하면, 터치패널의 형상에 관계없이 정확한 캐패시턴스를 기반으로 하는 터치 센싱이 가능한 터치표시장치 및 터치패널을 제공할 수 있다.
또한, 실시예들에 의하면, 터치전극들 간의 크기 차이가 존재하더라도, 터치전극들에서 형성되는 캐패시턴스들 간의 원치 않는 편차가 발생하는 것을 방지하여 우수한 터치 감도를 얻을 수 있는 터치표시장치 및 터치패널을 제공할 수 있다.
또한, 실시예들에 의하면, 터치전극들(TE) 간의 형상의 차이가 존재하더라도, 터치전극들(TE)에서 형성되는 캐패시턴스들 간의 원치 않는 편차가 발생하는 것을 방지하여 우수한 터치 감도를 얻을 수 있는 터치표시장치 및 터치패널을 제공할 수 있다.
또한, 실시예들에 의하면, 터치패널의 코너 영역이 라운드 형상인 경우, 코너 영역에 위치한 터치전극에 대하여 형성된 캐패시턴스와, 코너 영역이 아닌 영역에 위치한 터치전극에 대하여 형성된 캐패시턴스 간의 원치 않은 편차를 줄여주어, 모든 영역에서 우수한 터치 감도를 얻을 수 있는 터치표시장치 및 터치패널을 제공할 수 있다.
도 1은 실시예들에 따른 터치표시장치의 시스템 구성도이다.
도 2는 실시예들에 따른 터치표시장치의 터치패널의 예시도이다.
도 3은 실시예들에 따른 터치패널에서, 메쉬 타입의 터치전극을 나타낸 도면이다.
도 4는 실시예들에 따른 터치패널의 일부를 나타낸 도면이다.
도 5a는 실시예들에 따른 터치패널에서, 영역 내 더미 메탈이 존재하는 메쉬 타입의 터치전극을 나타낸 도면이다.
도 5b는 도 5a에서 더미 메탈을 삭제한 터치전극을 나타낸 도면이다.
도 6은 실시예들에 따른 터치패널의 3가지 영역을 나타낸 도면이다.
도 7은 실시예들에 따른 터치패널의 3가지 영역별 터치전극을 나타낸 도면이다.
도 8은 실시예들에 따른 터치패널의 코너 영역의 평면도이다.
도 9는 실시예들에 따른 터치패널의 코너 영역의 단면도이다.
도 10은 실시예들에 따른 터치패널의 코너 영역에서 더미 메탈 비율이 조절된 경우, 코너 영역의 다른 평면도이다.
도 11은 실시예들에 따른 터치패널의 코너 영역에서 더미 메탈 비율이 조절된 경우, 코너 영역의 다른 단면도이다.
도 12는 실시예들에 따른 터치패널의 코너 영역에 위치한 터치전극의 크기를 확장한 경우를 나타낸 도면이다.
도 13은 실시예들에 따른 터치패널의 다른 예시도이다.
도 14는 도 13의 터치패널의 코너 영역에서 더미 메탈 비율이 조절된 경우, 코너 영역의 평면도이다.
도 15 및 도 16은 실시예들에 따른 터치표시장치의 서브픽셀 구조의 예시들이다.
도 17 및 도 18은 실시예들에 따른 터치표시장치의 단면도들이다.
이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.
또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 다른 구성 요소가 "개재"되거나, 각 구성 요소가 다른 구성 요소를 통해 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
도 1은 실시예들에 따른 터치표시장치(100)의 시스템 구성도이다.
도 1을 참조하면, 실시예들에 따른 터치표시장치(100)는 영상을 표시하기 위한 영상 표시 기능과, 사용자의 터치를 센싱하는 터치 센싱 기능을 제공할 수 있다.
실시예들에 따른 터치표시장치(100)는, 영상 표시를 위해, 데이터 라인들과 게이트 라인들이 배치되는 표시패널(110)과, 표시패널(110)을 구동하기 위한 디스플레이 구동 회로(120) 등을 포함할 수 있다.
디스플레이 구동 회로(120)는, 기능적으로 볼 때, 데이터 라인들을 구동하기 위한 데이터 구동 회로와, 게이트 라인들을 구동하기 위한 게이트 구동 회로와, 데이터 구동 회로 및 게이트 구동 회로를 제어하기 위한 컨트롤러 등을 포함할 수 있다.
디스플레이 구동 회로(120)는, 하나 이상의 집적회로로 구현될 수 있다.
실시예들에 따른 터치표시장치(100)는, 터치 센싱을 위해, 다수의 터치전극들(TE)이 배치된 터치패널(TSP)과, 터치패널(TSP)의 구동 및 센싱 처리를 수행하는 터치회로(130) 등을 포함할 수 있다.
터치회로(130)는 터치패널(TSP)을 구동하기 위하여 터치패널(TSP)로 터치구동신호를 공급하고, 이후, 터치패널(TSP)로부터 터치센싱신호를 수신하고, 이를 토대로, 터치유무 및/또는 터치위치(터치좌표)를 알아낸다.
이러한 터치회로(130)는 터치구동신호를 공급하고 터치센싱신호를 수신하는 터치구동회로와, 터치유무 및/또는 터치위치(터치좌표)를 산출하는 터치컨트롤러 등을 포함하여 구현될 수도 있다.
터치회로(130)는 하나 또는 둘 이상의 부품(예: 집적회로)으로 구현될 수 있으며, 디스플레이 구동 회로(120)와 별도로 구현될 수도 있다.
또한, 터치회로(130)의 전체 또는 일부는, 디스플레이 구동 회로(120) 또는 그 내부 회로와 통합되어 구현될 수 있다. 예를 들어, 터치회로(130)의 터치구동회로는 디스플레이 구동 회로(120)의 데이터 구동 회로와 함께 집적회로로 구현될 수 있다.
한편, 실시예들에 따른 터치표시장치(100)는 터치전극들(TE)에 형성되는 캐패시턴스(Capacitance)에 기반하여 터치를 센싱할 수 있다.
실시예들에 따른 터치표시장치(100)는 캐패시턴스 기반의 터치 센싱 방식으로서, 뮤추얼-캐패시턴스(Mutual-capacitance) 기반의 터치 센싱 방식으로 터치를 센싱할 수도 있고, 셀프-캐패시턴스(Self-capacitance) 기반의 터치 센싱 방식으로 터치를 센싱할 수도 있다.
뮤추얼-캐패시턴스(Mutual-capacitance) 기반의 터치 센싱 방식의 경우, 다수의 터치전극들(TE)은 터치구동신호가 인가되는 구동전극(송신전극 또는 구동라인이라고도 함)과, 터치센싱신호가 센싱되고 구동전극과 캐패시턴스를 형성하는 센싱전극(수신전극 또는 센싱라인이라고도 함)으로 분류될 수 있다.
아래에서는, 터치전극들(TE) 중 구동전극에 해당하는 터치전극을 "제1 터치전극(TE-1)"이라고 하고, 터치전극들(TE) 중 센싱전극에 해당하는 터치전극을 "제2 터치전극(TE-2)"이라고 한다.
이러한 뮤추얼-캐패시턴스 기반의 터치 센싱 방식의 경우, 손가락, 펜 등의 포인터의 유무에 따른 구동전극과 센싱전극 간의 캐패시턴스(뮤추얼-캐패시턴스)의 변화를 토대로 터치 유무 및/또는 터치 좌표 등을 검출한다.
셀프-캐패시턴스(Self-capacitance) 기반의 터치 센싱 방식의 경우, 각 터치전극(TE)은 구동전극의 역할과 센싱전극의 역할을 모두 갖는다. 즉, 각 터치전극(TE)으로 터치구동신호가 인가되고, 터치구동신호가 인가된 터치전극(TE)을 통해 터치센싱신호를 수신한다. 따라서, 셀프-캐패시턴스(Self-capacitance) 기반의 터치 센싱 방식에서는, 구동전극과 센싱전극의 구분이 없다.
이러한 셀프-캐패시턴스 기반의 터치 센싱 방식의 경우, 손가락, 펜 등의 포인터와 터치전극(TE) 간의 캐패시턴스의 변화를 토대로 터치 유무 및/또는 터치 좌표 등을 검출한다.
이와 같이, 실시예들에 따른 터치표시장치(100)는, 뮤추얼-캐패시턴스 기반의 터치 센싱 방식으로 터치를 센싱할 수도 있고, 셀프-캐패시턴스 기반의 터치 센싱 방식으로 터치를 센싱할 수도 있다.
따라서, 아래에서는, 설명의 편의를 위해, 뮤추얼-캐패시턴스 기반의 터치 센싱 방식이 채택된 터치표시장치(100) 및 터치패널(TSP)를 위주로 터치감도의 향상을 위한 개선 구조 등을 설명하지만, 이러한 터치감도의 향상을 위한 개선 구조 등은, 뮤추얼-캐패시턴스 기반의 터치 센싱 방식이 채택된 터치표시장치(100) 및 터치패널(TSP)에도 동일하게 적용될 수 있을 것이다.
또한, 실시예들에 따른 터치표시장치(100)의 표시패널(110)은, 유기발광다이오드 패널(OLED Panel), 액정표시패널(LCD Panel) 등의 다양한 타입일 수 있다. 아래에서는, 설명의 편의를 위해, 유기발광다이오드 패널(OLED Panel)을 주로 예로 들어 설명한다.
도 2는 실시예들에 따른 터치표시장치(100)의 터치패널(TSP)의 예시도이다.
도 2를 참조하면, 터치패널(TSP)에는 다수의 터치전극들(TE)이 배치되며, 이러한 터치전극들(TE)과 터치회로(130)를 전기적으로 연결해주는 터치라인들(TL)이 배치될 수 있다.
또한, 터치패널(TSP)에는, 터치라인들(TL)과 터치회로(130)를 전기적으로 연결해주기 위하여, 터치회로(130)가 접촉하는 터치패드들(TP)이 존재할 수도 있다.
터치전극들(TE) 및 터치라인들(TL)은 동일한 층에 존재할 수도 있고 서로 다른 층에 존재할 수도 있다.
이러한 터치패드들(TP)은 터치라인들(TL)의 일부이거나 터치라인들(TL)과 접촉하는 메탈(Metal)일 수도 있다.
아래에서는, 터치패널(TSP)에서 터치전극들(TE)이 배치되는 영역을 터치전극 영역(TEA)이라고 한다.
이러한 터치전극 영역(TEA) 자체를 터치패널(TSP)이라고도 볼 수 있다.
한편, 전술한 터치표시장치(100)가 뮤추얼-캐패시턴스 기반의 터치 센싱 방식을 채택하고 있는 경우, 동일한 열 (또는 동일한 행)에 배치되는 둘 이상의 제1 터치전극(TE-1)은 전기적으로 연결되어 하나의 구동전극 라인(DRL)을 형성할 수 있다. 동일한 행 (또는 동일한 열)에 배치되는 둘 이상의 제2 터치전극(TE-2)은 전기적으로 연결되어 하나의 센싱전극 라인(SENL)을 형성할 수 있다.
여기서, 하나의 구동전극 라인(DRL)을 형성하는 둘 이상의 제1 터치전극(TE-1)은 구동전극에 해당한다. 하나의 센싱전극 라인(SENL)을 형성하는 둘 이상의 제2 터치전극(TE-2)을 센싱전극에 해당한다.
하나의 구동전극 라인(DRL)마다 적어도 하나의 터치라인(TL)이 연결되고, 하나의 센싱전극 라인(SENL)마다 적어도 하나의 터치라인(TL)이 연결된다.
하나의 구동전극 라인(DRL)마다 연결되는 적어도 하나의 터치라인(TL)을 구동터치라인(TL-1)이라고도 한다. 하나의 센싱전극 라인(SENL)마다 연결되는 적어도 하나의 터치라인(TL)을 센싱터치라인(TL-2)이라고도 한다.
하나의 터치라인마다 하나의 터치패드(TP)가 연결되는데, 구동터치라인(TL-1)에 연결되는 터치패드(TP)를 구동터치패드(TP-1)라고도 한다. 센싱터치라인(TL-2)에 연결되는 터치패드(TP)를 센싱터치패드(TP-2)라고도 한다.
전술한 바를 다시 설명하면, 다수의 터치전극들(TE)은 둘 이상씩 전기적으로 연결된다.
이에 따라, 다수의 터치전극들(TE)은 구동전극 라인들(DRL)과 센싱전극 라인들(SENL)로 구성할 수 있다.
각 구동전극 라인(DRL)은 동일한 열 또는 동일한 행에 배치되어 전기적으로 연결된 둘 이상의 터치전극(TE)으로 이루어진다.
하나의 구동전극 라인(DRL)을 형성하는 둘 이상의 터치전극(TE)은 일체화되어 있을 수도 있고, 브릿지 등의 연결 패턴에 의해 연결될 수도 있다.
각 센싱전극 라인(SENL)은 동일한 행 또는 동일한 열에 배치되어 전기적으로 연결된 둘 이상의 터치전극(TE)으로 이루어진다.
하나의 센싱전극 라인(SENL)을 형성하는 둘 이상의 제2 터치전극(TE-2)은 일체화되어 있을 수도 있고, 브릿지 패턴(BP)등의 연결 패턴에 의해 연결될 수도 있다.
여기서, 하나의 구동전극 라인(DRL)을 형성하는 둘 이상의 제1 터치전극(TE-1)은 터치구동신호가 인가되는 구동전극의 역할을 하고, 하나의 센싱전극 라인(SENL)을 형성하는 둘 이상의 제2 터치전극(TE-2)은 터치센싱신호가 감지되는 센싱전극의 역할을 한다.
다수의 터치전극들(TE) 중 일부는 터치라인(TL)과 전기적으로 연결되고, 나머지는 터치라인(TL)과 전기적으로 미 연결될 수 있다.
예를 들어, 하나의 구동전극 라인(DRL)을 형성하기 위한 구동전극들에 해당하는 제1 터치전극들(TE-1) 중 하나(예: 가장 외측에 있는 하나 또는 두 개의 제1 터치전극)는 구동터치라인(TL-1)과 연결되지만, 나머지의 제1 터치전극들(TE-1)은 구동터치라인(TL-1)과 연결되지 않는다.
또한, 하나의 센싱전극 라인(SENL)을 형성하기 위한 센싱전극들에 해당하는 제2 터치전극들(TE-2) 중 하나(예: 가장 외측에 있는 하나 또는 두 개의 제2 터치전극)는 센싱터치라인(TL-2)과 연결되지만, 나머지의 제2 터치전극들(TE-2)은 센싱터치라인(TL-2)과 연결되지 않는다.
터치패널(TSP)의 전술한 구조에 따라, 뮤추얼-캐패시턴스 기반의 터치 센싱이 가능해질 수 있다.
도 2를 참조하면, 다수의 터치전극들(TE) 각각은, 일 예로, 외곽의 윤곽을 볼 때, 마름모형일 수 있다.
다수의 터치전극들(TE) 각각은, 다른 예로, 외곽의 대략적인 윤곽을 볼 때, 직사각형 (정사각형을 포함할 수 있음)일 수도 있으며, 이뿐만 아니라 다양한 모양으로 되어 있을 수도 있다.
터치표시장치(100)의 디스플레이 성능 및 터치 성능을 고려하여, 터치전극(TE)의 형상을 다양하게 설계할 수 있다.
실시예들에 따른 터치패널(TSP)은 표시패널(110)의 외부에 존재할 수도 있지만(외장형), 표시패널(110)의 내부에 존재할 수도 있다(내장형).
터치패널(TSP)이 외장형인 경우, 터치패널(TSP)과 표시패널(110)은 서로 다른 패널 제작 공정을 통해 만들어진 이후, 본딩될 수 있다.
터치패널(TSP)이 내장형인 경우, 터치패널(TSP)과 표시패널(110)은 한번의 패널 제작 공정을 통해 함께 만들어질 수 있다.
터치패널(TSP)이 내장형인 경우, 터치패널(TSP)은 다수의 터치전극들(TE)의 집합체로 볼 수 있다. 여기서, 다수의 터치전극들(TE)이 놓이는 판(Plate)은 전용 기판일 수도 있고, 표시패널(110)에 이미 존재하는 층(예: 봉지층)일 수도 있다.
도 3은 실시예들에 따른 터치패널(TSP)에서, 메쉬 타입의 터치전극(TE)을 나타낸 도면이다.
실시예들에 따른 터치패널(TSP)에서, 다수의 터치전극들(TE) 각각은 메쉬 타입(Mesh Type)일 수 있다.
다시 말해, 하나의 터치전극(TE)은 구멍이 뚫려 있는 메쉬 타입의 전극 메탈(EM)일 수 있다.
여기서, 하나의 터치전극(TE)에서의 구멍은 오픈 영역(OA)이라고도 한다.
아래에서, 전극 메탈(EM)은 터치전극(TE)과 동일한 의미로 사용될 수 있다.
위에서 전술한 바와 같이, 하나의 터치전극(TE)의 외곽의 대략적인 윤곽은 마름모형 또는 직사각형(정사각형 포함 가능) 등일 수 있으며, 하나의 터치전극(TE)에서의 구멍에 해당하는 오픈 영역(OA) 또한, 마름모형 또는 직사각형(정사각형 포함 가능) 등일 수 있다.
하나의 터치전극(TE)의 외곽의 대략적인 윤곽과, 하나의 터치전극(TE)에서의 구멍에 해당하는 오픈 영역(OA)의 모양은, 동일할 수도 있고 다를 수도 있다.
각 터치전극(TE)은 다수의 오픈 영역들(OA)이 있는 메쉬 타입의 전극 메탈(EM)이되, 다수의 오픈 영역들(OA) 각각에 하나 이상의 서브픽셀의 발광 부가 위치하도록 패터닝 되어 있다. 이에 따라, 터치센서구조와 표시패널(100)을 효과적으로 만들어줄 수 있으며, 터치패널(TSP)을 내장한 표시패널(110)의 발광 성능을 높일 수도 있다.
표시패널(110)이 LCD 패널인 경우, 서브픽셀의 발광 부는 픽셀전극 또는 컬러필터 등을 포함할 수 있다. 표시패널(110)이 OLED 패널인 경우, 서브픽셀의 발광 부는 유기발광다이오드(OLED)의 애노드 전극, 유기 발광 층 등을 포함할 수 있으며, 경우에 따라서, 컬러필터 등을 포함할 수 있다.
전술한 바에 따르면, 발광 위치에 맞게 터치 전극(TE)에 해당하는 전극 메탈(EM)의 오픈 영역들(OA)이 존재함으로써, 표시패널(110)의 발광 효율을 높여줄 수 있다.
한편, 표시패널(110)의 발광 효율을 더욱 높이기 위하여, 각 서브픽셀의 회로 부(트랜지스터 등이 형성된 부분)는 오픈 영역(OA)이 아닌 전극 메탈(EM)과 중첩되어 존재할 수 있다.
서브픽셀들은 적색 서브픽셀, 녹색 서브픽셀 및 청색 서브픽셀로 이루어질 수 있다.
경우에 따라서는, 서브픽셀들은 적색 서브픽셀, 흰색 서브픽셀, 녹색 서브픽셀 및 청색 서브픽셀로 이루어질 수도 있다.
도 4는 실시예들에 따른 터치패널(TSP)의 일부를 나타낸 도면이다.
도 4는 도 3과 같이 터치전극(TE)이 오픈 영역들(OA)이 있는 메쉬 타입의 전극 메탈(EM)로 만들어진 경우, 7개의 터치전극(TE)을 나타낸 도면이다.
7개의 터치전극(TE)는 구동전극들에 해당하는 4개의 제1 터치전극들(TE-1)과 센싱전극들에 해당하는 3개의 제2 터치전극들(TE-2)이다.
4개의 제1 터치전극들(TE-1) 중 i번째 열에 배열된 2개의 제1 터치전극들(TE-1)은 i번째 구동전극 라인(DRL #i)을 형성한다.
일 예로, i번째 열에 배열된 2개의 제1 터치전극들(TE-1)은 자신들과 다른 층에 존재하는 브릿지 패턴(BP)을 통해 전기적으로 연결될 수 있다.
다른 예로, i번째 열에 배열된 2개의 제1 터치전극들(TE-1)은 일체로 형성되어 전기적으로 연결될 수도 있다.
4개의 제1 터치전극들(TE-1) 중 i+1번째 열에 배열된 2개의 제1 터치전극들(TE-1)은 i+1번째 구동전극 라인(DRL #i+1)을 형성한다.
일 예로, i+1번째 열에 배열된 2개의 제1 터치전극들(TE-1)은 자신들과 다른 층에 존재하는 브릿지 패턴(BP)을 통해 전기적으로 연결될 수 있다.
다른 예로, i+1번째 열에 배열된 2개의 제1 터치전극들(TE-1)은 일체로 형성되어 전기적으로 연결될 수도 있다.
3개의 제2 터치전극들(TE-2)은 j번째 행에 배열되어 j번째 센싱전극 라인(SENL #j)을 형성한다.
일 예로, j번째 행에 배열된 3개의 제2 터치전극들(TE-2)은 일체로 형성되어 전기적으로 연결될 수 있다.
다른 예로, j번째 행에 배열된 3개의 제2 터치전극들(TE-2)은 자신들과 다른 층에 존재하는 브릿지 패턴(BP)을 통해 전기적으로 연결될 수도 있다.
도 4를 참조하면, 4개의 제1 터치전극들(TE-1)과 3개의 제2 터치전극들(TE-2)을 포함하는 모든 터치전극들(TE)은 전극 메탈(EM)을 넓게 형성한 이후, 전극 메탈(EM)을 정해진 패턴으로 커팅하여 전기적으로 분리시켜서 터치전극(TE)을 만들어줄 수 있다.
도 5a는 실시예들에 따른 터치패널에서, 영역 내 더미 메탈이 존재하는 메쉬 타입의 터치전극을 나타낸 도면이다. 도 5b는 실시예들에 따른 터치패널에서, 영역 내 더미 메탈이 존재하는 메쉬 타입의 터치전극에서, 더미 메탈을 미 표시한 터치전극을 나타낸 도면이다.
도 5a를 참조하면, 터치패널(TSP)에 배치된 다수의 터치전극들(TE) 각각은 메쉬 타입으로 패터닝 된 전극 메탈(EM)로 구성되어 있다.
결국, 메쉬 타입으로 패터닝 된 전극 메탈(EM)을 터치전극(TE)이라고 할 수 있다.
하나의 터치전극(TE)은 메쉬 타입으로 패터닝 된 전극 메탈(EM)이므로, 하나의 터치전극(TE)의 영역에는 여러 개의 구멍들이 존재한다. 여기서, 터치전극(TE)의 영역에 존재하는 여러 개의 구멍을 오픈 영역(OA)이라고 한다.
터치패널(TSP)에 배치된 다수의 터치전극들(TE)의 전체 또는 일부의 영역에는, 전극 메탈(EM)과 끊어진 하나 이상의 더미 메탈(DM)이 존재할 수 있다.
여기서, 전극 메탈(EM)은 실질적인 터치전극(TE)에 해당하는 부분으로서, 터치구동신호가 인가되거나, 터치센싱신호가 감지되는 부분이다. 이에 비해, 더미 메탈(DM)은 터치전극(TE)의 영역 내에 존재하기는 하지만, 터치구동신호가 인가되지 않고, 터치센싱신호도 감지되지 않는 부분으로서, 플로팅(Floating) 패턴이라고도 할 수 있다.
또한, 전극 메탈(EM)은 터치회로(130)와 전기적으로 연결될 수 있지만, 더미 메탈(DM)은 터치회로(130)와 전기적으로 연결되지 않는다.
전술한 바와 같이, 모든 터치전극들(TE) 각각의 영역 안에는, 하나 이상의 더미 메탈(DM)이 전극 메탈(EM)과 끊어진 상태로 존재할 수 있다.
또는, 모든 터치전극들(TE) 중 일부의 터치전극들(TE) 각각의 영역 안에만, 하나 이상의 더미 메탈(DM)이 전극 메탈(EM)과 끊어진 상태로 존재할 수도 있다. 즉, 일부의 터치전극들(TE)의 영역 내에는 더미 메탈(DM)이 존재하지 않을 수도 있다.
한편, 더미 메탈(DM)의 역할과 관련하여, 하나의 터치전극(TE)의 영역 내에 하나 이상의 더미 메탈(DM)이 존재하지 않고 전극 메탈(EM)만 메쉬 타입으로 존재하는 경우, 화면 상에 전극 메탈(EM)의 윤곽이 보이는 시인성과 관련한 문제점이 발생할 수 있다.
이에 비해, 하나의 터치전극(TE)의 영역 내에 하나 이상의 더미 메탈(DM)이 존재하는 경우, 화면 상에 전극 메탈(EM)의 윤곽이 보이는 시인성과 관련한 문제점을 방지할 수 있다.
또한, 각 터치전극(TE) 별로, 더미 메탈(DM)의 존재 유무 또는 개수(더미 메탈 비율)을 조절함으로써, 각 터치전극(TE) 별로 캐패시턴스의 크기를 조절하여 터치 감도를 향상시킬 수도 있다.
도 5a를 참조하면, 1개의 터치전극(TE)을 이루는 전극 메탈(EM)이 형성된 이후, 전극 메탈(EM)을 정해진 패턴으로 커팅하여, 전극 메탈(EM)과 끊어진 더미 메탈(DM)을 형성할 수 있다.
도 5b는 도 5a에서 더미 메탈(DM)을 제거하여 실제적인 전극 역할을 하는 전극 메탈(EM)만을 나타낸 터치전극(TE)을 나타낸 도면이다. 여기서, 실제적인 전극 역할을 한다는 것은, 터치구동신호가 인가되거나 터치센싱신호가 검출된다는 의미이다.
도 5b를 참조하여, 전극 메탈(EM)의 메쉬 패턴을 보면, 더미 메탈(EM)이 없는 외곽 부분에서는 전극 메탈(EM)이 촘촘하게 패터닝 되어 있고, 더미 메탈(EM)이 있는 안쪽에서는 더미 메탈(EM)을 제거한 공간만큼 전극 메탈(EM)이 덜 촘촘하게 패터닝 되어 있다.
아래에서는, 터치전극(TE)을 도시할 때, 설명의 편의를 위하여, 더미 메탈(EM)을 삭제하고, 실질적인 전극 역할을 하는 메쉬 형태의 전극 메탈(EM)만을 표시할 수도 있다.
도 6은 실시예들에 따른 터치패널(TSP)의 3가지 영역을 나타낸 도면이다.
실시예들에 따른 터치패널(TSP)에서, 터치전극들(TE)이 배치되는 터치전극 영역(TEA)은 코너 영역, 에지 영역 및 내부 영역을 포함한다.
도 6에 도시된 바와 같이, 터치패널(TSP)에서, 터치전극 영역(TEA)은 4개의 코너 영역과 4개의 에지 영역이 존재하는 사각형일 수 있으며, 경우에 따라서, 3개의 코너 영역과 3개의 에지 영역이 존재하는 삼각형일 수도 있으며, 일반화하면, N개의 코너 영역과 N개의 에지 영역이 존재하는 N각형(N은 3이상의 자연수)일 수 있다.
경우에 따라서, 터치패널(TSP)에서, 터치전극 영역(TEA)은 원형일 수 있다. 이 경우, 에지 영역을 코너 영역으로 간주하면 된다.
다만, 아래에서는, 설명의 편의를 위하여, 터치패널(TSP)에서, 터치전극 영역(TEA)은 4개의 코너 영역과 4개의 에지 영역이 존재하는 사각형인 것으로 예를 들어 설명한다.
터치패널(TSP)의 코너 영역 또는 터치패널(TSP)에서 터치전극 영역(TEA)의 코너 영역의 외곽은 직각 형상일 수도 있다.
또는, 터치패널(TSP)의 코너 영역 또는 터치패널(TSP)에서 터치전극 영역(TEA)의 코너 영역의 외곽은 라운드 형상일 수도 있다.
이러한 경우, 터치표시장치(100)의 코너가 라운드 형상인 경우에 적합한 터치패널(TSP)을 제공할 수 있다.
도 7은 실시예들에 따른 터치패널(TSP)의 3가지 영역(코너 영역, 에지 영역, 내부 영역)별 터치전극(TE)을 나타낸 도면이다.
도 7을 참조하면, 다수의 터치전극들(TE) 각각은 메쉬 타입의 전극 메탈(EM)로 구성된다.
이러한 다수의 터치전극들(TE)은, 터치패널(TSP)의 코너 영역에 위치한 터치전극(TE)인 코너 터치전극(CE)과, 터치패널(TSP)의 비 코너 영역(내부 영역 또는 에지 영역)에 위치한 터치전극(TE)인 비 코너 터치전극을 포함할 수 있다.
코너 터치전극(CE)의 크기는 비 코너 터치전극의 크기보다 작을 수 있다.
다수의 터치전극들(TE)은, 비 코너 터치전극으로서, 터치패널(TSP)의 에지 영역에 위치하는 에지 터치전극(EE)과, 터치패널(TSP)의 에지 영역 및 코너 영역의 내측 영역에 위치하는 내부 터치전극(IE)을 포함할 수 있다.
내부 터치전극(TE)은 마름모형 또는 직사각형일 수도 있다.
에지 터치전극(EE)은 마름모형 또는 직사각형일 수도 있지만, 내부 터치전극(IE)의 절반에 해당한 형태일 수 있다.
코너 터치전극(CE)은 내부 터치전극(IE)의 절반보다 더 작은 형태일 수 있다.
에지 터치전극(EE)의 크기는, 코너 터치전극(CE)의 크기보다 클 수 있다.
에지 터치전극(EE)의 크기는, 내부 터치전극(IE)의 크기와 동일하거나, 내부 터치전극(IE)의 크기보다 작을 수 있다.
코너 영역의 외곽이 라운드 형상인 경우와 그렇지 않은 경우에 관계 없이, 코너 터치전극(CE), 에지 터치전극(EE) 및 내부 터치전극(IE) 간의 대소 관계는 성립할 수 있다.
만약, 도 7에 도시된 바와 같이, 코너 영역의 외곽이 라운드 형상인 경우, 코너 터치전극(CE)의 외곽의 윤곽은 라운드 져 있고, 코너 터치전극(CE)과 전기적으로 연결된 터치라인(예: TL-2)은 라운드 진 부분이 존재할 수 있다.
또한, 도 7에 도시된 바와 같이, 코너 영역의 외곽이 라운드 형상인 경우, 터치패널(TSP)에는 다수의 터치전극들(TE)의 전체 또는 일부를 터치회로(TC)와 전기적으로 연결해주는 다수의 터치라인들(TL-1, TL-2)이 배치될 때, 코너 터치전극(CE)과 전기적으로 연결된 터치라인(예: TL-2)과, 비 코너 터치전극과 전기적으로 연결된 터치라인(예: TL-1)은 다른 모양을 가질 수 있다.
이에 따라, 터치패널(TSP)의 터치전극영역(TEA)의 코너 영역의 외곽이 라운드 형상인 경우, 이에 적합한 구조의 코너 터치전극(CE) 및 터치라인(TL)을 설계함으로써, 터치패널(TSP)을 원하는 디자인으로 설계하는데 도움을 줄 수 있다.
도 8은 실시예들에 따른 터치패널(TSP)의 코너 영역의 평면도이고, 도 9는 실시예들에 따른 터치패널(TSP)의 코너 영역의 단면도이다.
제1, 제2 터치전극들(TE-1, TE-2) 각각은 메쉬 타입의 전극 메탈(EM)로 되어 있다.
제1, 제2 터치전극들(TE-1, TE-2) 각각의 영역에는 더미 메탈들(DM)이 존재하는 더미 메탈 영역들(DMA)이 존재할 수 있다.
도 8에 도시된 바와 같이, 코너 영역에 위치하는 코너 터치전극에 해당하는 4개의 터치전극들(TE-1, TE-2) 중에서 최외곽에 위치한 2개의 터치전극들(TE-1, TE-2)은 그 크기가 다른 터치전극의 크기에 비해 작다.
따라서, 내부 영역에서 제1 터치전극(TE-1)과 제2 터치전극(TE-2) 사이에 형성되는 캐패시턴스와, 코너 영역에서 제1 터치전극(TE-1)과 제2 터치전극(TE-2) 사이에 형성되는 캐패시턴스는, 편차가 크게 발생할 수 있다.
즉, 코너 영역에서 제1 터치전극(TE-1)과 제2 터치전극(TE-2) 사이에 형성되는 캐패시턴스는, 내부 영역에서 제1 터치전극(TE-1)과 제2 터치전극(TE-2) 사이에 형성되는 캐패시턴스보다 작게 형성될 수 있다.
한편, 도 8 및 도 9에 도시된 바와 같이, 제1, 제2 터치전극들(TE-1, TE-2) 간의 경계 부근에는 더미 메탈 영역(DMA)이 존재하지 않거나 적게 존재하여, 오픈 영역(OA)의 개수가 적다. 즉, 제1, 제2 터치전극들(TE-1, TE-2) 간의 경계 부근에는 전극 메탈(EM)이 촘촘하게 되어 있다.
따라서, 경계 부근에 있는 제1 터치전극(TE-1)과 제2 터치전극(TE-2)에 형성되는 캐패시턴스(Cm1), 경계 부근에 있는 제1 터치전극(TE-1)과 경계 부근에 아닌 곳에 있는 제2 터치전극(TE-2)에 형성되는 캐패시턴스(Cm2), 경계 부근이 아닌 곳에 있는 제1 터치전극(TE-1)과 경계 부근에 있는 제2 터치전극(TE-2)에 형성되는 캐패시턴스(Cm3) 간의 편차도 크게 발생할 수 있다.
전술한 바와 같은 캐패시턴스 편차는, 터치패널(TSP)의 터치전극 영역(TEA)의 외곽이 라운드 형상이거나 그렇지 않은 형상(예: 직각 형상)인 경우에 관계 없이 발생할 수 있다.
하지만, 터치패널(TSP)의 터치전극 영역(TEA)의 외곽이 라운드 형상인 경우에, 전술한 바와 같은 캐패시턴스 편차는 더욱더 크게 발생할 수 있다.
이러한 코너 영역과 관련한 캐패시턴스 편차로 인해, 캐패시턴스의 변화량에 기초한 터치 감도는 낮아질 수밖에 없다.
따라서, 실시예들은 코너 영역과 관련한 캐패시턴스 편차를 줄이거나 제거하여 터치 감도를 향상시킬 수 있는 터치패널 구조를 갖는다.
한편, 전술한 바와 같이, 전극 메탈(EM)을 형성한 이후, 원하는 패턴으로 전극 메탈(EM)의 일부분들을 커팅함으로써, 전극 메탈(EM)에 둘러싸인 더미 메탈(DM)을 형성할 수 있다.
이러한 더미 메탈(DM)의 형성 방식에 따라, 전극 메탈(EM)과 더미 메탈(DM)은 도 9에 도시된 바와 같이, 동일한 층에 위치할 수 있다.
따라서, 시인성 문제를 해결할 수 있는 위치에 더미 메탈(DM)을 전극 메탈(EM)과 함께 더욱 쉽게 형성할 수 있다.
한편, 터치패널(TSP)이 유기발광표시패널로 구현된 표시패널(110)에 내장된 경우, 터치패널(TSP)은, 봉지 층(ENCAP)과 디스플레이 커버(COVER) 사이에 위치할 수 있다.
다수의 터치전극들(TE), 다수의 터치라인들(TL) 등의 터치센서메탈은, 봉지 층(ENCAP)과 디스플레이 커버(COVER) 사이에 위치할 수 있다.
디스플레이 커버(COVER)는 표시패널(110)의 외곽 커버로서, 커버 글라스(Cover Glass)일 수 있다.
봉지 층(ENCAP)은 미 도시되어 있지만, 아래에 있는 유기물 등을 수분이나 산소로부터 보호해주기 위한 층이다.
한편, 봉지층(ENCAP) 아래에 유기발광다이오드(OLED)의 캐소드(Cathode)가 존재하고, 봉지층(ENCAP)의 두께는 5 마이크로 미터 이상일 수 있다.
아래에서는, 위에서 언급한 코너 영역과 관련한 캐패시턴스 편차와 이로 인한 터치 감도 저하를 방지하기 위한 터치패널 구조를 설명한다.
도 10은 실시예들에 따른 터치패널(TSP)의 코너 영역에서 더미 메탈(DM) 비율이 조절된 경우, 코너 영역의 다른 평면도이다. 도 11은 실시예들에 따른 터치패널(TSP)의 코너 영역에서 더미 메탈(DM) 비율이 조절된 경우, 코너 영역의 다른 단면도이다.
도 10 및 도 11을 참조하면, 다수의 터치전극들(TE) 각각은 메쉬 타입의 전극 메탈(EM)로 구성된다.
도 10을 참조하면, 코너 영역에 위치하는 코너 터치전극에 해당하는 4개의 터치전극들(TE-1, TE-2) 중에서 최외곽에 위치한 2개의 터치전극들(TE-1, TE-2)은, 그 크기가 비 코너 영역(에지 영역, 내부 영역)에 위치한 터치전극(에지 터치전극(EE), 내부 터치전극(IE))에 비해, 작은 크기를 갖는다.
비 코너 터치전극(내부 터치전극(IE))의 영역 내에는, 전극 메탈(EM)과 전기적으로 끊어진 하나 이상의 더미 메탈(DM)이 존재한다. 즉, 비 코너 터치전극은 도 5a와 같은 구조로 되어 있을 수 있다.
하지만, 도 10에 도시된 제1, 제2 터치전극(TE-1, TE-2)에 해당하는 코너 터치전극(CE)의 영역에는, 더미 메탈(DM)이 아예 존재하지 않고 메쉬 형태로 패터닝 된 전극 메탈(EM)만 존재하거나, 비 코너 터치전극(내부 터치전극(IE))의 영역에서 더미 메탈(DM)이 차지하는 영역의 비율보다 낮은 비율로 더미 메탈(DM)이 존재할 수 있다.
여기서, 터치전극(TE)의 영역 내 더미 메탈(DM)의 비율은, 하나의 터치전극(TE)의 영역의 전체 면적(A)에 대하여, 하나의 터치전극(TE)의 영역 내 더미 메탈들(DM)이 차지하는 영역의 총 면적(B)의 비율(B/A)을 의미한다.
이러한 더미 메탈 비율은, 일 예로, 터치 전극 영역 내 더미 메탈(DM)의 개수에 따라 달라질 수도 있고, 터치 전극 영역 내 모든 더미 메탈(DM)의 총 면적에 따라 달라질 수도 있다.
이러한 터치전극(TE)의 영역 내 더미 메탈(DM)이 차지하는 더미 메탈 비율은, 터치전극(TE)의 영역에서 터치구동신호가 인가되는 부분(실질적인 전극 역할을 하는 부분)이 차지하는 유효 전극 비율과 반비례할 수 있다.
보다 구체적으로, 도 10에 도시된 제1, 제2 터치전극(TE-1, TE-2)에 해당하는 코너 터치전극(CM)의 영역에는, 전극 메탈(EM)과 전기적으로 끊어진 더미 메탈(DM)이 미 존재할 수 있다.
또는, 도 10에 도시된 제1, 제2 터치전극(TE-1, TE-2)에 해당하는 코너 터치전극(CM)의 영역에는, 비 코너 터치전극(내부 터치전극(IE))의 영역에서 더미 메탈(DM)이 차지하는 영역의 비율보다 낮은 비율로 더미 메탈(DM)이 존재할 수 있다.
전술한 바에 따라, 코너 터치전극(CM)에서 터치구동신호가 인가되는 부분(실질적인 전극 역할을 하는 부분)의 유효 전극 비율이 증가할 수 있다.
여기서, 유효 전극 비율은 터치전극(TE)의 영역의 총 면적(C)에 대하여, 오픈 영역, 더미 메탈 영역 등을 제외하고 실질적인 전극 역할을 할 수 있는 부분의 총 면적(D)의 비율(D/C)이다.
전술한 바와 같이, 코너 터치전극(CM)에 대하여 더미 메탈(DM)의 비율을 낮게 함으로써(즉, 유효 전극 비율을 높게 함으로써), 코너 터치전극(CM)은 전체 전극 영역의 크기는 작음에도 불구하고, 유효 전극 면적이 비 코너 터치전극(내부 터치전극(IE))의 유효 전극 면적과 비슷해지거나 동등한 수준이 되어, 코너 영역과 비 코너 영역에서의 캐패시턴스 편차가 줄어들거나 제거될 수 있다.
여기서, 유효 전극 면적은 실질적인 전극 역할을 하는 부분의 면적을 의미한다.
도 10 및 도 11의 경우, 제1, 제2 터치전극(TE-1, TE-2)에 해당하는 코너 터치전극(CM)의 영역에, 더미 메탈(DM)이 존재하지 않는 경우를 예로 든 평면도와 단면도이다.
도 9의 경우, 더미 메탈 영역(DMA)의 존재에 따라 캐패시턴스가 감소하였지만, 도 11의 경우, 더미 메탈(DM)이 없어진 만큼 전극 메탈(EM)이 형성되었다. 이로 인해, 도 11의 경우, 도 9에 비해, 추가적인 캐패시턴스(Cm4, Cm5)가 더 형성된다.
이러한 캐패시턴스 추가 보상에 따라, 경계 부근에 있는 제1 터치전극(TE-1)과 제2 터치전극(TE-2)에 형성되는 캐패시턴스(Cm1), 경계 부근에 있는 제1 터치전극(TE-1)과 경계 부근에 아닌 곳에 있는 제2 터치전극(TE-2)에 형성되는 캐패시턴스(Cm2, Cm4), 경계 부근이 아닌 곳에 있는 제1 터치전극(TE-1)과 경계 부근에 있는 제2 터치전극(TE-2)에 형성되는 캐패시턴스(Cm3, Cm5) 간의 편차가 제거되거나 크게 줄어들 수 있다.
전술한 더미 메탈 비율 조절 구조에 의하면, 코너 터치전극(CM)은, 전체 전극 영역의 크기는 작음에도 불구하고, 유효 전극 면적이 비 코너 터치전극(내부 터치전극(IE))의 총 전극 유효 면적과 비슷해지거나 동등한 수준이 되어, 코너 영역과 비 코너 영역에서의 캐패시턴스 편차가 줄어들거나 제거될 수 있고, 이를 통해 터치 감도를 향상시켜줄 수 있다.
한편, 전술한 바와 같이, 다수의 터치전극들(TE)은, 비 코너 터치전극으로서, 터치패널(TSP)의 에지 영역에 위치하는 에지 터치전극(EE)과, 터치패널(TSP)의 에지 영역 및 코너 영역의 내측 영역에 위치하는 내부 터치전극(IE)을 포함할 수 있다.
이 경우, 에지 터치전극(EE)의 크기는 코너 터치전극(CM)의 크기보다 클 수 있다.
에지 터치전극(EE)의 크기는 내부 터치전극(IE)의 크기보다 작거나 내부 터치전극(IE)의 크기와 동일할 수 있다.
에지 터치전극(EE)의 영역에는, 전극 메탈(EM)과 전기적으로 끊어진 더미 메탈(DM)이 미 존재할 수 있다.
또는, 에지 터치전극(EE)의 영역에는, 코너 터치전극(CM)의 영역에서 더미 메탈(DM)이 차지하는 영역의 비율보다 높은 비율로 더미 메탈(DM)이 차지할 수 있다.
또는, 에지 터치전극(EE)의 영역에는, 내부 터치전극(IE)의 영역에서 더미 메탈(DM)이 차지하는 영역의 비율보다 낮은 비율로 더미 메탈(DM)이 차지할 수 있다.
도 12는 실시예들에 따른 터치패널(TSP)의 코너 영역에 위치한 터치전극(TE)의 크기를 확장한 경우를 나타낸 도면이다.
이상에서는, 코너 터치전극(CE)에 해당하는 터치전극(TE-1, TE-2)의 영역에서 더미 메탈(DM)이 차지하는 영역의 비율을 조절하여, 코너 영역과 관련한 캐패시턴스 편차를 줄여주거나 제거할 수 있다.
이러한 방법과는 다르게, 도 12에 도시된 바와 같이, 코너 터치전극(CE)에 해당하는 터치전극(TE-1, TE-2)의 크기를 확장하여, 코너 영역과 관련한 캐패시턴스 편차를 줄여주거나 제거할 수도 있다.
도 12에서는, 도 8의 터치전극 구조에서 터치전극(TE-1, TE-2)을 확장시킨 것으로 도시되어 있으나, 도 10의 터치전극 구조에서 터치전극(TE-1, TE-2)을 확장시킬 수 도 있다
터치전극(TE-1, TE-2)의 확장 부분은 영상이 표시되는 액티브 영역을 벗어나 존재할 수 있다. 즉, 모든 터치전극들(TE)은 액티브 영역 내에 존재할 수 있지만, 터치전극 확장 부분은 액티브 영역 밖에 존재할 수 있다.
이상에서는 뮤추얼-캐패시턴스 기반의 터치 센싱을 위한 터치패널(TSP)을 기준으로, 코너 영역과 관련한 캐패시턴스 편차(뮤추얼-캐패시턴스 편차)를 줄이거나 제거하는 구조 및 방법에 대하여 설명하였다.
하지만, 이상에서 설명한 코너 영역과 관련한 캐패시턴스 편차를 줄이거나 제거하기 위하여, 코너 터치전극(CM)의 영역 내 더미 메탈(DM)의 비율을 조절하는 방법과 그 구조, 그리고, 코너 터치전극(CM)의 크기 확장 방법과 그 구조는, 셀프-캐패시턴스 기반의 터치 센싱을 위한 터치패널(TSP)에서도 동일하게 적용될 수 있다. 이에 대하여, 도 13 및 도 14를 참조하여 간략하게 설명한다.
도 13은 실시예들에 따른 터치패널(TSP)의 다른 예시도이다. 도 14는 도 13의 터치패널(TSP)의 코너 영역에서 더미 메탈(DM) 비율이 조절된 경우, 코너 영역의 평면도이다.
도 13을 참조하면, 실시예들에 따른 터치패널(TSP)은 셀프-캐패시턴스 기반의 터치 센싱을 위한 터치패널(TSP)일 수 있다.
이 경우, 다수의 터치전극들(TE) 각각은 전기적으로 분리된다.
그리고, 다수의 터치전극들(TE) 각각은 터치라인(TL)과 전기적으로 연결될 수 있다.
도 14와 같이, 터치전극 영역(TEA)의 코너 영역이 라운드 진 경우, 코너 영역에 위치한 터치전극(TE)에 해당하는 코너 터치전극(CE)은, 코너 영역이 아닌 내부 영역에 위치한 터치전극(TE)에 해당하는 내부 터치전극(IE)보다 크기가 작을 수 있다.
이에 따라, 코너 터치전극(CE)과 사용자의 손가락 사이에 형성되는 캐패시턴스(셀프-캐패시턴스)와, 내부 터치전극(IE)과 사용자의 손가락 사이에 형성되는 캐패시턴스(셀프-캐패시턴스) 간의 편차가 발생할 수 있다.
따라서, 코너 터치전극(CE)의 영역 내 더미 메탈(DM)이 존재하지 않거나, 코너 터치전극(CE)의 영역 내 더미 메탈(DM)의 비율이 작아지도록 설계할 수 있다.
즉, 코너 터치전극(CE)의 영역 내 더미 메탈(DM)의 비율(Rc)은, 비 코너 터치전극(IE)의 영역 내 더미 메탈(DM)의 비율(Ri)보다 작다.
이러한 더미 메탈 비율의 조절에 따라, 코너 터치전극(CE)에서 터치구동신호가 인가되는 부분(실질적인 전극 역할을 하는 부분)의 유효 전극 면적을 증가시킬 수 있다.
이에 따라, 코너 터치전극(CM)의 유효 전극 면적과 비 코너 터치전극(IE)의 유효 전극 면적은 동일하거나 동등한 수준으로 비슷해질 수 있다.
따라서, 코너 터치전극(CE)과 사용자의 손가락 사이에 형성되는 캐패시턴스(셀프-캐패시턴스)와, 내부 터치전극(IE)과 사용자의 손가락 사이에 형성되는 캐패시턴스(셀프-캐패시턴스) 간의 편차를 줄이거나 제거할 수 있다.
전술한 바에 따르면, 셀프-캐패시턴스 기반의 터치 센싱을 위한 터치패널(TSP)의 구조 하에서도, 코너 영역과 관련한 캐패시턴스 편차를 줄이거나 제거할 수 있고, 이를 통해, 셀프-캐패시턴스 기반의 터치 감도를 향상시켜줄 수 있다.
도 15 및 도 16은 실시예들에 따른 터치표시장치(100)의 서브픽셀 구조의 예시들이다.
도 15를 참조하면, 실시예들에 따른 터치표시장치(100)가 유기발광표시장치인 경우, 각 서브픽셀은, 기본적으로, 유기발광다이오드(OLED)와, 유기발광다이오드(OLED)를 구동하는 구동 트랜지스터(DRT: Driving Transistor)와, 구동 트랜지스터(DRT)의 게이트 노드에 해당하는 제1 노드(N1)로 데이터 전압을 전달해주기 위한 제1 트랜지스터(T1)와, 영상 신호 전압에 해당하는 데이터 전압 또는 이에 대응되는 전압을 한 프레임 시간 동안 유지하는 스토리지 캐패시터(Cst: Storage Capacitor)를 포함하여 구성될 수 있다.
유기발광다이오드(OLED)는 제1전극(예: 애노드 전극 또는 캐소드 전극), 유기층 및 제2전극(예: 캐소드 전극 또는 애노드 전극) 등으로 이루어질 수 있다.
유기발광다이오드(OLED)의 제2전극에는 기저 전압(EVSS)이 인가될 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)는 유기발광다이오드(OLED)로 구동 전류를 공급해줌으로써 유기발광다이오드(OLED)를 구동해준다.
구동 트랜지스터(DRT)는 제1 노드(N1), 제2 노드(N2) 및 제3노드(N3)를 갖는다.
구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)는 게이트 노드에 해당하는 노드로서, 제1 트랜지스터(T1)의 소스 노드 또는 드레인 노드와 전기적으로 연결될 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)는 유기발광다이오드(OLED)의 제1전극과 전기적으로 연결될 수 있으며, 소스 노드 또는 드레인 노드일 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)의 제3노드(N3)는 구동 전압(EVDD)이 인가되는 노드로서, 구동 전압(EVDD)을 공급하는 구동전압 라인(DVL: Driving Voltage Line)과 전기적으로 연결될 수 있으며, 드레인 노드 또는 소스 노드일 수 있다.
제1 트랜지스터(T1)는 데이터 라인(DL)과 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1) 사이에 전기적으로 연결되고, 게이트 라인을 통해 스캔 신호(SCAN)를 게이트 노드로 인가 받아 제어될 수 있다.
이러한 제1 트랜지스터(T1)는 스캔 신호(SCAN)에 의해 턴-온 되어 데이터 라인(DL)으로부터 공급된 데이터 전압(Vdata)을 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)로 전달해줄 수 있다.
스토리지 캐패시터(Cst)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이에 전기적으로 연결될 수 있다.
이러한 스토리지 캐패시터(Cst)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이에 존재하는 내부 캐패시터(Internal Capacitor)인 기생 캐패시터(예: Cgs, Cgd)가 아니라, 구동 트랜지스터(DRT)의 외부에 의도적으로 설계한 외부 캐패시터(External Capacitor)이다.
한편, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)의 전압 제어, 또는 서브픽셀의 특성치(예: 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압 또는 이동도, 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압 등)를 센싱하기 위하여, 도 16에 도시된 바와 같이, 각 서브픽셀은 제2 트랜지스터(T2)를 더 포함할 수 있다.
제2 트랜지스터(T2)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)와 기준 전압(Vref)을 공급하는 기준 전압 라인(RVL) 사이에 전기적으로 연결되고, 게이트 노드로 스캔 신호의 일종인 센싱 신호(SENSE)를 인가 받아 제어될 수 있다.
제2 트랜지스터(T2)는 센싱 신호(SENSE)에 의해 턴-온 되어 기준 전압 라인(RVL)을 통해 공급되는 기준 전압(Vref)을 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)에 인가해준다.
또한, 제2 트랜지스터(T2)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)에 대한 전압 센싱 경로 중 하나로 활용될 수 있다.
한편, 스캔 신호(SCAN) 및 센싱 신호(SENSE)는 별개의 게이트 신호일 수 있다. 이 경우, 스캔 신호(SCAN) 및 센싱 신호(SENSE)는, 서로 다른 게이트 라인을 통해, 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 노드 및 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 노드로 각각 인가될 수도 있다.
경우에 따라서는, 스캔 신호(SCAN) 및 센싱 신호(SENSE)는 동일한 게이트 신호일 수도 있다. 이 경우, 스캔 신호(SCAN) 및 센싱 신호(SENSE)는 동일한 게이트 라인을 통해 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 노드 및 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 노드에 공통으로 인가될 수도 있다.
구동 트랜지스터(DRT), 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2) 각각은 n 타입 트랜지스터 또는 p 타입 트랜지스터일 수 있다.
도 17 및 도 18은 실시예들에 따른 터치표시장치(100)의 단면도들이다.
도 17 및 도 18을 참조하면, 터치패널(TSP)이 유기발광표시패널로 구현된 표시패널(110)에 내장된 경우, 터치패널(TSP)은 봉지 층(ENCAP)과 디스플레이 커버(COVER) 사이에 위치할 수 있다.
다시 말해, 다수의 터치전극들(TE), 다수의 터치라인들(TL) 등의 터치센서메탈은, 봉지 층(ENCAP) 상에 위치할 수 있다.
전술한 바와 같이, 봉지층(ENCAP) 상에 터치전극들(TE)을 형성함으로써, 디스플레이 성능 및 디스플레이를 위한 층의 형성에 큰 영향을 주지 않고, 터치전극들(TE)을 형성할 수 있다.
한편, 뮤추얼-캐패시턴스 기반의 터치 센싱 방식의 경우, 터치전극들(TE) 중 구동전극 간의 연결 및/또는 센싱전극 간의 연결을 위해, 브릿지 패턴(BP)이 존재할 수 있는데, 이러한 브릿지 패턴(BP)은 터치전극들(TE)과는 절연층을 사이에 두고 다른 층에 존재할 수 있다.
도 17 및 도 18에서는, 설명의 편의를 위하여, 터치전극들(TE)과 브릿지 패턴(BP) 사이의 절연층과, 브릿지 패턴(BP)은 도시되어 있지 않다.
한편, 도 17 및 도 18을 참조하면, 봉지층(ENCAP) 아래에 유기발광다이오드(OLED)의 캐소드(Cathode)가 존재한다.
봉지층(ENCAP)의 두께(T)는, 일 예로, 5 마이크로 미터 이상일 수 있다.
전술한 바와 같이, 봉지층(ENCAP)의 두께를 5 마이크로 미터 이상으로 설계함으로써, 유기발광다이오드(OLED)의 캐소드(Cathode)와 터치전극들(TE) 사이에 형성되는 기생 캐패시턴스를 줄여줄 수 있다. 이에 따라, 기생 캐패시턴스에 의한 터치감도 저하를 방지할 수 있다.
한편, 터치전극(TE)이 오프 영역들(OA)이 있는 메쉬 타입의 전극 메탈(EM)로 되어 있을 때, 수직 방향으로 보면, 각 오픈 영역들(OA) 각각의 위치는 하나 또는 둘 이상의 서브픽셀 또는 그 발광부의 위치와 대응될 수 있다.
따라서, 도 17 및 도 18에 도시된 바와 같이, 다수의 오픈 영역들(OA)은 다수의 컬러필터들(CF)과 대응될 수 있다.
그리고, 터치전극(TE)의 전극 메탈(EM)은 블랙 매트릭스(BM)와 대응될 수 있다.
전술한 바와 같이, 유기발광표시패널에서, 화이트 OLED를 이용하는 경우 등에 필요한 컬러필터들(CF)을 오픈 영역들(OA)에 대응시켜 배치함으로써, 우수한 발광성능을 갖는 터치표시장치(100)를 제공할 수 있다.
컬러필터들(CF)과 터치전극들(TE) 간의 수직 위치 관계를 살펴보면, 다음과 같다.
도 17에 도시된 바와 같이, 다수의 컬러필터들(CF)과 블랙매트릭스(BM)은 다수의 터치전극들(TE) 상에 위치할 수 있다.
다수의 컬러필터들(CF)과 블랙매트릭스(BM)은, 다수의 터치전극들(TE) 상의 오버코트 층(OC) 상에 위치할 수 있다.
도 17에 도시된 바와 같이, 다수의 컬러필터들(CF)과 블랙매트릭스(BM)은 다수의 터치전극들(TE)의 하부에 위치할 수 있다.
다수의 터치전극들(TE)은 다수의 컬러필터들(CF)과 블랙매트릭스(BM) 상의 오버코트 층(OC) 상에 위치할 수 있다.
전술한 바에 따르면, 발광 성능 등의 디스플레이 성능과 터치 성능을 고려하여, 컬러필터들(CF)과 터치전극들(TE) 간의 최적의 위치 관계를 갖는 터치표시장치(100)를 제공할 수 있다.
한편, 터치표시장치(100)의 제작 편리성 향상 및 사이즈 축소 등을 위하여, 터치전극들(TE)로 이루어지는 터치패널(TSP)을 표시패널(110)에 내장하기 위한 시도들이 종래에도 이루어지고 있다.
하지만, 유기발광표시패널인 표시패널(110)에 터치패널(TSP)을 내장하기 위해서는 상당한 어려움이나 많은 제약 사항들이 있다.
가령, 유기발광표시패널인 표시패널(110)의 제작 공정 시, 유기물로 인해, 일반적으로 금속 물질로 되어 있는 터치전극들(TE)을 패널 내부에 형성하기 위한 고온 공정이 자유롭지 못한 한계점이 있다.
이러한 유기발광표시패널의 구조적 특성 및 공정 등의 제약 요인으로 인해, 유기발광표시패널인 표시패널(110)의 내부에 터치센서로서의 터치전극들(TE)을 배치시키기가 어려운 실정이었다. 따라서, 종래에는, 터치패널(TSP)을 유기발광표시패널인 표시패널(110)에 내장시키는 것이 아니라, 유기발광표시패널인 표시패널(110) 상에 부착하는 방식으로 터치구조를 구현해 왔다.
하지만, 도 17 및 도 18에 도시된 바와 같이, 봉지층(ENCAP) 상에 터치전극들(TE)을 형성하는 등의 구조를 통해, 우수한 디스플레이 성능 및 터치 성능을 가질 수 있는 터치패널(TSP)이 내장된 유기발광표시패널인 표시패널(110)을 제공할 수 있다.
이상에서 설명한 실시예들에 의하면, 터치전극들의 위치에 관계없이, 모든 위치에 있는 터치전극들에서 형성되는 캐패시턴스들 간의 원치 않는 편차의 발생을 방지하거나 제거하여 우수한 터치 감도를 얻을 수 있는 터치표시장치(100) 및 터치패널(TSP)을 제공하는 효과가 있다.
또한, 실시예들에 의하면, 터치패널의 형상에 관계없이 정확한 캐패시턴스를 기반으로 하는 터치 센싱이 가능한 터치표시장치(100) 및 터치패널(TSP)을 제공하는 효과가 있다.
또한, 실시예들에 의하면, 터치전극들(TE) 간의 크기 차이가 존재하더라도, 터치전극들(TE)에서 형성되는 캐패시턴스들 간의 원치 않는 편차가 발생하는 것을 방지하여 우수한 터치 감도를 얻을 수 있는 터치표시장치(100) 및 터치패널(TSP)을 제공하는 효과가 있다.
또한, 실시예들에 의하면, 터치전극들(TE) 간의 형상의 차이가 존재하더라도, 터치전극들(TE)에서 형성되는 캐패시턴스들 간의 원치 않는 편차가 발생하는 것을 방지하여 우수한 터치 감도를 얻을 수 있는 터치표시장치(100) 및 터치패널(TSP)을 제공하는 효과가 있다.
또한, 실시예들에 의하면, 터치패널(TSP)의 코너 영역이 라운드 형상인 경우, 코너 영역에 위치한 터치전극(TE)에 대하여 형성된 캐패시턴스와, 코너 영역이 아닌 영역에 위치한 터치전극(TE)에 대하여 형성된 캐패시턴스 간의 원치 않은 편차를 줄여주어, 모든 영역에서 우수한 터치 감도를 얻을 수 있는 터치표시장치(100) 및 터치패널(TSP)을 제공하는 효과가 있다.
이상에서의 설명 및 첨부된 도면은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 나타낸 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 구성의 결합, 분리, 치환 및 변경 등의 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 터치표시장치
110: 표시패널
120: 디스플레이 구동 회로
130: 터치회로

Claims (13)

  1. 다수의 터치전극들이 배치된 터치패널; 및
    상기 터치패널로 터치구동신호를 공급하는 터치회로를 포함하고,
    상기 다수의 터치전극들 각각은 메쉬 타입으로 패터닝 된 전극 메탈이고,
    상기 다수의 터치전극들은, 상기 터치패널의 코너 영역에 위치한 터치전극인 코너 터치전극과, 상기 터치패널의 비 코너 영역에 위치한 터치전극인 비 코너 터치전극을 포함하고,
    상기 비 코너 터치전극의 영역 내에는,
    전극 메탈과 전기적으로 끊어진 하나 이상의 더미 메탈이 존재하고,
    상기 코너 터치전극의 영역 내에는,
    전극 메탈과 전기적으로 끊어진 더미 메탈이 미 존재하거나,
    상기 비 코너 터치전극의 영역에서 더미 메탈이 차지하는 영역의 비율보다 낮은 비율로 더미 메탈이 존재하는 터치표시장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 터치패널의 코너 영역의 외곽은 라운드 형상인 터치표시장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 전극 메탈과 상기 더미 메탈은 동일한 층에 위치하는 터치표시장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 터치패널에는 상기 다수의 터치전극들의 전체 또는 일부를 상기 터치회로와 전기적으로 연결해주는 다수의 터치라인들이 배치되고,
    상기 코너 터치전극과 전기적으로 연결된 터치라인과, 상기 비 코너 터치전극과 전기적으로 연결된 터치라인은, 다른 모양을 갖는 터치표시장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 코너 터치전극의 외곽의 윤곽은 라운드 져 있고,
    상기 코너 터치전극과 전기적으로 연결된 터치라인은 라운드 진 부분을 포함하는 터치표시장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 터치전극들 각각은 다수의 오픈 영역들이 있는 메쉬 타입의 전극 메탈이고,
    하나의 오픈 영역은 하나 이상의 서브픽셀의 발광부와 대응되는 터치표시장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 전극 메탈과 중첩되도록 블랙 매트릭스가 위치하고, 상기 다수의 오픈 영역들은 다수의 컬러필터들과 대응되는 터치표시장치.
  8. 터치패널에 있어서,
    다수의 터치전극들; 및
    상기 다수의 터치전극들의 전체 또는 일부와 연결된 다수의 터치라인들을 포함하고,
    상기 다수의 터치전극들 각각은 메쉬 타입으로 패터닝 된 전극 메탈이고,
    상기 다수의 터치전극들은, 상기 터치패널의 코너 영역에 위치한 터치전극인 코너 터치전극과, 상기 터치패널의 비 코너 영역에 위치한 터치전극인 비 코너 터치전극을 포함하고,
    상기 비 코너 터치전극의 영역 내에는,
    전극 메탈과 전기적으로 끊어진 하나 이상의 더미 메탈이 존재하고,
    상기 코너 터치전극의 영역 내에는,
    전극 메탈과 전기적으로 끊어진 더미 메탈이 미 존재하거나,
    상기 비 코너 터치전극의 영역에서 더미 메탈이 차지하는 영역의 비율보다 낮은 비율로 더미 메탈이 존재하는 터치패널.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 전극 메탈과 상기 더미 메탈은 동일한 층에 위치하는 터치패널.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 다수의 터치전극들 각각은 다수의 오픈 영역들이 있는 메쉬 타입의 전극 메탈이고, 상기 다수의 오픈 영역들 각각은 하나 이상의 서브픽셀의 발광부와 대응되는 터치패널.
  11. 제8항에 있어서,
    상기 코너 터치전극이 상기 비 코너 터치전극보다 크기가 작은 터치패널.
  12. 제8항에 있어서,
    상기 다수의 터치라인들은 상기 코너 터치전극과 전기적으로 연결된 제1 터치라인과, 상기 비 코너 터치전극과 전기적으로 연결된 제2 터치라인을 포함하고,
    상기 제1 터치라인과 상기 제2 터치라인은 서로 다른 모양을 갖는 터치패널.
  13. 제8항에 있어서,
    상기 코너 터치전극의 외곽이 라운드 형상인 터치패널.
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