KR101558256B1 - 고정 가능한 프로브 핀 및 프로브 핀 고정 어셈블리 - Google Patents

고정 가능한 프로브 핀 및 프로브 핀 고정 어셈블리 Download PDF

Info

Publication number
KR101558256B1
KR101558256B1 KR1020150068652A KR20150068652A KR101558256B1 KR 101558256 B1 KR101558256 B1 KR 101558256B1 KR 1020150068652 A KR1020150068652 A KR 1020150068652A KR 20150068652 A KR20150068652 A KR 20150068652A KR 101558256 B1 KR101558256 B1 KR 101558256B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
horizontal portion
probe
horizontal
vertical
probe pin
Prior art date
Application number
KR1020150068652A
Other languages
English (en)
Korean (ko)
Inventor
김영호
맹근영
구황섭
김현제
정희석
Original Assignee
주식회사 기가레인
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 기가레인 filed Critical 주식회사 기가레인
Priority to KR1020150068652A priority Critical patent/KR101558256B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101558256B1 publication Critical patent/KR101558256B1/ko
Priority to CN201910794571.XA priority patent/CN110531124A/zh
Priority to CN201610260679.7A priority patent/CN106168632A/zh
Priority to TW105114517A priority patent/TWI572864B/zh
Priority to TW106100662A priority patent/TWI600908B/zh
Priority to JP2016096773A priority patent/JP6055951B2/ja

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06705—Apparatus for holding or moving single probes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716—Elastic
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733—Geometry aspects

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Geometry (AREA)
KR1020150068652A 2015-05-18 2015-05-18 고정 가능한 프로브 핀 및 프로브 핀 고정 어셈블리 KR101558256B1 (ko)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150068652A KR101558256B1 (ko) 2015-05-18 2015-05-18 고정 가능한 프로브 핀 및 프로브 핀 고정 어셈블리
CN201910794571.XA CN110531124A (zh) 2015-05-18 2016-04-25 能够固定的探针及探针固定组件
CN201610260679.7A CN106168632A (zh) 2015-05-18 2016-04-25 能够固定的探针及探针固定组件
TW105114517A TWI572864B (zh) 2015-05-18 2016-05-10 可固定之探針及探針固定組件
TW106100662A TWI600908B (zh) 2015-05-18 2016-05-10 可固定之探針
JP2016096773A JP6055951B2 (ja) 2015-05-18 2016-05-13 固定可能なプローブピン及びプローブピン固定アセンブリ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150068652A KR101558256B1 (ko) 2015-05-18 2015-05-18 고정 가능한 프로브 핀 및 프로브 핀 고정 어셈블리

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101558256B1 true KR101558256B1 (ko) 2015-10-12

Family

ID=54347174

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020150068652A KR101558256B1 (ko) 2015-05-18 2015-05-18 고정 가능한 프로브 핀 및 프로브 핀 고정 어셈블리

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP6055951B2 (zh)
KR (1) KR101558256B1 (zh)
CN (2) CN106168632A (zh)
TW (2) TWI572864B (zh)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102098650B1 (ko) * 2019-07-24 2020-04-10 주식회사 프로이천 핀 타입 프로브 장치
KR102121618B1 (ko) 2020-02-06 2020-06-10 주식회사 프로이천 일체형 프로브 어레이블록
KR102121620B1 (ko) 2020-02-11 2020-06-10 주식회사 프로이천 분리형 프로브 어레이블록
KR102225546B1 (ko) 2020-11-13 2021-03-10 주식회사 프로이천 프로브핀블록
KR102241059B1 (ko) * 2020-01-14 2021-04-16 (주)위드멤스 프로브 블록 조립체
KR102241061B1 (ko) * 2020-01-14 2021-04-16 (주)위드멤스 프로브 블록 조립체
KR102357377B1 (ko) * 2021-09-06 2022-02-08 가온솔루션 주식회사 프로브핀 및 이를 구비하는 프로브유닛
KR20220166597A (ko) * 2021-06-10 2022-12-19 주식회사 프로이천 핀 보드
KR20230076514A (ko) * 2021-11-24 2023-05-31 (주)티에스이 프로브 카드

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108834330B (zh) * 2018-06-29 2021-07-20 惠州市金百泽电路科技有限公司 一种pcb“d”字型异型焊盘的加工方法
CN111141938B (zh) * 2018-11-02 2021-10-29 旺矽科技股份有限公司 适用于具有倾斜导电接点的多待测单元的探针模块

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100600700B1 (ko) 2005-07-29 2006-07-19 프롬써어티 주식회사 평판표시패널 검사용 프로브 장치
KR100697218B1 (ko) 2005-03-17 2007-03-21 주식회사 코디에스 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립체 및그의 조립방법
KR100781379B1 (ko) * 2007-01-30 2007-11-30 안재일 프로브장치

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08271579A (ja) * 1995-03-30 1996-10-18 Fujitsu Ltd Ｉｃソケット及びそれを用いたｉｃ試験方法
JP4496456B2 (ja) * 2001-09-03 2010-07-07 軍生 木本 プローバ装置
US7230437B2 (en) * 2004-06-15 2007-06-12 Formfactor, Inc. Mechanically reconfigurable vertical tester interface for IC probing
JP4571517B2 (ja) * 2004-10-19 2010-10-27 株式会社日本マイクロニクス プローブ組立体
JP2007303826A (ja) * 2006-05-08 2007-11-22 Tokyo Electron Ltd プローブ
CN101315391B (zh) * 2007-05-28 2011-11-23 旺矽科技股份有限公司 拉伸式折叠探针
CN101329366B (zh) * 2007-06-22 2011-03-30 旺矽科技股份有限公司 一种探针短路防止结构的制作方法
JP5222038B2 (ja) * 2008-06-20 2013-06-26 東京エレクトロン株式会社 プローブ装置
KR101049445B1 (ko) * 2009-01-12 2011-07-15 주식회사 디엠엔티 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 유닛
JP5491790B2 (ja) * 2009-07-27 2014-05-14 株式会社日本マイクロニクス プローブ装置
JP5690105B2 (ja) * 2009-11-26 2015-03-25 株式会社日本マイクロニクス プローブ装置
CN102081110B (zh) * 2009-11-26 2014-03-26 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 探针装置
JP5417265B2 (ja) * 2010-06-24 2014-02-12 株式会社日本マイクロニクス プローブ組立体
CN102565470B (zh) * 2010-12-03 2014-06-04 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 探针组合体
KR101215375B1 (ko) * 2011-11-25 2012-12-26 (주)기가레인 컨택트 필름, 상기 컨택트 필름의 제조방법, 프로브 유닛 및 ｌｃｄ 패널 검사장치
JP2014182976A (ja) * 2013-03-21 2014-09-29 Enplas Corp 電気接触子及び電気部品用ソケット

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100697218B1 (ko) 2005-03-17 2007-03-21 주식회사 코디에스 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립체 및그의 조립방법
KR100600700B1 (ko) 2005-07-29 2006-07-19 프롬써어티 주식회사 평판표시패널 검사용 프로브 장치
KR100781379B1 (ko) * 2007-01-30 2007-11-30 안재일 프로브장치

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102098650B1 (ko) * 2019-07-24 2020-04-10 주식회사 프로이천 핀 타입 프로브 장치
KR102241059B1 (ko) * 2020-01-14 2021-04-16 (주)위드멤스 프로브 블록 조립체
KR102241061B1 (ko) * 2020-01-14 2021-04-16 (주)위드멤스 프로브 블록 조립체
KR102121618B1 (ko) 2020-02-06 2020-06-10 주식회사 프로이천 일체형 프로브 어레이블록
KR102121620B1 (ko) 2020-02-11 2020-06-10 주식회사 프로이천 분리형 프로브 어레이블록
KR102225546B1 (ko) 2020-11-13 2021-03-10 주식회사 프로이천 프로브핀블록
KR102266367B1 (ko) 2020-11-13 2021-06-17 주식회사 프로이천 프로브핀블록
KR20220166597A (ko) * 2021-06-10 2022-12-19 주식회사 프로이천 핀 보드
KR102563643B1 (ko) 2021-06-10 2023-08-04 주식회사 프로이천 핀 보드
KR102357377B1 (ko) * 2021-09-06 2022-02-08 가온솔루션 주식회사 프로브핀 및 이를 구비하는 프로브유닛
KR20230076514A (ko) * 2021-11-24 2023-05-31 (주)티에스이 프로브 카드
KR102614928B1 (ko) 2021-11-24 2023-12-19 (주)티에스이 프로브 카드

Also Published As

Publication number Publication date
TWI572864B (zh) 2017-03-01
JP2016218056A (ja) 2016-12-22
CN110531124A (zh) 2019-12-03
TWI600908B (zh) 2017-10-01
TW201716783A (zh) 2017-05-16
TW201631322A (zh) 2016-09-01
CN106168632A (zh) 2016-11-30
JP6055951B2 (ja) 2016-12-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101558256B1 (ko) 고정 가능한 프로브 핀 및 프로브 핀 고정 어셈블리
KR101859388B1 (ko) 수직 프로브 카드
US20120038383A1 (en) Direct-docking probing device
KR101786831B1 (ko) B to B 컨넥터 모듈 및 반도체 테스트용 멀티 컨택이 가능한 테스트 소켓
KR101911749B1 (ko) 소켓
US9651578B2 (en) Assembly method of direct-docking probing device
KR20160084014A (ko) 검사접촉장치
WO2008071541A3 (de) Modul für eine prüfvorrichtung zum testen von leiterplatten
KR101111124B1 (ko) 검사용 소켓
KR20160048337A (ko) 필름형 프로브 유닛
KR102132232B1 (ko) 프로브 핀, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 반도체 검사 장치
KR20180130687A (ko) 전자 소자 검사용 프로브
JP2005127808A (ja) プローブ組立体
KR101646544B1 (ko) 부품이 간소화된 테스트 소켓
KR101203125B1 (ko) 프로브카드용 니들설치블록
KR101598596B1 (ko) 전자 디바이스의 검사장치
US9347982B1 (en) Circuit board probe fixture
KR101598604B1 (ko) 필름형 프로브 유닛
US20050083071A1 (en) Electronic circuit assembly test apparatus
KR101367926B1 (ko) 반도체 디바이스의 검사장치
US9698513B1 (en) Force biased spring probe pin assembly
CN100504516C (zh) 导正装置
KR101592303B1 (ko) 필름형 프로브 유닛
CN220251995U (zh) 一种触摸屏假压电测夹具
KR101886656B1 (ko) 입력장치 검사용 프로브 모듈

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190909

Year of fee payment: 5