JP2005127808A - プローブ組立体 - Google Patents

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Abstract

【課題】 複数のプローブを共通のブロックに配置することにある。
【解決手段】 プローブ組立体は、サイドカバーをベースブロックの各端面に取り付け、バー支持体を両サイドカバーの中間に配置し、ガイドバーを一方及び他方のサイドカバーとブロック支持体とに配置し、複数のプローブを複数のグループに分けてグループ毎にガイドバーに支持させたことを特徴とする。
【選択図】 図1

Description

本発明は、液晶表示パネルのような平板状被検査体の電気的特性の検査に用いるプローブ組立体に関する。
本発明においては、平板状被検査体の厚さ方向を上下方向といい、複数のプローブの配列方向を左右方向といい、左右方向に直角な水平方向を前後方向といい、プローブの第1の針先領域の側を前方といい、プローブの第2の針先領域の側を後方という。
液晶表示パネルの検査に用いるプローブ組立体の1つとして、帯状の中央領域並びに該中央領域の先端及び後端からそれぞれさらに前方及び後方へ伸びる第1及び第2の針先領域を備える複数のプローブを中央領域の幅方向が上下方向となる状態に中央領域を対向させてブロックの下側に並列的に配置し、それらのプローブを、それらのプローブを貫通する細長い1以上のガイドバーを介してブロックに支持させたものが知られている(特許文献1参照)。
このように水平用及び垂直用の2種類の電極(パッド電極)を表示画素毎に備えた液晶表示パネルの検査は、各電極にプローブを接触させなければならない。すなわち、検査は、水平用及び垂直用のプローブを、それぞれ、液晶表示パネルの水平用及び垂直用の電極に接触させて行う。
このため、従来では、それぞれが複数のプローブを備えた水平用及び垂直用の2種類のプローブ組立体を用いて検査を行っている。
しかし、液晶表示パネルは、年々、小型化され、水平用電極及び垂直用電極の配置ピッチがいずれも狭くなってきている。例えば、約4.826cm(1.9インチ)の小型COGパネルが提案されている。この小型COGパネルの下部に沿って直列的に水平用電極と垂直用電極とが狭配置ピッチで配置されている。
このように狭配置ピッチの小型液用表示パネルの検査においては、水平用及び垂直用の多数のプローブを電極の配置ピッチと同じ配置ピッチで共通のブロックに配置することが難しい。
特開平10−132853号公報
本発明の目的は、複数のプローブを共通のブロックに配置することにある。
本発明に係るプローブ組立体は、ベースブロックと、前記ベースブロックの左右方向における端面に装着された第1及び第2のサイドカバーと、前記ベースブロックの左右方向における中間に配置されたバー支持体と、それぞれが帯状の中央領域並びに該中央領域の先端及び後端からそれぞれさらに前方及び後方へ伸びる第1及び第2の針先領域を備える複数のプローブであって前記中央領域の幅方向が上下方向となる状態に前記中央領域を対向させて、前記バー支持体と前記第1のサイドカバーとの間に配置された第1のグループ及び前記バー支持体と前記第2のサイドカバーとの間に配置された第2のグループに分けられた複数のプローブと、前記第1のグループのプローブの中央領域を貫通して伸びて前記バー支持体と前記第1のサイドカバーとに支持された第1のガイドバーと、前記第2のグループのプローブの中央領域を貫通して伸びて前記バー支持体と前記第2のサイドカバーとに支持された第2のガイドバーとを含む。
複数のプローブは、バー支持体を両サイドカバーの間に配置して、一方のグループの複数のプローブがバー支持体と一方のサイドカバーとの間に配置されたグループと、バー支持体と他方のサイドカバーとの間に配置されたグループとに分けられて、バー支持体とサイドカバーとに支持されたグループ毎のガイドバーによりブロックに支持されている。
このため、本発明によれば、複数のプローブを共通のブロックに配置することができる。また、全てのプローブをベースブロックから外すことなく、交換すべきプローブを含むグループのプローブをベースブロックから外して、交換することができる。その結果、プローブの交換作業が容易になる。
前記第1及び第2のガイドバーの各々は、前後方向に間隔をおいて左右方向へ平行に伸びる一対のバーを備えていてもよい。そのようにすれば、プローブが一対のバーにより確実に保持されて、それらの姿勢が安定化するから、プローブの位置精度が向上する。
プローブ組立体は、さらに、前記バー支持体と前記第1のサイドカバーとの間に配置されて前記ベースブロックに装着された一対の第1のスリットバーであって前記第1及び第2のグループのプローブの前記第1の針先領域をそれぞれ受ける複数の溝を有する一対の第1のスリットバーと、前記バー支持体と前記第2のサイドカバーとの間に配置されて前記ベースブロックに装着された一対の第2のスリットバーであって前記第1及び第2のグループのプローブの前記第2の針先領域をそれぞれ受ける複数の溝を有する一対の第2のスリットバーとを含んでいてもよい。そのようにすれば、各プローブの針先領域が対応する溝に差し込まれて、各針先領域が安定化するから、隣接するプローブの間隔を一定に保持することができ、プローブの針先領域の先端部の位置精度が向上する。
各第1のスリットバー及び各第2のスリットバーは、それぞれ、前後方向における外側に左右方向に伸びる第1及び第2の段部を有し、また前記第1及び第2の段部を前後方向における前記ベースブロックの前側及び後側に接触させていてもよい。そのようにすれば、第1及び第2のスリットバーの段部がベースブロックに確実に位置決めされ、第1及び第2のスリットバーの位置決め精度が向上する。このため、プローブの針先領域の先端部の位置精度が向上する。
前記第1及び第2のサイドカバーは、前記第1又は第2のガイドバーの端部を支持するインナーカバーと、該インナーカバーの外側に配置されたアウターカバーとを含んでいてもよい。
前記第1及び第2のグループの隣り合うプローブの前記第1及び第2の針先領域の先端部の位置は前後方向にずれていてもよい。そのようにすれば、被検査体の電極の配置ピッチが小さくても、前後方向のずれを被検査体の電極の前後方向のずれと同じ寸法にすることができるから、複数のプローブを狭ピッチでベースブロックに配置することができる。
前記第1のグループのプローブと第2のグループのプローブとは、前記第1及び第2の針先領域の先端部の位置を前後方向にずらしていてもよい。そのようにすれば、電極の位置が前後方向にずれた被検査体の検査に用いることができる。
前記バー支持体は、前記第1のガイドバーの端部を受け入れる第1の凹所と、前記第2のガイドバーの端部を受け入れる第2の凹所とを備えていてもよい。そのようにすれば、第1及び第2のガイドバーは、それぞれ、第1及び第2の凹所に差し込まれるから、第1及び第2のガイドバーを精度よくしかも確実にバー支持体に組み付けることができる。
プローブ組立体は、さらに、前記第1及び第2のガイドバーをそれぞれ前記第1及び第2のサイドカバーに組み付ける第1及び第2の止めねじを含んでもよい。この場合、前記第1及び第2のガイドバーは、それぞれ、これの外側の端部に前記第1及び第2の止めねじが螺合された凹所を有する。
図1から図4を参照するに、プローブ組立体10は、図5に示す長方形の液晶表示パネル12を平板状被検査体とする検査装置に用いられる。液晶表示パネル12は、長方形の形状を有しており、また液晶を封入している。
液晶表示パネル12は、図5に示すように、その大部分を表示部14としている。液晶表示パネル12は、表示部14のほかに、さらに、駆動用集積回路(IC)を装着する一対の駆動ICボンディング部16,18を長手方向の一端部に左右方向に間隔をおいて有しており、また、表示部14とボンディング部16及び18との間に2組の電極(パッド電極)20,22及び24,26をそれぞれ2列に有している。
電極20,22及び24,26は、それぞれ、水平走査用電極及び垂直走査用電極のグループに対応されている。電極20,22及び24,26は、グループ毎に前後方向に距離Yだけずれるように、千鳥状に配置されている。電極20,22と電極24,26とは、左右方向に距離Xだけ間隔をおいていると共に、前後方向に距離Zだけずれている。ボンディング部16及び18は、前後方向に距離Zだけずらされている。
図1から図4を再び参照するに、プローブ組立体10は、ベースブロック30と、ベースブロック30の左右方向における各端面に装着されたサイドカバー32と、ベースブロック30の左右方向における中間に配置されたバー支持体34と、バー支持体34と一方のサイドカバー32との間に配置された複数のプローブ36と、バー支持体34と他方のサイドカバー32との間に配置された複数のプローブ38と、プローブ36及び38をそれぞれ貫通する複数のガイドバー40とを含む。
バー支持体34は、図示の例では、ベースブロック30と別個に製作されて、ベースブロック30に接着又はねじ止めされている。しかし、バー支持体34は、ベースブロック30と一体的に製作してもよい。
プローブ36は第1のグループを構成しており、プローブ38は第2のグループを構成している。第1のグループのプローブ36と、第2のグループのプローブ38とは、図1に示すように、左右方向に距離Xをおいていると共に、前後方向に距離Zだけずらされている。
プローブ36及び38のそれぞれは、帯状の中央領域44並びに中央領域44の先端及び後端からそれぞれさらに前方及び後方へ伸びる前側及び後側の針先領域46及び48(図2参照)を備える。前側の各針先領域46の先端部(針先)は下方に曲げられており、後側の各針先領域48の先端部は上方に曲げられている。
プローブ36及び38は、中央領域44の幅方向が上下方向となり、かつグループ毎に中央領域44を対向させて前後方向に伸びる状態に、所定の箇所にグループ毎に左右方向に間隔をおいて配置されている。隣り合うプローブ36及び38は、針先領域46及び48の位置をグループ毎に前後方向に距離Yだけずらされている。それゆえに、プローブ36及び38の針先領域46及び48は、グループ毎に千鳥状とされている。
ベースブロック30は、サイドカバー32を正確に位置決める一対のガイドピン50を左右方向の各端面から中央に向けて差し込んでいる。ベースブロック30は、また、プローブ36,38を装着するブロック本体52と、後に説明するプローブユニットすなわちプローブ装置80に装着するための装着部54とを備えている。
各サイドカバー32は、ガイドバー40の端部を支持するインナーカバー56と、インナーカバー56の外側に配置されたアウターカバー58とを備えている。インナーカバー56及びアウターカバー58は、それぞれ、ガイドピン50が嵌合する穴60及び62を有している。
各サイドカバー32は、アウターカバー58及びインナーカバー56を貫通してベースブロック30の左右方向端面のねじ穴64に螺合された一対のボルト66により、ベースブロック30に取り付けられている。
各ガイドバー40は、対応するプローブ36又は38の中央領域44とを貫通して、一端部をバー支持体34の凹所68(図2参照)に受け入れられ、他端部を対応するインナーカバー56の穴すなわち凹所70(図2参照)に受け入れられている。各ガイドバー40は、サイドカバー32を貫通して他端部のねじ穴72に螺合されたボルト74によりベースブロック30に組み付けられている。
プローブ36用のガイドバー40と、プローブ38用のガイドバー40とは、互いに、距離Zだけ前後方向にずらされている。
プローブ36及び38の前側及び後側の針先領域46及び48は、それぞれ、バー支持体34及び34とサイドカバー32及び32との間に配置されたスリットバー76及び76に形成された溝78及び78に差し込まれている。これにより、ベースブロック30に対するプローブ36及び38の位置が安定化されている。
各スリットバー76は、左右方向に伸びる段部79を後側又は前側の上部に有しており、段部79をベースブロック30の前側又は後側の下端部に当接させている。これにより、ベースブロック30に対するスリットバー76の位置が安定化し、それによりベースブロック30に対するプローブ36,38の位置が安定化する。
プローブ組立体10は、先ず、各スリットバー76を所定に位置に所定の状態にベースブロック30に取り付けた状態で、プローブ36及び38の各両端部を所定のスリットバー76の溝78に挿し込み、次いで各ガイドバー40をプローブ36,38と、サイドカバー32とに挿し通し、各ガイドバー40をボルト74でサイドカバー32に取り付け、その後各サイドカバー32をボルト66でベースブロック30に取り付けることにより、組み立てることができる。これにより、プローブ36,38は、バー支持体34、ガイドバー40及びサイドカバー32を介してベースブロック30に支持される。
プローブ36又は38の交換は、上記と逆の作業を行って元のプローブを新たなプローブに変更した後、上記と同様の作業を実行することにより、行うことができる。
上記のプローブ組立体10は、複数のプローブをプローブ36のグループと、プローブ38のグループとに分けて、プローブ毎に共通のベースブロック30に支持させているから、前後方向における針先の位置をプローブ群同士で相互にずらすことができるし、隣り合うプローブの針先の位置をグループ毎にずらせることができる。
上記の結果、液晶表示パネルの電極の配置ピッチが小さくても、前後方向のずれを液晶表示パネルの電極の前後方向のずれと同じ寸法にすることができるから、複数のプローブを狭ピッチでベースブロックに配置することができるし、電極の位置が前後方向にずれた液晶表示パネルの検査に用いることができる。
上記のようにプローブ36,38をグループ毎にベースブロック30に支持させると、全てのプローブをベースブロック30から外すことなく、交換すべきプローブ36又は38を含むグループのプローブ36又は38をベースブロック30から外して、交換することができる。その結果、プローブの交換作業が容易になる。
さらに、プローブ36及び38のそれぞれを一対のガイドバー40によりベースブロック30に支持させているから、プローブ36及び38が確実に保持されて、それらの姿勢が安定化し、その結果ベースブロックに対するプローブの位置精度が向上する。
図6から図11を参照するに、プローブユニットすなわちプローブ装置80は、複数の被検査体の同時検査を可能にすべく上記した複数のプローブ組立体10を板状のプローブベース82に脱着可能に組み付けている。
図6に示すように、プローブ装置80は、液晶表示パネル12毎のプローブ組立体10及び共通のプローブベース82のほかに、さらに、プローブベース82に組み付けられた取り付けブロック84と、取り付けブロック84に上下方向へ移動可能に組み付けられたL字状のサスペンションブロック86と、サスペンションブロック86の下端に取り付けられた結合ブロック88と、結合ブロック88の下側に水平に取り付けられた板状の配線ブロック90とをプローブ組立体10毎に備えている。
各プローブ組立体10は、装着部54を結合ブロック88と配線ブロック90とにより形成される空間92に挿入されて、結合ブロック88と配線ブロック90とにより支持されている。
プローブベース82は、配線ブロック90がほぼ水平となり、プローブベース82の厚さ方向が上下方向となり、サスペンションブロック86等が左右方向へ間隔をおくように、図示しない検査装置に取り付けられる。
プローブベース82は、それぞれが複数の配線96(図7参照)を有する複数のフラットケーブル94の後端部に配置されたコネクタを支持している。各コネクタはテスターに電気的に接続される。
しかし、コネクタを用いる代わりに、フラットケーブル94の配線に個々に接続される複数の配線と、該配線に個々に接続されるテスターランドとをプローブベース82に形成してもよい。
各取り付けブロック84は、プローブベース82の上面に複数のねじ部材(図示せず)により取り付けられている。各取り付けブロック84は、先端部下側に凹欠部を有しており、この凹欠部にサスペンションブロック86の上部を受け入れている。
各サスペンションブロック86は、高さ調整用の調整ねじ98と一対の圧縮コイルばね100とにより、上部において取り付けブロック84の先端部下側に取り付けられている。
調整ねじ98は、取り付けブロック84の先端部を貫通して、サスペンションブロック86のねじ穴に螺合されている。圧縮コイルばね100は、取り付けブロック84の先端部下側とサスペンションブロック86の先端部上面との間に配置されている。
プローブ組立体10の高さ位置は、サスペンションブロック86への調整ねじ98のねじ込み量を調整して、プローブ組立体10を上下動させることにより、調整することができる。
各結合ブロック88は、コ字状の形状を有しており、空間92が前後方向に伸びると共に、配線ブロック90の側に開放するように、サスペンションブロック86の下側に取り付けられている。
各配線ブロック90は、結合ブロック88の下側に水平に取り付けられており、またフラットケーブル94毎に備えられたタブ(TAB)102を下面に接着している。
各タブ102は、複数の配線104,106を有していると共に、駆動用の集積回路108を装着している。各集積回路108は、配線104,106の一端部に接続されており、また配線ブロック90の凹所に収容されている。
配線104の他端部は導電性接着材によりフラットケーブル94の配線96に個々に接着されており、配線106の他端部はプローブ36又は38の第2の針先領域48に電気的に個々に接続されている。
図示の例では、プローブ36及び38のグループにそれぞれ対応された2つのフラットケーブル94が各配線ブロック90に備えられている。
ベースブロック30の装着部54は、プローブ組立体10をプローブ装置80に取り付ける際に利用する溝110を有している。溝110は、前後方向へ伸びており、また上方及び後方に開放する凸字状(逆T字状)の断面形状を有している。
各サスペンションブロック86は、上下方向へ伸びるガイド112及び一対のガイドレール114により取り付けブロック84に上下方向へ移動可能に連結されている。
各プローブ組立体10は、ベースブロック30の装着部54が空間92に挿入され、プローブ36,38の各第2の針先領域48の先端がタブ102の配線106に押圧された状態に、固定ねじ120により維持される。
この状態において、各プローブ組立体10は、ベースブロック30から上方へ突出するストッパ122が結合ブロック88の先端面に当接していることと、装着部54が結合ブロック88に前後方向に間隔をおいて配置された一対のプランジャー116により空間92内で左右方向における一方側に押されていることとにより、前後方向及び左右方向の位置決めをされている。
上下方向におけるプローブ組立体10の高さ位置は、調整ねじ98が所定量ねじ込まれていることと、装着部54が固定ねじ120により結合ブロック88に押圧されていることにより、維持される。また、各第2の針先領域48は、これがガイドフィルム126の穴を貫通していることにより、タブ102に対して位置決めをされている。
固定ねじ120は、互いに螺合された一対のねじ部材128,130を含む。ねじ部材128は、サスペンションブロック86及び結合ブロック88を上下方向に貫通する棒状の雄ねじ部と、その上端に続く頭部とを有している。
ねじ部材130は、結合ブロック88を上下方向に貫通する棒状の雌ねじ部と、その下端に続く頭部とを有している。ねじ部材130の雌ねじ部に形成されたねじ穴は、ねじ部材128の雄ねじ部と螺合するように、上方に開放している。
ねじ部材130は、これの主部の上端部に配置された止めリング132により、結合ブロック88からの脱落を防止されている。ねじ部材130は、これの頭部と結合ブロック88との間の配置された圧縮コイルばね134により、常時下方に付勢されている。
プローブ組立体10が結合ブロック88に正しく装着された状態において、装着部54の上面に形成された複数の凸部136は、結合ブロック88の下面に形成された複数の凹部138に個々に受け入れられている。
プローブ組立体10の交換時、先ず、調整ねじ98及び固定ねじ120の螺合状態がゆるめられることにより、交換すべきプローブ組立体10は、圧縮コイルばね134により結合ブロック88に対し下方へ変位される。これにより、凸部136が凹部138から外される。次いで、上記状態で、プローブ組立体10は、ベースブロック30に対し水平に引き出される。
引き出し時、プローブ組立体10は、これが圧縮コイルばね134により結合ブロック88に対し少なくとも凸部136の高さ分だけ下方へ変位されているから、少なくとも凹部138が開放する面に凸部136を当接させた状態で、移動される。
これに対し、新たなプローブ組立体10は、先ず、図10に示すように固定ねじ120を圧縮コイルばね134により下げた状態で、装着部54の後端部を空間92に受け入れられる。
次いで、新たなプローブ組立体10は、上記状態で、ストッパ122が結合ブロック88の前端面に当接するまで、水平に押し込まれる。この際、新たなプローブ組立体10は、プランジャー116により左右方向の一方に押圧されて、結合ブロック88に対する左右方向の正しい位置決めをされる。
ストッパ122が結合ブロック88の前端面に当接するまで、新たなプローブ組立体10の装着部54が空間92に押し込まれると、新たなプローブ組立体10は、結合ブロック88に対する前後方向の位置決めをされる。これにより、結合ブロック88に対する左右方向の位置決めをされていることと相まって、凸部136は凹部138と対向される。
押し込み時においても、プローブ組立体10は圧縮コイルばね134により結合ブロック88に対し少なくとも凸部136の高さ寸法だけ下方へ変位されているから、プローブ組立体10は、少なくとも凹部138が開放する面に凸部136が当接した状態で、移動される。
凸部136と凹部138とが対向した状態で、ねじ部材128,130が締め付けられると、プローブ組立体10が結合ブロック88に対し上昇されて、凸部136が凹部138に受け入れられる。これにより、プローブ組立体10は結合ブロック88に対し左右方向及び前後方向への移動を阻止されて完全に位置決めをされ、またプローブ36,38の各第2の針先領域48はタブ102の配線104に当接される。
プローブ組立体10の引き出し時及び差し込み時のいずれにおいても、プローブ組立体10が結合ブロック88に対し移動されるとき、プローブ組立体10はこれが結合ブロック88に対し少なくとも凸部136の高さα分だけ上下方へ変位されているから、プローブ36,38の各第2の針先領域48の先端(後端側針先)は、タブ102の配線104から少なくとも凸部136の高さ分だけ下方に離された位置を移動される。
同様の理由から、ガイドフィルム126の厚さ寸法βとしたとき、プローブ組立体10がガイドフィルム126から少なくともα−βだけ下方に離された位置を移動されるから、プローブ36,38の後端側針先はガイドフィルム126から少なくともα−βだけ下方に離された位置を移動される。
上記のように、プローブ36,38の後端側針先がタブ102及びガイドフィルム126に接触しない状態で、プローブ組立体10が移動されると、後端針先の一ずれ及び損傷が防止される。
本発明は、液晶表示パネル用のプローブ装置のみならず、薄膜トランジスタが形成されたガラス基板のような他の表示用基板等、他の平板状被検査体用のプローブ装置にも適用することができる。
本発明は、水平に配置された被検査体用のプローブ装置のみならず、斜めに傾斜された被検査体用のプローブ装置にも適用することができる。
本発明は、上記実施例に限定されず、その趣旨を逸脱しない限り、種々変更することができる。
本発明に係るプローブ組立体の一実施例を示す斜視図である。 図1に示すプローブ組立体の下から見た分解斜視図である。 図2に示すプローブ組立体を組み立てた状態を示す、下からみた斜視図である。 図1における4−4線に沿って得た断面図である。 被検査体の一実施例を示す斜視図である。 図1に示すプローブ組立体を用いたプローブ装置の一実施例を示す外観斜視図である。 図6に示すプローブ装置の側面図である。 図6に示すプローブ装置の正面図である。 図6に示すプローブ装置の底面図である。 図6に示すプローブ装置の組立状態を示す断面図である。 図6に示したプローブ装置の部分拡大図である。
符号の説明
10 プローブ組立体
12 液晶表示パネル
30 ベースブロック
32 サイドカバー
34 バー支持体
36,38 プローブ
40,42 ガイドバー
44 中央領域
46,48 針先領域
50 ガイドピン
52 ブロック本体
54 装着部
56 インナーカバー
58 アウターカバー
60,62 穴
64 ねじ穴
66 ボルト
68,70 凹所
72 ねじ穴
74 ボルト
76 スリットバー
78 溝
79 段部

Claims (9)

  1. ベースブロックと、
    前記ベースブロックの左右方向における端面に装着された第1及び第2のサイドカバーと、
    前記ベースブロックの左右方向における中間に配置されたバー支持体と、
    それぞれが帯状の中央領域並びに該中央領域の先端及び後端からそれぞれさらに前方及び後方へ伸びる第1及び第2の針先領域を備える複数のプローブであって前記中央領域の幅方向が上下方向となる状態に前記中央領域を対向させて、前記バー支持体と前記第1のサイドカバーとの間に配置された第1のグループ及び前記バー支持体と前記第2のサイドカバーとの間に配置された第2のグループに分けられた複数のプローブと、
    前記第1のグループのプローブの中央領域を貫通して伸びて前記バー支持体と前記第1のサイドカバーとに支持された第1のガイドバーと、
    前記第2のグループのプローブの中央領域を貫通して伸びて前記バー支持体と前記第2のサイドカバーとに支持された第2のガイドバーとを含む、プローブ組立体。
  2. 前記第1及び第2のガイドバーの各々は、前後方向に間隔をおいて左右方向へ平行に伸びる一対のバーを備える、請求項1に記載のプローブ組立体。
  3. さらに、前記バー支持体と前記第1のサイドカバーとの間に配置されて前記ベースブロックに装着された一対の第1のスリットバーであって前記第1及び第2のグループのプローブの前記第1の針先領域をそれぞれ受ける複数の溝を有する一対の第1のスリットバーと、
    前記バー支持体と前記第2のサイドカバーとの間に配置されて前記ベースブロックに装着された一対の第2のスリットバーであって前記第1及び第2のグループのプローブの前記第2の針先領域をそれぞれ受ける複数の溝を有する一対の第2のスリットバーとを含む、請求項1又は2に記載のプローブ組立体。
  4. 各第1のスリットバー及び各第2のスリットバーは、それぞれ、前後方向における外側に左右方向に伸びる第1及び第2の段部を有し、また前記第1及び第2の段部を前後方向における前記ベースブロックの前側及び後側に接触させている、請求項3に記載のプローブ組立体。
  5. 前記第1及び第2のサイドカバーは、前記第1又は第2のガイドバーの端部を支持するインナーカバーと、該インナーカバーの外側に配置されたアウターカバーとを含む、請求項1から4のいずれか1項に記載のプローブ組立体。
  6. 前記第1及び第2のグループの隣り合うプローブの前記第1及び第2の針先領域の先端部の位置は前後方向にずれている、請求項1から5のいずれか1項に記載のプローブ組立体。
  7. 前記第1のグループのプローブと第2のグループのプローブとは、前記第1及び第2の針先領域の先端部の位置を前後方向にずらしている、請求項1から6のいずれか1項に記載のプローブ組立体。
  8. 前記バー支持体は、前記第1のガイドバーの端部を受け入れる第1の凹所と、前記第2のガイドバーの端部を受け入れる第2の凹所とを備える、請求項1から7のいずれか1項に記載のプローブ組立体。
  9. さらに、前記第1及び第2のガイドバーをそれぞれ前記第1及び第2のサイドカバーに組み付ける第1及び第2の止めねじを含み、
    前記第1及び第2のガイドバーは、それぞれ、それらの外側の端部に前記第1及び第2の止めねじが蝶合された凹所を有する、請求項1から8のいずれか1項に記載のプローブ組立体。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008175628A (ja) * 2007-01-17 2008-07-31 Micronics Japan Co Ltd プローブユニット及び検査装置
JP2008256410A (ja) * 2007-04-02 2008-10-23 Micronics Japan Co Ltd プローブ組立体
JP2008281360A (ja) * 2007-05-08 2008-11-20 Micronics Japan Co Ltd プローブユニット及び検査装置
JP2011027579A (ja) * 2009-07-27 2011-02-10 Micronics Japan Co Ltd プローブ装置
JP2011133462A (ja) * 2009-11-26 2011-07-07 Micronics Japan Co Ltd プローブ装置
KR101051137B1 (ko) 2009-03-20 2011-07-21 윌테크놀러지(주) 프로브 유닛 제조 방법 및 프로브 유닛 제조 장치
JP2012007987A (ja) * 2010-06-24 2012-01-12 Micronics Japan Co Ltd プローブ組立体
JP2019211394A (ja) * 2018-06-07 2019-12-12 株式会社日本マイクロニクス プローブ組立体
CN110706630A (zh) * 2019-10-22 2020-01-17 友达光电(昆山)有限公司 应用于窄边框显示面板的电检测治具及电检测方法
KR102241061B1 (ko) * 2020-01-14 2021-04-16 (주)위드멤스 프로브 블록 조립체

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008175628A (ja) * 2007-01-17 2008-07-31 Micronics Japan Co Ltd プローブユニット及び検査装置
JP2008256410A (ja) * 2007-04-02 2008-10-23 Micronics Japan Co Ltd プローブ組立体
KR100966499B1 (ko) 2007-04-02 2010-06-29 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 프로브 조립체
JP2008281360A (ja) * 2007-05-08 2008-11-20 Micronics Japan Co Ltd プローブユニット及び検査装置
KR101051137B1 (ko) 2009-03-20 2011-07-21 윌테크놀러지(주) 프로브 유닛 제조 방법 및 프로브 유닛 제조 장치
JP2011027579A (ja) * 2009-07-27 2011-02-10 Micronics Japan Co Ltd プローブ装置
JP2011133462A (ja) * 2009-11-26 2011-07-07 Micronics Japan Co Ltd プローブ装置
JP2012007987A (ja) * 2010-06-24 2012-01-12 Micronics Japan Co Ltd プローブ組立体
JP2019211394A (ja) * 2018-06-07 2019-12-12 株式会社日本マイクロニクス プローブ組立体
JP7237470B2 (ja) 2018-06-07 2023-03-13 株式会社日本マイクロニクス プローブ組立体
CN110706630A (zh) * 2019-10-22 2020-01-17 友达光电(昆山)有限公司 应用于窄边框显示面板的电检测治具及电检测方法
KR102241061B1 (ko) * 2020-01-14 2021-04-16 (주)위드멤스 프로브 블록 조립체

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