KR102098650B1 - 핀 타입 프로브 장치 - Google Patents

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KR102098650B1
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Abstract

본 발명은 바디;및 상기 바디에 연결되는 제1 프로브 블록과 제2 프로브 블록을 포함하고, 상기 제1 프로브 블록과 제2 프로브 블록은 제1 방향을 기준으로 이격 배치되고, 상기 제1 프로브 블록은 상기 제1 방향과 상이한 제2 방향을 따라 배치되는 복수의 제1 핀을 포함하고, 상기 제2 프로브 블록은 상기 제2 방향을 따라 배치되는 복수의 제2 핀을 포함하고, 상기 제1 핀과 상기 제2 핀은, 제2 방향을 기준으로 어긋나게 배치되는 프로브 장치를 제공할 수 있다.

Description

핀 타입 프로브 장치{PIN TYPE PROBE APPARATUS}
본 발명은 핀 타입 프로브 장치에 관한 것이다.
프로브 장치는 디스플레이의 패널을 검사하기 위한 장치이다. 프로브 장치는 패널의 패드와 접촉하여 전기적 신호를 수신하는 복수의 핀을 포함할 수 있다.
대한민국 등록특허 제10-0936500호(2010.03.13. 공고, 이하 본 문헌이라 한다.)에는 핀을 포함하는 프로브 장치를 개시하고 있다. 본 문헌의 프로브 장치는 니들 타입의 핀이 패널의 패드와 접촉하도록 구성된다. 패널의 패드가 일렬로 일정 피치를 가지도록 배치되기 때문에, 이러한 핀들은 복수 개 배치되며, 복수의 핀들이 일렬로 일정 피치를 가지도록 배치된다. 복수의 핀들은 각각 하나의 패드와 접촉하도록 구성된다.
패널의 복수의 패드가 복수의 열로 배치되고, 정렬 방향을 기준으로, 어느 한 열에 배치된 패드의 위치와 다른 열에 배치된 패드의 위치가 어긋나 있는 경우, 정렬 방향을 기준으로 볼 때, 실질적으로 패드 사이의 피치가 줄기 때문에, 프로브 장치의 핀들의 피치도 줄여야 한다.
그러나, 물리적으로 핀들의 피치를 줄이는데 한계가 있으며, 핀들의 피치 간격을 무리하게 줄이면, 핀들 사이에서 간섭이 발생하는 문제가 발생한다.
대한민국 등록특허 제10-0936500호(2010.03.13. 공고)
본 발명은 정렬 방향을 기준으로, 핀들의 피치를 간섭없이 크게 줄일 수 있는 프로브 장치를 제공하는 것을 그 해결하고자 하는 과제로 삼는다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 이상에서 언급된 과제에 국한되지 않으며 여기서 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
실시예는 바디 및 상기 바디에 연결되는 제1 프로브 블록과 제2 프로브 블록을 포함하고, 상기 제1 프로브 블록과 제2 프로브 블록은 제1 방향을 기준으로 이격 배치되고, 상기 제1 프로브 블록은 상기 제1 방향과 상이한 제2 방향을 따라 배치되는 복수의 제1 핀을 포함하고, 상기 제2 프로브 블록은 상기 제2 방향을 따라 배치되는 복수의 제2 핀을 포함하고, 상기 제1 핀과 상기 제2 핀은, 제2 방향을 기준으로 어긋나게 배치되는 프로브 장치를 제공할 수 있다.
바람직하게는, 상기 제1 프로브 블록은, 상기 바디에 결합하며, 상기 제1 핀이 결합하는 제1 블록과, 상기 제1 핀을 사이에 두고 상기 제1 블록에 결합하는 제2 블록을 포함할 수 있다.
바람직하게는, 상기 제1 핀의 제1 핀바디는 제1 파트와 상기 제1 파트에서 꺽여 배치되는 제2 파트를 포함하고, 상기 제2 블록은 상기 제1 파트와 접촉하는 제1 면과, 상기 제2 파트와 접촉하는 제2 면을 포함할 수 있다.
바람직하게는, 상기 제1 핀은 상기 제1 핀의 상기 제1 핀바디에서 분기된 제1 돌기를 포함하고, 상기 제1 블록은 상기 제1 돌기가 배치되는 제1 홈을 포함할 수 있다.
바람직하게는, 상기 제2 프로브 블록은, 상기 바디에 결합하며, 상기 제2 핀이 결합하는 제3 블록과, 상기 제2 핀을 사이에 두고 상기 제3 블록에 결합하는 제4 블록을 포함할 수 있다.
바람직하게는, 상기 제2 핀의 제2 핀바디는 제3 파트와 상기 제3 파트에서 꺽여 배치되는 제4 파트를 포함하고, 상기 제4 블록은 상기 제3 파트와 접촉하는 제3 면과, 상기 제4 파트와 접촉하는 제4 면을 포함할 수 있다.
바람직하게는, 상기 제2 핀은 상기 제2 핀의 제2 핀바디에서 분기된 제2 돌기를 포함하고, 상기 제3 블록은 상기 제2 돌기가 배치되는 제2 홈을 포함할 수 있다.
바람직하게는, 상기 제1 핀과 상기 제2 핀은 모양 및 크기가 동일할 수 있다.
바람직하게는, 제2 방향을 따라 배치되는 중심을 기준으로, 상기 제1 핀과 상기 제2 핀은 회전 대칭되게 배치될 수 있다.
바람직하게는, 상기 제1 핀은 제1 핀바디와, 상기 제1 핀바디의 일측 단부에서 연장되는 제1 팁을 포함하고, 상기 제1 팁은 상기 제1 핀바디에 경사지게 배치될 수 있다.
바람직하게는, 상기 제1 핀은 상기 제1 핀바디의 타측 단부에서 연장되는 제2 팁을 포함하고, 상기 제2 팁은 상기 제2 핀바디에 경사지게 배치되며, 상기 제1 팁의 방향과 상기 제2 팁의 방향은 상이할 수 있다.
바람직하게는, 상기 제1 핀바디는 "ㄱ"자 형태로 꺽여 배치될 수 있다.
바람직하게는, 상기 제2 핀은 제2 핀바디와, 상기 제2 핀바디의 일측 단부에서 연장되는 제3 팁을 포함하고, 상기 제3 팁은 상기 제2 핀바디에 경사지게 배치될 수 있다.
바람직하게는, 상기 제2 핀은 상기 제2 핀바디의 타측 단부에서 연장되는 제4 팁을 포함하고, 상기 제4 팁은 상기 제2 핀바디에 경사지게 배치되며, 상기 제3 팁의 방향과 상기 제4 팁의 방향은 상이할 수 있다.
바람직하게는, 상기 제2 핀바디는 "ㄴ"자 형태로 꺽여 배치될 수 있다.
바람직하게는, 상기 제1 방향은 좌우방향이며, 상기 제2 방향은 전후방향이며, 상하방향으로, 상기 제1 핀의 끝단의 위치와 상기 제2 핀의 끝단의 위치는 동일할 수 있다.
실시예에 따르면, 정렬 방향을 기준으로, 핀들의 피치를 간섭없이 크게 줄일 수 있는 유리한 효과를 제공한다.
실시예에 따르면, 패들의 위치에 대응하여, 제1 핀의 위치와 제2 핀의 위치를 독립적으로 구성하여, 핀들의 피치를 용이하게 조절할 수 있는 유리한 효과를 제공한다.
도 1은 실시예에 따른 프로브 장치의 사시도,
도 2는 도 1에서 도시한 프로브 장치의 분해도,
도 3은 도 1의 A-A를 기준으로 하는 프로브 장치의 측단면도,
도 4는 제1 프로브 블록의 분해도,
도 5는 제2 프로브 블록의 분해도,
도 6은 좌우방향을 따라 정렬된 복수의 제1 핀과 복수의 제2 핀을 도시한 도면,
도 7은 제1 핀과 제2 핀의 정면도,
도 8은 패널의 패드의 위치를 도시한 도면,
도 9는 제1 핀과 제2 핀의 위치를 도시한 도면,
도 10은 복열로 배치된 패드와 접촉하는 제1 핀과 제2 핀을 도시한 도면,
도 11은 플레이트에 장착된 테스트 대상물에 제1 핀과 제2 핀이 접촉한 상태를 도시한 측단면도이다.
본 발명의 목적, 특정한 장점들 및 신규한 특징들은 첨부된 도면들과 연관되는 이하의 상세한 설명과 바람직한 실시예들로부터 더욱 명백해질 것이다. 그리고 본 명세서 및 특허청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정하여 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해서 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여, 본 발명의 기술적 사상에 부합되는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 그리고 본 발명을 설명함에 있어서, 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 관련된 공지기술에 대한 상세한 설명은 생략한다.
패널의 패드와 접촉하는 핀의 위치는 패드의 위치와 대응한다. 패드의 피치가 작아지면 핀의 피치도 작아질 수 밖에 없다. 여기서, 패드의 피치는 일방향으로 패드와 패드 사이의 간격이며, 핀의 피치는 일방향으로 핀과 핀 사이의 간격이다. 패드의 피치가 크게 작아지면, 이에 대응하야 핀의 피치도 크게 작아져야 하지만, 핀들간의 간섭을 배제하기 위해서는, 핀의 피치를 줄이는데 물리적 한계가 있다. 실시예에 따른 프로브 장치는, 이러한 한계를 극복하고, 핀의 피치를 줄이고자 안출된 장치이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하며 실시예에 따른 프로브 장치에 관하여 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 실시예에 따른 프로브 장치의 사시도이고, 도 2는 도 1에서 도시한 프로브 장치의 분해도이다. 이하, 도면에서 x축은 프로브 장치의 전후방향이며 제1 방향을 나타내고, y축은 프로브 장치의 좌우방향(x)이며 제2 방향을 나타낸다. 그리고 z축은 프로브 장치의 상하방향을 나타낸다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 실시예에 따른 프로브 장치는, 바디(100)와, 제1 프로브 블록(200)과, 제2 프로브 블록(300)과, 플레이트(400)를 포함할 수 있다.
제1 프로브 블록(200)과, 제2 프로브 블록(300)과, 플레이트(400)는 각각 바디(100)에 결합한다. 제1 프로브 블록(200)과, 제2 프로브 블록(300)은 독립적으로, 바디(100)에 착탈 가능하게 결합할 수 있다. 플레이트(400)는 상하방향(z)으로 바디(100)와 제2 프로브 블록(300) 사이에 배치될 수 있다. 제1 프로브 블록(200)과 제2 프로브 블록(300)은 바디(100)의 하측에 배치될 수 있다. 제1 프로브 블록(200)은 제2 프로브 블록(300)의 전방에 배치될 수 있다.
도 3은 도 1의 A-A를 기준으로 하는 프로브 장치의 측단면도이고, 도 4는 제1 프로브 블록(200)의 분해도이다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 제1 프로브 블록(200)은 제1 핀(210)과 제1 블록(220)과 제2 블록(230)을 포함할 수 있다.
제1 핀(210)은 패널의 패드와 접촉하여 전기적 신호를 전송받는다. 제1 핀(210)은 제1 블록(220)과 제2 블록(230) 사이에 배치될 수 있다. 제1 핀(210)은 제1 블록(220)에 결합할 수 있다. 복수의 제1 핀(210)은 좌우방향(x)을 따라 정렬되어 일정한 피치로 배치될 수 있다.
제1 블록(220)은 바디(100)에 결합한다. 제1 블록(220)의 안쪽면은 제1 핀(210)과 접촉할 수 있다. 제1 블록(220)의 형상은 제1 핀(210)의 일측 에지 형상과 대응될 수 있다. 제1 블록(220)은 "ㄱ"자 형태로 꺽인 단면 형상을 포함할 수 있다. 그리고 제1 블록(220)은 좌우방향(x)으로 길게 형성된 부재일 수 있다.
제2 블록(230)도 제1 블록(220)에 결합한다. 제2 블록(230)의 바깥쪽 면은 제1 핀(210)과 접촉할 수 있다. 제2 블록(230)의 형상은 제1 핀(210)의 타측 에지 형상과 대응될 수 있다. 제2 블록(230)은 사각형의 단면 형상을 가질 수 있다. 그리고 제2 블록(230)은 좌우방향(x)으로 길게 형성된 부재일 수 있다.
도 5는 제2 프로브 블록(300)의 분해도이다.
도 3 및 도 5를 참조하면, 제2 프로브 블록(300)은 제2 핀(310)과 제3 블록(320)과 제4 블록(330)과 제5 블록(340)을 포함할 수 있다.
제2 핀(310)은 패널의 패드와 접촉하여 전기적 신호를 전송받는다. 제2 핀(310)은 제3 블록(320)과 제4 블록(330) 사이에 배치될 수 있다. 제2 핀(310)은 제3 블록(320)에 결합할 수 있다. 복수의 제2 핀(310)은 좌우방향(x)을 따라 정렬되어 일정한 피치로 배치될 수 있다.
제3 블록(320)은 제 블록(340)을 통해 바디(100)에 결합한다. 제3 블록(320)의 안쪽면은 제2 핀(310)과 접촉할 수 있다. 제3 블록(320)의 형상은 제2 핀(310)의 타측 에지 형상과 대응될 수 있다. 제3 블록(320)은 "ㄴ"자 형태로 꺽인 단면 형상을 포함할 수 있다. 그리고 제3 블록(320)은 좌우방향(x)으로 길게 형성된 부재일 수 있다.
제4 블록(330)은 제3 블록(320)에 결합한다. 제4 블록(330)의 바깥쪽 면은 제2 핀(310)과 접촉할 수 있다. 제4 블록(330)의 형상은 제2 핀(310)의 일측 에지 형상과 대응될 수 있다. 제4 블록(330)은 사각형의 단면 형상을 가질 수 있다. 그리고 제4 블록(330)은 좌우방향(x)으로 길게 형성된 부재일 수 있다.
제5 블록(340)에 플레이트(400)에 결합할 수 있다. 그리고 제5 블록(340)은 제4 블록(330)에 결합한다.
플레이트(400)는 바디(100)에 결합할 수 있다. 플레이트(400)에는 테스트 대상물이 장착된다.
도 6은 좌우방향(x)을 따라 정렬된 복수의 제1 핀(210)과 복수의 제2 핀(310)을 도시한 도면이도, 도 7은 제1 핀(210)과 제2 핀(310)의 정면도이다.
도 6 및 도 7을 참조하면, 제1 핀(210)과 제2 핀(310)은 모양과 크기가 동일할 수 있다. 따라서, 제1 핀(210)과 제2 핀(310)을 제조하는데 있어서, 금속소재의 스크랩을 줄이고 공정을 줄일 수 있는 이점이 있다. 제1 핀(210)과 제2 핀(310)은 좌우방향(x)을 따라 배치되는 중심(C)을 기준으로 회전 대칭되게 배치될 수 있다.
제1 핀(210)은 제1 핀바디(211)와, 제1 팁(212)과, 제2 팁(213)을 포함할 수 있다. 제1 팁(212)과, 제2 팁(213)은 패널의 패드와 접촉하는 부분이다. 이하, 도면에서 제1 팁(212)이 패드에 접촉하는 것으로 도시하였으나. 제1 핀(210)과 제2 핀(310)의 위치 또는 조합에 대응하여 제2 팁(213)이 패드에 접촉하도록 실시될 수도 있다.
제1 핀바디(211)는 제1 파트(211a)와 제1 파트(211a)에서 꺽여 배치되는 제2 파트(211b)를 포함할 수 있다. 제1 핀바디(211)는 대체적으로 "ㄱ"자 형태로 꺽인 형상을 가질 수 있다.
제1 팁(212)은 패널의 패드와 접촉하는 부분이다. 제1 팁(212)은 제1 파트(211a)의 단부에서 연장되어 배치된다. 제1 팁(212)은 제1 파트(211a)에 경사지게 배치될 수 있다.
제2 팁(213)도 경우에 따라 패널의 패드와 접촉하는 부분이다. 제2 팁(213)은 제2 파트(211b)의 단부에서 연장되어 배치된다. 제2 팁(213)은 제1 파트(211a)에 경사지게 배치될 수 있다.
제1 팁(212)의 방향과 제2 팁(213)의 방향은 상이할 수 있다.
제1 핀(210)은 제1 돌기(214)를 포함할 수 있다. 제1 돌기(214)는 제1 파트(211a)에서 분기되어 후크 형태로 돌출될 수 있다.
제1 돌기(214)는 제1 핀(210)과 제1 블록(220)의 결합을 위한 것이다.
도 3을 참조하면, 제1 블록(220)은 제1 홈(221)을 포함할 수 있다. 제1 돌기(214)는 제1 홈(221)에 삽입될 수 있다.
제2 핀(310)은 제2 핀바디(311)와, 제3 팁(312)과, 제4 팁(313)을 포함할 수 있다. 제3 팁(312)과, 제4 팁(313)은 패널의 패드와 접촉하는 부분이다. 이하, 도면에서 제4 팁(313)이 패드에 접촉하는 것으로 도시하였으나. 제1 핀(210)과 제2 핀(310)의 위치 또는 조합에 대응하여 제3 팁(312)이 패드에 접촉하도록 실시될 수도 있다.
제2 핀바디(311)는 제3 파트(311a)와 제3 파트(311a)에서 꺽여 배치되는 제4 파트(311b)를 포함할 수 있다. 제2 핀바디(311)는 대체적으로 "ㄴ"자 형태로 꺽인 형상을 가질 수 있다.
제3 팁(312)은 경우에 따라 패널의 패드와 접촉할 수 있는 부분이다. 제3 팁(312)은 제3 파트(311a)의 단부에서 연장되어 배치된다. 제3 팁(312)은 제3 파트(311a)에 경사지게 배치될 수 있다.
제4 팁(313)도 패널의 패드와 접촉하는 부분이다. 제4 팁(313)은 제4 파트(311b)의 단부에서 연장되어 배치된다. 제4 팁(313)은 제4 파트(311b)에 경사지게 배치될 수 있다.
제3 팁(312)의 방향과 제4 팁(313)의 방향은 상이할 수 있다.
제2 핀(310)은 제2 돌기(314)를 포함할 수 있다. 제2 돌기(314)는 제3 파트(311a)에서 분기되어 후크 형태로 돌출될 수 있다.
제2 돌기(314)는 제2 핀(310)과 제3 블록(320)의 결합을 위한 것이다.
도 3을 참조하면, 제3 블록(320)은 제2 홈(321)을 포함할 수 있다. 제2 돌기(314)는 제2 홈(321)에 삽입될 수 있다.
도 3을 참조하면, 제1 프로브 블록(200)의 제2 블록(230)은 제1 핀(210)을 제1 블록(220) 측으로 가압하여 고정한다. 제2 블록(230)은 제1 면(231)과 제2 면(232)을 포함할 수 있다. 제1 면(231)은 도 3의 F1과 같이 제1 파트(211a)를 상방으로 가압하여 제1 핀(210)을 제1 블록(220)에 고정시킨다. 그리고 제2 면(232)은 도 3의 F2와 같이, 제2 파트(211b)를 전방으로 가압하여 제1 핀(210)을 제1 블록(220)에 고정시킨다.
제2 프로브 블록(300)의 제4 블록(330)은 제2 핀(310)을 제3 블록(320) 측으로 가압하여 고정한다. 제4 블록(330)은 제3 면(331)과 제4 면(332)을 포함할 수 있다. 제3 면(331)은 도 3의 F3과 같이 제3 파트(311a)를 하방으로 가압하여 제2 핀(310)을 제3 블록(320)에 고정시킨다. 그리고 제4 면(332)은 도 3의 F4와 같이, 제4 파트(311b)를 후방으로 가압하여 제2 핀(310)을 제3 블록(320)에 고정시킨다.
도 8은 패널의 패드의 위치를 도시한 도면이고, 도 9는 제1 핀(210)과 제2 핀(310)의 위치를 도시한 도면이다.
도 8을 참조하면, 패널의 패드(P1,P2)가 좌우방향(x)을 따라 복열로 배치될 수 있다. 제1 열에 배치된 복수의 패드(P1)는 좌우방향(x)을 따라 제1 피치(D1)만큼 간격을 두고 배치될 수 있다. 그리고 제2 열에 배치된 복수의 패드(P2)도 좌우방향(x)을 따라 제1 피치(D1)만큼 간격을 두고 배치될 수 있다. 제1 열과 제2 열은 전후방향(y)을 따라 배치된다. 제2 열에 배치된 패드(P2)들은 제1 열에 배치된 패드(P1)들의 위치에서 좌우방향(x)으로 시프트되어 배치될 수 있다.
도 8에서, 복열로 배치된 패드(P1,P2)들을 도시하였으나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 제1 피치(D1)보다 작은 피치로 배열되며 전후방향(y)으로 길이가 긴 패드들일 수도 있다.
도 9를 참조하면, 이러한 패드(P1,P2)들의 위치에 대응하여, 제1 핀(210)의 제1 팁(212)과 제2 핀(310)의 제4 팁(313)의 위치가 복열로 배치된다. 복수의 제1 팁(212)이 좌우방향(x)을 따라 제2 피치(D2)만큼 간격을 두고 배치될 수 있다. 그리고 복수의 제4 팁(313)이 좌우방향(x)을 따라 제2 피치(D2)만큼 간격을 두고 배치될 수 있다. 제1 팁(212)과 제4 팁(313)은 전후방향(y)으로 이격되어 배치된다. 이때, 제1 팁(212)과 제2 팁(213)은 좌우방향(x)을 기준으로 서로 엇갈리게 배치될 수 있다.
도 10은 복열로 배치된 패드(P1)와 접촉하는 제1 핀(210)과 제2 핀(310)을 도시한 도면이다.
도 9 및 도 10을 참조하면, 제1 핀(210)과 제2 핀(310)이 좌우방향(x)을 기준으로 서로 엇갈리게 배치되기 때문에, 복열로 배치되는 패드들 또는, 좌우방향(x)을 기준으로 피치간격이 매우 작은 패드들은, 제1 팁(212)과 제4 팁(313)이 각각 분담하여 접촉할 수 있다 예를 들어, 좌우방향(x)을 따라 제1 팁(212)과 제4 팁(313)이 교대로 패드(P1,P2)와 접촉할 수 있다. 복열로 배치되는 패드(P1,P2)들의 경우, 제1 열의 패드(P1)는 제1 핀(210)의 제1 팁(212)이 접촉할 수 있고 제2 열의 패드(P2)는 제2 핀(310)의 제4 팁(313)이 접촉할 수 있다. 상하방향으로, 제1 핀(210)의 끝단의 위치와 제2 핀(310)의 끝단의 위치는 동일할 수 있다. 이때, 제1 팁(212)을 포함하는 제1 핀(210)과, 제4 팁(313)을 포함하는 제2 핀(310)은, 각각 제2 피치(D2)만큼 간격을 확보하기 때문에, 핀들 간의 간섭을 방지하는 공간이 확보된다.
결과적으로, 이렇게 제1 핀(210)과 제2 핀(310)을 독립적으로 분리하여 배치함으로써, 핀들의 간섭을 배제하기 위한 물리적 한계를 극복하고, 피치간격이 좁게 배치된 패드들도 접촉이 가능한 이점이 있다.
또한, 제1 핀(210)을 포함하는 제1 프로브 블록(200)과 제2 핀(310)을 포함하는 제2 프로브 블록(300)은 독립적으로 바디(100)에 조립된다. 따라서, 패드(P1)의 위치 및 피치를 고려하여, 제1 핀(210)의 위치와 제2 핀(310)의 위치를 다양하게 조절할 수 있기 때문에, 다양한 테스트 대상물의 패들들을 테스트할 수 있는 이점이 있다.
도 11은 플레이트(400)에 장착된 테스트 대상물에 제1 핀(210)과 제2 핀(310)이 접촉한 상태를 도시한 측단면도이다.
도 11을 참조하면, 플레이트(400)에 테스트 대상물(G)이 장착된다. 플레이트(400)의 상측에는 제1 핀(210)과 제2 핀(310)이 배치된다. 바디(100)에는 볼트(V)가 배치된다. 볼트(V)는 플레이트(400)의 하측에 배치된다. 플레이트(400)에 테스트 대상물(G)이 장착된 상태에서, 볼트(V)를 조이면, 볼트(V)가 플레이트(400)를 상측으로 밀어 테스트 대상물(G)의 패드들과 제1 핀(210)의 제1 팁(212)과 제2 핀(310)의 제4 팁(313)이 접촉할 수 있다. 볼트(V)는 제1 팁(212)과 제4 팁(313)의 위치 부근에 배치될 수 있다.
이상으로 본 발명의 바람직한 하나의 실시예에 따른 프로브 장치에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 구체적으로 살펴보았다.
전술된 본 발명의 일 실시예는 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 본 발명의 범위는 전술된 상세한 설명보다는 후술될 특허청구범위에 의해 나타내어질 것이다. 그리고 이 특허청구범위의 의미 및 범위는 물론 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형 가능한 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
100: 바디
200: 제1 프로브 블록
210: 제1 핀
220: 제1 블록
230: 제2 블록
300: 제2 프로브 블록
310: 제2 핀
320: 제3 블록
330: 제4 블록
340: 제5 블록
400: 플레이트

Claims (16)

  1. 바디;및
    상기 바디에 연결되는 제1 프로브 블록과 제2 프로브 블록을 포함하고,
    상기 제1 프로브 블록과 제2 프로브 블록은 전후 방향을 기준으로 이격 배치되고,
    상기 제1 프로브 블록은 좌우 방향을 따라 배치되는 복수의 제1 핀을 포함하고,
    상기 제2 프로브 블록은 좌우 방향을 따라 배치되는 복수의 제2 핀을 포함하고,
    상기 제1 핀과 상기 제2 핀은, 좌우 방향을 기준으로 어긋나게 배치되고,
    상하방향으로, 상기 제1 핀의 끝단의 위치와 상기 제2 핀의 끝단의 위치는 동일하고,
    상기 제1 프로브 블록은,
    상기 바디에 결합하며, 상기 제1 핀이 결합하는 제1 블록과, 상기 제1 핀을 사이에 두고 상기 제1 블록에 결합하는 제2 블록을 포함하고,
    상기 제1 핀의 제1 핀바디는 제1 파트와 상기 제1 파트에서 꺽여 배치되는 제2 파트를 포함하여, 상기 제1 핀바디는 “ㄱ”자 형태로 꺽여 배치되고,
    상기 제1 블록은 “ㄱ”자 형태로 꺽인 단면 형상을 포함하고,
    상기 제2 블록은 상기 제1 파트와 접촉하는 제1 면과, 상기 제2 파트와 접촉하는 제2 면을 포함하고,
    상기 제2 블록의 상기 제1 면은 상기 제1 파트를 상방으로 가압하고 상기 제2 면은 상기 제2 파트를 전방으로 가압하여 상기 제1 핀을 상기 제1 블록에 고정시키고,
    상기 제2 프로브 블록은,
    상기 바디에 결합하며, 상기 제2 핀이 결합하는 제3 블록과, 상기 제2 핀을 사이에 두고 상기 제3 블록에 결합하는 제4 블록을 포함하고,
    상기 제2 핀의 제2 핀바디는 제3 파트와 상기 제3 파트에서 꺽여 배치되는 제4 파트를 포함하여, 상기 제2 핀바디는 “ㄴ”자 형태로 꺽여 배치되고,
    상기 제3 블록은 “ㄴ”자 형태로 꺽인 단면 형상을 포함하고,
    상기 제4 블록은 상기 제3 파트와 접촉하는 제3 면과, 상기 제4 파트와 접촉하는 제4 면을 포함하고,
    상기 제4 블록의 상기 제3 면은 상기 제3 파트를 하방으로 가압하고 상기 제4면은 상기 제4 파트를 후방으로 가압하여 상기 제2 핀을 상기 제3 블록에 고정시키고,
    상기 제1 핀은 상기 제1 핀바디와, 상기 제1 핀바디의 일측 단부에서 연장되는 제1 팁과, 상기 제1 핀바디의 타측 단부에서 연장되는 제2 팁을 포함하고,
    상기 제2 핀은 상기 제2 핀바디와, 상기 제2 핀바디의 일측 단부에서 연장되는 제3 팁과, 상기 제2 핀바디의 타측 단부에서 연장되는 제4 팁을 포함하고,
    상기 제1 핀과 상기 제2 핀은 모양 및 크기가 동일하고, 좌우 방향을 따라 배치되는 중심을 기준으로, 상기 제1 핀과 상기 제2 핀은 회전 대칭되게 배치되는 프로브 장치.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 핀은 상기 제1 핀의 상기 제1 핀바디에서 분기된 제1 돌기를 포함하고,
    상기 제1 블록은 상기 제1 돌기가 배치되는 제1 홈을 포함하는 프로브 장치.
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 제1 항에 있어서,
    상기 제2 핀은 상기 제2 핀의 제2 핀바디에서 분기된 제2 돌기를 포함하고,
    상기 제3 블록은 상기 제2 돌기가 배치되는 제2 홈을 포함하는 프로브 장치.
  8. 삭제
  9. 삭제
  10. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 팁은 상기 제1 핀바디에 경사지게 배치되고, 상기 제2 팁은 상기 제2 핀바디에 경사지게 배치되며,
    상기 제1 팁의 방향과 상기 제2 팁의 방향은 상이한 프로브 장치.
  11. 삭제
  12. 삭제
  13. 제1 항에 있어서,
    상기 제3 팁은 상기 제2 핀바디에 경사지게 배치되고, 상기 제4 팁은 상기 제2 핀바디에 경사지게 배치되며,
    상기 제3 팁의 방향과 상기 제4 팁의 방향은 상이한 프로브 장치.
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