JP6055951B2 - 固定可能なプローブピン及びプローブピン固定アセンブリ - Google Patents
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- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims description 166
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 107
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 107
- 230000002265 prevention Effects 0.000 claims description 20
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 11
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
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Description
上記した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の一態様によるプローブピン固定アセンブリは、一側面には挿入突起が突出形成されているプローブピンが装着されるプローブブロックと、前記プローブピンが前記プローブブロックから左右方向に遊動することを防止する第1の遊動防止部を備える遊動防止部とを備え、前記挿入突起は、前記プローブピンから前記プローブブロックとは反対側に突出し、前記第1の遊動防止部は、前記挿入突起にはめ込まれる挿入孔が形成されているフィルムを備える。
上記した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の一態様によるプローブピン固定アセンブリは、その一端がディスプレイの回路パターンに接触可能に水平方向に長く形成されている第1の水平部と、前記第1の水平部の他端から垂直方向に延びて形成されている垂直部と、前記垂直部の終端から前記第1の水平部と反対方向に延びて形成されている第2の水平部と、前記垂直部に突出形成されている第1の挿入突起と前記第2の水平部に突出形成されている第2の挿入突起とを備える挿入突起とを備えるプローブピンと、前記プローブピンが装着されるプローブブロックと、前記プローブピンの上下方向の遊動を防止する第2の遊動防止部を備える遊動防止部とを備え、前記挿入突起は、前記プローブピンから前記プローブブロックとは反対側に突出している。
110 第1の水平部
120 垂直部
130 第2の水平部
132 孔
140 挿入突起
142 第1の挿入突起
142a 係止突起
144 第2の挿入突起
144a 弾性部
200 プローブブロック
210 凸部
300 遊動防止部
310 第1の遊動防止部
320 第2の遊動防止部
330 フィルム
330a 挿入孔
332 第1のフィルム
334 第2のフィルム
400 プローブ本体
Claims (18)
- 一側面には挿入突起が突出形成されているプローブピンが装着されるプローブブロックと、
前記プローブピンが前記プローブブロックから左右方向に遊動することを防止する第1の遊動防止部と前記プローブピンが前記プローブブロックから上下方向に遊動することを防止する第2の遊動防止部とを備える遊動防止部と
を備え、
前記挿入突起は、前記プローブピンから前記プローブブロックとは反対側に突出し、
前記第1の遊動防止部は、前記挿入突起にはめ込まれる挿入孔が形成されているフィルムを備える
ことを特徴とするプローブピン固定アセンブリ。 - 一側面には挿入突起が突出形成されているプローブピンが装着されるプローブブロックと、
前記プローブピンが前記プローブブロックから左右方向に遊動することを防止する第1の遊動防止部を備える遊動防止部と
を備え、
前記挿入突起は、前記プローブピンから前記プローブブロックとは反対側に突出し、
前記第1の遊動防止部は、前記挿入突起にはめ込まれる挿入孔が形成されているフィルムを備える
ことを特徴とするプローブピン固定アセンブリ。 - その一端がディスプレイの回路パターンに接触可能に水平方向に長く形成されている第1の水平部と、前記第1の水平部の他端から垂直方向に延びて形成されている垂直部と、前記垂直部の終端から前記第1の水平部と反対方向に延びて形成されている第2の水平部と、前記垂直部に突出形成されている第1の挿入突起と前記第2の水平部に突出形成されている第2の挿入突起とを備える挿入突起とを備えるプローブピンと、
前記プローブピンが装着されるプローブブロックと、
前記プローブピンの上下方向の遊動を防止する第2の遊動防止部を備える遊動防止部と
を備え、
前記挿入突起は、前記プローブピンから前記プローブブロックとは反対側に突出していることを特徴とするプローブピン固定アセンブリ。 - 前記プローブピンは、一定の間隔をおいて複数設けられ、
前記フィルムには、複数の挿入孔が一定の間隔をおいて形成されている
ことを特徴とする請求項1または2に記載のプローブピン固定アセンブリ。 - 前記プローブピンは、その一端がディスプレイの回路パターンに接触可能に水平方向に長く形成されている第1の水平部と、前記第1の水平部の他端から垂直方向に延びて形成されている垂直部と、前記垂直部の終端から前記第1の水平部と反対方向に延びて形成されている第2の水平部とを備え、
前記挿入突起は、前記垂直部に突出形成されている第1の挿入突起と、前記第2の水平部に突出形成されている第2の挿入突起とを備える
ことを特徴とする請求項4に記載のプローブピン固定アセンブリ。 - 前記第1の挿入突起は、垂直方向に長く形成され、
前記第2の挿入突起は、水平方向に長く形成され、
前記挿入孔は、長方形である
ことを特徴とする請求項5に記載のプローブピン固定アセンブリ。 - 前記フィルムは、
前記垂直部に対応する第1のフィルムと、前記第2の水平部に対応する第2のフィルムとを備える
ことを特徴とする請求項5に記載のプローブピン固定アセンブリ。 - 前記第1のフィルムが前記第1の挿入突起から分離されることを防止するように、前記第1の挿入突起の上端には、係止突起が突出形成されている
ことを特徴とする請求項7に記載のプローブピン固定アセンブリ。 - 前記第1の水平部及び第2の水平部は、弾性変形可能である
ことを特徴とする請求項5に記載のプローブピン固定アセンブリ。 - 前記第2の水平部が弾性変形可能であるように、前記第2の水平部には、開ループ状の孔が形成されている
ことを特徴とする請求項9に記載のプローブピン固定アセンブリ。 - 前記プローブピンは、その一端がディスプレイの回路パターンに接触可能に水平方向に長く形成されている第1の水平部と、前記第1の水平部の他端から垂直方向に延びて形成されている垂直部と、前記垂直部の終端から前記第1の水平部と反対方向に延びて形成されている第2の水平部とを備え、
前記垂直部及び前記第2の水平部には、第1の挿入突起及び第2の挿入突起がそれぞれ突出形成され、
前記第2の遊動防止部は、前記第1の挿入突起及び第2の挿入突起の上端に同時に面接触して前記プローブピンを固定する
ことを特徴とする請求項1に記載のプローブピン固定アセンブリ。 - 前記第2の遊動防止部は、垂直方向および水平方向に固定されている
ことを特徴とする請求項11に記載のプローブピン固定アセンブリ。 - 前記第2の遊動防止部が面接触することができるように、前記第1の挿入突起及び第2の挿入突起の上端は平らに形成されている
ことを特徴とする請求項11に記載のプローブピン固定アセンブリ。 - 前記第2の挿入突起には、前記第2の遊動防止部と面接触される部位に弾性部が形成されている
ことを特徴とする請求項13に記載のプローブピン固定アセンブリ。 - その一端がディスプレイの回路パターンに接触可能に水平方向に長く形成されている第1の水平部と、
前記第1の水平部の他端から垂直方向に延びて形成されている垂直部と、
前記垂直部の終端から前記第1の水平部と反対方向に延びて形成されている第2の水平部と
を備え、
前記垂直部及び前記第2の水平部には、第1の挿入突起及び第2の挿入突起がそれぞれ突出形成されており、
前記第1の挿入突起及び前記第2の挿入突起は、プローブブロックとは反対側に突出している
ことを特徴とする固定可能なプローブピン。 - 前記第1の挿入突起は、垂直方向に長く形成され、
前記第2の挿入突起は、水平方向に長く形成され、
前記第1の挿入突起の上端には、係止突起が突出形成されている
ことを特徴とする請求項15に記載の固定可能なプローブピン。 - 前記第2の挿入突起には、弾性部が形成されている
ことを特徴とする請求項16に記載の固定可能なプローブピン。 - 前記第2の水平部が弾性変形可能であるように、前記第2の水平部には、開ループ状の孔が形成されている
ことを特徴とする請求項17に記載の固定可能なプローブピン。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2015-0068652 | 2015-05-18 | ||
KR1020150068652A KR101558256B1 (ko) | 2015-05-18 | 2015-05-18 | 고정 가능한 프로브 핀 및 프로브 핀 고정 어셈블리 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016218056A JP2016218056A (ja) | 2016-12-22 |
JP6055951B2 true JP6055951B2 (ja) | 2016-12-27 |
Family
ID=54347174
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016096773A Active JP6055951B2 (ja) | 2015-05-18 | 2016-05-13 | 固定可能なプローブピン及びプローブピン固定アセンブリ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6055951B2 (ja) |
KR (1) | KR101558256B1 (ja) |
CN (2) | CN106168632A (ja) |
TW (2) | TWI600908B (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108834330B (zh) * | 2018-06-29 | 2021-07-20 | 惠州市金百泽电路科技有限公司 | 一种pcb“d”字型异型焊盘的加工方法 |
CN111141938B (zh) * | 2018-11-02 | 2021-10-29 | 旺矽科技股份有限公司 | 适用于具有倾斜导电接点的多待测单元的探针模块 |
KR102098650B1 (ko) * | 2019-07-24 | 2020-04-10 | 주식회사 프로이천 | 핀 타입 프로브 장치 |
KR102241061B1 (ko) * | 2020-01-14 | 2021-04-16 | (주)위드멤스 | 프로브 블록 조립체 |
KR102241059B1 (ko) * | 2020-01-14 | 2021-04-16 | (주)위드멤스 | 프로브 블록 조립체 |
KR102121618B1 (ko) | 2020-02-06 | 2020-06-10 | 주식회사 프로이천 | 일체형 프로브 어레이블록 |
KR102121620B1 (ko) | 2020-02-11 | 2020-06-10 | 주식회사 프로이천 | 분리형 프로브 어레이블록 |
KR102225546B1 (ko) | 2020-11-13 | 2021-03-10 | 주식회사 프로이천 | 프로브핀블록 |
KR102563643B1 (ko) * | 2021-06-10 | 2023-08-04 | 주식회사 프로이천 | 핀 보드 |
KR102357377B1 (ko) * | 2021-09-06 | 2022-02-08 | 가온솔루션 주식회사 | 프로브핀 및 이를 구비하는 프로브유닛 |
KR102614928B1 (ko) * | 2021-11-24 | 2023-12-19 | (주)티에스이 | 프로브 카드 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08271579A (ja) * | 1995-03-30 | 1996-10-18 | Fujitsu Ltd | Icソケット及びそれを用いたic試験方法 |
JP4496456B2 (ja) * | 2001-09-03 | 2010-07-07 | 軍生 木本 | プローバ装置 |
US7230437B2 (en) * | 2004-06-15 | 2007-06-12 | Formfactor, Inc. | Mechanically reconfigurable vertical tester interface for IC probing |
JP4571517B2 (ja) * | 2004-10-19 | 2010-10-27 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ組立体 |
KR100697218B1 (ko) | 2005-03-17 | 2007-03-21 | 주식회사 코디에스 | 평판형 디스플레이의 패턴 검사용 프로브블록 조립체 및그의 조립방법 |
KR100600700B1 (ko) | 2005-07-29 | 2006-07-19 | 프롬써어티 주식회사 | 평판표시패널 검사용 프로브 장치 |
JP2007303826A (ja) * | 2006-05-08 | 2007-11-22 | Tokyo Electron Ltd | プローブ |
KR100781379B1 (ko) * | 2007-01-30 | 2007-11-30 | 안재일 | 프로브장치 |
CN101315391B (zh) * | 2007-05-28 | 2011-11-23 | 旺矽科技股份有限公司 | 拉伸式折叠探针 |
CN101329366B (zh) * | 2007-06-22 | 2011-03-30 | 旺矽科技股份有限公司 | 一种探针短路防止结构的制作方法 |
JP5222038B2 (ja) * | 2008-06-20 | 2013-06-26 | 東京エレクトロン株式会社 | プローブ装置 |
KR101049445B1 (ko) * | 2009-01-12 | 2011-07-15 | 주식회사 디엠엔티 | 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 유닛 |
JP5491790B2 (ja) * | 2009-07-27 | 2014-05-14 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ装置 |
JP5690105B2 (ja) * | 2009-11-26 | 2015-03-25 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ装置 |
CN102081110B (zh) * | 2009-11-26 | 2014-03-26 | 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 | 探针装置 |
JP5417265B2 (ja) * | 2010-06-24 | 2014-02-12 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ組立体 |
CN102565470B (zh) * | 2010-12-03 | 2014-06-04 | 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 | 探针组合体 |
KR101215375B1 (ko) * | 2011-11-25 | 2012-12-26 | (주)기가레인 | 컨택트 필름, 상기 컨택트 필름의 제조방법, 프로브 유닛 및 lcd 패널 검사장치 |
JP2014182976A (ja) * | 2013-03-21 | 2014-09-29 | Enplas Corp | 電気接触子及び電気部品用ソケット |
-
2015
- 2015-05-18 KR KR1020150068652A patent/KR101558256B1/ko active IP Right Grant
-
2016
- 2016-04-25 CN CN201610260679.7A patent/CN106168632A/zh active Pending
- 2016-04-25 CN CN201910794571.XA patent/CN110531124A/zh active Pending
- 2016-05-10 TW TW106100662A patent/TWI600908B/zh active
- 2016-05-10 TW TW105114517A patent/TWI572864B/zh active
- 2016-05-13 JP JP2016096773A patent/JP6055951B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI572864B (zh) | 2017-03-01 |
TW201631322A (zh) | 2016-09-01 |
TWI600908B (zh) | 2017-10-01 |
CN110531124A (zh) | 2019-12-03 |
JP2016218056A (ja) | 2016-12-22 |
TW201716783A (zh) | 2017-05-16 |
KR101558256B1 (ko) | 2015-10-12 |
CN106168632A (zh) | 2016-11-30 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A521 | Request for written amendment filed |
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|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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