KR101111124B1 - 검사용 소켓 - Google Patents
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- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
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- G01—MEASURING; TESTING
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- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
- G01R31/2863—Contacting devices, e.g. sockets, burn-in boards or mounting fixtures
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Abstract
Description
도 2는 도 1의 A-A'부의 단면도,
도 3은 도 1의 분해사시도,
도 4는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 하우징 어셈블리를 도시하는 분해사시도,
도 5a 내지 5d는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 하우징 어셈블리가 하우징 프레임에 90도씩 시계방향으로 회동되어 고정된 상태를 도시하는 평면도이다.
12: 제1함몰부
14: 프로브
16: 하우징
18: 베이스 커버
20: 하우징 프레임
24: 볼 가이드
30: 가이드 핀
100: 검사용 소켓
Claims (4)
- 삭제
- 검사용 소켓에 있어서,
하우징 프레임과;
검사대상 반도체 칩을 지지하며 상기 하우징 프레임의 상부에 착탈 가능하게 결합되는 반도체 지지부와;
상기 반도체 칩의 솔더볼에 접촉 가능한 프로브와;
상기 프로브를 지지하며 상기 하우징 프레임의 하부에 설치되는 프로브 지지부와;
상기 프로브 지지부 및 상기 반도체 지지부 중 적어도 어느 하나가 상기 하우징 프레임 내에서 제1위치 및 제2위치를 유지하도록 상기 하우징 프레임과 상기 프로브 지지부 사이 및 상기 하우징 프레임과 상기 반도체 지지부 사이 중 적어도 어느 하나에 배치되는 위치유지부를 포함하며,
상기 위치유지부는,
상기 프로브 지지부 및 상기 하우징 프레임 중 어느 하나에 마련되어 상기 제1위치 및 상기 제2위치로 상대 이동 가능한 안내돌기와;
상기 안내돌기를 상기 제1위치 및 상기 제2위치에 유지하도록 상기 프로브 지지부 및 상기 하우징 프레임 중 다른 하나에 상기 제1위치 및 상기 제2위치에 대응하는 위치에 마련된 복수의 이동규제부를 포함하는 것을 특징으로 하는 검사용 소켓. - 검사용 소켓에 있어서,
하우징 프레임과;
검사대상 반도체 칩을 지지하며 상기 하우징 프레임의 상부에 착탈 가능하게 결합되는 반도체 지지부와;
상기 반도체 칩의 솔더볼에 접촉 가능한 프로브와;
상기 프로브를 지지하며 상기 하우징 프레임의 하부에 설치되는 프로브 지지부와;
상기 프로브 지지부 및 상기 반도체 지지부 중 적어도 어느 하나가 상기 하우징 프레임 내에서 제1위치 및 제2위치를 유지하도록 상기 하우징 프레임과 상기 프로브 지지부 사이 및 상기 하우징 프레임과 상기 반도체 지지부 사이 중 적어도 어느 하나에 배치되는 위치유지부를 포함하며,
상기 위치유지부는,
상기 반도체 지지부 및 상기 하우징 프레임 중 어느 하나에 마련되어 상기 제1위치 및 상기 제2위치로 상대 이동 가능한 안내돌기와;
상기 안내돌기를 상기 제1위치 및 상기 제2위치에 유지시켜 상기 안내돌기의 이동을 규제하도록 상기 반도체 지지부 및 상기 하우징 프레임 중 다른 하나에 상기 제1위치 및 상기 제2위치에 대응하는 위치에 마련된 복수의 이동규제부를 포함하는 것을 특징으로 하는 검사용 소켓. - 제2항 또는 제3항에 있어서,
상기 이동규제부는 상기 안내돌기가 삽입 가능한 삽입홈을 포함하는 것을 특징으로 하는 검사용 소켓.
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