KR101592303B1 - 필름형 프로브 유닛 - Google Patents

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KR101592303B1
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안윤태
김태현
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(주) 루켄테크놀러지스
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Abstract

전기소자를 검사하는 필름형 프로브 유닛이 개시되며, 필름형 프로브 유닛은 전자소자에 접촉되는 제1 필름, 제1필름과 전기적으로 연결되는 제2필름 및 제1필름과 제2필름의 접촉부위를 가압하는 푸시블록을 포함하되, 푸시블록은 결합되는 방향에 대해 내측방향으로 경사지게 형성되고, 제1필름과 제2필름의 접촉부위에 접촉되는 제1경사부 및 상하 방향으로 통공되는 적어도 하나 이상의 가압홀을 포함하고, 가압홀에 가압부재가 삽입되어, 제1필름과 제2필름의 접촉부위가 가압된다.

Description

필름형 프로브 유닛{FILM TYPE PROVE UNIT}
본원은 필름형 프로브 유닛에 관한 것이다.
일반적인 영상 표시 장치의 패널로서 사용되는 액정 디스플레이 패널(LCD), 플라즈마 디스플레이 패널(PDP), 능동형 유기발광 다이오드 디스플레이 패널(AMOLED) 등과 같은 디스플레이 패널은 셀의 가장자리 부위에 전기적인 신호가 인가되도록 수십 내지 수백개의 전극들이 고밀도로 배치되는 전극 패드(또는 전극)가 복수개 형성되어 있다. 이러한 디스플레이 패널은 제품에 장착되기 전에 전극 패드에 전기적인 검사 신호를 인가하여 화면의 불량여부를 검사하게 되는데, 이 때 프로브 유닛이 사용된다.
종래의 프로브 유닛은 대한민국 공개특허 제 10-2007-0077374호에 개시된 것이 있다.
이러한 프로브 유닛은, 인쇄회로기판, 인쇄회로기판과 연결된 탭, 탭으로부터 받은 신호를 반전시키는 브릿지 탭, 및 브릿지 탭과 연결되고, 하면에 전도성물질이 패터닝된 프로브 바를 포함한다.
프로브 유닛은 인쇄회로기판과 탭을 연결하는데 있어서 이방성전도필름(ACF, Anisotropic Conductive Film)과 같은 접착물질을 이용하여 연결한다.
이러한, 이방성전도필름은 고온에서 접착력이 생기기 때문에, 인쇄회로기판과 탭을 연결시키는 공정이 고온 하에 이루어져, 열에 약한 탭부가 연결하는 과정에서 인쇄회로기판과 탭의 접촉부위가 변형이 발생하는 문제점이 있다.
또한, 이방성전도필름으로 연결하여, 인쇄회로기판 또는 탭 중 하나의 부품이 기능을 구현하지 못할 경우, 인쇄회로기판과 탭을 모두 교체해야하는 문제점이 있다.
본원은 전술한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 부품에 이상이 있을 경우, 교체가 용이하고, 제1필름과 제2필름을 손쉽게 연결할 수 있는 필름형 프로브 유닛을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기한 기술적 과제를 달성하기 위한 기술적 수단으로서, 본원의 제1 측면에 따른 필름형 프로브 유닛은 전자소자에 접촉되는 제1 필름, 제1필름과 전기적으로 연결되는 제2필름 및 제1필름과 제2필름의 접촉부위를 가압하는 푸시블록을 포함하되, 푸시블록은 결합되는 방향에 대해 내측방향으로 경사지게 형성되고, 제1필름과 제2필름의 접촉부위에 접촉되는 제1경사부 및 상하 방향으로 통공되는 적어도 하나 이상의 가압홀을 포함하고, 가압홀에 가압부재가 삽입되어, 제1필름과 제2필름의 접촉부위가 가압된다.
전술한 본원의 과제 해결 수단에 의하면, 본 발명의 필름형 프로브 유닛은 제1필름과 제2필름이 접착물질을 사용하지 않고, 압착에 의해서 접합되어, 제1필름 또는 제2필름을 교체할 경우, 문제가 있는 부품만을 교체할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명의 필름형 프로브 유닛은 제1필름과 제2필름의 접촉부위를 육안으로 확인할 수 있는 투시부가 구비하여 제1필름과 제2필름을 정확하게 연결할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명의 필름형 프로브 유닛은 쿠션부가 파손 또는 노후화될 경우, 쿠션부만 교체할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 필름형 프로브 유닛의 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 필름형 프로브 유닛의 부분 단면도이다
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 푸시블록 단면도이다.
도 4는 도 3의 A의 확대도이다.
도 5는 도 3의 B의 확대도이다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 호환블록 단면도이다.
아래에서는 첨부한 도면을 참조하여 본원이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본원의 실시예를 상세히 설명한다. 그러나 본원은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본원을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
본원 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "전기적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다.
본원 명세서 전체에서, 어떤 부재가 다른 부재 “상에” 위치하고 있다고 할 때, 이는 어떤 부재가 다른 부재에 접해 있는 경우뿐 아니라 두 부재 사이에 또 다른 부재가 존재하는 경우도 포함한다.
본원 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함" 한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 본원 명세서 전체에서 사용되는 정도의 용어 "약", "실질적으로" 등은 언급된 의미에 고유한 제조 및 물질 허용오차가 제시될 때 그 수치에서 또는 그 수치에 근접한 의미로 사용되고, 본원의 이해를 돕기 위해 정확하거나 절대적인 수치가 언급된 개시 내용을 비양심적인 침해자가 부당하게 이용하는 것을 방지하기 위해 사용된다. 본원 명세서 전체에서 사용되는 정도의 용어 "~(하는) 단계" 또는 "~의 단계"는 "~ 를 위한 단계"를 의미하지 않는다.
본원은 필름형 프로브 유닛(10)에 관한 것이다.
우선, 본원의 일 실시예에 따른 필름형 프로브 유닛(10) (이하 '본 필름형 프로브 유닛(10)'라 함)에 대해 설명한다.
본 필름형 프로브 유닛(10)은 전자소자에 접촉되는 제1필름(200)을 포함하고, 상하방향으로 이동함으로써 제1필름(200)이 전자소자에 접촉되어 전자소자를 검사하는 프로브 유닛일 수 있다.
또한, 전자소자는 액정 디스플레이 패널(LCD), 플라즈마 디스플레이 패널(PDP), 능동형 유기발광 다이오드 디스플레이 패널(AMOLED) 등과 같은 디스플레이 패널일 수 있다.
또한, 본 필름형 프로브 유닛(10)은 이러한 디스플레이 패널이 제품에 장착되기 전에 전극 패드에 전기적인 검사 신호를 인가하여 화면의 불량여부를 검사하는 장치일 수 있다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 필름형 프로브 유닛(10)은 전자소자에 접촉되는 제1필름 (200), 제1필름(200)과 전기적으로 연결되는 제2필름(300), 및 제1필름(200) 및 제2필름(300)의 접촉부위를 가압하는 푸시블록(110)을 포함한다.
제1필름(200)은 전자소자와 접촉되는 도전성 패턴을 가질 수 있다.
예시적으로, 제1필름(200)은 일면에 전기적인 신호를 전달하는 배선이 형성되고, 그 배선 위에 전자소자에 접촉되는 범프가 구비되며, 필름형태로 제작되는 필름 범프일 수 있다. 이때, 제1필름(200)의 범프가 전자소자에 접촉하여 전기적인 신호를 전달 할 수 있다.
제2필름(300)은 전자소자에 탑재되는 구동아이씨(IC, Integrated Circuit)와 동일한 구동아이씨를 가질수 있다.
예시적으로, 제2 필름(300)은 연성회로기판(FPC)일 수 있으며, 연성회로기판에 형성된 도전성 패턴과 제1필름(200)에 형성된 도전성 패턴이 일치될 수 있도록 접촉될 수 있다. 또한, 제2필름(300)은 구동아이씨를 포함할 수 있으며, 구동아이씨는 탭아이씨(TAB IC, Tape Automated Bonding Integrated Circuit)일 수 있다.
푸시블록(110)은 제1필름(200)과 제2필름(300)가 보다 확실하게 접촉되도록 이들의 연결부위를 가압함으로써, 전기적인 신호를 원활하고 안정적으로 주고받게 할 수 있다.
또한, 제2필름(300)과 제1필름(200)는 푸시블록(110)의 가압에 의해서 전기적으로 연결되어, 제2필름(300) 또는 제1필름(200)이 손상이 될 경우, 제2필름(300) 또는 제1필름(200)을 분리하여 필요한 부품을 교체할 수 있는 장점이 있다.
푸시블록(110)은 결합되는 방향에 대해 내측방향으로 경사지게 형성되고, 제1필름(200)과 제2필름(300)의 접촉부위에 접촉되는 제1경사부(111) 및 상하 방향으로 천공되는 적어도 하나 이상의 가압홀(113)을 포함한다. 또한, 푸시블록(110)은 가압홀(113)에 가압부재(114)가 삽입되어, 제1필름(200)과 제2필름(300)의 접촉부위가 가압된다.
예시적으로, 도 3에 도시된 바와 같이, 푸시블록(110)은 쐐기 형상으로 제작되되, 좌측면의 일부 또는 전체가 내측방향 경사지게 형성되는 제1경사부(111)를 포함할 수 있다.
다시 말해, 푸시블록(110)의 좌측면에는 내측방향으로 경사지게 제1경사부(111)가 형성되고, 제1경사부(111)에는 제1필름(200)과 제2필름(300)의 접촉부위에 접촉될 수 있다.
상술한 푸시블록(110)의 좌측면은 도 3의 좌측방향(9시 방향)에 위치한 면일 수 있다.
또한, 푸시블록(110)은 상하방향으로 천공되는 적어도 하나 이상의 가압홀(113)이 형성되어, 가압홀(113)에 가압부재(114)가 삽입되어 상부 또는 하부방향으로 이동됨에 따라, 제1경사부(111)가 제1필름(200)과 제2필름(300) 간의 접촉압력을 조절 할 수 있다.
예시적으로, 가압부재(114)는 볼트일 수 있으며, 가압부재(114)를 조일수록 푸시블록(110)이 하부방향으로 이동되고, 제1경사부(111)에 의해서 가압되는 압력이 높아지게 되고, 반대로 가압부재(114)를 풀수록 푸시블록(110)이 상부방향으로 이동되고, 제1경사부(111)에 의해서 가압되는 압력이 낮아질수 있다. 또한, 가압부재(114)는 가압홀(113)을 관통하여 고정블록(130) 또는 바디블록(140)에 결합될 수 있다.
또한, 푸시블록(110)은 제1필름(200)과 제2필름(300)의 접촉상태를 육안으로 확인할 수 있는 투시부(117)가 형성되고, 제1경사부(111)에 투명한 재질의 투명부재(116)가 위치할 수 있다.
예시적으로, 도2와 도 3을 참조하면, 푸시블록(110)은 제1경사부(111)에 투명한 재질의 투명부재(116)가 위치하여, 투명부재가 제1필름(200)과 제2필름의 접촉부위를 가압할 수 있다. 또한, 푸시블록(110)은 제1경사부(111)의 일측이 내측방향으로 함몰 형성되는 투시부(117)가 형성될 수 있으며, 투명부재(116) 및 투시부(117)를 통해 제1필름(200)과 제2필름(300)의 접촉상태를 육안으로 확인할 수 있다. 이때, 제1필름(200)에 형성된 전도성 패턴과 제2필름(300)에 형성된 전도성 패턴이 일치하는지 육안으로 명확히 확인할 수 있도록, 제1필름(200)과 제2필름(300)의 접촉부위는 제2필름(300)이 하부에 위치하고, 제1필름(200)이 상부에 위치되도록 접촉되는 것이 바람직하다.
필름형 프로브 유닛(10)은 제1경사부(111)에 접촉되고, 하부방향으로 경사지게 형성되는 제2경사부(123)를 포함하고, 제1필름(200)의 하부에 위치하는 호환블록(120), 일측이 푸시블록(110)의 하부에 위치하는 고정블록(130) 및 고정블록(130) 및 호환블록(120)의 하부에 위치하고, 고정블록(130) 및 호환블록(120)이 결합되는 바디블록(140)을 더 포함할 수 있다.
도 2를 참조하면, 호환블록(120)은 바디블록(140)의 상부면 좌측에 위치할 수 있으며, 고정블록(130)은 바디블록(140)의 상부면 우측에 위치할 수 있다.
예시적으로, 푸시블록(110)의 제1경사부(111)는 제2경사부(123)을 따라 이동될 수 있다. 이때, 푸시블록(110)이 제2경사부(123)를 따라 이동이 원활하고, 효율적으로 가압하기 위해서, 제1경사부(111)와 제2경사부(123)의 경사각도는 동일하게 형성되는 것이 바람직하다.
또한, 호환블록(120)은 하부방향으로 돌출 형성되는 돌출부(미도시)가 형성되고, 바디블록(140)은 돌출부에 대응되게 하부방향으로 함몰 형성되는 함몰부(미도시)가 형성되어, 돌출부가 함몰부에 슬라이딩 결합할 수 있다. 하지만, 이에 한정되는 것이 아니라, 호환블록(120)와 바디블록(140)은 볼트와 같은 결합부재를 이용하여 결합할 수도 있다.
푸시블록(110)은 제1경사부(111)에 위치하고, 탄성력을 가지는 탄성부재(115)를 포함할 수 있다.
제2경사부(123)에 접촉되는 제1경사부(111)에는 탄성력을 가지는 탄성부재(115)가 위치됨에 따라, 푸시블록(110)이 파손되는 것을 방지할 수 있다. 또한, 탄성부재(115)는 우레탄 또는 엔지니어링 플라스틱일 수 있다.
또한, 도 4를 참조하면, 탄성부재(115)에 의해서 제1필름(200)과 제2필름(300)의 접촉부위가 가압됨에 따라, 필요 이상으로 가압되는 힘을 분산하여 제1필름(200)과 제2필름(300)의 접촉부위가 파손되는 것을 방지할 수 있다.
또한, 도 4에 도시된 바와 같이, 투명부재(116)의 일측면에는 탄성부재(115)가 위치하며, 타측면에는 제1경사부(111)에 부착될 수 있다. 또한, 탄성부재(115)는 제1필름(200)과 제2필름(300)의 접촉부위를 육안으로 확인하기 위해, 접촉부위의 일부분을 제외하고 접촉되어 가압하는 것이 바람직하다. 다시말해, 탄성부재(115)는 제2필름(330)의 단부에서 일정거리 이격되어 접촉되도록 투명부재(117)의 일측면에 위치할 수 있다.
또한, 바디블록(140)은 상부면에 돌출 형성되는 복수개의 핀(141)을 포함하고, 고정블록(130)은 상하방향으로 천공되는 복수개의 핀홀(131)을 포함하여, 핀홀(131)에 핀(141)이 삽입되어, 고정블록(130)이 바디블록(140)에 고정될 수 있다.
고정블록(130)은 복수개의 핀(141)에 의해서 바디블록(140)에 고정됨에 따라, 푸시블록(110)을 결합 또는 가압 시, 고정블록(130)의 위치값이 변화하는 것을 방지할 수 있다.
다시 말해, 고정블록(130)이 하나의 핀(141)에 의해서 바디블록(140)에 고정될 경우, 푸시블록(110)을 결합 또는 가압 시, 고정블록(130)이 핀(141)을 중심으로 회전하여 위치값이 변화하여 푸시블록(110)을 안정적으로 결합 또는 가압할 수 없다. 따라서, 바디블록(140)은 복수개의 핀(141)을 포함하고, 고정블록(130)은 핀(141)이 삽입되는 복수개의 핀홀(131)을 형성되어, 고정블록(130)이 바디블록(140)에 고정되는 것이 바람직하다.
또한, 고정블록(130)은 바디블록(140)에 결합될 경우, 바디블록(140)에 형성되는 핀(141)에 고정블록(130)의 핀홀(131)이 결합되어 1차적으로 결합되고, 고정블록(130)에 고정홀(도면부호 미부여)이 형성되어 고정홀에 볼트와 같은 고정부재가 삽입되고, 바디블록(140)에 체결되어, 2차적으로 견고히 결합될 수 있다.
제2필름(300)은 일측이 제1필름(200)과 연결되고, 타측이 연성회로기판(400)과 연결될 수 있다. 또한, 제2필름(300)과 연성회로기판(400)은 가압을 통해 서로 전기적으로 연결될 수 있다.
예시적으로, 제2필름(300)과 연성회로기판(400)의 접촉부위는, 도 2에 도시된 바와 같이, 바디블록(140)과 고정블록(130)의 사이에 위치하여, 고정블록(130)을 바디블록(140)에 체결함에 따라 제2필름(300)과 연성회로기판(400)의 접촉부위가 가압되어 서로 전기적으로 연결될 수 있다. 제2필름(300)과 연성회로기판(400)의 접촉부위는 고정블록(130)에 의해서 가압된다고 설명하였지만, 이에 한정되는 것은 아니며, 도 1에 도시된 바와 같이, 고정블록(130)의 일측면이 내측방향으로 함몰 형성되고, 제2필름(300)과 연성회로기판(400)의 접촉부위가 함몰 형성된 부분에 위치하여, 별도의 가압부재를 이용하여 제2필름(300)과 연성회로기판(400)의 접촉부위를 가압할 수 있다.
바디블록(140)은 하부면에 적어도 3개 이상의 체결홈(미도시)이 형성될 수 있다.
본 필름형 프로브 유닛(10)이 상하방향으로 이동함으로써 전기소자에 접촉시 발생하는 힘 또는 기타 다른 외력에 의해서, 위치가 틀어지는 것을 방지하기 위해서, 바디블록(140)의 하부면에 적어도 3개 이상의 체결홈이 형성되고, 체결홈이 체결핀에 결합되어 고정되는 것이 바람직하다.
도 5를 참조하면, 호환블록(120)은 제1필름(200)의 일 단부, 즉 전자소자가 접촉하는 부분의 하부에 위치하는 쿠션부(121) 및 쿠션부(121)의 상부면에 위치하는 텐션플레이트(122)를 포함할 수 있다.
예시적으로, 쿠션부(121)는 도 5에 도시된 바와 같이 경사지게 형성될 수 있다. 이를 통해, 제1필름(200)을 원하는 각도로 경사지게 고정시켜 전자소자와 접촉이 원활하게 할 수 있다.
또한, 쿠션부(121)는 제1필름(200)이 전자소자와 반복적으로 접촉되더라도 제1필름(200)이 원래의 형태로 복귀될 수 있도록 탄성력을 가지는 재질로 제작되는 것이 바람직하다. 예시적으로, 쿠션부(121)는 우레탄 또는 엔지니어링 플라스틱일 수 있다.
또한, 제1필름(200)이 전자소자에 반복적으로 접촉하는 경우, 쿠션부(121)는 탄성한계를 초과하여 수축 또는 팽창되는 소성변형이 발생될 수 있다. 따라서, 쿠션부(121)의 상면에 텐션플레이트(122)를 부착하여 쿠션부(121)가 소성변형 되는 것을 방지함으로써, 쿠션부(121)의 수명을 연장할 수 있다.
예시적으로, 텐션플레이트(122)는 쿠션부(121)를 탄력적으로 지지할 수 있는 스테인레스와 같은 금속 소재로 이루어 질 수 있다.
도 6을 참조하면, 호환블록(120)은 쿠션부(121)가 삽입되도록, 함몰 형성되는 쿠션삽입홈(124), 쿠션삽입홈(124)의 하부방향으로 일정거리 이격되고, 함몰 형성되는 이격홈(125), 이격홈(125)의 하부면에 이격홈(125)과 직교하는 방향으로 통공되는 쿠션가압홀(126), 및 쿠션가압홀(126)에 삽입되어 쿠션부(121)를 가압하는 쿠션가압부재(127)를 포함할 수 있다.
예시적으로, 도 6에 도시된 바와 같이, 쿠션삽입홈(124)은 하부방향으로 일정 각도를 가지고 함몰 형성될 수 있다. 또한, 쿠션부(121)는 쿠션삽입홈(124)에 삽입되어 고정되며, 상부 일측이 외부로 노출될 수 있다. 이때, 쿠션부(121) 중 외부로 노출된 부분에 텐션플레이트(122)가 위치할 수 있다.
또한, 이격홈(125)은 쿠션삽입홈(124)과 동일한 각도를 가지게 형성되며, 쿠션가압홀(126)은 이격홈(125)과 직교하는 방향으로 통공될 수 있다. 이때, 쿠션가압홀(126)에 쿠션가압부재(127)가 삽입되어 쿠션부(121)를 가압할 경우, 쿠션가압부재(127)는 쿠션부(121)가 삽입된 방향과 수직된 방향으로 가압하여, 쿠션부(121)를 효율적으로 가압할 수 있다. 또한, 쿠션가압부재(127)는 머리가 없는 무두볼트일 수 있다.
쿠션가압부재(127)는 쿠션부(121)에 직접 접촉되어 가압되는 것이 아니라, 이격홈(125)의 상부면을 가압함으로써, 쿠션부(121)로 가압력이 전달되어, 가압되는 부분이 소성변형되는 것을 방지하고, 쿠션부(121)에 가압되는 힘을 분산하여 전달할 수 있는 장점이 있다.
제2필름(300)에 전기적으로 연결되는 연성회로기판(400)를 더 포함할 수 있다.
제2필름(300)은 연성회로기판(400)에 전기적으로 연결되어, 연성회로기판(400)에서 출력되는 전기적 신호를 받아 제1필름(200)으로 전달할 수 있으며, 또한 제1필름(200)에서 출력되는 전기적 신호를 받아 연성회로기판(400)에 전달할 수 있다. 또한, 연성회로기판(400)은 구동아이씨를 포함할 수 있다. 다시말해, 구동아이씨는 제2필름(300) 또는 연성회로기판(400)에 부착될 수 있다.
전술한 본원의 설명은 예시를 위한 것이며, 본원이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본원의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.
본원의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본원의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
10 : 필름형 프로브 유닛
110 : 푸시블록 111 : 제1경사부
113 : 가압홀 114 : 가압부재
115 : 탄성부재 116 : 투명부재
117 : 투시부
120 : 호환블록 121 : 쿠션부
122 : 텐션플레이트 123 : 제2경사부
124 : 쿠션삽입홈 125 : 이격홈
126 : 쿠션가압홀 127 : 쿠션가압부재
130 : 고정블록 131 : 핀홀
140 : 바디블록 141 : 핀
200 : 제1필름
300 : 제2필름
400 : 연성회로기판

Claims (12)

  1. 전자소자를 검사하는 필름형 프로브 유닛에 있어서,
    상기 전자소자에 접촉되는 제1필름;
    상기 제1필름과 전기적으로 연결되는 제2필름; 및
    상기 제1필름과 상기 제2필름의 접촉부위를 가압하는 푸시블록을 포함하되,
    상기 푸시블록은
    결합되는 방향에 대해 내측방향으로 경사지게 형성되고, 상기 제1필름과 상기 제2필름의 접촉부위에 접촉되는 제1경사부 및
    상하 방향으로 통공되는 적어도 하나 이상의 가압홀을 포함하고,
    상기 가압홀에 가압부재가 삽입되어, 상기 제1필름과 상기 제2필름의 접촉부위가 가압되는 필름형 프로브 유닛.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1필름은 상기 전자소자와 접촉되는 도전성 패턴을 가지며,
    상기 제2필름은 상기 전자소자에 탑재되는 구동 아이씨와 동일한 구동아이씨를 갖는 필름형 프로브 유닛.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 푸시블록은
    상기 제1필름과 상기 제2필름의 접촉상태를 육안으로 확인할 수 있는 투시부가 형성되고,
    상기 제1경사부에 투명한 재질의 투명부재가 위치하는 필름형 프로브 유닛.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제1경사부에 접촉되고, 하부방향으로 경사지게 형성되는 제2경사부를 포함하고, 상기제1 필름의 하부에 위치하는 호환블록;
    일측이 상기 푸시블록의 하부에 위치하는 고정블록 및
    상기 고정블록 및 상기 호환블록의 하부에 위치하고, 상기 고정블록 및 상기 호환블록이 결합되는 바디블록을 더 포함하는 필름형 프로브 유닛.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 바디블록은 상부면에 돌출 형성되는 복수개의 핀을 포함하고,
    상기 고정블록은 상하방향으로 천공되는 복수개의 핀홀을 포함하여,
    상기 핀홀에 상기 핀이 삽입되어, 상기 고정블록이 상기 바디블록에 고정되는 필름형 프로브 유닛.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 푸시블록은,
    상기 제1 경사부에 각각 위치하는 탄성부재를 포함하는 필름형 프로브 유닛.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 탄성부재는 우레탄 또는 엔지니어링 플라스틱인 필름형 프로브 유닛.
  8. 제4항에 있어서,
    상기 호환블록은
    상기 제1필름의 일 단부의 하부 위치하는 쿠션부; 및
    상기 쿠션부의 상부면에 위치하는 텐션플레이트를 포함하는 필름형 프로브 유닛.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 호환블록은
    상기 쿠션부가 삽입되도록, 함몰 형성되는 쿠션삽입홈;
    상기 쿠션삽입홈의 하부방향으로 일정거리 이격되고, 함몰 형성되는 이격홈;
    이격홈의 하부면에 상기 이격홈과 직교하는 방향으로 통공되는 쿠션가압홀; 및
    상기 쿠션가압홀에 삽입되어 상기 쿠션부를 가압하는 쿠션가압부재를 포함하는 것인 필름형 프로브 유닛.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 쿠션부는 우레탄 또는 엔지니어링 플라스틱인 필름형 프로브 유닛.
  11. 제4항에 있어서,
    상기 바디블록은 하부면에 적어도 3개 이상의 체결홈이 형성되는 필름형 프로브 유닛.
  12. 제1항에 있어서,
    상기 제2필름에 전기적으로 연결되는 연성회로기판을 더 포함하는 필름형 프로브 유닛.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20120072703A (ko) * 2010-12-24 2012-07-04 구철환 평판디스플레이 검사용 프로브 유닛
KR200461758Y1 (ko) * 2011-12-12 2012-08-03 주식회사 프로이천 프로브블록
KR20130004808A (ko) * 2011-07-04 2013-01-14 주식회사 디에스케이 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 유닛
KR20130118517A (ko) * 2012-04-20 2013-10-30 주식회사 디에스케이 디스플레이 패널 검사를 위한 필름타입의 프로브 유닛

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20120072703A (ko) * 2010-12-24 2012-07-04 구철환 평판디스플레이 검사용 프로브 유닛
KR20130004808A (ko) * 2011-07-04 2013-01-14 주식회사 디에스케이 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 유닛
KR200461758Y1 (ko) * 2011-12-12 2012-08-03 주식회사 프로이천 프로브블록
KR20130118517A (ko) * 2012-04-20 2013-10-30 주식회사 디에스케이 디스플레이 패널 검사를 위한 필름타입의 프로브 유닛

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101735368B1 (ko) 2017-02-16 2017-05-17 주식회사 프로이천 패널 테스트용 프로브 블록

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