KR101772003B1 - 테스트 소켓 - Google Patents

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KR101772003B1
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공종환
전민영
이동호
유병운
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디플러스(주)
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Abstract

테스트 소켓은 개구가 형성된 제1 몸체; 상기 개구 내에 삽입되는 지지블록, 상기 지지블록의 상면에 배치된 쿠션 부재, 쿠션 부재 상에 배치되는 기판 몸체, 상기 기판 몸체에 형성된 출력 단자들 및 상기 기판 몸체에 형성되며 상기 출력 단자들에 연결된 패턴이 형성된 연성회로기판을 포함하는 신호 인가 유닛; 상기 제1 몸체와 마주하게 배치되는 제2 몸체; 및 상기 제2 몸체에 장착되며 상기 출력 단자들과 각각 면 접촉되는 패드 형상의 입력 단자들을 포함한다.

Description

테스트 소켓{TEST SOCKET}
본 발명은 테스트 소켓에 관한 것으로 특히 테스트 신호를 전달하는 부분의 마모 및 마모에 따른 손상을 방지한 테스트 소켓에 관한 것이다.
일반적으로 카메라 모듈, 엘씨디 패널(LCD panel)과 같은 전자 제품들은 제조 공정이 종료된 후 테스트 소켓을 이용한 테스트 공정에 의하여 양부 테스트 및 성능 테스트가 수행된다.
종래 카메라 모듈 또는 엘씨디 패널과 같은 제품의 테스트를 수행하는 테스트 소켓은 제품이 탑재되는 하부 플레이트 및 하부 플레이트와 마주하게 배치된 상부 플레이트를 포함한다.
종래 테스트 소켓의 하부 플레이트에는 제품이 배치되고, 하부 플레이트에는 외부로부터 테스트 신호들이 인가되는 인터페이스 핀(interface pin)들이 배치된다. 또한 상부 플레이트에는 제품의 단자와 접속되는 커넥터 및 인터페이스 핀들과 각각 접속되는 박막 형태의 접속 패드들이 형성된 회로기판이 배치된다.
종래 테스트 소켓에서 제품의 테스트를 수행하기 위해서는 인터페이스 핀들이 접속 패드들과 접속되어 테스트 신호가 접속 패드로 인가되고, 접속 패드로부터 커넥터로부터 제품의 단자로 테스트 신호가 인가되어 제품의 테스트가 수행된다.
이와 같은 방식으로 테스트를 수행하는 테스트 소켓은 대표적으로 하부 플레이트에 핀이 배치되고 상부 플레이트의 회로기판에 형성되어 핀과 접속되는 단자가 형성되어 핀-단자 조합에 의하여 테스트 신호를 전달하는 방식은 대한민국 등록특허 제10-1316809호, 내구성과 접속 안정성을 향상시킨 카메라모듈 검사용 소켓, (등록일: 2013.10.02)에 연결핀블록(180) 및 상부 인쇄회로기판(165)로서 개시되어 있다.
그러나, 종래 하부 플레이트에 핀이 배치되고 상부 플레이트에 상기 핀과 접속되는 단자가 형성된 회로기판을 통해 테스트 신호를 대한민국 등록특허 제10-1316809호, 내구성과 접속 안정성을 향상시킨 카메라모듈 검사용 소켓과 같이 인가할 경우 반복적으로 핀이 단자에 접속됨에 따라 핀과 반복적으로 접속되는 단자의 특정 부분에 급속한 마모가 발생 되고 이로 인해 단자에 홀이 형성되어 단자와 핀의 접속 불량이 발생 된다.
일반적으로 단자 및 핀의 접속 불량은 제품을 단지 1,000회 내지 단지 수천 회 정도 테스트를 진행함에 따라 발생 된다. 일반적으로 단자 및 핀의 접속 불량이 발생 될 때마다 상부 플레이트에 배치된 회로기판은 교체되어야 한다.
그러나 마모된 단자를 갖는 회로기판은 상부 플레이트의 내부에 배치되기 때문에 회로기판을 교체하는데 많은 시간이 소요되고 이로 인해 테스트 공정이 지연되며, 회로기판의 빈번한 교체에 의한 부품 비용 역시 크게 상승 되는 문제점을 갖는다.
대한민국 등록특허 제10-1316809호, 내구성과 접속 안정성을 향상시킨 카메라모듈 검사용 소켓, (등록일: 2013.10.02)
본 발명은 하부 플레이트에 배치되어 테스트 신호가 제공하는 부분 및 상부 플레이트에 배치되어 상기 테스트 신호를 전달받는 부분의 반복적인 접속에 의하여 마모가 발생 되는 것을 방지 및 정비시 쉽고 빠르게 부품을 교환할 수 있는 테스트 소켓을 제공한다.
일실시예로서, 테스트 소켓은 개구가 형성된 제1 몸체; 상기 개구 내에 삽입되는 지지블록, 상기 지지블록의 상면에 배치된 쿠션 부재, 쿠션 부재 상에 배치되는 기판 몸체, 상기 기판 몸체에 형성된 출력 단자들 및 상기 기판 몸체에 형성되며 상기 출력 단자들에 연결된 패턴이 형성된 연성회로기판을 포함하는 신호 인가 유닛; 상기 제1 몸체와 마주하게 배치되는 제2 몸체; 및 상기 제2 몸체에 장착되며 상기 출력 단자들과 각각 면 접촉되는 패드 형상의 입력 단자들을 포함한다.
테스트 소켓의 상기 쿠션 부재는 다수 겹으로 형성되며, 상기 쿠션 부재의 폭은 상기 지지블록의 상기 상면의 폭보다 좁게 형성되며 상기 쿠션 부재의 상면은 상기 지지블록의 상면으로부터 돌출된다.
테스트 소켓의 상기 지지블록의 상면에는 제1 정렬부가 형성되고, 상기 연성회로기판에는 상기 제1 정렬부와 정렬되는 제2 정렬부가 형성된다.
테스트 소켓의 상기 제1 정렬부는 상기 지지블록의 상기 상면으로부터 오목하게 형성된 정렬홈이고, 상기 제2 정렬부는 상기 연성회로기판에 형성된 관통홀이다.
테스트 소켓의 상기 제2 몸체는 상기 제1 몸체와 힌지 결합 되어 상기 제1 몸체에 대하여 회동된다.
테스트 소켓의 상기 제2 몸체는 상기 제1 몸체에 대하여 평행하게 승하강 된다.
테스트 소켓의 상기 기판 몸체는 상기 지지블록의 상기 상면과 대향 하는 하면으로 연장되며 상기 하면과 대응하는 상기 기판 몸체에는 상기 패턴에 연결된 신호 입력 단자가 형성된다.
테스트 소켓의 상기 제2 몸체에 형성된 상기 회로 기판은 상기 제1 몸체에 장착된 제품의 단자와 접속되는 커넥터를 포함한다.
테스트 소켓의 상기 쿠션 부재는 직육면체 형상, 원기둥 형상, 반원 기둥 형상, 정사각 기둥 형상, 삼각 기둥 형상 중 어느 하나의 형상으로 형성된다.
테스트 소켓의 상기 출력 단자는 상기 쿠션 부재 상에 배치된다.
본 발명에 따른 테스트 소켓은 하부 플레이트에 배치되어 테스트 신호가 제공하는 부분 및 상부 플레이트에 배치되어 상기 테스트 신호를 전달받는 부분의 반복적인 접속에 의하여 마모가 발생 되는 것을 방지 및 정비시 쉽고 빠르게 부품을 교환할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓의 사시도이다.
도 2는 도 1에 도시된 신호 인가 유닛의 분해 사시도이다.
도 3은 신호 인가 유닛의 쿠션 부재의 다양한 실시예를 도시한 사시도이다.
도 4는 도 2에 도시된 신호 인가 유닛의 연성회로기판의 사시도이다.
도 5는 도 2에 도시된 신호 인가 유닛의 단면도이다.
도 6은 도 5의 'A' 부분 확대도이다.
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 제2 몸체를 도시한 평면도이다.
도 8은 도 1의 단면도이다.
도 9는 도 8의 제1 및 제2 몸체가 상호 결합된 것을 도시한 단면도이다.
이하 설명되는 본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고, 여러 가지 실시 예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에서 상세하게 설명하고자 한다.
그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
또한 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 구분하여 설명하기 위해 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.
본 발명의 일실시예에서, 테스트 소켓(600)에서 테스트 될 수 있는 제품으로서는, 예를 들어, 카메라 모듈, 엘씨디 패널 등을 포함할 수 있다.
비록 본 발명의 일실시예에서, 테스트 소켓(600)에서 테스트 될 수 있는 제품으로써 카메라 모듈, 엘씨디 패널 등이 예시적으로 설명되고 있으나, 소형 전자 제품으로써 테스트 신호를 인가받아 테스트가 진행되는 다양한 제품들이 본 테스트 소켓에 적용될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓의 사시도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓(600)은 제1 몸체(100), 신호 인가 유닛(200), 제2 몸체(300) 및 회로기판(400)을 포함한다.
제1 몸체(100)는, 예를 들어, 플레이트 형상으로 형성될 수 있으며, 제1 몸체(100)는 외부에서 인가된 힘, 충격, 진동 등에 의하여 형상 변형 등이 발생 되지 않으며 가공성 및 제작성이 우수한 금속 소재로 제작될 수 있다.
플레이트 형상을 갖는 제1 몸체(100)는, 평면상에서 보았을 때, 직육면체 형상, 정사각형 형상 등 다양한 형상으로 형성될 수 있다.
제1 몸체(110)에는 제1 몸체(110)의 상면 및 상기 상면과 대향 하는 하면을 관통하는 개구(112)가 형성될 수 있다. 개구(112)는, 평면상에서 보았을 때, 직사각형 형상으로 형성될 수 있다.
제1 몸체(110)의 개구(112)의 내부에 형성된 공간에는 신호 인가 유닛(200)이 배치된다.
도 2는 도 1에 도시된 신호 인가 유닛의 분해 사시도이다. 도 3은 신호 인가 유닛의 쿠션 부재의 다양한 실시예를 도시한 사시도이다. 도 4는 도 2에 도시된 신호 인가 유닛의 연성회로기판의 사시도이다. 도 5는 도 2에 도시된 신호 인가 유닛의 단면도이다. 도 6은 도 5의 'A' 부분 확대도이다.
도 2 및 도 도 6을 참조하면, 신호 인가 유닛(200)은 외부 컴퓨터에서 발생 된 테스트 신호를 인가받아 후술 될 회로기판(400)으로 전송하는 인터페이스로서 역할한다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따른 신호 인가 유닛(200)은 후술 될 회로 기판(400, 도 7 참조)에 형성된 패드(pad) 형상의 단자와 반복적으로 접촉됨으로써 회로 기판(400)에 형성된 패드 형상의 단자에 홀 또는 손상이 발생 되어 신호 인가 유닛(200) 및 회로기판(400)에 형성된 단자 간 접촉 불량이 발생 되는 것을 방지하는 역할도 한다.
도 2를 참조하면, 신호 인가 유닛(200)은 지지블록(210), 쿠션 부재(220) 및 연성회로기판(230)을 포함한다.
지지블록(210)은, 예를 들어, 도 1에 도시된 제1 몸체(100)의 개구(112)에 삽입되는 블록 형상으로 형성될 수 있다.
본 발명의 일실시예에서, 제1 몸체(100)의 개구(112)가 평면상에서 보았을 때 직사각형 형상으로 형성될 경우, 지지블록(210)은 개구(112)에 삽입되는 직육면체 형상으로 형성될 수 있다.
지지블록(210)은, 예를 들어, 제1 몸체(100)의 두께보다 높은 높이로 형성될 수 있고, 따라서 지지블록(210)의 일부는 도 1에 도시된 바와 같이 제1 몸체(100)의 상면으로부터 돌출된다.
본 발명의 일실시예에서, 지지블록(210)은 절연 성능이 우수하며 가공이 용이한 합성수지 소재로 형성될 수 있다.
지지블록(210)의 상면에는 쿠션 부재(220)를 수납하기 위한 홈이 형성될 수 있다.
쿠션 부재(220)는 지지블록(210)의 상면(211)에 배치되며, 쿠션 부재(220)는 접착제 또는 쿠션 부재(220)의 하부로부터 돌출된 돌기 등을 이용하여 지지블록(210)의 상면(211)에 형성된 홈의 내부에 배치 및 고정된다.
쿠션 부재(220)는 후술 될 연성회로기판(230)에 형성된 출력 단자 및 후술 될 회로기판(400)의 입력 단자의 접속력을 향상 및 출력 단자와 입력 단자의 손상을 방지한다.
쿠션 부재(220)는 탄성을 갖는 고무 소재 또는 합성 수재 소재로 제작될 수 있다.
본 발명의 일실시예에서, 쿠션 부재(220)는 고무 소재 또는 합성수지 소재를 일정 두께를 갖는 단층으로 형성할 수 있으나, 쿠션 부재(220)의 성능을 보다 향상시키기 위해서 쿠션 부재(220)는 다양한 탄성 소재로 제작된 다수개의 박막들을 다층 접착 또는 열 융착하여 형성할 수 있다.
지지블록(210)의 상면(211)에 형성된 홈의 내부에 배치되는 쿠션 부재(220)의 폭(d)은 지지블록(210)의 상면(211)의 폭보다 작게 형성될 수 있다.
비록 본 발명의 일실시예에서, 쿠션 부재(220)의 폭(d)이 지지블록(210)의 상면(211)의 폭보다 작게 형성되는 것이 도시 및 설명되고 있으나, 이와 다르게 쿠셔 부재(220)은 폭(d)은 상면(211)의 폭과 동일하게 형성될 수 있다.
한편, 쿠션 부재(220)는, 예를 들어, 상면(211)의 중앙 부분에 형성된 홈의 내부에 배치될 수 있다.
비록 본 발명의 일실시예에서, 쿠션 부재(220)가 상면(211)의 중앙 부분에 형성된 홈의 내부에 배치되는 것이 설명되고 있지만 쿠션 부재(220)는 후술 될 연성회로기판(230)에 형성된 출력 단자의 위치와 대응하여 상면(211)에 자유롭게 배치될 수 있다.
도 2에서 쿠션 부재(220)는, 예를 들어, 직사각형 패드 형상으로 형성된 것이 도시 및 설명되고 있지만, 쿠션 부재(220)는 도 3에 도시된 바와 같이 직육면체 패드 형상, 정사각 기둥 형상, 원기둥 형상, 반원 기둥 형상 등으로 제작될 수 있다. 또한, 쿠션 부재(220)는 도시되지는 않았으나 삼각 기둥 형상 등으로 제작되어도 무방하다.
도 2, 도 4 내지 도 6을 참조하면, 연성회로기판(230)은 기판 몸체(232), 출력 단자(234), 패턴(미도시) 및 신호 입력 단자(238)를 포함한다.
기판 몸체(232)는, 예를 들어, 절연 성능이 우수하며 플랙시블한 합성 수지를 얇은 두께를 갖는 박막 형태로 가공하여 형성된다.
출력 단자(234)는 기판 몸체(232)의 상면에 형성된다. 출력 단자(234)는, 예를 들어, 기판 몸체(232)의 상면 중앙에 매트릭스 형태로 배치된다. 출력 단자(234)는 앞서 설명된 쿠션 부재(220)의 길이 방향을 따라 매트릭스 형태로 배치된다.
본 발명의 일실시예에서, 출력 단자(234)와 대응하는 기판 몸체(232)의 상면과 대향 하는 하면에는 쿠션 부재(220)가 배치되며, 출력 단자(234)들은 쿠션 부재(220)와 대응하는 위치에 배치된다.
도 4를 참조하면, 신호 입력 단자(238)들은 기판 몸체(232)의 일측 테두리에 형성되며, 신호 입력 단자(238)들은 출력 단자(234)와 대응하는 개수로 형성될 수 있다. 신호 입력 단자(238)들은, 예를 들어, 지지블록(210)의 하면에 출력 단자(234)와 마주하게 배치된다.
본 발명의 일실시예에서, 신호 입력 단자9238) 및 지지몸체(210) 사이에도 도 2에 도시된 쿠션 부재(220)들이 배치될 수 있다.
패턴(미도시)은 기판 몸체(232)의 상면에 형성되며, 패턴은 상호 이격 된 각 신호 입력 단자(238) 및 각 출력 단자(234)를 상호 전기적으로 연결하는 전선 역할을 한다.
본 발명의 일실시예에서, 기판 몸체(232)에 형성된 출력 단자(234), 신호 입력 단자(238) 및 패턴은 박막 패터닝 공정에 의하여 일체로 형성될 수 있으며, 기판 몸체(232), 출력 단자(234), 신호 입력 단자(238) 및 패턴은 모두 외력에 의하여 쉽게 구부러지거나 펴질 수 있는 플랙시블한 특성을 갖는다.
이하, 기판 몸체(232) 중 출력 단자(234)가 형성된 부분은 제1 몸체부(230a)로서 정의하기로 하며, 제1 몸체부(230a)로부터 연장된 부분을 제2 몸체부(230b)로서 정의하기로 하며, 신호 입력 단자(238)가 형성된 부분을 제3 몸체부(230c)로서 정의하기로 한다.
제1 몸체부(230a)는 지지블록(210)의 상면과 마주하게 배치되고, 제2 몸체부(230b)는 지지블록(210)의 측면과 마주하게 배치되며, 제3 몸체부(230c)는 지지블록(210)의 하면과 마주하게 배치된다.
제2 몸체부(230b) 및 제3 몸체부(230c)는, 예를 들어, 접착제 등에 의하여 지지블록(210)의 측면 및 하면에 접착된다.
한편, 연성회로기판(230)이 지지블록(210)의 지정된 위치에 정확하게 배치 되지 않을 경우, 제2 몸체(300)에 형성된 회로 기판(400)의 입력 단자 및 신호 인가 유닛(200)의 출력 단자(234)가 정렬되지 않을 수 있다.
회로 기판(400)의 입력 단자 및 신호 인가 유닛(200)의 출력 단자(234)를 정렬하기 위해서 지지블록(210)의 상면(211)의 지정된 위치에는 제1 정렬부(213)가 형성되고, 제1 정렬부(213)와 대응하는 연성회로기판(230)의 제1 몸체부(230a)에는 제2 정렬부(232d)가 형성된다.
본 발명의 일실시예에서, 제1 정렬부(213), 제2 정렬부(232d) 및 제1 및 제2 정렬부(213,232d)에 삽입되는 핀(pin) 등에 의하여 쉽고 빠르게 연성회로기판(230)을 지지블록(210)에 정렬할 수 있다.
본 발명의 일실시예에서, 제1 정렬부(213)는, 예를 들어, 오목하게 형성된 홈일 수 있고, 제2 정렬부(232d)는 관통홀일 수 있다.
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 제2 몸체를 도시한 평면도이다.
도 7을 참조하면, 제2 몸체(300)는 플레이트 형상으로 형성되며, 제2 몸체(300)에는 회로 기판(400)이 결합 또는 장착된다.
본 발명의 일실시예에서, 제2 몸체(300)는 제1 몸체(100)와 힌지 결합 되고, 이로 인해 제2 몸체(300)는 제1 몸체(100)에 대하여 회동 될 수 있다. 이와 다르게 제2 몸체(300)는 제1 몸체(100)에 대하여 수직 방향으로 승하강 가능하게 가이드 부재 및 탄성 부재에 의하여 결합될 수 있다.
회로 기판(400)은 몸체(410), 입력 단자(420) 및 커넥터(430)를 포함한다.
입력 단자(420)는 몸체(410)에 실장 된다. 본 발명의 일실시예에서, 입력 단자(420)는, 예를 들어, 일정 평면적을 갖는 패드(pad) 형태로 형성되며, 입력 단자(420)는 앞서 설명된 각 출력 단자(234)들과 면 접촉된다.
본 발명의 일실시예에서, 입력 단자(420)들이 출력 단자(234)들과 면 접촉될 경우, 입력 단자(420) 및 출력 단자(234)들의 빈번한 접촉에도 불구하고 입력 단자(420) 및 출력 단자(234) 중 일부가 국부적으로 마모되어 입력 단자(420) 및 출력 단자(234)의 손상 및 접속 불량을 방지할 수 있다.
본 발명의 일실시예에서, 출력 단자(234)에 면 접촉되는 입력 단자(420)의 평면적은 출력 단자(234)의 평면적보다 다소 적게 형성될 수 있는데, 이는 입력 단자(420)를 포함하는 제2 몸체(300)에 흔들림이 발생 되어도 입력 단자(420)가 정확하게 출력 단자(234)에 면 접촉될 수 있도록 하기 위함이다.
커넥터(430)는 회로 기판(400)의 몸체(410)에 실장 되며, 커넥터(430)는 입력 단자(420)와 전기적으로 접속된다. 입력 단자(420)와 전기적으로 접속된 커넥터(40)는 예를 들어, 카메라 모듈과 같은 제품의 단자와 전기적으로 접속되어 제품에 테스트를 위한 전원, 구동신호, 테스트 신호 등을 제공한다.
도 8은 도 1의 단면도이다. 도 9는 도 8에 도시된 제1 및 제2 몸체들이 상호 결합된 것을 도시한 단면도이다.
도 8을 참조하면, 제1 몸체(100) 및 제2 몸체(200)가 이격된 상태에서 제1 몸체(100)에는 테스트 될 제품이 배치된다. 테스트 될 제품은 수작업 또는 자동화 공정에 의하여 제1 몸체(100)에 배치될 수 있다.
테스트 될 제품이 제1 몸체(100)에 배치되면, 도 9에 도시된 바와 같이 제2 몸체(300)가 회동 되거나 승하강 하여 제2 몸체(300)의 회로 기판(400)에 형성된 입력 단자(420)는 제1 몸체(100)에 장착된 신호 인가 유닛(200)의 출력 단자(234)와 면 접촉된다.
출력 단자(234) 및 입력 단자(420)가 상호 면 접촉된 상태에서 신호 인가 유닛(200)의 신호 입력 단자(238)로는 외부로부터 테스트를 위한 전원, 구동신호, 테스트 신호가 인가된다.
외부로부터 테스트를 위한 전원, 구동신호, 테스트 신호는 도 4에 도시된 패턴을 통해 출력 단자(234) 및 출력 단자(234)와 면 접촉된 입력 단자(420)를 통해 커넥터(430)로 제공된다.
커넥터(430)로 제공된 전원, 구동신호, 테스트 신호는 제품의 단자로 인가되어 제품의 테스트가 수행된다.
이상에서 상세하게 설명한 바에 의하면, 하부 플레이트에 배치되어 테스트 신호가 제공하는 부분 및 상부 플레이트에 배치되어 상기 테스트 신호를 전달받는 부분의 반복적인 접속에 의하여 마모가 발생 되는 것을 방지 및 정비시 쉽고 빠르게 부품을 교환할 수 있는 효과를 갖는다.
한편, 본 도면에 개시된 실시예는 이해를 돕기 위해 특정 예를 제시한 것에 지나지 않으며, 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 여기에 개시된 실시예 이외에도 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다른 변형예들이 실시 가능하다는 것은, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게는 자명한 것이다.
100...제1 몸체 200...신호 인가 유닛
300...제2 몸체 400...회로기판

Claims (10)

  1. 개구가 형성된 제1 몸체;
    상기 개구 내에 삽입되는 지지블록, 상기 지지블록의 상면에 배치된 쿠션 부재, 쿠션 부재 상에 배치되는 기판 몸체, 상기 기판 몸체에 형성된 출력 단자들 및 상기 기판 몸체에 형성되며 상기 출력 단자들에 연결된 패턴이 형성된 연성회로기판을 포함하는 신호 인가 유닛;
    상기 제1 몸체와 마주하게 배치되는 제2 몸체; 및
    상기 제2 몸체에 장착되며 상기 출력 단자들과 각각 면 접촉되는 패드 형상의 입력 단자들을 포함하는 회로기판을 포함하는 테스트 소켓.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 쿠션 부재는 다수 겹으로 형성되며, 상기 쿠션 부재의 폭은 상기 지지블록의 상기 상면의 폭보다 좁게 형성되며 상기 쿠션 부재의 상면은 상기 지지블록의 상면으로부터 돌출된 테스트 소켓.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 지지블록의 상면에는 제1 정렬부가 형성되고, 상기 연성회로기판에는 상기 제1 정렬부와 정렬되는 제2 정렬부가 형성된 테스트 소켓.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제1 정렬부는 상기 지지블록의 상기 상면으로부터 오목하게 형성된 정렬홈이고, 상기 제2 정렬부는 상기 연성회로기판에 형성된 관통홀인 테스트 소켓.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 제2 몸체는 상기 제1 몸체와 힌지 결합 되어 상기 제1 몸체에 대하여 회동되는 테스트 소켓.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 제2 몸체는 상기 제1 몸체에 대하여 평행하게 승하강 되는 테스트 소켓.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 기판 몸체는 상기 지지블록의 상기 상면과 대향 하는 하면으로 연장되며 상기 하면과 대응하는 상기 기판 몸체에는 상기 패턴에 연결된 신호 입력 단자가 형성된 테스트 소켓.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 제2 몸체에 형성된 상기 회로 기판은 상기 제1 몸체에 장착된 제품의 단자와 접속되는 커넥터를 포함하는 테스트 소켓.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 쿠션 부재는 직육면체 형상, 원기둥 형상, 반원 기둥 형상, 정사각 기둥 형상, 삼각 기둥 형상 중 어느 하나의 형상으로 형성된 테스트 소켓.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 출력 단자는 상기 쿠션 부재 상에 배치되는 테스트 소켓.
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